KR20240080415A

KR20240080415A - 디스플레이 구동 ic 장치 및 이를 이용한 프로브 테스트 방법

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Publication number: KR20240080415A
Application number: KR1020220163735A
Authority: KR
Inventors: 유대영; 김형규; 박윤영; 이상호
Original assignee: 매그나칩믹스드시그널 유한회사
Priority date: 2022-11-30
Filing date: 2022-11-30
Publication date: 2024-06-07
Also published as: CN118155578A; US20240177640A1

Abstract

본 발명은 디스플레이 구동 IC 장치 및 이를 이용한 프로브 테스트 방법에 관한 것이다. 본 발명의 디스플레이 구동 IC 장치는, M개의 소스 앰프를 각각 구비하는 제1 내지 제N 채널 블록, 상기 소스 앰프마다 연결되는 소스 구동 패드, 상기 제1 내지 제N 채널 블록마다 복수 개의 소스 채널 들을 하나의 테스트 패드를 통해 프로브 테스트가 진행되도록 테스트 경로를 선택적으로 제공하는 멀티플렉서(Multiplexer) 및 상기 소스 채널 및 멀티플렉서의 구동을 제어하는 제어부를 포함하여 구성된다. 그리고 채널 블록마다 구비된 테스트 패드는 다른 채널 블록의 테스트 패드와 외부에서 쇼트되어 연결된다. 이러한 구성에 따르면, 채널 블록마다 복수 개의 소스 채널들을 하나의 테스트 패드를 통해 프로브 테스트를 수행할 수 있어, 프로브 테스트에 필요한 테스트 장비의 측정 유닛의 개수를 줄일 수 있다.

Description

디스플레이 구동 IC 장치 및 이를 이용한 프로브 테스트 방법{Display driving IC device and probe test method using the same}

본 발명은 테스트 장비에 구비된 적은 개수의 측정 유닛으로 프로브 테스트를 수행할 수 있는 디스플레이 구동 IC 장치에 관한 것이다.

디스플레이 장치는 LCD 패널이나 LED 패널 등과 같은 디스플레이 패널과 상기 디스플레이 패널을 구동하기 위한 디스플레이 구동 IC를 포함한다. 디스플레이 구동 IC는 디스플레이 패널의 채널과 각각 연결되어 디스플레이 패널로 표시할 이미지에 대한 데이터 신호를 전송한다.

이러한 디스플레이 구동 IC는 디스플레이 할 데이터를 수신하거나 전압 입력을 위한 입력 패드들 및 소스신호들의 출력을 위한 출력 패드(즉 소스 구동 패드)들을 포함하여 구성된다. 그리고 디스플레이 구동 IC는 디스플레이 장치의 제조단계에서 테스트 장비를 이용하여 디스플레이 패널에 대한 프로브 테스트를 진행한다. 이때 프로브 테스트는 상기 소스 구동 패드를 이용하여 실시되기 때문에, 테스트 장비는 소스 구동 패드와 대응하는 측정 유닛(measure unit)들이 필요하다.

종래에 높지 않은 해상도를 가지는 디스플레이 장치의 경우, 일반적인 테스트 장비로서 프로브 테스트가 가능했다. 그러나 근래 디스플레이 장치는 종래보다 훨씬 더 해상도가 높도록 설계되고 있으며, 이에 따라 소스 구동 패드의 개수도 증가할 수밖에 없다. 따라서 공지된 테스트 장비로는 근래에 설계되는 디스플레이 장치에 대한 프로브 테스트를 적절하게 할 수 없었다. 즉 테스트 장비에 구비된 적정 개수의 측정 유닛만으로는 해상도에 따라 개수가 증가된 모든 소스 구동 패드를 테스트하는데 한계가 존재한다.

물론 소스 구동 패드에 맞게 테스트 장비의 측정 유닛의 개수를 증가시켜 설계할 수 있는 방안도 있지만, 테스트 장비의 제조비용이 증가하는 문제가 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 한정된 개수의 측정 유닛으로 해상도가 높아진 디스플레이 패널에 대한 프로브 테스트를 수행할 수 있는 디스플레이 구동 IC 장치 및 이를 이용한 프로브 테스트 방법을 제공하는 것이다.

본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.

이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 구동 IC 장치는, M개의 소스 앰프를 각각 구비하는 제1 내지 제N 채널 블록; 상기 소스 앰프마다 연결되는 소스 구동 패드; 상기 제1 내지 제N 채널 블록마다 복수 개의 소스 앰프 들을 상기 소스 구동 패드 중 선택된 하나의 테스트 패드를 통해 프로브 테스트가 진행되도록 테스트 경로를 선택적으로 제공하거나 상기 소스 앰프의 데이터 출력을 교번하여 출력하는 멀티플렉서(Multiplexer); 및 상기 소스 앰프 및 멀티플렉서의 구동을 제어하는 제어부를 포함하여 구성된다.

상기 테스트 패드는, 제1 내지 제N 채널 블록들 중 서로 인접한 홀수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 상기 디스플레이 구동 IC 장치 외부에서 쇼트(short)되고, 서로 인접한 짝수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 상기 디스플레이 구동 IC 장치 외부에서 쇼트(short)된다.

상기 M개는 4개이고, 테스트 모드인 경우, 상기 테스트 패드는 3번째 소스 앰프와 연결된 소스 구동 패드이다.

상기 멀티플렉서의 제어에 의해 상기 채널 블록의 각각의 소스 앰프가 순차적으로 상기 테스트 패드와 연결되어 프로브 테스트를 수행한다.

