KR20220004400A - Taphole defect inspection device using magnetic field signal - Google Patents

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KR20220004400A
KR20220004400A KR1020200082185A KR20200082185A KR20220004400A KR 20220004400 A KR20220004400 A KR 20220004400A KR 1020200082185 A KR1020200082185 A KR 1020200082185A KR 20200082185 A KR20200082185 A KR 20200082185A KR 20220004400 A KR20220004400 A KR 20220004400A
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Abstract

The present invention relates to a taphole defect inspection device using a magnetic field signal and, more specifically, to technology capable of accurately inspecting a taphole defect while checking various types of defects by performing an impedance tomography scan of an object to be inspected through a magnetic field signal reflected from a taphole through various frequencies generated from a measurement part inserted into the taphole. In accordance with the present invention, the device for inspecting a defect of a taphole having a female screw part in a specimen includes: a measurement part including an electrode inserted into the taphole to measure impedance reflected from the specimen by applying a current of an inputted multifrequency; and a taphole analysis part determining whether the taphole is defective by analyzing the impedance of each frequency measured by the measurement part.

Description

자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치{Taphole defect inspection device using magnetic field signal}Taphole defect inspection device using magnetic field signal

본 발명은 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치에 관한 것으로서, 더욱 구체적으로는 탭홀 내부에서 삽입되는 측정부에서 발생되는 다양한 주파수를 통해 탭홀에서 반사되는 자기장신호를 이용하여 검사 대상의 임피던스 단층 촬영을 수행하여 다양한 불량을 체크할 수 있도록 하면서, 탭홀 불량을 정확하게 검사할 수 이는 기술에 관한 것이다.The present invention relates to a tap hole defect inspection apparatus using a magnetic field signal, and more specifically, impedance tomography of an object to be inspected using a magnetic field signal reflected from a tap hole through various frequencies generated by a measuring unit inserted inside the tap hole. It relates to a technology that can accurately inspect tap hole defects while allowing various defects to be checked.

일반적으로 탭홀(tap hole)은 수나사가 체결되기 위한 구멍으로서, 암나사를 만들기 위한 공구(tap)를 이용하여 형성된다.In general, a tap hole (tap hole) is a hole for a male thread to be fastened, and is formed using a tool (tap) for making a female thread.

상기 탭홀은 자동차를 비롯하여 다양한 기계장치에 형성되어 각 부품 간의 결합을 담당하고 있다. 이러한 탭홀은 기계적 내구성에 밀접한 연관이 있고, 부품간의 체결력, 기밀성이 좌우되기 때문에 탭홀에 형성된 나사산의 정밀도는 매우 중요하다 할 수 있다.The tap hole is formed in various mechanical devices, including automobiles, and is responsible for coupling between respective parts. Since these tap holes are closely related to mechanical durability and depend on fastening force and airtightness between parts, it can be said that the precision of the threads formed in the tap holes is very important.

따라서, 탭홀이 제대로 형성되어 있는지 검사가 필요한데, 탭홀 내부의 나사산은 외부로 노출되어 있지 않기 때문에, 육안으로 파악하기 힘들고, 탭홀 내부를 촬영하여 확인하더라도 탭홀의 불량 여부를 파악하기 어렵다.Therefore, it is necessary to inspect whether the tap hole is properly formed. Since the thread inside the tap hole is not exposed to the outside, it is difficult to detect with the naked eye, and it is difficult to determine whether the tap hole is defective even if the inside of the tap hole is photographed.

종래에는 표준나사를 통해 탭홀의 불량 여부를 물리적인 방식으로 파악하고 있었으나, 이러한 방식의 불량검사는 물리적 검사과정에서 나사산이 손상되는 문제점이 있었다.Conventionally, the failure of the tap hole was detected in a physical way through a standard screw, but this type of defect inspection had a problem in that the screw thread was damaged during the physical examination process.

