KR960020553A - 회절 광학장치를 이용한 표면 윤곽 묘사방법 및 묘사기 - Google Patents

회절 광학장치를 이용한 표면 윤곽 묘사방법 및 묘사기 Download PDF

Info

Publication number
KR960020553A
KR960020553A KR1019950040164A KR19950040164A KR960020553A KR 960020553 A KR960020553 A KR 960020553A KR 1019950040164 A KR1019950040164 A KR 1019950040164A KR 19950040164 A KR19950040164 A KR 19950040164A KR 960020553 A KR960020553 A KR 960020553A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light source
optical assembly
diffractive optical
incidence
object surface
Prior art date
Application number
KR1019950040164A
Other languages
English (en)
Other versions
KR100398666B1 (ko
Inventor
드 그루트 피터
Original Assignee
드 그루트 피터
지고 코포레이션
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from US08/334,939 external-priority patent/US5526116A/en
Application filed by 드 그루트 피터, 지고 코포레이션 filed Critical 드 그루트 피터
Publication of KR960020553A publication Critical patent/KR960020553A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR100398666B1 publication Critical patent/KR100398666B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N13/00Stereoscopic video systems; Multi-view video systems; Details thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/30Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces
    • G01B11/303Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring roughness or irregularity of surfaces using photoelectric detection means

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 광원(30), 2개 이상의 회절격자로 이루어진 회절 광학 조립체(70,72,73), 홀로그램 또는 기타의 회절 광학장치(120,130;122,132;123,133), 전자 검출수단 및 간섭 데이타로 부터 표면 높이를 결정하는 디지탈 신호처리수단(10, 110)을 구비하는 표면 윤곽 측정용 광학 시스템에 관한 것이다.
회절 광학 조립체(70,72,73)는 입사광을 2개의 광선(150,160;152,162;153,163)으로 분할하며, 그 광선들은 계속해서 대상물(20) 표면(70)상의 같은 위치에 다른 입사각으로 부딪힌다. 그 광선들은 대상물 표면으로 부터 반사된 후 뒤로 분리하여 회절 광학 조립체를 통과하며, 그후, 그 광선들이 다시 한번 조합하여 표면 윤곽을 나타내는 간섭 패턴을 형성한다. 결과적으로 간섭 패턴의 등가 파장은 파장보다 훨씬 더 길다.

Description

회절 광학장치를 이용한 표면 윤곽 묘사방법 및 묘사기
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 대상물, 광원, 회절요소, 전자 카메라, 그리고 대상물을 조명하고 간섭패턴을 조정하는데 필요한 추가의 광학요소들을 보여주는 본 발명의 바람직한 실시예의 도면,
제5도는 이상(移相)간섭을 수행하는 추가적인 수단을 포함하는 제1도의 장치의 변형예를 보여주는 도면,
제9도는 회절 광학 조립체가 시준렌즈를 대체하는 홀로그래픽 요소들로 구성되는, 제1도의 본 발명의 다른 한 변형예를 보여주는 도면,
제11도는 1도의 본 발명의 또 다른 한 변형예를 보여주는 도면.

Claims (55)

