RU183436U1 - Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей - Google Patents
Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей Download PDFInfo
- Publication number
- RU183436U1 RU183436U1 RU2018103086U RU2018103086U RU183436U1 RU 183436 U1 RU183436 U1 RU 183436U1 RU 2018103086 U RU2018103086 U RU 2018103086U RU 2018103086 U RU2018103086 U RU 2018103086U RU 183436 U1 RU183436 U1 RU 183436U1
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- paragraphs
- flow cell
- shield
- flow
- protective screen
- Prior art date
Links
- 239000007788 liquid Substances 0.000 title claims abstract description 31
- 238000001636 atomic emission spectroscopy Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 36
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 claims abstract description 32
- 239000003381 stabilizer Substances 0.000 claims abstract description 9
- 238000010926 purge Methods 0.000 claims description 8
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 2
- 229920000642 polymer Polymers 0.000 claims description 2
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 abstract description 5
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 229920001343 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 2
- 239000004810 polytetrafluoroethylene Substances 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 238000007664 blowing Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000009616 inductively coupled plasma Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- -1 polytetrafluoroethylene Polymers 0.000 description 1
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 1
- 238000000368 spark atomic emission spectrometry Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/71—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light thermally excited
- G01N21/718—Laser microanalysis, i.e. with formation of sample plasma
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/66—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence
- G01N21/67—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light electrically excited, e.g. electroluminescence using electric arcs or discharges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/15—Preventing contamination of the components of the optical system or obstruction of the light path
- G01N2021/151—Gas blown
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/85—Investigating moving fluids or granular solids
- G01N2021/8592—Grain or other flowing solid samples
Landscapes
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Pathology (AREA)
- Immunology (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
Abstract
Полезная модель относится к устройству для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей. Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей содержит проточную ячейку, выполненную с возможностью принимать и выпускать поток образца жидкости таким образом, что поток образца жидкости протекает через проточную ячейку; источник электромагнитной энергии для подачи электромагнитной энергии на поверхность потока образца жидкости, который протекает через проточную ячейку, чтобы создать плазму в потоке образца жидкости, который протекает через проточную ячейку; спектроскопическую систему, содержащую спектрометр для приема света, испущенного плазмой; защитный экран между потоком образца жидкости, который протекает через проточную ячейку, и спектрометром спектроскопической системы, так что формируется промежуток между защитным экраном и потоком образца жидкости, который протекает через проточную ячейку, при этом защитный экран имеет отверстие, чтобы позволить свету, испущенному плазмой, проходить через защитный экран. Защитный экран имеет первую сторону, которая обращена к потоку образца жидкости, протекающему через проточную ячейку, проточная ячейка содержит поверхность, вертикального стабилизатора, которая обращена к защитному экрану, горизонтальное расстояние между первой стороной защитного экрана и поверхностью вертикального стабилизатора составляет от 20 до 40 мм, и диаметр отверстия на первой стороне защитного экрана составляет от 4 до 9 мм. Техническим результатом является защита спектроскопической системы от частиц, отрывающихся от поверхности потока образца. 21 з.п. ф-лы, 7 ил.
Description
Область техники
Полезная модель относится к устройству для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей, как определено в преамбуле независимого пункта 1 формулы полезной модели.
Атомная/оптическая эмиссионная спектроскопия является способом измерения присутствия или количества элемента в образце. С помощью источника электромагнитной энергии, например лазера, в образце создается плазма, и электроны в элементе возбуждаются и переходят на более высокий уровень, а когда электроны опускаются назад на более низкий уровень, они испускают фотоны на характеристической длине волны. Свет, т.е. фотоны, испущенные плазмой, принимаются и анализируются в спектроскопической системе. Длина волны пропорциональна разности энергий между возбужденным состоянием и состоянием более низкого уровня. Измеренная интенсивность пропорциональна концентрации измеренного элемента в плазме, атомным параметрам измеренного перехода, включая вероятность перехода и энергию возбужденного состояния, а также параметру плазмы, включая плотность электронов и температуру.