이러한 문제점을 해결하기 위해 본 발명자에 의해 개시된 등록특허 제10-1927266호(비접촉 탭홀 나사산 카운트 장치)와, 등록특허 제10-1436006호(탭홀 검사 시스템)에는 탭홀 내부의 나사산과 접촉하지 않고 탭홀의 불량을 검사할 수 있도록 한 기술을 개시하였다.In order to solve this problem, registered patent No. 10-1927266 (non-contact tap hole thread counting device) and registered patent No. 10-1436006 (tap hole inspection system) disclosed by the present inventor in order to solve this problem, Disclosed is a technique that allows inspection of defects.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출한 것으로서, 탭홀의 불량을 검사하는 데에 있어서 측정부가 탭홀의 나사산과 비접촉 방식으로 이루어지도록 하여 나사산의 손상을 방지하며, 검사방식을 측정부에서 발생되는 다양한 주파수를 이용하여 탭홀 내부에서 반사되는 자기장신호를 이용하여 다양한 탭홀 불량 모델을 한번에 검사할 수 있도록 하여 검사정확도를 높이고자 한 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치를 제공함에 목적이 있다.The present invention has been devised to solve the above problems, and in inspecting the defects of the tap hole, the measuring part is made in a non-contact method with the thread of the tap hole to prevent damage to the thread, and the inspection method is generated in the measuring part The purpose of this is to provide an apparatus for inspecting tap hole defects using magnetic field signals to increase inspection accuracy by allowing various tap hole defect models to be inspected at once using magnetic field signals reflected inside the tap hole using various frequencies.

본 발명은 시험체의 내부에 암나사부가 형성된 탭홀의 불량을 검사하는 장치에 있어서, 상기 탭홀 내부에 삽입되어 입력받은 멀티 주파수의 전류를 인가하여 시험체에 반사된 임피던스를 측정하는 전극을 포함하는 측정부와, 상기 측정부에서 측정된 각 주파수의 임피던스를 분석하여 탭홀의 불량 여부를 판단하는 탭홀분석부;로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The present invention provides an apparatus for inspecting a defect in a tap hole in which a female screw part is formed inside a test body, the measuring part including an electrode inserted into the tap hole and applying a received multi-frequency current to measure the impedance reflected on the test body; , a tap hole analysis unit that analyzes the impedance of each frequency measured by the measurement unit to determine whether the tap hole is defective.

또한 상기 탭홀분석부는; 시험체의 기본정보를 통해 적정 주파수의 범위 내에서 복수의 주파수 채널을 구성하여 측정부에서 인가하는 멀티 주파수를 선정하는 주파수 선정부;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the tap hole analysis unit; It is characterized in that it further comprises; a frequency selector for selecting the multi-frequency applied by the measurement unit by configuring a plurality of frequency channels within the appropriate frequency range through the basic information of the test body.

또한 상기 탭홀분석부는; 표준 정상제품에 대한 기준 임피던스 정보가 주파수 채널별로 저장되는 기준값 저장부와, 상기 기준값 저장부의 기준 임피던스 정보와 측정부를 통해 측정되는 시험체의 임피던스를 각 주파수 채널에서 독립적으로 비교하여 종합적으로 탭홀의 불량여부를 판단하는 비교판단부;로 구성되는 것을 특징으로 한다.In addition, the tap hole analysis unit; A reference value storage unit in which the reference impedance information for a standard normal product is stored for each frequency channel, and the reference impedance information of the reference value storage unit and the impedance of the test object measured through the measurement unit are independently compared in each frequency channel to determine whether the tap hole is defective It is characterized in that it consists of; a comparison determination unit to determine the.

또한 상기 기준값 저장부는; 정상범위의 임피던스 값에서 최소 허용값과 최대 허용값을 주파수 채널마다 설정하여, 상기 비교판단부에서는 시험체의 임피던스 값이 최소 허용값과 최대 허용값 사이의 값으로 측정될 경우 해당 주파수 채널은 정상으로 판단하는 것을 특징으로 한다.In addition, the reference value storage unit; The minimum allowable value and maximum allowable value are set for each frequency channel in the impedance value in the normal range, and when the impedance value of the test object is measured between the minimum allowable value and the maximum allowable value in the comparison judgment section, the frequency channel is considered normal. characterized by judging.

