NL1028481C2 - Microröntgenbron. - Google Patents
Microröntgenbron. Download PDFInfo
- Publication number
- NL1028481C2 NL1028481C2 NL1028481A NL1028481A NL1028481C2 NL 1028481 C2 NL1028481 C2 NL 1028481C2 NL 1028481 A NL1028481 A NL 1028481A NL 1028481 A NL1028481 A NL 1028481A NL 1028481 C2 NL1028481 C2 NL 1028481C2
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- target
- micro
- ray source
- spot
- dilution
- Prior art date
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/12—Cooling non-rotary anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/04—Electrodes ; Mutual position thereof; Constructional adaptations therefor
- H01J35/08—Anodes; Anti cathodes
- H01J35/112—Non-rotating anodes
- H01J35/116—Transmissive anodes
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01J—ELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
- H01J35/00—X-ray tubes
- H01J35/02—Details
- H01J35/16—Vessels; Containers; Shields associated therewith
- H01J35/18—Windows
- H01J35/186—Windows used as targets or X-ray converters
Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
Description
Microröntgenbron
De uitvinding heeft betrekking op een raicroröntgen-bron omvattende een als anode werkzaam target, en een kathode die tijdens bedrijf samenwerkt met de target en als elektronenbron fungeert, waarbij de target is uitgevoerd in de van 5 een metaalfolie welke een spot bezit waar de van de elektronenbron afkomstige elektronen arriveren.
Een dergelijke microröntgenbron is bekend uit de praktijk en onderscheidt zich van conventionele röntgenbron-nen door de grootte van de spot welke globaal circa 1 pm be-10 draagt.
Dergelijke microröntgenbronnen vinden toepassing in die gebieden waar een hoge resolutie van belang is, zoals bij onderzoeks- en controlewerkzaamheden bij de vervaardiging van micro-elektronica, materiaalbelastingsonderzoek, (DNA-)struc-15 tuuronderzoek, computertomografie en geofysisch onderzoek. Overigens zijn andere toepassingen niet uitgesloten.
Bij de bekende microröntgenbron wordt de target toegepast in combinatie met warmteafvoermiddelen in de vorm van een substraat waarop het materiaal van de target is aange-20 bracht. Nadelig daaraan is echter dat een dergelijk substraat, naast de van de target afkomstige beoogde röntgenstraling eveneens röntgenstraling oplevert, welke ten koste gaat van de kwaliteit van de röntgenbron en de daarmee bereikbare resolutie.
25 Het is een doelstelling van de uitvinding om de microröntgenbron te verbeteren zodat daarmee een verhoogde resolutie bereikbaar is zonder concessie te doen aan de ver-mogensopbrengst van de microröntgenbron.
De microröntgenbron volgens de uitvinding is er 30 daartoe door gekenmerkt dat de metaalfolie ter plaatse van de spot een verdunning bezit.
Door slechts ter plaatse van de spot een verdunning aan te brengen, wordt bereikt dat een zeer geconcentreerde omgeving wordt verschaft waar de röntgenstraling wordt opge-35 wekt. Divergentie van deze röntgenstraling wordt zodoende effectief beperkt en de resolutie die met de microröntgenbron 1028481 2 volgens de uitvinding bereikbaar is, wordt zodoende verbeterd. Opgemerkt wordt dat de spot circulair gevormd kan zijn, maar ook de gedaante van een sleuf kan bezitten. In het laatste geval zal de elektronenbundel ter plaatse van de sleuf 5 een heen en weer gaande beweging kunnen uitvoeren.
Teneinde het bereiken van de doelstelling van de uitvinding verder te bevorderen, is het wenselijk dat een door elektronen afkomstig van de kathode en gericht naar de target beschreven baan vrij is van warmteafvoermiddelen.
10 Teneinde niettemin in een adequate warmteafvoer te voorzien is het wenselijk dat de target is voorzien van warm-teafvoermiddelen gevormd als een op de verdunning direct aansluitende en in een eerste omgeving van de spot, met toenemende afstand tot de verdunning zich vergrotende verdikking. 15
Voor een effectieve warmteafvoer is het daarbij voldoende dat de zich vergrotende verdikking zich slechts uitstrekt tot een tweede omgeving die direct aansluit op de eerste omgeving en dat in genoemde tweede omgeving de target een 20 in hoofdzaak uniforme dikte bezit. Deze uniforme dikte bedraagt bijvoorbeeld ten minste het dubbele van de dikte ter plaatse van de verdunning.