  1. 둔감한 간섭 줄무늬를 이용하여 유용한 작동거리에 있는 대상물 표면 윤곽을 묘사하는 방법으로서, 광원을 이용하여 회전 광학 조립체를 조명하는 조명 단계와, 상기 회절 광학 조립체를 조명하는 광원 빛을, 상기 회절 광학 조립체를 통해서 2개의 다른 방향으로 전파하고 상기 광학적 조립체를 나와서 적절한 작동 거리에 있는 상기 대상물 표면에서 실질적으로 중첩함과 아울러 2개의 다른 입사각으로 실질적으로 같은 위치에서 상기 대상물 표면상에 충돌하는 2개의 광선으로 분할하는 광원 빛 분할단계와, 상기 대상물 표면의 윤곽을 나타내는 간섭 패턴을 형성하기 위하여 상기 회절 광학 조립체를 통해서 돌아오는 상기 반사 광선을 재조합하는 반사 광선 재조합 단계를 포함하며, 상기 간섭 패턴은 표면 변형 및 표면 거칠기에 대하여 낮은 민감도를 가지며, 상기 대상물 표면을 비교직 먼 작동거리에 위치될 수 있는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 조명 단계가 광대역의 공간적 비밀착 광원을 이용하여 상기 회절 광학 조립체를 조명하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 광대역의 비밀착광원의 백색광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  4. 제3항에 있어서, 상기 백색광원이 확산 백색광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  5. 제2항에 있어서, 상기 대상물 표면이 부분적으로 투명한 평면평행형 대상물의 표면 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  6. 제2항에 있어서, 상기 광원이 백열 전구를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  7. 제2항에 있어서, 상기 광원이 발광 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  8. 제1항에 있어서, 상기 조명단계가 광대역의 공간적 밀착 광원을 이용하여 상기 회절 광학 조립체를 조명하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  9. 제1항에 있어서, 상기 조명단계가 협대역의 공간적 비밀착 광원을 이용하여 상기 회절 광학 조립체를 조명하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  10. 제1항에 있어서, 상기 조명 단계가 협대역의 공간적 밀착광원을 이용하여 상기 회절 광학 조립체를 조명하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 묘사 방법.
  11. 제10항에 있어서, 상기 협대역의 공간적 밀착 광원이 레이저를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  12. 제1항에 있어서, 상기 재조합 단계가 상기 간섭 패턴에 대응하는 전자 화상을 발생시키도록 상기 재조합된 광선을 감광 변환하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상을 표면 윤곽 묘사 방법.
  13. 제12항에 있어서, 상기 대상물 표면의 화상을 제공하기 위하여 상기 전자화상을 데이타 처리하는 단계를 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  14. 제1항에 있어서, 상기 간섭 패턴과 관련된 데이타로 부터 표면높이를 결정하는 단계를 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  15. 제1항에 있어서, 상기 광원 빛이 관련 조명파장을 가지며, 상기 간섭패턴은 상기 조명파장보다 더 긴 관련 등가파장을 가지며, 유효파장은 상기 대상을 표면상의 상기 입사각에 종속되는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  16. 제15항에 있어서, 원하는 최적의 유효파장을 제공하기 위하여 상기 입사각을 변화시키는 단계를 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  17. 제15항에 있어서, 상기 유효파장이 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
    (식 중, Λ는 유효파장이고, dφ는 대상물로부터 상기 회절 광학 조립체까지의 거리 h에 있어서의 작은 변화 dh에 대응하는 작은 간섭 위상 변화이며, φ는 상기 대상물 표면상에 충돌하는 상기 2개의 광선간의 간섭 위상차로서 식로 표현되고, 이 식에서 λ는 평균 조명 파장이고 OPD는 2개의 광선이 횡단하는 광로차이다.)
  18. 제17항에 있어서, 상기 회절 광학 조립체가 한쌍의 회절격자를 포함하고, 상기 2개의 광선이 횡단하는 광로차가 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
    (식 중, θ는 방출 광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선들 중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, h는 대상물 표면으로 부터 그 표면에 가장 근접한 회절 격자까지의 거리이고, h′는 상기 회절 광학 조립체를 구성하는 회절격자간 거리이며, 상기 작동거리는 상기 대상물 표면에 가장 근접한 회절 격자의 두께보다 작은 거리 h를 포함한다.)
  19. 제15항에 있어서, 상기 유효파장이 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤과 묘사 방법.
    (식 중, θ는 방출광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, 이로써, 어떤 유효파장 Λ(≥λ)도 상기 각도 θ 및 φ를 적절히 선택함에 의해 발생될 수 있다.)
  20. 제5항에 있어서, 상기 대상물 표면이 전방표면 및 후방표면을 갖는 부분적으로 투명한 평면평행형 대상물의 전방표면을 포함하며, 상기 방법은 상기 부분적으로 투명한 평면평행형 대상물의 전방표면과 후방표면을 독립적으로 측정하는 단계를 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  21. 제20항에 있어서, 상기 회절 광학 조립체가 한쌍의 회절격자를 포함하며, 2개의 광선이 횡단하는 광로차는 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