또한 상기 측정부의 측정값과 탭홀분석부의 분석정보를 표시하고, 불량여부를 최종적으로 판단하여 나타내주는 화면표시부;를 더 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the display unit for displaying the measurement value of the measurement unit and the analysis information of the tap hole analysis unit, and finally determining whether there is a defect; it characterized in that it further comprises a.

본 발명은 탭홀의 불량을 검사하는 데에 있어서 측정부가 탭홀의 나사산과 비접촉 방식으로 이루어지도록 하여 검사 대상에 손상을 전혀 발생시키지 않도록 한 효과가 있다.The present invention has the effect of preventing damage to the inspection target at all by making the measuring part in a non-contact manner with the thread of the tap hole in inspecting the defect of the tap hole.

또한 본 발명은 측정부에서 발생되는 다양한 주파수를 통해 탭홀에서 반사되는 자기장신호를 이용하여 검사 대상의 임피던스 단층 촬영을 수행함으로써, 탭홀의 나사산 형성 정보뿐만 아니라, 탭홀이 형성된 금속층의 물성정보를 파악할 수 있고, 임피던스 분석을 통해 금속층의 단층정보까지 파악할 수 있어 표면상으로 보이지 않아 기존에 파악할 수 없었던 불량(예를 들어 금속층 내부에 형성된 기포)까지 검사할 수 있는 이점을 갖는다.In addition, the present invention performs impedance tomography of an object to be inspected using magnetic field signals reflected from the tap hole through various frequencies generated by the measurement unit, so that not only the thread formation information of the tap hole but also the physical property information of the metal layer in which the tap hole is formed can be grasped. In addition, through impedance analysis, even fault information of the metal layer can be grasped, so it has the advantage of being able to inspect defects (eg, bubbles formed inside the metal layer) that were not previously recognized because they are not visible on the surface.

도 1은 본 발명의 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치를 나타낸 구성도
도 2는 본 발명의 검사장치를 통해 정상제품에 해당하는 시험체의 검사정보를 나타내주는 화면표시부 사진
도 3은 본 발명의 검사장치를 통해 반탭 불량에 해당하는 시험체의 검사정보를 나타내주는 화면표시부 사진
도 4는 본 발명의 검사장치를 통해 이중탭 불량에 해당하는 시험체의 검사정보를 나타내주는 화면표시부 사진
도 5는 본 발명의 검사장치를 통해 찍힘 불량에 해당하는 시험체의 검사정보를 나타내주는 화면표시부 사진1 is a block diagram showing a tap hole defect inspection apparatus using a magnetic field signal of the present invention;
2 is a picture of a screen display unit showing inspection information of a test object corresponding to a normal product through the inspection device of the present invention;
3 is a picture of a screen display showing inspection information of a test object corresponding to a half-tap defect through the inspection device of the present invention;
4 is a picture of a screen display unit showing inspection information of a test object corresponding to a double tap defect through the inspection device of the present invention;
5 is a picture of the screen display unit showing the inspection information of the test object corresponding to the defect through the inspection device of the present invention.

이하 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다. 그리고 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In the description of the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known function or configuration may unnecessarily obscure the gist of the present invention, the detailed description thereof will be omitted.

본 발명은 시험체(A)의 내부에 암나사부가 형성된 탭홀의 불량을 검사하는 장치에 관한 것으로서, 더욱 구체적으로는 도 1에 도시한 바와 같이 상기 탭홀 내부에 삽입되어 입력받은 멀티 주파수의 전류를 인가하여 시험체(A)에 반사된 임피던스를 측정하는 전극(110)을 포함하는 측정부(100)와, 상기 측정부(100)에서 측정된 각 주파수의 임피던스를 분석하여 탭홀의 불량 여부를 판단하는 탭홀분석부(200);로 이루어지는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an apparatus for inspecting a defect of a tap hole in which a female screw part is formed inside a test body (A), and more specifically, as shown in FIG. 1, by applying a multi-frequency current inserted into the tap hole and input A measurement unit 100 including an electrode 110 for measuring the impedance reflected by the test body A, and a tap hole analysis for determining whether a tap hole is defective by analyzing the impedance of each frequency measured by the measurement unit 100 Part 200; characterized in that it consists of.

