KR20240045515A - 번인 소켓 - Google Patents

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KR20240045515A
KR20240045515A KR1020220124920A KR20220124920A KR20240045515A KR 20240045515 A KR20240045515 A KR 20240045515A KR 1020220124920 A KR1020220124920 A KR 1020220124920A KR 20220124920 A KR20220124920 A KR 20220124920A KR 20240045515 A KR20240045515 A KR 20240045515A
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Abstract

본 발명은 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하지 않고도 다른 크기의 피검사 디바이스를 번인 테스트할 수 있는 번인 소켓을 제공하기 위한 것이다. 본 발명에 따른 번인 소켓은, 복수의 정렬 홀을 구비하는 테스트 보드의 상측에 배치되되, 모서리마다 체결부를 가지는 사각 프레임 형상으로, 내부 중앙에는 피검사 디바이스가 삽입될 수 있는 디바이스 안착부를 구비하고, 하측에는 정렬 홀을 관통하는 정렬돌기가 결합되며, 정렬돌기에 체결되는 체결부재에 의해 테스트 보드에 고정되는 디바이스 가이드와, 디바이스 가이드에 탄성 지지되어 상하 이동가능한 커버 및 디바이스 가이드와 커버에 힌지 연결되고, 커버의 이동에 따라 피검사 디바이스를 테스트 보드에 고정하거나 해제하는 한 쌍의 래치장치를 포함하고, 디바이스 가이드의 양측 체결부들 사이에 대칭적으로 배치되되, 디바이스 가이드에 이동 가능하게 결합하여, 디바이스 안착부의 크기를 조절할 수 있는 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단을 구비한다.

Description

번인 소켓{BURN-IN SOCKET}
본 발명은 번인 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스를 테스트 보드에 전기적으로 접속시켜 피검사 디바이스의 번인 테스트를 위한 번인 소켓에 관한 것이다.
일반적으로, 반도체 패키지 제조 공정에 의해 제조된 반도체 패키지는 제조된 이후에 제품의 신뢰성을 확인하기 위하여 각종 테스트를 하게 된다.
테스트는 반도체 패키지의 모든 입출력 단자를 검사 신호 발생 회로와 연결하여 정상적인 동작 및 단선 여부를 검사하는 전기적 특성 테스트와 반도체 패키지의 전원 입력 단자 등 몇몇 입출력 단자들을 검사 신호 발생 회로와 연결하여 정상 동작 조건보다 높은 온도, 전압 및 전류 등으로 스트레스를 인가하여 반도체 패키지의 수명 및 결함 발생 여부를 검사하는 번인 테스트(Burn-In Test)가 있다.
이러한 번인 테스트(Burn-In Test)는 번인 시스템(Burn-In System)에 의하여 이루어지게 되는 것으로서, 번인 테스트 단계는 고온에서 어떤 특정 길이의 시간(예를 들면 83℃, 63시간) 동안 반도체 소자의 회로를 동작시켜 초기 수명 혹은 초기 고장이 의심되는 부품의 검사단계를 말하는 것이다.
번인 테스트는 극한 조건에서의 테스트를 통해 불량 가능성을 검사하는 공정으로, 번인 테스트의 환경 특성상 장비의 진동 등 외부 환경이 테스트에 큰 영향을 줄 수 있으므로, 번인 테스트에서 번인 소켓은 테스트 보드와 볼트, 와셔, 너트 등에 의해 서로 단단히 조립되어 사용되어야 한다.
도 1은 종래 기술에 따른 번인 소켓(30)이 테스트 보드(20)에 장착된 테스트 장치(1000)를 도시하고 있고, 도 2는 종래의 테스트 장치에서 피검사 디바이스의 크기가 변경되었을 때 번인 소켓을 교체하는 것을 도시하고 있다.
도 1에 도시된 것과 같이, 번인 소켓(30)은 피검사 디바이스(10)가 안착되는 디바이스 가이드(31), 커버(33), 래치장치(35)를 포함하여 구성되고, 번인 테스트를 위해 번인 소켓은 테스트 보드(20)에 체결부재(40)를 이용하여 단단히 결합되어 사용된다.
그런데 종래의 번인 소켓의 디바이스 가이드는 피검사 디바이스의 크기에 따른 전용 타입으로 구성된다. 따라서 피검사 디바이스의 크기가 변경되면 해당 크기에 대응하는 디바이스 가이드를 가지는 번인 소켓으로 교체하여 사용하는 것이 일반적이었다.
따라서 피검사 디바이스(10)의 크기가 변경되면, 도 2에 도시된 것과 같이, 와셔(41), 너트(42) 등으로 이루어진 체결부재(40)를 모두 풀어 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리한 후, 피검사 디바이스의 크기에 대응하는 디바이스 가이드를 갖는 번인 소켓으로 교체한 다음, 교체한 번인 소켓과 테스트 보드를 다시 와셔, 너트 등을 이용하여 재조립해야 하므로 교체시간이 상당히 오래 걸리는 문제가 있었다.
