KR20230067922A - Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip - Google Patents

Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip Download PDF

Info

Publication number
KR20230067922A
KR20230067922A KR1020210153662A KR20210153662A KR20230067922A KR 20230067922 A KR20230067922 A KR 20230067922A KR 1020210153662 A KR1020210153662 A KR 1020210153662A KR 20210153662 A KR20210153662 A KR 20210153662A KR 20230067922 A KR20230067922 A KR 20230067922A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
individual
wafer
pcb
tape
unit
Prior art date
Application number
KR1020210153662A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
김태영
백대선
Original Assignee
주식회사 쌤토스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 쌤토스 filed Critical 주식회사 쌤토스
Priority to KR1020210153662A priority Critical patent/KR20230067922A/en
Publication of KR20230067922A publication Critical patent/KR20230067922A/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67144Apparatus for mounting on conductive members, e.g. leadframes or conductors on insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67132Apparatus for placing on an insulating substrate, e.g. tape
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment
    • H01L21/681Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment using optical controlling means
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/683Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L21/6835Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L21/6836Wafer tapes, e.g. grinding or dicing support tapes
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K13/00Apparatus or processes specially adapted for manufacturing or adjusting assemblages of electric components
    • H05K13/04Mounting of components, e.g. of leadless components
    • H05K13/0417Feeding with belts or tapes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2221/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof covered by H01L21/00
    • H01L2221/67Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L2221/683Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping
    • H01L2221/68304Apparatus for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components; Apparatus not specifically provided for elsewhere for supporting or gripping using temporarily an auxiliary support
    • H01L2221/68381Details of chemical or physical process used for separating the auxiliary support from a device or wafer
    • H01L2221/68386Separation by peeling
    • H01L2221/6839Separation by peeling using peeling wedge or knife or bar

Abstract

마이크로 IC 플립형 실장 장치는 UV 테이프의 하부면에 웨이퍼를 부착하고, 웨이퍼와 PCB의 다이를 상하로 일대일로 위치한 상태에서 UV 테이프의 상부에서 니들부재로 UV 테이프를 눌려 개별 웨이퍼가 UV 테이프로부터 분리됨과 동시에 개별 PCB의 다이에 실장된다.
본 발명은 마이크로 IC 플립형 실장 공정을 크게 줄이면서 IC 패턴면 비접촉 방식을 적용하여 두께 80㎛, 300㎛ 이하의 소형 경박 IC 실장의 핸들링이 가능한 효과가 있다.
The micro IC flip-type mounting device attaches a wafer to the lower surface of the UV tape, and presses the UV tape with a needle member from the top of the UV tape in a state where the wafer and the die of the PCB are positioned one to one in the top and bottom, so that individual wafers are separated from the UV tape and At the same time, they are mounted on individual PCB dies.
The present invention greatly reduces the micro IC flip-type mounting process and applies a non-contact method on the IC pattern surface, thereby enabling handling of small and thin IC mounting with a thickness of 80 μm or less and 300 μm or less.

Description

마이크로 IC 플립형 실장 장치{Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip}Micro IC flip type mounting device {Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip}

본 발명은 마이크로 IC 플립형 실장 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 UV 테이프의 하부면에 웨이퍼를 부착하고, 웨이퍼와 PCB의 다이를 상하로 일대일로 위치한 상태에서 UV 테이프의 상부에서 니들부재로 UV 테이프를 눌려 개별 웨이퍼가 UV 테이프로부터 분리됨과 동시에 개별 PCB의 다이에 실장되는 마이크로 IC 플립형 실장 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a micro IC flip-type mounting device, and more particularly, a wafer is attached to the lower surface of the UV tape, and the wafer and the die of the PCB are positioned one-to-one vertically, and the UV tape is operated by a needle member from the top of the UV tape. It relates to a micro IC flip-type mounting device in which an individual wafer is separated from a UV tape by pressing and simultaneously mounted on a die of an individual PCB.

종래의 플립칩 본더(Flip Chip Bonder)의 메커니즘은 웨이퍼 상단에서 IC를 개별 단위로 Pick-up한 후, 180도 회전시키고, IC를 집어서 기판 상으로 이동시키는 장비를 이용하여 본딩(Bonding)을 수행하는 Tool 쪽으로 반송하고, Tool 표면에 있는 Vacuum hole에 흡착(Place)한 후, 해당 IC를 기판에 부착시킨다.The mechanism of a conventional flip chip bonder picks up ICs as individual units from the top of the wafer, rotates them 180 degrees, picks up the ICs, and transfers them onto the substrate for bonding. It is returned to the tool to be performed, adsorbed (placed) to the vacuum hole on the surface of the tool, and then the IC is attached to the board.

종래의 플립칩 본더는 IC의 플립칩 실장 시 IC를 Pick-Up부터 Place까지 이르는 공정 상 IC 표면에 데미지 발생 우려가 있으며, 본딩하는 장비로 이동하는 과정에서 위치 맞춤이 곤란하여 불량을 유발하게 되는 문제점이 있다.Conventional flip chip bonders may cause damage to the surface of the IC during the process from Pick-Up to Place when mounting the flip chip of the IC, and it is difficult to align the position in the process of moving to the bonding equipment, causing defects. There is a problem.

이와 같이, 기존의 Pick-up 방식의 플립칩 본더는 IC 표면에 데미지를 피하면서 안정되게 Pick-Up 및 Place하는 것이 중요한데, 조건이 맞지 않거나, 100㎛ 이하 IC 두께의 경박화에 따른 소형 경박 IC의 경우, Pick-Up 및 Place 하는 과정에서 IC에 가해지는 미세 충격이 마이크로 크랙 유발을 초래하여 제품 불량의 원인을 제공한다.As such, it is important for the flip chip bonder of the conventional Pick-up method to pick-up and place stably while avoiding damage to the surface of the IC. In the case of , micro-impacts applied to the IC during Pick-Up and Place cause micro-cracks, which causes product defects.

전자기기는 점점 소형화 되고 다기능성을 가지게 됨에 따라 반도체 패키지의 크기 및 두께가 줄어들고 있다. 이에 반해, 종래의 Pick-up 방식의 플립칩 본더는 IC 사이즈 1 × 1mm 이하, 두께 300㎛ 이하의 소형 경박 IC 실장의 핸들링이 어려워 작업이 불가능한 문제점이 발생한다.As electronic devices are increasingly miniaturized and have multifunctionality, the size and thickness of semiconductor packages are decreasing. On the other hand, the flip chip bonder of the conventional pick-up method is difficult to handle the mounting of small and thin ICs with an IC size of 1 × 1 mm or less and a thickness of 300 μm or less.

한국 등록특허번호 제10-1623368호Korean Registered Patent No. 10-1623368

이와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 UV 테이프의 하부면에 웨이퍼를 부착하고, 웨이퍼와 PCB의 다이를 상하로 일대일로 위치한 상태에서 UV 테이프의 상부에서 니들부재로 UV 테이프를 눌려 개별 웨이퍼가 UV 테이프로부터 분리됨과 동시에 개별 PCB의 다이에 실장되는 마이크로 IC 플립형 실장 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.In order to solve this problem, the present invention attaches a wafer to the lower surface of the UV tape, and presses the UV tape with a needle member from the top of the UV tape in a state where the wafer and the die of the PCB are located one to one in the top and bottom, so that individual wafers are Its purpose is to provide a micro IC flip-type mounting device that is mounted on a die of an individual PCB at the same time as being separated from the UV tape.

상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 특징에 따른 마이크로 IC 플립형 실장 장치는,Micro IC flip-type mounting device according to the features of the present invention for achieving the above object,

일정 형상으로 형성되고, 하부면에 접착력이 있는 테이프;A tape formed in a predetermined shape and having an adhesive force on a lower surface;

상기 테이프의 하부면에 결합되고, 일정한 형상의 개별 웨이퍼가 행과 열로 형성되고, 각각의 개별 웨이퍼가 하나씩 조각으로 형성되는 일정 형상의 웨이퍼;a wafer of a predetermined shape coupled to the lower surface of the tape, wherein individual wafers of a predetermined shape are formed in rows and columns, and each individual wafer is formed in pieces one by one;

상기 웨이퍼의 하부로부터 연직 하방으로 이격되어 있고, 행과 열로 일정한 형상의 개별 PCB(Printed Circuit Board)를 일정 간격마다 형성하고, 상기 개별 PCB는 상기 각각의 개별 웨이퍼를 삽입하여 실장하는 다이를 일정 간격마다 복수개 형성하는 PCB; 및Individual PCBs (Printed Circuit Boards) spaced vertically downward from the lower part of the wafer and having a constant shape in rows and columns are formed at regular intervals, and the individual PCBs insert and mount dies into which the individual wafers are mounted at regular intervals. A plurality of PCBs formed for each; and

상기 테이프의 상부에 위치하여 상하 방향으로 이동하여 상기 테이프를 누르는 막대 형상의 니들부재로 이루어진 니들유닛을 포함하며,And a needle unit made of a rod-shaped needle member located on top of the tape and moving in a vertical direction to press the tape,

상기 니들부재는 상기 각각의 개별 웨이퍼와 상기 개별 PCB의 각 다이를 상하로 일대일로 위치한 상태에서 수직으로 하강하여 상기 테이프를 누르면, 상기 테이프로부터 상기 개별 웨이퍼가 분리되어 상기 개별 PCB의 다이에 삽입하여 실장한다.The needle member descends vertically in a state where each individual wafer and each die of the individual PCB are located one-to-one vertically and presses the tape, the individual wafer is separated from the tape and inserted into the die of the individual PCB to mount

본 발명의 특징에 따른 마이크로 IC 플립형 실장 장치는,Micro IC flip-type mounting device according to the features of the present invention,

메인프레임;mainframe;

상기 메인프레임의 상부에 결합하고, 상기 PCB가 올려져 고정되는 사각척을 X축 방향, Y 방향, Z 방향으로 이동시키는 하부 스테이지;a lower stage coupled to the upper part of the main frame and moving the square chuck on which the PCB is lifted and fixed in the X-axis direction, the Y-direction, and the Z-direction;

상기 하부 스테이지에 수직 기둥을 이용하여 결합한 평판 형태의 상부판과, 상기 상부판의 중심부에 일정한 직경의 원형구멍이 형성된 관통공을 형성하고, 상기 관통공에 상기 테이프를 부착하여 밀폐시키는 탑플레이트; 및a flat top plate coupled to the lower stage using vertical pillars, a top plate having a through hole having a circular hole of a constant diameter formed in the center of the top plate, and sealing the through hole by attaching the tape to the through hole; and

상기 탑플레이트의 상부에 결합하고, 상기 니들유닛을 X축 방향, Y 방향, Z 방향으로 이동시키는 상부 스테이지를 포함한다.and an upper stage coupled to an upper portion of the top plate and moving the needle unit in an X-axis direction, a Y-axis direction, and a Z-axis direction.

전술한 구성에 의하여, 본 발명은 직접적인 IC 표면에 접촉이 없으므로 IC 표면에 데미지를 피하면서 IC에 가해지는 미세 충격을 방지할 수 있으며, 이에 따라 제품 불량의 원인을 제거할 수 있다.According to the configuration described above, since there is no direct contact with the surface of the IC, it is possible to prevent micro-impact applied to the IC while avoiding damage to the surface of the IC, thereby eliminating the cause of product defects.

본 발명은 마이크로 IC 플립형 실장 공정을 크게 줄이면서 IC 패턴면 비접촉 방식을 적용하여 두께 80㎛, 300㎛ 이하의 소형 경박 IC 실장의 핸들링이 가능한 효과가 있다.The present invention greatly reduces the micro IC flip-type mounting process and applies a non-contact method on the IC pattern surface, thereby enabling handling of small and thin IC mounting with a thickness of 80 μm or less and 300 μm or less.