상기 측정부(100)는 시험체(A)의 암나사부 직경에 비해 작은 크기로 이루어져 있으며, 비접촉 방식으로 탭홀의 불량을 검사하게 되는 것이다. 그리고 상기 측정부(100)의 전극(110)은 코일형태로 되어 있어서 360도 주변으로 멀티 주파수에 해당하는 전류를 발생시킨 다음 시험체(A)로부터 반사되는 임피던스를 전극(110)에서 다시 측정하게 된다. The measuring unit 100 is made of a size smaller than the diameter of the female threaded portion of the test body (A), and is inspected for defects in the tap hole in a non-contact manner. And since the electrode 110 of the measuring unit 100 is in the form of a coil, a current corresponding to a multi-frequency is generated around 360 degrees, and then the impedance reflected from the test body A is measured again at the electrode 110. .

상기 측정부(100)는 복수의 주파수에 해당하는 전류를 동시에 인가하는 것이 아니라, 각 주파수에 해당하는 전류를 각각 순차적으로 인가하는 것이 바람직하며, 임피던스 측정역시 각 전류마다 반사되는 임피던스를 각각 측정하는 것이 바람직하다.The measuring unit 100 does not simultaneously apply currents corresponding to a plurality of frequencies, but it is preferable to sequentially apply currents corresponding to each frequency, and the impedance measurement also measures the impedance reflected for each current. it is preferable

본 발명의 탭홀분석부(200)는 이렇게 측정부(100)를 통해 측정된 임피던스를 분석하여 해당 시험체(A)의 탭홀이 정상인지 불량인지를 판단하는 구성에 해당한다. 그리고 상기 탭홀분석부(200)는 시험체(A)의 기본정보를 통해 적정 주파수의 범위 내에서 복수의 주파수 채널을 구성하여 측정부(100)에서 인가하는 멀티 주파수를 선정하는 주파수 선정부(210);를 더 포함할 수 있다.The tap hole analysis unit 200 of the present invention corresponds to a configuration for determining whether the tap hole of the test object A is normal or defective by analyzing the impedance measured by the measuring unit 100 in this way. In addition, the tap hole analysis unit 200 configures a plurality of frequency channels within an appropriate frequency range through the basic information of the test object A and selects a multi-frequency applied by the measurement unit 100. Frequency selection unit 210 ; may be further included.

상기 주파수 선정부(210)에서 복수의 주파수 채널을 구성하기 위해서는 측정부(100)를 이용하여 시험체(A)에 다양한 주파수를 전류를 발생시켜 임피던스 값을 측정하되, 임피던스 값이 최대로 발생하는 하나 이상의 주파수를 선정하게 된다. 이때 선정한 하나 이상의 주파수를 시험체(A)의 기본정보와 매칭시켜 저장하여 DB화 함으로써, 추후에 상기 주파수 선정부(210)로 시험체(A)의 기본정보가 입력될 경우 이와 매칭되는 하나 이상의 주파수를 선정하게 되는 것이다.In order to configure a plurality of frequency channels in the frequency selector 210, the impedance value is measured by generating a current at various frequencies in the test body A using the measuring unit 100, but the one having the maximum impedance value more frequencies are selected. At this time, by matching and storing the selected one or more frequencies with the basic information of the test object A, the frequency selection unit 210 is used to input the basic information of the test object A at a later time. will be selected

상기 주파수 선정부(210)를 통해 생성되는 주파수 채널의 개수는 최소 8개에서 16개, 32개, 64 등으로 생성될 수 있다.The number of frequency channels generated through the frequency selector 210 may be at least 8 to 16, 32, 64, and the like.