또한 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하고 조립하는 과정에서 먼지 등이 유입되고, 조립시 조립 불량 등이 발생하여 테스트의 안정성과 신뢰성이 저하되는 문제가 있었다.
또한 피검사 디바이스 크기에 따른 디바이스 가이드를 신규로 제작해야 함에 따라 디바이스 가이드의 제작에 따른 비용과 시간이 추가로 발생하는 문제가 있었다.
등록특허 제1032648호 (2011. 05. 06) 공개특허 제2016-0118796호 (2016. 10. 12)
본 발명은 상술한 바와 같은 점을 감안하여 안출된 것으로, 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하지 않고도 다른 크기의 피검사 디바이스를 번인 테스트할 수 있는 번인 소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상술한 바와 같은 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 번인 소켓은, 피검사 디바이스의 번인 테스트를 위한 번인 소켓(burn-in socket)에 있어서, 복수의 정렬 홀을 구비하는 테스트 보드의 상측에 배치되되, 모서리마다 체결부를 가지는 사각 프레임 형상으로, 내부 중앙에는 상기 피검사 디바이스가 삽입될 수 있는 디바이스 안착부를 구비하고, 하측에는 상기 정렬 홀을 관통하는 정렬돌기가 결합되며, 상기 정렬돌기에 체결되는 체결부재에 의해 상기 테스트 보드에 고정되는 디바이스 가이드; 상기 디바이스 가이드에 탄성 지지되어 상하 이동가능한 커버; 및 상기 디바이스 가이드와 상기 커버에 힌지 연결되고, 상기 커버의 이동에 따라 상기 디바이스 안착부에 안착된 상기 피검사 디바이스를 상기 테스트 보드에 고정하거나 해제하는 한 쌍의 래치장치;를 포함하고, 상기 디바이스 가이드의 상기 양측 체결부들 사이에 대칭적으로 배치되되, 상기 디바이스 가이드에 이동 가능하게 결합하여, 상기 디바이스 안착부의 크기를 조절할 수 있는 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단을 구비할 수 있다.
상기 포켓 사이즈 조절수단은, 상기 체결부에 형성된 복수의 체결슬롯과, 상기 체결슬롯에 마주하는 방향으로 형성된 복수의 조절슬롯과, 측면을 관통하는 장홈이 형성된 슬라이더 몸체와, 두 개의 슬롯심을 포함하여 구성되어, 상기 각각의 슬롯심이 서로 마주하는 조절슬롯과 체결슬롯에 끼워지는 것에 의해 상기 슬라이더 몸체가 상기 디바이스 가이드에 고정될 수 있다.
상기 조절슬롯과 상기 체결슬롯은 같은 높이에 위치할 수 있다.
상기 조절슬롯 사이의 간격은 상기 체결슬롯 사이의 간격보다 큰 것일 수 있다.
상기 디바이스 가이드에는 양측 체결부들 사이를 연결하는 샤프트를 구비하고, 상기 샤프트가 상기 슬라이더 몸체의 장홈에 삽입될 수 있다.
상기 슬라이더 몸체에는 링크아암 삽입부가 형성되고, 상기 래치장치는, 래치헤드와, 일측은 상기 링크아암 삽입부를 통해 상기 샤프트에 힌지 연결되고, 타측은 상기 래치헤드에 힌지 연결되는 링크아암을 포함할 수 있다.
상기 커버에는 하면 가장자리에서 하측으로 돌출하는 한 쌍의 작동아암을 포함하고, 상기 한 쌍의 작동아암이 상기 래치헤드의 양측에 돌출 형성된 레버돌기에 결합하게 할 수 있다.
상기 디바이스 가이드의 다른 양측 체결부들 사이에 대칭적으로 배치되는 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단을 더 구비할 수 있다.
본 발명에 따른 번인 소켓은, 번인 소켓의 디바이스 가이드에 디바이스 안착부의 크기를 조절할 수 있는 포켓 사이즈 조절수단을 구비함으로써, 피검사 디바이스의 크기가 달라지더라도 디바이스 가이드 내에 수용 가능하므로, 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하지 않고도 크기가 다른 피검사 디바이스에 대한 번인 테스트를 수행할 수 있다.
또한 본 발명에 따른 번인 소켓은, 번인 소켓의 디바이스 가이드를 피검사 디바이스의 크기에 따른 전용 타입으로 구성할 필요가 없으므로, 디바이스 가이드의 신규 제작에 따른 금형 비용 등 투자비용과 테스트 기간이 추가로 발생하지 않은 장점이 있다.
또한 본 발명에 따른 번인 소켓은, 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하는데 따른 작업자의 공력을 줄이고, 테스트 셋업 시간을 단축하여 생산성이 향상될 수 있다.
