KR960012009A - 다이나믹형 메모리 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 DRAM셀의 게이트산화막에 걸리는 전제밀도를 작게 하여 그 신속성의 지하를 억제하고, 숭압워드선 구동신호의 레벨저하를 억제하여 리크보상회로를 생략하고, 독출 리스토어시간이나 기록사이클시간을 단축할 수 있다. 본 발명은(MC) 어레이(60)와, 메모리셀로부터 비트선(BL)으로 독출된 전위를 센스증폭하고, 기록데이터의 전위를 비트선에 설정하기 위한 센스엠프(69), /RAS신호에 동기하여 워드선(WL)의 선택 및 센스 엠프의 활성화 제어를 수행하는 제어회로, /RAS신호가 활성레벨로 된 다음 비활성레벨로 되돌아 가기까지의 사이에서 선택워드선에 접속되어 있는 메모리셀로부터 그것에 접속되어 있는 비티선으로 독출된 전위가 센스엠프에 의해 센스 증폭된 후에 선택워드선에 비활성레벨로 되돌리도록 제어하는 워드선 제어회로(11)를 구비하여 구성된 것을 특징으로 한다.
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명의 제1실시에 따른 DRAM에 블럭구성을 개략적으로 나타낸 도면,
제5도는 제1도중 워드선 제어회로의 1구체예를 나타낸 논리회로도,
제6도는 제1도중 워드선 지연보상회로의 1구체예를 나타낸 논리회로도.
Claims (6)
- 다이나믹형 메모리셀이 행열상에 배열된 메모리셀 어레이(60)와, 상기 메모리셀 어레이(60)의 동일 행의 메모리셀에 접속된 복수의 워드선(WL), 상기 메모리셀 어레이(60)의 동일 염의 메모리셀에 접속된 복수의비트선(BL), 상기 워드선(WL)을 선택 구동하기 위한 행디코더(67), 상기 비트선(BL)을 선택하기 위한 열선택회로(69), 상기 열선택회로(69)를 구동하기 위한 열디코더(75), 상기 비트선(BL)에 상기 메모리셀로부터독출된 전위를 센스증폭하고, 기록데이터의 전위를 상기 비트선(BL)에 설정하기 위한 센스엠프(69), 외부로부터 입력하는 /RAS신호에 동기하여 상기 워드선의 선택제어 및 상기 센스엠프(69)의 활성화 제어를 수행하는 제어회로(61∼68) 및 상기/RAS신호가 활성레벨로 된 다음 비활성레벨로 되돌아 가기까지의 사이에서 상기 제어회로(61∼68)에 의해 선택된 워드선(WL)에 접속되어 있는 메모리셀로부터 그것에 접속되어 있는 비트선 (BL)으로 독출된 전위가 상기 센스엠프(69)에 의해 센스 증폭된 후에 상기 워드선(WL)을 비활성레벨로 되돌리도록 제어하는 워드선 제어회로(11)를 구비하여 구성된 것을 특징으로 하는 다이나믹형 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 워드선 제어회로(11)가 상기 워드선(WL)을 비활성레벨로 되돌아 간 직후에 상기비트선(BL) 및 상기 센스엠프(69)의 입출력노드를 이퀼라이즈하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 다이나믹형 메모리.
- 제1항에 있어서, 상기 워드선 제어회로(11)가 상기 워드선(WL)을 비활성레벨로 되돌아 가게 한 후의 기록동작시에 기록 인에이블신호에 동기하여 상기 워드선(WL)을 제차 활성레벨로 설정하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 다이나믹형 메모리.
- 제2항에 있어서, 상기 워드선 제어회로(11)가 상기 워드선(WL)을 비활성레벨로 되돌아 간 후의 기록동작시에 기록 인에이블신호에 동기하여 상기 워드선을 제차 활성레벨로 설정하도록 제어하는 것을 특징으로 하는 다이나믹형 메모리.
- 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 워드선 제어회로(11)가 상기 워드선(WL)을 제차 활성레벨로 설정한 후, 상기/RAS신호가 비활성레벨로 되돌아 가는 것에 의해 상기 워드선을 비활성레벨로 되돌리도록 제어하는 것을 특징으로 하는 다이나믹형 메모리.
- 제3항 또는 제4항에 있어서, 상기 워드선 제어회로(11)가 상기 워드선(WL)을 재차 활성레벨로 설정한 후, 상기/RAS신호가 비활성레벨로 되돌아 가는 것을 대기하지 않고 상기 워드선(WL)을 비활성레벨로 되돌리도록 제어하는 것을 특징으로 하는 다이나믹형 메모리.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010010053A (ko) * | 1999-07-15 | 2001-02-05 | 김영환 | 화면 소거시 화면 흔들림 방지 회로 |
Families Citing this family (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6122710A (en) * | 1998-02-17 | 2000-09-19 | International Business Machines Corporation | Dynamic word line driver for cache |
JP3786521B2 (ja) * | 1998-07-01 | 2006-06-14 | 株式会社日立製作所 | 半導体集積回路及びデータ処理システム |
JP3298536B2 (ja) * | 1999-01-29 | 2002-07-02 | 日本電気株式会社 | 半導体記憶装置 |
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US6414898B1 (en) * | 2001-01-16 | 2002-07-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Method to reduce peak current for RAS cycle sensing in DRAM using non-multiplexed row and column addresses to avoid damage to battery |
JP4544808B2 (ja) * | 2002-04-09 | 2010-09-15 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体記憶装置の制御方法、および半導体記憶装置 |
US7200050B2 (en) * | 2003-05-26 | 2007-04-03 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Memory unit and semiconductor device |
KR100535131B1 (ko) * | 2003-05-30 | 2005-12-07 | 주식회사 하이닉스반도체 | 페이지 모드에서의 메모리 소자 리드 방법 및 이를 이용한로우 디코더 제어회로 |
JP4769548B2 (ja) | 2005-11-04 | 2011-09-07 | インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーション | 半導体記憶装置 |
KR100780947B1 (ko) * | 2006-02-24 | 2007-12-03 | 삼성전자주식회사 | Dram 구조의 메모리를 구비하는 디스플레이용 구동집적회로 및 디스플레이 구동방법 |
JP2008135116A (ja) * | 2006-11-28 | 2008-06-12 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP4675362B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2011-04-20 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
JP6287043B2 (ja) | 2013-10-17 | 2018-03-07 | 富士通セミコンダクター株式会社 | 半導体記憶装置 |
WO2022246644A1 (en) * | 2021-05-25 | 2022-12-01 | Citrix Systems, Inc. | Data transfer across storage tiers |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3969706A (en) * | 1974-10-08 | 1976-07-13 | Mostek Corporation | Dynamic random access memory misfet integrated circuit |
JPS5250867A (en) * | 1975-10-23 | 1977-04-23 | Iony Kk | Wind wheel device for grain selector |
JPS6052679A (ja) * | 1983-08-26 | 1985-03-25 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | 耐候性のすぐれた艶消壁装材用シ−ト |
JPS6124091A (ja) * | 1984-07-12 | 1986-02-01 | Nec Corp | メモリ回路 |
US5031150A (en) * | 1988-08-26 | 1991-07-09 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Control circuit for a semiconductor memory device and semiconductor memory system |
JP2962080B2 (ja) * | 1991-12-27 | 1999-10-12 | 日本電気株式会社 | ランダムアクセスメモリ |
JP2833359B2 (ja) * | 1992-07-29 | 1998-12-09 | 日本電気株式会社 | Dram回路 |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20010010053A (ko) * | 1999-07-15 | 2001-02-05 | 김영환 | 화면 소거시 화면 흔들림 방지 회로 |
Also Published As
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