상기 테스트 패드는 테스트 장비의 측정 유닛과 각각 컨택된다.

상기 쇼트 연결된 한 쌍의 채널 블록 중 하나의 채널 블록이 테스트 가능한 온(ON) 상태이고, 다른 하나의 채널 블록이 테스트 대기하는 오프(OFF) 상태이다.

상기 쇼트 연결된 한 쌍의 채널 블록 중 하나의 채널 블록에 구비된 소스 채널에 대한 테스트가 완료된 다음에 다른 하나의 채널 블록에 구비된 소스 채널에 대한 테스트가 진행된다.

상기 M개는 4개이고, 일반 모드인 경우, 상기 소스 앰프는 서로 인접한 홀수 번째 소스 구동 패드끼리 데이터 출력을 교번한다.

상기 테스트가 진행되는 채널 블록의 소스 앰프는 온(ON) 구동상태이고, 미 테스트 대상인 다른 채널 블록의 소스 채널에 연결된 테스트 패드는 플로팅(floating) 상태를 유지한다.

상기 제어부는, 채널 블록이 온(ON) 상태이면 소스 채널들이 상기 테스트 패드와 연결되도록 상기 멀티플렉서의 구동을 제어한다.

본 발명의 다른 실시 예에 따른 프로브 테스트 방법은, 제1 내지 제N 채널 블록들 중 서로 인접한 홀수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 외부에서 쇼트(short)시키고, 서로 인접한 짝수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 외부에서 쇼트(short)시키는 단계; 상기 쇼트 된 한 쌍의 채널 블록 중, 어느 하나의 각 채널 블록을 온(ON) 구동하는 단계; 및 테스트 장비의 각 측정 유닛이 온(ON) 구동된 채널 블록들의 소스 채널들을 해당 채널 블록에 있는 하나의 테스트 패드를 이용하여 순서대로 테스트하는 단계를 포함하여 수행한다.

상기 한 쌍의 채널 블록 중, 다른 하나의 각 채널 블록에 포함된 테스트 패드를 플로팅(floating) 시킨다.

상기 온(ON) 구동된 채널 블록들의 소스 채널들에 대한 테스트가 완료되면, 상기 플로팅 상태의 테스트 패드를 포함한 채널 블록들을 온 구동시킨 다음 각 채널 블록의 소스 채널들을 해당 채널 블록에 있는 하나의 테스트 패드를 이용하여 순서대로 테스트하는 단계를 더 포함한다.

상기 테스트하는 단계는, 각 채널 블록의 멀티플렉서를 스위칭 구동시켜 하나의 테스트 패드와 상기 각 채널 블록에 포함된 소스 앰프를 순서대로 연결하면서 상기 테스트 패드에 연결된 측정 유닛이 테스트를 수행한다.

본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 프로브 테스트 방법은, 제1 측정 유닛이 제1 채널 블록 및 제3 채널 블록과 연결되고, 제2 측정 유닛이 제2 채널 블록 및 제4 채널 블록과 연결되고, 제3 측정 유닛이 제5 채널 블록 및 제7 채널 블록과 연결되고, 제4 측정 유닛이 제6 채널 블록 및 제8 채널 블록과 연결된 상태에서, 상기 제1 내지 제4 측정 유닛이 상기 제1 채널 블록, 제2 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제6 채널 블록 각각에 구비된 소스 채널들을 첫 번째 소스 채널부터 순서대로 프로브 테스트하는 제1 테스트 과정을 수행한다.

상기 제1 테스트 과정이 완료되면, 상기 제1 내지 제4 측정 유닛이 상기 제3 채널 블록, 제4 채널 블록, 제7 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각에 구비된 소스 채널들을 첫 번째 소스 채널부터 순서대로 프로브 테스트하는 제2 테스트 과정을 더 수행한다.

상기 제1 내지 제8 채널 블록마다 하나의 테스트 패드가 구비되고, 상기 제1 채널 블록 및 제3 채널 블록, 상기 제2 채널 블록 및 제4 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제7 채널 블록, 제6 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각의 테스트 패드는 외부에서 쇼트 연결된다.

상기 제1 테스트 과정 및 제2 테스트 과정은, 각 채널 블록마다 구비된 멀티플렉서의 스위칭 구동에 따라 테스트 패드와 소스 앰프를 순서대로 연결하면서 수행된다.

상기 제1 채널 블록, 제2 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제6 채널 블록 각각의 소스 앰프가 온(ON) 구동 상태일 때, 제3 채널 블록, 제4 채널 블록, 제7 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각의 소스 앰프는 오프(OFF) 구동 상태이다.

상기 제3 채널 블록, 제4 채널 블록, 제7 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각의 소스 앰프가 온(ON) 구동 상태일 때, 상기 제1 채널 블록, 제2 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제6 채널 블록 각각의 소스 앰프는 오프(OFF) 구동 상태이다.

이와 같은 본 발명에 따르면, 디스플레이 장치의 해상도가 높아져 소스 구동 패드의 개수가 증가하는 경우에도, 적은 개수의 측정 유닛을 가지는 테스트 장비를 이용하여 프로브 테스트를 수행할 수 있는 효과가 있다.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이 구동 IC 장치를 나타내고 있는 구성도이다.
도 2는 도 1의 디스플레이 구동 IC 장치를 이용하여 프로브 테스트의 수행과정을 설명하는 개략 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 프로브 테스트 수행 시의 타이밍도이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스플레이 구동 IC 장치를 나타내고 있는 구성도이다.