Атомная/оптическая эмиссионная спектроскопия может, например, быть использована для измерения присутствия или количества элемента/элементов в потоке образца жидкости.
Один из вариантов устройства для атомной/оптической эмиссионной спектроскопии описан в документе WO 2015/082752.
Проблема с оптической эмиссионной спектроскопией жидкостей заключается в том, что плазма заставляет частицы отрываться от поверхности потока образца в полусферическом образовании, т.е. по направлению к источнику электромагнитной энергии и по направлению к спектроскопической системе. Чем больше используемая электромагнитная энергия, тем больше частиц отрывается от поверхности потока образца. Решение этой проблемы состоит в том, чтобы продувать газ на поверхность потока образца до по меньшей мере частичного отрывания частиц от поверхности потока образца. Проблема с продувкой газа на поверхность потока состоит, однако, в том, что на поверхности потока образца образуются волны от продуваемого газа, и продуваемый газ заставляет поверхность потока образца вибрировать.
В настоящей полезной модели для решения упомянутых проблем предлагается помещать защитный экран достаточно близко к поверхности вертикального стабилизатора (т.е. на определенном расстоянии) и выполнение отверстия в защитном экране с достаточно малым диаметром (т.е. с определенными размерами). Таким образом, спектроскопическая система может быть защищена от частиц, отрывающихся от поверхности потока образца.
Цель полезной модели
Целью полезной модели является разработка устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей, которое решает вышеуказанные проблемы.
Краткое описание полезной модели
Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей согласно полезной модели характеризуется признаками независимого пункта 1 формулы полезной модели.
Предпочтительные варианты осуществления устройства определены в зависимых пунктах формулы полезной модели.
Целью защитного экрана может быть защита источника электромагнитной энергии и спектроскопической системы от жидкости потока образца жидкости.
Список чертежей
Далее полезная модель будет описана более подробно со ссылками на чертежи, на которых
Фиг. 1 представляет частично первый вариант осуществления устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей,
Фиг. 2 представляет частично второй вариант осуществления устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей,
Фиг. 3 представляет частично третий вариант осуществления устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей,
Фиг.4 представляет вид сбоку в разрезе детали варианта осуществления устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей,
Фиг. 5 представляет вид сбоку в разрезе детали варианта осуществления устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей,
Фиг. 6 представляет вид сбоку в разрезе детали варианта осуществления устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей,
Фиг. 7 представляет вариант осуществления устройства для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей.
Подробное описание
Полезная модель относится к устройству для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей.
Устройство может быть устройством с оптическим эмиссионным спектрометром с индуктивно связанной плазмой (Inductively Coupled Plasma optical emission spectrometer) (ICP-OES) или устройством с дуговым искровым оптическим эмиссионным спектрометром (Arc spark OES).
Далее будут описаны более подробно устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей и некоторые варианты осуществления и модификации устройства.
Устройство содержит проточную ячейку 2, выполненную с возможностью принимать и выпускать поток 1 образца жидкости, так что поток 1 образца жидкости протекает через проточную ячейку 2.
Устройство содержит источник 4 электромагнитной энергии для подачи электромагнитной энергии 3 на поверхность 5 потока 1 образца жидкости, который протекает через проточную ячейку 2, для индуцирования плазмы 6 в потоке 1 образца жидкости, который протекает через проточную ячейку 2.
Устройство содержит спектроскопическую систему 9, имеющую спектрометр 8 для приема света 7, испущенного плазмой 6, и для анализа света 7, испущенного плазмой 6.
Устройство содержит защитный экран 10 между потоком 1 образца жидкости, который протекает через проточную ячейку 2, и спектрометром 8 спектроскопической системы 9, так что формируется промежуток между защитным экраном 10 и потоком 1 образца жидкости, который протекает через проточную ячейку 2.
