KR930005786B1 - 프리즘-증대 스폿 사이즈 모니터링을 이용한 포커스-에라 검출 - Google Patents

프리즘-증대 스폿 사이즈 모니터링을 이용한 포커스-에라 검출 Download PDF

Info

Publication number
KR930005786B1
KR930005786B1 KR1019900006690A KR900006690A KR930005786B1 KR 930005786 B1 KR930005786 B1 KR 930005786B1 KR 1019900006690 A KR1019900006690 A KR 1019900006690A KR 900006690 A KR900006690 A KR 900006690A KR 930005786 B1 KR930005786 B1 KR 930005786B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
light
focus
factor
prism
signal
Prior art date
Application number
KR1019900006690A
Other languages
English (en)
Other versions
KR900018940A (ko
Inventor
죠지 듀위 앤쏘니
렝쓰 윌프리드
루가 다니엘
Original Assignee
인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션
하워드 지. 피거로아
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션, 하워드 지. 피거로아 filed Critical 인터내셔널 비지네스 머신즈 코포레이션
Publication of KR900018940A publication Critical patent/KR900018940A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR930005786B1 publication Critical patent/KR930005786B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
    • G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
    • G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
    • G11B7/0917—Focus-error methods other than those covered by G11B7/0909 - G11B7/0916
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/13—Optical detectors therefor
    • G11B7/133—Shape of individual detector elements
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1359—Single prisms
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/12—Heads, e.g. forming of the optical beam spot or modulation of the optical beam
    • G11B7/135—Means for guiding the beam from the source to the record carrier or from the record carrier to the detector
    • G11B7/1381—Non-lens elements for altering the properties of the beam, e.g. knife edges, slits, filters or stops

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Optical Recording Or Reproduction (AREA)
  • Optical Head (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

내용 없음.