그리고 본 발명의 탭홀분석부(200)는; 좀 더 구체적으로 표준 정상제품에 대한 기준 임피던스 정보가 주파수 채널별로 저장되는 기준값 저장부(220)와, 상기 기준값 저장부(220)의 기준 임피던스 정보와 측정부(100)를 통해 측정되는 시험체(A)의 임피던스를 각 주파수 채널에서 독립적으로 비교하여 종합적으로 탭홀의 불량여부를 판단하는 비교판단부(230);로 구성될 수 있다.And the tap hole analysis unit 200 of the present invention; More specifically, the reference value storage unit 220 in which the reference impedance information for the standard normal product is stored for each frequency channel, and the reference impedance information of the reference value storage unit 220 and the test object (A) measured through the measurement unit 100 . ) by independently comparing the impedance of each frequency channel, the comparison determination unit 230 for comprehensively determining whether the tap hole is defective.

상기 기준값 저장부(220)에 저장되는 기준 임피던스는 표준 정상제품에 측정부(100)를 삽입하여 선정된 멀티 주파수의 전류를 인가하여, 정상제품에 대한 임피던스 즉 기준 임피던스를 얻게되는 것이다. 이렇게 얻은 기준 임피던스는 시험체(A)의 기본정보와 함께 DB화 함으로써 추후 시험체(A)의 기본정보를 입력하는 것으로 기준 임피던스를 불러올 수 있게 되는 것이다. The reference impedance stored in the reference value storage unit 220 is obtained by inserting the measurement unit 100 into a standard normal product and applying a selected multi-frequency current, that is, an impedance for the normal product, that is, a reference impedance. The reference impedance obtained in this way is converted into a DB together with the basic information of the test object (A), so that the reference impedance can be called up by inputting the basic information of the test object (A) later.

아울러 상기 기준값 저장부(220)에 저장되는 기준 임피던스는 멀티 주파수마다 다르기 때문에 각 주파수 채널에 독립적인 값으로 저장되어야 하며, 상기 비교판단부(230) 역시 시험체(A)의 임피던스와 기준 임피던스를 각 주파수 채널별로 독립적으로 판단하여 탭홀의 불량여부를 판단하게 되는 것이다.In addition, since the reference impedance stored in the reference value storage unit 220 is different for each multi-frequency, it should be stored as an independent value for each frequency channel, and the comparison determination unit 230 also determines the impedance of the test object A and the reference impedance, respectively. Independently judged for each frequency channel to determine whether the tap hole is defective.

그리고 상기 기준값 저장부(220)는; 정상범위의 임피던스 값에서 최소 허용값과 최대 허용값을 주파수 채널마다 설정하여, 상기 비교판단부(230)에서는 시험체(A)의 임피던스 값이 최소 허용값과 최대 허용값 사이의 값으로 측정될 경우 해당 주파수 채널은 정상으로 판단하는 것이다. 즉, 시험체(A)의 임피던스 값이 최소 허용값 미만이거나 최대 허용값을 초과할 경우 해당 주파수 채널은 불량으로 판단하는 것이다.And the reference value storage unit 220; When the minimum allowable value and the maximum allowable value are set for each frequency channel in the impedance value in the normal range, the comparison determination unit 230 measures the impedance value of the test object A as a value between the minimum allowable value and the maximum allowable value. The corresponding frequency channel is determined to be normal. That is, if the impedance value of the test object (A) is less than the minimum allowable value or exceeds the maximum allowable value, the frequency channel is judged as defective.

본 발명은 상기 측정부(100)의 측정값과 탭홀분석부(200)의 분석정보를 표시하고, 불량여부를 최종적으로 판단하여 나타내주는 화면표시부(300);를 더 포함할 수 있다.The present invention may further include; a screen display unit 300 for displaying the measurement value of the measurement unit 100 and the analysis information of the tap hole analysis unit 200, and finally determining whether there is a defect.