Защитный экран 10 имеет отверстие 11, которое позволяет свету 7, испущенному плазмой 6, проходить через защитный экран 10.
Защитный экран 10 может иметь первую сторону 12, которая обращена к потоку 1 образца жидкости, протекающему через проточную ячейку 2. Диаметр отверстия 11 на первой стороне 12 защитного экрана 10 может быть от 4 до 9 мм, предпочтительно от 5 до 7 мм, например приблизительно 6 мм.
Защитный экран 10 может иметь вторую сторону 13, которая отвернута от потока 1 образца жидкости, протекающего через проточную ячейку 2.
Первая сторона 12 может быть плоской, и вторая сторона 13 может быть плоской, и первая сторона 12 и вторая сторона 13 могут быть параллельными.
Проточная ячейка 2 может содержать поверхность 14 вертикального стабилизатора, которая обращена к защитному экрану 10, и горизонтальное расстояние между первой стороной 12 защитного экрана 10 и поверхностью 14 вертикального стабилизатора составляет между 20 и 40 мм, предпочтительно между 25 и 35 мм, например 28 мм.
Поверхность 14 вертикального стабилизатора и первая сторона 12 защитного экрана 10, которая обращена к потоку 1 образца жидкости, протекающему через проточную ячейку 2, могут быть параллельными. Расстояние между первой стороной 12 и второй стороной 13 может быть, например, между 0,5 и 20 мм.
Устройство может содержать средство 16 для газовой продувки, выполненное с возможностью продувать газ 15 на вторую сторону 13 защитного экрана 10. Средство 16 для газовой продувки может быть выполнено с возможностью продувать газ 15 на вторую сторону 13 защитного экрана 10 таким образом, что газ 15 проходит через отверстие 11 в защитном экране 10.
Отверстие 11 в защитном экране 10 может иметь коническую или конусообразную конфигурацию, которая сужается по направлению к первой стороне 12 защитного экрана 10, как показано на фиг. 5. Диаметр отверстия 11 на первой стороне 12 защитного экрана 10 может быть от 4 до 9 мм, предпочтительно от 5 до 7 мм, например приблизительно 6 мм. Внутренняя поверхность отверстия 11 может быть наклонена под углом В от 5 до 15° по отношению к центральной оси А отверстия 11.
Отверстие 11 в защитном экране 10 может иметь круглое поперечное сечение и цилиндрическую конфигурацию, как показано на фиг. 4.
Отверстие 11 в защитном экране 10 может иметь круглое поперечное сечение и диаметр от 4 до 9 мм, предпочтительно от 5 до 7 мм, например приблизительно 6 мм.
Отверстие 11 в защитном экране 10 может иметь по меньшей мере частично форму параболического конуса.
Отверстие 11 в защитном экране 10 может иметь по меньшей мере частично форму гиперболического конуса.
Защитный экран 10 может состоять из полимера, такого как политетрафторэтилен (PFTE).
Источник 4 электромагнитной энергии и спектрометр 8 спектроскопической системы 9 могут быть отделены от проточной ячейки 2 посредством окна 21, и защитный экран 10 может быть предусмотрен между образцом жидкости и окном 21, как показано на фиг. 1 и 3.
Спектрометр 8 спектроскопической системы 9 может быть отделен от проточной ячейки 2 посредством окна 21, и защитный экран 10 может быть предусмотрен между образцом жидкости и окном 21, как показано на фиг. 2.
Устройство может быть выполнено с возможностью пропускать свет 7, испущенный плазмой 6, в спектрометр 8 спектроскопической системы 9 в газе.
Устройство может быть выполнено с возможностью пропускать свет 7, испущенный плазмой 6, в спектрометр 8 спектроскопической системы 9 в вакууме.
Устройство может быть выполнено с возможностью пропускать свет 7, испущенный плазмой 6, в спектрометр 8 спектроскопической системы 9 без использования оптических волокон.
