KR860002102A - 샘플 및 홀드회로 - Google Patents

샘플 및 홀드회로 Download PDF

Info

Publication number
KR860002102A
KR860002102A KR1019850006125A KR850006125A KR860002102A KR 860002102 A KR860002102 A KR 860002102A KR 1019850006125 A KR1019850006125 A KR 1019850006125A KR 850006125 A KR850006125 A KR 850006125A KR 860002102 A KR860002102 A KR 860002102A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
inverting
sample
output
circuit
hold
Prior art date
Application number
KR1019850006125A
Other languages
English (en)
Other versions
KR930000820B1 (ko
Inventor
요한 반 데 플라쎄 루디
Original Assignee
이반 밀러 레르너
엔. 브이. 필립스 글로아이람펜 파브리켄
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이반 밀러 레르너, 엔. 브이. 필립스 글로아이람펜 파브리켄 filed Critical 이반 밀러 레르너
Publication of KR860002102A publication Critical patent/KR860002102A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR930000820B1 publication Critical patent/KR930000820B1/ko

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C27/00—Electric analogue stores, e.g. for storing instantaneous values
    • G11C27/02—Sample-and-hold arrangements
    • G11C27/024—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element
    • G11C27/026—Sample-and-hold arrangements using a capacitive memory element associated with an amplifier

Landscapes

  • Amplifiers (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)
  • Mechanical Treatment Of Semiconductor (AREA)

Abstract

내용 없음

Description

샘플 및 홀드회로
본 내용은 요부공개 건이므로 전문내용을 수록하지 않았음
제1도는 본 발명에 따른 자동 제로 S/H회로의 블럭선도.
제3도 및 4도는 제1도 회로의 보다 구체적인 실시예의 블럭 및 다이어그램.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
A1및 A2: 고이득 차동 증폭기 S1내지 S3:스위치
Q1내지 Q8: N채널 절연 게이트 전계 효과 트랜지스터

Claims (5)

  1. 비반전 출력과 반전출력 사이에서 차신호를 발생하기 위해 비반전 및 반전입력 사이의 차신호를 증폭하는 제1수단과, 출력에서 신호를 발생하기 위해 비반전 및 반전 입력 사이에서 차신호를 증폭하는 제2수단과, 저장캐패시터와, 상기 제1수단의 비반전 입력을 샘플 모우드 동안 입력 신호를 수신하는 회로 입력 단자 또는 홀드모우드 동안 제2수단의 출력에 선택적으로 접속시키는 제1스위치돠, 제2수단의 출력을 샘플 모우드 동안 제1수단의 반전입력에 또는 홀드 모우드 동안 고 임피던스 위치에 선택적으로 접속시키는 제2스위치를 구비하는 샘플 및 홀드 회로에 있어서, 저장 커패시터는 제1수단의 반전 입력에 접속이 되고, 상기 회로는 제1수단의 비반전 및 반전 출력을 각각 샘플 모우드 동안에는 제2수단의 비반전 및 반전입력에 또는 홀드모우드 동안에는 제2수단의 반전 및 비반전 입력에 선택적으로 접속시키는 제3스위치를 구비하는 것을 특징으로 하는 샘플 및 홀드회로.
  2. 제1항의 회로에 있어서, 제2수단의 출력에서 신호는 최소한 홀드 모우드 동안 실제로 회로의 출력신호인 것을 특징으로 하는 샘플 및 홀드회로.
  3. 제1항 또는 제 2항의 회로에 있어서, 출력 신호는 제1수단의 전압 옵셋에 거의 무관 한 것을 특징으로 하는 샘플 및 홀드회로.
  4. 제 3항의 회로에 있어서, VOUT (1-2/A1A2)VIN+2VOS2/A1으로 여기서 VOUT및 VIN은 각각 제1 및 제2수단의 이득이며, VOS2는 제2수단의 전압 옵셋인 것을 특징으로 하는 샘플 및 홀드회로.
  5. 제1항의 회로에 있어서, 각 스위치는 최소한 하나의 전계효과 트랜지스터인 것을 특징으로 하는 샘플 및 홀드회로.
    ※ 참고사항 : 최초출원 내용에 의하여 공개하는 것임.
KR1019850006125A 1984-08-27 1985-08-24 샘플 및 홀드회로 KR930000820B1 (ko)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US644,744 1984-08-27
US84-644744 1984-08-27
US06/644,744 US4587443A (en) 1984-08-27 1984-08-27 Auto-zero sample and hold circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR860002102A true KR860002102A (ko) 1986-03-26
KR930000820B1 KR930000820B1 (ko) 1993-02-05

Family

ID=24586163

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019850006125A KR930000820B1 (ko) 1984-08-27 1985-08-24 샘플 및 홀드회로

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4587443A (ko)
EP (1) EP0176114B1 (ko)
JP (1) JPH0644400B2 (ko)
KR (1) KR930000820B1 (ko)
CA (1) CA1230168A (ko)
DE (1) DE3585116D1 (ko)