Description

프리즘-증대 스폿 사이즈 모니터링을 이용한 포커스-에라 검출
제1도는 본 발명의 원리를 예시하는 개략 다이어그램.
제2a 및 b도는 포커스 에라 신호를 발생하며, 부가적으로 제2b도의 트랙 에라 신호를 발생하는 분할된 광검출기에 대한 두개의 양호한 구성을 도시한 도면.
제3도는 판독-전용, 1회 기록 또는 위상 변화 광학 디스크에 이용하기 위한 본 발명의 한 실시예에 따른 광학 헤드를 도시한 도면.
제4도는 스윙-암 작동기를 이용하는 광학 디스크 드라이브에 이용하기 위한 실시예를 도시한 도면.
제5도는 자기-광학 디스크에 이용하기 위한 실시예를 도시한 도면.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
10 : 다이오드 레이저 13 : 빔 스플리터
15 : 렌즈 19 : 광검출기
본 발명은 광학 기록 매체에 데이타를 기록 및 판독하도록 되어 있는 광학 헤드에서의 포커스 에라를 검출하는 방법 및 수단에 관한 것으로, 특히 표면에 광 빔을 포커스 형태로 계속 제공하는 작동을 하는 서보시스템으로의 입력으로서 이용되는 포커스 에라 신호를 발생하는 개량된 수단에 관한 것이다.
광 저장을 위해 여기서 이용되는 포커스-에라 검출 방법은 나이프엣지, 난시용 렌즈 또는 임계각 프리즘을 이용한다. 이들 기술은 이들 광학소자 및 분리 즉 분할 광검출기의 매우 정밀한 배치를 요한다.
공개된 유럽 특허출원 EP 0164687에는 고아디스크에서 반사된 레이저 빔이 대물렌즈를 통해 인자 M만큼 1차원에서 빔 폭을 줄이는 프리즘으로 향하게 하고 타원형 빔을 나이프-엣지-형 포커스 에라 검출 시스템으로 전달하게 하는 검출기술이 기술되어 있다. 이러한 응용은 다음의 방정식(25)을 보면 인자 M만큼 포커스 에라 신호를 증가시키는 것을 요함을 알 수 있다.
1985년 10월 15-17일자 워싱턴 디.씨.에서의 광데이타 저장에 관한 회의에 대한 다이제스트에는 야마모또 등에 의한 제목이 "광학 프리그루브(pregroove) 디멘죤의 설계 고찰"인 논문 THCC 2-1이 포함되어 있다. 이 논문에는 포커스 에라에 관련된 먼 필드 스폿 사이즈 변화를 검출하기 위한 6-소자 광검출기가 언급되어 있따.
비교적 작은 수의 부품으로 상당히 증가된 포커스 에라 신호를 제공하고 1디멘젼으로 분할된 광검출기의 정확한 배열을 요하지 않는 큰 빔 사이즈를 제공하는 고감도 포커스-에라 검출 기술이 필요하다.
이러한 목적을 위하여, 광 기록 매체로부터 반사된 리턴 광 빔의 광 통로에 프리즘을 배치하므로써 광학헤드에서 포커스 에라를 검출하는 본 발명에 따른 장치 및 방법이 탄생되었다. 프리즘은 인자 M만큼 1디멘젼으로의 빔을 감소시키는 동시에 빔의 포커스-에라에 관련된 발산/수렴 각을 증가시키며, 그러므로써 포커스 에라 신호가 인자 M2만큼 증가한다. 포커스 에라는 아마모또 등에 의한 논문에 도시되어 있는 것과 같은 내부 및 외부 광감지 영역을 갖고 있는 분할된 광검출기에 의해 검출된다. 이 광검출기는 내부 및 외부 영역에서의 광 세기의 차로 포커스 에라를 가리키는 전기 신호를 발생한다. 광검출기는 트랙 에라 신호를 제공하도록 분할된다.