Источником 4 электромагнитной энергии является любое из следующего: лазер, такой как лазер Nd:YAG, как на фиг. 2, и дуговой искровой генератор, как на фиг. 2.
Устройство может содержать, как показано на фиг. 1 и 2, трубку, выполненную с возможностью пропускать поток 22 жидкости, причем трубка 17 имеет наклонный участок 18 трубки, при этом трубка 17 ограничивает канал потока для потока 22 жидкости, и устройство может содержать разделительный элемент 20, расположенный в выпускном отверстии 19 в наклонном участке 18 трубки 17 для отделения части потока 22 жидкости, протекающей в наклонном участке 18 трубки 17, для формирования потока 1 образца жидкости, причем проточная ячейка находится в соединении по текучей среде с разделительным элементом 20.
Устройство может содержать, как показано на фиг. 3, трубку 17, выполненную с возможностью пропускать поток 22 жидкости, причем трубка 17 имеет наклонный участок 18 трубки, при этом трубка 17 ограничивает канал потока для потока 22 жидкости, выпускное отверстие 19 в наклонном участке 18 трубки 17 и вертикальный экранный элемент 23 в выпускном отверстии 19 в наклонном участке 18 трубки 17. В таком случае поток 22 жидкости сформирован для его направления на вертикальный экранный элемент 23 из выпускного отверстия 19 в наклонном участке 18 трубки 17 для формирования потока 1 образца жидкости, и вертикальный экранный элемент 23 выполнен с возможностью пропускать поток 1 образца жидкости вдоль вертикального экранного элемента 23 в проточную ячейку 2.
Отверстие 11 в защитном экране 10 может быть выполнено с возможностью обеспечивать прохождение электромагнитной энергии 3, генерируемой источником 4 электромагнитной энергии, через защитный экран 10.
Для специалиста в данной области техники очевидно, что, поскольку технология развивается, базовая идея полезной модели может быть реализована различными путями. Следовательно, полезная модель и варианты ее осуществления не ограничены вышеприведенными примерами, но могут изменяться в рамках формулы полезной модели.
Claims (45)
1. Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей, содержащее
проточную ячейку (2), выполненную с возможностью принимать и выпускать поток (1) образца жидкости таким образом, что поток (1) образца жидкости протекает через проточную ячейку (2),
источник (4) электромагнитной энергии для подачи электромагнитной энергии (3) на поверхность (5) потока (1) образца жидкости, который протекает через проточную ячейку (2), чтобы создать плазму (6) в потоке (1) образца жидкости, который протекает через проточную ячейку (2),
спектроскопическую систему (9), содержащую спектрометр (8) для приема света (7), испущенного плазмой (6),
защитный экран (10) между потоком (1) образца жидкости, который протекает через проточную ячейку (2), и спектрометром (8) спектроскопической системы (9), так что формируется промежуток между защитным экраном (10) и потоком (1) образца жидкости, который протекает через проточную ячейку (2),
при этом защитный экран (10) имеет отверстие (11), чтобы позволить свету (7), испущенному плазмой (6), проходить через защитный экран (10),
отличающееся тем, что
защитный экран (10) имеет первую сторону (12), которая обращена к потоку (1) образца жидкости, протекающему через проточную ячейку (2),
проточная ячейка (2) содержит поверхность (14) вертикального стабилизатора, которая обращена к защитному экрану (10),
горизонтальное расстояние между первой стороной (12) защитного экрана (10) и поверхностью (14) вертикального стабилизатора составляет от 20 до 40 мм, и
диаметр отверстия (11) на первой стороне (12) защитного экрана (10) составляет от 4 до 9 мм.
2. Устройство по п. 1, отличающееся
защитным экраном (10), имеющим вторую сторону (13), которая обращена в направлении от потока (1) образца жидкости, протекающего через проточную ячейку (2).
3. Устройство по п. 2, отличающееся тем, что
первая сторона (12) является плоской и вторая сторона (13) является плоской, а также тем, что
первая сторона (12) и вторая сторона (13) являются параллельными.
