RU1797629C - Устройство дл нанесени покрытий в вакууме - Google Patents

Устройство дл нанесени покрытий в вакууме

Info

Publication number
RU1797629C
RU1797629C SU884356495A SU4356495A RU1797629C RU 1797629 C RU1797629 C RU 1797629C SU 884356495 A SU884356495 A SU 884356495A SU 4356495 A SU4356495 A SU 4356495A RU 1797629 C RU1797629 C RU 1797629C
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
target
plasma
nozzle
chamber
plasma generator
Prior art date
Application number
SU884356495A
Other languages
English (en)
Inventor
Адам Рольф
Айхерт Ханс
Бетц Ханс
Дитрих Антон
Диттмер Гонде
Хартиг Клаус
Хасс Фридрих
Людвиг Райнер
Телен Альфред
Майр Макс
Аласдэйр Кэмпбелл Грегор
Вильям Конн Роберт
Майкл Гебель Даниэль
Original Assignee
Лейбольд Аг
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US07/197,040 external-priority patent/US4885070A/en
Application filed by Лейбольд Аг filed Critical Лейбольд Аг
Application granted granted Critical
Publication of RU1797629C publication Critical patent/RU1797629C/ru

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/32Gas-filled discharge tubes
    • H01J37/34Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering
    • H01J37/3402Gas-filled discharge tubes operating with cathodic sputtering using supplementary magnetic fields
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/0021Reactive sputtering or evaporation
    • C23C14/0036Reactive sputtering
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/34Sputtering
    • C23C14/46Sputtering by ion beam produced by an external ion source

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Использование: нанесение покрытий распылением мишени в вакууме с высокой производительностью в электронной промышленности . Сущность изобретени : устройство содержит эмиттер электронов 9, расположенный в отдельной камере, сообщающейс  с технологической вакуумной камерой 17, анод 11 генератора плазмы, генерирующего после впуска технологического газа в камеру 37 плазменный поток S, который с помощью магнитов 64,30 и 21 направл ют на мишень 7. при этом положительные ионы ускор ютс  при подаче регулируемого отрицательного напр жени  на мишень, откуда атомы металла попадают на подложку 15. С этой целью мишень установi о Ш С