본 발명의 원리는 제1도에 잘 예시되어 있다. 다이오드 레이저(10)의 출력은 시준된 빔(12)을 제공하기 위해 원형 제조기/시준기 시스템(11)을 통해 통과한다. 빔(12)은 스플리터(13)로부터 반사되어 빔(14)이 된다. 빔(14)은 렌즈(15)에 의해 광 기록 매체의 표면(16)에 포커스된다. 표면(16)에 렌즈(15)가 포커스될때, 빔 스플리터(13)로부터 렌즈(15)로 시준된 빔(14)은 그자체로 재반사되어 리턴 빔(14)으로서 빔 스플리터(13)에 의해 프리즘(17)에 전송된다. 프리즘(17)은 빔(14)을 굴절시키고, 굴절된 빔(18)은 광검출기(19)로 향하게 된다. 빔(18)은 D와 같은 메이저 축과 마이너 축 A를 갖고 있는 타원형의 세기 패턴을 갖고 있다. 프리즘(17)은 빔(14)의 폭을 인자 M(이는 D/A로 정의됨)로 감소시켜, 굴절된 빔(18)의 폭이되게 한다.
표면(16)에 관한 데이타를 δz만큼의 포커스에서 찾을 수 있다고 가정하자. 이러한 가정하에, 표면(16)으로부터 반사된 빔(14')는 렌즈(15)를 통해 통과한후 δ만큼 빗나간다.
Figure kpo00001
이 식에서 f는 렌즈(15)의 촛점 길이이다.
δz가 네가티브이면, δθ는 네가티브가 되고 빔(14')는 수렴한다. 다음의 분석은 포지티브인 δz의 경우를 고려하겠지만, δz가 작을때는 동일한 분석이 발산 또는 수렴 빔(14')에도 적용된다.
프리즘(17)으로부터 나오는 발사된 빔(18')은 발산각 Mδθ을 갖고 있고, 검출기(19)상의 상기 빔의 폭 A'은 다음과 같이 주어진다 :
Figure kpo00002
여기서 L은 프리즘(17)에서 광검출기(19)까지의 거리이다.
방정식(1)을 이용하면 다음 식을 얻는다 :
Figure kpo00003
또는
Figure kpo00004
프리즘(17)을 표면(16)으로부터의 리턴 빔(14')의 경로에 삽입하므로써 포커스 에라 δz를 가리키는 빔 폭 A의 변화가 인자 M2에 의해 확대된다. M은 프리즘(17)의 극점 각 및 재료의 굴절율에 의해 결정된다. M은 임의로 크게 만들 수 있고, 시스템의 배열에 관한 허용차는 M이 증가함에 따라 점차 적어진다. 싱글 프리즘(17)에 대한 실행상의 최대값은 대략 M=5이지만, 몇개의 프리즘을 직렬로 하여 사용할 수 있고, 그러한 결과 M은 각각의 프리즘에 대한 M의 값을 곱한 것이 된다.
제2a도에 예시되어 있듯이 광검출기(24)는 3개의 광감지 줄무늬 영역(1,2,3)을 각각 포함하고 있다. I1, I2, I3를 이들 광감지 영역(1,2,3) 각각에 투사된 광에 의해 발생된 전기 신호라 하자. 제2a도에 도시된 구성에 대하여, S1=I1+I2이고 S2=I2라고 하자. 그리고 KA는 빔(14)이 포커스 되어 있을때 S1=S2가 되게 K
Figure kpo00005
( 0.25)가 선택되는 중앙 광감지 영역(2)의 폭이라고 하자. S1' 및 S2'가 포커스 에라 δz에 대응하는 신호라면
Figure kpo00006
임을 알 수 있다. A' A이고 K=0.25일 때
FES
Figure kpo00007
0.67(A'/A-1)
Figure kpo00008
1.3LM2δZ/f2
그래서, 예로, M=5, 1=50mm 및 f=4mm이면 작은 포커스 에라 δz=0.5㎛은 포커스 에라 신호 FES=0.05를 제공한다. 이렇게 큰 에라 신호는 높은 신호대 잡음 비를 갖고 있는 매우 작은 포커스 에라의 검출도 가능하게 한다. 신호 I1및 I3가 합해진 다음 20에서 증폭되어 출력되어 출력신호 S1이 제공되는 한편 신호 I2는 21에서 증폭되어 출력신호 S2가 제공된다. 신호 S1및 S2는 차동 증폭기(22)와 합산 증폭기(26)에 제공되고 이들 출력은 분리 회로(28)에 제공된다. 분리 회로(28)의 출력은 포커스 에라 신호 FES이다. 포커스에라 신호는 포커스 서버 제어 시스템(23)에 제공된다(제1도). 예시되어 있듯이, 시스템(23)은 코일(24)의 전류를 조정하여 표면(16)에 관해서 렌즈(15)의 위치를 조정하기 위한 종래의 수단(도시되어 있지 않음)을 포함하고 있다.