본 발명은 다양한 변환을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명의 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변환, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.

제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.

본 발명에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시 예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.

본 발명에서 사용되는 “부” 또는 “부분” 등의 일부분을 나타내는 표현은 해당 구성요소가 특정 기능을 포함할 수 있는 장치, 특정 기능을 포함할 수 있는 소프트웨어, 또는 특정 기능을 포함할 수 있는 장치 및 소프트웨어의 결합을 나타낼 수 있음을 의미하나, 꼭 표현된 기능에 한정된다고 할 수는 없으며, 이는 본 발명의 보다 전반적인 이해를 돕기 위해서 제공된 것일 뿐, 본 발명이 속하는 분야에서 통상적인 지식을 가진 자라면 이러한 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다.

또한, 본 발명에서 사용되는 모든 전기 신호들은 일 예시로서, 본 발명의 회로에 반전기 등을 추가적으로 구비하는 경우 이하 설명될 모든 전기 신호들의 부호가 반대로 바뀔 수 있음을 유의해야 한다. 따라서, 본 발명의 권리범위는 신호의 방향에 한정되지 않는다.

따라서, 본 발명의 사상은 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 아니되며, 후술하는 특허청구범위뿐 아니라 이 특허청구범위와 균등하거나 등가적 변형이 있는 모든 것들은 본 발명 사상의 범주에 속한다고 할 것이다.

이하에서는 도면에 도시한 실시 예에 기초하면서 본 발명에 대하여 더욱 상세하게 설명하기로 한다.

도 1은 본 발명의 제1 실시 예에 따른 프로브 테스트를 위한 디스플레이 구동 IC 장치(이하 DDI 장치라 칭하기로 한다)를 나타내고 있는 구성도이다. 실시 예의 DDI 장치(100)는 총 32개의 소스 채널을 테스트 하도록 구성되며, 4개의 소스 채널을 1개의 채널 블록으로 하여 총 8개의 채널 블록(제1 내지 제8 채널 블록)(210 ~ 280)이 구성됨을 예시한다.

도 1에 도시한 바와 같이 DDI 장치(100)는, DDI 제어부(110), 소스 앰프(120), 멀티플렉서(MUX)(130) 및 소스 구동 패드(140)를 포함하여 구성된다. 후술하지만 각 채널 블록(210 ~ 280)마다 상기 소스 앰프, MUX 및 소스 구동 패드가 동일하게 구성된다. 또한, 각각의 소스 채널은 소스 앰프, 소스 구동 패드 및 멀티플렉서로 구성 될 수 있다.

DDI 제어부(110)는 제1 제어신호(AMP_on_A) 및 제2 제어신호(AMP_on_B)를 출력하여 소스 앰프(120)의 온(on)/오프(off) 구동을 제어한다. 도면에는 간단하게 제1 제어신호를 'a', 제2 제어신호를 'b'로 나타냈다.

소스 앰프(120)는 디스플레이 패널의 각각의 채널과 연결되어 이미지 데이터를 전송하는 역할을 한다. 그리고 소스 앰프(120)는 DDI 제어부(110)의 소스 앰프 구동을 위한 상기 제1, 제2 제어신호(a, b)에 따라 구동된다. 실시 예에 따르면 도 1의 하단에 도시된 바와 같이 제1 소스 채널 내지 제8 소스 채널, 제17 소스 채널 내지 제24 소스 채널의 소스 앰프는 제1 제어신호(a)에 의해 구동되고, 나머지 채널들인 제9 소스 채널 내지 제16 소스 채널, 제25 소스 채널 내지 제32 소스 채널의 소스 앰프는 제2 제어신호(b)에 의해 구동된다. 제1 제어신호(a)에 의해 제1 소스 채널 내지 제8 소스 채널, 제17 소스 채널 내지 제24 소스 채널의 소스 앰프가 온 구동되는 동안 제9 소스 채널 내지 제16 소스 채널, 제25 소스 채널 내지 제32 소스 채널의 소스 앰프는 오프 상태를 가진다. 반대로 제2 제어신호(b)에 의해 제9 소스 채널 내지 제16 소스 채널, 제25 소스 채널 내지 제32 소스 채널의 소스 앰프가 온 구동되는 동안 제1 소스 채널 내지 제8 소스 채널, 제17 소스 채널 내지 제24 소스 채널의 소스 앰프는 오프 상태를 가진다.

MUX(130)는 일반 모드 경로 및 테스트 모드 경로를 지원하도록 다수의 스위칭 소자들을 포함한다. 스위칭 소자들은 상기 DDI 제어부(110)의 제어동작에 의해 스위칭 동작한다. MUX(130)에 포함된 스위칭 소자들은 DDI 제어부(110)의 제3 제어신호(c)의 제어에 따라 스위칭 동작한다. MUX(130)의 스위칭 소자들은 테스트 모드에서 하나의 채널 블록에 포함된 소스 채널들 중 한 소스 채널의 소스 구동 패드(테스트 패드)를 이용하여 다른 소스 채널들도 테스트가 가능하도록 테스트 경로를 제공한다.

구체적으로 도 1에서 제1 내지 제8 채널 블록(210 ~ 280)에 구비된 소스 채널들마다 소스 앰프(120)의 출력단에 소스 구동 패드(140)가 각각 연결되고, MUX(130)는 소스 앰프(120)의 출력단과 소스 구동 패드(140) 사이에 2개의 스위칭 소자들로 구성되어 일반 모드가 설정되면 일반 모드 경로를 제공하고 테스트 모드가 설정되면 테스트 모드 경로를 제공하도록 구성된다.