Families Citing this family (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4691125A (en) * 1986-10-03 1987-09-01 Motorola, Inc. One hundred percent duty cycle sample-and-hold circuit
US4833345A (en) * 1988-02-03 1989-05-23 Analog Devices, Incorporated Sample/hold amplifier for integrated circuits
US4962323A (en) * 1989-07-12 1990-10-09 National Semiconductor Corporation High speed auto zero comparator
CA2027083C (en) * 1990-10-05 1996-05-28 Kuang-Lu Lee Fully differential sample and hold adder circuit
US5757219A (en) * 1996-01-31 1998-05-26 Analogic Corporation Apparatus for and method of autozeroing the input of a charge-to-voltage converter
JPH10327072A (ja) * 1997-05-23 1998-12-08 Mitsubishi Electric Corp アナログ／ディジタルコンバータおよび電圧比較器
US6271784B1 (en) * 1997-08-12 2001-08-07 Analog Devices, Inc. Capacitor-based digital-to-analog converter with continuous time output
US6005431A (en) * 1998-07-30 1999-12-21 Analog Devices, Inc. High band width, high gain offset compensating amplifier system for a read channel
EP1055284A1 (en) * 1998-11-12 2000-11-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. Circuit comprising means for reducing the dc-offset and the noise produced by an amplifier
US6340903B1 (en) 2000-05-10 2002-01-22 Zilog, Ind. Auto-zero feedback sample-hold system
CN100446423C (zh) * 2004-03-12 2008-12-24 精拓科技股份有限公司 能隙参考电压电路装置
US7136000B1 (en) * 2005-06-17 2006-11-14 National Semiconductor Corporation Selective offset adjustment of a track and hold circuit
KR100770723B1 (ko) * 2006-03-16 2007-10-30 삼성전자주식회사 평판 표시 장치의 소스 드라이버의 디지털/아날로그변환장치 및 디지털/아날로그 변환방법.
CN102778910A (zh) * 2011-05-08 2012-11-14 曹先国 高电压基准
US9019139B2 (en) * 2012-05-24 2015-04-28 Forza Silicon Analog to digital converter with built-in data compression based on shot noise of image sensor

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3696305A (en) * 1970-07-01 1972-10-03 Gen Electric High speed high accuracy sample and hold circuit
US4119960A (en) * 1977-02-11 1978-10-10 Siliconix Incorporated Method and apparatus for sampling and holding an analog input voltage which eliminates offset voltage error
US4302689A (en) * 1979-08-02 1981-11-24 John Fluke Mfg. Co., Inc. Sample and hold circuit
JPS56137598A (en) * 1980-03-27 1981-10-27 Victor Co Of Japan Ltd Sample hold circuit
JPS57203296A (en) * 1981-06-09 1982-12-13 Toko Inc Sample holding circuit
JPS581893A (ja) * 1981-06-26 1983-01-07 Toshiba Corp 電圧再生回路
US4439693A (en) * 1981-10-30 1984-03-27 Hughes Aircraft Co. Sample and hold circuit with improved offset compensation
JPS59116997A (ja) * 1982-12-23 1984-07-06 Yokogawa Hokushin Electric Corp サンプル・ホ−ルド回路

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0644400B2 (ja) 1994-06-08
DE3585116D1 (de) 1992-02-20
EP0176114A3 (en) 1988-01-13
CA1230168A (en) 1987-12-08
EP0176114B1 (en) 1992-01-08
EP0176114A2 (en) 1986-04-02
KR930000820B1 (ko) 1993-02-05
JPS6161298A (ja) 1986-03-29
US4587443A (en) 1986-05-06

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR920003943A (ko) 감이온 전계효과 트랜지스터를 이용한 바이오 센서용 측정회로
KR860002102A (ko) 샘플 및 홀드회로
KR890010920A (ko) 샘플된 아날로그 전기 신호를 처리하기 위한 회로장치.
KR860003607A (ko) 센스 증폭회로
KR910016139A (ko) 액티브필터
KR870009543A (ko) 차동 증폭 회로
KR900008763A (ko) 궤환부하를 이용한 증폭회로
KR890004485A (ko) 트랙-앤드-홀드 증폭기
KR920020832A (ko) 비교기 회로
KR870008436A (ko) 브릿지 증폭기
KR860007783A (ko) 개선된 출력특성을 갖는 비교기 회로
US4672239A (en) Sample-and-hold circuit arrangement
KR840007643A (ko) 전압가산회로
KR850700191A (ko) 제곱회로
KR830005764A (ko) 음량 콘트롤 회로
KR920003311A (ko) 메모리 장치
KR870002694A (ko) 증폭회로
KR870007510A (ko) 반도체 메모리 소자의 데이타 판독회로
KR920009186A (ko) Ccd영상센서 신호용 샘플홀드회로
KR850002638A (ko) 센스증폭기
KR880005744A (ko) 차동증폭회로
KR850006275A (ko) 이득 제어 증폭기
KR880002318A (ko) 리카버리 타임을 단축 개선한 차동 증폭기 회로
KR880010578A (ko) 병렬형 d/a 콘버터의 직선성 보상회로
KR830009689A (ko) 신호레벨 제어회로

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
G160 Decision to publish patent application
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 19970129

Year of fee payment: 5

LAPS Lapse due to unpaid annual fee