Description

лена в непосредственной близости от противоположного эмиттеру электронов конца патрубка 19, при этом расположенный недалеко от подложки магнит 106 осуществл ет
разделение и изменение направлени  части плазменного потока S2 на подложку. 11 з.п. ф-лы, 13 ил.
Изобретение может найти применение з электронной промышленности.
Целью изобретени   вл етс  повышение производительности.
На фиг. 1 схематично показано устройство дл  нанесени  покрытий с отдельным плазменным источником дл  нанесени  покрытий на ленту с установленной под углом к плазменному потоку мишенью; на фиг.2 - то же, с устанавливаемой с возможностью перемещени  в поперечном направлении к плазменному потоку мишенью и расположенным на ее обратной стороне магнитом; на фиг.З - неполное изображение вакуумной камеры и направление плазменного потока в варианте исполнени , аналогичном показанному на фиг.2 (в частности, магнитные силовые линии обозначены между магнитной катушкой на патрубке генератора плазмы и установленной под углом и перемещенной вниз мишенью; на фиг.4 - неполное изображение вакуумной камеры и направление плазменного потока при горизонтально установленной мишени в варианjre исполнени  устройства согласно фиг.2; на фиг;5-устройство, аналогичнре показанному на фиг.1, но с кольцеобразной мишенью , установленной непосредственно на камере генератора; на фиг.6 - устройство, аналогичное показанному на фиг.5, но с дополнительным входом дл  реактивного газа (в зону/между мишенью и подложкой и с дополнительной откачкой из камеры, ограниченной экранами; на фиг.7 - неполное изображение узла мишени с подложкой и с направлением магнитных силовых линий на кольцеобразной мишени согласно фиг.6; на фиг.8 - устройство, представленное на фиг.5. но с мишенью, выполненной в виде ванны или воронки; на фиг.9:- устройство с дополнительными посто нными магнитами в области двух расположенных под углом друг к другу мишеней; на фиг. 10 - кольцева  .составна  мишень в перспективе; на ф иг.,11 - продольный разрез изображенных на фиг.9 мишеней; на фиг. 12 - в перспективе мишеНи и технологическа  камера с пр моугольным поперечным сечением согласн-о фиг.9, 11; на фиг. 13 - устройство, изображенное на фиг,1. приспособленное дл  нанесени  покрытий на проволоку и с установленной в
поперечном направлении к плазменному потоку составной мишенью и кольцеобразно установленными насадами дл  подачи реактивного газа.
Устройство дл  нанесени  покрыти  (фиг.1) имеет вакуумную камеру 1 с отверстием 2 дл  откачки объема камеры, размоточное устройство 3. установленное с возможностью вращени , и намоточное устройство А, барабан 5, перегородку 18. раздел ющую вакуумный объем 1 на две камеры 16 и 17, патрубки 19 и 20 с намотанными на них магнитными катушками 21, змеевик 22, фиксируемую на кронштейне24
в наклонном положении к перегородке 18 и патрубку 19 мишенью 7с изол торами 14 и 23, два провод щих электрический ток и охлаждающую воду шлангопроводы 25,26, которые так же, как и труба змеевика 22 с
герметизацией/проведены через торцовую ;| стенку 27 вакуумной камеры 1 в местах,
обозначенных позици ми 8, с магнитную ка- тушки 106 на обратной стороне барабана 5, подложку 15 в виде ленты.
На другой торцовой стенке 28 вакуумной камеры 1 жестко установлена рейка, с помощью которой можно перемещать в направлении стрелки А магнитные катушки 64 и 30 с держател ми 31 и 32, при этом кон- .
центрично магнитным катушкам 64 и 30 расположен выполненный в виде полого профил , соосно установленный с продольной осью патрубка 19, анод 11. конец которого , удаленный на большее рассто ние от
камеры 17, снабжен изол тором 10, удерживающим эмиттер электронов 9.