Geschikt laat de microröntgenbron volgens de uitvinding zich daarbij zo uitvoeren dat de dikte ter plaatse van 25 de verdunning ten hoogste circa 2,5 pm is onder toepassing van een 100 kV-elektronenbron. Hiermee laat zich een microröntgenbron met een diameter van de röntgenstraal van circa 1 pm realiseren.
De microröntgenbron laat zich bij voorkeur zo reali-30 seren dat het target een vacuümruimte afdicht.
De uitvinding is tevens belichaamd in een werkwijze voor het vervaardigen van een target die geschikt is voor gebruik in een microröntgenbron. Deze werkwijze is volgens de uitvinding gekenmerkt door het uit verschillende op elkaar 35 liggende materiaallagen samenstellen van een plaat, waarbij een bovenste materiaallaag een snellere reactietijd met een etsmiddel bezit dan de direct onder de bovenste materiaallaag 1028481 3 aanwezige onderlaag, en het lokaal etsen van de bovenste ma-teriaallaag met bedoeld etsmiddel tot aan de onderlaag.
De uitvinding zal in het navolgende verder worden toegelicht aan de hand van een niet-beperkend uitvoerings-5 voorbeeld en aan de hand van de tekening.
In de tekening toont een enkele figuur zeer schematisch de constructie van een microröntgenbron volgens de uitvinding.
De microröntgenbron welke is getoond in de figuur, 10 is aangeduid met verwijzingscijfer 1 en omvat een als anode 2 werkzaam target, alsmede een kathode 3 die tijdens bedrijf samenwerkt met de target 2 en daarbij als elektronenbron fungeert.
De target 2 is uitgevoerd in de vorm van een metaal-15 folie. Een geschikt materiaal is bijvoorbeeld wolfram, iridium of osmium.
De target 2 bezit verder een spot 4 op welke plaats de van de elektronenbron 3 afkomstige elektronen botsen met het materiaal van de target 2.
20 Verder toont de figuur dat de microröntgenbron 1 in de richting van de op het target 2 gerichte elektronenstraal kan zijn voorzien van een extractor 5, een lens 6 en deflec-torplaten 7. De functie en werking van deze onderdelen is aan de vakman geheel bekend en behoeft geen verdere toelichting. 25 In de figuur is duidelijk getoond dat de metaalfolie van de target 2 ter plaatse van de spot 4 een verdunning bezit .
Verder is voor de vakman aan de figuur herkenbaar dat de target 2 is voorzien van warmteafvoermiddelen die ge-30 vormd zijn als een op de verdunning van de spot 4 direct aansluitende en in een eerste omgeving A van de spot 4 met toenemende afstand tot de verdunning van de spot 4 zich vergrotende verdikking 5.
In een tweede omgeving 6 die direct aansluit op de 35 eerste omgeving A, bezit de target 2 een in hoofdzaak uniforme dikte van bijvoorbeeld 100 pm.
De target 2 bezit ter hoogte van de spot 4 een verdunning met een dikte van ten hoogste circa 2,5 pm.
1028481 4
Verder toont de figuur dat de target 2 vrij is van warmteafvoermiddelen die zich in de baan van de elektronenbundel tussen kathode 3 en spot 4 bevinden.
De straal van de spot 4 kan in een praktische uit-5 voering circa 2,5 ym bedragen waarbij de spot in een wolfram-folieuitvoering een temperatuur kan bereiken van 1900 K bij een dikte ter plaatse van de spot 4 van circa 2,4 ym.
Verder toont de figuur dat de target 2 een vacuüm-ruimte 8 afdicht, waarbinnen de kathode 3, extractor 5, lens 10 6 en deflectorplaten 7 zijn opgesteld.
De uitvinding is ten slotte belichaamd in een werkwijze voor het vervaardigen van een target 2.
Deze target 2 wordt volgens een aspect van de uitvinding vervaardigd door het uit verschillende op elkaar lig-15 gende materiaallagen samenstellen van een plaat, waarbij een bovenste materiaallaag een snellere reactietijd met een ets-middel bezit dan de direct onder de bovenste materiaallaag aanwezige onderlaag, en het lokaal etsen van de bovenste materiaallaag met bedoeld etsmiddel tot aan de onderlaag.