또한 본 발명에 따른 번인 소켓은, 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하지 않으므로 먼지 등의 유입되지 않고, 재조립시 발생할 수 있는 조립 불량 등이 원천적으로 차단되므로, 안정성과 신뢰성이 있는 번인 테스트가 가능한 장점이 있다.
도 1은 종래의 번인 소켓이 테스트 보드에 장착된 테스트 장치를 나타낸 것이다.
도 2는 종래의 테스트 장치에서 피검사 디바이스의 크기가 변경되었을 때 번인 소켓을 교체하는 것을 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소켓이 테스트 보드에 장착된 테스트 장치를 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 장치의 분해 사시도이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 디바이스 가이드의 사시도이다.
도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 커버의 사시도이다.
도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 슬라이더 몸체의 사시도이다.
도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 슬롯심의 사시도이다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소켓의 사시도이다.
도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 포켓 사이즈 조절수단이 작동하는 것을 설명하기 위한 평면도이다.
이하, 본 발명에 따른 번인 소켓을 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 상세한 설명에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
본 명세서에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다.
본 명세서에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
또한, 각 도면을 참조하여 설명하는 실시예의 구성 요소가 해당 실시예에만 제한적으로 적용되는 것은 아니며, 본 발명의 기술적 사상이 유지되는 범위 내에서 다른 실시예에 포함되도록 구현될 수 있으며, 또한 별도의 설명이 생략될지라도 복수의 실시예가 통합된 하나의 실시예로 다시 구현될 수도 있음은 당연하다.
또한, 첨부 도면을 참조하여 설명함에 있어, 도면 부호에 관계없이 동일한 구성 요소는 동일하거나 관련된 참조 부호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다. 본 발명을 설명함에 있어서 관련된 공지 기술에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소켓이 테스트 보드에 장착된 테스트 장치(2000)를 나타낸 것이고, 도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 테스트 장치의 분해 사시도이며, 도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 디바이스 가이드의 사시도이고, 도 6은 본 발명의 일실시예에 따른 커버의 사시도이며, 도 7은 본 발명의 일실시예에 따른 슬라이더 몸체의 사시도이고, 도 8은 본 발명의 일실시예에 따른 슬롯심의 사시도이며, 도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소켓의 사시도이고, 도 10은 본 발명의 일실시예에 따른 사이즈 조절수단이 작동하는 것을 설명하기 위한 평면도이다.
이하에서 전후, 좌우, 상하 방향은 각각 도 3의 X축, Y축, Z축을 기준으로 설명한다.
도면에 나타낸 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 번인 소켓(300)은 피검사 디바이스의 번인 테스트를 위한 것으로, 피검사 디바이스(10)에 전기적 신호를 인가하며, 복수의 정렬 홀(22)을 구비하는 테스트 보드(20)의 상측에 배치되되, 모서리마다 체결부(311)를 가지는 사각 프레임 형상으로, 내부 중앙에는 피검사 디바이스가 삽입될 수 있는 디바이스 안착부(380)를 구비하고, 하측에는 정렬 홀을 관통하는 정렬돌기(320)가 결합되며, 상기 정렬돌기에 체결되는 체결부재(40)에 의해 상기 테스트 보드(20)에 고정되는 디바이스 가이드(310)와, 디바이스 가이드에 탄성 지지되어 상하 이동가능한 커버(330) 및 디바이스 가이드와 커버에 힌지 연결되고, 커버의 이동에 따라 디바이스 안착부에 안착된 피검사 디바이스를 테스트 보드에 고정하거나 해제하는 한 쌍의 래치장치(350)를 포함하고, 디바이스 가이드의 양측 체결부들 사이에 대칭적으로 배치되되, 디바이스 가이드에 이동 가능하게 결합하여, 디바이스 안착부의 크기를 조절할 수 있는 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단(A)을 구비한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 일실시예에 따른 번인 소켓(300)은 피검사 디바이스(10)를 그 내부에 수용하여 테스트 보드(20)에 위치시키는 것에 의해 테스트 보드(20)와 피검사 디바이스(10)를 서로 전기적으로 접속시킨다. 따라서 피검사 디바이스의 번인 테스트가 번인 소켓을 매개로 테스트 보드에 의해 수행된다.
테스트 보드(20)는 피검사 디바이스(10)에 테스트를 위한 전기적 신호를 출력하고, 응답 신호를 수신할 수 있는 다수의 패드(21)를 가질 수 있다. 피검사 디바이스(10)의 단자(미도시)는 번인 소켓을 통해 대응하는 테스트 보드의 패드(21)와 전기적으로 접속된다. 또한 테스트 보드(20)는 가장자리에는 상하 방향으로 관통하는 복수의 정렬 홀(22)을 구비한다.
