NL7703298A - Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen. - Google Patents
Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen.Info
- Publication number
- NL7703298A NL7703298A NL7703298A NL7703298A NL7703298A NL 7703298 A NL7703298 A NL 7703298A NL 7703298 A NL7703298 A NL 7703298A NL 7703298 A NL7703298 A NL 7703298A NL 7703298 A NL7703298 A NL 7703298A
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- measuring
- wave forms
- analyzing wave
- analyzing
- forms
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R13/00—Arrangements for displaying electric variables or waveforms
- G01R13/02—Arrangements for displaying electric variables or waveforms for displaying measured electric variables in digital form
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Electrophonic Musical Instruments (AREA)
- Complex Calculations (AREA)
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US05/670,891 US4104725A (en) | 1976-03-26 | 1976-03-26 | Programmed calculating input signal module for waveform measuring and analyzing instrument |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL7703298A true NL7703298A (nl) | 1977-09-28 |
Family
ID=24692313
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL7703298A NL7703298A (nl) | 1976-03-26 | 1977-03-28 | Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen. |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4104725A (nl) |
JP (1) | JPS52134782A (nl) |
DE (1) | DE2713021A1 (nl) |
NL (1) | NL7703298A (nl) |
Families Citing this family (46)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4198683A (en) * | 1978-05-01 | 1980-04-15 | Tektronix, Inc. | Multiple waveform storage system |
US4409649A (en) * | 1978-07-28 | 1983-10-11 | Amf Incorporated | Sequence controller with microprocessor |
US4255790A (en) * | 1978-09-25 | 1981-03-10 | Hondeghem Luc M | Programmable pulse generating system |
US4254466A (en) * | 1979-01-29 | 1981-03-03 | Square D Company | Power factor monitoring and control system for resistance welding |
FR2448722A1 (fr) * | 1979-02-09 | 1980-09-05 | Enertec | Procedes et appareils pour l'analyse de formes d'ondes periodiques |
US4323979A (en) * | 1979-08-20 | 1982-04-06 | Litton Business Systems, Inc. | Cartridge and bezel assembly for a calculator |
JPS5693052A (en) * | 1979-12-27 | 1981-07-28 | Iwatsu Electric Co Ltd | Observation system of wave form |
US4316259A (en) * | 1980-03-18 | 1982-02-16 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable function generator |
US4393498A (en) * | 1981-01-22 | 1983-07-12 | The Boeing Company | Method and apparatus for testing systems that communicate over digital buses by transmitting and receiving signals in the form of standardized multi-bit binary encoded words |
US4507740A (en) * | 1981-09-08 | 1985-03-26 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable signal analyzer |
GB2110826B (en) * | 1981-12-03 | 1985-07-03 | Schlumberger Electronics | Methods and apparatus for frequency response analysis |
US4758963A (en) * | 1982-09-14 | 1988-07-19 | Analogic Corporation | Modular computing oscilloscope with high speed signal memory |
US4578640A (en) * | 1982-09-14 | 1986-03-25 | Analogic Corporation | Oscilloscope control |
GB2129259B (en) * | 1982-09-14 | 1987-04-08 | Analogic Corp | Modular computing oscilloscope |
US4703433A (en) * | 1984-01-09 | 1987-10-27 | Hewlett-Packard Company | Vector network analyzer with integral processor |
US5029120A (en) * | 1985-02-01 | 1991-07-02 | Analogic Corporation | Electrical wavefrom generator means and methods |
GB8510425D0 (en) * | 1985-04-24 | 1985-06-26 | Data Pag Ltd | Data logging unit |
