KR910006780Y1 - Lcc타입 부품의 핀 테스트소켓 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

LCC타입 부품의 핀 테스트소켓

제1도는 종래의 LCC타입 부품의 정착상태를 나타내는 단면도.

제2도는 본 고안에 관련된 핀 테스트소켓의 외관 사시도.

제3도는 본 고안 핀 테스트소켓의 장착상태를 나타내는 단면도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

7 : 소켓몸체 7a : 윗판

7b : 아래판 8 : 수납홈

9 : 접지단자 10 : 테스트포인트

본 고안은 LCC(leadless chip carrier)타입 부품의 핀 테스트소켓에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 회로기판 상에서 LCC부품을 각 핀별로 테스트 할 수 있게 구성한 LCC타입 부품의 핀 테스트소켓에 관한 것이다.

LCC타입의 고밀도 집적회로(VLSI)를 기판 상에 장착시킬 경우, 종래에는 상기 VLSI의 단자를 기판의 접촉점에 직접 납땜연결하는 방식으로 해 왔다.

이와 같이 기판 상에 LCC를 직접 납땜하는 방식에 있어서는 납땜과정에서 고온의 열이 단자를 통해 전달되기 때문에 상기 LCC가 열 손상되어 완성된 기판의 불량율을 높이는 한 원인으로 되고 있으며, 또한 상기 납땜 접속방식은 불량기판의 재생공정에서 일일히 납땜연결을 녹여서 분리시켜야 하는 번거로움도 겪어야 한다.

이러한 문제점을 해소하기 위하여 최근에는 LCC를 착탈할 수 있는 소켓을 기판 상의 소정위치에 장착한 다음, LCC를 상기 소켓에 삽입 배치하는 구조의 LCC장착용 소켓이 실용화되고 있다.

제 1 도는 상기 LCC장착용 소켓의 일예를 나타내는 단면도로서, 기판(1) 상에 소켓(2)이 장착된 상태를 보여주고 있다.

상기 기판(1)과 소켓(2)은 상호 접촉되는 면을 관통하여 설치되는 리이드(점선으로 도시)에 의해 전기적으로 연결되어 있다.

상기 소켓(2)은 합성수지로 만들어지며 그 중앙부는 장착홈(3)이 오목하게 형성되어 있고, 이 장착홈(3)의 내측 대향면에 다수의 접점(4)이 배열된 구조로 되어 있어서, 상기 장착홈(3)의 내측 대향면에 다수의 접점(4)이 배열된 구조로 되어 있어서, 상기 장착홈(3)으로 삽입되는 LCC(5)의 핀(6)과 전기적인 접촉이 이루어지게 되어 있다.

이와 같이 구성되는 LCC장착용 소켓(2)은 여기에 LCC(5)를 납땜연결하지 않고 삽입에 의한 접점(4)과 핀(6) 사이의 접촉으로 전기적인 연결이 이루어지게 한 것이므로 종래의 납땜연결방식과는 달리 LCC가 열손상되는 문제를 해결하는 이점은 있으나, 상기 접점(4)과 핀(6)의 전기적 연결이 외부로 드러나지 않는 소켓(2)의 장착홈(3) 내측에서 행해지기 때문에 LCC(5)의 각 단자별 전기적 연결상태나 전기적 제특성을 검사하는 과정에서 기판(1)을 뒤집어 그 밑면으로 연장된 결선을 이용해야 하는 번거로움이 있다.

본 고안의 목적은 상술한 LCC장착용 소켓의 제결점을 개량하기 위하여 기판상에서 직접 LCC의 전기적 제특성과 단자간의 전기적 연결을 점검할 수 있게 한 LCC타입 부품의 핀 테스트소켓을 제공함에 있다.

상기 목적을 구현하고자, 본 고안은 내측에 수납홈을 보유하는 넓은 직경의 윗판과, 이로 부터 일체로 형성되어 통상의 LCC장착용 소켓의 장착홈으로 삽입되는 아래판을 구비한 소켓몸체로 이루어지고, 상기 수납홈의 내주면과 아래판의 외주면에 다수의 접점단자가 등간격으로 수직 배열되어 외부로 노출되어 있으며, 상기 접점단자의 상단은 윗판의 내측에 매립되어서 그 상면을 통해 연장 노출되어 테스트포인트를 형성하고 있음을 특징으로 하는 핀 테스트소켓을 제안한다.