본 발명은 1 × 1mm 이하의 소형 경박 IC 실장에 유리하고, IC 데미지 최소화, 고정밀화, 다양한 소형 제품에 적용이 가능한 효과가 있다.The present invention is advantageous for mounting small and thin ICs of 1 × 1 mm or less, and has effects of minimizing IC damage, high precision, and applicable to various small products.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 IC 플립형 실장 장치의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 하부 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 X축 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 4 및 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 Z축 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 6 및 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 탑플레이트의 모습을 나타낸 사시도이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼를 결합한 UV 테이프를 위에서 본 모습을 나타낸 도면이다.
도 9는 본 발명의 실시예에 따른 UV 테이프의 위에 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더를 장착한 모습을 나타낸 도면이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더를 뒤집어진 상태를 나타낸 도면이다.
도 11은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼를 결합한 UV 테이프, 웨이퍼 프레임드, 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더의 결합 관계를 나타낸 도면이다.
도 12는 본 발명의 실시예에 따른 상부 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.
도 13은 본 발명의 실시예에 따른 Z축 상하 이동부의 구성을 확대한 모습을 나타낸 도면이다.
도 14는 본 발명의 실시예에 따른 니들유닛의 구성을 나타낸 도면이다.
도 15는 본 발명의 실시예에 따른 PCB를 부착한 PCB 프레임드를 나타낸 도면이다.
도 16은 본 발명의 실시예에 따른 PCB 얼라인 과정을 나타낸 도면이다.
도 17은 본 발명의 실시예에 따른 제어장치의 내부 구성을 간략하게 나타낸 도면이다.
도 18은 본 발명의 실시예에 따른 행과 열로 복수개 형성된 개별 PCB를 포함한 PCB 프레임드를 나타낸 도면이다.
도 19는 본 발명의 실시예에 따른 각각의 개별 웨이퍼를 포함한 웨이퍼의 모습을 나타낸 도면이다.
도 20은 본 발명의 실시예에 따른 개별 웨이퍼가 UV 테이프로부터 분리됨과 동시에 개별 PCB의 다이에 실장되는 모습을 나타낸 도면이다.
도 21 및 도 22는 본 발명의 실시예에 따른 에폭시를 도포하는 디스펜싱 장치의 구성을 나타낸 도면이다.
1 is a perspective view showing the configuration of a micro IC flip type mounting device according to an embodiment of the present invention.
2 is a perspective view showing the configuration of a lower stage according to an embodiment of the present invention.
3 is a perspective view showing the configuration of an X-axis stage according to an embodiment of the present invention.
4 and 5 are perspective views showing the configuration of a Z-axis stage according to an embodiment of the present invention.
6 and 7 are perspective views showing a top plate according to an embodiment of the present invention.
8 is a view showing a top view of a UV tape to which wafers are bonded according to an embodiment of the present invention.
9 is a view showing a state in which a wafer framed extend holder is mounted on a UV tape according to an embodiment of the present invention.
10 is a view showing a state in which the wafer frame extend holder according to an embodiment of the present invention is turned over.
11 is a view showing a coupling relationship between a UV tape, a wafer frame, and a wafer frame extend holder in which wafers are coupled according to an embodiment of the present invention.
12 is a perspective view showing the configuration of an upper stage according to an embodiment of the present invention.
13 is a diagram showing an enlarged configuration of a Z-axis vertical movement unit according to an embodiment of the present invention.
14 is a view showing the configuration of a needle unit according to an embodiment of the present invention.
15 is a view showing a PCB framed to which a PCB is attached according to an embodiment of the present invention.
16 is a diagram showing a PCB alignment process according to an embodiment of the present invention.
17 is a diagram briefly showing the internal configuration of a control device according to an embodiment of the present invention.
18 is a diagram showing a PCB framed including individual PCBs formed in a plurality of rows and columns according to an embodiment of the present invention.
19 is a view showing a state of a wafer including each individual wafer according to an embodiment of the present invention.
20 is a view showing a state in which individual wafers are separated from the UV tape and mounted on dies of individual PCBs according to an embodiment of the present invention.
21 and 22 are views showing the configuration of a dispensing device for applying epoxy according to an embodiment of the present invention.

명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.Throughout the specification, when a certain component is said to "include", it means that it may further include other components without excluding other components unless otherwise stated.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 마이크로 IC 플립형 실장 장치의 구성을 나타낸 사시도이고, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 하부 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.1 is a perspective view showing the configuration of a micro IC flip type mounting device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a perspective view showing the configuration of a lower stage according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 마이크로 IC 플립형 실장 장치(100)는 메인프레임(101)의 상부에 결합한 하부 스테이지(110)와, 하부 스테이지(110)에 수직 기둥(102)을 이용하여 결합한 탑플레이트(120)와, 탑플레이트(120)의 상부에 결합한 상부 스테이지(130)를 포함한다.The micro IC flip type mounting device 100 according to an embodiment of the present invention includes a lower stage 110 coupled to the top of a main frame 101 and a top plate coupled to the lower stage 110 using vertical pillars 102 ( 120) and an upper stage 130 coupled to the top of the top plate 120.

하부 스테이지(110)는 일정 길이와 너비를 가진 제1 평판 플레이트(111)의 양쪽 가장자리를 따라 길이 방향의 제1 하부 LM 가이드부(112)와 제2 하부 LM 가이드부(113), 제1 평판 플레이트(111)의 중심부에 길이 방향의 제1 하부 직선 이동부(114)를 포함한다.The lower stage 110 includes a first lower LM guide part 112 and a second lower LM guide part 113 in the longitudinal direction along both edges of a first flat plate 111 having a predetermined length and width, and a first flat plate A first lower linear moving part 114 in the longitudinal direction is included in the center of the plate 111 .

제1 하부 LM 가이드부(112)와 제2 하부 LM 가이드부(113)는 길이 방향으로 길게 형성되어 있고, 직선 형상을 갖는 가이드레일(112a, 113a)과, 가이드레일(112a, 113a)의 양측면에 길이 방향을 따라 가이드홈(112b, 113b)이 형성되며, 가이드레일(112a, 113a)에 결합되어 가이드레일(112a, 113a)의 가이드홈(112b, 113b)을 따라 길이 방향으로 전후진 운동을 수행하는 블록(미도시)을 포함한다.The first lower LM guide part 112 and the second lower LM guide part 113 are formed long in the longitudinal direction, and the guide rails 112a and 113a having a straight shape and both sides of the guide rails 112a and 113a Guide grooves 112b and 113b are formed along the longitudinal direction, and coupled to the guide rails 112a and 113a to perform forward and backward movement in the longitudinal direction along the guide grooves 112b and 113b of the guide rails 112a and 113a. It includes a block (not shown) to perform.

제1 하부 직선 이동부(114)는 제1 평판 플레이트(111)의 중심부 일측 끝단에 제1 고정스토퍼(117)를 결합하고, 제1 고정스토퍼(117)에 일정한 길이의 제1 스크류(116)를 결합하고, 제1 스크류(116)에 일정 형상의 제1 이동블록부(115)의 제1 볼너트부(미도시)를 관통하여 결합하고, 제1 스크류(116)가 제1 볼너트부와 제1 이동블록부(115)를 일체로 관통하도록 길이 방향으로 길게 형성되고, 제1 스크류(116)의 타측 끝단에 제2 고정스토퍼(118)를 결합하며, 제2 고정스토퍼(118)의 일단에 커플링(119a)과 제1 하부 구동모터(119)를 결합한다.The first lower linear moving part 114 couples the first fixing stopper 117 to one end of the center of the first flat plate 111, and the first screw 116 of a certain length is attached to the first fixing stopper 117. and coupled to the first screw 116 by penetrating the first ball nut part (not shown) of the first moving block part 115 having a predetermined shape, and the first screw 116 is the first ball nut part And is formed long in the longitudinal direction so as to integrally penetrate the first moving block portion 115, and the second fixing stopper 118 is coupled to the other end of the first screw 116, and the second fixing stopper 118 At one end, the coupling 119a and the first lower driving motor 119 are coupled.

제1 이동블록부(115)의 상부면과 가이드레일(112a, 113a)의 블록의 상부면을 일정 두께의 제1 평판 안착부(115a)를 결합한다.The upper surface of the first moving block unit 115 and the upper surface of the blocks of the guide rails 112a and 113a are coupled to the first plate mounting unit 115a having a predetermined thickness.

제1 평판 안착부(115a)의 상부면에는 제2 평판 플레이트(141)를 결합한 X축 스테이지(140)를 형성한다.An X-axis stage 140 coupled to a second flat plate 141 is formed on the upper surface of the first flat plate mounting portion 115a.

하부 스테이지(110)는 제1 평판 안착부(115a)를 Y축 방향으로 이동시키는 기능을 수행한다.The lower stage 110 serves to move the first flat plate seating part 115a in the Y-axis direction.

하부 스테이지(110)는 Y축 방향의 이동을 수행하고, X축 스테이지(140)는 X축 방향의 이동을 수행하며, Z축 스테이지(150)는 Z축 방향의 상하 이동을 수행한다. 이하에서, 도 3은 X축 스테이지(140)의 구성을 상세하게 설명하고, 도 4 및 도 5는 Z축 스테이지(150)의 구성을 상세하게 설명한다.The lower stage 110 moves in the Y-axis direction, the X-axis stage 140 moves in the X-axis direction, and the Z-axis stage 150 moves up and down in the Z-axis direction. Hereinafter, FIG. 3 describes the configuration of the X-axis stage 140 in detail, and FIGS. 4 and 5 describe the configuration of the Z-axis stage 150 in detail.

도 3은 본 발명의 실시예에 따른 X축 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.3 is a perspective view showing the configuration of an X-axis stage according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 X축 스테이지(140)는 제1 평판 안착부(115a)의 상부면에 일정 길이의 너비를 가진 제2 평판 플레이트(141)를 형성하고, 제2 평판 플레이트(141)의 양쪽 가장자리를 따라 길이 방향의 제1 중간 LM 가이드부(142)와 제2 중간 LM 가이드부(143), 제2 평판 플레이트(141)의 중심부에 길이 방향의 제1 중간 직선 이동부(144)를 포함한다.In the X-axis stage 140 according to an embodiment of the present invention, a second flat plate 141 having a certain length and width is formed on the upper surface of the first flat plate mounting part 115a, and the second flat plate 141 The first intermediate LM guide part 142 and the second intermediate LM guide part 143 in the longitudinal direction along both edges of the first intermediate linear moving part 144 in the longitudinal direction at the center of the second flat plate 141 includes

제1 중간 LM 가이드부(142)와 제2 중간 LM 가이드부(143)는 길이 방향으로 길게 형성되어 있고, 직선 형상을 갖는 가이드레일(142a, 143a)과, 가이드레일(142a, 143a)의 양측면에 길이 방향을 따라 가이드홈(142b, 143b)이 형성되며, 가이드레일(142a, 143a)에 결합되어 가이드레일(142a, 143a)의 가이드홈(142b, 143b)을 따라 길이 방향으로 전후진 운동을 수행하는 블록(미도시)을 포함한다.The first intermediate LM guide part 142 and the second intermediate LM guide part 143 are formed long in the longitudinal direction, and guide rails 142a and 143a having a straight shape and both side surfaces of the guide rails 142a and 143a Guide grooves 142b and 143b are formed along the longitudinal direction, and coupled to the guide rails 142a and 143a to perform forward and backward movement in the longitudinal direction along the guide grooves 142b and 143b of the guide rails 142a and 143a. It includes a block (not shown) to perform.

제1 중간 직선 이동부(144)는 제2 평판 플레이트(141)의 중심부 일측 끝단에 제1 고정스토퍼(147)를 결합하고, 제1 고정스토퍼(147)에 일정한 길이의 제2 스크류(146)를 결합하고, 제2 스크류(146)에 일정 형상의 제2 이동블록부(미도시)의 제2 볼너트부(미도시)를 관통하여 결합하고, 제2 스크류(146)가 제2 볼너트부와 제2 이동블록부를 일체로 관통하도록 길이 방향으로 길게 형성되고, 제2 스크류(146)의 타측 끝단에 제2 고정스토퍼(148)를 결합하며, 제2 고정스토퍼(148)의 일단에 커플링(149a)과 제2 중간 구동모터(149)를 결합한다.The first intermediate linear moving part 144 couples the first fixing stopper 147 to one end of the center of the second flat plate 141, and the second screw 146 of a certain length is attached to the first fixing stopper 147. and coupled to the second screw 146 by penetrating the second ball nut part (not shown) of the second moving block part (not shown) having a predetermined shape, and the second screw 146 is coupled to the second ball nut It is formed long in the longitudinal direction so as to integrally penetrate the second moving block unit and the second moving block unit, couple the second fixing stopper 148 to the other end of the second screw 146, and couple to one end of the second fixing stopper 148. The ring 149a and the second intermediate drive motor 149 are coupled.

제2 이동블록부의 상부면과 가이드레일(142a, 143a)의 블록의 상부면을 일정 두께의 제2 평판 안착부(145)를 결합한다.The upper surface of the second movable block unit and the upper surface of the blocks of the guide rails 142a and 143a are coupled to the second plate mounting unit 145 having a predetermined thickness.

X축 스테이지(140)는 제2 평판 안착부(145)를 X축 방향으로 이동시키는 기능을 수행한다.The X-axis stage 140 serves to move the second flat plate seating part 145 in the X-axis direction.

도 4 및 도 5는 본 발명의 실시예에 따른 Z축 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.4 and 5 are perspective views showing the configuration of a Z-axis stage according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 Z축 스테이지(150)는 제2 평판 안착부(145)의 상부면에 형성하여 사각척(156)을 Z축 방향으로 상하 이동시키는 기능을 수행한다. 사각척(156)은 PCB(Printed Circuit Board)(50)가 올려져 고정되는 곳이다.The Z-axis stage 150 according to the embodiment of the present invention is formed on the upper surface of the second flat plate seating part 145 and performs a function of vertically moving the square chuck 156 in the Z-axis direction. The square chuck 156 is a place where a Printed Circuit Board (PCB) 50 is lifted and fixed.