상기 화면표시부(300)는 도 2에 도시한 바와 같이 측정부(100)를 통해 측정된 시험체(A)의 임피던스 값이 각 채널별로 표시될 수 있도록 하고, 각 채널의 최소 허용값과 최대 허용값이 표시되어 측정된 임피던스 값이 정상범위의 임피던스 값에 해당하는지 나타나게 되며, 모든 주파수 채널에 정상으로 판단이 되면 해당 시험체(A)는 양품으로 판정되는 것이다. The screen display unit 300 allows the impedance value of the test object A measured by the measurement unit 100 to be displayed for each channel as shown in FIG. 2 , and the minimum allowable value and the maximum allowable value of each channel is displayed to indicate whether the measured impedance value is within the normal range.

일반적으로 탭홀의 불량 종류에는 탭의 기본적인 조건 즉, 탭의 깊이, 나사산의 개수, 탭사이즈가 정상적이지 않은 불량이 있을 수 있고, 탭의 외관상에 보여지는 불량 무탭, 반탭, 이중탭 불량이나 크랙문제가 있을 수 있고, 금속층 내부에 존재하는 기포 및 경도불량 등과 같이 다양한 불량이 존재한다.In general, the types of tap hole defects include defects that are not normal in the basic conditions of taps, that is, the depth of tap, number of threads, and tap size. There may be, and there are various defects such as bubbles and hardness defects present inside the metal layer.

본 발명은 3 내지 5에 도시한 바와 같이 화면표시부(300) 상에 불량의 종류에 따라 각 주파수 채널의 고유 패턴을 보이고 있기 때문에, 탭홀분석부(200)에서 각 불량 종류에 따른 각 주파수 채널의 패턴을 서로 매칭시켜 저장하는 불량타입 메모리부(240);를 더 포함함으로써, 탭홀 검사시 어떤 종류의 불량인지 파악할 수 있게 되는 것이다. 상기 불량타입 메모리부(240)는 다양한 불량정보가 저장될수록 불량의 종류를 판단함에 있어서 좀 더 정확하게 이루어질 수 있는 것이다.In the present invention, since the unique pattern of each frequency channel is displayed according to the type of defect on the screen display unit 300 as shown in 3 to 5, the tap hole analysis unit 200 determines the frequency of each frequency channel according to the type of defect. By further including; the defect type memory unit 240 for matching and storing the patterns, it is possible to identify the type of defect during the tap hole inspection. The defect type memory unit 240 can more accurately determine the type of defect as various types of defect information are stored.

아울러, 본 발명의 측정부(100)는 측정되는 자기장의 세기로부터 노이즈를 제거하는 필터수단(120)이 더 포함될 수 있으며, 상기 필터수단(120)은 저역 통과 필터(LPF. Low Pass Filter) 또는 고역 통과 필터(HPF, High Pass Filter)로 적용되는 것이 바람직하고, 상기 탭홀분석부(200)에서는 상기 필터수단(120)을 거친 자기장의 세기를 증폭시켜 측정 정확도를 높일 수 있는 증폭수단(130)이 더 포함될 수 있다.In addition, the measuring unit 100 of the present invention may further include a filter means 120 for removing noise from the measured magnetic field strength, and the filter means 120 is a low pass filter (LPF. Low Pass Filter) or Preferably applied as a high pass filter (HPF, High Pass Filter), the tap hole analyzer 200 amplifies the intensity of the magnetic field that has passed through the filter means 120 to increase the measurement accuracy by amplifying means 130 More may be included.

이와 같이 이루어지는 본 발명은 임피던스 측정을 통해 탭홀의 나사산 형성 정보뿐만 아니라, 탭홀이 형성된 금속층의 물성정보를 파악할 수 있고, 임피던스 분석을 통해 금속층의 단층정보까지 파악할 수 있어 표면상으로 보이지 않아 기존에 파악할 수 없었던 불량(예를 들어 금속층 내부에 형성된 기포)까지 검사할 수 있는 이점을 갖는다.The present invention made in this way can grasp not only the thread formation information of the tap hole, but also the physical property information of the metal layer in which the tap hole is formed through impedance measurement, and can grasp the fault information of the metal layer through impedance analysis, It has the advantage of being able to inspect even defects that were not possible (eg, bubbles formed inside the metal layer).