도 5에 도시된 것과 같이, 디바이스 가이드(310)는 테스트 보드(20)의 상측에 배치되고, 피검사 디바이스(10)가 내부에 삽입되는 것이다. 이러한 디바이스 가이드(310)는 모서리마다 체결부(311)를 가지는 사각 프레임 형상으로 형성되고, 내부 중앙에는 피검사 디바이스(10)가 삽입될 수 있는 디바이스 안착부(380)를 구비하고 있다.
디바이스 가이드(310)에는 디바이스 가이드(310)를 상하방향으로 관통하는 개구(319)가 형성되고, 디바이스 안착부(380)는 상기 개구의 중앙 부분에 위치한다. 디바이스 안착부(380)는 디바이스 가이드의 내부에서 후술하는 포켓 사이즈 조절수단(A)과 디바이스 가이드에 의해 정해지는 영역으로 피검사 디바이스가 안착되는 영역을 가리킨다.
디바이스 가이드(310)의 각각의 체결부(311)에는 체결슬롯(312)과, 스프링 결합홈(313) 및 샤프트 홀(314)이 형성된다. 스프링 결합홈(313)은 체결부 상측에 형성되고, 스프링(340)이 결합된다.
좌측에 있는 두 개의 체결부와 우측에 있는 두 개의 체결부에는 서로 마주보는 대칭적인 위치에 복수의 체결슬롯(312)과 샤프트 홀(314)이 각각 형성되어 있다. 체결슬롯(312)은 체결부(311)의 상면과 내측면의 일부를 절개하여 형성되고, 샤프트 홀(314)은 체결부(311)의 하측에 형성되며, 샤프트(315)가 좌측에 있는 두 개의 체결부와 우측에 있는 두 개의 체결부에 형성된 샤프트 홀(314)에 삽입됨으로써 두개의 체결부 사이를 각각 연결한다.
또한 디바이스 가이드(310)의 좌측면과 우측면에는 각각 두 개의 고정 홀(316)이 형성된다. 상기 고정 홀(316)은 후술하는 슬라이더 몸체(360)의 고정돌기(365)가 이동 가능하게 삽입될 수 있다.
디바이스 가이드(310)의 X축 방향에서 대향하는 측면에는 한 쌍의 슬라이드 레일(317)이 형성되어 있다. 슬라이드 레일(317)은 디바이스 가이드(310)의 내측으로 오목한 형상이고, 후술하는 커버(330)의 슬라이더 아암(332)이 슬라이드 레일(317)에 슬라이드 가능하게 삽입된다. 슬라이드 레일(317)의 상단에는 스토퍼(318)가 외측으로 돌출 형성되어 있어 커버(330)가 디바이스 가이드(310)로부터 상방으로 분리되는 것을 방지한다.
이러한 디바이스 가이드(310)의 하측에는 테스트 보드(20)의 정렬 홀(22)을 관통하는 정렬돌기(320)가 결합되어 있다. 디바이스 가이드에 결합된 정렬돌기(320)가 테스트 보드의 정렬 홀(22)을 관통하는 것에 의해 디바이스 가이드(310)와 테스트 보드(20)가 위치 정렬되어 디바이스 가이드에 삽입되는 피검사 디바이스의 단자와 이에 대응하는 테스트 보드의 패드(21)가 정확하게 정렬될 수 있다.
도 4에 도시된 것과 같이, 체결부재(40)는 테스트 보드(20)의 정렬 홀(22)을 관통하는 정렬돌기(320)에 체결되어 테스트 보드(20)와 디바이스 가이드(310)를 단단히 고정하는 기능을 수행한다. 체결부재는 와셔(41), 너트(42), 기타 다른 체결수단으로 이루어질 수 있다.
도 6에 도시된 것과 같이, 커버(330)는 번인 소켓의 상부분을 구성하는 것으로, 디바이스 가이드(310)에 탄성 지지되어 상하 이동 가능하게 배치된다.
커버(330)는 전체적으로 사각형을 갖는 커버 바디(331)와, 상기 커버 바디(331)의 내측에 형성되고 상하로 관통되어 있는 디바이스 투입구(335)를 구비한다. 래치장치(350)가 해제되었을 때 디바이스 투입구(335)를 통해 디바이스 가이드(310)의 디바이스 안착부(380)가 상방향으로 노출될 수 있으며, 디바이스 안착부(380) 상에 피검사 디바이스(10)가 투입될 수 있다.
커버 바디(331)의 X축 방향에서 대향하는 측면에는 하방향으로 돌출된 한 쌍의 슬라이더 아암(332)이 형성되어 있다. 슬라이더 아암(332)은 디바이스 가이드(310)의 슬라이드 레일(317) 내에 위치할 수 있다. 따라서 커버(330)가 상하로 이동할 때 슬라이더 아암(332)과 슬라이드 레일(317)에 의해 상하 이동이 안정적으로 안내될 수 있다.
