KR950019756A - 테스팅 동안 바운더리-스캔 포트에 의해 다수개의 시스템을 제어하기 위한 방법 및 장치 - Google Patents

테스팅 동안 바운더리-스캔 포트에 의해 다수개의 시스템을 제어하기 위한 방법 및 장치 Download PDF

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Abstract

다수개의 시스템(120-l2n)은 동작 동안 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트(17)상에 나닥난 테스트값 에 의해 제어된다.
이러한 제어를 달성하기 위해, 상기 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트값은 적어도 하나의 버퍼(16A)를 거쳐 시프팅되며, 이 버퍼는 상기 테스트 값에 따라 출력 라인(S0∼S7)상에 제어 신호를 발생시킨다. 이 버퍼로부터의 제어 신호는 적어도 하나의 멀티플렉서(18A) 및 디멀티플렉서(18A' )를 제어하며, 이 멀티플렉서 및 디멀티플레서는 상기 버퍼의 제어 신호에 따라 시스템 중의 하나를 선택하도록 일괄적으로 동작한다

Description

테스팅 동안 바운더리-스캔 포트에 의해 다수개의 시스템을 제어하기 위한 방법 및 장치
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 다수개의 회로 보드 테스팅을 제어하기 위한 본 발명에 따른 시스템의 개략적인 블럭 다이어그램 .

Claims (6)

  1. 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트(17)상에 나타난 테스트 값의 스트림에 따라 테스팅용 시스템 중의 하나를 선택하는 단계 포함하는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 선택 단계는, 상기 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트 값의 스트림을 이 테스트 값에 따라 변화하는 제어 신호를 발생시키는 적어도 하나의 바운더리-스캔 버퍼(16A)를 거쳐 시프팅 시키는 단계와, 상기 바온더리-스캔 버퍼로부터의 제어 신호를, 멀티플렉서 및 디멀티플렉서에 의해 상기 버퍼로부터 수신된 제어 신호에 따라 테스팅용 시스템 중의 분리된 하나를 일괄적으로 선택하는 적어도 하나의 멀티플렉서(18A) 및 디멀티플렉서(18A')에 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
  3. 제2항에 있어서, 상기 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트 값은 다수개의 버퍼를 거쳐 순차적으로 시프팅되며, 각각의 버퍼(16A-16Z)로부터의 제어 신호는 다수개의 멀티플렉서(18A-18Z) 중의 분리된 하나 및 다수개의 디멀티플렉서(18A'-18Z') 중의 분리된 하나에 인가되는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
  4. 제2항에 있어서, 상기 각 버퍼로부터의 제어 신호는 제어될 시스템에 관련되는 분리된 신호 세트를 일괄적으로 제어하는 하나의 멀티플렉서 및 디멀티플렉서에 인가되는 것을 특징으로 하는 다수개의 시스템을 테스팅하기 위한 제어 방법.
  5. 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트에 나타난 테스트 값에 따라 다수개의 시스템 중의 분리된 하나를 제어하기 위한 장치로서, 상기 바운더리-스캔 포트 상에 나타난 테스트 값에 따라 응답하여 변화하는 제어 신호를 발생시키기 위한 적어도 하나의 바운더리-스캔 버퍼(16A)와, 상기 바운더리-스캔 버퍼의 제어 신호에 응답하여 상기 바운더리-스캔 버퍼로부터의 제어 신호에 일치하게 시스템 중의 분리된 하나를 선택하기 위한 적어도 하나의 멀티플렉서(18A) 및 디멀티플렉서(18A')를 구비하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
  6. 제5항에 있어서, 상기 4개의 라인의 바운더리-스캔 포트상에 나타난 테스트 값이 바운더리-스캔 버퍼의 체인을 거쳐 연속적으로 시프팅되도록 시리얼 체인으로 접속된 다수개의 바운더리-스캔 버퍼 (16A-16Z)와, 다수개의 멀티플렉서(18A-l8Z) 및 다수개의 디멀티플렉서(18A'-l8Z')를 더 구비하며,상기 각각의 바운더리-스캔 버퍼는 그 버퍼내에 시프트된 테스트 값의 부분에 일치하게 분리된 제어 신호를 발생시키며, 상기 각각의 멀티플렉서 및 디멀티플렉서는 상기 바운더리-스캔 버퍼 중의 분리된 하나의 제어 신호에 일치하게 시스템 그룹중의 하나를 선택하도록 일괄적으로 동작하는 것을 특징으로 하는 제어 장치.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019940033844A 1993-12-23 1994-12-13 테스트 동안 바운더리-스캔 포트에 의해 복수의 시스템을 제어하기 위한 방법 및 장치 KR0163967B1 (ko)

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US173,732 1993-12-23

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Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0826974B1 (en) * 1996-08-30 2005-10-19 Texas Instruments Incorporated Device for testing integrated circuits
KR100502123B1 (ko) * 1996-08-30 2005-11-08 텍사스 인스트루먼츠 인코포레이티드 다중테스트억세스포트환경에서테스트억세스포트의선택적억세싱
KR100454989B1 (ko) 1997-06-02 2004-11-06 가부시키가이샤 고켄 바운더리 스캔소자 및 이를 사용한 통신장치
GB9818377D0 (en) * 1998-08-21 1998-10-21 Sgs Thomson Microelectronics An integrated circuit with multiple processing cores
US6988123B2 (en) * 1998-11-06 2006-01-17 Seiko Epson Corporation Methods and apparatus for remote execution of an application over the internet
US6636891B1 (en) * 1998-11-06 2003-10-21 Seiko Epson Corporation Methods and apparatus for controlling an input or output device over the internet
TWI383692B (zh) * 2008-10-17 2013-01-21 Wistron Corp 電子裝置之麥克風測試方法與系統
US8516316B2 (en) * 2009-03-26 2013-08-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Method and apparatus for diagnosing an integrated circuit
US11143703B2 (en) * 2018-09-28 2021-10-12 Marvell Israel (M.I.S.L) Ltd. Method and apparatus for testing a multi-die integrated circuit device

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4701921A (en) * 1985-10-23 1987-10-20 Texas Instruments Incorporated Modularized scan path for serially tested logic circuit
US4947395A (en) * 1989-02-10 1990-08-07 Ncr Corporation Bus executed scan testing method and apparatus
JP2676169B2 (ja) * 1989-12-27 1997-11-12 三菱電機株式会社 スキャンパス回路
US5198759A (en) * 1990-11-27 1993-03-30 Alcatel N.V. Test apparatus and method for testing digital system
US5400345A (en) * 1992-03-06 1995-03-21 Pitney Bowes Inc. Communications system to boundary-scan logic interface
US5416783A (en) * 1993-08-09 1995-05-16 Motorola, Inc. Method and apparatus for generating pseudorandom numbers or for performing data compression in a data processor

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