즉, 본 발명은 멀티 주파수에 해당하는 각각의 자기장이 시험체(A)에 침투되는 깊이가 서로 다른 원리를 이용하여, 시험체(A)에 반사되는 자기장 신호를 통해 임피던스 값을 분석하여 시험체(A)의 단층구조까지 파악할 수 있으며, 검사 정확도가 향상되는 효과가 있는 것이다.That is, the present invention analyzes the impedance value through the magnetic field signal reflected by the test object (A) using the principle that each magnetic field corresponding to the multi-frequency penetrates the test object (A) at different depths, and the test object (A) It is possible to grasp even the tomographic structure of

이상에서 본 발명은 상기 실시예를 참고하여 설명하였지만 본 발명의 기술사상 범위 내에서 다양한 변형실시가 가능함은 물론이다.Although the present invention has been described above with reference to the above embodiments, it goes without saying that various modifications are possible within the scope of the technical spirit of the present invention.

A : 시험체
100 : 측정부 110 : 전극
120 : 필터수단 130 : 증폭수단
200 : 탭홀분석부 210 : 주파수 선정부
220 : 기준값 저장부 230 : 비교 판단부
240 : 불량타입 메모리부 300 : 화면표시부A: test specimen
100: measuring unit 110: electrode
120: filter means 130: amplification means
200: tap hole analysis unit 210: frequency selection unit
220: reference value storage unit 230: comparison determination unit
240: bad type memory unit 300: screen display unit

Claims (5)