커버 바디(331)의 Y축 방향에서 대향하는 각 하단의 가장자리에는 하방향으로 돌출하는 양측에 각각 한 쌍의 작동아암(334)이 형성되어 있다. 작동아암(334)은 커버 바디(331)의 내측을 향하여 절곡된 형상이고, 하단에는 래치장치(350)의 레버돌기(355)가 삽입되는 레버돌기 홈(333)이 형성되어 있다. 따라서 래치장치(350)가 커버(330)에 힌지 연결된다.
커버(330)는 디바이스 가이드(310)에 결합된 탄성수단에 탄성 지지되어 있을 수 있다. 탄성수단에 의해 외력이 가해지지 않은 상태에서 커버(330)는 항상 상방향으로 탄성 바이어스되도록 구성할 수 있다. 커버(330)가 상방향으로 위치함에 따라 래치장치(350)는 피검사 디바이스(10)를 테스트 보드(20)를 향해 누르게 되므로, 탄성수단은 커버(330)를 상시 상방으로 바이어스하여 래치장치(350)에 피검사 디바이스(10)를 누르는 힘을 상시 인가할 수 있다.
탄성수단은 스프링(340)을 포함할 수 있다. 스프링(340)은 디바이스 가이드(310)의 4개의 코너에 위치하는 스프링 결합홈(313)과 이에 대응하는 커버(330)의 4개의 코너에 위치하는 스프링 결합홈(미도시)에 결합하여 수직 방향으로 배치될 수 있다.
도 4에 도시된 것과 같이, 래치장치(350)는 상기 디바이스 가이드(310)와 커버(330)에 힌지 연결되고, 상기 커버(330)의 이동에 따라 상기 디바이스 안착부에 안착된 피검사 디바이스(10)를 테스트 보드(20)에 고정하거나 해제하는 것이다.
래치장치(350)는 커버(330)의 이동에 따라서, 작동아암(334)이 하방향으로 래치장치(350)를 밀면 래치장치(350)가 개방되어 디바이스 안착부(380)에 안착된 피검사 디바이스(10)가 테스트 보드(20)를 누르는 것을 해제하고, 작동아암(334)이 상방향으로 래치장치(350)를 끌어당기면 래치장치(350)가 폐쇄되어 디바이스 안착부(380)에 안착된 피검사 디바이스(10)가 테스트 보드(20)를 눌러 고정하도록 구성된다. 일 실시예에서 번인 소켓(300)은 두개의 래치장치(350)를 구비하며, 각 래치장치(350)는 서로 대칭적인 위치에 배치된다.
래치장치(350)는 래치헤드(351)와, 두 개의 링크아암(352)과, 래치핀(353)을 포함하여 구성된다.
래치헤드(351)는 피검사 디바이스(10)를 눌러 테스트 보드(20)에 고정하거나, 해제하는 것으로, 래치헤드(351)에는 레버돌기(355)와 래치핀 삽입홈(354)을 구비한다. 레버돌기(355)는 래치헤드의 후단 양측에 돌출 형성되어, 커버(330)의 작동아암(334)에 마련된 레버돌기 홈(333)에 각각 결합된다. 따라서 래치장치(350)는 커버(330)에 힌지 연결된다.
각각의 링크아암(352)에는 상측과 하측에 아암구멍을 구비한다. 두개의 링크아암(352)의 상측 아암구멍에는 래치핀(353)이 삽입되고, 래치핀(353)은 래치헤드(351)에 형성된 래치핀 삽입홈(354)에 삽입된다. 따라서 링크아암(352)과 래치헤드(351)가 연결되어 래치장치(350)가 구성된다. 두개의 링크아암(352)의 하측 아암구멍에는 디바이스 가이드(310)에 결합되어 있는 샤프트(315)가 삽입되어 있으므로, 래치장치(350)는 샤프트(315)를 중심으로 하여 회동할 수 있다. 따라서 래치장치(350)는 디바이스 가이드(310)에도 힌지 연결된다.
도 4 및 도 7에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일실시예에 따른 포켓 사이즈 조절수단(A)은 디바이스 가이드(310)에 이동 가능하게 결합하여, 피검사 디바이스(10)의 크기에 맞춰 디바이스 안착부(380)의 크기를 조절하는 것이다.
본 발명의 일실시예에서 번인 소켓(300)은 두개의 포켓 사이즈 조절수단(A)을 구비하며, 각 포켓 사이즈 조절수단(A)은 디바이스 가이드(310)의 양측 체결부들 사이에 서로 대칭적인 위치에 배치된다.