    (식 중, θ는 방출 광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선들 중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, h는 대상물 표면으로 부터 그 표면에 가장 근접한 회절 격자까지의 거리이고, h′는 상기 회절 광학 조립체를 구성하는 회전격자간 거리이며, 상기 작동거리는 상기 대상물 표면에 가장 근접한 회절 격자의 두께보다 작은 거리 h를 포함한다.)
  22. 제21항에 있어서, 윤곽이 묘사될 대상물 표면을 상기 회절 광학 조립체에 대하여 상기 거리 h에 위치시키는 단계를 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  23. 제21항에 있어서, 상기 광원 빛이 관련 조명 파장을 가지며, 상기 간섭 패턴은 상기 조명 파장보다 더 긴 관련 등가 파장을 가지며, 유효파장은 상기 대상물 표면상의 상기 입사각에 종속되는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  24. 제23항에 있어서, 상기 유효파장이 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤과 묘사 방법.
    (식 중, θ는 방출광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선 중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, 이로써, 어떤 유효파장 Λ(≥λ)도 상기 각도 θ 및 φ를 적절히 선택함에 의해 발생될 수 있다.)
  25. 제1항에 있어서, 상기 간섭 패턴에 제어된 이상을 발생시키는 단계를 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  26. 제23항에 있어서, 상기 제어된 이상을 발생시키는 단계는 상기 대상물 표면에 대하여 상기 회절 광학 조립체의 적어도 일부를 변위시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  27. 제1항에 있어서, 상기 회절 광학 조립제가 홀로그래픽 요소들을 포함하는 것을 특징으로 하는 대상물 표면 윤곽 묘사 방법.
  28. 유용한 작동 거리에서 둔감한 간섭 줄무늬를 이용하여 대상물 표면의 윤곽을 묘사하는 광학적 표면 윤곽 묘사기로서, 조명광원과, 그 조명광원과 상기 대상물 표면사이에서 광학적으로 정렬된 회절 광학 조립체를 구비하며, 상기 조명광원은 상기 회절 광학 조립체를 조명하고, 상기 회절 광학 조립체는, 상기 회절 광학 조립체를 조명하는 광원 빛을 상기 회절 광학 조립체를 통해서 2개의 다른 방향으로 전파하고 상기 회절 광학 조립체를 나와서 상기 대상물 표면상에서 실질적으로 같은 위치에 2개의 다른 입사각으로서 충돌하는 2개의 광선으로 분할하며, 상기 대상을 표면은 충돌하는 광선을 그 표면으로 부터 후방으로 상기 회절 광학 조립체를 향하여 다른 방향으로 반사하며, 그 반사된 광선은 뒤로 상기 회절 광학 조립체를 다른 방향으로 통과하며, 상기 광학적 표면 윤곽 묘사기는 상기 대상물 표면의 표면 윤곽을 나타내는 간섭 패턴을 형성하도록 상기 반사된 광선을 재조합하는 수단을 또한 구비하며, 이로써, 표면 변형 및 거칠기에 대한 민감성이 낮은 간섭 패턴을 이용하여 상기 회절 광학 조립체와 상기 대상물 표면간의 비교직 먼 작동 거리가 확보 되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  29. 제28항에 있어서, 상기 조명원이 광대역의 공간적 비밀착 광원의 단계를 포함하는 것을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  30. 제29항에 있어서, 상기 광대역의 비밀착광원이 백색광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  31. 제30항에 있어서, 상기 백색광원이 확산 백색광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  32. 제29항에 있어서, 상기 대상물 표면이 부분적으로 투명한 평면 평행형 대상물의 표면을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  33. 제32항에 있어서, 상기 대상물 표면이 전방 및 후방 표면을 구비하는 상기 부분적으로 투명한 평면 평행형 대상물의 전방 표면을 포함하며, 상기 윤곽 묘사기는 상기 후방 표면이나 상기 전방 표면을 공통 평면상에 선택적으로 배치하기 위하여 상기 대상물을 병진 이동시키는 수단을 또한 포함하며, 상기 광선들은 상기 공통 평면에 선택적으로 배치된 대상물 표면상의 같은 위치에 2개의 다른 입사각으로 충돌하는 한편, 다른 대상물 표면은 상기 공통 평면으로 부터 이격됨으로써 상기 부분적으로 투명한 평면 평행형 대상물의 전후방 표면들의 독립적으로 측정될 수 있는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  34. 제33항에 있어서, 상기 회절 광학 조립체가 한쌍의 회절 격자를 포함하고, 상기 2개의 광선이 횡단하는 광로차가 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
    (식 중, θ는 방출 광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선들 중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, h는 대상물 표면으로 부터 그 표면에 가장 근접한 회절 격자까지의 거리이고, h′는 상기 회절 광학 조립체를 구성하는 회절격자간 거리이며, 상기 작동거리는 상기 대상물 표면에 가장 근접한 회절 격자의 두께보다 작은 거리 h를 포함한다.)
  35. 제34항에 있어서, 상기 병진 이동시킨 수단이 윤곽이 묘사될 상기 대상물 표면을 상기 회절 광학 조립체에 대하여 상기 거리 h에 위치시키는 수단을 포함하며, 상기 거리 h는 상기 공통 평면에 배치되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  36. 제34항에 있어서, 상기 광원 빛이 관련 조명 파장을 가지며, 상기 간섭 패턴은 상기 조명 파장보다 더 긴 관련 등가 파장을 가지며, 유효 파장은 상기 대상물 표면상의 상기 입사각에 종속되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  37. 제36항에 있어서, 상기 유효파장이 다음식으로 포현되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