4. Устройство по любому из пп. 1-3, отличающееся тем, что горизонтальное расстояние между первой стороной (12) защитного экрана (10) и поверхностью (14) вертикального стабилизатора составляет от 25 до 35 мм, например 28 мм.
5. Устройство по любому из пп. 1-4, отличающееся средством (16) продувки газа, выполненным с возможностью продувать газ (15) на вторую сторону (13) защитного экрана (10).
6. Устройство по п. 5, отличающееся тем, что средство (16) продувки газа выполнено с возможностью продувать газ (15) на вторую сторону (13) защитного экрана (10) таким образом, что газ (15) проходит через отверстие (11) в защитном экране (10).
7. Устройство по любому из пп. 1-6, отличающееся тем, что
отверстие (11) в защитном экране (10) имеет коническую конфигурацию, которая сужается по направлению к первой стороне (12) защитного экрана (10), а также тем, что
диаметр отверстия (11) на первой стороне (12) защитного экрана (10) составляет от 5 до 7 мм, например приблизительно 6 мм.
8. Устройство по п. 7, отличающееся тем, что внутренняя поверхность (24) отверстия (11) наклонена под углом В от 5 до 15° по отношению к центральной оси А отверстия (11).
9. Устройство по любому из пп. 1-8, отличающееся тем, что диаметр отверстия (11) на первой стороне (12) защитного экрана (10) составляет от 5 до 7 мм, например приблизительно 6 мм.
10. Устройство по любому из пп. 1-9, отличающееся тем, что отверстие (11) в защитном экране (10) имеет круглое поперечное сечение.
11. Устройство по любому из пп. 1-10, отличающееся тем, что отверстие (11) в защитном экране (10) имеет, по меньшей мере частично, форму параболического конуса.
12. Устройство по любому из пп. 1-11, отличающееся тем, что отверстие (11) в защитном экране (10) имеет, по меньшей мере частично, форму гиперболического конуса.
13. Устройство по любому из пп. 1-12, отличающееся тем, что отверстие (11) в защитном экране (10) имеет круглое поперечное сечение и диаметр от 4 до 9 мм, предпочтительно от 5 до 7 мм, например приблизительно 6 мм.
14. Устройство по любому из пп. 1-13, отличающееся тем, что защитный экран (10) содержит полимер, например PFTE.
15. Устройство по любому из пп. 1-14, отличающееся тем, что источник (4) электромагнитной энергии и спектрометр (8) спектроскопической системы (9) отделены от проточной ячейки (2) посредством окна (21), и наличием защитного экрана (10) между образцом жидкости и окном (21).
16. Устройство по любому из пп. 1-15, отличающееся тем, что устройство выполнено с возможностью пропускать свет (7), испущенный плазмой (6), в спектрометр (8) спектроскопической системы (9) в газе.
17. Устройство по любому из п.п. 1-15, отличающееся тем, что устройство выполнено с возможностью пропускать свет (7), испущенный плазмой (6), в спектрометр (8) спектроскопической системы (9) в вакууме.
18. Устройство по любому из пп. 1-15, отличающееся тем, что устройство выполнено с возможностью пропускать свет (7), испущенный плазмой (6), в спектрометр (8) спектроскопической системы (9) без использования оптических волокон.
19. Устройство по любому из пп. 1-18, отличающееся тем, что источник (4) электромагнитной энергии является любым одним из следующего: лазер, например лазер Nd:YAG, и дуговой искровой генератор.
20. Устройство по любому из пп. 1-19, отличающееся
трубкой (17), выполненной с возможностью пропускать поток (22) жидкости, причем трубка (17) имеет наклонный участок (18), при этом трубка (17) ограничивает канал для протекания потока (22) жидкости,
разделительным элементом (20), расположенным в выпускном отверстии (19) в наклонном участке (18) трубки (17) для отделения части потока (22) жидкости, протекающего в наклонном участке (18) трубки (17), для формирования потока (1) образца жидкости,
а также тем, что проточная ячейка (2) находится в соединении по текучей среде с разделительным элементом (20).