20 De plaat waaruit de target wordt gevormd kan bij voorbeeld worden verkregen door op een koperplaat een laagje wolfram op te dampen, en eventueel op de vrije zijde van de wolframlaag een afdichtlaag van koper aan te brengen. Dit laatste kan met elektroplating. De koperbovenlaag kan vervol-25 gens geëtst worden met een geschikt etsmiddel voor de vorming van de spot. Het kopermateriaal dat de spot blijvend omgeeft, vormt zoals bekend een uitmuntende warmtegeleider. In plaats van koper kan ook diamant gebruikt worden.
1028481
Claims (7)
1. Microröntgenbron (1) omvattende een als anode (2) werkzaam target, en een kathode (3) die tijdens bedrijf samenwerkt met de target (2) en als elektronenbron fungeert, waarbij de target (2) is uitgevoerd in de vorm van een me- 5 taalfolie welke een spot bezit waar de van de elektronenbron (3) afkomstige elektronen arriveren, met het kenmerk, dat de metaalfolie ter plaatse van de spot (4) een verdunning bezit.
2. Microröntgenbron volgens conclusie 1, met het kenmerk, dat de target (2) is voorzien van warmteafvoermid- 10 delen gevormd als een op de verdunning direct aansluitende en in een eerste omgeving (A) van de spot (4), met toenemende afstand tot de verdunning zich vergrotende verdikking.
3. Microröntgenbron volgens conclusie 2, met het kenmerk, dat in een tweede omgeving (6) die direct aansluit 15 op de eerste omgeving (A) de target (2) een in hoofdzaak uniforme dikte bezit.
4. Microröntgenbron volgens een der conclusies 1-3, met het kenmerk, dat bij toepassing van een 100 kV-elektronenbron, de target een verdunning bezit met een dikte 20 van ten hoogste 2,5 pm.
5. Microröntgenbron volgens een der voorgaande conclusies, met het kenmerk, dat een door elektronen afkomstig van de kathode (3) en gericht naar de target (2) beschreven baan vrij is van warmteafvoermiddelen.
6. Microröntgenbron volgens een der voorgaande con clusies, met het kenmerk, dat de target (2) een vacuümruimte (8) afdicht.
7. Werkwijze voor het vervaardigen van een target (2) geschikt voor gebruik in een microröntgenbron (1) volgens 30 een der voorgaande conclusies, gekenmerkt door het uit verschillende op elkaar liggende materiaallagen samenstellen van een plaat, waarbij een bovenste materiaallaag een snellere reactietijd met een etsmiddel bezit dan de direct onder de bovenste materiaallaag aanwezige onderlaag, en het lokaal et- 1028481 sen van de bovenste materiaallaag met bedoeld etsmiddel tot aan de onderlaag. 1028481
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1028481A NL1028481C2 (nl) | 2005-03-08 | 2005-03-08 | Microröntgenbron. |
EP06732938A EP1859467A2 (en) | 2005-03-08 | 2006-03-08 | Micro x-ray source |
JP2008500648A JP2008533662A (ja) | 2005-03-08 | 2006-03-08 | マイクロx線源 |
PCT/NL2006/000118 WO2006096052A2 (en) | 2005-03-08 | 2006-03-08 | Micro x-ray source |
US11/851,729 US20080170668A1 (en) | 2005-03-08 | 2007-09-07 | Micro x-ray source |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
NL1028481A NL1028481C2 (nl) | 2005-03-08 | 2005-03-08 | Microröntgenbron. |
NL1028481 | 2005-03-08 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
NL1028481C2 true NL1028481C2 (nl) | 2006-09-11 |
Family
ID=34974914
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
NL1028481A NL1028481C2 (nl) | 2005-03-08 | 2005-03-08 | Microröntgenbron. |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20080170668A1 (nl) |
EP (1) | EP1859467A2 (nl) |
JP (1) | JP2008533662A (nl) |
NL (1) | NL1028481C2 (nl) |
WO (1) | WO2006096052A2 (nl) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8897419B1 (en) | 2011-02-14 | 2014-11-25 | Science Research Laboratory, Inc. | Systems and methods for accelerating charged particle beams |
