KR890007825Y1

KR890007825Y1 - 저항 측정 회로

Info

Publication number: KR890007825Y1
Application number: KR2019860007753U
Authority: KR
Inventors: 감도영
Original assignee: 삼성전자 주식회사; 한형수
Priority date: 1986-06-10
Filing date: 1986-06-10
Publication date: 1989-11-08
Also published as: KR870018764U

Abstract

내용 없음.

Description

[고안의 명칭]

저항 측정 회로

[도면의 간단한 설명]

제1도는 본 고안에 따른 저항측정회로의 상세한 구성을 도시해 놓은 회로도이다.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 전전압 회로 2,7 : 멀티플렉서

3 : 정전류원부 4 : 인쇄회로기판

5 : 증폭부 6 : 아날로그/디지탈변환기

OP₁-OP₇: OP앰프 FET₁-FET

PR₁-PR₃: 인쇄회로기판상에 삽입된 저항 S₁-S₆: 스위치

[실용신안의 상세한 설명]

〔산업상의 이용분야〕

본 고안은 인쇄회로기판(PCB;Printed Circuit Board)상에 삽입, 배설된 저항을 측정하기 위한 저항 측정회로에 관한 것으로, 특히 피측정 저항에 접속되어 있는 주변저항소자의 영향을 받지 않도록 하면서 피측정저항자체의 고유저항값을 측정할수 있도록 된 저항측정회로에 관한 것이다.

〔종래의 기술 및 그 문제점〕

일반적으로 여러가지 부품이 배선되어 있는 인쇄회로기판이 정해진 기능을 올바로 수행하는 지를 확인하기 위한 검시방법의 하나로써 인쇄회로가판상에 삽입 배선된 단일구조의 저항이 정확한 위치에 삽입되어 설계구격의 범위내에서 동작하고 있는지를 검사하는 방범이 사용되고 있는바, 이와 같은 검사과정을 거쳐 기능의 이상유무가 검사된 상기 인쇄회로기판만을 설비하여 전자제품을 조립하므로써 완성된 전자제품의 불량방생률을 낮울수 있게 된다. 그런데, 인쇄회로기판상에 삽입. 배선된 저항이 주변저항과 접속된 상태에서 그 고유저항의 고유저항값을 정확하게 알수 없고, 또한 복수개의 저항이 서로 접속된 경우에는 그 합성값만이 측정되어 각 저항이 인쇄회로기판에서 제대로 동작되는 지를 검사하기가 곤란하다는 문제점이 있었다.

〔고안의 목적〕

본 고안은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, 측정하려는 피측정저항과 그 피측정저항에 접속되어 있는 주변저항의 전위치를 동일하게 하여 주변저항을 전류가 흐르지 못하게 하는 한편, 측정하고자 하는 피측정저항으로만 전류가 흐르게 하고, 이때 측정되는 피측정저항이 전위치에 기초해서 저항값을 계산해냄으로써 주변에 연결된 저항의 영향을 배제시킨 상태에서 피측정저항만의 정확한 고유저항값을 측정할수 있도록된 저항측정회로를 제공하고자 함에 그 목적이 있다.

〔고안의 구성〕

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 저항측정회로의 정전압회로(1)와 OP앰프(OP₁~OP₃), 멀티플렉서(2), FET(FET₁) 및 저항(R₁-R₃)으로 구성되어 있으면서 상기 멀티플렉서(2)의 스위치중 어느 하나가 온되면 상기 FET(FET₁)를 통해 정전류를 출력하는 정전류원부(3)와, 이 정전류원부(3)로 부터 출력되는 정전류를 인쇄회로기판(4)상의 피측정저항(PR₁)에 공급해 주는 한편, 상기 정전류에 의해 피측정저항(PR₁)에 발생된 전위차가 동일한 전위차가 주변저항(PR₂,PR₃)에 발생되도록 상기 전위차 전압을 차동증폭하는 OP앰프(OP₄)에, OP앰프(OP₄~OP₇)와 저항(R₁₀-R₁₃)으로 구성되어 상기 피측정저항(PR₁)에 나타나는 전위차를 증폭해서 아날로그/디지탈변환기(6)로 출력하는 증폭부(5)로 이 증폭부(5)의 출력전압을 디지탈신호로 변환해서 CPU에 공급함으로써 피측정저항(PR₁)의 고유저항값이 계산되도록 하는 아날로그/디지탈전환기(6) 상기 OP앰프(OP₄)와 증폭부(5) 및 인쇄회로기판(4)의 각 부품접속점을 연결시켜주는 멀티플렉서(7)로 구성되어 있다.