도 1을 참조하여 설명하면, 제1 내지 제8 채널 블록(210 ~ 280) 각각은 4개의 소스 앰프 및 소스 구동 패드로 구성된다. 설명의 편의를 위해 도 1의 제1 채널 블록(210)을 참조하면, 왼쪽에서부터 제1 소스 앰프, 제2 소스 앰프, 제3 소스 앰프, 제4 소스 앰프라고 가정한다. 마찬가지로 도 1의 왼쪽에서부터 제1 소스 구동 패드, 제2 소스 구동 패드, 제3 소스 구동 패드, 제4 소스 구동 패드라고 가정한다.

일반 모드 경로에서는 제1 소스 앰프는 제1 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송하고, 제2 소스 앰프는 제2 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송하고, 제3 소스 앰프는 제3 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송하고, 제4 소스 앰프는 제4 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송할 수 있다. 또는, 슬루율 향상을 위해 일반 모드 경로에서 제1 소스 앰프는 제3 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송하고, 제2 소스 앰프는 제2 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송하고, 제3 소스 앰프는 제1 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송하고, 제4 소스 앰프는 제4 소스 구동 패드로 이미지 데이터를 전송할 수 있다.

상기 이미지 데이터 전송 방식은 제2 내지 제8 채널 블록(220 ~ 280)에서도 적용될 수 있다.

그리고 제1 내지 제8 채널 블록(210 ~ 280)마다 어느 하나의 소스 구동 패드는 다른 채널 블록의 소스 구동 패드와 외부에서 쇼트(short) 된 상태로 설계된다. 도 1에서 보듯이 제1 내지 제8 채널 블록(210 ~ 280)마다 세 번째 소스 구동 패드가 쇼트되어 다른 소스 채널들의 테스트 경로를 제공하게 된다. 즉 제1 채널 블록(210)의 제3 소스 구동 패드와 제3 채널 블록(230)의 제11 소스 구동 패드가 쇼트되고, 제2 채널 블록(220)의 제7 소스 구동 패드와 제4 채널 블록(240)의 제15 소스 구동 패드가 쇼트되고, 제5 채널 블록(250)의 제19 소스 구동 패드와 제7 채널 블록(270)의 제27 소스 구동 패드가 쇼트되고, 제6 채널 블록(260)의 제23 소스 구동 패드와 제8 채널 블록(280)의 제31 소스 구동 패드가 쇼트된다.

이러한 연결에 따라 본 실시 예는 제1 채널 블록(210)의 제3 소스 채널의 소스 구동 패드(제1 테스트 패드)(212)를 통해 제1, 제2, 제4 소스 채널의 테스트 경로를 제공하고, 제2 채널 블록(220)의 제7 소스 채널의 소스 구동 패드(제2 테스트 패드)(222)를 통해 제5, 제6, 제8 소스 채널의 테스트 경로를 제공하고, 제3 채널 블록(230)의 제11 소스 채널의 소스 구동 패드(제3 테스트 패드)(232)를 통해 제9, 제10, 제12 소스 채널의 테스트 경로를 제공하고, 제4 채널 블록(240)의 제15 소스 채널의 소스 구동 패드(제4 테스트 패드)(242)를 통해 제13, 제14, 제16 소스 채널의 테스트 경로를 제공하고, 제5 채널 블록(250)의 제19 소스 채널의 소스 구동 패드(제5 테스트 패드)(252)를 통해 제17, 제18, 제20 소스 채널의 테스트 경로를 제공하고, 제6 채널 블록(260)의 제23 소스 채널의 소스 구동 패드(제6 테스트 패드)(262)를 통해 제21, 제22, 제24 소스 채널의 테스트 경로를 제공하고, 제7 채널블록(270)의 제27 소스 채널의 소스 구동 패드(제7 테스트 패드)(272)를 통해 제25, 제26, 제28 소스 채널의 테스트 경로를 제공하고, 제8 채널 블록(280)의 제31 소스 채널의 소스 구동 패드(제8 테스트 패드)(282)를 통해 제29, 제30, 제32 소스 채널의 테스트 경로를 제공한다.

이처럼 본 발명의 DDI 장치(100)는 8개의 테스트 패드(212, 222, 232, 242, 252, 262, 272, 282)를 이용하고 복수의 테스트 패드를 외부에서 쇼트 연결하기 때문에 종래보다 더 적은 개수의 측정 유닛을 사용하여 프로브 테스트를 수행할 수 있다.

도 1을 보면, 소스 구동 패드(140)의 출력단에 테스트 장비(미도시)가 연결된다. 테스트 장비는 프로브 테스트를 위한 제1 내지 제4 측정 유닛(measure unit)(310, 320, 330, 340)을 포함할 수 있다. 각 측정 유닛(310, 320, 330, 340)은 쇼트 연결된 채널 블록들의 채널들을 대상으로 프로브 테스트를 실시하게 된다. 구체적으로 제1 측정 유닛(310)은 제1 채널 블록(210) 및 제3 채널 블록(230)과 연결되며, 제2 측정 유닛(320)은 제2 채널 블록(220) 및 제4 채널 블록(240)과 연결되며, 제3 측정 유닛(330)은 제5 채널 블록(250) 및 제7 채널 블록(270)과 연결되며, 제4 측정 유닛(340)은 제6 채널 블록(260) 및 제8 채널 블록(280)과 연결된다. 즉 하나의 측정 유닛은 어느 하나의 채널 블록의 테스트 패드와, 그 채널 블록과 바로 인접한 채널 블록이 아닌 다음 채널 블록의 테스트 패드와 쇼트 연결되어 제1 제어신호(a) 또는 제2 제어신호(b)에 의해 프로브 테스트를 수행하는 것이다.