제2b도에는 양호한 광검출기 구성이 도시되어 있다. 광검출기(25)는 전기신호 I1-I6를 각각 발생하기 위해 6개의 광감지 영역(1-6)을 포함한다. 포커스 에라 신호는 다음과 같이 주어진다 :
Figure kpo00009
그리고 트랙 에라 신호는 다음과 같이 정해진다 :
Figure kpo00010
여기서
S1=I1+I3+I4+I6
S2=I1+I5
S3=I1+I2+I3
S4=I4+I5+I6
트랙 에라를 조정하는데 트랙 에라 신호를 이용하는 것은 종래의 방법으로서 이는 본 발명의 일부를 형성하지 않는다. 제2b도는 단지 포커스 에라 검출및 교정하기 위한 출원인의 방법 및 수단이 포커스 에라와 트랙 에라 신호를 발생하는 25와 같은 광검출기와 겸용하여 이용될 수 있음을 보여주는 것이다.
제3도에 예시되어 있듯이, 이러한 실시예에 따른 본 발명은 단지 판독, 1회 기록 또는 위상-변화 광 디스크와 함께 사용하기에 특히 적합한 광 헤드를 포함하고 있다. 레이저(30)는 렌즈(32)에 의해 시준되어 프리즘(46)의 표면(34)에서 굴절되어 원형으로 되는 빔을 방출한다. 표면(34)은 편광 빔 스플리터(PBS) 코팅을 갖고 있다. 빔(35)는 쿼터-파동 플레이트(36)를 통해서 빔 벤더(38)와 렌즈(40)로 향하고, 이 렌즈는 상기 빔은 광 디스크(42)상의 선택가능한 트랙에 포커스한다. 디스크(42)로부터 반사된 빔(35')은 파동 플레이트(36)를 통하여 리턴하고 프리즘(46)의 표면(44)을 향해 표면(34)으로부터 빔(37)으로서 반사된다. 표면(44)에서의 빔(37)의 굴절은 인자 M에 의해 상기 빔의 폭이 D에서 A로 감소되고, 이에 따른 타원형 빔(47)은 제2a 또는 b도에 도시되어 있듯이 분할되어 있는 광검출기(48)로 향한다.
제3도에 도시되어 있듯이, 디스크(42)의 트랙에 관한 데이타가 촛점이 맞는다는 것이면, 리턴 빔(35')은 빔(35)과 일치할 것이며 광검출기(48)에서의 빔 폭은 A와 같은 것이다. 그러나, 디스크(42)에 관한 데이타가 촛점이 맞지 않는 것이라면, 리턴 빔(35')은 빔(35)와 빗나가게 되고 제1도에 예시되어 있듯이 광검출기(48)로의 빔의 폭이 A보다 크게 되게 한다. 제2도에 예시되어 있듯이 광검출기(48)는 FES를 발생시키고, 디스크(42)상의 트랙에 관한 렌즈(40)의 위치는 상기 FES에 응답하여 적당한 서보 수단(도시되어 있지 않음)에 의해 촛점이 맞게 조정된다.
이러한 실시예에서는 부품수를 줄이는 것이 필요하다.
제4a 및 b도는 판독 전용, 1회 기록 또는 위상-변환 디스크에 이용하기에 적합한 광학 헤드의 다른 실시예를 도시화고 있다. 이 실시예에 따르면, 헤드의 전반적인 방향은 디스크(50)상의 트랙에 평행하다. 그러므로 이러한 헤드는 스윙-암 작동기를 이용하는 디스크 드라이브에 가장 쉽게 적용시킬 수 있다. 레이저(52)(제4a도)는 렌즈(54)에 의해 시준되어 편향 또는 반사없이 PBS(56)를 통과하는 빔을 방출한다. PBS(56)로부터의 빔(58)은 단면에서 한 디멘젼에서는 폭이 D이고 그에 수직인 면에서는 폭 A를 갖고 있는 타원형이다. 이 빔(58)은 90-파형 플레이트(90)를 통해 통과하여 프리즘 어셀블리(62)에 도달한다. 프리즘 어셀블리(62)의 제1면(64)에서, 빔(58)은 원형으로 되고, 다른 표면(66)으로부터 디스크(50)상으로의 빔(72)을 포커스하는 대물렌즈(70)로의 반사면(68)로 그리고 이 반사면(68)을 벗어나 전체 내부 반사율(TIR)에 의해 반사된다. 빔(72)은 반사된 빔(58')과 같이 디스크 트랙으로부터 반사된다. 다시 단면에서 타원형인 빔(58')은 PBS(56)의 표면(74)에 의해 반사되어 제2a 또는 b도에 도시되어 있듯이 분할되어 있는 광검출기(76)로 향한다.
