NL1019775C2 - Circuit board testing device, contains removable needle board with testing needles - Google Patents
Circuit board testing device, contains removable needle board with testing needles Download PDFInfo
- Publication number
- NL1019775C2 NL1019775C2 NL1019775A NL1019775A NL1019775C2 NL 1019775 C2 NL1019775 C2 NL 1019775C2 NL 1019775 A NL1019775 A NL 1019775A NL 1019775 A NL1019775 A NL 1019775A NL 1019775 C2 NL1019775 C2 NL 1019775C2
- Authority
- NL
- Netherlands
- Prior art keywords
- needle bed
- test
- circuit
- control module
- testing
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
- G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors
- G01R31/2808—Holding, conveying or contacting devices, e.g. test adapters, edge connectors, extender boards
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
Korte aanduiding: Inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, alsmede een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.Brief indication: Device for testing electronic circuits, as well as a needle bed for use in such a device.
5 BESCHRIJVING5 DESCRIPTION
De uitvinding heeft betrekking op een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, tenminste omvattende transportmiddelen voor het in bedrijf naar en van een testpositie transporteren van een te testen schakeling, positioneringsmiddelen voor het in de test-10 positie positioneren en centreren van de schakeling ten opzichte van een, uit centreer- en/of steunstiften en testnaalden opgebouwd, naaldenbed, alsmede verplaatsingsmiddelen, welke in bedrijf de schakeling en/of het naaldenbed een naar elkaar toe gerichte verplaatsing opdringen, teneinde de schakeling in contact te brengen met de stiften en de testnaalden van 15 het naaldenbed, waarbij het naaldenbed via een in de inrichting opneembare aanstuurmodule elektrisch aanstuurbaar is.The invention relates to a device for testing electronic circuits, at least comprising transport means for transporting a circuit to be tested in operation to and from a test position, positioning means for positioning and centering the circuit in the test position relative to of a needle bed constructed from centering and / or support pins and test needles, as well as displacement means, which in operation force the circuit and / or the needle bed towards one another in order to bring the circuit into contact with the pins and the test needles of the needle bed, wherein the needle bed can be electrically controlled via a control module that can be incorporated in the device.
De uitvinding heeft tevens betrekking op een naaldenbed voor toepassing in een dergelijke inrichting.The invention also relates to a needle bed for use in such a device.
Een dergelijke inrichting is bijvoorbeeld bekend uit het 20 Europese octrooi schrift nr. EP-A2-0 477 821 en is veelal opgenomen in een produktielijn voor het fabriceren van elektronische schakelingen. Deze gefabriceerde schakelingen, welke zijn opgebouwd uit elektronische componenten, aangebracht op een van geleidende sporen voorziene drager, dienen op een juiste werking te worden getest alvorens zij uitgeleverd 25 kunnen worden. Daartoe wordt elke schakeling met behulp van de transporten positioneringsmiddelen in een testpositie in de inrichting geplaatst. Vervolgens worden met behulp van de verplaatsingsmiddelen de schakeling en het naaldenbed met elkaar in contact gebracht. Doordat de testnaalden van het naaldenbed in elektrisch contact met de elektronische componenten 30 en/of de geleidende sporen van de drager van de schakeling komen te staan, is het mogelijk om met behulp van elektrische stuursignalen via ^ n i p '·.Such a device is known, for example, from European Patent No. EP-A2-0 477 821 and is often included in a production line for manufacturing electronic circuits. These fabricated circuits, which are made up of electronic components, mounted on a carrier provided with conductive tracks, must be tested for correct operation before they can be delivered. To this end, each circuit is placed in a test position in the device with the aid of the transport and positioning means. Subsequently the circuit and the needle bed are brought into contact with each other with the aid of the displacement means. Because the test needles of the needle bed come into electrical contact with the electronic components 30 and / or the conductive tracks of the carrier of the circuit, it is possible with the aid of electrical control signals via n.
f 2 deze testnaalden de werking van de schakeling te testen. Zodoende is het mogelijk om met behulp van een dergelijke inrichting snel grote aantallen schakelingen te testen en defecte schakelingen te traceren.f 2 these test needles to test the operation of the circuit. It is thus possible to quickly test large numbers of circuits with the aid of such a device and to trace defective circuits.
Hiertoe is het naaldenbed mechanisch geplaatst op een 5 aanstuurmodule, welke module via elektrische verbindingen het naaldenbed (en de met het naaldenbed in contact gebrachte te testen schakeling) aanstuurt met de verschillende stuursignalen, waarmee de werking van de schakeling wordt getest. De aanstuurmodule en het bijbehorende naaldenbed zijn bij de huidige toepassingen specifiek ("dedicated") ontworpen voor 10 de in de inrichting te testen schakeling, zodat bij omschakeling van de inrichting naar een ander type te testen schakeling het samenstel aanstuurmodule/naaldenbed uit de inrichting wordt genomen en vervangen wordt door een ander, specifiek op het andere type schakeling toegerust samenstel aanstuurmodule/naaldenbed.To this end, the needle bed is mechanically placed on a control module, which module controls the needle bed (and the circuit to be tested in contact with the needle bed) via the electrical connections with the various control signals, with which the operation of the circuit is tested. In the current applications, the control module and the associated needle bed are specifically ("dedicated") designed for the circuit to be tested in the device, so that when switching from the device to another type of circuit to be tested, the control module / needle bed assembly is removed from the device. is taken and replaced by another assembly control module / needle bed, specifically adapted to the other type of circuit.
15 Een specifiek op een bepaalde elektronische schakeling ontworpen aanstuurmodule/naaldenbed-samenstel wordt geopenbaard in het Amerikaanse octrooi schrift nr. 6,265,887, welke samenstel plaatsbaar is een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen volgens bijvoorbeeld EP-A2-0 477 821. Hierbij is het naaldenbed plaatsbaar op de 20 aanstuurmodule, teneinde het naaldenbed niet alleen in elektrisch contact te brengen met de module (ten behoeve van de testprocedure), als ook om het naaldenbed tegen verschuiving te fixeren, daar met het in contact brengen van het naaldenbed met de testen schakeling krachten op kunnen treden, welke kunnen leiden door beschadiging.A control module / needle bed assembly specifically designed for a particular electronic circuit is disclosed in U.S. Patent No. 6,265,887, which assembly can be placed in an electronic circuit testing device according to, for example, EP-A2-0 477 821. needle bed can be placed on the control module, in order not only to bring the needle bed into electrical contact with the module (for the purpose of the test procedure), but also to fix the needle bed against displacement, since bringing the needle bed into contact with the tests switching forces can occur, which can be caused by damage.