US4967381A (en) * | 1985-04-30 | 1990-10-30 | Prometrix Corporation | Process control interface system for managing measurement data |
US4800378A (en) * | 1985-08-23 | 1989-01-24 | Snap-On Tools Corporation | Digital engine analyzer |
JPH0441396Y2 (nl) * | 1985-09-09 | 1992-09-29 | ||
US4794523A (en) * | 1985-09-30 | 1988-12-27 | Manolito Adan | Cache memory architecture for microcomputer speed-up board |
US4752825A (en) * | 1986-10-10 | 1988-06-21 | Grumman Aerospace Corporation | Video display simulator and analyzer |
US4884228A (en) * | 1986-10-14 | 1989-11-28 | Tektronix, Inc. | Flexible instrument control system |
US4719416A (en) * | 1986-11-10 | 1988-01-12 | Hewlett Packard Company | Method for determining the minimum number of acquisition sweeps to meet the risetime specifications of a digital oscilloscope |
US4812996A (en) * | 1986-11-26 | 1989-03-14 | Tektronix, Inc. | Signal viewing instrumentation control system |
US4821030A (en) * | 1986-12-19 | 1989-04-11 | Tektronix, Inc. | Touchscreen feedback system |
US4802098A (en) * | 1987-04-03 | 1989-01-31 | Tektronix, Inc. | Digital bandpass oscilloscope |
US4760329A (en) * | 1987-04-23 | 1988-07-26 | Grumman Aerospace Corporation | Programmable tester with bubble memory |
GB2252829B (en) * | 1991-02-15 | 1994-10-19 | Crystal Semiconductor Corp | Method and apparatus for decreasing the interference and noise sensitivity of a ratiometric converter type of circuit |
US6301512B1 (en) * | 1993-12-30 | 2001-10-09 | The Boeing Company | Ultrasonic data analysis and display system |
US5574654A (en) * | 1994-02-24 | 1996-11-12 | Dranetz Technologies, Inc. | Electrical parameter analyzer |
TW335503B (en) | 1996-02-23 | 1998-07-01 | Semiconductor Energy Lab Kk | Semiconductor thin film and manufacturing method and semiconductor device and its manufacturing method |
JPH1038927A (ja) * | 1996-07-23 | 1998-02-13 | Advantest Corp | 波形解析装置 |
US6947043B1 (en) | 2000-03-27 | 2005-09-20 | Tektronix, Inc. | Method of operating an oscilloscope |
JP4188684B2 (ja) * | 2000-11-17 | 2008-11-26 | レクロイ コーポレイション | デジタルオシロスコープまたは同様の機器におけるデータ処理のための処理ウエッブ |
JP2003185683A (ja) * | 2001-12-21 | 2003-07-03 | Yokogawa Electric Corp | 波形測定器 |
JP2004251903A (ja) * | 2003-02-18 | 2004-09-09 | Tektronix Japan Ltd | 利得及びオフセットの自動設定方法 |
US7027318B2 (en) * | 2003-05-30 | 2006-04-11 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method and system for adjusting offset voltage |
US7373263B2 (en) * | 2006-05-16 | 2008-05-13 | Tektronix, Inx. | Analog-type measurements for a logic analyzer |
DE112008001376T5 (de) * | 2007-05-28 | 2010-04-08 | Advantest Corporation | Messgerät und Programm |
US8046183B2 (en) * | 2008-03-04 | 2011-10-25 | Tektronix, Inc. | Pre-trigger and post-trigger acquisition for no dead time acquisition system |
US8983785B2 (en) * | 2010-08-18 | 2015-03-17 | Snap-On Incorporated | System and method for simultaneous display of waveforms generated from input signals received at a data acquisition device |
US9117321B2 (en) | 2010-08-18 | 2015-08-25 | Snap-On Incorporated | Method and apparatus to use remote and local control modes to acquire and visually present data |
US9633492B2 (en) | 2010-08-18 | 2017-04-25 | Snap-On Incorporated | System and method for a vehicle scanner to automatically execute a test suite from a storage card |
US8560168B2 (en) | 2010-08-18 | 2013-10-15 | Snap-On Incorporated | System and method for extending communication range and reducing power consumption of vehicle diagnostic equipment |
US8463953B2 (en) | 2010-08-18 | 2013-06-11 | Snap-On Incorporated | System and method for integrating devices for servicing a device-under-service |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3573618A (en) * | 1968-05-27 | 1971-04-06 | William G Dilley | Solid-state characteristic curve tracer attachment for oscilloscopes |