Анод 11 на конце, обращенном к вакуумному объему камеры 1, содержит фланец . 33, с помощью которого анод фиксируетс 
на торцовой стенке 28 вакуумной камеры 1.
при этом между фланцем 33 и торцовой
стенкой 28 расположен изол тор 34 между
трубчатым анодом 11 и патрубком 19 или
торцовой стенкой 28. Выполненный в виде
полого профил  анод 11 содержит впускной штуцер 13 и охвачен змеевиком 12, через который протекает охлаждающа  вода. Изол тор 10 жестко соединен с пластиной, имеющей отверсти  35, в которой предусмотрены проходы дл  воды и электрического тока 36.
Во внутренней области 37 в виде трубы из эмиттера электронов 9 (который выполнен , например, из гексаборида лантана) с большой площади эмиттируют электроны и ускор ют их к аноду 11. С помощью газа, одновременно впускаемого в камеру генератора плазмы через штуцер 13, в камере 37 генератора поджигают плазму.
Посредством магнитных катушек 30,21, 64 и 106, которые охватывают как камеру 37 генератора плазмы, так и патрубок 19, закрепленный на торцевой стенке 27, патрубок 20, мишень 7 и держатель 5 подложки удерживаютс  на этих элементах, а плазму ограничивают между эмиттером электронов 9 камеры 37 генератора и мишенью 7 или подложкой 15, Магнитные пол  оказывают такое воздействие, что эмиттированные первичные электроны дрейфуют вдоль силовых линий и только в результате столкновений могут попасть к аноду 11, при этом захватываютс  выбитые из мишени 7 вторичные электроны, которые также способствуют ионизации. Генерируемые при этом ионы дрейфуют также вдоль магнитных силовых линий. На мишень 7 попадает поток ионов высокой интенсивности, однако энерги  ионов сравнительно мала, но когда на мишень 7 попадает отрицательный потенциал , то ионы из наружного сло  плазмы направл ютс  на мишень 7 с ускорением.
Путем изменени  магнитного пол  плазменный поток 2 можно направл ть под углом до 180°,-поэтому монтажное положение мишени 7 относительно продольной оси 2 камеры 37 генератора плазмы или потока плазмы или относительно патрубка 19 можно выбирать каким угодно.
При катодном распылении металлов в камеру 37 генератора плазмы через штуцер 13 впускают аргон, поджигают аргоновую плазму и.на мишень 7 подают напр жение в диапазоне от 100 В до 1 кВ. На поверхности мишени создаютс  услови ,, аналогичные услови м ДС-катодного распылени , при этом получаютс  сравнимые свойства нанесенных слоев. Однако по сравнению с ДС-катодным распылением имеют место следующие преимущества.
Подаваема  на мишень мощность  вл етс  значительно большей. Так, например , с помощью ионного тока плотностью 1 А/см и напр жени  на мишени 750 В создаетс  мощность на единицу поверхности мишени 750 Вт/см , Ее можно сравнить с максимальной мощностью на единицу поверхности при магнетронном ДС-катодном распылении в несколько дес тков Вт/см . Соответственно повышаетс 
и интенсивность нанесени  покрыти . Дл  меди интенсивность нанесени 
о
составл ет 1200 А /с при рассто нии до 5 подложки 100 мм и диаметре плазменного шнура 100 мм.
Электрический ток на мишени и напр жение на мишени можно регулировать независимо друг от друга, тогда как при
Q ДС-катодном распылении обе эти величины св заны одной характеристикой. Возможность независимого регулировани  тока и напр жени  дает преимущество, заключающеес  в том, что независимо друг от друга
5 на интенсивность распылени  можно воздействовать посредством тока на мишени, а на качество нанесенного сло  - посредством напр жени  на мишени.
Когда при реактивном катодном распы0 лени и вблизи, подложки 15 через впускной штуцер 38 в камеру 17 напускают реактивный газ, то физические услови  сравнимы с услови ми, создаваемыми при традиционном реактивном катодном распылении. В
5 качестве реактивного газа примен ют кислород , азот, аммиак или ацетилен.