25 Voorts bezit in US-6,265,887 het naaldenbed relatief geringe afmetingen, waardoor niet alleen compact geconstrueerd dient te worden, doch ook enkel schakelingen van soortgelijke, geringe afmetingen getest kunnen worden.Furthermore, in US 6,265,887 the needle bed has relatively small dimensions, so that it is not only necessary to construct compactly, but also only circuits of similar, small dimensions can be tested.
Bovengenoemde bezwaren maken de inrichting voor het testen 30 van verschillende elektronische schakelingen duur, daar de gebruiker voor elk type schakeling over een specifiek aanstuurmodule/naaldenbed- 3 samenstel dient te beschikken.The aforementioned drawbacks make the device for testing different electronic circuits expensive, since the user must have a specific control module / needle bed assembly for each type of circuit.
De onderhavige uitvinding beoogt bovengenoemde bezwaren te ondervangen en een goedkopere en breder inzetbare inrichting voor het testen van schakelingen te verschaffen, welke voor meerdere verschillende 5 schakelingen kan worden benut.The present invention has for its object to obviate the above drawbacks and to provide a cheaper and more widely applicable device for testing circuits, which can be utilized for several different circuits.
De inrichting wordt overeenkomstig de uitvinding daartoe gekenmerkt, doordat het naaldenbed in en uit de inrichting neembaar is. Door deze mechanische ontkoppeling van de aanstuurmodule en het naaldenbed wordt niet alleen een sterkere vereenvoudiging qua constructie als 10 ook een verdere kostenreductie verkregen, daar nu enkel het naaldenbed in en uit de inrichting neembaar te maken en te vervangen door een ander, specifiek voor een bepaalde te testen schakeling ontworpen naaldenbed.According to the invention, the device is therefore characterized in that the needle bed is removable in and out of the device. This mechanical disconnection of the control module and the needle bed not only results in a greater simplification in terms of construction but also in a further cost reduction, since now only the needle bed can be taken in and out of the device and replaced by another, specifically for a specific circuit designed test bed.
Meer in het bijzonder is het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding in een richting dwars op de transportrichting van de te testen 15 schakelingen in en uit de inrichting neembaar, waardoor een eenvoudig en snel omstellen van de inrichting door het bedienend personeel mogelijk wordt.More in particular, the needle bed according to the invention can be taken in and out of the device in a direction transverse to the direction of transport of the circuits to be tested, thereby enabling simple and rapid adjustment of the device by the operating personnel.
Een verdergaande vereenvoudiging van de inrichting en meer in het bijzonder van het bekende aanstuurmodule/naaldenbed-samenstel 20 wordt bereikt, doordat naast een mechanische ontkoppeling van de aanstuurmodule en het naaldenbed, het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding ook elektrisch losneembaar is van de aanstuurmodule.A further simplification of the device and more in particular of the known control module / needle bed assembly 20 is achieved in that in addition to a mechanical disconnection of the control module and the needle bed, the needle bed according to the invention is also electrically detachable from the control module.
Bij een specifieke uitvoeringsvorm bezit het naaldenbed dezelfde dimensionele afmetingen bezit als de aanstuurmodule en meer in 25 het bijzonder bezit het naaldenbed dezelfde dimensionele afmetingen als de testpositie. Door deze ïnbouwruimte-winst zijn de afmetingen van het naaldenbed niet langer beperkend voor de afmetingen (oppervlak) van de te testen schakelingen, maar wordt de beperking nu bepaald door de oppervlakte-afmetingen van de testpositie van de inrichting zelf.In a specific embodiment the needle bed has the same dimensional dimensions as the control module and more particularly the needle bed has the same dimensional dimensions as the test position. Due to this built-in space gain, the dimensions of the needle bed are no longer limiting to the dimensions (surface area) of the circuits to be tested, but the limitation is now determined by the surface dimensions of the test position of the device itself.
30 Een ander voordeel van een naaldenbed met een oppervlak nagenoeg gelijk de afmetingen van de testpositie is het feit, dat een te 4 testen schakeling niet langer enkel aan de onderzijde en/of de bovenzijde benaderbaar is door de testnaalden, maar dat de te testen schakeling eveneens via het naaldenbed aan de zijkanten voor testdoeleinden benaderbaar is. Dit maakt het naaldenbed veelzijdiger en breder inzetbaar.Another advantage of a needle bed with a surface substantially equal to the dimensions of the test position is the fact that a circuit to be tested is no longer only accessible at the bottom and / or the top by the test needles, but that the circuit to be tested can also be accessed for testing purposes via the needle bed on the sides. This makes the needle bed more versatile and more versatile.
5 Bij een specifieke voorkeursuitvoeringsvorm is het naalden bed overeenkomstig de uitvinding gevormd als een vlakke plaat, welke verschuifbaar en borgbaar opneembaar is in aan weerszijden van de test-positie aangebrachte sleuven. Naast een significante winst in de inbouw-ruimte en de bredere testmogelijkheiden van een dergelijk naaldenbed, 10 wordt bovendien een voor het bedienend personeel gemakkelijk bereikbaar en verwisselbaar naaldenbed gerealiseerd.In a specific preferred embodiment, the needle bed according to the invention is formed as a flat plate, which can be slidably and securely received in slots arranged on either side of the test position. In addition to a significant gain in the installation space and the broader testing possibilities of such a needle bed, a needle bed that is easily accessible and exchangeable is also realized for the operating personnel.
