KR20200091822A - 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치 - Google Patents

미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치 Download PDF

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Abstract

미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치에 대해 개시한다. 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 장치는, 일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 장치는, 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부와, 상기 제1 생플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 피크값 검출부와, 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부와, 상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 신호 검출부 및 상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 상기 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 상기 제1 샘플링부, 상기 제2 샘플링부 및 상기 신호 검출부를 제어하는 샘플링 제어부를 포함한다.

Description

미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치{METHOD AND APPARATUS FOR HIGH SENSITIVITY SIGNAL SENSING}
본 발명은 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리에 관한 것으로서, 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법 및 이를 이용한 고감도 신호 감지 장치에 관한 것이다.
아날로그 신호를 수신하여 디지털 신호처리를 수행하는 시스템의 성능은 종종 아날로그 신호를 디지털로 변환하는 속도에 매우 제한적이고, 고속 신호 샘플링 기술이 필요한 시스템은 고속 ADC(Analog to Digital Converter)를 사용하여 실시간으로 수신된 데이터를 샘플링 하나 고속 ADC를 이용할 경우 비용이 증가될 수 있다.
한편, 고속 ADC를 사용함에 따른 비용 증가를 막기 위해 복수의 저속 ADC를 사용하는 방안을 고려해볼 수 있는데, ADC의 개수가 증가함에 따라 하드웨어 구조가 복잡해질 수 있다.
또한, 종래 기술에 따른 디지털 신호처리를 수행하는 시스템의 경우 통상적으로 RF(Radio Frequency) 신호를 처리하기 위한 것으로서 특정 주파수 대역의 높은 출력 전력의 신호 감지에는 적합하지만, 통신을 수행하지 않는 전자장치로부터 방사되는 미세 신호를 감지하기에는 적합하지 않다.
한국공개특허 제10-2018-0007930호, "타임 인터리빙 샘플링 ADC를 위한 위상 제어 장치" 한국공개특허 제10-2014-0127119호, "부분지연발생기를 이용한 디지털 리샘플링 장치" 한국공개특허 제10-2011-0092197호, "주파수 선택적 잡음 제거기를 이용한 서브샘플링 기반 수신기"
본 발명의 실시예들은 신호 복원을 위한 고속 ADC의 필요 없이 검출 대상 신호의 타겟 주파수를 이용하여 샘플링을 수행함으로써 미세 신호를 감지할 수 있는 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
또한, 본 발명의 실시예들은 스마트폰 및 초소형 카메라와 같이 전자 장치 내부 회로에서 방사되는 미세한 신호를 탐지함으로써 특정 전자 장치가 존재하는 것으로 판별할 수 있는 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
또한, 본 발명의 실시예들은 이미지 센서를 포함하는 전자 장치를 정확하게 탐지하거나 이미지 센서가 존재하는 것으로 의심되는 상황을 판단할 수 있는 다양한 동작 모드를 지원할 수 있는 장치 및 방법을 제공하고자 한다.
일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 장치는, 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부와, 상기 제1 생플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 피크값 검출부와, 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부와, 상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 신호 검출부 및 상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 상기 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 상기 제1 샘플링부, 상기 제2 샘플링부 및 상기 신호 검출부를 제어하는 샘플링 제어부를 포함한다.
상기 샘플링 제어부는 검출 대상 신호를 발생시키는 장치에 구비된 이미지 센서의 수직(vertical) 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 모드 및 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수와 수평(horizontal) 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 모드 중 현재 선택된 동작 모드를 확인하고, 현재 선택된 동작 모드에 기초하여 상기 제1 샘플링 주파수 및 제2 샘플링 주파수를 제어할 수 있다.
상기 샘플링 제어부는 상기 타겟 주파수가 kHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 100Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고, 상기 타겟 주파수가 MHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 1000Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어할 수 있다.
상기 피크값 검출부는 하기 수학식으로 결정되는 샘플링 구간 별로 상기 피크 값을 검출하고,
Figure pat00001
상기 샘플링 제어부는 제1 샘플링 시작 시점으로부터 상기 샘플링 구간 별로 각각의 피크 값이 발생한 시점을 기준으로 타겟 신호 샘플링 시점을 결정할 수 있다.
상기 샘플링 제어부는
상기 제1 샘플링을 n번(n은 1 이상의 정수) 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고, 상기 제1 샘플링의 n+1번째 수행에서 상기 피크 값이 검출된 시점을 상기 타겟 신호 샘플링 시점으로 결정할 수 있다.
일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호처리 방법은 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 단계와, 상기 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 단계와, 상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하는 단계와, 상기 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 단계 및 상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 단계를 포함한다.
본 발명의 실시예에 따르면, 신호 복원을 위한 고속 ADC의 필요 없이 검출 대상 신호의 타겟 주파수를 이용하여 샘플링을 수행함으로써 미세 신호를 감지할 수 있다.
또한, 스마트폰 및 초소형 카메라와 같이 전자 장치 내부 회로에서 방사되는 미세한 신호를 탐지함으로써 특정 전자 장치가 존재하는 것으로 판별할 수 있다.
또한, 이미지 센서를 포함하는 전자 장치를 정확하게 탐지하거나 이미지 센서가 존재하는 것으로 의심되는 상황을 판단할 수 있는 다양한 동작 모드를 지원할 수 있다.