Существенное отличие от традиционных устройств состоит в том, что вызывающие ионизацию электроны при реактивном
0 катодном распылении поставл ютс  мишенью 7, и поэтому процесс очень чувствителен к изменению химического свойства поверхности мишени. В устройстве ионы подают извне, и система ведет себ  значи5 тельно стабильнее.
Дополнительное преимущество заключаетс  и в том, что MHteHCHBHb плазменный поток можно использовать дл  увеличени  диссоциировани  атомов реак0 . тивного газа. Здесь не требуютс  дополнительные электроды и источники тока, что, как правило, необходимо дл  процесса реактивного распылени .
В одном из опытов с помощью описан5 мой системы наносили слои нитрида алюми ... О
ни  со скоростью осаждени  100 А/с, что в 3 раза превышает скорость, достигаемую при магнетронном ДС-реактивном распылении .
При значительном ослаблении магнитного пол  за мишенью 7 плазменный поток можно разделить на две ветви, одну из которых использовать дл  распылени  метал- лической мишени 7, а другую -К дл  активации реактивного газа или дл  плазменной обработки подложки 15. В этом случае путем подбора соответствующих ступеней давлени  независимо друг от друга можно оказывать воздействие на темпе0
ратуру электронов в обеих ветв х плазменного потока.
; При высоких плотност х энергии, при достаточно малом охлаждении мишени 7 с помощью плазменного потока можно расплавл ть и испар ть материал мишени.:В. этом случае мишень 7 необходимо устанавливать горизонтально, т.е. параллельно продольной оси патрубка 19. как показано на фиг.4,- ; . /
Под воздействием имеющейс  интенсивной плазмы получаютс  Слой улучшенного качества по сравнению со сло ми, полученными с помощью испарительных устройств , так как испарившиес  атомы металла в плазме частично ионизируютс .
Описанное устройство по конструкции проще известных, так как в противоположность испарению с помощью ионного или электронного луча не требуетс  высокого напр жени  (типичное напр жение источника 80 В, типичное напр жение на мйшёнй
700В), . -: v;:. / -; -:
Плазменный поток можно получать больших размеров и любой формы. Сканирующее устройство не требуетс . Благодар  тому, что плазменный поток сам по себе  вл етс  квазинейтральным, то управление им значительно упрощаетс . Дополнительные устройства дл  нейтрализации потока не требуютс .
Дл  покрыти : подложки сплавом опрет деленного состава можно, использовать соответствующуюмишень7 .
Однако, если необходимо изменить состав наносимого сло , то целесообразно примен ть различные мишени 7, состо щие из отдельных, легирующих компонентов, и плазменным потоком больших размеров перекрывать все мишени. Посредством подачи электрических напр жений различного уровн  к отдельным сортам мишеней можно регулировать желаемый состав сло .
Благодар  небольшому конструктивному размеру примен емой здесь мишени 7 элементы мишени из двух различных материалов можно устанавливать, например, в шахматном пор дке и тем достигать нанесени  сплава с небольшими колебани ми со- Јтава. . .- .,.-... : .-. .. :- 1 Кроме того, несколько мишеней 7 мож- йо устанавливать концентрично с осью плазменного потока S или перпендикул рно магнитным силовым лини м т. Так как дл  каждой мишени 7 необходимо симметричное оси плазменного потока направление нанесени , то на субстрате параллельно плазменному потоку S получаетс  посто нный по всей поверхности покрыти  состав различных компонентов нанесенного сло .
Кроме того, при соответствующем выборе рабочих параметров данное устройство также можно исг1ользов ть:в:кач естве источн и ка ирнов металria. Веро тность иониза- цй и рас;п;ы 1ен:нЫ) aYpitfpB/ме,таАла в п:лазм еннрм: rjoTqice    ёт - функцией .плотности пл;а мь1ги |ёмпе.ратурь эле.ктро-.