이하 본 고안의 바람직한 실시예를 첨부도면 제 2 도 및 제 3 도에 따라 상세히 설명한다.

제2도는 본 고안의 핀 테스트소켓에 관련된 외관 사시도이고, 제3도는 이 핀 테스트소켓이 통상의 LCC장착용 소켓에 삽입 연결된 구조를 나타내는 단면도이다.

소켓몸체(7)은 보다 넓은 직경을 갖는 윗판(7a)과 이에 일체로 형성된 보다 좁은 직경의 아래판(7b)을 보유하고 있다.

윗판(7a)의 내측에는 수납홈(8)이 형성되어 있고, 이 수납홈(8)의 내주면으로 다수의 접점단자(9)가 등간격으로 수직 배열되어 있다.

상기 접점단자(9)의 상단은 수납홈(8)의 측벽으로 매립되어 윗판(7a)의 상면을 통해 노출됨으로써 정방형 또는 장방형으로 배열되는 테스트 포인트(10)를 형성하고 있다.

다시 말해서 상기 접점단자(9)는상으로 절곡 형성되어 그 절곡부의 하측이 수납홈(8)의 내주면으로 노출되고, 또 상단은 윗판(7a)의 상면으로 노출되는 테스트포인트(10)로 되는 것이다.

또한 상기 접점단자(9)의 하단은 아래판(7b)의 외주면 상에 나란히 배열되어 제3도에 도시한 바와 같이 기판(1)에 부착된 LCC장착용 소켓(2)의 접점(3)과 전기적으로 연결되는 부분으로 된다.

여기서 제3도에 도시한 기판(1)과 LCC장착용 소켓(2)은 각각 제1도의 해당부분과 동일한 종래의 것을 의미한다.

이와 같이 구성된 본 고안의 핀 테스트소켓은 기판(1)에 부착된 LCC장착용 소켓(2)의 장착홈(3)으로 소켓몸체(7)의 아래판(7b)이 삽입 연결되게 한 다음, 그 내측의 수납홈(8)으로 LCC(5)를 삽입 장착하는 방식으로 사용된다.

상기 소켓몸체(7)가 LCC장착용 소켓(2)의 장착홈(3)으로 삽입되면, 아래면(7b)의 외주면으로 배열된 접점단자(9)의 노출부가 상기 장착홈(3)의 내측에 노출된 접점(4)과 각각 전기적으로 접촉하게 되고, 또 상기 LCC(5)의 핀(6)은 소켓몸체(7)의 수납홈(8)에서 그 내주면에 노출되 접점단자(9)와 전기적인 접촉이 이루어지게 된다.

한편, 상기 접점단자(9)의 상단은 윗판(7a)의 상면으로 노출되어 테스트포인트(10)를 형성하고 있으므로 이 부분을 통해 외부에서 LCC(5)의 각 단자별 연결상태나 전기적 재특성을 점검할 수 있게 된다.

이상과 같이 본 고안의 핀 테스트소켓에 의하면 LCC를 장착한 직후에 행하는 데이터 입력단핀과 출력단핀, 그리고 클럭단핀, 접지단핀 등의 핀테스트를 기판을 뒤집어 놓지 않고도 행할 수 있게 되어 조립공정의 번거로움을 생략할 수 있는 실용성을 갖추고 있다.

Claims (1)

1. 내측에 수납홈(8)을 보유하는 넓은 직경의 윗판(7a)과 이로 부터 일체로 형성되어 통상의 LCC장착용 소켓(2)의 장착홈(3)으로 삽입되는 아래판(7b)을 구비한 소켓몸체(7)로 이루어지고, 상기 수납홈(8)의 내주면과 아래판(7b)의 외주면에 다수의 접점단자(9)가 등간격으로 수직 배열되어 외부로 노출되어 있으며, 상기 접점단자(9)의 상단은 윗판(7a)의 내측에 매립되어서 그 상면을 통해 연장 노출되어 테스트포인트(10)를 형성하고 있음을 특징으로 하는 LCC타입 부품의 핀 테스트소켓.