US20150117599A1 (en) | 2013-10-31 | 2015-04-30 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US20150092924A1 (en) * | 2013-09-04 | 2015-04-02 | Wenbing Yun | Structured targets for x-ray generation |
US9449781B2 (en) | 2013-12-05 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | X-ray illuminators with high flux and high flux density |
US10269528B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-04-23 | Sigray, Inc. | Diverging X-ray sources using linear accumulation |
US10297359B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray illumination system with multiple target microstructures |
US9448190B2 (en) | 2014-06-06 | 2016-09-20 | Sigray, Inc. | High brightness X-ray absorption spectroscopy system |
US10295485B2 (en) | 2013-12-05 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | X-ray transmission spectrometer system |
US9570265B1 (en) | 2013-12-05 | 2017-02-14 | Sigray, Inc. | X-ray fluorescence system with high flux and high flux density |
US10416099B2 (en) | 2013-09-19 | 2019-09-17 | Sigray, Inc. | Method of performing X-ray spectroscopy and X-ray absorption spectrometer system |
US10304580B2 (en) | 2013-10-31 | 2019-05-28 | Sigray, Inc. | Talbot X-ray microscope |
USRE48612E1 (en) | 2013-10-31 | 2021-06-29 | Sigray, Inc. | X-ray interferometric imaging system |
US9823203B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-11-21 | Sigray, Inc. | X-ray surface analysis and measurement apparatus |
US9594036B2 (en) | 2014-02-28 | 2017-03-14 | Sigray, Inc. | X-ray surface analysis and measurement apparatus |
US10401309B2 (en) | 2014-05-15 | 2019-09-03 | Sigray, Inc. | X-ray techniques using structured illumination |
JP6493420B2 (ja) * | 2015-02-05 | 2019-04-03 | 株式会社島津製作所 | X線発生装置 |
US10352880B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-07-16 | Sigray, Inc. | Method and apparatus for x-ray microscopy |
US10295486B2 (en) | 2015-08-18 | 2019-05-21 | Sigray, Inc. | Detector for X-rays with high spatial and high spectral resolution |
US10247683B2 (en) | 2016-12-03 | 2019-04-02 | Sigray, Inc. | Material measurement techniques using multiple X-ray micro-beams |
US10578566B2 (en) | 2018-04-03 | 2020-03-03 | Sigray, Inc. | X-ray emission spectrometer system |
DE112019002822T5 (de) | 2018-06-04 | 2021-02-18 | Sigray, Inc. | Wellenlängendispersives röntgenspektrometer |
JP7117452B2 (ja) | 2018-07-26 | 2022-08-12 | シグレイ、インコーポレイテッド | 高輝度反射型x線源 |
US10656105B2 (en) | 2018-08-06 | 2020-05-19 | Sigray, Inc. | Talbot-lau x-ray source and interferometric system |
DE112019004433T5 (de) | 2018-09-04 | 2021-05-20 | Sigray, Inc. | System und verfahren für röntgenstrahlfluoreszenz mit filterung |
CN112823280A (zh) | 2018-09-07 | 2021-05-18 | 斯格瑞公司 | 用于深度可选x射线分析的***和方法 |
US11152183B2 (en) | 2019-07-15 | 2021-10-19 | Sigray, Inc. | X-ray source with rotating anode at atmospheric pressure |
US11152184B2 (en) * | 2019-08-06 | 2021-10-19 | Moxtek, Inc. | X-ray tube insulation, window, and focusing plate |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5044001A (en) * | 1987-12-07 | 1991-08-27 | Nanod Ynamics, Inc. | Method and apparatus for investigating materials with X-rays |
US5629969A (en) * | 1994-03-18 | 1997-05-13 | Hitachi, Ltd. | X-ray imaging system |
JP2002343290A (ja) * | 2001-05-21 | 2002-11-29 | Medeiekkusutekku Kk | X線管ターゲット、x線発生器、x線検査装置およびx線管ターゲットの製造方法 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2922904A (en) * | 1957-12-30 | 1960-01-26 | Gen Electric | Target window for x-ray microscopes |