(실시예)

이하 도면을 참조해서 본 고안의 실시예를 상세히 설명한다

제1도는 본 고안에 따른 저항측정회로의 상세한 회로도를 도시해 놓은 것으로, 인쇄회로기판(4)상에는 저항(PR₁-PR₃)을 비롯한 많은 부품들이 삽입되어 있는바, 그중 병열로 연결된 저항(PR₁)의 고유저항값을 측정하는 경우를 예로 들어 본 고안의 설명하면 다음과 같다.

우선, 도시되지 않은 CPU에서는 멀티플렉서(7)에 제어신호를 공급하여 스위치(S₁-S₆)가 모두 온되도록 하는 한편, 정전압회로(1)에서는 일정한 전압이 출력되므로 OP앰프(OP₁)의 출력전압은 일정한 전압 레벨을 갖게 되는데, 이때궤환용 가변저항(R₂)을 조정해서 OP앰프(OP₁)의 출력전압을 변화시킬수도 있다.

이 OP앰프(OP₁)의 일정한 출력전압이 저항(R₄)(R₅)에 의해 분배되어 버퍼용 OP앰프(OP₂)(OP₃)에 공급되므로, OP앰프(OP₂)의 출력전압은 OP앰프(OP₁)의 출력전압과 마찬가지로 일정한 전압원으로 되고, 이때 CPU의 제어신호에의해 멀티플렉서(2)내의 스위치중 어느 하나가 접속되면 OP앰프(OP₃)의 반전입력단(-)에는 OP앰프(OP₂)의 출력전압이 선택된 스위치에 접속된 저항(R₅-R₉)중 어느 하나를 매개로 공급됨과 더불어 FET(FET₁)의 드레인에도 선택된 스위치와 그 스위치 접속된 저항을 매개해서 상기 OP앰프(OP₂)의 일정한 출력전압이 공급되게 된다.

여기서, OP앰프(OP₃)와 FET(FET₁)의 연결구성은 정전류원을 얻기 위해 사용되는 통상의 회로 구성으로, 멀티 플렉서(2)의 스위칭에 따라 저항(R₆-R₉)중의 하나에 흐르게 되는 정전류가 FET(FET₁)의 소오스를 통해 출력되게 된다.

이어 상기 FET(FET₁)의 소오스로 부터 출력된 정전류는 CUP의 제어신호에 의해 온되어 멀티플렉서(7)의 스위치(S₃)를 통해 인쇄회로 기판(4)의 피측정저항이 저항(PR₂)에 공급되는데, 이때 피측정저항(PR₁)에서는 멀티플렉서(7)의 스위치(S₃)를 통해 공급되는 정전류에 의해 전위차가 발생되게 되고, 이 전위차가 스위치(S₄)를 통해 증폭부(5)의 OP앰프(OP₅)에 공급되면 이 OP앰프(OP₅)에서는 입력전압을 차동증폭하게 되므로 그 출력전압에 피측정저항(PR₁)에 걸리는 전압과 동일하게 되고, 이 OP앰프(OP₅)의 출력전압이 OP앰프(OP₄)에 공급되면 이 OP앰프(OP₅)의 출력전압도 OP앰프(OP₅)의 출력전압과 동일하게 되며, 이 OP앰프(OP₄)의 출력전압이 멀티플렉서(7)의 스위치(S₂)를 통하여 저항(R₃)에 인가되므로 인쇄회로기판(4)의 저항(PR₁)과 저항(PR₃)에 걸리는 전압이 동일해지게 된다. 따라서 저항(PR₁)과 저항(PR₃)에 걸리는 전압이 동일하기 때문에 저항(PR₂)으로 전류가 흐르지 않게 되므로 등가적으로 저항(PR₂)이 없는 상태(오픈상태)가 된다. 즉, 저항(PR₂)의 영향을 배제시킨 상태에서 피측저항(PR₁)의 고유저항값을 측정할수 있는바, 즉 피측정저항(PR₁)에 걸리는 전위차가 멀티플렉서(7)내의 스위치(S₅)를 통해서 증폭부(5)로 공급되어 OP앰프(OP₅-OP₇)에 의해 증폭된 다음, 아나로그/디지탈변환기(6)에서 디지탈신호로 변환되어 도시되지 않은 CPU에 인가되고, CPU에서 정전류원부(3)의 정전류와 입력된 전압을 기초로 저항값을 계산함으로서 인쇄회로기판(4)상의 피측정저항(PR₁)의 고유저항값을 주변에 접속된 다른 저항(예컨대 PR₂,PR₃)의 영향을 제거한 상태에서 측정할수 있게 된다.