Het verwisselen van het naaldenbed wordt nog eens vereenvoudigd, doordat volgens de uitvinding de in de sleuven reikende zijden van het naaldenbed elk zijn voorzien van tenminste één uitsparing, 15 welke uitsparingen samen kunnen vallen met op de sleuven aangebrachte nokken. Dit maakt bijvoorbeeld het halverwege in de testpositie plaatsen en vervolgens inschuiven van het naaldenbed mogelijk, bijvoorbeeld indien op het naaldenbed aangebrachte uitstekende onderdelen een direct inschuiven van het naaldenbed niet mogelijk maken.Changing the needle bed is further simplified in that, according to the invention, the sides of the needle bed extending into the slots are each provided with at least one recess, which recesses can coincide with cams arranged on the slots. This makes it possible, for example, to place the needle bed halfway in the test position and then to push it in, for example if protruding parts arranged on the needle bed do not allow the needle bed to be pushed in directly.
20 Naast de mechanische ontkoppeling wordt de elektrische ontkoppeling met de aanstuurmodule bereikt, doordat het naaldenbed is voorzien van tenminste één connector, welke connector bij het in de inrichting plaatsen van het naaldenbed in elektrisch contact brengbaar is met een in de inrichting geplaatste contraconnector.In addition to the mechanical disconnection, the electrical disconnection with the control module is achieved in that the needle bed is provided with at least one connector, which connector can be brought into electrical contact with a contraconnector placed in the device when the needle bed is placed in the device.
25 Ten behoeve van een juiste, correcte oriëntering van het naaldenbed in de inrichting zijn het uitneembare naaldenbed en de inrichting voorzien van richtmiddelen, welke richtmiddelen in bijzonder kunnen bestaan uit tenminste één borgpin, welke in een overeenkomstige centreeropening opneembaar is.For a correct, correct orientation of the needle bed in the device, the removable needle bed and the device are provided with directing means, which directing means can in particular consist of at least one locking pin which can be received in a corresponding centering opening.
30 De uitvinding zal nu aan de hand van een tekening nader worden toegelicht, welke tekening achtereenvolgens toont in: 1 Ü 1 'li i i 3 5The invention will now be explained in more detail with reference to a drawing, which drawing successively shows in: 1.
Figuren la en lb aanzichten in perspectief van een uitvoeringsvorm van een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen;Figures 1a and 1b are perspective views of an embodiment of a device for testing electronic circuits;
Figuren 2a en 2b tonen opengewerkte aanzichten van de 5 inrichting uit de figuren la en lb;Figures 2a and 2b show cut-away views of the device from Figures 1a and 1b;
Figuren 3a en 3b tonen een uitvoeringsvorm van een naaldenbed overeenkomstig de uitvinding;Figures 3a and 3b show an embodiment of a needle bed according to the invention;
Figuren 4a en 4b tonen het naaldenbed uit de figuren 3a en 3b voor plaatsing in de inrichting volgens de figuren la-lb, 2a-2b.Figures 4a and 4b show the needle bed of Figures 3a and 3b for placement in the device according to Figures 1a-1b, 2a-2b.
10 De figuren la en lb tonen opengewerkte aanzichten van een inrichting voor het testen van elektronische schakelingen, welke inrichting 1 gevormd wordt door een onderstel la met een daarop geplaatste testmodule lb, bestaande uit een afscherming geplaatst rond een testpositie 4 voor de te testen elektronische schakelingen. De door 15 de testmodule lb afgeschermde testpositie 4 is via een deur 3 aan de voorzijde van de testinrichting toegankelijk voor het bedienend personeel.Figures 1a and 1b show cut-away views of a device for testing electronic circuits, which device 1 is formed by a chassis 1a with a test module 1b placed thereon, consisting of a shield placed around a test position 4 for the electronic circuits to be tested . The test position 4 protected by the test module 1b is accessible to the operating staff via a door 3 on the front side of the test device.
De hierin beschreven testinrichting is algemeen bekend en bijvoorbeeld beschreven in de opname van de aanvraagster inmiddels 20 verleend Nederlands octrooi nr. 1007474.The test device described herein is generally known and described, for example, in the inclusion of the applicant in the meantime granted Dutch patent No. 1007474.
De testinrichting zoals getoond in de figuren la en lb is bij voorkeur in een niet getoonde productie- of testlijn van elektronische schakeling opgesteld, waarbij de testinrichting 1 in de transportstroom van de te testen elektronische schakelingen is opgesteld. 25 Een voorbeeld van een dergelijk transportsysteem is bijvoorbeeld beschreven in de eveneens op naam van aanvraagster ingediende Europese octrooiaanvrage nr. 1 157780. Hiertoe sluit de testinrichting veelal aan op een transportband (niet getoond) waarop via de invoerzijde 2a een te testen elektronische schakeling de testinrichting wordt ingevoerd naar de 30 testpositie 4. Evenzo wordt via de uitvoerzijde 2b de geteste elektronische schakeling de testinrichting uitgevoerd over een daarop 6 aansluitende transportmodule, welke deel uitmaakt van de productie- of testlijn.The test device as shown in Figs. 1a and 1b is preferably arranged in an electronic circuit production or test line (not shown), the test device 1 being arranged in the transport stream of the electronic circuits to be tested. An example of such a transport system is described, for example, in European Patent Application No. 1 157780, also filed in the name of the applicant. To this end, the test device usually connects to a conveyor belt (not shown) on which an electronic circuit to be tested via the input side 2a is the test device. is input to the test position 4. Similarly, the tested electronic circuit is outputted via the output side 2b via a transport module 6, which forms part of the production or test line.
De in de testmodule lb opgestelde transportmiddelen 5 omvatten twee evenwijdig aan elkaar en op enige afstand van elkaar 5 gelegen samenstellen 5A en 5B. Elk samenstel 5A (5B) is mede opgebouwd uit, op enige afstand van elkaar gelegen assen 52, 53 (zie figuur lb), waarover een eindloze transportdrager 51 is aangebracht. Voor het aandrijven van de eindloze drager 51 is de as 53 verbonden met een aandrijfmotor 54. De eindloze dragers 51 van beide transportmiddelen 5A 10 en 5B worden door de overeenkomstige aandrijfmotoren 54, bijvoorbeeld elektromotoren, aangedreven.The transport means 5 disposed in the test module 1b comprise two assemblies 5A and 5B which are parallel to each other and at some distance from each other. Each assembly 5A (5B) is partly made up of shafts 52, 53 (see figure 1b), which are situated at some distance from each other, over which an endless transport carrier 51 is arranged. For driving the endless carrier 51, the shaft 53 is connected to a drive motor 54. The endless carriers 51 of both transport means 5A 10 and 5B are driven by the corresponding drive motors 54, for example electric motors.