제4도에 도시되어 있듯이, 디스크(50)이 트랙에 관한 데이타가 촛점이 맞는 것을 가리킨다면, 리턴 빔(58')은 빔(58)과 일치하고, 광검출기(76)에서의 빔 폭은 A와 같게될 것이다. 그러나, 디스크(50)에 관한 데이타가 촛점이 맞지 않는 것을 가리킨다면, 리턴 빔(58')은 빔(58')과 일치하지 않으며 제1도에 예시되어 있듯이 광 검출기(76)로의 빔의 폭이 A보다 크게 되게 한다. 제2도를 설명했듯이, 광검출기(48)은 FES를 발생하고, 디스크(50) 트랙에 관한 렌즈(70)의 위치는 상기 FES에 응답하여 서보 수단(도시되어 있지 않음)에 의해 조정되어 촛점이 맞게된다.
이 실시예는 프리즘(66)의 확대/압축비 M이 레이저(52)의 방출 패턴에 부합되어야만 하는 것을 요한다.
제5도는 자기-광학 디스크에 이용되는 광학 헤드의 다른 실시예를 도시하는 있다. 레이저(80)는 렌즈(82)에 의해 시준된 다음 프리즘(86)의 표면(84)에서 반사에 의해 원형으로 되어 빔 벤더(88)와 대물렌즈(90)으로 향하는 빔을 방출한다. 표면(84)은 부분적 편광 빔 스플리터 표면인데, 이는 디스크(94)의 선택된 트랙으로부터 반사될때 빔(92')의 P-편광된 성분의 일부와 상기 빔의 S-편광된 성분 거의 모두를 빔(100)으로서 프리즘(96)의 표면(98)으로 보낸다. 표면(98)은 또한 부분적 편광 빔 스플리터 표면이다. 표면(98)은 빔(100)의 P-편광된 성분의 일부를 빔(101)로서 제2a 또는 b에 도시되어 있듯이 분할되어 있는 서보 광검출기(102)로 굴절시킨다. 이러한 굴절은 한 디멘젼에서 인자 M으로써 빔(100)을 D에서 AFH 감소시킨다. 표면(98)은 또한 빔의 S-편광된 성분 모두는 물론이고 빔(100)의 P-편광된 성분 일부를 빔(103)으로서 월라스턴(Wollaston) 프리즘(104)으로 보내며, 그 결과 상기 빔은 렌즈(106)와 데이타 검출기(108)에 수렴한다. 자기 광학 디스크에 관한 데이타를 검출할 때 월라스턴 프리즘의 기능은 공지되어 있으므로 본 발명을 형성하지 않는다.
제5도에 도시되어 있듯이, 디스크(94) 트랙에 관한 데이타가 촛점이 맞는 것을 가리킨다면, 리턴 빔(92')은 프리즘 빔(92)과 일치할 것이고 광검출기(102)에서의 빔 폭은 A와 같게 될 것이다. 그러나, 디스크(94)에 관한 데이타가 촛점이 맞지 않는 것을 가리킨다면, 리턴 빔(92')은 빔(92)과 일치하지 않으며, 제1도에 도시되어 있듯이 광검출기(102)로의 빔의 폭이 A보다 크게 만든다. 제2도를 연관하여 설명되었듯이, 광검출기(48)는 FES를 발생하고, 디스크(94) 트랙에 관한 렌즈(90)의 위치는 이 FES에 응답하여 적당한 서보 수단(도시되어 있지 않음)에 의해 조정되어 촛점이 맞게 된다.
제3-5도에서는 종래의 기술에 의해 알려진 것과 같지 않게 포커스 에라 신호가 인자 M2에 의해 바람직하게 증가된다는 것을 알 수 있다.
본 발명은 도면과 실시예를 들어 설명하였으므로, 본 기술분야에서 숙련된 사람이라면 본 발명의 사상 및 영역을 벗어나지 않고도 변형을 할 수 있을 것이나, 이러한 변형은 본 발명의 권리범위에 속한다고 할 수 있을 것이다.