Z축 스테이지(150)는 제2 평판 안착부(145)의 상부면에 전면과 상부가 개방한 일정한 형상의 스테이지 프레임(151)을 형성하고, 스테이지 프레임(151)의 내부 공간과 일정한 높이를 형성하고, 스테이지 프레임(151)의 전면 개방부를 일부 막는 전면판(152)을 결합하고, 스테이지 프레임(151)의 상부 개방부를 막는 평탄 커버부(155)를 형성한다.The Z-axis stage 150 forms a stage frame 151 of a certain shape with a front and top open on the upper surface of the second flat plate seating part 145, and forms a certain height with the inner space of the stage frame 151. Then, the front plate 152 partially blocking the front opening of the stage frame 151 is coupled, and a flat cover 155 blocking the upper opening of the stage frame 151 is formed.

하부비전 카메라(153)는 상하 움직이는 Z축 이동자인 평탄 커버부(155)의 하부면 일측에 결합한다.The lower vision camera 153 is coupled to one side of the lower surface of the flat cover part 155, which is a Z-axis mover that moves up and down.

하부비전 카메라(153)는 웨이퍼(10) 및 니들부재(440)의 얼라인을 수행할 수 있다.The lower vision camera 153 may align the wafer 10 and the needle member 440 .

하부비전 카메라(153)는 제1 하부비전 카메라(고배율)(153a)와, 제2 하부비전 카메라(저배율)(153b)를 포함한다.The lower vision camera 153 includes a first lower vision camera (high magnification) 153a and a second lower vision camera (low magnification) 153b.

제1 하부비전 카메라(고배율)(153a)와, 제2 하부비전 카메라(저배율)(153b)는 평탄 커버부(155)의 측면 일측에 상하 방향으로 결합하여 연직 상방으로 초점이 향하도록 한다.The first lower vision camera (high magnification) 153a and the second lower vision camera (low magnification) 153b are coupled to one side of the flat cover part 155 in the vertical direction so that the focus is directed upward.

평탄 커버부(155)는 일정한 두께의 PCB(50)를 부착한 PCB 프레임드(60)를 안착하는 사각척(156)을 상부면에 결합한다.The flat cover part 155 couples the square chuck 156 to the upper surface to seat the PCB framed 60 to which the PCB 50 of a certain thickness is attached.

상하 이동 장치(미도시)는 프레임(151)의 내부 공간부에 형성되고, 평탄 커버부(155)의 하부면에 결합되어 평탄 커버부(155)에 결합된 사각척(156)을 Z축 방향으로 상하 운동한다.The vertical movement device (not shown) is formed in the inner space of the frame 151 and coupled to the lower surface of the flat cover 155 to move the square chuck 156 coupled to the flat cover 155 in the Z-axis direction. move up and down with

상하 이동 장치는 서보모터에 의해 제1 풀리를 회전하고, 제1 풀리와 제2 풀리 간의 연결된 벨트를 회전시켜 제2 풀리와 이에 수직으로 결합된 볼스크류를 회전시키고, 볼스크류가 관통한 이동블록부가 볼스크류 상에서 상하 이동하고, 이동블록부가 평탄 커버부(155)를 상하로 이동시킨다. 이러한 상하 이동 장치는 공지된 기술로 상세한 설명을 생략한다.The vertical movement device rotates a first pulley by a servomotor, rotates a belt connected between the first pulley and the second pulley to rotate the second pulley and a ball screw coupled vertically thereto, and a moving block through which the ball screw passes. The part moves up and down on the ball screw, and the moving block part moves the flat cover part 155 up and down. This vertical movement device is a well-known technology and a detailed description thereof will be omitted.

제1 연결 거치대(157)는 평탄 커버부(155)의 일단으로부터 일정한 거리를 연장하여 형성된다.The first connection holder 157 is formed by extending a certain distance from one end of the flat cover part 155 .

제2 연결 거치대(157b)는 제1 연결 거치대(157)의 일측으로부터 일정한 길이의 봉 형태로 형성한다.The second connection holder 157b is formed in the form of a rod having a predetermined length from one side of the first connection holder 157 .

하부 스테이지 T축 장치는 평탄 커버부(155)를 + 5도와 -5도를 회전하는 T축 회전장치로 볼부쉬(154b), 캠팔로워(157b), 볼스크류(158a), 이동블록부(158)를 포함한다.The lower stage T-axis device is a T-axis rotation device that rotates the flat cover part 155 by +5 degrees and -5 degrees, and includes a ball bush 154b, a cam follower 157b, a ball screw 158a, and a moving block part 158. ).

제2 연결 거치대(157b)는 끝단이 앞뒤로 가동하는 볼부쉬(154b)를 관통하여 결합한다. 볼부쉬(154b)의 일측에 연결되는 회전 가동하는 캠팔로워(157b)를 결합한다.The second connection holder 157b is coupled by penetrating the ball bush 154b whose end moves back and forth. A rotationally movable cam follower 157b connected to one side of the ball bush 154b is coupled.

캠팔로워(157b)의 근처에 형성되는 이동블록부(158)를 형성하고, 이동블록부(158)의 중심부를 볼스크류(158a)가 관통하여 결합하며, 볼스크류(158a)의 끝단에 커플링(159a)과 스텝모터(159)를 결합한다.A moving block portion 158 formed near the cam follower 157b is formed, the center of the moving block portion 158 is coupled with the ball screw 158a penetrating, and the coupling to the end of the ball screw 158a (159a) and the step motor (159) are coupled.

하부 스테이지 T축 장치는 이동블록부(158)의 직선 운동을 캠팔로워(157b)(회전) 및 볼부쉬(154b)(앞뒤)를 이용하여 T축 회전 운동으로 변경한다.The lower stage T-axis device changes the linear motion of the moving block unit 158 into T-axis rotational motion by using the cam follower 157b (rotation) and the ball bush 154b (back and forth).

사각척(156)은 PCB(50)를 결합한 PCB 프레임드(60)가 올려져 고정되는 곳이다.The square chuck 156 is a place where the PCB framed 60 combined with the PCB 50 is lifted and fixed.

PCB 프레임드(60)는 PCB(50) 샘플에 따라 다양한 형태와 사이즈, 재질로 형성 가능하다.The PCB framed 60 can be formed in various shapes, sizes, and materials according to the PCB 50 sample.

PCB 프레임드(60)는 PCB(50)를 고정하고, PCB 안착부(156)의 상부면에 안착된다.The PCB framed 60 fixes the PCB 50 and is seated on the upper surface of the PCB seating part 156.

사각척(156)의 상부면에는 길이 방향으로 길게 파져 있어 진공으로 PCB 프레임드(60)를 흡착하여 고정하는 진공라인(156a, 156b)을 형성한다. 여기서, 진공라인(156a, 156b)에서 진공을 발생하는 장치와의 결합 관계는 주지된 내용으로 상세한 설명을 생략한다.The upper surface of the square chuck 156 is long dug in the longitudinal direction to form vacuum lines 156a and 156b for adsorbing and fixing the PCB framed 60 by vacuum. Here, the coupling relationship with the vacuum generating device in the vacuum lines (156a, 156b) is well known and detailed description thereof will be omitted.

도 6 및 도 7은 본 발명의 실시예에 따른 탑플레이트의 모습을 나타낸 사시도이고, 도 8은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼를 결합한 UV 테이프를 위에서 본 모습을 나타낸 도면이고, 도 9는 본 발명의 실시예에 따른 UV 테이프의 위에 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더를 장착한 모습을 나타낸 도면이고, 도 10은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더를 뒤집어진 상태를 나타낸 도면이고, 도 11은 본 발명의 실시예에 따른 웨이퍼를 결합한 UV 테이프, 웨이퍼 프레임드, 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더의 결합 관계를 나타낸 도면이다.6 and 7 are perspective views showing the appearance of a top plate according to an embodiment of the present invention, FIG. 8 is a view showing a top view of a UV tape bonded to a wafer according to an embodiment of the present invention, and FIG. It is a view showing a wafer framed extend holder mounted on a UV tape according to an embodiment of the present invention, and FIG. 10 is a view showing a wafer framed extend holder according to an embodiment of the present invention in an upside down state, 11 is a view showing a coupling relationship between a UV tape, a wafer frame, and a wafer frame extend holder in which wafers are coupled according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 탑플레이트(120)는 일정 두께로 직사각형 형태이고, 평판 형태의 상부판(121)으로 이루어지고, 상부판(121)의 하부면에 수직 기둥(102)에 의한 지지대에 의해 받쳐진다.The top plate 120 according to an embodiment of the present invention has a rectangular shape with a certain thickness, is made of a flat top plate 121, and is attached to a support by a vertical pillar 102 on the lower surface of the top plate 121. supported by

상부판(121)은 중심부에 일정한 직경으로 원형구멍이 형성된 원심형의 제1 관통공(122)을 형성하고, 제1 관통공(122)의 주위에 형성되어 웨이퍼 프레임드(30)가 얹혀지는 웨이퍼 프레임드 안착홀더(122a)를 형성한다.The upper plate 121 forms a centrifugal first through hole 122 in which a circular hole with a constant diameter is formed in the center, and is formed around the first through hole 122 to place the wafer frame 30 on top. A wafer framed seating holder 122a is formed.

상부판(121)은 일측 끝단면 근처에 수평 방향으로 일정한 길이의 카메라 지지대(124)를 결합한다.The upper plate 121 couples a camera support 124 with a certain length in the horizontal direction near one end surface.

카메라 지지대(124)는 제1 상부비전 카메라(고배율)(123a)와, 제2 상부비전 카메라(저배율)(123b)로 이루어진 상부비전 카메라(123)를 중심부에 결합한다.The camera support 124 couples the upper vision camera 123 composed of a first upper vision camera (high magnification) 123a and a second upper vision camera (low magnification) 123b to the central portion.

제1 상부비전 카메라(고배율)(123a)와, 제2 상부비전 카메라(저배율)(123b)는 카메라 지지대(124)의 끝단면에 상하 방향으로 결합하여 초점을 연직 하방으로 향하도록 한다.The first upper vision camera (high magnification) 123a and the second upper vision camera (low magnification) 123b are coupled to the end surface of the camera support 124 in the vertical direction so that the focus is directed vertically downward.

도 8은 상부판(121)의 제1 관통공(122)을 위에서 본 모습을 나타낸다.8 shows a top view of the first through hole 122 of the top plate 121 .

웨이퍼 프레임드 안착홀더(122a)의 위에는 웨이퍼 프레임드(30)를 장착하고, 웨이퍼 프레임드(30)의 위에는 웨이퍼(10)가 하부 방향을 향하도록 UV 테이프(20)를 부착한다.The wafer framed 30 is mounted on the wafer framed holder 122a, and the UV tape 20 is attached to the wafer framed 30 so that the wafer 10 faces downward.

UV 테이프(20)는 반투명 재질이므로 UV 테이프(20)의 하부면에 부착된 웨이퍼(10)가 비쳐 보인다(도 11). 다시 말해, 웨이퍼(10)는 상부판(121)의 밑면을 향하도록 배치시킨다.Since the UV tape 20 is a translucent material, the wafer 10 attached to the lower surface of the UV tape 20 can be seen through (FIG. 11). In other words, the wafer 10 is placed facing the bottom of the upper plate 121 .

UV 테이프(20)는 원형 형상으로 일정 강도의 접착력을 가져 하부면에 웨이퍼(10)를 부착한다.The UV tape 20 has a circular shape and has adhesive strength of a certain strength to attach the wafer 10 to the lower surface.

웨이퍼 프레임드(30)는 링 형태로 중심부에 제2 관통공(31)을 형성하고, 접착력이 있는 원형의 UV 테이프(20)를 웨이퍼 프레임드(30)에 부착하여 제2 관통공(31)을 밀폐시킨다.In the wafer framed 30, a second through hole 31 is formed in the center in a ring shape, and a circular UV tape 20 having adhesive strength is attached to the wafer framed 30 to form a second through hole 31. seal the

UV 테이프(20)의 하부면에는 다양한 형태와 사이즈의 웨이퍼(10)가 부착된다.Wafers 10 of various shapes and sizes are attached to the lower surface of the UV tape 20 .

도 11의 (a), (b)에 도시된 바와 같이, 웨이퍼(10)는 UV 테이프(20)의 하부면에 접착되고, IC 패턴면인 행과 열로 일정한 형상의 개별 웨이퍼(10a)가 복수개 슬라이스되어 구성된다. 즉, 복수개의 개별 웨이퍼(10a)는 하나씩 조각으로 형성된다.As shown in (a) and (b) of FIG. 11, the wafer 10 is adhered to the lower surface of the UV tape 20, and a plurality of individual wafers 10a having a constant shape in rows and columns, which are IC pattern surfaces. Sliced and composed. That is, a plurality of individual wafers 10a are formed in pieces one by one.

웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더(40)는 링 형태이고, 하부면 테두리를 따라 일정 높이로 돌출된 가이드(41)를 구비하고, 가이드(41)를 UV 테이프(20)의 위의 원형 테두리를 따라 얹어져 개별 웨이퍼(10a) 간의 사이 간격이 넓어진다.The wafer framed extend holder 40 has a ring shape, has a guide 41 protruding at a certain height along the lower surface rim, and puts the guide 41 along the circular rim above the UV tape 20. As a result, the gap between the individual wafers 10a widens.

도 9는 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더(40)의 가이드(41)를 UV 테이프(20)의 위에 탑재한다.9, the guide 41 of the wafer framed extend holder 40 is mounted on the UV tape 20.

도 10에 도시된 바와 같이, 가이드(41)는 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더(40)의 일면에 원형을 따라 일정 높이로 돌출되어 형성된다.As shown in FIG. 10 , the guide 41 protrudes along a circular shape on one surface of the wafer frame extend holder 40 at a predetermined height.

웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더(40)는 UV 테이프(20)의 테두리를 따라 얹어져 고정되면, 가이드(41)는 UV 테이프(20)의 테두리를 따라 압박하여 UV 테이프(20)를 늘린다.When the wafer framed extend holder 40 is placed along the edge of the UV tape 20 and fixed, the guide 41 presses along the edge of the UV tape 20 to stretch the UV tape 20 .

웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더(40)에 의해 UV 테이프(20)가 늘어나면, 도 11의 (a)의 웨이퍼(10)는 개별 웨이퍼(10a) 간의 사이 간격이 넓어지게 된다(도 11의 (b)).When the UV tape 20 is stretched by the wafer framed extend holder 40, the distance between the individual wafers 10a of the wafer 10 of FIG. 11 (a) widens (Fig. )).

웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더(40)는 가이드(41)의 높이에 따라 개별 웨이퍼(10a) 간의 사이 간격을 조절할 수 있다.The wafer framed extend holder 40 may adjust the distance between the individual wafers 10a according to the height of the guide 41 .

도 12는 본 발명의 실시예에 따른 상부 스테이지의 구성을 나타낸 사시도이다.12 is a perspective view showing the configuration of an upper stage according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 상부 스테이지(130)는 Y축 제1 앞뒤 이동부(160), Y축 제2 앞뒤 이동부(170), X축 좌우 이동부(180) 및 Z축 상하 이동부(190)를 포함한다.The upper stage 130 according to an embodiment of the present invention includes a first Y-axis forward and backward movement unit 160, a Y-axis second forward and backward movement unit 170, an X-axis left and right movement unit 180 and a Z-axis up and down movement unit ( 190).

Y축 제1 앞뒤 이동부(160)는 길이 방향의 제1 받침대(161)를 형성하고, 제1 받침대(161)의 끝단 부분에 제1 고정스토퍼(162)를 형성하고, 제1 고정스토퍼(162)에 일정한 길이의 제1 볼스크류(163)를 결합하고, 일정 형상의 제1 이동블록부(165)에 제1 볼너트부(164)를 결합하고, 제1 볼너트부(164)와 제1 이동블록부(165)를 일체로 관통하도록 길이 방향으로 길게 형성되며, 제1 볼스크류(163)의 일측 끝단에 커플링(미도시)과 제1 상부 구동모터(168)를 결합한다.The Y-axis first back and forth moving part 160 forms a first support 161 in the longitudinal direction, forms a first fixing stopper 162 at the end of the first support 161, and forms a first fixing stopper ( 162), the first ball screw 163 having a certain length is coupled, the first ball nut part 164 is coupled to the first moving block part 165 having a certain shape, and the first ball nut part 164 and It is formed long in the longitudinal direction so as to integrally penetrate the first moving block unit 165, and a coupling (not shown) and the first upper drive motor 168 are coupled to one end of the first ball screw 163.

제1 이동블록부(165)는 상부면에 평탄 형태의 제1 안착부(166)를 결합한다.The first moving block unit 165 couples the flat first seating unit 166 to the upper surface.

제1 안착부(166)는 제1 이동블록부(165)의 크기보다 크게 형성될 수 있다.The first seating portion 166 may be larger than the size of the first moving block portion 165 .

Y축 제2 앞뒤 이동부(170)는 길이 방향의 제2 받침대(171)를 형성하고, 제2 받침대(171)의 끝단 부분에 제2 고정스토퍼(172)를 형성하고, 제2 고정스토퍼(172)에 일정한 길이의 제2 볼스크류(173)를 결합하고, 일정 형상의 제2 이동블록부(175)에 제2 볼너트부(174)를 결합하고, 제2 볼너트부(174)와 제2 이동블록부(175)를 일체로 관통하도록 길이 방향으로 길게 형성되며, 제2 볼스크류(173)의 일측 끝단에 제2 커플링(177)과 제2 상부 구동모터(178)를 결합한다.The Y-axis second back-and-forth movement unit 170 forms a second pedestal 171 in the longitudinal direction, forms a second fixing stopper 172 at the end of the second pedestal 171, and forms a second fixing stopper ( 172), the second ball screw 173 having a certain length is coupled, the second ball nut part 174 is coupled to the second moving block part 175 having a certain shape, and the second ball nut part 174 and It is formed long in the longitudinal direction so as to integrally penetrate the second moving block unit 175, and the second coupling 177 and the second upper drive motor 178 are coupled to one end of the second ball screw 173. .

제2 이동블록부(175)는 상부면에 평탄 형태의 제2 안착부(176)를 결합한다.The second moving block unit 175 couples the flat second seating unit 176 to the upper surface.

제2 안착부(176)는 제2 이동블록부(175)의 크기보다 크게 형성될 수 있다.The size of the second seating portion 176 may be larger than that of the second moving block portion 175 .

X축 좌우 이동부(180)는 제1 안착부(166)의 상부면과 제2 안착부(176)의 상부면에 걸쳐서 길게 형성된 직사각형 형태의 플레이트(179)를 수직으로 세워서 결합하고, 플레이트(179)의 전면에 길이 방향의 제3 받침대(181)를 결합한다.The X-axis left and right movement unit 180 vertically erects and combines the rectangular plate 179 formed long over the upper surface of the first seating part 166 and the upper surface of the second seating part 176, and the plate ( 179) is coupled to the third pedestal 181 in the longitudinal direction.

X축 좌우 이동부(180)는 제3 받침대(181)의 끝단 부분에 제3 고정스토퍼(182)를 형성하고, 제3 고정스토퍼(182)에 일정한 길이의 제3 볼스크류(183)를 결합하고, 제3 볼스크류(183)가 제3 볼너트부(184)와 제3 이동블록부(185)를 일체로 관통하도록 길이 방향으로 길게 형성되며, 제3 볼스크류(183)의 일측 끝단에 제3 커플링(187)과 제3 상부 구동모터(188)를 결합한다.The X-axis left and right moving part 180 forms a third fixing stopper 182 at the end of the third pedestal 181, and couples a third ball screw 183 of a certain length to the third fixing stopper 182. And, the third ball screw 183 is formed long in the longitudinal direction so as to integrally penetrate the third ball nut part 184 and the third moving block part 185, and is formed at one end of the third ball screw 183. The third coupling 187 and the third upper drive motor 188 are coupled.

제3 이동블록부(185)는 일면에 평탄 형태의 제3 안착부(186)를 수직으로 세워서 결합한다.The third moving block unit 185 vertically erects and combines the flat third seating unit 186 on one surface.

도 13은 본 발명의 실시예에 따른 Z축 상하 이동부의 구성을 확대한 모습을 나타낸 도면이고, 도 14는 본 발명의 실시예에 따른 니들유닛의 구성을 나타낸 도면이다.13 is a view showing an enlarged view of the configuration of the Z-axis vertical moving unit according to an embodiment of the present invention, Figure 14 is a view showing the configuration of the needle unit according to an embodiment of the present invention.

도 13은 도 12의 Z축 상하 이동부(190)를 확대한 모습을 나타낸다.FIG. 13 shows an enlarged view of the Z-axis vertical moving unit 190 of FIG. 12 .

Z축 상하 이동부(190)는 제3 안착부(186)의 일면에 길이 방향의 제4 받침대(191)를 수직으로 세워져 결합하고, 제4 받침대(191)의 하부 끝단 부분에 제4 고정스토퍼(192)를 형성하고, 제4 고정스토퍼(192)에 일정한 길이의 제4 볼스크류(194)를 결합한다.The Z-axis vertical moving unit 190 vertically erects and combines the fourth pedestal 191 in the longitudinal direction on one surface of the third pedestal 186, and the fourth fixed stopper at the lower end of the fourth pedestal 191. 192 is formed, and a fourth ball screw 194 having a certain length is coupled to the fourth fixing stopper 192.

Z축 상하 이동부(190)는 제4 볼스크류(194)에 일정 형상의 제4 이동블록부(195)의 제4 볼너트부(미도시)를 관통하여 결합하고, 제4 볼스크류(194)가 제4 볼너트부와 제4 이동블록부(195)를 일체로 관통하도록 길이 방향으로 길게 형성되며, 제4 스크류(194)의 상부 끝단 부분에 제5 고정스토퍼(193)를 결합하고, 제5 고정스토퍼(193)의 일단에 커플링(196)과 제4 상부 구동모터(197)를 결합한다.The Z-axis vertical moving unit 190 is coupled to the fourth ball screw 194 by passing through a fourth ball nut unit (not shown) of the fourth moving block unit 195 having a predetermined shape, and the fourth ball screw 194 ) is formed long in the longitudinal direction so as to integrally penetrate the fourth ball nut part and the fourth moving block part 195, and the fifth fixing stopper 193 is coupled to the upper end portion of the fourth screw 194, The coupling 196 and the fourth upper drive motor 197 are coupled to one end of the fifth fixed stopper 193.

Z축 상하 이동부(190)는 제4 이동블록부(195)의 일면과 제4 받침대(191)의 양쪽 끝단면을 거쳐서 평판 형태의 슬라이드판(198)을 수직으로 세워져 결합하고, 슬라이드판(198)의 전면에 니들유닛(400)을 결합한다.The Z-axis up-and-down moving unit 190 crosses one side of the fourth moving block unit 195 and both end surfaces of the fourth pedestal 191, and vertically erects and combines a flat plate-shaped slide plate 198, and the slide plate ( The needle unit 400 is coupled to the front of 198).

니들유닛(400)은 Z축 상하 이동부(190)의 모터 동작으로 진공척(450)이 형성된 면과 UV 테이프(20) 간의 이격 간격을 조절한다.The needle unit 400 adjusts the separation distance between the surface on which the vacuum chuck 450 is formed and the UV tape 20 by the motor operation of the Z-axis vertical moving unit 190 .

실린더부재(410)는 제어부(230)의 제어 신호를 통한 솔레노이드 밸브(미도시) 동작에 의하여 공기 흐름을 제어하고, 이에 따라 상하 동작하여 실린더부재(410)에 연결된 니들부재(440)가 상하로 동작하게 된다. 다시 말해, 실린더부재(410)의 동작은 니들부재(440)가 상하로 동작하게 한다.The cylinder member 410 controls the air flow by operating a solenoid valve (not shown) through a control signal from the control unit 230, and moves up and down accordingly so that the needle member 440 connected to the cylinder member 410 moves up and down. It works. In other words, the operation of the cylinder member 410 causes the needle member 440 to move up and down.

진공공급라인(420)은 진공 솔레노이드 밸브(미도시)를 거쳐 출력된 진공이 공급되는 진공튜브에 직접적으로 연결된다.The vacuum supply line 420 is directly connected to a vacuum tube to which vacuum output via a vacuum solenoid valve (not shown) is supplied.

진공공급라인(420)은 제어부(230)의 제어로 진공 솔레노이드 밸브를 제어하여 공기 흡입, 진공 형성, 진공척(450)을 통해 UV 테이프(20)를 흡착한다.The vacuum supply line 420 adsorbs the UV tape 20 through air suction, vacuum formation, and vacuum chuck 450 by controlling the vacuum solenoid valve under the control of the control unit 230 .

니들유닛(400)은 진공공급라인(420)에 연통된 봉 형태의 진공 이동관(430)과, 진공 이동관(430)의 하부 끝단면 중심부에 돌출된 뽀족한 니들부재(440)와 니들부재(440)의 주변으로 하나 이상의 진공척(450)이 형성되어 있다.The needle unit 400 includes a rod-shaped vacuum moving tube 430 connected to the vacuum supply line 420, a pointed needle member 440 protruding from the center of the lower end of the vacuum moving tube 430, and a needle member 440 One or more vacuum chucks 450 are formed around the ).