Veelal is één van de transportsamenstellen 5A of 5B, veelal 5A, verschuifbaar opgenomen in de testmodule lb, zulks om de afstand tussen de beide transportsamenstel!en 5A en 5B aan te passen aan de 15 afmetingen van de printplaat van de te testen elektronische schakeling.Usually one of the transport assemblies 5A or 5B, often 5A, is slidably included in the test module 1b, such that the distance between the two transport assemblies 5A and 5B and 5B is adapted to the dimensions of the printed circuit board of the electronic circuit to be tested.
Op de beide eindloze dragers 51 van de beide transportsamenstellen 5A en 5B rusten de eindranden van een te testen elektronische schakeling, welke via de invoerzijde 2a de testinrichting lb wordt ingevoerd in de richting van de testpositie 4. De te testen op 20 de eindloze dragers 51 rustende elektronische schakeling wordt met behulp van geschikte middelen, bijvoorbeeld een stopper, of door het uitschakelen van de aandrijving 54 van de eindloze dragers 51 in de testpositie tot stilstand gebracht. Om nu de betreffende schakeling te onderwerpen aan een testprocedure is onder de beide transportsamenstellen 25 5A, 5B een op zich bekend naaldenbed 6 geplaatst, welke voorzien is van een groot aantal, uit het vlak van het naaldenbed uitstekende testnaalden, alsmede een aantal centreer- en/of steunstiften. Daar de testnaalden, centreer- en/of steunstiften van het naaldenbed niet bijdragen aan het begrip van de uitvinding, zijn zij voor alle 30 duidelijkheid niet in de tekening weergegeven.On the two endless carriers 51 of the two transport assemblies 5A and 5B rest the end edges of an electronic circuit to be tested, which is fed through the input side 2a to the test device 1b in the direction of the test position 4. The to be tested on the endless carriers 51 Resting electronic circuit is stopped in the test position by suitable means, for example a stopper, or by switching off the drive 54 of the endless carriers 51. In order to subject the circuit in question to a test procedure, a needle bed 6, known per se, is placed under the two conveyor assemblies 5A, 5B and is provided with a large number of test needles protruding from the plane of the needle bed, as well as a number of centering and / or support pens. Since the test needles, centering and / or support pins of the needle bed do not contribute to the understanding of the invention, they are not shown in the drawing for the sake of clarity.
De testinrichting 1 omvat mede boven de testpositie 4 101777 o 7 geplaatste (niet weergegeven) verplaatsingsmiddelen, welke verplaatsingsmiddelen met name een viertal naar de testpositie 4 gerichte contactelementen omvat, welke contactelementen door middel van geschikte, eveneens niet weergegeven, aandrijfmiddelen van en naar de 5 transportsamenstellen 5A, 5B worden verplaatst. In het geval van de neergaande verplaatsing van de contactelementen in de richting van de testpositie 4 zullen de contactelementen in contact komen met contactvlakken 55A-55D van de beide transportsamenstellen 5A en 5B, waardoor de beide samenstellen 5A en 5B tegen de veerkracht van veren 56 10 in in de richting van het naaldenbed 6 worden verplaatst.The test device 1 also comprises moving means (not shown), which are placed above the test position 4, which moving means comprise in particular four contact elements directed to the test position 4, which contact elements are supplied by means of suitable, also not shown, drive means to and from the conveyor assemblies 5A, 5B are moved. In the case of the downward displacement of the contact elements in the direction of the test position 4, the contact elements will come into contact with contact surfaces 55A-55D of the two conveyor assemblies 5A and 5B, whereby the two assemblies 5A and 5B resist the spring force of springs 56 in the direction of the needle bed 6.
De in de testpositie 4 op de eindloze dragers 51 rustende schakeling wordt, al dan niet met behulp van eveneens van de verplaatsingsmiddelen deel uitmakende drukstiften, met de testnaalden en de centreer- en/of steunstiften van het naaldenbed 6 in contact gebracht. 15 De centreerstiften dienen daarbij voor de juiste oriëntatie en fixering van de schakeling ten opzichte van het naaldenbed, terwijl de steunstiften een doordrukken van de schakeling door de verplaatsingsmiddelen voorkomen, waardoor een beschadiging aan de elektronische schakeling en/of de veelal dunne testnaalden wordt voorkomen. De veelal 20 in een matrix gerangschikte testnaalden zijn veelal verend uitgevoerd en vervaardigd van een elektrisch zeer goed geleidend materiaal, veelal goud dan wel voorzien van bladgoud. De verschillende testnaalden worden in contact gebracht met de geleidende sporen van de schakeling, zodat de schakeling onderworpen kan worden aan een testprocedure voor het 25 controleren van een juist functioneren van de schakeling dan wel voor het detecteren van defecten.The circuit resting on the endless carriers 51 in the test position 4 is brought into contact with the test needles and the centering and / or support pins of the needle bed 6, with or without the aid of pressure pins also forming part of the displacement means. The centering pins here serve for the correct orientation and fixation of the circuit with respect to the needle bed, while the support pins prevent the circuit from being pushed through by the displacement means, thereby preventing damage to the electronic circuit and / or the mostly thin test needles. The test needles, which are usually arranged in a matrix, are generally resilient and made of an electrically highly conductive material, often gold or gold-plated. The different test needles are brought into contact with the conductive tracks of the circuit, so that the circuit can be subjected to a test procedure for checking the correct functioning of the circuit or for detecting defects.
