RU2009112779A - METHOD OF PROCESSING THE SURFACE OF PLATES FOR THE FORMATION OF ACTIVE AREAS - Google Patents

METHOD OF PROCESSING THE SURFACE OF PLATES FOR THE FORMATION OF ACTIVE AREAS Download PDF

Info

Publication number
RU2009112779A
RU2009112779A RU2009112779/28A RU2009112779A RU2009112779A RU 2009112779 A RU2009112779 A RU 2009112779A RU 2009112779/28 A RU2009112779/28 A RU 2009112779/28A RU 2009112779 A RU2009112779 A RU 2009112779A RU 2009112779 A RU2009112779 A RU 2009112779A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
processing
ratio
hydrogen peroxide
temperature
solution consisting
Prior art date
Application number
RU2009112779/28A
Other languages
Russian (ru)
Inventor
Тагир Абдурашидович Исмаилов (RU)
Тагир Абдурашидович Исмаилов
Бийке Алиевна Шангереева (RU)
Бийке Алиевна Шангереева
Анастасия Игоревна Дроздова (RU)
Анастасия Игоревна Дроздова
Азамат Ибрагимович Муртазалиев (RU)
Азамат Ибрагимович Муртазалиев
Original Assignee
Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Универс
Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Универс, Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) filed Critical Государственное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Универс
Priority to RU2009112779/28A priority Critical patent/RU2009112779A/en
Publication of RU2009112779A publication Critical patent/RU2009112779A/en

Links

Landscapes

  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

Метод обработки поверхности пластин для формирования активных областей, отличающийся тем, что кремниевые пластины подвергают двухстадийной обработке в двух ваннах с различными растворами: в первой ванне содержится раствор, состоящий из серной кислоты и перекиси водорода (H2SO4:Н2О2) в соотношении компонентов 9:1 при температуре Т=105±5°С; во второй ванне содержится раствор, состоящий из водного аммиака, перекиси водорода и деионизованной воды (NH4OH:H2O2:Н2О) в соотношении компонентов 1:5:15 при температуре Т=55°С, длительность обработки в каждой из ванн по 5 мин, при этом количество пылинок составило 3 шт. The method of processing the surface of the wafers to form active regions, characterized in that the silicon wafers are subjected to two-stage treatment in two baths with different solutions: the first bath contains a solution consisting of sulfuric acid and hydrogen peroxide (H2SO4: Н2О2) in a ratio of 9: 1 with temperature T = 105 ± 5 ° C; the second bath contains a solution consisting of aqueous ammonia, hydrogen peroxide and deionized water (NH4OH: H2O2: Н2О) in a ratio of components 1: 5: 15 at a temperature of T = 55 ° C, the duration of treatment in each bath is 5 minutes, at this amount of dust was 3 pcs.

Claims (1)

Метод обработки поверхности пластин для формирования активных областей, отличающийся тем, что кремниевые пластины подвергают двухстадийной обработке в двух ваннах с различными растворами: в первой ванне содержится раствор, состоящий из серной кислоты и перекиси водорода (H2SO42О2) в соотношении компонентов 9:1 при температуре Т=105±5°С; во второй ванне содержится раствор, состоящий из водного аммиака, перекиси водорода и деионизованной воды (NH4OH:H2O22О) в соотношении компонентов 1:5:15 при температуре Т=55°С, длительность обработки в каждой из ванн по 5 мин, при этом количество пылинок составило 3 шт. The method of processing the surface of the wafers to form active regions, characterized in that the silicon wafers are subjected to two-stage processing in two baths with different solutions: the first bath contains a solution consisting of sulfuric acid and hydrogen peroxide (H 2 SO 4 : H 2 O 2 ) in the ratio of components 9: 1 at a temperature of T = 105 ± 5 ° C; the second bath contains a solution consisting of aqueous ammonia, hydrogen peroxide and deionized water (NH 4 OH: H 2 O 2 : H 2 O) in a ratio of components of 1: 5: 15 at a temperature of T = 55 ° C, the duration of treatment in each from baths for 5 minutes, while the number of dust particles was 3 pcs.
RU2009112779/28A 2009-04-06 2009-04-06 METHOD OF PROCESSING THE SURFACE OF PLATES FOR THE FORMATION OF ACTIVE AREAS RU2009112779A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2009112779/28A RU2009112779A (en) 2009-04-06 2009-04-06 METHOD OF PROCESSING THE SURFACE OF PLATES FOR THE FORMATION OF ACTIVE AREAS

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2009112779/28A RU2009112779A (en) 2009-04-06 2009-04-06 METHOD OF PROCESSING THE SURFACE OF PLATES FOR THE FORMATION OF ACTIVE AREAS

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU2009112779A true RU2009112779A (en) 2010-10-20

Family

ID=44023386

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2009112779/28A RU2009112779A (en) 2009-04-06 2009-04-06 METHOD OF PROCESSING THE SURFACE OF PLATES FOR THE FORMATION OF ACTIVE AREAS

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2009112779A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2565380C2 (en) * 2014-01-31 2015-10-20 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Method for surface treatment of epitaxial silicon wafers to form active regions

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2565380C2 (en) * 2014-01-31 2015-10-20 Федеральное Государственное Бюджетное Образовательное Учреждение Высшего Профессионального Образования "Дагестанский Государственный Технический Университет" (Дгту) Method for surface treatment of epitaxial silicon wafers to form active regions

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2013541212A5 (en)
TWI511196B (en) Method of Polishing Silica Flocking Cleaning Process
TW200735193A (en) Cleaning method and solution for cleaning a wafer in a single wafer process
TW200628638A (en) Solutions for cleaning silicon semiconductors or silicon oxides
JP2007138304A5 (en) Plating method
CN104377119B (en) Method for cleaning germanium single crystal polished wafer
CN103241957B (en) A kind of thinning glass substrate engraving method
MX2013001008A (en) Method of producing a light emitting device.
TW200731371A (en) Washings and washing method for semiconductor element or display element
CN104399702A (en) Diode chip pickling process
TW200510570A (en) Novel aqueous based metal etchant
CN109326501A (en) A kind of semiconductor crystal wafer finally polish after cleaning method
CN102364697B (en) Method for removing micro-damage layer from crystalline silicon surface after RIE (Reactive Ion Etching) flocking
RU2009112779A (en) METHOD OF PROCESSING THE SURFACE OF PLATES FOR THE FORMATION OF ACTIVE AREAS
RU2006120320A (en) SURFACE TREATMENT METHOD FOR SILICON SILICON PLATE
JP2010205782A5 (en)
CN105428211A (en) Method for removing pad defect
RU2319252C2 (en) Method for cleaning silicon substrate surfaces
MY171360A (en) Gaseous ozone (o3) treatment for solar cell fabrication
CN106783527A (en) The cleaning method of semiconductor wafer
RU2534444C2 (en) Method of removing oxide from silicon plate surface
RU2014103404A (en) SURFACE TREATMENT METHOD OF EPITAXIAL SILICON PLATES FOR FORMING ACTIVE AREAS
RU2419175C2 (en) Method of processing substrates in liquid etching agent
TW200634922A (en) Method of cleaning semiconductor substrate and method of manufacturing semiconductor substrate
CN102427020A (en) Wafer cleaning method capable of effectively reducing water mark defect

Legal Events

Date Code Title Description
FA94 Acknowledgement of application withdrawn (non-payment of fees)

Effective date: 20110722