KR880010326A - 온도 보상된 습도 감지기 - Google Patents

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Abstract

내용 없음

Description

온도 보상된 습도 감지기
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따라 구성된 온도 보상된 습도 감지기를 설명하는 도면,
제2도는 습기를 함유하는 중간 중량 종이웨브에 대한 적외선 통과 스펙트럼을 도시한 도면,
제3도는 젖고 무거운 중량의 종이 웨브에 대한 적외선 통과 스펙트럼을 설명한 도면.

Claims (17)

  1. 종이쉬이트를 통하여 적외선의 비임(beam)을 배향시키기 위한 적외선방사원(infrared rediation source)을 포함하고 ; 적외선 스펙트럼의 제1, 제2 및 제3의 분리된 파장 영역에서 쉬이트를 통하여 지나가는 비임으로부터 적외선의 량을 감지하기 위한 수단을 포함하고, 여기서 전술한 제1영역은 적외선 비임의 통로에서 습기의 량에 일차적으로 민감한 적외선은 감지하도록 선택되고, 제2영역은 적외선 비임의 통로에서 종이섬유의 량에 일차적으로 민감한 적외선을 감지하도록 선택되며, 제2영역은 적외선 방사원으로보부터 종이웨브를 지나 전달되는 제3영역내의 적외선 량이 웨브온도에 종속하도록 선택되게 함을 포함하는 종이웨브 습도 감지기.
  2. 제1항에 있어서, 전술한 제1영역이 약 1.85-1.93 미크론 범위의 흡수 스펙트럼을 따라 위치되고 제2영역은 약 1.83-1.85 미크론 파장영역내에 위치되며, 제3영역은 약 1.94-1.98 미크론 범위내에 위치되는 종이쉬이트 습기 감지기.
  3. 제1항에 있어서, 제1영역이 약 1.85-1.93 미크론의 파장범위내의 흡수 스펙트럼을 따라 위치되고, 제2영역이 1.83-1.85 미크론의 파장영역내에 위치되며, 제3영역은 약 1.55-1.67 미크론의 범위내에 위치되는 종이 쉬이트 습기 감지기.
  4. 종이웨브의 습기함량은 측정하기 위한 공정에 있어서, (a) 웨브를 통하여 알려진 강도와 대역폭 특성을 가지는 적외선 비임을 배향시키는 과정과 ; (b) 제1근사치로, 전술한 비임 웨브를 통하여 전달된 후 비임의 적외선 스펙트럼의 제1부분을 측정함에 의해 비임의 통로에 웨브의 습기량을 결정하는 과정과 ; (c)(b) 과정의 습기량 결정치를 적외선 스펙트럼의 제2의 분리된 부분에서 웨브를 통하여 전달된 비임의 강도 측정치를 이용하여 웨브온도 변화에 대해 교정하는 과정을 포함하는 종이웨브의 습기량 측정 공정.
  5. 제4항에 있어서, 적외선 스펙트럼의 전술한 제2부분이 적외선 전달 스펙트럼의 전달 최고치(transmis-sion peak)와 전달 최저치(transmission valley) 사이의 경사부에 위치되는 공정.
  6. 제5항에 있어서, 적외선 스펙트럼의 전술한 제2부분이 1.97 미크론의 적외선 파장을 포함하는 공정.
  7. 제5항에 있어서, 적외선 스펙트럼의 전술한 제2부분이 1.55-1.67 미크론의 적외선 파장범위를 포함하는 공정.
  8. 제4항에 있어서, 웨브의 적어도 일부분의 습기함량을 변화시키기 위한 적어도 하나의 장치를 선택적으로 작동시키기 위해 과정(c)의 교정된 습기량 결정치를 이용하는 과정을 더 포함하는 공정.
  9. 종이웨브의 습기함량을 조절하기 위한 공정에 있어서, (a) 웨브를 통하여 적외선 비임을 배향하기 위한 과정을 포함하고 ; (b) 웨브에 관해 비임을 이동시키기 위한 과정을 포함하고 ; (c) 웨브를 통하여, 제1, 제2 및 제3의 분리된 적외선 스펙트럼 구역을 지나가는 비임으로부터 적외선량을 측정하는 과정을 포함하며, 여기서 전술한 제1구역을 종이섬유에 의해 먼저 흡수되는 적외선 통과 스펙트럼의 부분에 위치되고, 제2구역은 물의 흡수 최고치에 인접한 통과 스펙트럼 경사(slope)에 위치되고, 제3구역은 제1과 제2구역으로부터 분리된 전달 스펙트럼의 경사부에 위치되고 ; (d) 컴퓨터로, 제1, 제2 및 제3적외선 스펙트럼구역의 각각에 대한 적외선 통과 측정치를 사용하여 웨브의 상이한 부분의 습기함량을 계산하는 과정을 포함하고 ; (e) 습기합량 계산에 기초하여 웨브의 적어도 일부분의 습기함량을 변화시키는 과정을 포함하는 종이웨브의 습기함량을 조절하기 위한 공정.