Na de testprocedure zullen de verplaatsingsmiddelen weer teruggaan naar hun uitgangspositie in de testmodule lb, waarbij de transportsamenstellen 5A en 5B onder invloed van de veerkracht van de 30 ingedrukte veren 56 terug verplaatsen omhoog en daarbij de geteste schakeling meenemen zodat deze vrij komt te liggen van de testnaalden en -t.After the test procedure, the displacement means will return to their starting position in the test module 1b, the transport assemblies 5A and 5B again moving upwards under the influence of the spring force of the compressed springs 56 and thereby taking the tested circuit so that it becomes free of the tested circuit. test needles and t
i.' ' 8 centreer- en/of steunstiften van het naaldenbed 6. In de uitgangspositie worden de eindloze dragers 51 wederom bekrachtigd door de aandrijfmotoren 54 en de geteste schakeling via de zijde 2b uit de testinrichting gevoerd voor verdere bewerking c.q. behandeling.i. " 8 centering and / or support pins of the needle bed 6. In the starting position, the endless carriers 51 are again energized by the drive motors 54 and the tested circuit is taken out of the test device via the side 2b for further processing or treatment.
5 Bij de huidige toepassingen wordt elk naaldenbed 6 specifiek ontworpen voor de te testen elektronische schakeling, waarbij het specifieke naaldenbed 6 door een daarbij behorende aandrijfmodule 10 wordt aangestuurd. De aanstuurmodule 10 is daarbij onder het naaldenbed 6 in de inrichting opgenomen, waarbij de verschillende testnaalden 5 aan de 10 onderzijde, dat wil zeggen aan de van de testpositie 4 afgekeerde zijde van het naaldenbed 6, elektrisch verbonden zijn met de aanstuur-elektronica welke opgenomen is in de aanstuurmodule 10. Deze directe elektrische en mechanische koppeling tussen het naaldenbed 6 en de bijbehorende aanstuurmodule 10 impliceert, dat voor het omstellen van de 15 testinrichting 1 naar een andere te testen elektronische schakeling het naaldenbed 6 en de bijbehorende aanstuurmodule 10 omgewisseld dienen te worden voor een ander, specifiek op de andere schakeling ontworpen naaldenbed/aanstuurmodulesamenstel 6, 10. Voor een eenvoudige uitwisseling van het naaldenbed en de aanstuurmodule 10 is de inrichting 20 aan de voorzijde voorzien van een tweetal handgrepen 10A en 10B waarmee het naaldenbed/aanstuurmodule 6, 10 in één keer ontgrendeld kan worden en uit de inrichting worden genomen.In current applications, each needle bed 6 is specifically designed for the electronic circuit to be tested, the specific needle bed 6 being driven by an associated drive module 10. The control module 10 is thereby incorporated under the needle bed 6 in the device, the different test needles 5 on the underside, i.e. on the side of the needle bed 6 remote from the test position 4, being electrically connected to the control electronics which are included is in the control module 10. This direct electrical and mechanical coupling between the needle bed 6 and the associated control module 10 implies that for switching the test device 1 to another electronic circuit to be tested, the needle bed 6 and the associated control module 10 must be exchanged. for another needle bed / control module assembly 6, 10 designed specifically for the other circuit. For a simple exchange of the needle bed and the control module 10, the device 20 is provided at the front with two handles 10A and 10B with which the needle bed / control module 6 Can be unlocked in one go and be released from the device n taken.
Deze voorziening wordt getoond in de figuren 2a en 2b, waarbij overeenkomende onderdelen met dezelfde referentiecijfers zijn 25 aangeduid.This feature is shown in Figures 2a and 2b, with corresponding parts being designated with the same reference numerals.
Daar het volledig schakelingspecifiek maken van een naaldenbed 6 en de bijbehorende aanstuurmodule 10 in veel gevallen de inrichting gecompliceerd en onnodig duur maakt, zijn overeenkomstig de uitvinding het naaldenbed 6 en de aanstuurmodule 10 zowel mechanisch als 30 elektrisch van elkaar ontkoppeld c.q. gescheiden. De hierdoor eenvoudigere en minder dure testinrichting bezit overeenkomstig deSince making a needle bed 6 and the associated control module 10 completely circuit-specific makes the device complicated and unnecessarily expensive in many cases, according to the invention the needle bed 6 and the control module 10 are disconnected or separated from each other mechanically and electrically. The test device, which is simpler and less expensive in this way, has the
10 1 -if i ( O10 -1-i (O
» I"I
9 uitvinding over een naaldenbed 6, welke separaat van de aanstuurmodule 10 in en uit de testinrichting neembaar is. Een en ander wordt verduidelijkt aan de hand van de figuren 2a en 2b welke de voorzijde van de testinrichting lb tonen met de klep 7 in open stand, zodat de 5 invoermodule 8 getoond wordt. De invoermodule 8 bezit een compartiment 11 waarin een standaard aanstuurmodule 10 voor meerdere naaldenbedden 6 (nu niet weergegeven) is opgenomen alsmede een compartiment 4, zijnde de testpositie waarin het specifieke naaldenbed plaatsbaar is. De invoermodule 8 is overeenkomstig de uitvinding in en uit de testmodule lb 10 brengbaar, zoals getoond in de figuur 2b. Hiertoe kan de invoermodule 8 door middel van klemmiddelen 10A en 10B ontgrendeld worden en met behulp van geleidingen 12a en 12b welke samenwerken met in de testmodule lb aangebrachte overeenkomende sleuven 12C resp. 12D over een zekere afstand uit de testmodule lb geschoven kan worden.9 invention about a needle bed 6, which can be taken in and out of the test device separately from the control module 10. All this is clarified with reference to figures 2a and 2b which show the front side of the test device 1b with the valve 7 in the open position, so that the input module 8 is shown. The input module 8 has a compartment 11 in which a standard control module 10 for several needle beds 6 (not currently shown) is included, as well as a compartment 4, being the test position in which the specific needle bed can be placed. The input module 8 can be brought into and out of the test module 1b according to the invention, as shown in Fig. 2b. To this end, the input module 8 can be unlocked by means of clamping means 10A and 10B and with the aid of guides 12a and 12b which co-operate with corresponding slots 12C and 12C, respectively, provided in the test module 1b. 12D can be slid over a certain distance from the test module 1b.