US3662373A (en) * | 1970-02-26 | 1972-05-09 | Fabri Tek Instr Inc | Information display system |
DE2162837C3 (de) * | 1971-12-17 | 1975-02-27 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Anordnung zur Abfrage und Darstellung digitaler MeBwerte |
US3839630A (en) * | 1971-12-27 | 1974-10-01 | Hewlett Packard Co | Programmable calculator employing algebraic language |
US3921166A (en) * | 1972-09-15 | 1975-11-18 | Raytheon Co | Capacitance matrix keyboard |
US3971925A (en) * | 1972-12-26 | 1976-07-27 | Hewlett-Packard Company | Adaptable programmed calculator having provision for plug-in keyboard and memory modules |
-
1976
- 1976-03-26 US US05/670,891 patent/US4104725A/en not_active Expired - Lifetime
-
1977
- 1977-03-24 DE DE19772713021 patent/DE2713021A1/de not_active Withdrawn
- 1977-03-24 JP JP3276777A patent/JPS52134782A/ja active Pending
- 1977-03-28 NL NL7703298A patent/NL7703298A/nl not_active Application Discontinuation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2713021A1 (de) | 1977-10-06 |
JPS52134782A (en) | 1977-11-11 |
US4104725A (en) | 1978-08-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL7703298A (nl) | Inrichting voor het meten en analyseren van golfvormen. | |
NL7709039A (nl) | Werkwijze en inrichting voor het meten van anti- genen en antilichamen. | |
NL7704638A (nl) | Inrichting voor het meten van tenminste een dimensie van een objekt. | |
NL184384C (nl) | Inrichting en werkwijze voor het waarnemen en meten van een object binnen een ontoegankelijke behuizing. | |
NL7702647A (nl) | Analyse-inrichting en werkwijze voor het analy- seren. | |
NL7601178A (nl) | Inrichting voor het boren en bemonsteren/beproe- ven. | |
NL7809681A (nl) | Werkwijze voor het inductief meten van de doorstroming en daartoe geschikte inrichting. | |
NL185957C (nl) | Inrichting voor het analyseren van monsters. | |
NL7610858A (nl) | Apparaat voor het meten van lokale absorptie- verschillen. | |
NL7704206A (nl) | Werkwijze voor het meten van een afmeting van een artikel en inrichting voor het toepassen van deze werkwijze. | |
NL7707166A (nl) | Inrichting voor het meten van ultrageluid. | |
NL7901815A (nl) | Werkwijze en inrichting voor het detecteren of meten van een afmeting van een langwerpig voorwerp. | |
NL7700017A (nl) | Inrichting voor het meten van stralingsabsorptie. | |
NL7807189A (nl) | Inrichting voor het meten en toevoeren van draad. | |
NL7606566A (nl) | Inrichting voor het meten van massa en kracht. | |
NL187135C (nl) | Inrichting voor het meten en weergeven van golfvormen. | |
NL7706329A (nl) | Werkwijze voor het meten van de corrosiestroom en daartoe geschikte inrichting. | |
NL165293C (nl) | Inrichting voor het meten van massa en kracht. | |
NL7714166A (nl) | Werkwijze en inrichting voor het meten van de concentratie van een fluidum. | |
NL7602837A (nl) | Werkwijze en inrichting voor het meten van zwaveldioxyde. | |
NL7508842A (nl) | Inrichting voor het meten van massa en kracht. | |
NL7610730A (nl) | Meetinrichting voor het meten van gas. | |
NL7705065A (nl) | Werkwijze en inrichting voor het bepalen van de nauwkeurigheid van een stralingsmeting. | |
NL7709089A (nl) | Inrichting voor het meten van hoeveelheden vloeistof of gas. | |
NL176101C (nl) | Inrichting voor het meten van trillingen. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
BA | A request for search or an international-type search has been filed | ||
BB | A search report has been drawn up | ||
BV | The patent application has lapsed |