도 2는 도 1의 디스플레이 구동 IC 장치를 이용하여 프로브 테스트의 수행과정을 설명하는 개략 흐름도이다.

프로브 테스트 실행 명령이 발생한다(S100). 그러면 DDI 제어부(110)는 제1 제어신호(a)를 이용하여 제1 내지 제8 소스 앰프와 제17 내지 제24 소스 앰프를 온 구동시킨다(S110). 나머지 제9 내지 제16 소스 앰프와 제25 내지 제32 소스 앰프는 별도의 제어신호 없이 오프 구동상태가 되거나 제2 제어신호(b)에 의해 오프 상태를 유지한다. 동시에 DDI 제어부(110)는 현재 온 구동상태인 소스 앰프의 출력단에 있는 MUX(130)의 스위칭 소자들을 순차적으로 제어하여 테스트 경로를 설정한다(S120).

제1 내지 제4 측정 유닛(310, 320, 330, 340)이 프로브 테스트를 실시한다(S130). 프로브 테스트 방법은 제1 내지 제4 측정 유닛(310, 320, 330, 340)이 현재 온 구동상태인 제1, 제2, 제5 및 제6 채널 블록(210, 220, 250, 260)의 각 소스 채널들을 대상으로 순차적으로 진행하게 된다.

구체적으로 제1 측정 유닛(310)이 제1 채널 블록(210)의 제1 소스 채널에 대해 제1 테스트 패드(212)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제2 측정 유닛(320)이 제2 채널 블록(220)의 제5 소스 채널에 대해 제2 테스트 패드(222)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제3 측정 유닛(330)이 제5 채널 블록(250)의 제17 소스 채널에 대해 제5 테스트 패드(252)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제4 측정 유닛(340)이 제6 채널 블록(260)의 제21 소스 채널에 대해 제6 테스트 패드(262)를 통한 프로브 테스트를 실시한다.

온 구동 상태의 채널 블록들(210, 220, 250, 260)의 첫 번째 소스 채널에 대한 프로브 테스트가 완료되면 두 번째 소스 채널에 대한 프로브 테스트가 실시된다. 즉, 제1 측정 유닛(310)이 제1 채널 블록(210)의 제2 소스 채널에 대해 제1 테스트 패드(212)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제2 측정 유닛(320)이 제2 채널 블록(220)의 제6 소스 채널에 대해 제2 테스트 패드(222)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제3 측정 유닛(330)이 제5 채널 블록(250)의 제18 소스 채널에 대해 제5 테스트 패드(252)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제4 측정 유닛(340)이 제6 채널 블록(260)의 제22 소스 채널에 대해 제6 테스트 패드(262)를 통한 프로브 테스트를 실시한다.

상기한 프로브 테스트는 제4 측정 유닛(340)이 제6 채널 블록(260)의 제24 소스 채널에 대해 제6 테스트 패드(262)를 통한 프로브 테스트를 실시할 때까지 계속 반복되어 실시될 것이고, DDI 제어부(110)는 상기 제24 소스 채널에 대한 프로브 테스트가 종료되면 현재 온 구동 상태의 채널 블록 영역(210, 220, 250, 260)에 대한 프로브 테스트가 완료되었음을 인지한다(S140).

DDI 제어부(110)는 제2 제어신호(b)를 이용하여 제9 내지 제16 소스 앰프와 제25 내지 제32 소스 앰프를 온 구동시킨다(S150). 이전에 온 구동상태였던 제1 내지 제8 소스 앰프와 제17 내지 제24 소스 앰프는 반대로 오프 상태가 된다. 동시에 DDI 제어부(110)는 현재 온 구동상태인 소스 앰프의 출력단에 있는 MUX(130)의 스위칭 소자들을 순차적으로 제어하여 테스트 경로를 설정한다(S160).

제1 내지 제4 측정 유닛(310, 320, 330, 340)이 프로브 테스트를 실시한다(S170). 프로브 테스트 방법은 제1 내지 제4 측정 유닛(310, 320, 330, 340)이 현재 온 구동상태인 제3, 제4, 제7 및 제8 채널 블록(230, 240, 270, 280)의 각 소스 채널들을 대상으로 순차적으로 진행하게 된다.

구체적으로 제1 측정 유닛(310)이 제3 채널 블록(230)의 제9 소스 채널에 대해 제3 테스트 패드(232)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제2 측정 유닛(320)이 제4 채널 블록(240)의 제13 소스 채널에 대해 제4 테스트 패드(242)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제3 측정 유닛(330)이 제7 채널 블록(270)의 제25 소스 채널에 대해 제7 테스트 패드(272)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제4 측정 유닛(340)이 제8 채널 블록(280)의 제29 소스 채널에 대해 제8 테스트 패드(282)를 통한 프로브 테스트를 실시한다.