15 De invoermodule 8 beschikt over geleidingsmiddelen 13a en 13b, welke hier zijn uitgevoerd als geleidingssleuven waarin het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding geschoven kan worden. Als ondersteuning van de geleiding van het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding in de invoermodule overeenkomstig de uitvinding zijn 20 additionele geleidingsmiddelen in de vorm van steunwielen 14 aanwezig.The input module 8 has guide means 13a and 13b, which here are designed as guide slots into which the needle bed according to the invention can be slid. Additional support means in the form of support wheels 14 are provided as support for guiding the needle bed according to the invention in the input module according to the invention.
Zoals verderop met behulp van de figuren 3a-3b en 4a-4b zal worden beschreven, is de invoermodule 8 voorzien van een tweetal connectorwanden 15 resp. 17, welke connectorwanden bij het in de inrichting lb schuiven van de invoermodule 8 tot helemaal achterin de 25 inrichting bevinden. De beide connectorwanden 15 en 17 zijn voorzien van één of meerdere connectoren 16 resp. 18. De connectoren kunnen een willekeurige configuratie bezitten, voor zover deze noodzakelijk en geschikt zijn voor het uitvoeren van de noodzakelijke testprocedures op elke op het naaldenbed geplaatste elektronische schakeling.As will be described below with the aid of figures 3a-3b and 4a-4b, the input module 8 is provided with two connector walls 15 and 16, respectively. 17, which connector walls are located when the input module 8 is slid into the device 1b as far as the rear of the device. The two connector walls 15 and 17 are provided with one or more connectors 16 respectively. 18. The connectors may be of any configuration, insofar as they are necessary and suitable for performing the necessary test procedures on any electronic circuitry placed on the needle bed.
30 Het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding is eveneens voorzien van een connectorwand, dat besproken en toegelicht zal worden j 10 aan de hand van de figuren 3a-3b en 4a-4b. De connectorwand 24 voorzien is van een aantal contra-connectoren 25, welke bij het in de invoermodule 8 schuiven van het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding in elektrisch contact worden gebracht met de connectoren 16 van de connectorwand 15 van 5 de invoermodule 8. De connectoren 16 van de invoermodule 8 zijn voorts elektrisch verbonden met de noodzakelijke aanstuurelektronica van de aanstuurmodule 10 alsook met de meet- en regel elektronica van de testinrichting 1.The needle bed according to the invention is also provided with a connector wall, which will be discussed and explained with reference to Figures 3a-3b and 4a-4b. The connector wall 24 is provided with a number of counter-connectors 25 which, when the needle bed according to the invention is slid into the input module 8, are brought into electrical contact with the connectors 16 of the connector wall 15 of the input module 8. The connectors 16 of the input module 8 are furthermore electrically connected to the necessary control electronics of the control module 10 as well as to the measuring and control electronics of the test device 1.
Een en ander zal nog worden verduidelijkt aan de hand van 10 de figuren 3a-3b alsmede figuren 4a-4b welke een uitvoeringsvorm van een naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding tonen. Het in de figuur 3b getoonde onderaanzicht in perspectief van een uitvoeringsvorm van een naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding toont een plaat 21, welke aan zijn oppervlak 21a voorzien is van niet weergegeven testnaalden, 15 centreer- en/of steunstiften. Voorts is de plaat 21 voorzien van zijranden 22a en 22b, welke in de sleuven 13a en 13b van de invoermodule 8 reiken. De van de testpositie 4 afgekeerde zijde van de plaat 21 toont een onderbouw 23, waarin de bedrading bevat, welke de onderzijde van de testnaalden elektrisch verbinden met een rij van connectoren 25, welke 20 aan de achterzijde van het naaldenbed 6 zijn opgenomen in een van de onderbouw 23 deel uitmakende connectorwand 24. Bij het inschuiven van het naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding in de sleuven 13a en 13b van de invoermodule 8 worden de connectoren 25 in elektrisch contact gebracht met de contra-connectoren 16 van de connectorwand 15 van de invoermodule 25 8. Een goede elektrische verbinding tussen de beide connectorrijen wordt bewerkstelligd door middel van centreeropeningen 28a en 28b, welke aangebracht zijn in de connectorwand 24 en in welke centreeropeningen 28a en 28b geschikte richtstiften 29a en 29b aangebracht op de connectorwand 15 reiken. Het zal duidelijk zijn, dat eventueel de connectorwand 24 30 voorzien kan zijn van uitstekende stiften, welke bij het inschuiven van het naaldenbed in de invoermodule vallen in overeenkomende openingen 11 aangebracht in de connectorwand 15.All this will be further elucidated with reference to figures 3a-3b and figures 4a-4b which show an embodiment of a needle bed 6 according to the invention. The bottom perspective view of an embodiment of a needle bed 6 according to the invention shown in figure 3b shows a plate 21 which is provided on its surface 21a with test needles, centering pins and / or support pins (not shown). The plate 21 is furthermore provided with side edges 22a and 22b which extend into the slots 13a and 13b of the input module 8. The side of the plate 21 facing away from the test position 4 shows a substructure 23 in which the wiring comprises electrically connecting the underside of the test needles to a row of connectors 25 which are mounted at the rear of the needle bed 6 in one of connector wall 24 forming part of substructure 23. When sliding in the needle bed 6 according to the invention into the slots 13a and 13b of the input module 8, the connectors 25 are brought into electrical contact with the counter-connectors 16 of the connector wall 15 of the input module 25 8. A good electrical connection between the two connector rows is achieved by means of centering openings 28a and 28b, which are arranged in the connector wall 24 and in which centering openings 28a and 28b suitable guide pins 29a and 29b arranged on the connector wall 15 reach. It will be clear that possibly the connector wall 24 can be provided with protruding pins which, when the needle bed is pushed into the input module, fall into corresponding openings 11 arranged in the connector wall 15.