нрв;.: .г :Г : ( :тйкаплазмы путе;м п р :ижени ьпэр;ц«альнрго д в е нй ; ja c 30Qxi 0 Па; температуру эл;ёкт(о;н о в мр/ж,н HaripiiMep ::мё и еирнйз11руютс  уже ; н.а. гдлч4Не- П ррфе
не йольких еа;н % етрЪ -Й: |.ь;:-f.. ; Нс :и: Г1йст и Ь |ли:щ е; л р но: магнитны 5с лр;В-Ь1:м лХнй м, то: .вслед тви;е; рт ича ющйх :ра|/ %ч н ррт й рв:г H iejXlapMdpoBC e5p fl i biVc; o ;йельн;ь ф ciqpta ::иЩйвГ а а тс в руг
с)и, Сц- 14 см-
нрг6 пол  ТОО, Пс),; ;Это;;пйзвш ёт раздел ть разл ичн ы е фта и н лдор:ftt:J:. ;№-:;/:
:- Следует Т;а:к к Д
ве- п о:-фиг.;1 з Дус г ггре Н ; E(,8fче езг:-.
кбто ры й .ввЬДйтр  ,:рб. асть миш&ньзЬ 7 и г дЛЬжкр
ва риа нте ;в1у и  устройства по фйг.2 ; ;7 ст Ь Ыкр г
;нё 24 в:й:аклрн:н:ом ггол;о).Ва иант::вь|гйэл не Нйй со-гл а н й ф,иг.Д п р:едосл 1в дет
возможно сть.rfe ie e a b ... 7 на
кронштейне в вёртикаль нрм направлении
(фиглЗ). Кррм-е того, в этом устройстве-ергласно фиг.2-41 и:шень:Ка Јйре й обратной
стбррне наб а г итоли:,;
Устройство : с;ог:л-асно фйгб соде:ржит
анод 55, имеющий в; сечении пр  ругрльную форму, и с рот тст/йённр: выполненный
п дтруб(рк;3;8:у;о.х ан Я Цй;-д6 )1р н ител.ь.ныи1 имеющим: в;ид;, ; э:лЈкт:рр:м н;йтрм ЗЭ:. который перемещатьс  в на равлении стрелки :Е. -Крометргй, установленна  в камере 5р вакуумнрй: мер | 3,; подсоеди- ненной к отверстию 52 ;дл  и соединённой с камеррй 51,:мищен:ь: 4С1,вместе-с охлаждающим фланце:м зафйксирова на на
кольцеобразном или рамррбразном изол торе 42, который, в: сурюрчередь,. жестко установлен на фланце;43,  вл ющемс  элементом штуцера 38. Отуцер 38 содержит змеевик.44, котррьгй рднрвре менно  вл етс  магнитной катуЩ крй и подк-лючен ктрубе 45; кот ора  ,вР-первьгх лодводйт:и отводит охлаждающую:воду-и; во-вторых, образует тркопровод 44. Напротив мишени 40 п р е д у с м от ре н б ара ба н 46. Wo кото рому о брзбатываёма  лента 47 проходит от размоточного устройства 48 к намоточному устройству 49.
Плазма, выход ща  из штуцера 38, в частности, под воздействием магнита 39, направл етс  на мишень 40, при этом в наружном слое плазмы ионы газа ускор ютс  электрическим полем, направл ютс  на мишень 40 и распыл ют ее материал. При этом на мишени 40 не образуетс  эрозионна  воронка; напротив, материал мишени 40 снимаетс  равномерно. Пластина 66.между мишенью 40 и подложкой 47 преп тствует попаданию средней части плазменного шнура непосредственно на подложку 47. На стенке, раздел ющей друг от друга обе камеры 50 и 51, закреплена еще одна кольцеобразна  или рамообразна  магнитна  катушка 60, с помощью которой можно управл ть плазменными потоками 32 или оказывать на них воздействие,
В устройстве согласно фиг.6 патрубок 54 и анод 55 снабжены экранами 56 и 57, при этом ограниченна  обоими экранами 56 и 57 камера 58 подключена к дополнительной откэчной трубе 59. Эта промежуточна  откачка позвол ет предотвратить возможный поток нейтральных частиц от мишени 40 к источнику электронов 9 или полностью исключить его. Между барабаном 46 и мишенью 40, р дом с магнитной катушкой 60, установлена подключенна  к трубопроводу 62 рамообразна  труба 61 дл  напуска газа .с насадками 63. КрЪметого, предусмотрена друга , передвигаема  магнитна  катушка 65, котора  в сочетании с другими магнитными катушками 44 и 60 позвол ет оказывать воздействие на облако плазмы в области мишени 40. Вытекающий из насадок 63 газ (например, кислород) позвол ет сделать плазму химически более активной. Пластина 66, расположенна  в области продольной оси патрубка 54, позвол ет экранировать центральную часть плазменного потока.