온 구동 상태의 제3, 제4, 제7 및 제8 채널 블록(230, 240, 270, 280)의 첫 번째 채널에 대한 프로브 테스트가 완료되면 두 번째 채널에 대한 프로브 테스트가 실시된다. 즉 제1 측정 유닛(310)이 제3 채널 블록(230)의 제10 소스 채널에 대해 제3 테스트 패드(232)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제2 측정 유닛(320)이 제4 채널 블록(240)의 제14 소스 채널에 대해 제4 테스트 패드(242)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제3 측정 유닛(330)이 제7 채널 블록(270)의 제26 소스 채널에 대해 제7 테스트 패드(272)를 통한 프로브 테스트를 실시하고, 제4 측정 유닛(340)이 제8 채널 블록(280)의 제30 소스 채널에 대해 제8 테스트 패드(282)를 통한 프로브 테스트를 실시한다.

상기한 프로브 테스트는 제4 측정 유닛(340)이 제8 채널 블록(280)의 제32 소스 채널에 대해 제8 테스트 패드(282)를 통한 프로브 테스트를 실시할 때까지 계속 반복되어 실시될 것이다.

그리고 DDI 제어부(110)는 현재 온 구동 상태의 제3, 제4, 제7 및 제8 채널 블록(230, 240, 270, 280)에 대한 프로브 테스트가 완료되면(S180), 모든 채널에 대한 프로브 테스트가 끝난 것으로 판단한다(S190).

도 3은 본 발명의 프로브 테스트 수행 시의 타이밍도이다.

타이밍도의 'Ⅰ'영역을 보면 제1 제어신호(a, AMP_on_A)에 의해 제1 내지 제8 소스 앰프, 제17 내지 제24 소스 앰프가 온 상태이고, 제2 제어신호(b, AMP_on_B)에 의해 제9 내지 제16 소스 앰프, 제25 내지 제32 소스 앰프가 오프 상태가 된다.

온 상태인 소스 앰프를 포함한 제1 내지 제4 소스 채널은 제1 테스트 패드(212)를 통한 프로브 테스트가 진행되고, 제5 내지 제8 소스 채널은 제2 테스트 패드(222)를 통한 프로브 테스트가 진행된다. 이때 제3 채널 블록과(230) 제4 채널 블록(240)은 오프 상태이기 때문에 제3 테스트 패드(232)와 제4 테스트 패드(242)는 플로팅(floating) 상태를 가진다. 그리고 제1 내지 제4 소스 채널의 프로브 테스트는 제1 측정 유닛(310)이 실시하고, 제5 내지 제8 소스 채널의 프로브 테스트는 제2 측정 유닛(320)이 실시한다.

마찬가지로, 온 상태인 소스 앰프를 포함한 제17 내지 제20 채널은 제5 테스트 패드(252)를 통한 프로브 테스트가 진행되고, 제21 내지 제24 채널은 제6 테스트 패드(262)를 통한 프로브 테스트가 진행된다. 이때 제7 채널 블록(270)과 제8 채널 블록(280)은 오프 상태이기 때문에 제7 테스트 패드(272)와 제8 테스트 패드(282)는 플로팅(floating) 상태를 가진다. 그리고 제17 내지 제20 채널의 프로브 테스트는 제3 측정 유닛(330)이 실시하고, 제21 내지 제24 채널의 프로브 테스트는 제4 측정 유닛(340)이 실시한다.

타이밍도의 'Ⅱ'영역을 보면 제1 제어신호(a, AMP_on_A)에 의해 제1 내지 제8 소스 앰프, 제17 내지 제24 소스 앰프가 오프 상태이고, 제2 제어신호(b, AMP_on_B)에 의해 제9 내지 제16 소스 앰프, 제25 내지 제32 소스 앰프가 온 상태가 된다.

온 상태인 소스 앰프를 포함한 제9 내지 제12 소스 채널은 제3 테스트 패드(232)를 통한 프로브 테스트가 진행되고, 제13 내지 제16 소스 채널은 제4 테스트 패드(242)를 통한 프로브 테스트가 진행된다. 이때 제1 채널 블록(210)과 제2 채널 블록(220)은 오프 상태이기 때문에 제1 테스트 패드(212)와 제2 테스트 패드(222)는 플로팅(floating) 상태를 가진다. 그리고 제9 내지 제12 소스 채널의 프로브 테스트는 제1 측정 유닛(310)이 실시하고, 제13 내지 제16 소스 채널의 프로브 테스트는 제2 측정 유닛(320)이 실시한다.

마찬가지로, 온 상태인 소스 앰프를 포함한 제25 내지 제28 소스 채널은 제7 테스트 패드(272)를 통한 프로브 테스트가 진행되고, 제29 내지 제32 소스 채널은 제8 테스트 패드(282)를 통한 프로브 테스트가 진행된다. 이때 제5 채널 블록(250)과 제6 채널 블록(260)은 오프 상태이기 때문에 제5 테스트 패드(252)와 제6 테스트 패드(262)는 플로팅(floating) 상태를 가진다. 그리고 제25 내지 제28 소스 채널의 프로브 테스트는 제3 측정 유닛(330)이 실시하고, 제29 내지 제32 소스 채널의 프로브 테스트는 제4 측정 유닛(340)이 실시한다.

이와 같이 각 채널 블록마다 구비된 복수 개의 소스 채널들을 미리 셋팅된 한 소스 채널의 테스트 패드로 테스트 경로를 선택적으로 제공하고 동시에 한 채널 블록의 테스트 패드는 다른 채널 블록의 테스트 패드와 쇼트 연결되게 구성함으로써, 소스 구동 패드에 비해 적은 개수의 측정 유닛이 구비된 테스트 장비로도 프로브 테스트를 수행할 수 있음을 알 수 있다.