Hoewel niet getoond in de figuren, kan op een overeenkomende wijze de aanstuurmodule 10 eveneens met behulp van overeenkomende elektrische koppeling, verbonden worden met connectoren 18 5 van de connectorwand 17 van de invoerzijde 8. Echter, de vereenvoudiging van de uitvinding is met name gelegen in het universeel maken van de aanstuurmodule 10, welke derhalve continu in de testinrichting lb geplaatst kan zijn, terwijl enkel het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding uitwisselbaar is afhankelijk van de te testen elektronische 10 schakeling. In tegenstelling tot de bekende testinrichtingen, wordt zodoende niet alleen een mechanische maar bovenal elektrische ontkoppeling tussen het naaldenbed 6 en de aanstuurmodule 10 verkregen, waardoor de testinrichting veel sneller om te stellen is, maar bovendien breder, dat wil zeggen voor meerdere schakelingen inzetbaar is. Bovendien 15 wordt zodoende de algehele inrichting goedkoper, daar enkel het naaldenbed dient te worden vervangen.Although not shown in the figures, in a corresponding manner the control module 10 can also be connected by means of a corresponding electrical coupling to connectors 18 of the connector wall 17 from the input side 8. However, the simplification of the invention lies in particular in making the control module 10 universal, which can therefore be placed continuously in the testing device 1b, while only the needle bed according to the invention is interchangeable depending on the electronic circuit to be tested. In contrast to the known test devices, thus not only a mechanical but above all electrical disconnection is obtained between the needle bed 6 and the control module 10, whereby the test device can be adjusted much more quickly, but moreover it can be used wider, i.e. can be used for several circuits. Moreover, the overall device thus becomes cheaper, since only the needle bed needs to be replaced.
Na het inschuiven van het naaldenbed 6 en het in contact brengen van de connectoren 25 met de connectoren 16 kan het naaldenbed 6 in de invoermodule 8 gezekerd worden door middel van de klemmen 9a en 9b. 20 Dit verschaft een volledige fixering en opsluiting van de plaat 21 in de sleuven 13a en 13b en de klemmen 9a en 9b welke opsluiting niet alleen een goede fixering van het naaldenbed in de testpositie bewerkstelligt, maar bovenal de elektrische verbindingen tussen de connectoren 16 en 25 handhaaft.After sliding in the needle bed 6 and bringing the connectors 25 into contact with the connectors 16, the needle bed 6 can be secured in the input module 8 by means of the clamps 9a and 9b. This provides a complete fixation and confinement of the plate 21 in the slots 13a and 13b and the clamps 9a and 9b which confinement not only ensures proper fixation of the needle bed in the test position, but above all the electrical connections between the connectors 16 and 25 maintains.
25 Op een soortgelijke wijze kan ook de aanstuurmodule in de invoermodule 8 gezekerd worden. Indien een volledig inschuiven van het naaldenbed 6 via de voorzijde van de invoermodule 8 niet mogelijk is, bijvoorbeeld omdat uitstekende onderdelen, bijvoorbeeld elektronische componenten, ter plaatse van de onderbouw 23 dit onmogelijk maken, zijn 30 bij een uitvoeringsvorm van het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding de zijranden 22a en 22b voorzien van één of meerdere uitsparingen 26, 10 ir 12 welke samen kunnen vallen met op de sleuven 13a en 13b aangebrachte overeenkomende nokken 27. Hierdoor is het mogelijk om het naaldenbed 6 in de invoermodule 8 te tillen of te plaatsten (door het bedienend personeel), zodat de nokken 27 in de uitsparingen 26 vallen, waarbij de 5 zijranden 22a en 22b op de steunwielen 14 komen te rusten. Een vervolgens inschuiven van het naaldenbed 6 over een nu kleinere afstand in de sleuven 13a en 13b en het vervolgens elektrisch verbinden van de connectoren 25 met de contra-connectoren 16. Het vervolgens zekeren van het naaldenbed 6 met behulp van de klemmen 9a en 9b zorgt voor een 10 volledige opsluiting en fixering van het naaldenbed 6 in de testpositie 4 van de testinrichting.The control module can also be secured in the input module 8 in a similar manner. If a complete insertion of the needle bed 6 via the front side of the input module 8 is not possible, for example because protruding parts, for example electronic components, make this impossible at the location of the substructure 23, in an embodiment of the needle bed according to the invention the side edges 22a and 22b provided with one or more recesses 26, 10 or 12 which can coincide with corresponding cams 27 arranged on slots 13a and 13b. This makes it possible to lift or place the needle bed 6 in the input module 8 (by the operating personnel), so that the cams 27 fall into the recesses 26, the side edges 22a and 22b of which come to rest on the support wheels 14. Subsequently sliding the needle bed 6 over a now smaller distance into the slots 13a and 13b and subsequently electrically connecting the connectors 25 to the counter-connectors 16. Securing the needle bed 6 subsequently with the aid of the clamps 9a and 9b for complete confinement and fixation of the needle bed 6 in the test position 4 of the test device.
Een ander bijkomstig voordeel van de constructie c.q. het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding is dat het naaldenbed nu dezelfde afmetingen bezit als de testpositie, waardoor met name grotere 15 elektronische schakelingen in de inrichting kunnen worden getest. Door de directe ontkoppeling tussen het naaldenbed en de aanstuurmodule zowel in mechanisch als elektrisch opzicht, kan het oppervlak van de plaat 21 veel effectiever worden benut. Niet alleen kan door het vergrote plaatoppervlak van de plaat 21 grotere schakelingen worden getest, maar 20 bovenal kan door de verkregen inbouwruimtewinst meer elektronica aan de onderzijde van het naaldenbed 6 worden geplaatst, waardoor de testprocedure aanzienlijk kan worden uitgebreid. Met name kunnen door het vergrote oppervlak van het naaldenbed allerlei testcomponenten en andere testelektronica boven of onder de plaat 21 en buiten de beide 25 transportsamenstellen 5A en 5B geplaatst worden.Another additional advantage of the construction or the needle bed according to the invention is that the needle bed now has the same dimensions as the test position, whereby in particular larger electronic circuits in the device can be tested. Due to the direct disconnection between the needle bed and the control module, both mechanically and electrically, the surface of the plate 21 can be utilized much more effectively. Not only can larger circuits be tested due to the increased plate surface of the plate 21, but above all, more electronics can be placed on the underside of the needle bed 6 as a result of the built-in space gain, whereby the test procedure can be considerably extended. In particular, due to the enlarged surface of the needle bed, all kinds of test components and other test electronics can be placed above or below the plate 21 and outside the two conveyor assemblies 5A and 5B.