Z축 상하 이동부(190)는 제4 이동블록부(195)의 상하 이동에 따라 제4 이동블록부(195)에 결합된 슬라이드판(198)이 상하 이동하여 니들유닛(400)의 상하 이동을 제어한다.The Z-axis vertical movement unit 190 moves the needle unit 400 up and down by moving the slide plate 198 coupled to the fourth movement block unit 195 up and down according to the up and down movement of the fourth movement block unit 195. to control

Z축 상하 이동부(190)는 제4 상부 구동모터(197)의 구동에 따라 제4 볼스크류(194)를 회전하고, 제4 이동블록부(195)가 제4 볼스크류(194)의 회전 운동을 직선 운동으로 변환하고, 제4 이동블록부(195)가 제4 볼스크류(194)를 따라 상하 방향으로 이동하여 니들유닛(400)의 진공척(450)이 형성된 면이 UV 테이프(20)에 닿도록 높이를 조절한다.The Z-axis vertical moving unit 190 rotates the fourth ball screw 194 according to the driving of the fourth upper driving motor 197, and the fourth moving block unit 195 rotates the fourth ball screw 194. The motion is converted into linear motion, and the fourth moving block unit 195 moves in the vertical direction along the fourth ball screw 194 so that the surface of the needle unit 400 on which the vacuum chuck 450 is formed is formed with the UV tape 20 ) to adjust the height.

니들유닛(400)은 진공척(450)을 통해 공기가 흡입되어 진공을 형성하여 UV 테이프(20)를 흡착된다.The needle unit 400 absorbs the UV tape 20 by sucking air through the vacuum chuck 450 to form a vacuum.

니들유닛(400)은 진공척(450)에 의해 UV 테이프(20)를 흡착한 상태에서 실린더부재(410)의 동작으로 니들부재(440)를 하강시켜 UV 테이프(20)를 아래로 눌러주면 UV 테이프(20)로부터 개별 웨이퍼(10a)를 떨어지게 한다.The needle unit 400 lowers the needle member 440 by the action of the cylinder member 410 in a state where the UV tape 20 is adsorbed by the vacuum chuck 450 and presses the UV tape 20 down to UV Separate the individual wafers 10a from the tape 20.

도 15는 본 발명의 실시예에 따른 PCB를 부착한 PCB 프레임드를 나타낸 도면이고, 도 16은 본 발명의 실시예에 따른 PCB 얼라인 과정을 나타낸 도면이고, 도 17은 본 발명의 실시예에 따른 제어장치의 내부 구성을 간략하게 나타낸 도면이고, 도 18은 본 발명의 실시예에 따른 행과 열로 복수개 형성된 개별 PCB를 포함한 PCB 프레임드를 나타낸 도면이고, 도 19는 본 발명의 실시예에 따른 각각의 개별 웨이퍼를 포함한 웨이퍼의 모습을 나타낸 도면이고, 도 20은 본 발명의 실시예에 따른 개별 웨이퍼가 UV 테이프로부터 분리됨과 동시에 개별 PCB의 다이에 실장되는 모습을 나타낸 도면이다.15 is a view showing a PCB framed to which a PCB is attached according to an embodiment of the present invention, FIG. 16 is a view showing a PCB alignment process according to an embodiment of the present invention, and FIG. 17 is a view showing a PCB alignment process according to an embodiment of the present invention 18 is a diagram showing a PCB frame including a plurality of individual PCBs formed in rows and columns according to an embodiment of the present invention, and FIG. 20 is a view showing a state of a wafer including each individual wafer, and FIG. 20 is a view showing a state in which an individual wafer according to an embodiment of the present invention is separated from a UV tape and simultaneously mounted on a die of an individual PCB.

본 발명의 마이크로 IC 플립형 실장 장치의 구동 순서를 상세하게 설명하면 다음과 같다.The driving sequence of the micro IC flip type mounting device of the present invention will be described in detail.

사각척(156)은 PCB(50)를 부착한 PCB 프레임드(60)를 안착하고, 진공라인(156a, 156b)에 의해 PCB 프레임드(60)를 진공으로 흡착하여 고정한다.The square chuck 156 seats the PCB framed 60 to which the PCB 50 is attached, and fixes the PCB framed 60 by vacuum suction using the vacuum lines 156a and 156b.

상부판(121)은 웨이퍼 프레임드 안착홀더(122a)의 위에 웨이퍼 프레임드(30)를 장착하고, 웨이퍼 프레임드(30)의 위에 웨이퍼(10)가 하부 방향을 향하도록 UV 테이프(20)를 부착한다.In the upper plate 121, the wafer framed 30 is mounted on the wafer framed holder 122a, and the UV tape 20 is applied on the wafer framed 30 so that the wafer 10 faces downward. attach

UV 테이프(20)의 위에는 원형의 가장자리를 따라 링 형태의 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더(40)의 가이드(41)를 안착시킨다.On the UV tape 20, the guide 41 of the ring-shaped wafer framed extend holder 40 is seated along the circular edge.

다음으로, 도 16에 도시된 바와 같이, 본 발명은 PCB 얼라인 과정을 수행한다.Next, as shown in FIG. 16, the present invention performs a PCB alignment process.

마이크로 IC 플립형 실장 장치(100)는 외부에 제어장치(200)를 더 포함된다.The micro IC flip type mounting device 100 further includes a control device 200 externally.

도 17에 도시된 바와 같이, 제어장치(200)는 PC와 유사한 형태로 마이크로 IC 플립형 실장 장치(100)는 입력부(210), 디스플레이부(220), 제어부(230), 저장부(240) 및 통신부(250)를 포함한다.As shown in FIG. 17, the control device 200 has a form similar to a PC, and the micro IC flip type mounting device 100 includes an input unit 210, a display unit 220, a control unit 230, a storage unit 240 and A communication unit 250 is included.

제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119), 상부비전 카메라(123), 하부비전 카메라(154), 제2 중간 구동모터(149), 제1 상부 구동모터(168), 제2 상부 구동모터(178), 제3 상부 구동모터(188), 제4 상부 구동모터(197)에 전기적으로 연결되어 제어 신호를 통신부(250)를 통해 송수신할 수 있다.The controller 230 includes a first lower drive motor 119, an upper vision camera 123, a lower vision camera 154, a second middle drive motor 149, a first upper drive motor 168, and a second upper drive. It is electrically connected to the motor 178 , the third upper drive motor 188 , and the fourth upper drive motor 197 to transmit and receive control signals through the communication unit 250 .

제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119)의 구동 신호를 제1 하부 구동모터(119)로 전송하여 제1 스크류(116)를 회전시킨다. 제1 평판 안착부(115a)는 제1 스크류(116)의 회전력을 직선 운동으로 바꾸는 제1 이동블록부(115)에 의해서 사각척(156)을 Y축 방향으로 이동하여 상부비전 카메라(123)의 연직 하방까지 이동하게 된다.The control unit 230 transmits a driving signal of the first lower driving motor 119 to the first lower driving motor 119 to rotate the first screw 116 . The first plate mounting part 115a moves the square chuck 156 in the Y-axis direction by the first moving block part 115 that converts the rotational force of the first screw 116 into a linear motion, and the upper vision camera 123 will move to the vertical downward direction of

도 15에 도시된 바와 같이, 상부비전 카메라(123)는 연직 하방으로 향하고 있는 카메라 초점이 PCB 프레임드(60)의 센터 좌표에 위치하게 된다.As shown in FIG. 15 , in the upper vision camera 123 , the camera focus pointing vertically downward is located at the center coordinates of the PCB framed 60 .

PCB 프레임드(60)는 센터 좌표와, PCB(50)가 고정되는 위치, PCB(50)의 A 지점과 B 지점의 절대 좌표를 제어장치(200)의 저장부(240)에 저장되어 있다.In the PCB framed 60, the center coordinates, the position where the PCB 50 is fixed, and the absolute coordinates of the A and B points of the PCB 50 are stored in the storage unit 240 of the controller 200.

도 18에 도시된 바와 같이, PCB(50)는 복수의 개별 PCB(51)가 X축 방향과 Y축 방향으로 행과 열로 복수개 형성된다. 각각의 개별 PCB(51)는 웨이퍼(10)의 개별 웨이퍼(10a)가 부착되는 다이(51a)를 일정 간격마다 복수개 형성한다. 여기서, 다이(51a)는 개별 웨이퍼(10a)를 삽입하여 실장되는 곳이다.As shown in FIG. 18, the PCB 50 is formed with a plurality of individual PCBs 51 in rows and columns in the X-axis direction and the Y-axis direction. Each individual PCB 51 forms a plurality of dies 51a to which the individual wafers 10a of the wafer 10 are attached at regular intervals. Here, the die 51a is a place where an individual wafer 10a is inserted and mounted.

제어부(230)는 PCB 데이터를 저장부(240)에 등록하여 저장하고 있다. PCB 데이터는 개별 PCB 사이즈(x, y)와, 개별 PCB(51)에 형성된 각각의 다이 사이즈(x, y), PCB(50)의 두께, X축의 개별 PCB 개수인 인덱스 개수(X축), Y축의 개별 PCB 개수인 인덱스 개수(Y축)를 포함한다.The control unit 230 registers and stores PCB data in the storage unit 240 . The PCB data includes the individual PCB size (x, y), each die size (x, y) formed on the individual PCB 51, the thickness of the PCB 50, the number of indexes (X-axis), which is the number of individual PCBs on the X-axis, Includes the number of indexes (Y-axis), which is the number of individual PCBs on the Y-axis.

입력부(210)는 첫 번째 개별 PCB(51)의 센터 좌표를 입력받고, 개별 PCB(51)의 끝단의 시작 지점을 입력받는다.The input unit 210 receives the coordinates of the center of the first individual PCB 51 and the starting point of the end of the individual PCB 51 .

제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 구동하고, 입력받는 첫 번째 개별 PCB(51)의 센터 좌표, 개별 PCB(51)의 시작 지점을 이용하여 상부비전 카메라(123)의 촬영 위치를 첫 번째 개별 PCB(51)의 센터 좌표로 이동하도록 제어한다.The control unit 230 drives the first lower drive motor 119 and the second middle drive motor 149, and uses the input center coordinates of the first individual PCB 51 and the starting point of the individual PCB 51. The photographing position of the upper vision camera 123 is controlled to move to the center coordinates of the first individual PCB 51 .

제어부(230)는 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 구동시켜 사각척(156)을 Y축 방향과 X축 방향으로 이동하고, 상부비전 카메라(123)의 촬영 위치를 첫 번째 개별 PCB(51), 두 번째 개별 PCB(51) 등 순차적으로 이동하면서 상부비전 카메라(123)에 의해 각각의 개별 PCB(51)를 촬영한다.The control unit 230 drives the lower driving motor 119 and the second intermediate driving motor 149 to move the square chuck 156 in the Y-axis direction and the X-axis direction, and determines the shooting position of the upper vision camera 123. Each individual PCB 51 is photographed by the upper vision camera 123 while sequentially moving the first individual PCB 51 and the second individual PCB 51 .

다시 말해, 제어부(230)는 등록된 PCB 데이터에서 개별 PCB 사이즈(x, y)와, 각각의 다이 사이즈(x, y), PCB(50)의 두께, 인덱스 개수(X축), 인덱스 개수(Y축)를 이용하여 X축 방향과 Y축 방향으로 사각척(156)을 이동해가면서 상부비전 카메라(123)에 의해 각각의 개별 PCB(51)를 촬영한다.In other words, the control unit 230 determines the individual PCB size (x, y), each die size (x, y), the thickness of the PCB 50, the number of indexes (X-axis), and the number of indexes (x, y) in the registered PCB data. Each individual PCB 51 is photographed by the upper vision camera 123 while moving the square chuck 156 in the X-axis direction and the Y-axis direction using the Y-axis).

도 16에 도시된 바와 같이, 제어부(230)는 상부비전 카메라(123)에 의해 개별 PCB(51)를 X축 방향과 Y축 방향으로 이동하면서 촬영한다.As shown in FIG. 16 , the control unit 230 photographs the individual PCBs 51 by the upper vision camera 123 while moving in the X-axis direction and the Y-axis direction.

이때, 제어부(230)는 상부비전 카메라(123)에 의해 촬영되는 모습을 디스플레이부(220)를 통해 표시하도록 제어한다.At this time, the control unit 230 controls to display the image captured by the upper vision camera 123 through the display unit 220 .

제어부(230)는 개별 PCB(51)의 센터 좌표의 오차가 발생하게 되는 경우, X, Y 좌표의 오차값을 계산한다.The controller 230 calculates error values of X and Y coordinates when an error occurs in center coordinates of individual PCBs 51 .