도 1은 일 실시예에 따른 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 2는 일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 3은 일 실시예에 따른 수신 신호 처리부의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 4 내지 도 6은 일 실시예에 따른 고감도 신호처리 장치의 신호 검출 원리를 설명하기 위한 예시도이다.
도 7은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 8은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 및 신호감지 방법을 나타내는 흐름도이다.
이하 첨부 도면들 및 첨부 도면들에 기재된 내용들을 참조하여 본 발명의 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다.
본 명세서에서 사용된 용어는 실시예들을 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 및/또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
본 명세서에서 사용되는 "실시예", "예", "측면", "예시" 등은 기술된 임의의 양상(aspect) 또는 설계가 다른 양상 또는 설계들보다 양호하다거나, 이점이 있는 것으로 해석되어야 하는 것은 아니다.
또한, '또는' 이라는 용어는 배타적 논리합 'exclusive or' 이기보다는 포함적인 논리합 'inclusive or' 를 의미한다. 즉, 달리 언급되지 않는 한 또는 문맥으로부터 명확하지 않는 한, 'x가 a 또는 b를 이용한다' 라는 표현은 포함적인 자연 순열들(natural inclusive permutations) 중 어느 하나를 의미한다.
또한, 본 명세서 및 청구항들에서 사용되는 단수 표현("a" 또는 "an")은, 달리 언급하지 않는 한 또는 단수 형태에 관한 것이라고 문맥으로부터 명확하지 않는 한, 일반적으로 "하나 이상"을 의미하는 것으로 해석되어야 한다.
또한, 본 명세서 및 청구항들에서 사용되는 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
다른 정의가 없다면, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어(기술 및 과학적 용어를 포함)는 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 공통적으로 이해될 수 있는 의미로 사용될 수 있을 것이다. 또 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 용어들은 명백하게 특별히 정의되어 있지 않는 한 이상적으로 또는 과도하게 해석되지 않는다.
한편, 본 발명을 설명함에 있어서, 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는, 그 상세한 설명을 생략할 것이다. 그리고, 본 명세서에서 사용되는 용어(terminology)들은 본 발명의 실시예를 적절히 표현하기 위해 사용된 용어들로서, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 본 발명이 속하는 분야의 관례 등에 따라 달라질 수 있다. 따라서, 본 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야 할 것이다.
도 1은 일 실시예에 따른 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 1을 참조하면, 신호 감지 장치(100)는 안테나부(110), 수신 신호 처리부(120), 고감도 신호 처리부(130), 디스플레이부(140), 제어부(150) 및 저장부(160)을 포함한다.
안테나부(110)는 전자 장치에서 발생하는 미세한 신호를 수신하기 위한 안테나일 수 있다. 예를 들어, 안테나부(110)는 페라이트 로드형 안테나를 포함할 수 있다.
수신 신호 처리부(120)는 수신 신호를 처리하기 위한 아날로그 Front End 회로, 중간 주파수 신호를 생성하고 잡음 제거 및 신호 이득을 조절하는 아날로그 신호 회로를 포함할 수 있다.
이때, 수신 신호 처리부(120)는 믹서(Mixer)를 더 포함할 수 도 있고, 중간 주파수 신호의 앨리어싱(aliasing)을 제거하는 안티 앨리어싱 필터부(도시되지 않음)를 더 포함할 수 있다.
예를 들어, 안티 앨리어싱 필터부로부터 출력된 신호는 고감도 신호 처리부(130)의 입력 신호라 칭할 수 있다.
한편, 본 발명의 일 실시예에 따른 신호 감지 장치는 비디오 카메라용 이미지 센서에 내장되어 있는 오실레이터로부터 방사되는 1 ~ 수십 kHz 대역의 주파수 성분이나 1 ~ 수십 MHz 대역의 주파수 성분을 수신하고 필터링하기 위한 회로를 포함할 수 있다.
따라서, 일 실시예에 따른 신호 감지 장치는 고감도 안테나와 주파수 선별 회로를 이용하여 해당 주파수 대역을 탐지할 수 있다.
고감도 신호 처리부(130)는 본 발명의 실시예에 따른 샘플링 방법 및 신호 검출 방법을 이용하여 미세 신호를 검출하여 검출 대상 주파수를 사용하는 신호를 감지하는 기능을 수행한다.
디스플레이부(140)는 신호의 감지 결과, 감지되는 신호의 강도, 및 고감도 신호 처리를 제어하기 위한 각종 정보를 디스플레이하는 기능을 수행한다.
제어부(150)는 적어도 하나의 프로세서를 포함하며 신호 감지 장치(100)의 전반적인 동작을 제어하는 기능을 수행한다.
저장부(160)는 사용자로부터 입력되는 정보, 신호의 감지 이력, 검출 대상 신호의 주파수 대역에 대한 정보 등을 저장하는 기능을 수행한다.
도 2는 일 실시예에 따른 미세 신호 감지를 위한 고감도 신호 감지 장치의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 2를 참조하면, 일 실시예에 따른 고감도 신호 감지 장치는 도 1의 고감도 신호 처리부(130)에 적용될 수 있다.
도 2를 참조하면, 고감도 신호 감지 장치는 샘플링부(231), 피크값 검출부(235), 샘플링 제어부(237) 및 신호 검출부(239)를 포함한다.
샘플링부(231)는 샘플링 제어부(237)에서 입력되는 샘플링 클럭 및 샘플링 횟수 제어 신호에 따라 제1 샘플링을 수행하거나 제2 샘플링을 수행할 수 있다.