    (식 중, θ는 방출광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선 중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, 이로써, 어떤 유효파장 Λ(≥λ)도 상기 각도 θ 및 φ를 적절히 선택함에 의해 발생될 수 있다.)
  38. 제29항에 있어서, 상기 광원이 백열 전구를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 모사기.
  39. 제28항에 있어서, 상기 조명 광원이 광대역의 공간적 밀착 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  40. 제28항에 있어서, 상기 조명 광원이 협대역의 공간적 비밀착 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  41. 제28항에 있어서, 상기 조명 광원이 협대역의 공간적 밀착 광원을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  42. 제41항에 있어서, 상기 협대역의 공간적 밀착 광원이 레이저를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  43. 제29항에 있어서, 상기 조명 광원이 발광 다이오드를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학직 표면 윤곽 묘사기.
  44. 제28항에 있어서, 상기 광원 빛이 관련 조명 파장을 가지며, 상기 간섭 패턴은 상기 조명 파장보다 더 긴 관련 등가 파장을 가지며, 유효 파장은 상기 대상물 표면상의 상기 입사각에 종속되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  45. 제44항에 있어서, 상기 유효파장이 다음식으로 표현된 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
    (식 중, Λ는 유효파장이고, dφ는 대상물로부터 상기 회절 광학 조립체까지의 거리 h에 있어서의 작은 변화 dh에 대응하는 작은 간섭 위상 변화이며, φ는 상기 대상물 표면상에 충돌하는 상기 2개의 광선간의 간섭 위상차로서 식로 표현되고, 이 식에서 λ는 평균 조명 파장이고 OPD는 2개의 광선이 횡단하는 광로차이다.)
  46. 제45항에 있어서, 상기 회절 광학 조립체가 한상의 회절 격자를 포함하고, 상기 2개의 광선이 횡당하는 광로차가 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
    (식 중, θ는 방출 광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선들 중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, h는 대상물 표면으로 부터 그 표면에 가장 근접한 회절 격자까지의 거리이고, h′는 상기 회절 광학 조립체를 구성하는 회절 격자간 거리이며, 상기 작동거리는 상기 대상물 표면에 가장 근접한 회절 격자의 두께보다 작은 거리 h를 포함한다.)
  47. 제44항에 있어서, 상기 유효파장이 다음식으로 표현되는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
    (식 중, θ는 방출광선의 대상물 표면에 대한 입사각이고, φ는 상기 회절 광학 조립체를 통과하는 상기 광선 중 하나의 상기 대상물 표면에 대한 입사각이며, 이로써, 어떤 유효파장 Λ(≥λ)도 상기 각도 θ 및 φ를 적절히 선택함에 의해 발생될 수 있다.)
  48. 제28항에 있어서, 상기 간섭 패턴에 제어된 이상(移相)을 발생시키는 이상 발생 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  49. 제48항에 있어서, 상기 이상 발생 수단이 상기 대상물 표면에 대해 상기 회절 격자조립체를 변위시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  50. 제49항에 있어서, 상기 회절 광학 조립체가 적어도 2개의 이격된 회절 격자를 포함하며, 상기 변위수단이 상기 회절 격장 중 적어도 하나를 다른 것들에 대하여 변위시키는 수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  51. 제28항에 있어서, 상기 회절 광학 조립체가 홀로그래픽요소를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  52. 제28항에 있어서, 상기 회절 광학 조립체가 복수의 회절 격자를 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  53. 제28항에 있어서, 상기 재조합 수단이 상기 재조합된 광선들로부터 상기 간섭 패턴에 해당하는 전자화상을 발생시키는 감광성 변환 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  54. 제53항에 있어서, 상기 대상물 표면의 화상을 제공하기 위하여 상기 전자화상을 데이타 처리하는 데이타 처리수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
  55. 제44항에 있어서, 원하는 최적의 유효파장을 제공하기 위하여 상기 입사각을 변화시키는 수단을 또한 포함하는 것을 특징으로 하는 광학적 표면 윤곽 묘사기.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019950040164A 1994-11-07 1995-11-07 회절광학장치를이용한표면윤곽묘사방법및묘사기 KR100398666B1 (ko)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US08/334,939 US5526116A (en) 1994-11-07 1994-11-07 Method and apparatus for profiling surfaces using diffractive optics which impinges the beams at two different incident angles
US08/334939 1994-11-07
US08/334,939 1994-11-07
US08/365,589 US5671050A (en) 1994-11-07 1994-12-28 Method and apparatus for profiling surfaces using diffracative optics
US08/365589 1994-12-28
US08/365,589 1994-12-28