이어서, 제어부(230)는 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 구동시켜 사각척(156)을 X축 방향과 Y축 방향으로 이동할 때, 계산된 X, Y 좌표의 오차값을 감안하여 상부비전 카메라(123)의 초점 위치가 각각의 개별 PCB(51)의 센터 좌표에 위치하도록 제어되고, 사각척(156)을 X축 방향과 Y축 방향으로 이동하면서 상부비전 카메라(123)에 의해 각각의 개별 PCB(51)를 순차적으로 촬영하여 정위치 오차를 계산하는 비전 PCB 얼라인을 수행한다.Then, when the controller 230 moves the square chuck 156 in the X-axis direction and the Y-axis direction by driving the lower drive motor 119 and the second middle drive motor 149, the error of the calculated X and Y coordinates In consideration of the value, the focus position of the upper vision camera 123 is controlled to be located at the center coordinates of each individual PCB 51, and the upper vision camera ( 123), each individual PCB 51 is sequentially photographed and vision PCB alignment is performed to calculate a positioning error.

비전 PCB 얼라인은 각각의 개별 PCB(51)의 X축 좌표, Y축 좌표, 사이즈, 각각의 다이 사이즈, 개별 PCB(51)의 센터 좌표, 개별 PCB(51) 간의 이격 거리, 인덱스 개수(X축), 인덱스 개수(Y축) 등을 저장할 수 있다.Vision PCB Alignment is the X-axis coordinate, Y-axis coordinate, size of each individual PCB 51, each die size, center coordinate of each individual PCB 51, separation distance between individual PCBs 51, number of indexes (X axis), the number of indexes (Y-axis), etc. can be stored.

비전 PCB 얼라인은 정위치 오차를 감안하여 각각의 개별 PCB(51)의 X축 좌표와 Y축 좌표의 좌표계를 생성한다.Vision PCB Alignment generates a coordinate system of X-axis coordinates and Y-axis coordinates of each individual PCB 51 in consideration of positional error.

다음으로, 본 발명은 웨이퍼 얼라인 과정을 수행한다. 웨이퍼 얼라인 과정은 전술한 PCB 얼라인 과정과 원리가 동일하다.Next, the present invention performs a wafer alignment process. The wafer alignment process has the same principle as the aforementioned PCB alignment process.

제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119)를 구동시켜 사각척(156)을 Y축 방향으로 이동시켜 하부비전 카메라(153)의 초점 위치를 상부판(121)의 제1 관통공(122)의 중심부에 위치로 이동하도록 제어한다.The control unit 230 drives the first lower drive motor 119 to move the square chuck 156 in the Y-axis direction to change the focus position of the lower vision camera 153 to the first through hole 122 of the upper plate 121. ) is controlled to move to a position at the center of the

하부비전 카메라(154)는 초점을 상부 방향을 향하도록 하고, 연직 상방에 웨이퍼(10)가 위치하게 된다.The lower vision camera 154 focuses upward, and the wafer 10 is positioned vertically upward.

도 19에 도시된 바와 같이, 웨이퍼(10)는 복수의 개별 웨이퍼(10a)가 X축 방향과 Y축 방향으로 행과 열로 복수개 형성된다. 각각의 개별 웨이퍼(10a)는 개별 PCB(51)의 다이(51a)에 실장된다.As shown in FIG. 19 , the wafer 10 is formed with a plurality of individual wafers 10a in rows and columns in the X-axis direction and the Y-axis direction. Each individual wafer 10a is mounted on a die 51a of an individual PCB 51 .

제어부(230)는 웨이퍼 데이터를 저장부(240)에 등록하여 저장하고 있다. 웨이퍼 데이터는 개별 웨이퍼(10a)의 사이즈(x, y)와, 웨이퍼(10)의 두께, X축의 개별 웨이퍼 개수인 인덱스 개수(X축), Y축의 개별 웨이퍼 개수인 인덱스 개수(Y축)를 포함한다.The control unit 230 registers and stores wafer data in the storage unit 240 . The wafer data includes the size (x, y) of each wafer 10a, the thickness of the wafer 10, the number of indexes (X-axis), which is the number of individual wafers on the X-axis, and the number of indexes (Y-axis), which is the number of individual wafers on the Y-axis. include

입력부(210)는 첫 번째 개별 웨이퍼(10a)의 센터 좌표를 입력받고, 개별 웨이퍼(10a)의 끝단의 시작 지점을 입력받는다.The input unit 210 receives the center coordinates of the first individual wafer 10a and the starting point of the end of each individual wafer 10a.

제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 구동하고, 입력받는 첫 번째 개별 웨이퍼(10a)의 센터 좌표, 개별 웨이퍼(10a)의 시작 지점을 이용하여 하부비전 카메라(154)의 촬영 위치를 첫 번째 개별 웨이퍼(10a)의 센터 좌표로 이동하도록 제어한다.The control unit 230 drives the first lower drive motor 119 and the second middle drive motor 149, and uses the received center coordinates of the first individual wafer 10a and the starting point of the individual wafer 10a. The photographing position of the lower vision camera 154 is controlled to move to the center coordinates of the first individual wafer 10a.

제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 구동시켜 사각척(145)을 Y축 방향과 X축 방향으로 이동하고, 하부비전 카메라(154)의 촬영 위치를 첫 번째 개별 웨이퍼(10a), 두 번째 개별 웨이퍼(10a) 등 순차적으로 이동하면서 하부비전 카메라(154)에 의해 각각의 개별 웨이퍼(10a)를 촬영한다.The control unit 230 drives the first lower driving motor 119 and the second intermediate driving motor 149 to move the square chuck 145 in the Y-axis direction and the X-axis direction, and captures the lower vision camera 154. Each individual wafer 10a is photographed by the lower vision camera 154 while sequentially moving the position of the first individual wafer 10a, the second individual wafer 10a, and the like.

다시 말해, 제어부(230)는 등록된 웨이퍼 데이터에서 개별 웨이퍼 사이즈(x, y)와, 웨이퍼(10)의 두께, 인덱스 개수(X축), 인덱스 개수(Y축)를 이용하여 X축 방향과 Y축 방향으로 사각척(156)을 이동해가면서 하부비전 카메라(154)에 의해 각각의 개별 웨이퍼(10a)를 촬영한다.In other words, the control unit 230 uses the individual wafer sizes (x, y), the thickness of the wafer 10, the number of indexes (X-axis), and the number of indexes (Y-axis) in the registered wafer data to determine the X-axis direction and the number of indexes (Y-axis). Each individual wafer 10a is photographed by the lower vision camera 154 while moving the square chuck 156 in the Y-axis direction.

제어부(230)는 하부비전 카메라(154)에 의해 개별 웨이퍼(10a)를 X축 방향과 Y축 방향으로 이동하면서 촬영하게 된다.The controller 230 photographs the individual wafers 10a by the lower vision camera 154 while moving in the X-axis direction and the Y-axis direction.

이때, 제어부(230)는 하부비전 카메라(154)에 의해 촬영되는 모습을 디스플레이부(220)를 통해 표시하도록 제어한다.At this time, the control unit 230 controls to display the image captured by the lower vision camera 154 through the display unit 220 .

제어부(230)는 개별 웨이퍼(10a)의 센터 좌표의 오차가 발생하게 되는 경우, X, Y 좌표의 오차값을 계산한다.The controller 230 calculates error values of X and Y coordinates when an error occurs in the center coordinates of each wafer 10a.

이어서, 제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 구동시켜 사각척(156)을 X축 방향과 Y축 방향으로 이동할 때, 계산된 X, Y 좌표의 오차값을 감안하여 하부비전 카메라(154)의 초점 위치가 각각의 개별 웨이퍼(10a)의 센터 좌표에 위치하도록 제어되고, 사각척(156)을 X축 방향과 Y축 방향으로 이동하면서 하부비전 카메라(154)에 의해 각각의 개별 웨이퍼(10a)를 순차적으로 촬영하여 정위치 오차를 계산하는 비전 웨이퍼 얼라인을 수행한다.Subsequently, the controller 230 drives the first lower driving motor 119 and the second intermediate driving motor 149 to move the square chuck 156 in the X-axis direction and the Y-axis direction, the calculated X and Y coordinates The focal position of the lower vision camera 154 is controlled to be located at the center coordinates of each individual wafer 10a in consideration of the error value of , and the lower vision camera 156 moves in the X-axis direction and the Y-axis direction. Vision wafer alignment is performed by sequentially photographing each individual wafer 10a by the camera 154 and calculating a positioning error.

비전 웨이퍼 얼라인은 각각의 개별 웨이퍼(10a)의 X축 좌표, Y축 좌표, 사이즈, 개별 웨이퍼(10a)의 센터 좌표, 개별 웨이퍼(10a) 간의 이격 거리, 인덱스 개수(X축), 인덱스 개수(Y축) 등을 저장할 수 있다.Vision wafer alignment is the X-axis coordinate, Y-axis coordinate, size of each individual wafer 10a, center coordinate of each individual wafer 10a, separation distance between individual wafers 10a, number of indexes (X-axis), number of indexes (Y-axis), etc. can be stored.

비전 웨이퍼 얼라인은 정위치 오차를 감안하여 각각의 개별 웨이퍼(10a)의 X축 좌표와 Y축 좌표의 좌표계를 생성한다.The vision wafer align creates a coordinate system of X-axis coordinates and Y-axis coordinates of each individual wafer 10a in consideration of the position error.

비전 PCB 얼라인과 비전 웨이퍼 얼라인은 각각의 개별 웨이퍼(10a)를 수직으로 이동시켜 개별 PCB(51)의 다이(51a)에 실장하도록 위치를 계산하고, 조정하는 작업이다.The vision PCB alignment and the vision wafer alignment are operations of vertically moving each individual wafer 10a to calculate and adjust the position so as to be mounted on the die 51a of the individual PCB 51 .

제어부(230)는 비전 PCB 얼라인과 비전 웨이퍼 얼라인을 수행한 후, PCB 에폭시 장치(미도시)를 이용하여 PCB 에폭시(11)를 개별 PCB(51)의 다이(51a)마다 PCB 에폭시(11)를 도포한다.After the controller 230 performs vision PCB alignment and vision wafer alignment, the PCB epoxy 11 is applied to each die 51a of the individual PCB 51 by using a PCB epoxy device (not shown). ) is applied.

도 21 및 도 22는 본 발명의 실시예에 따른 에폭시를 도포하는 디스펜싱 장치의 구성을 나타낸 도면이다.21 and 22 are views showing the configuration of a dispensing device for applying epoxy according to an embodiment of the present invention.

본 발명의 실시예에 따른 에폭시를 도포하는 디스펜싱 장치(300)는 디스펜싱 컨트롤러(310)에 의해 설정된 공기량이 공기유로(320)를 통하여 디스펜싱 유닛(330)에 공급되고, 공급된 에어에 따라 접착제(PCB 에폭시, 플럭스 등)가 디스펜싱 주사기(340)로 공급되어 주사기 바늘(341)을 통해 배출된다.In the dispensing device 300 for applying epoxy according to an embodiment of the present invention, the amount of air set by the dispensing controller 310 is supplied to the dispensing unit 330 through the air passage 320, and the supplied air Accordingly, the adhesive (PCB epoxy, flux, etc.) is supplied to the dispensing syringe 340 and discharged through the syringe needle 341.

디스펜싱 유닛(300)은 디스펜싱 주사기(340)를 삽입하여 고정볼트(351)에 의해 고정하는 주사기 고정부(350)를 형성하고, 디스펜싱 주사기(340)의 주사기 바늘(341)이 주사기 고정부(350)를 통과하여 아래로 노출된다.The dispensing unit 300 forms a syringe fixing part 350 in which the dispensing syringe 340 is inserted and fixed by a fixing bolt 351, and the syringe needle 341 of the dispensing syringe 340 is attached to the syringe. It passes through top 350 and is exposed below.

제어부(230)는 제1 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 구동시켜 사각척(156)을 이동하여 PCB 프레임드(60)의 센터 좌표를 상부판(121)의 제1 관통공(122)의 중심부 위치로 이동하도록 제어한다.The controller 230 moves the square chuck 156 by driving the first lower drive motor 119 and the second middle drive motor 149 to set the coordinates of the center of the PCB framed 60 to the upper plate 121. 1 is controlled to move to the central position of the through hole 122.

제어부(230)는 비전 PCB 얼라인과 비전 웨이퍼 얼라인을 기초로 제1 하부 구동모터(119)와 제2 중간 구동모터(149)를 제어하여 사각척(156)을 이동시켜 첫 번째 개별 웨이퍼(10a)의 연직 하방에 첫 번째 개별 PCB(51)를 위치하도록 제어한다.The control unit 230 moves the square chuck 156 by controlling the first lower drive motor 119 and the second middle drive motor 149 based on the vision PCB alignment and the vision wafer alignment to move the first individual wafer ( 10a) is controlled to position the first individual PCB 51 vertically below.