Claims (14)

  1. 포커스 에라에 응답하여 전기 신호를 발생하는 광검출기 ; 및 한 디멘젼에서 인자 M으로써 반사되는 빔을 감소시키는 동시에 상기 디멘젼에서 인자 M으로써 상기 빔의 포커스 에라에 관련된 발산/수렴 각을 증가시켜 포커스 에라 신호가 인자 M2에 의해 증가되게 하기 위한 것으로서 상기 매체로부터 반사된 리턴 광 빔의 광 통로에 배치되어 있는 프리즘을 포함하는 광학 기록 매체에 관한 데이타를 판독 및/또는 기록하게 되어 있는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 광검출기는 내부 및 외부 광감지 영역을 갖고 있으며 상기 내부 및 외부 영역에서의 광 세기 차이로 전기 신호를 발생하는 것.
  3. 제2항에 있어서, 한 내부 영역은 내부 영역에서 검출된 광 세기가 두 개의 외부 영역에서 검출된 광세기의 합과 같을 때 발생된 포커스 에라 신호가 0이 되게 두 개의 외부 광감지 영역 사이에서 한가운데 위치해 있는 것.
  4. 제2항에 있어서, 상기 광검출기는 두개의 외부 광검출기 영역사이에 줄무늬 형태의 내부 광감지 영역을 갖고 있으며, 상기 영역들은 세개의 상부 및 3개 하부 광감지 영역이 만들어져 이로부터 트랙 에라를 가리키는 다른 전기신호가 상기 상 및 하부 영역의 광 세기 차이로 인해 발생되게 상기 줄무늬에 수직으로 분리되어 있는 것.
  5. 제1항에 있어서, 시준된 광의 최초 빔을 제공하기 위한 수단 ; 및 포커싱 렌즈가 매체에 포커스될때 리턴 빔이 최초 빔과 일치되게 상기 최초 빔을 매체로 보내는 포커싱 렌즈를 포함하는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출 장치.
  6. 제5항에 있어서, 서보 수단을 포함하고 있으며 포커스 에라를 가리키는 최초 빔으로 부터의 리턴 빔의 발산 또는 수렴에 기인한 포커스 에라 신호에 응답하여 포커스 에라를 제거하기 위해 필요에 따라 렌즈와 매체의 상대적 위치를 조정하기 위한 수단을 포함하는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출 장치.
  7. 데이타 저장을 위한 복수의 트랙을 갖고 있는 광 디스크에 이용되는 광학 헤드에서, 이 광학 헤드는 : 시준된 광의 빔을 제공하는 수단 ; 빔을 굴절시켜 원형으로 만들기 위해 편광 빔 스플리터를 구비하는 프리즘 수단 ; 및 원형으로된 빔을 선택된 트랙에 포커싱하기 위하여 90-파형 플레이트, 빔 벤더 및 렌즈를 구비하는 수단을 포함하며, 상기 프리즘은 한 디멘젼에서 빔을 인자 M으로 감소시키는 동시에 이 디멘젼에서 상기 빔의 포커스 에라에 관련된 발산/수렴 각을 인자 M으로써 증가시켜 포크스 에라를 가리키는 전기 신호가 인자 M2에 의해 증대되게 하기 위하여 디스크로부터 반사되는 리턴 광 빔의 광학 통로에 위치해 있는 광학 헤드.
  8. 데이타를 저장하는 복수의 트랙을 갖고 있는 광 디스크에 이용하는 광학 헤드에서, 시준된 광을 제공하는 수단 ; 90-파형 플레이트 ; 90-파형 플레이트를 통하여 전송된 광을 원형으로 만드는 한 표면, 원형으로 된 광이 전체 고유 반사율로 반사되는 제2표면, 및 반사성 제3표면을 갖고 있는 프리즘 수단을 포함하는 수단 ; 상기 제3표면으로부터 반사된 빔을 디스크에 포커싱하는 렌즈 수단 ; 상기 빔의 포커스 에라에 응답하여 신호를 발생하기 위한 광검출기 ; 한 디멘젼에서는 인자 M으로 빔을 감소시키는 동시에 상기 디멘젼에서 상기 빔의 포커스 에라에 관련된 발산/수렴 각을 인자 M으로 중가시켜 상기 신호가 인자 M2에 의해 증대되도록 하기 위하여 디스크로부터 반사되는 리턴 광 빔의 광학 통로에 배치되는 상기 프리즘 수단 ; 및 상기 프리즘 수단에 의해 방출된 상기 리턴 빔을 광검출기로 보내기 위한 편광 빔 스플리터를 포함하는 광학 헤드.
  9. 광학 기록 매체에 데이타를 기록 및/또는 판독하기 위해 광 빔이 진행하는 광학 헤드에서 포커스 에라를 검출하는 방법에서, 포커스 에라를 가리키는 전기 신호가 인자 M2에 의해 증대되게 한 디멘젼에서는 빔을 인자 M으로 감소시키는 동시에 상기 빔의 포커스 에라에 관련된 발산/수렴각은 상기 디멘젼에서 인자 M으로 증가시키기 위해 상기 매체로부터 반사된 리턴 광 빔의 광학 통로에 프리즘을 배치하는 단계를 포함하는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출 방법.
  10. 제9항에 있어서, 내부 및 외부 영역에서의 광 세기 차이로 상기 신호를 발생하기 위해 내부 및 외부 광 감지 영역을 갖고 있는 광검출기를 제공하는 단계를 더 포함하는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출 방법.
  11. 광학 기록 매체에 데이타를 기록 및/또는 판독 하도록 되어 있는 광학 헤드에서의 에라를 검출하기 위한 방법에서, 인자 M으로 한 디멘젼에서의 빔을 감소시키는 동시에 상기 디멘젼에서 인자 M으로 상기 빔의 포커스 에라에 관련된 발산/수렴 각을 증가시켜 포커스 에라 신호를 인자 M2로 증대시키기 위해 상기 매체로부터 반사된 리턴 광 빔의 광 통로에 프리즘을 배치하는 단계 ; 및 두 개의 외부 광 감지 영역사이에 집중된 줄무늬의 형태로 내부 광감지 영역을 갖고 있는 광검출기로 상기 신호를 발생하는 단계를 포함하며, 상기 신호의 크기는 상기 내부 및 외부 영역에서의 광 세기에서의 차에 비례하는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출 방법.
  12. 제11항에 있어서, 상기 영역들은 서로 전기적으로 분리된 3개의 상부 및 3개의 하부 광감지 영역을 만들기 위해 줄무의에 수직방향으로 분리되어 있으며, 트랙 에라를 가리키는 다른 전기 신호는 상기 상부 및 하부 영역의 광 세기의 차이로 인해 발생되는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출 방법.
  13. 제11항에 있어서, 상기 내부에서 검출된 광 세기를 상기 외부 영역에서 검출된 광 세기의 합과 같게 유지시키기 위해 필요할 때 상기 신호에 응답하여 광 통로내의 포커싱 렌즈의 위치를 조정하여 상기 포커스 에라를 제거하는 단계를 더 포함하는 광학 헤드에서의 포커스 에라 검출 방법.
  14. 데이타 저장을 위한 복수의 트랙을 갖고 있는 광학 디스크와 함께 이용되는 광학 헤드에서, 시준된 광의 빔을 제공하는 수단 ; 굴절시켜 빔을 원형으로 만드는 제1프리즘 ; 디스크상의 선택된 트랙으로 향하기 위해 원형으로된 빔이 통과하는 빔 벤더와 렌즈 수단을 구비하는 수단 ; 제2프리즘 수단 ; 디스크로부터 반사된 리턴 빔의 P-편광된 성분의 일부와 상기 리턴 빔의 S-편광된 성분 거의 모두를 상기 제2프리즘 수단으로 향하게 하는 부분 편광 빔 스플리터 표면을 갖고 있는 상기 제1프리즘 수단 ; 상기 리턴 빔의 포커스 에라에 응답하여 신호를 발생하는 광 검출기 ; 상기 최종 언급된 리턴 빔의 일부가 한 디멘젼에서 인자 M으로 감소되게 하는 동시에 상기 디멘젼에서 상기 빔의 포커스 에라와 관련된 발산/수렴 각을 인자 M으로 증가시켜 상기 신호가 M2에 의해 증가되게 하기 위하여 상기 최종 언급된 빔의 P-편광된 성분의 일부를 상기 광검출기로 굴절시키는 부분-편광 빔 스플리터 표면을 갖고 있는 상기 제2프리즘 수단을 포함하는 광학 헤드.
KR1019900006690A 1989-05-26 1990-05-11 프리즘-증대 스폿 사이즈 모니터링을 이용한 포커스-에라 검출 KR930005786B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US357,566 1982-03-12
US35756689A 1989-05-26 1989-05-26
US357566 1989-05-26