21. Устройство по любому из пп. 1-19, отличающееся
трубкой (17), выполненной с возможностью пропускать поток (22) жидкости, причем трубка (17) имеет наклонный участок (18), при этом трубка (17) ограничивает канал для протекания потока (22) жидкости,
тем, что наклонный участок (18) трубки (17) имеет выпускное отверстие (19),
вертикальным экранным элементом (23) в выпускном отверстии (19) в наклонном участке (18) трубки (17),
тем, что поток (22) жидкости сформирован для подачи на вертикальный экранный элемент (23) из выпускного отверстия (19) в наклонном участке (18) трубки (17) для формирования потока (1) образца жидкости,
а также тем, что вертикальный экранный элемент (23) выполнен с возможностью пропускать поток (1) образца жидкости вдоль вертикального экранного элемента (23) к проточной ячейке (2).
22. Устройство по любому из пп. 1-21, отличающееся тем, что отверстие (11) в защитном экране (10) выполнено с возможностью позволять электромагнитной энергии (3), генерируемой источником (4) электромагнитной энергии, проходить через защитный экран (10).
Applications Claiming Priority (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI20155549 | 2015-07-10 | ||
| FI20155549A FI20155549L (fi) | 2015-07-10 | 2015-07-10 | Menetelmä ja laite fludien optista säteilyspektroskooppiaa varten |
| PCT/FI2016/050506 WO2017009530A1 (en) | 2015-07-10 | 2016-07-08 | Method and apparatus for optical emission spectroscopy of fluids |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU183436U1 true RU183436U1 (ru) | 2018-09-24 |
Family
ID=56418545
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2018103086U RU183436U1 (ru) | 2015-07-10 | 2016-07-08 | Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN208060392U (ru) |
| AU (2) | AU2016294458A1 (ru) |
| BR (2) | BR202018000575Y1 (ru) |
| CL (1) | CL2018000072U1 (ru) |
| FI (2) | FI20155549L (ru) |
| RU (1) | RU183436U1 (ru) |
| WO (1) | WO2017009530A1 (ru) |
Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1425188A (en) * | 1973-11-02 | 1976-02-18 | Shandon Southern Instr Ltd | Atomic absorption apparatus |
| JPS61140842A (ja) * | 1984-12-14 | 1986-06-27 | Kawasaki Steel Corp | 流動状態の金属、絶縁物の連続分析装置 |
| WO2002063284A2 (en) * | 2001-02-08 | 2002-08-15 | Noranda Inc. | Method and apparatus for in-process liquid analysis by laser induced plasma spectroscopy |
| WO2015082752A1 (en) * | 2013-12-02 | 2015-06-11 | Outotec (Finland) Oy | Method and apparatus for online analysis by laser-induced spectroscopy |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DD125703A1 (de) * | 1976-04-29 | 1977-05-11 | Winfried Quillfeldt | Ves zur strahlfokussierung durch materialdaempfe |
| ATE376177T1 (de) * | 1999-07-23 | 2007-11-15 | Efthimion Emerging Ind Llc | Vorrichtung zur kontinuierlichen überwachung von emissionen verschiedener metalle in rauhen umgebungen |
| JP3500126B2 (ja) * | 2001-03-01 | 2004-02-23 | 三菱重工業株式会社 | 粉体のモニタリング装置及び該装置を備えたセメントプラント |
-
2015
- 2015-07-10 FI FI20155549A patent/FI20155549L/fi not_active IP Right Cessation
-
2016
- 2016-07-08 BR BR202018000575-3U patent/BR202018000575Y1/pt active IP Right Grant