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960020553A true KR960020553A (ko) 1996-06-17
KR100398666B1 KR100398666B1 (ko) 2003-12-11

Family

ID=26989463

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019950040164A KR100398666B1 (ko) 1994-11-07 1995-11-07 회절광학장치를이용한표면윤곽묘사방법및묘사기

Country Status (6)

Country Link
US (1) US5671050A (ko)
JP (1) JP3568297B2 (ko)
KR (1) KR100398666B1 (ko)
CN (1) CN1060267C (ko)
DE (1) DE19541312A1 (ko)
FR (1) FR2726641B1 (ko)

Families Citing this family (52)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5973784A (en) * 1997-01-08 1999-10-26 Electro-Optical Sciences, Inc. Common path, interferometric systems and methods using a birefringent material for topographic imaging
US6188483B1 (en) * 1997-12-03 2001-02-13 Dr. Ettemeyer Gmbh & Co. Method and apparatus for determining deformation and elongation on curved bodies
US6072581A (en) * 1998-10-30 2000-06-06 Zygo Corporation Geometrically-desensitized interferometer incorporating an optical assembly with high stray-beam management capability
US6181430B1 (en) 1999-03-15 2001-01-30 Ohio Aerospace Institute Optical device for measuring a surface characteristic of an object by multi-color interferometry
DE19919096A1 (de) * 1999-04-27 2000-11-02 Zeiss Carl Jena Gmbh Durchlicht-Beleuchtungseinrichtung für Mikroskope
US6226092B1 (en) 1999-05-27 2001-05-01 Zygo Corporation Full-field geometrically desensitized interferometer using refractive optics
US6341259B1 (en) 1999-06-04 2002-01-22 Interscience, Inc. Microsystems integrated testing and characterization system and method
US6369888B1 (en) 1999-11-17 2002-04-09 Applied Materials, Inc. Method and apparatus for article inspection including speckle reduction
DE50005933D1 (de) * 1999-11-24 2004-05-06 Haag Streit Ag Koeniz Verfahren und vorrichtung zur messung optischer eigenschaften wenigstens zweier voneinander distanzierter bereiche in einem transparenten und/oder diffusiven gegenstand
US6708132B1 (en) 2000-06-02 2004-03-16 Interscience, Inc. Microsystems integrated testing and characterization system and method
WO2001094881A1 (en) * 2000-06-02 2001-12-13 Gsi Lumonics Corporation System of fabricating plane parallel substrates with uniform optical paths
US6819438B2 (en) * 2000-06-02 2004-11-16 Gsi Lumonics Corporation Technique for fabricating high quality optical components
KR100392082B1 (ko) * 2000-07-08 2003-07-22 정하철 모아레 무늬 촬상장치
NO321629B1 (no) * 2000-11-30 2006-06-12 Tomra Systems Asa Anordning for bruk ved spektroskopi
US6473185B2 (en) 2001-03-07 2002-10-29 Plx, Inc. Alignment free interferometer and alignment free method of profiling object surfaces
JP2002296020A (ja) * 2001-03-30 2002-10-09 Nidek Co Ltd 表面形状測定装置
DE10130902A1 (de) * 2001-06-27 2003-01-16 Zeiss Carl Interferometersystem, Verfahren zum Aufnehmen eines Interferogramms und Verfahren zum Bereitstellen und Herstellen eines Objekts mit einer Soll-Oberfläche
IL144805A (en) 2001-08-08 2006-08-01 Nova Measuring Instr Ltd Method and system for measuring the topograpy of a sample
JP2005512048A (ja) * 2001-11-27 2005-04-28 ローベルト ボツシユ ゲゼルシヤフト ミツト ベシユレンクテル ハフツング 特に自動車に用いられるレインセンサ
US7030995B2 (en) * 2001-12-10 2006-04-18 Zygo Corporation Apparatus and method for mechanical phase shifting interferometry
KR100465784B1 (ko) * 2002-05-03 2005-01-13 한국과학기술원 경사단면 광섬유 광원을 이용한 점회절 간섭계 및 측정방법
EP1537532A2 (en) * 2002-09-12 2005-06-08 Nline Corporation System and method for detecting differences between complex images
WO2004025462A2 (en) * 2002-09-12 2004-03-25 Nline Corporation Flow control method for maximizing resource utilization of a remote system