도 4 및 도 5는 본 발명의 다른 실시 예에 따른 디스플레이 구동 IC 장치를 나타내고 있는 구성도이다.

도 4는 12:1로 셋팅된 테스트 회로이다. 즉 하나의 측정 유닛이 12개 소스 채널에 대한 프로브 테스트를 수행하는 구성이다. 도 4를 보면, 제1 측정 유닛(410)은 제1 채널 블록, 제3 채널 블록, 제5 채널 블록과 연결되고, 제2 측정 유닛(420)은 제2 채널 블록, 제4 채널 블록, 제6 채널 블록과 연결된 상태이다.

프로브 테스트 방법은, DDI 제어부(110, 도 1 참고)가 제1 채널 블록과 제2 채널 블록을 온 구동시키면, 제1 측정 유닛(410)은 제1 채널 블록의 소스 채널들에 대해 순서대로 프로브 테스트를 수행하고, 제2 측정 유닛(420)은 제2 채널 블록의 소스 채널들에 대해 순서대로 프로브 테스트를 수행한다.

제1 채널 블록과 제2 채널 블록의 모든 소스 채널들에 대한 프로브 테스트가 완료되면, 다음에는 제3 채널 블록과 제4 채널 블록만을 온 구동시킨다. 그리고 제3 채널 블록과 제4 채널 블록의 채널들에 대해 제1 측정 유닛(410)과 제2 측정 유닛(420)이 동작하면서 프로브 테스트를 수행한다.

제3 채널 블록과 제4 채널 블록의 모든 소스 채널들에 대한 프로브 테스트가 완료되면, 다음에는 제5 채널 블록과 제6 채널 블록만을 온 구동시킨다. 이후 제5 채널 블록과 제6 채널 블록의 채널들에 대해 제1 측정 유닛(410)과 제2 측정 유닛(420)이 동작하면서 프로브 테스트를 수행한다.

도 5는 16:1로 셋팅된 테스트 회로이다. 도 5의 테스트 회로는 도 1 및 도 4와 비교하면 하나의 측정 유닛(510, 520)이 16개 소스 채널에 대한 프로브 테스트를 수행하도록 구성되는 것만 상이할 뿐, 도 1 및 도 4에서 설명하고 있는 프로브 테스트 방법과 동일하게 진행된다. 따라서 도 5의 프로브 테스트 방법에 대한 설명은 생략하기로 한다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 적은 개수의 측정 유닛이 구비된 테스트 장비로도 디스플레이 패널에 대한 프로브 테스트를 진행할 수 있음을 알 수 있다.

이상과 같이 본 발명의 도시된 실시 예를 참고하여 설명하고 있으나, 이는 예시적인 것들에 불과하며, 본 발명이 속하는 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 요지 및 범위에 벗어나지 않으면서도 다양한 변형, 변경 및 균등한 타 실시 예들이 가능하다는 것을 명백하게 알 수 있을 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 청구범위의 기술적인 사상에 의해 정해져야 할 것이다.

100: 디스플레이 구동 IC 장치
110: DDI 제어부
120: 소스 앰프
130: 멀티플렉서(MUX)
140: 소스 구동 패드
210, 220, 230, 240, 250, 260, 270, 280: 제1 내지 제8 채널 블록
212, 222, 232, 242, 252, 262, 272, 282: 제1 내지 제8 테스트 패드
310, 320, 330, 340: 테스트 장비의 제1 내지 제4 측정 유닛