제어부(230)는 제1 상부 구동모터(168)와 제2 상부 구동모터(178)를 구동시키고, Y축 제1 앞뒤 이동부(160), Y축 제2 앞뒤 이동부(170)를 이동시켜 니들부재(440)의 Y축 이동을 제어하고, 제3 상부 구동모터(188)를 구동시키고, X축 좌우 이동부(180)를 이동시켜 니들부재(440)의 X축 이동을 제어하며, 제4 상부 구동모터(197)를 구동시키며, Z축 상하 이동부(190)를 이동시켜 니들부재(440)의 Z축 이동을 제어할 수 있다.The control unit 230 drives the first upper drive motor 168 and the second upper drive motor 178, and moves the first Y-axis forward and backward movement unit 160 and the Y-axis second forward and backward movement unit 170 to The Y-axis movement of the needle member 440 is controlled, the third upper drive motor 188 is driven, and the X-axis left and right movement unit 180 is moved to control the X-axis movement of the needle member 440, 4 It is possible to control the Z-axis movement of the needle member 440 by driving the upper driving motor 197 and moving the Z-axis up-down movement unit 190 .

제어부(230)는 제1 상부 구동모터(168), 제2 상부 구동모터(178) 및 제3 상부 구동모터(188)를 구동시키고, 이에 따라 Y축 제1 앞뒤 이동부(160), Y축 제2 앞뒤 이동부(170), X축 좌우 이동부(180)를 이동시키고, Z축 상하 이동부(190)의 제4 상부 구동모터(197)를 구동시켜 니들유닛(400)의 진공척(450)이 형성된 면이 UV 테이프(20)에 닿도록 높이를 조절하고, 니들유닛(400)의 니들부재(440)의 하부 끝단 위치를 웨이퍼(10)의 첫 번째 개별 웨이퍼(10a)의 상부에 위치하도록 제어한다.The control unit 230 drives the first upper driving motor 168, the second upper driving motor 178, and the third upper driving motor 188, and accordingly, the Y-axis first back and forth moving unit 160, the Y-axis The vacuum chuck of the needle unit 400 ( 450) is formed in contact with the UV tape 20, and the lower end of the needle member 440 of the needle unit 400 is positioned on top of the first individual wafer 10a of the wafer 10. control to position.

제어부(230)는 진공공급라인(420)를 동작시켜 진공을 발생시키고, 진공척(450)을 통해 공기가 흡입되어 UV 테이프(20)가 흡착된다.The control unit 230 operates the vacuum supply line 420 to generate a vacuum, and air is sucked through the vacuum chuck 450 so that the UV tape 20 is adsorbed.

도 20에 도시된 바와 같이 제어부(230)는 UV 테이프(20)를 흡착한 상태에서, 실린더부재(410)를 구동시켜 니들유닛(400)의 니들부재(440)를 수직으로 하강하여 니들부재(440)의 하부 끝단 부분이 UV 테이프(20)를 누른다.As shown in FIG. 20, the control unit 230 drives the cylinder member 410 in a state in which the UV tape 20 is adsorbed to vertically lower the needle member 440 of the needle unit 400 so that the needle member ( 440) presses the UV tape 20.

웨이퍼(10)의 첫 번째 개별 웨이퍼(10a)는 UV 테이프(20)로부터 분리됨과 동시에 첫 번째 개별 PCB(51)의 첫 번째 다이(51a)에 PCB 에폭시(11)로 부착되어 실장된다. 본 발명은 니들부재(440)가 UV 테이프(20)에 접촉하고, 직접적인 IC 표면에 접촉이 없으므로 IC 표면에 데미지를 피하면서 IC(10a)에 가해지는 미세 충격을 방지할 수 있으며, 이에 따라 제품 불량의 원인을 제거할 수 있다.The first individual wafer 10a of the wafer 10 is separated from the UV tape 20 and simultaneously attached and mounted on the first die 51a of the first individual PCB 51 with PCB epoxy 11 . In the present invention, since the needle member 440 is in contact with the UV tape 20 and there is no direct contact with the IC surface, it is possible to prevent micro-impact applied to the IC 10a while avoiding damage to the IC surface, and thus product The cause of the defect can be eliminated.

제어부(230)는 제1 상부 구동모터(168), 제2 상부 구동모터(178) 및 제3 상부 구동모터(188)를 구동시키고, 이에 따라 Y축 제1 앞뒤 이동부(160), Y축 제2 앞뒤 이동부(170), X축 좌우 이동부(180)를 이동시키고, Z축 상하 이동부(190)의 제4 상부 구동모터(197)를 구동시켜 니들유닛(400)의 진공척(450)이 형성된 면이 UV 테이프(20)에 닿도록 높이를 조절하고, 니들유닛(400)의 니들부재(440)의 하부 끝단 위치를 웨이퍼(10)의 두 번째 개별 웨이퍼(10a)의 상부에 위치하도록 제어한다.The control unit 230 drives the first upper driving motor 168, the second upper driving motor 178, and the third upper driving motor 188, and accordingly, the Y-axis first back and forth moving unit 160, the Y-axis The vacuum chuck of the needle unit 400 ( 450) is formed in contact with the UV tape 20, and the lower end of the needle member 440 of the needle unit 400 is positioned on top of the second individual wafer 10a of the wafer 10. control to position.

제어부(230)는 진공공급라인(420)를 동작시켜 진공을 발생시키고, 진공척(450)을 통해 공기가 흡입되어 UV 테이프(20)가 흡착된다.The control unit 230 operates the vacuum supply line 420 to generate a vacuum, and air is sucked through the vacuum chuck 450 so that the UV tape 20 is adsorbed.

제어부(230)는 UV 테이프(20)를 흡착한 상태에서, 실린더부재(410)를 구동시켜 니들유닛(400)의 니들부재(440)를 수직으로 하강하여 니들부재(440)의 하부 끝단 부분이 UV 테이프(20)를 누른다.In the state where the UV tape 20 is adsorbed, the control unit 230 drives the cylinder member 410 to vertically lower the needle member 440 of the needle unit 400 so that the lower end portion of the needle member 440 is Press the UV tape (20).

웨이퍼(10)의 두 번째 개별 웨이퍼(10a)는 UV 테이프(20)로부터 분리됨과 동시에 첫 번째 개별 PCB(51)의 두 번째 다이(51a)에 PCB 에폭시(11)로 부착되어 실장된다.The second individual wafer 10a of the wafer 10 is separated from the UV tape 20 and mounted on the second die 51a of the first individual PCB 51 by using PCB epoxy 11 .

제어부(230)는 니들부재(440)가 X축 방향 및/또는 Y축 방향으로 한 칸씩 이동하면서 수직으로 하강하여 UV 테이프(20)를 누르고, 니들부재(440)를 상승시키는 작업을 반복하여 각각의 개별 웨이퍼(10a)와 개별 PCB(51)의 각 다이(51a)에 각각 삽입하여 실장한다.The control unit 230 repeatedly moves the needle member 440 one by one in the X-axis direction and/or the Y-axis direction, vertically descends, presses the UV tape 20, and raises the needle member 440, respectively. It is mounted by inserting into each die 51a of the individual wafer 10a of the individual PCB 51, respectively.

이러한 방법을 반복하여 개별 웨이퍼(10a)를 개별 PCB(51)의 다이(51a)에 순차적으로 실장하게 된다. 본 발명은 마이크로 IC 플립형 실장 공정을 크게 줄이면서 IC 패턴면 비접촉 방식을 적용하여 두께 80㎛, 300㎛ 이하의 소형 경박 IC 실장의 핸들링이 가능한 효과가 있다.By repeating this method, the individual wafers 10a are sequentially mounted on the dies 51a of the individual PCBs 51 . The present invention greatly reduces the micro IC flip-type mounting process and applies a non-contact method on the IC pattern surface, thereby enabling handling of small and thin IC mounting with a thickness of 80 μm or less and 300 μm or less.

본 발명은 1 × 1mm 이하의 소형 경박 IC 실장에 유리하고, IC 데미지 최소화, 고정밀화, 다양한 소형 제품에 적용이 가능한 효과가 있다.The present invention is advantageous for mounting small and thin ICs of 1 × 1 mm or less, and has effects of minimizing IC damage, high precision, and applicable to various small products.

이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.Although the embodiments of the present invention have been described in detail above, the scope of the present invention is not limited thereto, and various modifications and improvements made by those skilled in the art using the basic concept of the present invention defined in the following claims are also included in the scope of the present invention. that fall within the scope of the right.

100: 마이크로 IC 플립형 실장 장치
110: 하부 스테이지
120: 탑플레이트
130: 상부 스테이지
100: micro IC flip type mounting device
110: lower stage
120: top plate
130: upper stage

Claims (13)