그리고 저항(PR₂)을 측정하고자 할 경우에는 저항(PR₂)의 한쪽을 접지시킨 다음 저항(PR₁) 또는 저항(PR₃)양단의 전위차가 저항(PR₂)양단의 전위차가 동일해지도록 CPU에서 멀티플렉서(7)의 스위치를 변경시켜주면 주변저항의 영향을 받지 않으면서 피측정저항인 저항(PR₂)자체의 고유저항값을 측정할수 있게 되고, 이 경우, 저항(PR₆-PR₉)측정시에 측정범위의 조정 CPU에서 밀티플렉서(2)내의 스위치를 스위칭절환해서 그 측정범위에 맞는 정전류가 공급되도록 저항(R₅-R)중 하나를 선택함으로써 이루어지는 바 이러한 멀티플렉서(2)(7)의 스위칭절환은 CPU의 제어프로그램에 의해 수행된다.

〔고안의 효과〕

상기한 바와 같이 본 고안에 의하면, 인쇄회로기판상에서 단일소자(예컨대 저항)만의 특성을 측정하려고 할때, 주변 소자의 영향을 배제시킨 상태에서 측정할수 있기 때문에 예컨대 저항자체의 고유저항값을 정확하게 측정할 수 있어 전자제품조립시의 신뢰성을 높일수 있음은 물론 작업능률도 증진시킬수 있게 된다.

Claims

복수개의 저항(PR₁~PR₃)이 인쇄회로기판(4)상에 접속되어 있는 상태에서 저항(예컨대;PR₁)만의 고유저항값을 측정하도록 된 저항측정회로에 있어서, 정전압회로(1)와 OP앰프(OP₁~OP₃) 멀티플렉서(2)FET(FET₁) 및 저항(R₁~R₉)으로 구성되어 있으면서 상기 멀티플렉서(2)의 스위치중 어느 하나가 온되면, 상기FET(FET₁)를 통해 정전류를 출력하는 정전류원부(3)와, 이 정전류원부(3)로 부터 출력되는 정전류를 인쇄회로기판(4)상의 피측정저항(PR₁)에 공급해 주는 한편 상기 정전류에 의해 피측정저항(PR₁)에서 발생된 전위차가 동일한 전위치가 주변저항(PR₂,PR₃)에 발생되도록 상기 전위차전압을 차동증폭하는 OP앰프(OP₄);OP앰프(OP₅-OP₇)와 저항(R₁₀~R₁₃)으로 구성되어 있으면서 상기 피측정저항(PR₁)에 나타나는 전위차를 증폭해서 이날로그/디지탈변환기(6) 출력하는 증폭부(5); 이 증폭부(5)의 출력전압을 디지탈신호로 변환해서 CPU공급함으로써 피측정저항(PR₁)의 고유저항값이 계산되도록 하는 아날로그/디지탈변환기(6);상기 OP앰프(OP₄)와 증폭부(5) 및 인쇄회로기판(4)의 회로접속점을 연결시켜주는 멀티플렉서(7)를 구비해서 구성된 것을 특징으로 하는 저항 측정회로.