포켓 사이즈 조절수단(A)은 디바이스 가이드의 체결부(311)에 형성된 복수의 체결슬롯(312)과, 상기 체결슬롯(312)에 마주하는 방향으로 형성된 복수의 조절슬롯(362)과, 측면을 관통하는 장홈(361)을 가지는 슬라이더 몸체(360)와, 두개의 슬롯심(Slot Shim, 370)을 포함하여 구성되고, 각각의 슬롯심(370)이 서로 마주하는 조절슬롯(362)과 체결슬롯(312)에 끼워지는 것에 의해 슬라이더 몸체(360)가 디바이스 가이드(310)에 고정되도록 하는 것이다.
슬라이더 몸체(360)는 대략 'ㄷ'자 형상으로, 상면 양측에는 조절부(364)가 돌출 형성된 형태를 가진다. 슬라이더 몸체(360)의 조절부(364)에는 복수의 조절슬롯(362)이 형성되어 있다. 조절슬롯(362)은 조절부(364)의 상면과 체결부(311)를 마주보는 측면의 일부가 절개되어 형성된다. 또한 슬라이더 몸체(360)에는 슬라이더 몸체(360)의 측면을 관통하는 장홈(361)이 형성되어 있다. 장홈(361)은 좌우방향인 Y축 방향으로 길이가 긴 형상으로, 장홈(361)에는 샤프트(315)가 삽입된다. 따라서 슬라이더 몸체(360)는 샤프트(315)를 중심으로 좌우로 이동할 수 있다.
슬라이더 몸체(360)의 중앙 부분에는 두개의 링크아암(352)이 삽입되는 링크아암 삽입홈(366)가 두개 형성되어 있다. 링크아암 삽입부(366)는 장홈(361)이 통과하는 깊이를 가지도록 형성된다.
슬라이더 몸체(360)의 후면 양측에는 디바이스 가이드(310)의 고정 홀(316)에 삽입되는 고정돌기(365)가 돌출 형성된다. 슬라이더 몸체(360)의 고정돌기(365)가 디바이스 가이드(310)의 고정 홀(316)에 삽입되므로, 슬라이더 몸체(360)는 상하방향 및 전후방향으로의 이동이 제한되고, 좌우방향만 이동이 가능하게 한다.
슬라이더 몸체(360)에는 디바이스 안착부(380)를 향하는 방향으로 가이드면(363)이 형성되어 있다. 피검사 디바이스가 오차를 가지고 접근하더라도 가이드면(363)에 의해 피검사 디바이스가 디바이스 안착부(380)로 정확하게 안착할 수 있다.
슬롯심(Slot Shim, 370)은, 도 8에 도시된 것과 같이, 평판 형태로 이루어져 있으며, 슬라이더 몸체(360)의 상면 일측에 형성된 조절슬롯(362) 중 하나와 이에 대면하는 디바이스 가이드(310)의 체결부에 형성된 체결슬롯(312) 중 하나에 슬롯심(370)이 끼워지고, 다른 일측에도 동일한 방식으로 슬롯심(370)이 끼워짐으로써 슬라이더 몸체(360)가 디바이스 가이드(310)에 고정된다. 이러한 슬롯심(370)은 스테인리스 스틸로 이루어질 수 있으며, 재료비의 절감, 취급의 용이성 등을 위해 관통공이 복수 형성되도록 하는 것도 가능하다.
슬라이더 몸체(360)에 형성되는 조절슬롯(362)과 디바이스 가이드(310)에 형성되는 체결슬롯(312)은 같은 높이에 위치하는 것이 슬롯심(370)이 쉽게 끼워질 수 있으므로 바람직하다.
슬라이더 몸체(360), 래치장치(350), 디바이스 가이드(310) 및 커버(330)는 다음과 같이 결합한다.
래치장치(350)는 두개의 링크아암(352)의 상측 아암구멍에 래치핀(353)이 삽입되고, 래치핀(353)은 래치헤드(351)에 형성된 래치핀 삽입홈(354)에 삽입되어, 링크아암(352)과 래치헤드(351)가 연결되어 이루어진다. 이와 같이 구성된 래치장치(350)의 링크아암(352)의 하측 아암구멍 부분을 슬라이더 몸체(360)의 링크아암 삽입홈(366)에 삽입하고, 샤프트(315)를 슬라이더 몸체(360)의 장홈(361)에 끼워 샤프트(315)가 링크아암(352)의 하측 아암구멍에 끼워지도록 한 후, 샤프트(315)를 디바이스 가이드(310)의 샤프트 홀(314)에 삽입함으로써 슬라이더 몸체(360)와, 래치장치(350)와, 디바이스 가이드(310)가 서로 결합된다. 이 상태에서 커버(330)의 작동아암(334)에 형성된 레버돌기 홈(333)에 래치장치(350)의 레버돌기(355)가 삽입되면 커버(330)와 래치장치(350)가 서로 결합되고, 커버(330)의 슬라이더 아암(332)이 디바이스 가이드(310)의 슬라이드 레일(317) 내에 위치하도록 하고, 스프링(340)이 연결되도록 하면 커버(330)와 디바이스 가이드(310)가 서로에 대해 결합된다. 도 9는 슬라이더 몸체(360), 래치장치(350), 디바이스 가이드(310) 및 커버(330)가 연결된 것을 나타낸 것이다.