В варианте выполнени  устройства согласно фиг.8 мишень 67 в сравнении с мишенью согласно фиг.5 выполнена в виде ванны или воронки, при этом подключенный к охлаждаемому трубопроводу 69 охлаждаемый фланец 68, зафиксированный на изол ционном кольце 42. имеет также соответствующую форму в виде ванны или воронки. Благодар  наклонному положению поверхности мишени 67 к продольной оси патрубка 38 используют ту составл ющую электрического пол , котора  проходит перпендикул рно магнитному полю так что около мишени 67 обеспечиваетс  траектори  электронов магнетронного типа.
В варианте выполнени  согласно фиг.9 две мишени 70 в виде пластины или пр моугольного параллелепипеда зафиксированы на двух подключенных к охлаждающему тру- 5 бопроводу 73 охлаждаемых фланцах 71, которые в своей внутренней области содержат посто нные магниты 72 или 74 (см. фиг.11), магнитные пол  которых могут создавать несколько траекторий 75 и 76. Обе мишени 70
0 соответственно образуют с продольной ось штуцера пр моугольного профил  угол а приблизительно по 45° каждый.
Как показано на фиг.Ю, мишень 40 согласно . фиг.5, 6 может также состо ть из
5 нескольких элементов 40 в виде кругового сектора, при этом отдельные элементы могут быть изготовлены из различных материалов и раздельно подключены к источнику тока 78.
0 Изображенные на фиг.11, 12 различные виды мишени 70 позвол ют осуществл ть равномерное нанесение сло  на подложку 47 в виде ленты сравнительно большой ширины , при этом на фиг.12 показано, что пат5 рубок 38 имеет пр моугольный профиль и что обе плоские поверхности мишени расположены под углом к противоположным внутренним стенкам 77 патрубка 38.
Устройство согласно фиг.13 отличаетс 
0 от устройств, изображенных на фиг. 1-12, в основном тем, что в вакуумной камере 80 вместо направл емой с помощью намоточных устройств 3 и 4 или барабана 5 подложки 15 в виде ленты перемещают проволоку
5 83 с помощью выполненного в виде клетки каркаса 105, на котором с возможностью вращени  установлены шесть параллельных друг другу роликов 82. Проволока 83 в процессе нанесени  покрыти  перемещает0 . с  с установленного на валу 85 размоточного устройства 84 по роликам 82 на установленное на ведущем валу 87 намоточное устройство 86. Эмиттер электронов 88 с вводами 90 дл  охлаждающей воды и под5 ачи напр жени  выполнен так же, как и на фиг. 1, при этом перемещаема  в направлении стрелки В магнитна  катушка 91 охватывает анод 92 с его змеевиком 93. Мишень 95 выполнена из нескольких концентрич0 но расположенных относительно друг друга элементов 94 и установлена таким образом, что ее дискообразна  торцова  поверхность располагаетс  поперек продольной оси анода 92.
5 Мише.нь 95 снабжена вводами 96 дл  подачи воды и напр жени , которые в местах , обозначенных позици ми 98, проход т через торцовую стенку 97. Позицией 99 обозначен штуцер дл  ввода реактивного газа в источник через насадки 103, а позицией 101 - магнитна  катушка. Обе магнитные катушки 91 и 101 имеют возможность перемещатьс  параллельно продольной оси анода 92 в направлении стрелки В.
Анод 92 содержит также штуцер дл  впуска технологического газа в камеру 100 генератора плазмы. Ролики 82 расположены на кольцеобразных роликодержател х 81, которые обеспечивают прохождение по центру плазменного тока к мишени 95. Маг- нит 101 оказывает непосредственное воздействие на плазменный поток в зоне держател  105.
| В соответствии с изобретением происходит высокоинтенсивное распыление и/или испарение металлов и диэлектриков с помощью генерируемого вне вакуумной камеры плазменного потока любого геометрического сечени . При этом энерги  частиц , воздействующих на мишень, значительно больше энергии известных устройств , например магнетронных или диодных . Данные конструкции устройств  вл ютс  сравнительно простыми, и плазму
.: . :.-
Ф о р м у л а и з 6 б р е т е н и  