US20040130762A1 (en) * 2002-09-12 2004-07-08 Thomas Clarence E. Optical acquisition systems for direct-to-digital holography and holovision
DE10303364A1 (de) * 2003-01-29 2004-08-05 Hentze-Lissotschenko Patentverwaltungs Gmbh & Co.Kg Vorrichtung zur Bestimmung des Höhenprofils eines Objekts
US7019840B2 (en) * 2003-06-17 2006-03-28 Seagate Technology Llc Dual-beam interferometer for ultra-smooth surface topographical measurements
US7436504B2 (en) * 2003-09-10 2008-10-14 Shear Graphics, Llc Non-destructive testing and imaging
US6934018B2 (en) * 2003-09-10 2005-08-23 Shearographics, Llc Tire inspection apparatus and method
US7187437B2 (en) * 2003-09-10 2007-03-06 Shearographics, Llc Plurality of light sources for inspection apparatus and method
KR100622243B1 (ko) * 2004-02-17 2006-09-14 오므론 가부시키가이샤 광학식 측정 장치 및 광학식 측정 방법
US7483152B2 (en) * 2004-03-03 2009-01-27 Baker Hughes Incorporated High resolution statistical analysis of localized corrosion by direct measurement
US20050275850A1 (en) * 2004-05-28 2005-12-15 Timbre Technologies, Inc. Shape roughness measurement in optical metrology
FR2897426B1 (fr) * 2006-02-16 2012-07-27 Onera (Off Nat Aerospatiale) Procede d'analyse de surface d'onde par interferometrie multilaterale a difference de frequences
US7428060B2 (en) * 2006-03-24 2008-09-23 Timbre Technologies, Inc. Optimization of diffraction order selection for two-dimensional structures
US7388675B2 (en) * 2006-04-03 2008-06-17 Valley Design Corporation Interferometers for the measurement of large diameter thin wafers
US7846391B2 (en) 2006-05-22 2010-12-07 Lumencor, Inc. Bioanalytical instrumentation using a light source subsystem
WO2008010790A1 (en) * 2006-07-18 2008-01-24 Celloptic, Inc. System, apparatus and method for extracting three-dimensional information of an object from received electromagnetic radiation
DE102006035022A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-31 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren zum Herstellen einer optischen Komponente, Interferometeranordnung und Beugungsgitter
US7709811B2 (en) 2007-07-03 2010-05-04 Conner Arlie R Light emitting diode illumination system
US8098375B2 (en) 2007-08-06 2012-01-17 Lumencor, Inc. Light emitting diode illumination system
US8120781B2 (en) 2008-11-26 2012-02-21 Zygo Corporation Interferometric systems and methods featuring spectral analysis of unevenly sampled data
US8242462B2 (en) 2009-01-23 2012-08-14 Lumencor, Inc. Lighting design of high quality biomedical devices
US8107084B2 (en) * 2009-01-30 2012-01-31 Zygo Corporation Interference microscope with scan motion detection using fringe motion in monitor patterns
CN102278952B (zh) * 2010-09-14 2012-09-05 北京航空航天大学 一种光滑反射表面的合成孔径数字全息三维显微观测装置
US8389957B2 (en) 2011-01-14 2013-03-05 Lumencor, Inc. System and method for metered dosage illumination in a bioanalysis or other system
US8466436B2 (en) 2011-01-14 2013-06-18 Lumencor, Inc. System and method for metered dosage illumination in a bioanalysis or other system
US8967811B2 (en) 2012-01-20 2015-03-03 Lumencor, Inc. Solid state continuous white light source
US9217561B2 (en) 2012-06-15 2015-12-22 Lumencor, Inc. Solid state light source for photocuring
US20170188010A1 (en) * 2015-12-29 2017-06-29 Canon Kabushiki Kaisha Reconstruction of local curvature and surface shape for specular objects
DE102016103295A1 (de) * 2016-02-24 2017-08-24 Martin Berz Dreidimensionales Interferometer und Verfahren zur Bestimmung einer Phase eines elektrischen Feldes
CN105675617B (zh) * 2016-04-06 2020-05-01 东旭科技集团有限公司 用于测量平板玻璃表面颗粒度的方法及设备
DE102019212520A1 (de) * 2019-08-21 2021-02-25 Carl Zeiss Smt Gmbh Diffraktives optisches Element für ein Prüfinterferometer