Optioneel kan de elektronische aansturing van het naaldenbed 6 door de aanstuurmodule 10 plaatsvinden via de connector-koppeling tussen de aanstuurmodule en de connectorwand 17 (zie figuur 2a-2b), waarbij de connectoren 18 verbonden zijn met de connectoren 16 van 30 de connectorwand 15, welke, zoals hierboven reeds geschetst in elektrische verbinding kunnen worden gebracht met de connectoren 25 van 13 de connectorwand 24 van de onderbouw 23 van het naaldenbed 6 overeenkomstig de uitvinding.Optionally, the electronic control of the needle bed 6 can take place by the control module 10 via the connector coupling between the control module and the connector wall 17 (see figures 2a-2b), the connectors 18 being connected to the connectors 16 of the connector wall 15, which, as already outlined above, can be brought into electrical connection with the connectors 25 of 13, the connector wall 24 of the substructure 23 of the needle bed 6 according to the invention.
Het zal duidelijk zijn dat het op deze wijze een aanzienlijke vereenvoudiging zowel qua constructie als kosten van een 5 testinrichting wordt verkregen, daar nu enkel het naaldenbed 6 specifiek voor de te testen schakeling dient te worden ontworpen. Bovenal is het naaldenbed overeenkomstig de uitvinding met behulp van de constructie overeenkomstig de uitvinding zeer snel uitwisselbaar.It will be clear that in this way a considerable simplification is obtained in terms of both construction and costs of a test device, since now only the needle bed 6 has to be designed specifically for the circuit to be tested. Above all, the needle bed according to the invention can be exchanged very quickly with the aid of the construction according to the invention.
Claims (11)
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL1019775A NL1019775C2 (en) | 2002-01-18 | 2002-01-18 | Circuit board testing device, contains removable needle board with testing needles |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| NL1019775A NL1019775C2 (en) | 2002-01-18 | 2002-01-18 | Circuit board testing device, contains removable needle board with testing needles |
| NL1019775 | 2002-01-18 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| NL1019775C2 true NL1019775C2 (en) | 2003-07-21 |
Family
ID=27752063
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| NL1019775A NL1019775C2 (en) | 2002-01-18 | 2002-01-18 | Circuit board testing device, contains removable needle board with testing needles |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| NL (1) | NL1019775C2 (en) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102411122A (en) * | 2010-09-21 | 2012-04-11 | 株式会社泰塞克 | Tcp Testing Device |
| CN104459220A (en) * | 2014-11-05 | 2015-03-25 | 东晶锐康晶体（成都）有限公司 | Testing pressure head positioning mechanism |
| CN103792481B (en) * | 2012-11-02 | 2016-08-03 | 纬创资通股份有限公司 | Automatic tester for circuitboard and circuit board automatic test approach |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4105289A1 (en) * | 1991-02-20 | 1992-08-27 | Siemens Ag | Test adaptor for flat electrical modules - has spaces to fit components of module and accommodates probe needles to engage mounted side of module |
| US5631573A (en) * | 1994-09-20 | 1997-05-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Probe-type test handler |
-
2002
- 2002-01-18 NL NL1019775A patent/NL1019775C2/en not_active IP Right Cessation
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE4105289A1 (en) * | 1991-02-20 | 1992-08-27 | Siemens Ag | Test adaptor for flat electrical modules - has spaces to fit components of module and accommodates probe needles to engage mounted side of module |
| US5631573A (en) * | 1994-09-20 | 1997-05-20 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Probe-type test handler |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102411122A (en) * | 2010-09-21 | 2012-04-11 | 株式会社泰塞克 | Tcp Testing Device |
| CN102411122B (en) * | 2010-09-21 | 2015-07-22 | 株式会社泰塞克 | Tcp Testing Device |
| CN103792481B (en) * | 2012-11-02 | 2016-08-03 | 纬创资通股份有限公司 | Automatic tester for circuitboard and circuit board automatic test approach |
| CN104459220A (en) * | 2014-11-05 | 2015-03-25 | 东晶锐康晶体（成都）有限公司 | Testing pressure head positioning mechanism |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US6846115B1 (en) | Methods, apparatus, and systems of fiber optic modules, elastomeric connections, and retention mechanisms therefor | |
| US8203354B2 (en) | System for testing electronic components | |
| EP2169773B1 (en) | Assembly for interconnecting circuit boards | |
| US7909650B2 (en) | Card connector provided with function for detecting an integrated circuit card | |
| US8659311B2 (en) | Test apparatus and test method | |
| EP0398506A2 (en) | Electrical socket for tab IC's | |
| US20050220425A1 (en) | Optoelectronic arrangement | |
| WO1997022886A1 (en) | Generic interface test adapter | |
| KR101039857B1 (en) | Semiconduct device contacting apparatus for test handler and test handler using the same | |
| KR20080082997A (en) | Detachably attaching device, test head, and electronic rart test device | |
| US20070270014A1 (en) | Socket for electrical parts | |
| US20100156420A1 (en) | Local coil arrangement for magnetic resonance applications and patient bed for a magnetic resonance system, with integrated electrical interfaces | |
| CN112213523A (en) | Socket for testing products | |
| NL1019775C2 (en) | Circuit board testing device, contains removable needle board with testing needles | |
| TW201125215A (en) | Electrical connector having a sequential mating interface | |
| KR101776797B1 (en) | Electronic parts test center with precise side contact function | |
| AU2018326795A1 (en) | USB-C plug with surface mount contact points | |
| TWI409204B (en) | Electronic component processing device and electronic component testing device | |
| EP1521512A2 (en) | Circuit card | |
| EP2345916B1 (en) | Connectors and assemblies having a plurality of moveable mating arrays | |
| US4967147A (en) | Circuit tester having mechanical fingers and pogo probes for causing electrical contact with test fixture assemblies | |
| KR101668270B1 (en) | Connecting Apparatus for Mounting Test of Electronic Component and Test Apparatus Using the Same | |
| US20030032320A1 (en) | Socket for semiconductor device | |
| US7407401B2 (en) | Socket for electrical parts | |
| JP5495164B2 (en) | Wafer inspection apparatus and test head |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PD2B | A search report has been drawn up | ||
| VD1 | Lapsed due to non-payment of the annual fee |
Effective date: 20070801 |