일정 형상으로 형성되고, 하부면에 접착력이 있는 테이프;
상기 테이프의 하부면에 결합되고, 일정한 형상의 개별 웨이퍼가 행과 열로 형성되고, 각각의 개별 웨이퍼가 하나씩 조각으로 형성되는 일정 형상의 웨이퍼;
상기 웨이퍼의 하부로부터 연직 하방으로 이격되어 있고, 행과 열로 일정한 형상의 개별 PCB(Printed Circuit Board)를 일정 간격마다 형성하고, 상기 개별 PCB는 상기 각각의 개별 웨이퍼를 삽입하여 실장하는 다이를 일정 간격마다 복수개 형성하는 PCB; 및
상기 테이프의 상부에 위치하여 상하 방향으로 이동하여 상기 테이프를 누르는 막대 형상의 니들부재로 이루어진 니들유닛을 포함하며,
상기 니들부재는 상기 각각의 개별 웨이퍼와 상기 개별 PCB의 각 다이를 상하로 일대일로 위치한 상태에서 수직으로 하강하여 상기 테이프를 누르면, 상기 테이프로부터 상기 개별 웨이퍼가 분리되어 상기 개별 PCB의 다이에 삽입하여 실장하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
A tape formed in a predetermined shape and having an adhesive force on a lower surface;
a wafer of a predetermined shape coupled to the lower surface of the tape, wherein individual wafers of a predetermined shape are formed in rows and columns, and each individual wafer is formed in pieces one by one;
Individual PCBs (Printed Circuit Boards) spaced vertically downward from the lower part of the wafer and having a constant shape in rows and columns are formed at regular intervals, and the individual PCBs insert and mount dies into which the individual wafers are mounted at regular intervals. A plurality of PCBs formed for each; and
And a needle unit made of a rod-shaped needle member located on top of the tape and moving in a vertical direction to press the tape,
The needle member descends vertically in a state where each individual wafer and each die of the individual PCB are located one-to-one vertically and presses the tape, the individual wafer is separated from the tape and inserted into the die of the individual PCB A micro IC flip type mounting device to be mounted.
청구항 1에 있어서,
메인프레임;
상기 메인프레임의 상부에 결합하고, 상기 PCB가 올려져 고정되는 사각척을 X축 방향, Y 방향, Z 방향으로 이동시키는 하부 스테이지;
상기 하부 스테이지에 수직 기둥을 이용하여 결합한 평판 형태의 상부판과, 상기 상부판의 중심부에 일정한 직경의 원형구멍이 형성된 관통공을 형성하고, 상기 관통공에 상기 테이프를 부착하여 밀폐시키는 탑플레이트; 및
상기 탑플레이트의 상부에 결합하고, 상기 니들유닛을 X축 방향, Y 방향, Z 방향으로 이동시키는 상부 스테이지를 포함하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 1,
mainframe;
a lower stage coupled to the upper part of the main frame and moving the square chuck on which the PCB is lifted and fixed in the X-axis direction, the Y-direction, and the Z-direction;
a flat top plate coupled to the lower stage using vertical pillars, a top plate having a through hole having a circular hole of a constant diameter formed in the center of the top plate, and sealing the through hole by attaching the tape to the through hole; and
and an upper stage coupled to an upper portion of the top plate and moving the needle unit in X-axis, Y-, and Z-directions.
청구항 2에 있어서,
상기 상부판은,
상기 관통공의 주위에 형성되어 링 형태의 웨이퍼 프레임드;
상기 웨이퍼 프레임드의 위에 부착하여 상기 관통공을 밀폐시키고, 하부면에 상기 웨이퍼를 결합하는 상기 테이프; 및
링 형태이고, 하부면 테두리를 따라 일정 높이로 돌출된 가이드를 구비하고, 상기 가이드를 상기 테이프의 위의 원형 테두리를 따라 얹어져 상기 개별 웨이퍼 간의 사이 간격이 넓어지는 웨이퍼프레임드 익스텐드 홀더를 포함하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 2,
The upper plate,
a ring-shaped wafer frame formed around the through hole;
the tape attached to the wafer frame to seal the through hole and to couple the wafer to a lower surface; and
A wafer framed extend holder having a ring shape, having a guide protruding at a certain height along the edge of the lower surface, and placing the guide along the circular edge on the tape to widen the distance between the individual wafers. A micro IC flip-type mounting device that
청구항 2에 있어서,
상기 하부 스테이지는,
제1 평판 플레이트와, 상기 제1 평판 플레이트의 중심부에서 일정한 길이의 제1 스크류에 일정 형상의 제1 이동블록부를 일체로 관통하고, 상기 제1 스크류의 끝단에 제1 하부 구동모터를 결합하여 Y축 방향의 이동을 수행하는 제1 하부 직선 이동부; 및
상기 제1 이동블록부의 상부면에 결합한 일정 두께의 제1 평판 안착부와, 상기 제1 평판 안착부의 상부면에 제2 평판 플레이트를 형성하고, 상기 제2 평판 플레이트의 중심부에서 일정한 길이의 제2 스크류에 일정 형상의 제2 이동블록부를 일체로 관통하고, 상기 제2 스크류의 끝단에 제2 중간 구동모터를 결합하여 X축 방향의 이동을 수행하는 제1 중간 직선 이동부를 더 포함하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 2,
The lower stage is
A first flat plate and a first moving block having a predetermined shape are integrally penetrated by a first screw having a predetermined length at the center of the first flat plate, and a first lower driving motor is coupled to the end of the first screw to Y a first lower linear moving unit that moves in an axial direction; and
A first flat plate mounting portion having a predetermined thickness coupled to an upper surface of the first moving block unit and a second flat plate plate are formed on the upper surface of the first flat plate mounting portion, and a second flat plate having a predetermined length is formed at the center of the second flat plate plate. A micro IC flip type further comprising a first intermediate linear moving unit integrally penetrating the second moving block having a predetermined shape through the screw and performing movement in the X-axis direction by coupling a second intermediate driving motor to an end of the second screw. mounting device.
청구항 4에 있어서,
상기 제2 이동블록부의 상부면에 일정 두께의 제2 평판 안착부를 결합하고, 상기 제2 평판 안착부의 상부면에 내부 공간과 일정한 높이를 가지는 일정한 형상의 스테이지 프레임을 형성하고, 상기 스테이지 프레임의 상부에 상기 사각척을 상부면에 형성한 평탄 커버부를 결합하고, 상기 평탄 커버부의 측면에 상하 방향으로 결합하여 연직 상방으로 초점이 향하도록 하는 하부비전 카메라를 구비하는 Z축 스테이지를 더 포함하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 4,
A second plate mounting part having a predetermined thickness is coupled to an upper surface of the second moving block unit, a stage frame having a predetermined shape having an internal space and a predetermined height is formed on the upper surface of the second flat plate mounting part, and an upper part of the stage frame A micro IC further comprising a Z-axis stage having a bottom vision camera coupled to a flat cover portion formed on an upper surface of the square chuck and vertically coupled to a side surface of the flat cover portion so that a focus is directed vertically upward. Flip-mount device.
청구항 2에 있어서,
상기 하부 스테이지는 일정 길이와 너비를 가진 제1 평판 플레이트와, 상기 제1 평판 플레이트의 중심부에서 일정한 길이의 제1 스크류에 일정 형상의 제1 이동블록부를 일체로 관통하도록 길이 방향으로 길게 형성되고, 상기 제1 스크류의 끝단에 제1 하부 구동모터를 결합하여 Y축 방향의 이동을 수행하는 제1 하부 직선 이동부를 포함하고,
상기 탑플레이트는 상기 상부판의 일측 끝단면 근처에 수평 방향으로 일정한길이의 카메라 지지대를 결합하고, 상기 카메라 지지대의 끝단면에 상하 방향으로 결합하여 초점을 연직 하방으로 향하도록 하는 상부비전 카메라를 결합하고,
상기 메인프레임의 주변에는 상기 제1 하부 구동모터를 구동시켜 상기 제1 스크류의 회전력을 직선 운동으로 바꾸는 상기 제1 이동블록부에 의해서 상기 사각척을 Y축 방향으로 이동하여 상기 상부비전 카메라의 연직 하방까지 이동하도록 제어하는 제어부를 구비한 제어장치를 설치하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 2,
The lower stage is formed long in the longitudinal direction so as to integrally penetrate a first flat plate having a predetermined length and width and a first moving block unit having a predetermined shape through a first screw having a predetermined length at the center of the first flat plate, A first lower linear movement unit coupled to a first lower drive motor to an end of the first screw to move in the Y-axis direction;
The top plate couples a camera support of a certain length in a horizontal direction near one end surface of the top plate, and couples an upper vision camera that is coupled to the end surface of the camera support in a vertical direction to direct the focus vertically downward. do,
Around the main frame, the square chuck is moved in the Y-axis direction by the first moving block unit that drives the first lower drive motor to convert the rotational force of the first screw into a linear motion, thereby moving the vertical direction of the upper vision camera. A micro IC flip type mounting device in which a control device having a control unit controlling movement to the lower side is provided.
청구항 6에 있어서,
상기 제어부는 개별 PCB 사이즈(x, y)와, 상기 개별 PCB에 형성된 각각의 다이 사이즈(x, y)를 포함한 PCB 데이터를 이용하여 상기 사각척을 X축 방향과 Y축 방향으로 이동하면서 상기 상부비전 카메라에 의해 상기 각각의 개별 PCB를 순차적으로 촬영하여 정위치 오차를 계산하는 비전 PCB 얼라인을 수행하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 6,
The control unit moves the square chuck in the X-axis direction and the Y-axis direction using PCB data including individual PCB sizes (x, y) and respective die sizes (x, y) formed on the individual PCBs while moving the upper A micro IC flip-type mounting device that performs vision PCB alignment by sequentially photographing each individual PCB by a vision camera and calculating a position error.
청구항 7에 있어서,
상기 제어부는 상기 사각척을 Y축 방향으로 이동하여 상기 하부비전 카메라의 초점 위치를 상기 상부판의 관통공의 중심부에 위치시키고, 개별 웨이퍼 사이즈(x, y)를 포함한 웨이퍼 데이터를 이용하여 상기 사각척을 X축 방향과 Y축 방향으로 이동하면서 상기 하부비전 카메라에 의해 상기 각각의 개별 웨이퍼를 순차적으로 촬영하여 정위치 오차를 계산하는 비전 웨이퍼 얼라인을 수행하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 7,
The control unit moves the square chuck in the Y-axis direction to position the focus position of the lower vision camera at the center of the through hole of the upper plate, and uses wafer data including individual wafer sizes (x, y) to determine the square chuck. A micro IC flip-type mounting device that performs vision wafer alignment by sequentially photographing each individual wafer by the lower vision camera while moving the chuck in the X-axis direction and the Y-axis direction to calculate a position error.
청구항 8에 있어서,
상기 제어부는 상기 비전 PCB 얼라인과 상기 비전 웨이퍼 얼라인을 기초로 상기 사각척을 이동시켜 첫 번째 개별 웨이퍼의 연직 하방에 첫 번째 개별 PCB를 위치하도록 제어하고, 상기 니들유닛을 이동시켜 상기 니들부재의 하부 끝단 위치를 상기 첫 번째 개별 웨이퍼의 상부에 위치하도록 제어하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 8,
The control unit moves the square chuck based on the vision PCB alignment and the vision wafer alignment to control the first individual PCB to be positioned vertically below the first individual wafer, and moves the needle unit to move the needle member. Micro IC flip-type mounting device for controlling the position of the lower end of the upper part of the first individual wafer.
청구항 9에 있어서,
상기 제어부는 상기 니들부재가 X축 방향 및/또는 Y축 방향으로 한 칸씩 이동하면서 수직으로 하강하여 상기 테이프를 누르고, 상기 니들부재를 상승시키는 작업을 반복하여 상기 각각의 개별 웨이퍼와 상기 개별 PCB의 각 다이에 각각 삽입하여 실장하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 9,
The controller moves the needle member one by one in the X-axis direction and/or the Y-axis direction, descends vertically, presses the tape, and repeatedly moves the needle member to raise the individual wafers and the individual PCB. A micro IC flip-type mounting device that is individually inserted into each die and mounted.
청구항 1에 있어서,
상기 니들유닛은 X축 방향 및/또는 Y축 방향으로 한 칸씩 이동하면서 수직으로 하강하여 상기 니들부재가 상기 테이프를 누르고, 상기 니들부재를 상승시키는 작업을 반복하여 상기 각각의 개별 웨이퍼와 상기 개별 PCB의 각 다이에 각각 삽입하여 실장하는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 1,
The needle unit moves one by one in the X-axis direction and/or the Y-axis direction while descending vertically so that the needle member presses the tape and raises the needle member repeatedly, so that each of the individual wafers and the individual PCB A micro IC flip-type mounting device that is inserted into each die of and mounted.
청구항 10 또는 청구항 11에 있어서,
상기 니들유닛은 일측에 연결되어 상기 니들유닛을 상하 방향으로 이동시키는 Z축 상하 이동부를 결합하고, 상기 니들부재에 연결되어 상기 니들부재가 상하로 동작하게 하는 실린더부재와, 상기 실린더부재에 연결된 진공공급라인과, 상기 진공공급라인에 연통되어 봉 형태의 진공 이동관과, 상기 진공 이동관의 하부 끝단면 중심부에 상기 니들부재가 돌출되고, 상기 니들부재의 주변으로 상기 진공공급라인에 연결되어 공기를 흡입하는 하나 이상의 진공척이 형성되는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
According to claim 10 or claim 11,
The needle unit is coupled to a Z-axis vertical movement unit connected to one side to move the needle unit in the vertical direction, a cylinder member connected to the needle member to allow the needle member to move vertically, and a vacuum connected to the cylinder member. A supply line, a rod-shaped vacuum moving tube communicating with the vacuum supply line, and the needle member protruding from the center of the lower end of the vacuum moving tube, and being connected to the vacuum supply line around the needle member to suck in air. A micro IC flip-type mounting device in which one or more vacuum chucks are formed.
청구항 12에 있어서,
상기 각각의 개별 웨이퍼와 상기 개별 PCB의 각 다이에 각각 삽입하여 실장하기 전에, 상기 개별 PCB의 각 다이마다 접척제를 도포하는 디스펜싱 유닛을 더 구비하고,
상기 진공공급라인에 연결된 밸브를 동작시켜 공기를 흡입시켜 진공을 발생하고, 상기 진공척을 통해 공기를 흡입하여 상기 UV 테이프를 흡착한 상태에서, 상기 니들부재를 수직으로 하강하여 상기 니들부재의 하부 끝단 부분이 상기 테이프를 누르는 마이크로 IC 플립형 실장 장치.
The method of claim 12,
A dispensing unit for applying an adhesive to each individual wafer and each die of the individual PCB prior to insertion and mounting on each individual wafer and each die of the individual PCB,
A vacuum is generated by sucking air by operating a valve connected to the vacuum supply line, and in a state in which the UV tape is adsorbed by sucking air through the vacuum chuck, the needle member is vertically lowered to lower the needle member. A micro IC flip-type mounting device with an end portion pressing the tape.
KR1020210153662A 2021-11-10 2021-11-10 Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip KR20230067922A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210153662A KR20230067922A (en) 2021-11-10 2021-11-10 Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020210153662A KR20230067922A (en) 2021-11-10 2021-11-10 Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20230067922A true KR20230067922A (en) 2023-05-17

Family

ID=86547435

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020210153662A KR20230067922A (en) 2021-11-10 2021-11-10 Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20230067922A (en)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101623368B1 (en) 2013-03-12 2016-05-23 가부시키가이샤 신가와 Flip chip bonder and flip chip bonding method

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101623368B1 (en) 2013-03-12 2016-05-23 가부시키가이샤 신가와 Flip chip bonder and flip chip bonding method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100921231B1 (en) Electronic Component Mounting Apparatus and Electronic Component Mounting Method
US20050045914A1 (en) Flip chip device assembly machine
US8151451B2 (en) Electronic component bonding machine
JP2011029456A (en) Wafer prober for semiconductor inspection, and inspection method
JP6513226B2 (en) Electronic parts handling unit
JP2000150970A (en) Light emitting device bonding method and equipment
KR20230067922A (en) Apparatus for Mounting Micro IC Type Flip
US6490787B1 (en) Method and apparatus for aligning and supplying electrical component
JP3661658B2 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JP4104062B2 (en) Electronic component mounting equipment
JP5018749B2 (en) Component mounting apparatus and component mounting method
JP3744451B2 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JP2017167019A (en) Electronic component conveyance device, and electronic component inspection apparatus
JP4093854B2 (en) Electronic component mounting equipment
JP3763283B2 (en) Electronic component mounting apparatus and electronic component mounting method
JP2005197758A (en) Electronic component mounting device and method of mounting the electronic component
CN115452058B (en) Automatic detecting mechanism for micro element
JP2633631B2 (en) Electronic component mounting equipment
JP2746989B2 (en) Chip positioning method and device, inner lead bonding apparatus, and inner lead bonding method
JP2000294603A (en) Electronic parts mounting apparatus
JP2881743B2 (en) Electronic component mounting device, electronic component mounting method, recognition device, and recognition method
JPH10598A (en) Die device and part feeder using it
CN115452058A (en) Automatic detecting mechanism for micro-element
WO2011007398A1 (en) Pickup apparatus
JP3536070B2 (en) Method for manufacturing semiconductor device

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E90F Notification of reason for final refusal