  10. 제9항에 있어서, 컴퓨터가 하기의 식을 사용하여 습기함량을 계산하는 공정 :
    RT=R1+C1*(R2-C2),
    여기서 R1=REF/MES, R2=REF/CORR, C1과 C2는 상수이고, 여기서 REF 값은 제1구역에서의 적외선 측정치 지표이며, MES 값은 제2구역에서의 적외선 측정치 지표이고, CORR 값은 제3구역에서의 적외선 측정치의 지표이다.
  11. 제9항에 있어서, 컴퓨터가 하기의 방정식을 사용하기 습기함량을 계산하는 공정 :
    RT=R1*(1+C1(R2-R2), 여기서 R1=REF/MES, RE=REF/CORR, C1과 C2는 상수이고, 여기서 REF 값은 제1구역에서의 적외선 측정치의 지표이고, MES 값은 제2구역에서의 적외선 측정치의 지표이며, CORR 값은 제3구역의 적외선 측정치의 지표이다.
  12. 제10항에 있어서, 컴퓨터로, 하기의 일차방정식 WW=A RD+D을 사용하여 웨브내의 물의 중량을 계산하는 과정을 더 포함하는 공정, 여기서 A와 D는 각기 일차 방법식의 기울기와 절편(intercept)이고, WW는 웨브 단위 면적당 물의 줄량이다.
  13. 제11항에 있어서, 컴퓨터로 일차방적식 WW=A RT+D를 사용하여 웨브내의 물중량을 계산하는 과정을 더 포함하는 공정, 여기서A와 D는 각기 일차방정식의 기울기와 절편이고 WW는 웨브의 단위면적당 물의 중량이다.
  14. 제9항에 있어서, 컴퓨터가 하기의 방정식을 사용하여 습기의 함량을 계산하는 공정 :
    RT=1/2[C1(R1-D1)+C2(R2-D2)]
    여기서 R1=REF/MES, R2=REF/CORR, C1, C2, D1 및 D2는 상수이고, 여기서 REF 값은 제1구역에서의 적외선 측정치의 지표이고, MES 값은 제2구역에서의 적외선 측정치의 지표이며 CORR 값은 제3구역에서의 적외선 측정치의 지표이다.
  15. 종이의 쉬이트를 통하여 적외선의 비임을 배향하기 위한 적외선 발생장치와 ; 종이쉬이트를 통하여 제 1 및 제2의 분리된 적외선 스펙트럼 파장영역에서 통과하는 비임으로부터 적외선의 량을 감지하기 위한 감지수단을 포함하고, 여기서 전술한 제1영역은 물에 대한 적외선 흡수 최고치 주위에 거의 중심을 맞춘 것이고 제2영역은 적외선 비임의 통로내의 종이섬유 량에 일차적으로 민감한 적외선을 감지하기 위해 선택된 것임을 포함하는 웨브온도에 민감한 종이웨브 습기 감지기.
  16. 제15항에 있어서, 제1영역이 1.93 미크론 주위에 중심을 두며, 제2영역은 약 1.83-1.85 미크론의 파장영역내에 위치되는 종이쉬이트 습기 감지기.
  17. 종이웨브의 습기함량을 조절하기 위한 공정에 있어서, (a) 웨브를 통하여 적외선 비임을 배양하기 위한 과정을 포함하고 ; (b) 웨브에 관해 비임을 이동시키기 위한 과정을 포함하며 ; (c) 웨브 따라 다수의 위치에서, 웨브를 통하여 제1 및 제2의 분리된 적외선 스펙트럼 영역에서 전달된 적외선 에너지의 량을 측정하는 과정을 포함하며, 여기서 제1영역은 물에 대한 적외선 흡수 최대치 주위에 거의 중심을 두고 제1영역의 길고 짧은 파장경계는 제1영역에서의 웨브를 통하여 전달된 적외선의 량이 웨브의 온도에 독립하고, 제2영역은 종이섬유에 의해 먼저 흡수되는 적외선 전달 스펙트럼의 부분에 위치되도록 선택되며 ; (d) 컴퓨터로, 제1과 제2의 적외선 대역영역에 대한 적외선 통과의 측정치를 사용하여 웨브의 다른 부분들이 습기함량을 계산하는 과정을 포함하고 ; (e) 웨브의 다른 부분들이 계산된 습기함량에 기초하여 웨브의 적어도 일부분의 습기함량을 변화시키는 과정을 포함하는 종이웨브의 습기함량을 조절하기 위한 공정.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
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