Claims

M개의 소스 앰프를 각각 구비하는 제1 내지 제N 채널 블록;
상기 소스 앰프마다 연결되는 소스 구동 패드;
상기 제1 내지 제N 채널 블록마다 복수 개의 소스 앰프 들을 상기 소스 구동 패드 중 선택된 하나의 테스트 패드를 통해 프로브 테스트가 진행되도록 테스트 경로를 선택적으로 제공하거나 상기 소스 앰프의 데이터 출력을 교번하여 출력하는 멀티플렉서(Multiplexer); 및
상기 소스 앰프 및 멀티플렉서의 구동을 제어하는 제어부를 포함하여 구성되는, 디스플레이 구동 IC 장치.
제1항에 있어서,
상기 테스트 패드는,
상기 제1 내지 제N 채널 블록들 중 서로 인접한 홀수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 상기 디스플레이 구동 IC 장치 외부에서 쇼트(short)되고,
서로 인접한 짝수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 상기 디스플레이 구동 IC 장치 외부에서 쇼트(short)되는, 디스플레이 구동 IC 장치.
제2항에 있어서,
상기 M개는 4개이고,
테스트 모드인 경우, 상기 테스트 패드는 3번째 소스 앰프와 연결된 소스 구동 패드인,
디스플레이 구동 IC 장치.
제3항에 있어서,
상기 멀티플렉서의 제어에 의해 상기 제1 내지 제N 채널 블록의 각각의 소스 앰프가 순차적으로 상기 테스트 패드와 연결되어 프로브 테스트를 수행하는,
디스플레이 구동 IC 장치.
제4항에 있어서,
상기 테스트 패드는 테스트 장비의 측정 유닛과 각각 컨택되는, 디스플레이 구동 IC 장치.
제5항에 있어서,
상기 쇼트 연결된 한 쌍의 채널 블록 중 하나의 채널 블록이 테스트 가능한 온(ON) 상태이고,
다른 하나의 채널 블록이 테스트 대기하는 오프(OFF) 상태인, 디스플레이 구동 IC 장치.
제6항에 있어서,
상기 쇼트 연결된 한 쌍의 채널 블록 중 하나의 채널 블록에 구비된 소스 채널에 대한 테스트가 완료된 다음에 다른 하나의 채널 블록에 구비된 소스 채널에 대한 테스트가 진행되는, 디스플레이 구동 IC 장치.
제1항에 있어서,
상기 M개는 4개이고,
일반 모드인 경우, 상기 소스 앰프는 서로 인접한 홀수 번째 소스 구동 패드끼리 데이터 출력을 교번하는,
디스플레이 구동 IC 장치.
제1항에 있어서,
상기 테스트가 진행되는 채널 블록의 소스 앰프는 온(ON) 구동상태이고,
미 테스트 대상인 다른 채널 블록의 소스 채널에 연결된 테스트 패드는 플로팅(floating) 상태를 유지하는, 디스플레이 구동 IC 장치.
제1항에 있어서,
상기 제어부는, 채널 블록이 온(ON) 상태이면 소스 채널들이 상기 테스트 패드와 연결되도록 상기 멀티플렉서의 구동을 제어하는, 디스플레이 구동 IC 장치.
제1 내지 제N 채널 블록들 중 서로 인접한 홀수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 외부에서 쇼트(short)시키고, 서로 인접한 짝수 번째 채널 블록의 테스트 패드끼리 외부에서 쇼트(short)시키는 단계;
상기 쇼트 된 한 쌍의 채널 블록 중, 어느 하나의 각 채널 블록을 온(ON) 구동하는 단계; 및
테스트 장비의 각 측정 유닛이 온(ON) 구동된 채널 블록들의 소스 채널들을 해당 채널 블록에 있는 하나의 테스트 패드를 이용하여 순서대로 테스트하는 단계를 포함하여 수행하는, 프로브 테스트 방법.
제11항에 있어서,
상기 쇼트 된 한 쌍의 채널 블록 중, 다른 하나의 각 채널 블록에 포함된 테스트 패드를 플로팅(floating) 시키는, 프로브 테스트 방법.
제11항에 있어서,
상기 온(ON) 구동된 채널 블록들의 소스 채널들에 대한 테스트가 완료되면, 상기 플로팅 상태의 테스트 패드를 포함한 채널 블록들을 온 구동시킨 다음 각 채널 블록의 소스 채널들을 해당 채널 블록에 있는 하나의 테스트 패드를 이용하여 순서대로 테스트하는 단계를 더 포함하는, 프로브 테스트 방법.
제11항에 있어서,
상기 테스트하는 단계는,
각 채널 블록의 멀티플렉서를 스위칭 구동시켜 하나의 테스트 패드와 상기 각 채널 블록에 포함된 소스 앰프를 순서대로 연결하면서 상기 테스트 패드에 연결된 측정 유닛이 테스트를 수행하는, 프로브 테스트 방법.
제1 측정 유닛이 제1 채널 블록 및 제3 채널 블록과 연결되고, 제2 측정 유닛이 제2 채널 블록 및 제4 채널 블록과 연결되고, 제3 측정 유닛이 제5 채널 블록 및 제7 채널 블록과 연결되고, 제4 측정 유닛이 제6 채널 블록 및 제8 채널 블록과 연결된 상태에서,
상기 제1 내지 제4 측정 유닛이 상기 제1 채널 블록, 제2 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제6 채널 블록 각각에 구비된 소스 채널들을 첫 번째 소스 채널부터 순서대로 프로브 테스트하는 제1 테스트 과정을 수행하는, 프로브 테스트 방법.
제15항에 있어서,
상기 제1 테스트 과정이 완료되면, 상기 제1 내지 제4 측정 유닛이 상기 제3 채널 블록, 제4 채널 블록, 제7 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각에 구비된 소스 채널들을 첫 번째 소스 채널부터 순서대로 프로브 테스트하는 제2 테스트 과정을 더 수행하는, 프로브 테스트 방법.
제15항에 있어서,
상기 제1 내지 제8 채널 블록마다 하나의 테스트 패드가 구비되고,
상기 제1 채널 블록 및 제3 채널 블록, 상기 제2 채널 블록 및 제4 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제7 채널 블록, 제6 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각의 테스트 패드는 외부에서 쇼트 연결되는, 프로브 테스트 방법.
제16항에 있어서,
상기 제1 테스트 과정 및 제2 테스트 과정은,
각 채널 블록마다 구비된 멀티플렉서의 스위칭 구동에 따라 테스트 패드와 소스 앰프를 순서대로 연결하면서 수행되는, 프로브 테스트 방법.
제15항에 있어서,
상기 제1 채널 블록, 제2 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제6 채널 블록 각각의 소스 앰프가 온(ON) 구동 상태일 때, 제3 채널 블록, 제4 채널 블록, 제7 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각의 소스 앰프는 오프(OFF) 구동인, 프로브 테스트 방법.
제15항에 있어서,
상기 제3 채널 블록, 제4 채널 블록, 제7 채널 블록 및 제8 채널 블록 각각의 소스 앰프가 온(ON) 구동 상태일 때, 상기 제1 채널 블록, 제2 채널 블록, 제5 채널 블록 및 제6 채널 블록 각각의 소스 앰프는 오프(OFF) 구동 상태인, 프로브 테스트 방법.