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR900018940A KR900018940A (ko) 1990-12-22
KR930005786B1 true KR930005786B1 (ko) 1993-06-24

Family

ID=23406136

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019900006690A KR930005786B1 (ko) 1989-05-26 1990-05-11 프리즘-증대 스폿 사이즈 모니터링을 이용한 포커스-에라 검출

Country Status (9)

Country Link
US (1) US5084783A (ko)
EP (1) EP0399977B1 (ko)
JP (1) JPH0317835A (ko)
KR (1) KR930005786B1 (ko)
CN (1) CN1027402C (ko)
AU (1) AU623778B2 (ko)
CA (1) CA2012401C (ko)
DE (1) DE69016831T2 (ko)
HK (1) HK90195A (ko)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5237457A (en) * 1990-10-04 1993-08-17 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Apparatus for adjusting an optical axis including a laser beam source and a beam shaping prism
JP3157873B2 (ja) * 1991-11-15 2001-04-16 パイオニア株式会社 光ピックアップ装置における焦点制御装置
US5448407A (en) * 1993-09-03 1995-09-05 Industrial Technology Research Institute Equivalent wollaston prism for an optical pick-up head and an optical pick-up head using of the same
JPH07326065A (ja) * 1994-05-27 1995-12-12 Hitachi Ltd 光情報処理装置
US6542304B2 (en) * 1999-05-17 2003-04-01 Toolz, Ltd. Laser beam device with apertured reflective element
JP4843844B2 (ja) * 1999-12-27 2011-12-21 ソニー株式会社 光ヘッド、受発光素子、及び光記録媒体記録再生装置
KR100750093B1 (ko) 2000-10-12 2007-08-21 삼성전자주식회사 광픽업용 디포커스 에러신호 검출장치 및 방법 및 이를채용한 시크 방향 검출장치 및 방법
FR2847187B1 (fr) * 2002-11-18 2005-09-23 Le Controle Ind Systeme et procede pour deplacer un point de focalisation d'un rayonnement laser de puissance