Claims (3)

1. Устройство дл  нанесени  покрытий в вакууме, содержащее камеру с системой откачки и штуцером дл  подачи реактивного газа, в которой размещены мишень, подложка и генератор плазмы, укрепленный йа торце дополнительной камеры, соединенной с основной камерой патрубком, окруженным магнитами, и источник электропитани , отрицательна  клемма которого соединена с мишенью, отличающеес  тем, что, с целью повышени  производительности , мишень снабжена магнитной системой , размещённой на стороне мишени, обращенной от подложки, причем торец патрубка генератора плазмы обращен к поверхности мишени..
2. Устройство по п.1, о т л и ч а ю.Щ е е- с   тем, что мишень выполнена с возможностью углового поворота и продольного перемещени .
3. Устройство по п.1, о т л и ч а ю щ е е- с   тем, что мишень выполнена в виде пр моугольника , а патрубок в сечении выполнен в виде пр моугольника, овала или окружности.
А. Устройство по пл.1-3. отл и-ча ю-. щ е е с   тем, что мишень размещена по оси симметрии кэмер.
генерируют совершенно независимо от мишени . Напр жение и ток мишени можно регулировать независимо друг от друга, что также невозможно в известных устройствах . .. . : -. :
Традиционные устройства магнетррн- ногр типа дл  нанесени  покрытий используют в диапазоне давлений 0.3-1,0 Па. При таких давлени х длина Свободного пробега выбитого атрма составл ет около 1 см. Вследствие небольшой длины свободного п робе га в ыбитые частицы материала рассе- иваютс . прежде чем; они дЬстигают подложки . Обычно дл  распыленил необходима энерги  частиц 400Н&6, при этом уровне энергии мишени, как; и прдложки, деформируютс , : ил и осуществл етс  нежелательныехимические реакций.;на пйверхиости мишени. Кроме систе мы  вл ютс  eiieij M4ejcKHMHJдл  определенных материалов, а это означает что выход вторйчных элёктт о рвуз поверхности миийени опреде/г е т эффективность
ПЛаЗМЫ.. v: :v:/: :;:. 7 -: V-:;: VC
5. Устройство поnri.1-4. о тд и ч а ю- щ е ее   тем, что мишень радмещейаf под углом к патрубку генератора плазмы или параллельно оси симметрии камеры.
6. УстрЬЙство ,отл и чfaю- ще е с:  . тем. чт р-торецгпатрубка генератора плазмы снабжен флдицем дл  креплени  электроизолирбванной мишени, причем мишень охватывает торец патрубка.- ;
7. Устррйство по пп.1-6, о rrtii ч а кх :-. щ е е с   тем, что мишень имеет вамнроб- разнукх чашеобрааную или воронкообразную форму; / ;. Г
8. Устройство по пп, 1,, о т л и чающее с   тем. что мишень выполнен в виде секторов из разных материалов, размещен- ных концентрично вокруг продольной оси патрубка генератора плазмы; ,
9. Устройство по п.1, от   и ч а ю щ ее- С   тем, что магйитМа  система мишени выполнена из отдельных:магнитов, полюса которых обращены к нерабочей стороне мишени. :
ТО, Устройство по пл.1-9, от л и чающеес  тем/что отверсти  штуцера подачи реактивного газа расположены эквидистантно мишени или концентрично вокруг нее параллельно плоскости мишени.
1.1. Устройство по п.1, отл и ч а ю щее- с   тем, что оно снабжено клеткообразным держателем, размещенным симметрично между соосно расположенными торцами патрубка генератора и мишени, при этом подложка в виде проволоки размещена на боковой поверхности держател .
12. Устройство по nn.l- S, отличающеес  тем, что патрубок генератора плазмы снабжен диафрагмами.
Приоритет по пункта м:
21.09.87 по пп. 1,9, 11;
12.02,88 по пп. 2-6 и 8; .
20.05,88 norm. 7 и 10.
фиг. 2
..;,:.V V Z :.:: / ------ JL- (
/ :/.: / :} :y -: .. -. -. .: .-;;::.: ;:-;:;: :.. . . :- .;,-; :;;/ ...- : . . .;
фаз.7
фиг: 43
SU884356495A 1987-09-21 1988-09-20 Устройство дл нанесени покрытий в вакууме RU1797629C (ru)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE3731693 1987-09-21
US15520688A 1988-02-12 1988-02-12
US07/197,040 US4885070A (en) 1988-02-12 1988-05-20 Method and apparatus for the application of materials