이와 같이 구성된 번인 소켓(300)에서 슬라이더 몸체(360)는 장홈(361)을 따라 좌우방향으로 이동할 수 있도록 구성되어 있다. 피검사 디바이스(10)의 좌우방향의 크기에 맞춰 대칭적으로 배치된 두개의 슬라이더 몸체(360)를 서로를 향하거나 멀어지도록 할 수 있다. 예를 들어, 피검사 디바이스(10)의 좌우방향의 크기가 큰 경우 슬라이더 몸체(360)가 서로 멀어지는 방향으로 이동시켜 디바이스 안착부(380)의 크기를 크게 하고, 피검사 디바이스(10)의 좌우방향의 크기가 작은 경우 슬라이더 몸체(360)가 서로를 향하는 방향으로 이동시켜 디바이스 안착부(380)의 크기를 작게 할 수 있다.
이렇게 슬라이더 몸체(360)가 이동된 상태에서 체결슬롯(312)과 조절슬롯(362)에 슬롯심(370)을 끼워 슬라이더 몸체(360)가 디바이스 가이드(310)에 고정되도록 하면, 슬라이더 몸체들(360)과 그 양측에 노출되는 디바이스 가이드(310)의 내면 사이에 피검사 디바이스(10)가 안착되는 디바이스 안착부(380)가 형성된다.
도 10에 도시된 것과 같이, 본 발명의 일실시예에서는 체결슬롯(312)과 조절슬롯(362)이 2개씩 형성된다. 두개의 체결슬롯(312) 사이의 간격(s1)은 두개의 조절슬롯(362) 사이의 간격(s2)보다 좁게 형성할 수 있다. 이와 같이 형성하는 경우 서로 대응하는 측에 있는 체결슬롯(312)과 조절슬롯(362)에 슬롯심(370)을 끼우면 크기가 조절되기 때문에 작업 오류가 발생하지 않은 장점이 있다.
이 실시예에서 조절슬롯(362) 사이의 간격(s2)에서 체결슬롯(312) 사이의 간격(s1)을 뺀 간격(s2-s1)은 슬라이더 몸체(360)가 이동하는 거리에 해당하므로, 좌측과 우측의 두개의 슬라이더 몸체(360)에 의해 's2-s1'의 두배에 해당하는 거리만큼 디바이스 안착부(380)의 크기가 조절될 수 있다.
도 10에서 상측에 도시된 도면은, 예를 들어 피검사 디바이스의 폭이 'a'로 작은 경우 외측에 있는 체결슬롯(312)과 조절슬롯(362)에 슬롯심(370)이 끼워져 디바이스 안착부(380)가 형성된 것을 보여주고 있다.
만일 피검사 디바이스가 'a' 보다 큰 폭인 'b'를 갖는 것으로 디바이스의 사이즈가 변경된 경우에는, 도 10의 하측에 도시된 것과 같이, 내측에 있는 체결슬롯(312)과 조절슬롯(362)에 슬롯심(370)을 끼워 디바이스 안착부(380)가 상측 도면에 비해 'b-a'만큼 폭이 확장되도록 하여 큰 폭을 갖는 피검사 디바이스를 안착시켜 번인 테스트를 수행할 수 있다.
본 발명의 일실시예에서는 체결슬롯(312)과 조절슬롯(362)을 2개 형성하여 두 단계로 크기를 조절하고 있지만, 체결슬롯(312)과 조절슬롯(362)을 3개 이상 형성하여 더 많은 단계로 크기를 조절하는 것도 가능하다.
또한 본 발명의 일실시예에서는 디바이스 가이드(310)의 좌우방향으로 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단(A)을 설치하여 좌우방향의 크기를 조절하는 것을 설명하고 있지만, 디바이스 가이드(310)의 전후방향으로 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단(A)을 더 설치하여 전후방향의 크기도 조절할 수 있도록 하여, 피검사 디바이스의 폭과 길이가 변경되는 경우에도 적용하도록 할 수 있다.
이러한 본 발명의 번인 소켓(300)은 다음과 같은 작용효과를 가진다.
도 10에 도시된 것과 같이, 번인 소켓(300)의 디바이스 가이드(310)에 디바이스 안착부(380)의 크기를 조절할 수 있는 포켓 사이즈 조절수단(A)을 구비함으로써, 피검사 디바이스(10)의 크기가 달라지더라도 디바이스 가이드(310) 내에 수용 가능하므로, 테스트 보드(20)에서 번인 소켓(300)를 분리하지 않고도 크기가 다른 피검사 디바이스에 대한 번인 테스트를 수행할 수 있다.