또한, 샘플링부(231)는 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부(232) 및 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부(233)를 포함할 수 있다.
제1 샘플링부(232)는 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행한다.
피크값 검출부(235)는 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출한다.
이때, 제1 샘플링은 타겟 주파수와 동일한 샘플링 주파수로 제2 샘플링을 수행하기 위한 시작점을 찾기 위해 수행될 수 있다. 즉, 본 발명의 실시예에 따르면 타겟 주파수와 동일한 샘플링 주파수로 샘플링을 수행하기 위한 정확한 시작점을 제1 샘플링을 통해 찾고, 제2 샘플링을 통해 입력 신호의 전력 레벨이 미세한 경우에도 고속의 ADC 또는 샘플링 레이트(sampling rate)의 필요 없이 검출 대상 신호를 검출할 수 있다.
제1 샘플링 주파수는 타겟 주파수보다 미세조정된 주파수로 수행될 수 있다. 예를 들어, 타겟 주파수가 15.75KHz인 경우 미세 조정 값은 100Hz이고, 제1 샘플링 주파수는 15.65KHz(=15650Hz)이다.
이때, 검출 대상 신호는 통신을 목적으로 하는 RF(Radio Frequency) 신호가 아니라 특정 센서, 예를 들어 이미지 센서에 발생되는 클럭 펄스 신호일 수 있다.
예를 들어, 이미지 센서는 내장되어 있는 Horizontal Oscillator 로부터 15.75KHz의 주파수 성분이 방사될 수 있고, 이때 검출대상 신호는 이미지 센서에서 발생하는 Horizontal 클럭 펄스 신호이고, 타켓 주파수는 15.75KHz 일 수 있다.
또한, 이미지 센서는 제조사 별, 제조 모델 별로 다른 클럭 펄스를 사용할 수 도 있다.
또한, 이미지 센서의 경우 Vertical 클럭 펄스가 사용될 수 있고 이때 Vertical 클럭 펄스는 15.75KHz의 주파수 성분이거나 이와 다른 주파수를 사용할 수 도 있다.
예를 들어, 이미지 센서의 제조사 별, 제조 모델 별로 다른 클럭 펄스를 '이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수'라 칭할 수 있다.
샘플링 주파수는 샘플링 레이트(sampling rate) 즉, 샘플링 속도에 해당하고 샘플링 속도가 정해지면 초당 샘플수가 정해진다.
따라서, 제1 샘플링을 통해 피크 값을 검출하기 위한 이론적인 샘플수는 LCM(f1, f2)/2 이다. 여기서, LCM(f1, f2)는 f1과 f2의 최소공배수를 의미한다. 예를 들어, f1이 157Hz이고 f2가 156Hz인 경우 LCM(f1, f2)는 24492이고, 157Hz인 입력 신호의 피크 값을 검출하기 위해 156Hz로 샘플링하는 경우 12246번의 샘플링이 필요할 수 있다.
본 발명의 실시예에서 샘플링은 정확하게 신호를 복원하는 목적이 아니고, 입력 신호의 피크 값을 검출하여 제2 샘플링의 시작점을 찾기 위한 것이다. 따라서, 일반적인 ADC에서 요구되는 고속의 샘플링 속도는 요구되지 않는다. 또한, 정확한 피크 값을 찾지 않고 피크 값에 가까운 값이 검출되는 시점을 찾으면 충분하다. 따라서, 제1 샘플링으로 샘플링하기 위해 요구되는 샘플 수는 아래 수학식 1과 같이 설정될 수 있다.
[수학식 1]
Figure pat00002
여기서, Roundup(A, 0)은 A값의 소수점 첫째자리에서 올림하여 정수를 리턴하는 함수를 나타내고, LCM(fs1, ft)는 fs1, 및 ft의 최소공배수, ft는 타겟 주파수, fs1는 제1 샘플링 주파수를 의미한다. 이때, 최소공배수를 계산하기 위한 fs1, 및 ft의 단위는 KHz가 아닌 Hz 단위의 숫자이다. 예를 들어, fs1, 및 ft이 각각 15.65 KHz 및 15.75Hz인 경우 1565와 1575의 최소 공배수를 이용하여 샘플 수를 계산할 수 있다.
피크값 검출부(235)는 수학식 1과 같이 결정되는 샘플링 구간 별로 피크 값을 검출할 수 있다. 예를 들어, 수학식 1에 의해 결정되는 샘플 수가 246538개인 경우 15.65KHz로 제1 샘플링하는 경우 158초마다 피크 값을 계산하면 된다.
제2 샘플링부(233)는 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행한다.
따라서, 제2 샘플링부(233)는 피크 값 검출부(235)에 의해 피크 값이 검출되기 전에는 비활성화 상태로 아무런 동작을 하지 않고 대기 상태로 유지될 수 도 있다.
통상적인 아날로그 디지털 변환 회로의 경우 신호를 복원하기 위한 목적으로 타겟 주파수 보다 2배 이상 빠른 고속 샘플링을 수행하지만, 일 실시예에 따른 고감도 신호 감지 장치는 해당 신호의 존재 여부를 검출하기 위해 제1 샘플링 및 제2 샘플링을 수행함으로써 고속 샘플링 회로를 필요로 하지 않을 수 있다.
샘플링 제어부(237)는 제1 샘플링의 샘플링 클럭을 제1 샘플링부(232)로 제공할 수 있고, 제2 샘플링을 수행하기 위한 샘플링 클럭을 제2 샘플링부(233)로 제공할 수 있다. 다시 말해, 샘플링 제어부(237)는 제1 샘플링부(232) 및 제2 샘플링부(233)의 샘플링 동작을 제어할 수 있다.
샘플링 제어부(237)는 이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수(Clock Pulse Frequency, CPF) 중 어느 하나를 선택하고 선택된 CPF에 대한 제1 샘플링 주파수 및 제1 샘플링 구간을 결정할 수 있다.
이때, 샘플링 제어부(237)는 이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수를 제조사별, 제조 모델 별, 클럭 주파수 타입별로 룩업 테이블에 저장하여 관리할 수 도 있다.
전자 장치에 따라, 또는 클럭 주파수의 타입에 따라 클럭 주파수 성분은 외부로 방사될 수 도 있고, 방사되지 않을 수 도 있다.
통상적으로, 카메라 장치의 경우 전자회로를 포함하는 이미지 센서와 렌즈를 구비하기 때문에, 이미지 센서와 렌즈사이에 완벽하게 클럭 주파수 성분이 차폐 되기는 힘들다.
예를 들어, 이미지 센서는 Horizontal clock, vertical clock, pixel clock 등을 사용할 수 있고, Horizontal clock 및 vertical clock이 외부로 방사될 수 도 있다.
따라서, 샘플링 제어부(237)는 검출 대상 신호의 타겟 주파수를 Horizontal clock 및 vertical clock 중 적어도 어느 하나의 주파수로 선택할 수 도 있다. 이때, 이미지 센서의 제조사별 또는 모델 별로 Horizontal clock 및 vertical clock은 주파수 대역이 크게 차이 날 수 있다.
만일, 이미지 센서의 Vertical clock이 10MHz 대역(또는 10kHz 대역)이고 Horizontal clock이 1MHz 대역(또는 1kHz 대역)인 경우 이러한 신호를 처리하기 위해 도 1의 수신 신호 처리부(120)는 두 개의 상이한 주파수 대역을 처리하기 위한 2개 이상의 필터링 회로를 포함할 수 도 있다.
한편, 샘플링 제어부(237)는 이미지 센서 타입별 클럭 펄스 주파수(Clock Pulse Frequency, CPF) 중 어느 하나를 선택하고, 제1 샘플링부(232) 및 제2 샘플링부(233)을 제어할 수 있다.
이때, 제1 피크 값이 제1 샘플링의 어느 시점(즉, 몇 번째 샘플)에서 발생한 것인지에 대한 정보는 샘플링 제어부(237) 및 신호 검출부(239)로 제공될 수 있다.
예를 들어, 타겟 주파수가 15.75kHz인 경우 제1 샘플링 주파수는 15.65kHz이고, 피크 값을 검출하기 위해 15.65kHz의 샘플링 속도로 246,538개 샘플링을 n번 수행한다고 가정한다. 이때, 200,000번째 샘플에서 피크 값이 검출된 경우, n+1 번째 샘플링에서도 200,000번째 샘플 근처에서 피크 값이 검출될 수 있다.
결국, 본 발명의 실시예에 따르면, 제1 샘플링이 수행되는 시간 구간 별로 피크 값을 검출할 수 있고, 피크 값의 검출 시점은 일정한 주기를 가질 수 있다.
따라서, 샘플링 제어부(237)는 제1 샘플링 시작 시점으로부터 상기 샘플링 구간 별로 각각의 피크 값이 발생한 시점을 기준으로 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하거나, 제1 샘플링의 n+1번째 수행에서 상기 피크 값이 검출된 시점을 타겟 신호 샘플링의 시작점으로 결정할 수 있다.
샘플링 제어부(237)는 하기 수학식 2에 의해 선택된 CPF에 대한 상기 제1 샘플링 주파수를 결정할 수 도 있다.
[수학식 2]
Figure pat00003
여기서,
Figure pat00004
는 제1 샘플링 주파수,
Figure pat00005
는 검출 대상 신호의 타겟 주파수,
Figure pat00006
는 제1 샘플링 구간의 실행 횟수(
Figure pat00007
)에 따라 결정되는 상수,
Figure pat00008
는 타겟 주파수의 단위에 따라 결정되는 미세 조정 값을 나타낸다.
이때,
Figure pat00009
는(i=1, 2, 3,…) 제1 샘플링 구간의 실행 횟수에 따라 1보다 큰 상수로 결정될 수 있다.
예를 들어, 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 1일 수 있고, 도 1의 안테나부(110)를 통해 수신되는 신호의 전력 레벨이 기 설정된 기준값보다 작은 경우 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 1보다 큰 값으로 설정될 수 있다.
이때, C1, C2, C3는 예를 들어, 1, 1.1, 1.2 로 설정될 수 있다.
한편, 제1 샘플링 구간의 실행 횟수가 복수인 경우 제1 샘플링을 통한 피크 값의 검출 및 발생 시점은 다음과 같이 결정될 수 있다.
예를 들어, 제1 샘플링의 첫 번째 주기에서 120번째 샘플링에서 피크 값이 검출되고, 두 번째 주기에서 122 번째 샘플링 시점에서 피크 값이 검출되고, 세 번째 주기에서 123 번째 샘플링 시점에서 피크 값이 결정된 경우, 각 피크 값들이 모두 기 설정된 기준 값보다(예를 들어 0.1mWatt) 작은 경우 제1 샘플링은 더 실행되도록 설정될 수 있다.
이때, 각 피크 값들 중 하나라도 기 설정된 기준 값보다 큰 경우 해당 피크 값이 검출된 것으로 결정할 수 도 있다.
또한, 각 피크 값들이 모두 기 설정된 기준 값보다 큰 경우 피크 값들중 가장 큰 피크 값이 검출된 위치에서 피크 값이 검출된 것으로 결정될 수 도 있고, 10번 이상 제1 샘플링 구간의 실행이 반복된 경우 가장 많은 수의 피크 값 발생 위치를 보이는 샘플링 시점에서 피크 값이 검출된 것으로 결정될 수 있다.
또한, 임의의 3차원 공간에서 검출 대상 신호를 발생시키는 전자 장치를 탐지하기 위해 신호 감지 장치를 움직여 가면서 측정하는 경우 신호 감지 장치의 움직임이 기준값 보다 크거나 빠른 경우 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 10보다 크고 100보다 작은 값을 설정될 수 있다.
또한, 임의의 3차원 공간에서 검출 대상 신호를 발생시키는 전자 장치를 탐지하기 위해 신호 감지 장치를 서서히 움직이는 경우 신호 감지 장치의 움직임이 기준값 보다 작거나 느릴 수 있고, 이 경우 제1 샘플링 구간의 실행 횟수는 10이하의 값으로 설정될 수 있다.
이때, 신호 감지 장치는 장치 자체의 움직임 속도 및 가속도를 측정하기 위한 센서를 더 구비할 수 있다.
예를 들어,
Figure pat00010
는 타겟 주파수가 kHz 대역인 경우 0.1로 설정되고, 타겟 주파수가 MHz 대역인 경우 1로 설정될 수 있다. 따라서, 타겟 주파수가 15.75kHz인 경우
Figure pat00011
[kHz]는 0.1[kHz]일 수 있다.
신호 검출부(239)는 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단한다.
신호 검출부(239)는 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기를 피크 값과 비교하고, 피크 값과 동일하거나 기 설정된 오차 범위 내로 유지되면 입력 신호를 검출 대상 신호인 것으로 결정할 수 있다.
샘플링 제어부(237)는 피크 값이 발생한 시점을 기초로 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 제1 샘플링부(2332), 제2 샘플링부(233) 및 신호 검출부(239)를 제어한다.
샘플링 제어부(237)는 검출 대상 신호를 발생시키는 장치에 구비된 이미지 센서의 수직(vertical) 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 모드 및 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수와 수평(horizontal) 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 모드 중 현재 선택된 동작 모드를 확인하고, 현재 선택된 동작 모드에 기초하여 상기 제1 샘플링 주파수 및 제2 샘플링 주파수를 제어할 수 있다.
도 2에 도시된 고감도 신호 감지 장치를 이용하면, 변형된 형태의 불법 촬영 장치 등을 검출할 수 있다. 최근 불법 촬영 장치는 소위 '몰래 카메라' 또는 '몰카'라고 칭해지며 범죄에 악용되고 있다. 이러한 불법 촬영 장치를 탐지하기 위한 종래 기술에 따른 탐지기는 적외선 레이저 방식과 RF 신호 감지 방식을 사용한다.
적외선 레이저 방식의 경우 레이저 센서에서 빛이 발산되어 렌즈를 식별하는 원리로 동작하며, 불법 촬영 장치에 내장된 카메라 렌즈와 탐지기가 마주보는 형태에서 탐지 가능하다. 그러나, 카메라 렌즈가 사각지대에 숨겨져 있는 경우 탐지가 불가능한 문제가 있다.
한편, RF 신호 감지 방식의 불법 촬영 탐지기는 2.45GHz 또는 1.2GHz 대역의 무선 전송 방식을 이용하며, 최근에는 주파수 대역을 2.1055GHz 대역으로 변경하여 사용하기 때문에 기존의 탐지기로 탐지하지 못하는 문제가 있다.
또한, RF 신호 감지 방식의 불법 촬영 탐지기는 무선 전송 방식으로 촬영 영상을 전송하는 경우에 적용되는 것이기 때문에 무선 전송을 하지 않는 메모리 카드 내장형의 초소형 불법 촬영 장치는 탐지하지 못하는 문제가 있었다.
그러나, 일 실시예에 따른 고감도 신호 감지 장치 RF 무선 통신 신호를 감지하는 것이 아닌 이미지 센서의 클럭 주파수를 감지할 수 있기 때문에, 메모리 카드 내장형의 초소형 불법 촬영 장치를 탐지할 수 있다.
도 3은 일 실시예에 따른 수신 신호 처리부의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
도 1 내지 도 3을 참조하면, 고감도 신호 처리부(130)로 입력되는 입력 신호는 수신 신호 처리부(120)를 통해 입력될 수 있다.
도 3에 도시된 수신 신호 처리부(321)는 도 1의 수신 신호 처리부(120)의 구체적인 구성일 수 있다.
수신 신호 처리부(321)는 이미지 센서의 타입별 수직(vertical) 클럭 펄스 주파수 대역을 처리하는 제1 처리부(323) 및 이미지 센서의 타입별 수평(horizontal) 클럭 펄스 주파수 대역을 처리하는 제2 처리부(325)를 포함할 수 있다.
이때, 수신 신호 처리부(321)는 현재 처리되는 주파수 대역에 대한 정보를 샘플링 제어부(237) 및 신호 검출부(239)로 전달할 수 있다.
신호 검출부(239)는 상기 제1 처리부(323)로부터 입력되는 제1 입력 신호 및 상기 제2 처리부(323)로부터 입력되는 제2 입력 신호 각각에 대해 검출 대상 신호인지 여부를 판단할 수 있다.
예를 들어, 신호 검출부(239)는 이미지 센서의 수직 클럭 주파수와 수평 클럭 주파수를 모두 만족하는 경우 검출 대상 신호가 검출된 것으로 결정할 수 도 있고, 이미지 센서의 수직 클럭 주파수와 수평 클럭 주파수 중 적어도 어느 하나의 주파수 성분이 검출된 경우 검출대상 신호가 검출된 것으로 결정할 수 도 있다.
도 4 내지 도 6은 일 실시예에 따른 고감도 신호처리 장치의 신호 검출 원리를 설명하기 위한 예시도이다.
도 4를 참조하면, 입력 신호(410)의 주파수는 ft로서 검출 대상 신호라 가정한다. 따라서, 입력 신호(410)의 주기는
Figure pat00012
이고, 제1 샘플링 주파수 fs1는 ft 보다 미세 조정 값
Figure pat00013
만큼 느리기 때문에 제1 샘플링의 샘플링 주기는
Figure pat00014
이다.
따라서, 매
Figure pat00015
second 마다 샘플 값을 획득하고, 피크 값은 참조 부호 401, 403, 405의 시점에서 획득된 전력 레벨 값들 중 403에서 검출 될 수 있다.
한편, 도 5는 제1 샘플링 주파수 fs1를 ft 보다 미세 조정 값
Figure pat00016
만큼 빠르게 설정한 경우를 나타낸다. 이때, 제1 샘플링 주파수 fs1를 ft 보다 미세 조정 값
Figure pat00017
만큼 빠르게 설정한 경우 매
Figure pat00018
second 마다 샘플 값을 획득할 수 있다.
도 5에 도시된 예에서, 피크 값은 참조 부호 501, 503, 505의 시점에서 획득된 전력 레벨 값들 중 어느 하나로 결정될 수 있다.
도 6은 도 4에 도시된 예시에서 제2 샘플링을 수행하는 예를 설명하기 위한 도면이다.
도 6을 참조하면, n번째 제1 샘플링은 측정 시작점부터 참조부호 610의 시점까지 진행될 수 있다. 이때, 도 2의 피크 값 검출부(235)는 참조부호 403의 시점에서 수행된 샘플링에서 측정된 값을 피크 값으로 결정할 수 있다.
이때, 샘플링 제어부(237)는 더 이상 제1 샘플링을 수행하지 않고, n번째 제1 샘플링의 종료 후에, 측정 시작점부터 참조부호 610의 시점이 지난 참조부호 603의 시점부터 제2 샘플링을 수행하도록 제2 샘플링부(233)를 제어할 수 있다.
또한, n+1번째 제1 샘플링을 참조부호 620 시점까지 한번 더 수행하되, 참조부호 403에서 측정된 전력 레벨과 일정 범위 내의 값이 603 시점 부근에서 측정되면, 그 시점부터 제2 샘플링을 수행하도록 제2 샘플링부(233)를 제어할 수도 있다.
제1 샘플링을 통해 피크 값을 찾아낸 경우, 제2 샘플링은 검출 대상 신호의 타겟 주파수와 동일한 속도로 진행되기 때문에 참조부호 605에 나타낸 바와 같이 피크 값과 동일하거나 일정 범위 내의 전력 레벨이 연속적으로 측정될 수 있다.
이와 같이, 검출 대상 신호의 타겟 주파수와 미세 조정 값 만큼 차이나는 제1 샘플링 주파수를 이용하여 피크 값을 검출하고, 피크 값이 검출된 시점을 이용하면 고속의 샘플링 없이 검출 대상 신호를 검출할 수 있다.
제1 샘플링을 통해 찾아내는 피크 값이 입력 신호의 피크 값과 오차가 적을수록 신호 검출의 감도는 높아 지게 된다.
도 7은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 7에 도시된 방법은 도 2의 고감도 신호 감지 장치에 의해 수행될 수 있다.
710단계에서 장치는, 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 미세 조정 값 만큼 차이나는 제1 샘플링 주파수로 샘플링한다.
즉, 제1 샘플링 주파수는 도 5에서 설명한 바와 같이 타겟 주파수 보다 미세 조정 값 만큼 큰 샘플링 주파수를 사용하는 것 도 가능하다.
720단계에서 장치는, 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출한다.
730단계에서 장치는, 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행한다.
740단계에서 장치는, 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단한다.
도 8은 일 실시예에 따른 고감도 신호 처리 및 신호감지 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 8에 도시된 방법은 도 3에 도시된 수신 신호 처리부(321)를 포함하는 고감도 신호 감지 장치에 의해 수행될 수 있다.
810 단계에서 장치는 현재 선택된 동작 모드를 확인한다.
이때, 동작 모드는 예를 들어 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 제1 모드, 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수뿐만 아니라 Horizontal 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 제2 모드 및 제3 모드를 포함할 수 있다.
820단계에서 장치는 선택된 동작 모드가 제1 모드인지를 판단한다.
선택된 모드가 제1 모드인 경우 830단계에서 장치는, 제1 처리부(323)가 동작을 수행하도록 설정하고, 제2 처리부(325)는 동작하지 않도록 비활성화 시킬 수 있다.
840단계에서 장치는 도 7의 710 내지 740단계를 수행하여 검출 대상 신호의 검출 여부를 판단할 수 있다.
한편, 선택된 모드가 제2 모드 또는 제3 모드인 경우 650 단계에서 장치는 제1 처리부(323) 및 제2 처리부(325) 모두 동작을 수행하도록 설정할 수 있다.
860단계에서 장치는 제1 처리부(323)의 출력 신호를 고감도 신호 처리부(130)의 입력 신호로 입력하고, 제1 처리부(323)의 출력 신호에 대해 도 7의 710단계 내지 740 단계를 수행할 수 있다. 이때, 제1 처리부(323)는 이미지 센서의 타입별 수직 클럭 펄스 주파수 대역을 처리하는 동작을 수행할 수 있다.
870단계에서 장치는 제2 처리부(325)의 출력 신호를 고감도 신호 처리부(130)의 입력 신호로 입력하고, 제2 처리부(325)의 출력 신호에 대해 도 7의 710단계 내지 740 단계를 수행할 수 있다.
880단계에서 장치는 현재 선택된 모드가 제2 모드인지 또는 제3 모드 인지에 따라 검출대상 신호의 검출 여부를 결정할 수 있다.
이때, 저 사양 신호 감지 장치는 제1 모드 만이 지원되고, 고 사양의 신호 감지 장치는 제2 모드 및 제3 모드까지 모두 지원될 수 있다.
제1 내지 제3 모드의 결정은 사용자에 의해 선택될 수도 있고, 정확한 판단이 필요한 경우 및 검출 대상 신호로 의심되는 경우를 포함하여 정확한 판단보다는 검출대상 신호로 의심되는 모든 경우를 검출하기 위해 제어부(150)에 의해 선택될 수 있다.
예를 들어, 제2 모드는 이미지 센서의 수평 클럭 주파수 성분과 수직 클럭 주파수 성분이 모두 검출된 경우 검출 대상 신호가 검출된 것으로 결정하는 모드일 수 있다.
예를 들어, 제3 모드는 이미지 센서의 수평 클럭 주파수 성분과 수직 클럭 주파수 성분 중 적어도 어느 하나의 성분이 검출된 경우 검출 대상 신호가 검출된 것으로 결정하는 모드일 수 있다. 따라서, 제2 모드로 동작하는 경우 제3 모드에 비해 검출 대상 신호를 발생시키는 전자 장치가 존재하는 것에 대한 결정은 더 정확할 수 있다.
이상에서 설명된 장치는 하드웨어 구성요소, 소프트웨어 구성요소, 및/또는 하드웨어 구성요소 및 소프트웨어 구성요소의 조합으로 구현될 수 있다. 예를 들어, 실시예들에서 설명된 장치 및 구성요소는, 예를 들어, 프로세서, 콘트롤러, ALU(arithmetic logic unit), 디지털 신호 프로세서(digital signal processor), 마이크로컴퓨터, FPA(field programmable array), PLU(programmable logic unit), 마이크로프로세서, 또는 명령(instruction)을 실행하고 응답할 수 있는 다른 어떠한 장치와 같이, 하나 이상의 범용 컴퓨터 또는 특수 목적 컴퓨터를 이용하여 구현될 수 있다. 처리 장치는 운영 체제(OS) 및 상기 운영 체제 상에서 수행되는 하나 이상의 소프트웨어 애플리케이션을 수행할 수 있다. 또한, 처리 장치는 소프트웨어의 실행에 응답하여, 데이터를 접근, 저장, 조작, 처리 및 생성할 수도 있다. 이해의 편의를 위하여, 처리 장치는 하나가 사용되는 것으로 설명된 경우도 있지만, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는, 처리 장치가 복수 개의 처리 요소(processing element) 및/또는 복수 유형의 처리 요소를 포함할 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, 처리 장치는 복수 개의 프로세서 또는 하나의 프로세서 및 하나의 콘트롤러를 포함할 수 있다. 또한, 병렬 프로세서(parallel processor)와 같은, 다른 처리 구성(processing configuration)도 가능하다.
소프트웨어는 컴퓨터 프로그램(computer program), 코드(code), 명령(instruction), 또는 이들 중 하나 이상의 조합을 포함할 수 있으며, 원하는 대로 동작하도록 처리 장치를 구성하거나 독립적으로 또는 결합적으로(collectively) 처리 장치를 명령할 수 있다. 소프트웨어 및/또는 데이터는, 처리 장치에 의하여 해석되거나 처리 장치에 명령 또는 데이터를 제공하기 위하여, 어떤 유형의 기계, 구성요소(component), 물리적 장치, 가상 장치(virtual equipment), 컴퓨터 저장 매체 또는 장치, 또는 전송되는 신호 파(signal wave)에 영구적으로, 또는 일시적으로 구체화(embody)될 수 있다. 소프트웨어는 네트워크로 연결된 컴퓨터 시스템 상에 분산되어서, 분산된 방법으로 저장되거나 실행될 수도 있다. 소프트웨어 및 데이터는 하나 이상의 컴퓨터 판독 가능 기록 매체에 저장될 수 있다.
실시예에 따른 방법은 다양한 컴퓨터 수단을 통하여 수행될 수 있는 프로그램 명령 형태로 구현되어 컴퓨터 판독 가능 매체에 기록될 수 있다. 상기 컴퓨터 판독 가능 매체는 프로그램 명령, 데이터 파일, 데이터 구조 등을 단독으로 또는 조합하여 포함할 수 있다. 상기 매체에 기록되는 프로그램 명령은 실시예를 위하여 특별히 설계되고 구성된 것들이거나 컴퓨터 소프트웨어 당업자에게 공지되어 사용 가능한 것일 수도 있다. 컴퓨터 판독 가능 기록 매체의 예에는 하드 디스크, 플로피 디스크 및 자기 테이프와 같은 자기 매체(magnetic media), CD-ROM, DVD와 같은 광기록 매체(optical media), 플롭티컬 디스크(floptical disk)와 같은 자기-광 매체(magneto-optical media), 및 롬(ROM), 램(RAM), 플래시 메모리 등과 같은 프로그램 명령을 저장하고 수행하도록 특별히 구성된 하드웨어 장치가 포함된다. 프로그램 명령의 예에는 컴파일러에 의해 만들어지는 것과 같은 기계어 코드뿐만 아니라 인터프리터 등을 사용해서 컴퓨터에 의해서 실행될 수 있는 고급 언어 코드를 포함한다. 상기된 하드웨어 장치는 실시예의 동작을 수행하기 위해 하나 이상의 소프트웨어 모듈로서 작동하도록 구성될 수 있으며, 그 역도 마찬가지이다.
이상과 같이 실시예들이 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 해당 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 상기의 기재로부터 다양한 수정 및 변형이 가능하다. 예를 들어, 설명된 기술들이 설명된 방법과 다른 순서로 수행되거나, 및/또는 설명된 시스템, 구조, 장치, 회로 등의 구성요소들이 설명된 방법과 다른 형태로 결합 또는 조합되거나, 다른 구성요소 또는 균등물에 의하여 대치되거나 치환되더라도 적절한 결과가 달성될 수 있다.
그러므로, 다른 구현들, 다른 실시예들 및 특허청구범위와 균등한 것들도 후술하는 특허청구범위의 범위에 속한다.

Claims (6)

  1. 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수 보다 작은 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 제1 샘플링부;
    상기 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 피크값 검출부;
    타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 제2 샘플링부;
    상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 신호 검출부; 및
    상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 상기 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하고, 상기 제1 샘플링부, 상기 제2 샘플링부 및 상기 신호 검출부를 제어하는 샘플링 제어부를 포함하는
    고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 샘플링 제어부는
    검출 대상 신호를 발생시키는 장치에 구비된 이미지 센서의 수직(vertical) 클럭 주파수를 타겟 주파수로 탐지하는 모드 및 이미지 센서의 Vertical 클럭 주파수와 수평(horizontal) 클럭 주파수를 포함하여 하나의 이미지 센서에서 발생할 수 있는 2가지 이상의 클럭 주파수를 모두 탐지하는 모드 중 현재 선택된 동작 모드를 확인하고,
    현재 선택된 동작 모드에 기초하여 상기 제1 샘플링 주파수 및 제2 샘플링 주파수를 제어하는
    고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 샘플링 제어부는
    상기 타겟 주파수가 kHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 100Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고,
    상기 타겟 주파수가 MHz 대역인 경우, 상기 타겟 주파수보다 1000Hz 작은 주파수로 상기 제1 샘플링을 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하는
    고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 피크값 검출부는 하기 수학식으로 결정되는 샘플링 구간 별로 상기 피크 값을 검출하고,
    Figure pat00019

    (여기서, LCM(fs1, ft)는 fs1, 및 ft의 최소공배수, ft는 타겟 주파수, fs1는 제1 샘플링 주파수)
    상기 샘플링 제어부는 제1 샘플링 시작 시점으로부터 상기 샘플링 구간 별로 각각의 피크 값이 발생한 시점을 기준으로 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하는
    고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 샘플링 제어부는
    상기 제1 샘플링을 n번(n은 1이상의 정수) 수행하도록 상기 제1 샘플링부를 제어하고, 상기 제1 샘플링의 n+1번째 수행에서 상기 피크 값이 검출된 시점을 상기 타겟 신호 샘플링 시점으로 결정하는
    고감도 신호처리를 이용한 신호 감지 장치.
  6. 입력 신호를 검출 대상 신호의 타겟 주파수와 미세 조정 값 만큼 차이나는 제1 샘플링 주파수로 제1 샘플링을 수행하는 단계;
    상기 제1 샘플링을 통해 샘플링 된 값 중 전압 레벨이 가장 큰 피크 값을 검출하는 단계;
    상기 피크 값이 발생한 시점을 기초로 상기 타겟 주파수와 동일한 주파수로 샘플링하기 위한 타겟 신호 샘플링 시점을 결정하는 단계;
    상기 타겟 신호 샘플링 시점부터 상기 타겟 주파수와 동일한 제2 샘플링 주파수로 상기 입력 신호에 대해 제2 샘플링을 수행하는 단계; 및
    상기 제2 샘플링에서 샘플링 값들의 전력 레벨 크기에 기초하여 상기 입력 신호가 검출 대상 신호에 해당하는지를 판단하는 단계를 포함하는
    신호 감지 장치에서 수행되는 고감도 신호처리 방법.
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