US3609432A (en) * | 1968-11-08 | 1971-09-28 | Rigaku Denki Co Ltd | Thin target x-ray tube with means for protecting the target |
US4455504A (en) * | 1981-04-02 | 1984-06-19 | Iversen Arthur H | Liquid cooled anode x-ray tubes |
US4622687A (en) * | 1981-04-02 | 1986-11-11 | Arthur H. Iversen | Liquid cooled anode x-ray tubes |
US5004001A (en) * | 1989-08-08 | 1991-04-02 | Victorin Bouchard | Foldable dome |
US5680433A (en) * | 1995-04-28 | 1997-10-21 | Varian Associates, Inc. | High output stationary X-ray target with flexible support structure |
US5907592A (en) * | 1995-10-31 | 1999-05-25 | Levinson; Reuven | Axially incremented projection data for spiral CT |
DE102004003370B4 (de) * | 2004-01-22 | 2015-04-02 | Siemens Aktiengesellschaft | Hochleistungsanodenteller für eine direkt gekühlte Drehkolbenröhre |
-
2005
- 2005-03-08 NL NL1028481A patent/NL1028481C2/nl not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-03-08 JP JP2008500648A patent/JP2008533662A/ja active Pending
- 2006-03-08 EP EP06732938A patent/EP1859467A2/en not_active Withdrawn
- 2006-03-08 WO PCT/NL2006/000118 patent/WO2006096052A2/en active Application Filing
-
2007
- 2007-09-07 US US11/851,729 patent/US20080170668A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5044001A (en) * | 1987-12-07 | 1991-08-27 | Nanod Ynamics, Inc. | Method and apparatus for investigating materials with X-rays |
US5629969A (en) * | 1994-03-18 | 1997-05-13 | Hitachi, Ltd. | X-ray imaging system |
JP2002343290A (ja) * | 2001-05-21 | 2002-11-29 | Medeiekkusutekku Kk | X線管ターゲット、x線発生器、x線検査装置およびx線管ターゲットの製造方法 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 2003, no. 03 5 May 2003 (2003-05-05) * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2006096052A2 (en) | 2006-09-14 |
WO2006096052A3 (en) | 2007-01-11 |
US20080170668A1 (en) | 2008-07-17 |
JP2008533662A (ja) | 2008-08-21 |
EP1859467A2 (en) | 2007-11-28 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
NL1028481C2 (nl) | Microröntgenbron. | |
US6149776A (en) | Copper sputtering target | |
US9263225B2 (en) | X-ray tube anode comprising a coolant tube | |
US20150357148A1 (en) | X-Ray Sources | |
EP0447832B1 (en) | X-ray tube target | |
JP2004351203A5 (nl) | ||
JP6061692B2 (ja) | 放射線発生管及び放射線発生装置及びそれらを用いた放射線撮影装置 | |
KR100642034B1 (ko) | 저온 스퍼터 타겟 접착방법 및 이 방법으로 제조된 타겟조립체 | |
US10032597B2 (en) | X-ray generating tube, X-ray generating apparatus, X-ray imaging system, and anode used therefor | |
JP6272043B2 (ja) | X線発生管及びこれを用いたx線発生装置、x線撮影システム | |
KR20160090820A (ko) | 이온 내충격성을 가진 전자 방출 구조물 | |
US11205564B2 (en) | Electrostatic grid device to reduce electron space charge | |
KR20160102743A (ko) | 전계 방출 엑스선 소스 장치 | |
US20110228909A1 (en) | Electron source and cathode cup thereof | |
US20130129045A1 (en) | Transmission type radiation generating source and radiography apparatus including same | |
US20030002628A1 (en) | Method and system for generating an electron beam in x-ray generating devices | |
JP2009252444A (ja) | コレクタ電極及び電子管 | |
JP2007188732A (ja) | X線発生用ターゲットおよびその製造方法 | |
JP2017135082A (ja) | X線発生管、x線発生装置およびx線撮影システム | |
US11437214B2 (en) | Electron gun and manufacturing method therefor | |
US10535489B2 (en) | Anode | |
US9299526B2 (en) | Method to fabricate portable electron source based on nitrogen incorporated ultrananocrystalline diamond (N-UNCD) | |
US9824843B2 (en) | Emitter with deep structuring on front and rear surfaces | |
JP2013109937A (ja) | X線管及びその製造方法 | |
JP3178658B2 (ja) | イオン・プラズマ型電子銃とその製造方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PD2B | A search report has been drawn up | ||
VD1 | Lapsed due to non-payment of the annual fee |
Effective date: 20091001 |