또한 번인 소켓의 디바이스 가이드를 피검사 디바이스의 크기에 따른 전용 타입으로 구성할 필요가 없으므로, 디바이스 가이드의 신규 제작에 따른 금형 비용 등 투자비용과 테스트 기간이 추가로 발생하지 않은 장점이 있다.
또한 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하는데 따른 작업자의 공력을 줄이고, 테스트 셋업 시간을 단축하여 생산성이 향상될 수 있다.
또한 테스트 보드에서 번인 소켓을 분리하지 않으므로 먼지 등의 유입되지 않고, 재조립시 발생할 수 있는 조립 불량 등이 원천적으로 차단되므로, 안정성과 신뢰성이 있는 번인 테스트가 가능한 장점이 있다.
이상, 본 발명을 본 발명의 원리를 예시하기 위한 바람직한 실시예와 관련하여 도시하고 설명하였으나, 본 발명은 그와 같이 도시되고 설명된 그대로의 구성 및 작용으로 한정되는 것이 아니다. 오히려 첨부된 청구범위의 사상 및 범위를 일탈함이 없이 본 발명에 대한 다수의 변경 및 수정이 가능함을 당업자들은 잘 이해할 수 있을 것이다.
10 : 피검사 디바이스 20 : 테스트 보드
22 : 정렬 홀 30, 300 : 번인 소켓
32, 320 : 정렬돌기 34, 340 : 스프링
40 : 체결부재 310 : 디바이스 가이드
312 : 체결슬롯 315 : 샤프트
330 : 커버 350 : 래치장치
352 : 링크아암 360 : 슬라이더 몸체
361 : 장홈 362 : 조절슬릿
370 : 슬롯심 380 : 디바이스 안착부
1000, 2000 : 테스트 장치

Claims (8)

  1. 피검사 디바이스의 번인 테스트를 위한 번인 소켓(burn-in socket)에 있어서,
    복수의 정렬 홀을 구비하는 테스트 보드의 상측에 배치되되, 모서리마다 체결부를 가지는 사각 프레임 형상으로, 내부 중앙에는 상기 피검사 디바이스가 삽입될 수 있는 디바이스 안착부를 구비하고, 하측에는 상기 정렬 홀을 관통하는 정렬돌기가 결합되며, 상기 정렬돌기에 체결되는 체결부재에 의해 상기 테스트 보드에 고정되는 디바이스 가이드;
    상기 디바이스 가이드에 탄성 지지되어 상하 이동가능한 커버; 및
    상기 디바이스 가이드와 상기 커버에 힌지 연결되고, 상기 커버의 이동에 따라 상기 디바이스 안착부에 안착된 상기 피검사 디바이스를 상기 테스트 보드에 고정하거나 해제하는 한 쌍의 래치장치;를 포함하고,
    상기 디바이스 가이드의 상기 양측 체결부들 사이에 대칭적으로 배치되되, 상기 디바이스 가이드에 이동 가능하게 결합하여, 상기 디바이스 안착부의 크기를 조절할 수 있는 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단을 구비한 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 포켓 사이즈 조절수단은,
    상기 체결부에 형성된 복수의 체결슬롯과,
    상기 체결슬롯에 마주하는 방향으로 형성된 복수의 조절슬롯과, 측면을 관통하는 장홈이 형성된 슬라이더 몸체와,
    두 개의 슬롯심을 포함하여 구성되어,
    상기 각각의 슬롯심이 서로 마주하는 조절슬롯과 체결슬롯에 끼워지는 것에 의해 상기 슬라이더 몸체가 상기 디바이스 가이드에 고정되는 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 조절슬롯과 상기 체결슬롯은 같은 높이에 위치하는 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 조절슬롯 사이의 간격은 상기 체결슬롯 사이의 간격보다 큰 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 디바이스 가이드에는 양측 체결부들 사이를 연결하는 샤프트를 구비하고, 상기 샤프트가 상기 슬라이더 몸체의 장홈에 삽입되는 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 슬라이더 몸체에는 링크아암 삽입부가 형성되고,
    상기 래치장치는,
    래치헤드와, 일측은 상기 링크아암 삽입부를 통해 상기 샤프트에 힌지 연결되고, 타측은 상기 래치헤드에 힌지 연결되는 링크아암을 포함하는 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 커버에는 하면 가장자리에서 하측으로 돌출하는 한 쌍의 작동아암을 포함하고, 상기 한 쌍의 작동아암이 상기 래치헤드의 양측에 돌출 형성된 레버돌기에 결합하는 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 디바이스 가이드의 다른 양측 체결부들 사이에 대칭적으로 배치되는 한 쌍의 포켓 사이즈 조절수단을 더 구비한 것을 특징으로 하는 번인 소켓.
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