- 2016-07-08 BR BR112018000575A patent/BR112018000575A2/pt active IP Right Grant
- 2016-07-08 AU AU2016294458A patent/AU2016294458A1/en active Pending
- 2016-07-08 WO PCT/FI2016/050506 patent/WO2017009530A1/en active Application Filing
- 2016-07-08 AU AU2016102373A patent/AU2016102373A4/en not_active Expired
- 2016-07-08 RU RU2018103086U patent/RU183436U1/ru active
- 2016-07-08 CN CN201690001075.4U patent/CN208060392U/zh active Active
-
2018
- 2018-01-09 CL CL2018000072U patent/CL2018000072U1/es unknown
- 2018-02-05 FI FIU20184019U patent/FI12042U1/fi active IP Right Grant
Patent Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| GB1425188A (en) * | 1973-11-02 | 1976-02-18 | Shandon Southern Instr Ltd | Atomic absorption apparatus |
| JPS61140842A (ja) * | 1984-12-14 | 1986-06-27 | Kawasaki Steel Corp | 流動状態の金属、絶縁物の連続分析装置 |
| WO2002063284A2 (en) * | 2001-02-08 | 2002-08-15 | Noranda Inc. | Method and apparatus for in-process liquid analysis by laser induced plasma spectroscopy |
| WO2015082752A1 (en) * | 2013-12-02 | 2015-06-11 | Outotec (Finland) Oy | Method and apparatus for online analysis by laser-induced spectroscopy |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| BR202018000575Y1 (pt) | 2021-08-24 |
| AU2016294458A1 (en) | 2018-03-08 |
| BR112018000575A2 (pt) | 2018-09-11 |
| WO2017009530A1 (en) | 2017-01-19 |
| FI20155549L (fi) | 2017-01-11 |
| CN208060392U (zh) | 2018-11-06 |
| FI12042U1 (fi) | 2018-04-19 |
| AU2016102373A4 (en) | 2019-05-09 |
| CL2018000072U1 (es) | 2018-10-12 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US10509029B2 (en) | Measurement device and measurement method | |
| US10222363B2 (en) | Measurement device and measurement method | |
| RU2637795C2 (ru) | Анализ образцов для масс-цитометрии | |
| JP5271665B2 (ja) | 偏向板 | |
| JP6075979B2 (ja) | 粒子計数システム | |
| US9804183B2 (en) | Apparatus and method for liquid sample introduction | |
| US11117144B2 (en) | Cyclone collector | |
| WO2014154501A1 (en) | Apparatus and method for mixing a liquid sample to be introduced in an analysis device | |
| JP2013536936A (ja) | 発光分光分析のための改良型放電箱 | |
| RU183436U1 (ru) | Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей | |
| JP5798953B2 (ja) | プラズマ分光分析装置 | |
| WO2014168043A1 (ja) | 測定装置及び測定方法 | |
| US9029797B2 (en) | Plasma-based photon source, ion source, and related systems and methods | |
| CN114062348B (zh) | 基于介质阻挡放电的激光诱导击穿光谱检测*** | |
| US20100207038A1 (en) | Apparatus and method for laser irradiation | |
| WO2014141994A1 (ja) | 粒子分析方法及び粒子分析装置 | |
| RU183650U1 (ru) | Устройство для оптической эмиссионной спектроскопии жидкостей | |
| JP3161758B2 (ja) | 荷電ビーム処理装置 | |
| JP2010082589A (ja) | エキシマランプ装置 | |
| CN209327217U (zh) | 一种基于紫外荧光法检测so2分析仪的光路结构装置 | |
| RU2757266C1 (ru) | Устройство обнаружения биопатогенов в воздухе | |
| CN105321787A (zh) | 带电粒子透镜中的集成光学件和气体输送 | |
| CN105445152A (zh) | 一种使用激光方法检测固体物料颗粒流成分的测量室 | |
| EP3118886A1 (en) | Mass spectrometer and method for mass spectrometry | |
| US8552368B1 (en) | Trace atmospheric gas analyzer low pressure ionization source |