Publications (1)

Publication Number Publication Date
RU1797629C true RU1797629C (ru) 1993-02-23

Family

ID=27196521

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU884356495A RU1797629C (ru) 1987-09-21 1988-09-20 Устройство дл нанесени покрытий в вакууме

Country Status (5)

Country Link
EP (1) EP0308680A1 (ru)
JP (1) JPH01108374A (ru)
CN (1) CN1033297A (ru)
AU (1) AU605631B2 (ru)
RU (1) RU1797629C (ru)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3904991A1 (de) * 1989-02-18 1990-08-23 Leybold Ag Kathodenzerstaeubungsvorrichtung
DE4026367A1 (de) * 1990-06-25 1992-03-12 Leybold Ag Vorrichtung zum beschichten von substraten
UA73290C2 (ru) * 1999-08-04 2005-07-15 Дженерал Електрік Компані Электронно-лучевое устройство для нанесения покрытия путем конденсации из паровой фазы (варианты)
US6264804B1 (en) 2000-04-12 2001-07-24 Ske Technology Corp. System and method for handling and masking a substrate in a sputter deposition system
CH696013A5 (de) * 2002-10-03 2006-11-15 Tetra Laval Holdings & Finance Vorrichtung zur Behandlung eines bandförmigen Materials in einem Plasma-unterstützten Prozess.
US7879209B2 (en) * 2004-08-20 2011-02-01 Jds Uniphase Corporation Cathode for sputter coating
JP4820996B2 (ja) * 2005-05-30 2011-11-24 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 希ガスの固定化装置及び固定化方法
JP4983087B2 (ja) * 2006-04-27 2012-07-25 富士通セミコンダクター株式会社 成膜方法、半導体装置の製造方法、コンピュータ可読記録媒体、スパッタ処理装置
JP6447459B2 (ja) * 2015-10-28 2019-01-09 住友金属鉱山株式会社 成膜方法及びその装置並びに成膜体製造装置
US20210104380A1 (en) * 2017-12-22 2021-04-08 Institute Of Geological And Nuclear Sciences Limited Ion beam sputtering apparatus and method
CN113846304B (zh) * 2021-11-26 2022-02-11 北京航空航天大学 靶头、磁控溅射靶枪及磁控溅射***

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4090941A (en) * 1977-03-18 1978-05-23 United Technologies Corporation Cathode sputtering apparatus
GB1544612A (en) * 1978-01-04 1979-04-25 Dmitriev J Apparatus for ion plasma coating of articles
DE3107914A1 (de) * 1981-03-02 1982-09-16 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Verfahren und vorrichtung zum beschichten von formteilen durch katodenzerstaeubung

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Autsatz von D.M. Goebel, G.Campbell und R.W.Conn Im Journal of Nuclear Material, 121, North Holland Physics Publishing, Division, Amsterdam, 1984. p.277-282. Патент US № 2417288, кл. 294-71, 1965. *

Also Published As

Publication number Publication date
EP0308680A1 (de) 1989-03-29
AU605631B2 (en) 1991-01-17
JPH01108374A (ja) 1989-04-25
AU2270288A (en) 1989-03-23
CN1033297A (zh) 1989-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4885070A (en) Method and apparatus for the application of materials
JP5160730B2 (ja) ビーム状プラズマ源
EP2639330B1 (en) Method and device for transporting vacuum arc plasma
US4673477A (en) Controlled vacuum arc material deposition, method and apparatus
US5480527A (en) Rectangular vacuum-arc plasma source
RU1797629C (ru) Устройство дл нанесени покрытий в вакууме
JPS62120472A (ja) 電弧蒸着方法及び装置
JPH01298150A (ja) 工作物のコーティング方法及び装置
JP2017031501A (ja) 遠隔アーク放電プラズマ支援プロセス
JPH04236770A (ja) 真空アーク蒸着のアークスポットの制御方法及び蒸発源
SE430293B (sv) Plasmabaggenerator, innefattande en forbrukbar katod, en cylindrisk anod och en fokuserande solenoid
JP2004501279A (ja) パルス高イオン化マグネトロンスパッタリング
US5441624A (en) Triggered vacuum anodic arc
US5718815A (en) Apparatus for coating a substrate from an electrically conductive target
WO1985003954A1 (en) Controlled vacuum arc material deposition, method and apparatus
JPH04235276A (ja) 基板をコーティングするための装置
JPH06212433A (ja) 真空室内で基板を被覆する装置及び方法
JP2003321769A (ja) 蒸着装置
JP3406769B2 (ja) イオンプレーティング装置
DE3830478A1 (de) Kathodenzerstaeubungsvorrichtung
JPH08319562A (ja) プラズマ発生装置およびイオンプレーティング装置
JP4647476B2 (ja) 成膜装置
RU2053312C1 (ru) Способ нанесения покрытий в вакууме и устройство для нанесения покрытий в вакууме
SU702726A1 (ru) Устройство дл нанесени покрыти
SU1144417A1 (ru) Устройство дл обработки изделий в вакууме