시험체(A)의 내부에 암나사부가 형성된 탭홀의 불량을 검사하는 장치에 있어서,
상기 탭홀 내부에 삽입되어 입력받은 멀티 주파수의 전류를 인가하여 시험체(A)에 반사된 임피던스를 측정하는 전극(110)을 포함하는 측정부(100)와,
상기 측정부(100)에서 측정된 각 주파수의 임피던스를 분석하여 탭홀의 불량 여부를 판단하는 탭홀분석부(200);로 이루어지는 것을 특징으로 하는 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치
In the apparatus for inspecting the defect of the tap hole in which the female thread part is formed inside the test body (A),
A measuring unit 100 including an electrode 110 that is inserted into the tap hole to measure the impedance reflected by the test object A by applying a received multi-frequency current;
Tap hole analysis unit 200 for determining whether the tap hole is defective by analyzing the impedance of each frequency measured by the measuring unit 100;
 제 1항에 있어서,
상기 탭홀분석부(200)는;
시험체(A)의 기본정보를 통해 적정 주파수의 범위 내에서 복수의 주파수 채널을 구성하여 측정부(100)에서 인가하는 멀티 주파수를 선정하는 주파수 선정부(210);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치
The method of claim 1,
The tap hole analysis unit 200;
A frequency selection unit 210 for configuring a plurality of frequency channels within an appropriate frequency range through the basic information of the test body (A) and selecting a multi-frequency applied by the measurement unit 100; characterized by further comprising: Tap hole defect inspection device using magnetic field signal
 제 2항에 있어서,
상기 탭홀분석부(200)는;
표준 정상제품에 대한 기준 임피던스 정보가 주파수 채널별로 저장되는 기준값 저장부(220)와,
상기 기준값 저장부(220)의 기준 임피던스 정보와 측정부(100)를 통해 측정되는 시험체(A)의 임피던스를 각 주파수 채널에서 독립적으로 비교하여 종합적으로 탭홀의 불량여부를 판단하는 비교판단부(230);로 구성되는 것을 특징으로 하는 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치
3. The method of claim 2,
The tap hole analysis unit 200;
a reference value storage unit 220 in which reference impedance information for standard normal products is stored for each frequency channel;
A comparison determination unit 230 that independently compares the reference impedance information of the reference value storage unit 220 and the impedance of the test object A measured through the measurement unit 100 in each frequency channel to comprehensively determine whether the tap hole is defective. ); Tap hole defect inspection device using a magnetic field signal, characterized in that it consists of
 제 3항에 있어서,
상기 기준값 저장부(220)는; 정상범위의 임피던스 값에서 최소 허용값과 최대 허용값을 주파수 채널마다 설정하여, 상기 비교판단부(230)에서는 시험체(A)의 임피던스 값이 최소 허용값과 최대 허용값 사이의 값으로 측정될 경우 해당 주파수 채널은 정상으로 판단하는 것을 특징으로 하는 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치
4. The method of claim 3,
The reference value storage unit 220; When the minimum allowable value and the maximum allowable value are set for each frequency channel in the impedance value in the normal range, the comparison determination unit 230 measures the impedance value of the test object A as a value between the minimum allowable value and the maximum allowable value. Tap hole defect inspection device using a magnetic field signal, characterized in that the frequency channel is determined as normal
 제 1항에 있어서,
상기 측정부(100)의 측정값과 탭홀분석부(200)의 분석정보를 표시하고, 불량여부를 최종적으로 판단하여 나타내주는 화면표시부(300);를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 자기장 신호를 이용한 탭홀 불량 검사장치The method of claim 1,
Using a magnetic field signal, characterized in that it further comprises a; a screen display unit 300 for displaying the measurement value of the measurement unit 100 and the analysis information of the tap hole analysis unit 200, and finally determining whether there is a defect or not. Tap hole defect inspection device
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Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2649837B2 (en) * 1989-03-14 1997-09-03 エスピーエス・テクノロジーズ・インク Fastener
JP2903826B2 (en) * 1992-01-27 1999-06-14 日産自動車株式会社 Internal thread measuring device
KR100484213B1 (en) * 2002-04-17 2005-04-20 주식회사 싸이언 Apparatus for detecting defects of a complex machine
KR100931934B1 (en) * 2007-11-08 2009-12-15 (주)레이나 Bolt hole crack detection device using EC sensor
KR100960895B1 (en) * 2008-01-28 2010-06-04 주식회사 유엠아이 Analysis Method of Eddy Current Testing Data
KR20130019872A (en) * 2011-08-18 2013-02-27 (주)디엘정보기술 Method of non-destructive test using impedance analysis technique
KR101237998B1 (en) * 2011-07-28 2013-02-27 한국동서발전(주) Apparatus for inspecting bolt and bolt hole defect
KR101336652B1 (en) * 2012-12-28 2013-12-04 주식회사 서울금속 Apparatus for inspecting inner circumferential surface of nut
KR101909768B1 (en) * 2011-05-10 2018-10-18 신토고교 가부시키가이샤 Surface property inspection device and surface property inspection method
KR101927266B1 (en) * 2016-04-08 2018-12-10 (주)레이나 Counting apparatus for non-contact tap hole screw thread

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2649837B2 (en) * 1989-03-14 1997-09-03 エスピーエス・テクノロジーズ・インク Fastener
JP2903826B2 (en) * 1992-01-27 1999-06-14 日産自動車株式会社 Internal thread measuring device
KR100484213B1 (en) * 2002-04-17 2005-04-20 주식회사 싸이언 Apparatus for detecting defects of a complex machine
KR100931934B1 (en) * 2007-11-08 2009-12-15 (주)레이나 Bolt hole crack detection device using EC sensor
KR100960895B1 (en) * 2008-01-28 2010-06-04 주식회사 유엠아이 Analysis Method of Eddy Current Testing Data
KR101909768B1 (en) * 2011-05-10 2018-10-18 신토고교 가부시키가이샤 Surface property inspection device and surface property inspection method
KR101237998B1 (en) * 2011-07-28 2013-02-27 한국동서발전(주) Apparatus for inspecting bolt and bolt hole defect
KR20130019872A (en) * 2011-08-18 2013-02-27 (주)디엘정보기술 Method of non-destructive test using impedance analysis technique
KR101336652B1 (en) * 2012-12-28 2013-12-04 주식회사 서울금속 Apparatus for inspecting inner circumferential surface of nut
KR101927266B1 (en) * 2016-04-08 2018-12-10 (주)레이나 Counting apparatus for non-contact tap hole screw thread

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