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3958884A (en) * 1974-04-24 1976-05-25 Vickers Limited Interferometric apparatus
US4340306A (en) * 1980-02-04 1982-07-20 Balasubramanian N Optical system for surface topography measurement
DE3173451D1 (en) * 1981-09-17 1986-02-20 Ibm Deutschland Method for interferometric surface topography
JPH0642448B2 (ja) * 1987-09-30 1994-06-01 株式会社東芝 位置合わせ方法
DE4006365A1 (de) * 1990-03-01 1991-10-17 Heidenhain Gmbh Dr Johannes Positionsmesseinrichtung
IL100655A (en) * 1991-02-08 1994-11-28 Hughes Aircraft Co Profile gauge for interferometric laser
JP3315805B2 (ja) * 1993-03-31 2002-08-19 旭光学工業株式会社 像面測定装置
US6154278A (en) * 1993-06-10 2000-11-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical encoder for optically measuring displacement of moving body
JPH07190722A (ja) * 1993-12-27 1995-07-28 Canon Inc 位置ずれ検出方法及びそれを用いた位置ずれ検出装置
JPH07130022A (ja) * 1993-11-08 1995-05-19 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ヘッド装置および光学素子

Also Published As

Publication number Publication date
US5671050A (en) 1997-09-23
JPH08226806A (ja) 1996-09-03
CN1060267C (zh) 2001-01-03
FR2726641B1 (fr) 1998-09-11
FR2726641A1 (fr) 1996-05-10
JP3568297B2 (ja) 2004-09-22
KR100398666B1 (ko) 2003-12-11
DE19541312A1 (de) 1996-05-30
CN1133434A (zh) 1996-10-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR960020553A (ko) 회절 광학장치를 이용한 표면 윤곽 묘사방법 및 묘사기
US5526116A (en) Method and apparatus for profiling surfaces using diffractive optics which impinges the beams at two different incident angles
US4701005A (en) Light beam combining method and apparatus
JP6387964B2 (ja) 計測装置
US5935507A (en) Multi-point laser trapping device and the method thereof
KR20000016177A (ko) 반도체 웨이퍼의 두께 변화를 측정하는 간섭계
KR910008514A (ko) 홀로그래픽 영상화 시스템의 전체 내부반사 광학검사장치 및 방법
JP4834211B2 (ja) 光学干渉計用の光束の波面を分析する方法及び装置
US4148549A (en) Diffraction gratings
US5206704A (en) Position measuring apparatus and method of use thereof
JPH06117830A (ja) ホログラム干渉計による干渉縞の測定解析方法
KR970066764A (ko) 주기적 패턴을 홀로그래픽으로 기록하는 방법 및 장치
JP2006343121A (ja) 光ビーム測定装置
EP0797121A3 (en) Exposure apparatus
US4998785A (en) Decorative surface and a method of producing it
JPH0781817B2 (ja) 位置測定装置
KR20190041796A (ko) 빔 확장기와 이를 포함하는 디스플레이
US3619023A (en) Optical element for generating contour stripes
US9958686B2 (en) Optical apparatus
US11867923B1 (en) Low-speckle laser line generator
JP2899688B2 (ja) 円筒面検査用ホログラム干渉計
SU1695186A1 (ru) Теневое устройство
SU1415052A1 (ru) Способ определени линейных перемещений объекта
GB1568212A (en) Interferometric methods for measuring surface displacements or differences in surface shape
RU2264595C2 (ru) Сканирующий интерферометр для измерения отклонения формы оптических поверхностей

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee