KR950019756A - 테스팅 동안 바운더리-스캔 포트에 의해 다수개의 시스템을 제어하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents
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Abstract
다수개의 시스템(120-l2n)은 동작 동안 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트(17)상에 나닥난 테스트값 에 의해 제어된다.
이러한 제어를 달성하기 위해, 상기 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트값은 적어도 하나의 버퍼(16A)를 거쳐 시프팅되며, 이 버퍼는 상기 테스트 값에 따라 출력 라인(S0∼S7)상에 제어 신호를 발생시킨다. 이 버퍼로부터의 제어 신호는 적어도 하나의 멀티플렉서(18A) 및 디멀티플렉서(18A' )를 제어하며, 이 멀티플렉서 및 디멀티플레서는 상기 버퍼의 제어 신호에 따라 시스템 중의 하나를 선택하도록 일괄적으로 동작한다
Description
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 다수개의 회로 보드 테스팅을 제어하기 위한 본 발명에 따른 시스템의 개략적인 블럭 다이어그램 .
Claims (6)
- 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트(17)상에 나타난 테스트 값의 스트림에 따라 테스팅용 시스템 중의 하나를 선택하는 단계 포함하는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
- 제1항에 있어서, 상기 선택 단계는, 상기 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트 값의 스트림을 이 테스트 값에 따라 변화하는 제어 신호를 발생시키는 적어도 하나의 바운더리-스캔 버퍼(16A)를 거쳐 시프팅 시키는 단계와, 상기 바온더리-스캔 버퍼로부터의 제어 신호를, 멀티플렉서 및 디멀티플렉서에 의해 상기 버퍼로부터 수신된 제어 신호에 따라 테스팅용 시스템 중의 분리된 하나를 일괄적으로 선택하는 적어도 하나의 멀티플렉서(18A) 및 디멀티플렉서(18A')에 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트 값은 다수개의 버퍼를 거쳐 순차적으로 시프팅되며, 각각의 버퍼(16A-16Z)로부터의 제어 신호는 다수개의 멀티플렉서(18A-18Z) 중의 분리된 하나 및 다수개의 디멀티플렉서(18A'-18Z') 중의 분리된 하나에 인가되는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
- 제2항에 있어서, 상기 각 버퍼로부터의 제어 신호는 제어될 시스템에 관련되는 분리된 신호 세트를 일괄적으로 제어하는 하나의 멀티플렉서 및 디멀티플렉서에 인가되는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
- 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트 값에 따라 다수개의 시스템 중의 분리된 하나를 제어하기 위한 장치로서, 상기 바운더리-스캔 포트 상에 나타난 테스트 값에 따라 응답하여 변화하는 제어 신호를 발생시키기 위한 적어도 하나의 바운더리-스캔 버퍼(16A)와, 상기 바운더리-스캔 버퍼의 제어 신호에 응답하여 상기 바운더리-스캔 버퍼로부터의 제어 신호에 일치하게 시스템 중의 분리된 하나를 선택하기 위한 적어도 하나의 멀티플렉서(18A) 및 디멀티플렉서(18A')를 구비하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
- 제5항에 있어서, 상기 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트상에 나타난 테스트 값이 바운더리-스캔 버퍼의 체인을 거쳐 연속적으로 시프팅되도록 시리얼 체인으로 접속된 다수개의 바운더리-스캔 버퍼 (16A-16Z)와, 다수개의 멀티플렉서(18A-l8Z) 및 다수개의 디멀티플렉서(18A'-l8Z')를 더 구비하며,상기 각각의 바운더리-스캔 버퍼는 그 버퍼내에 시프트된 테스트 값의 부분에 일치하게 분리된 제어 신호를 발생시키며, 상기 각각의 멀티플렉서 및 디멀티플렉서는 상기 바운더리-스캔 버퍼 중의 분리된 하나의 제어 신호에 일치하게 시스템 그룹중의 하나를 선택하도록 일괄적으로 동작하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US08/173,732 US5535222A (en) | 1993-12-23 | 1993-12-23 | Method and apparatus for controlling a plurality of systems via a boundary-scan port during testing |
US173,732 | 1993-12-23 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR950019756A true KR950019756A (ko) | 1995-07-24 |
KR0163967B1 KR0163967B1 (ko) | 1999-03-20 |
Family
ID=22633248
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019940033844A KR0163967B1 (ko) | 1993-12-23 | 1994-12-13 | 테스트 동안 바운더리-스캔 포트에 의해 복수의 시스템을 제어하기 위한 방법 및 장치 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5535222A (ko) |
EP (1) | EP0661551A3 (ko) |
JP (1) | JPH08226954A (ko) |
KR (1) | KR0163967B1 (ko) |
CA (1) | CA2135680C (ko) |
TW (1) | TW251352B (ko) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0826974B1 (en) * | 1996-08-30 | 2005-10-19 | Texas Instruments Incorporated | Device for testing integrated circuits |
KR100502123B1 (ko) * | 1996-08-30 | 2005-11-08 | 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드 | 다중테스트억세스포트환경에서테스트억세스포트의선택적억세싱 |
KR100454989B1 (ko) | 1997-06-02 | 2004-11-06 | 가부시키가이샤 고켄 | 바운더리 스캔소자 및 이를 사용한 통신장치 |
GB9818377D0 (en) * | 1998-08-21 | 1998-10-21 | Sgs Thomson Microelectronics | An integrated circuit with multiple processing cores |
US6988123B2 (en) * | 1998-11-06 | 2006-01-17 | Seiko Epson Corporation | Methods and apparatus for remote execution of an application over the internet |
US6636891B1 (en) * | 1998-11-06 | 2003-10-21 | Seiko Epson Corporation | Methods and apparatus for controlling an input or output device over the internet |
TWI383692B (zh) * | 2008-10-17 | 2013-01-21 | Wistron Corp | 電子裝置之麥克風測試方法與系統 |
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US11143703B2 (en) * | 2018-09-28 | 2021-10-12 | Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. | Method and apparatus for testing a multi-die integrated circuit device |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4701921A (en) * | 1985-10-23 | 1987-10-20 | Texas Instruments Incorporated | Modularized scan path for serially tested logic circuit |
US4947395A (en) * | 1989-02-10 | 1990-08-07 | Ncr Corporation | Bus executed scan testing method and apparatus |
JP2676169B2 (ja) * | 1989-12-27 | 1997-11-12 | 三菱電機株式会社 | スキャンパス回路 |
US5198759A (en) * | 1990-11-27 | 1993-03-30 | Alcatel N.V. | Test apparatus and method for testing digital system |
US5400345A (en) * | 1992-03-06 | 1995-03-21 | Pitney Bowes Inc. | Communications system to boundary-scan logic interface |
US5416783A (en) * | 1993-08-09 | 1995-05-16 | Motorola, Inc. | Method and apparatus for generating pseudorandom numbers or for performing data compression in a data processor |
-
1993
- 1993-12-23 US US08/173,732 patent/US5535222A/en not_active Expired - Lifetime
-
1994
- 1994-11-04 TW TW083110219A patent/TW251352B/zh active
- 1994-11-14 CA CA002135680A patent/CA2135680C/en not_active Expired - Fee Related
- 1994-12-07 EP EP94309107A patent/EP0661551A3/en not_active Withdrawn
- 1994-12-13 KR KR1019940033844A patent/KR0163967B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1994-12-22 JP JP6335318A patent/JPH08226954A/ja active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP0661551A3 (en) | 1999-03-03 |
CA2135680A1 (en) | 1995-06-24 |
KR0163967B1 (ko) | 1999-03-20 |
JPH08226954A (ja) | 1996-09-03 |
CA2135680C (en) | 1999-02-02 |
EP0661551A2 (en) | 1995-07-05 |
TW251352B (ko) | 1995-07-11 |
US5535222A (en) | 1996-07-09 |
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