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE24972E (en) * 1961-04-25 E luboshez
NL7907216A (nl) * 1979-09-28 1981-03-31 Philips Nv Optisch fokusfout-detektiestelsel.
NL8104588A (nl) * 1981-10-08 1983-05-02 Philips Nv Bundelscheidingsprisma, werkwijze voor het vervaardigen van dit prisma en van dit prisma voorziene optische lees- en/of schrijfeenheid.
EP0099123B1 (en) * 1982-07-15 1990-11-28 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical recording and reproducing head
FR2546310B1 (fr) * 1983-05-20 1986-04-25 Thomson Csf Monture reglable pour miroir pivotant et tete optique d'enregistrement-lecture utilisant une telle monture
JPS60131648A (ja) * 1983-12-19 1985-07-13 Toshiba Corp 光学ヘツド
JPH069090B2 (ja) * 1984-06-12 1994-02-02 株式会社東芝 光学ヘツド
JPS6118918A (ja) * 1984-07-05 1986-01-27 Ricoh Co Ltd ビ−ム整形光学系
JPS61177645A (ja) * 1985-01-31 1986-08-09 Fujitsu Ltd 焦点誤差制御装置
JP2596545B2 (ja) * 1987-01-07 1997-04-02 パイオニア株式会社 焦点誤差検出装置及びこれに用いられる光検出器の受光領域幅の選定方法
JPH01105338A (ja) * 1987-07-14 1989-04-21 Mitsubishi Electric Corp 光記録再生装置
US4793696A (en) * 1987-11-13 1988-12-27 Hoechst Celanese Corporation Method and apparatus for rapid focus control in an optical data storage device
JPH01260636A (ja) * 1988-04-12 1989-10-17 Konica Corp 焦点検出方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP0399977A3 (en) 1991-01-23
US5084783A (en) 1992-01-28
HK90195A (en) 1995-06-16
AU623778B2 (en) 1992-05-21
AU5578490A (en) 1990-11-29
EP0399977B1 (en) 1995-02-15
CA2012401C (en) 1994-05-10
DE69016831D1 (de) 1995-03-23
CN1047584A (zh) 1990-12-05
JPH0317835A (ja) 1991-01-25
CN1027402C (zh) 1995-01-11
KR900018940A (ko) 1990-12-22
DE69016831T2 (de) 1995-08-10
EP0399977A2 (en) 1990-11-28
CA2012401A1 (en) 1990-11-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5627814A (en) Optical pickup system for reading information recorded on an optical disk having multiple recording surfaces
US5809000A (en) Optical pickup system for reading optical disks of different thicknesses
KR930005786B1 (ko) 프리즘-증대 스폿 사이즈 모니터링을 이용한 포커스-에라 검출
US6594221B2 (en) Optical pickup device
US5995473A (en) Optical pickup system capable of selectively reading a multiple number of optical disks
US5883874A (en) Optical pickup system for selectively reading a multiple number of optical disks
JPH0478029A (ja) 光学的情報記録再生装置
KR100689722B1 (ko) 내부에 이동 가능형 소자의 위치를 검출하는 검출계를포함한 광학 주사장치
JPS62200541A (ja) 情報記録再生装置
JPH0817060A (ja) フォーカスエラー検出装置
JPS60234247A (ja) 光ヘツド
KR0127519B1 (ko) 광픽업장치
JPS62257641A (ja) 光学ヘツド
US6396638B1 (en) Optical pickup device capable of stable tracking
JP2699986B2 (ja) 光ヘッドの焦点誤差を検出するための装置
JPH0264917A (ja) 光磁気記録装置用光学ヘッド構造
JP2886230B2 (ja) 光ヘッド及びこれを用いた焦点誤差検出装置
JPH0778894B2 (ja) 光ピツクアツプ装置
JPH0242644A (ja) 光学ヘッド構造
JPH0622062B2 (ja) 光ヘツド装置
JPH05242496A (ja) 光ピックアップ
JPS61120352A (ja) 焦点誤差検出装置
JPH056562A (ja) チルト検出装置
JPH05266502A (ja) 光ディスク装置の光ヘッド
JPH0378129A (ja) 光信号検出装置

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20010503

Year of fee payment: 9

LAPS Lapse due to unpaid annual fee