KR20200057201A - 전자부품 테스트용 핸들러 - Google Patents

전자부품 테스트용 핸들러 Download PDF

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KR20200057201A
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신희택
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Abstract

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다.
본 발명에 따른 핸들러는 전자부품이 외부에서 공급되어온 트레이에 그대로 실린 채 트레이와 분리된 전자부품들의 개별 이동이 없이 테스트가 될 수 있게 하는 연결부분을 가진다.
본 발명에 따르면 테스터의 가동 효율 및 처리 효율이 향상된다.

Description

전자부품 테스트용 핸들러{HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS}
본 발명은 트레이에 실린 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키는 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 것이다.
생산된 전자부품들은 테스터에 의해 테스트된 후 양품과 불량품으로 나뉘어서 양품만이 출하된다.
일반적으로 테스트되어야 할 전자부품은 전자부품 테스트용 핸들러(이하 '핸들러'라 약칭함)로 공급된다. 그리고 핸들러가 전자부품과 테스터를 전기적으로 연결시킴으로써 전자부품에 대한 테스트가 이루어질 수 있도록 한다.
핸들러는 테스트되어야 할 전자부품의 종류에 따라 다수의 형태로 제작될 수 있으며, 그에 따라 테스트 시스템의 형태도 달라진다.
다수의 형태들 중 대표적인 3 종류의 테스트 시스템에 대해서 살펴본다.
제1 형태에 따른 테스트 시스템에 적용된 핸들러는 대한민국 특허공개 10-2009-0044164호(이하 '종래기술 1'이라 함)를 참조할 수 있다. 종래기술 1의 핸들러는 주로 테스터에 메모리소자를 전기적으로 연결시키기 위한 목적으로 제작된다. 이러한 종래기술 1에 따른 핸들러는 고객트레이에 적재된 메모리소자를 일정한 순환 경로를 순환하는 테스트트레이로 이동시키고, 테스트트레이에 실린 상태의 메모리소자를 테스터에 전기적으로 연결시킨다. 그리고 테스트가 종료된 메모리소자는 핸들러에 의해 테스트트레이로부터 고객트레이로 이동되며, 이 때 핸들러는 테스트 결과에 따라 메모리소자들을 분류하게 된다. 이러한 핸들러에서 테스트트레이의 역할은 전자부품(메모리소자)을 운반하기 위한 운반자로서도 기능하지만, 전자부품과 테스터 간의 적절한 전기적인 연결을 위한 기능도 가진다. 여기서 테스트트레이의 전기적인 연결을 위한 기능은 테스트트레이에 안착된 전자부품들 간의 간격이 테스터의 테스트소켓들 간의 간격에 일치됨으로써 담보된다. 이를 위해 전자부품을 고객트레이에서 테스트트레이로 이동시키는 이동장치는 전자부품을 이동시키는 과정에서 전자부품들 간의 간격을 조정하는 기능도 수행한다. 이와 같이 외부에서 공급되어 온 고객트레이와 별개로 구비된 테스트트레이가 적용된 핸들러는 소품종이면서 대량 생산되는 전자부품의 테스트를 위해 준비된다.
제2 형태에 따른 테스트 시스템에서 적용된 핸들러는 전자부품을 운반하기 위해 순환하는 별도의 테스트트레이를 구비하고 있지 않으며, 주로 다품중 소량 생산되는 전자부품의 테스트를 위해 준비된다. 대한민국 공개특허 10-2017-0111497호(이하 '종래기술 2'라 함)에는 테스트트레이가 적용되지 않은 핸들러가 제시되어 있다. 종래기술 2에 따른 핸들러에서는 왕복 이동하는 각각의 이동테이블 등이 고객트레이를 운반하는 기능을 담당하며, 고객트레이나 이동테이블 같은 서로 다른 적재요소들 간에 전자부품이 이동하는 과정에서 전자부품들 간의 간격이 조정될 수 있다. 이와 같이 테스트트레이가 적용되지 않은 경우에도, 테스트 결과에 따른 전자부품의 분류는 핸들러에 의해 이루어진다.
제3 형태의 테스트 시스템에서는 테스트 결과에 따라서 전자부품들을 분류하기 위해 테스터와 분리된 별도의 소터를 필요로 하며, 소터와 관련하여서는 대한민국 공개특허 10-2009-0085734호 등이 참조될 수 있다. 소터는 테스트되어야 할 전자부품들을 트레이의 일 종류인 테스트보드에 적재하거나, 테스트가 완료된 전자부품들을 테스트 결과에 따라 분류하며, 테스트 시간이 매우 긴 테스트 공정을 효율적으로 수행할 수 있도록 지원한다. 예를 들어 테스트 시간이 매우 길 경우에는 테스트 시간에 비하여 테스트 결과에 따라 전자부품을 분류하는 시간이 상당히 짧다. 그래서 여러 군데에서 테스트가 완료된 전자부품들을 하나의 소터에서 분류하도록 하고, 더불어 분류 과정에서 테스트가 완료된 전자부품들을 테스트보드로부터 언로딩(unloading)시킨 후 테스트되어야 할 전자부품들을 테스트보드로 로딩(loading)시킨다. 이에 따라 테스트 시스템의 구축과 가동면에서 공간 효율성과 가동 효율성을 향상시킬 수 있다.
한편, 위와 같은 테스트 시스템들에서 추가적으로 고려해야 될 사항들이 있다.
첫 번째 고려해야 될 사항은 위의 제1 및 제2 형태와 관련되며, 전자부품에 대한 테스트 시간이 매우 짧은 경우이다. 이러한 경우 핸들러의 처리 용량은 테스트 시간보다 긴 로딩, 언로딩 및 분류 과정에 의해 결정될 수 있고, 더 나아가 서로 다른 적재요소들 간에 전자부품을 이동시키는 작업도 처리용량의 감소를 초래한다.
두 번째 고려해야 될 사항은 위의 제3 형태와 관련되며, 전자부품에 대한 테스트 시간이 매우 긴 경우이다. 이러한 경우 소터에서 테스트보드로 로딩된 전자부품들이 테스터와 전기적으로 연결되기에 결함이 존재할 수 있다. 결함의 원인은 여러 가지일 수 있으나 대부분 전자부품과 테스터의 전기적 연결에 불량이 발생하는 것이 주요 원인이다.
테스트보드는 전자부품들을 적재시키기 위한 포켓과 포켓이 설치되는 설치보드로 구성된다. 그래서 포켓에 적재된 전자부품이 테스터와 적절히 전기적으로 연결되기 위해서는 다음 3가지 요건을 만족시켜야 한다.
첫째, 포켓과 설치보드 간의 전기적 연결이 적절히 이루어져 있어야 한다.
둘째, 포켓에 안착된 전자부품의 단자와 포켓의 단자가 서로 전기적으로 적절히 접촉되어야 한다.
셋째, 전자부품 자체적인 전기회로에 불량이 없어야 한다.
위의 3가지 요인들 중 가장 빈번하게 발생되는 것은 소터의 작업 불량으로 둘째 요건을 만족시키지 못함에 있다. 이 둘째 요건은 소터의 작업불량으로 전자부품이 포켓에 적절히 안착되지 못해서 전자부품과 포켓 간에 전기적인 연결에 불량이 발생하는 경우에 만족될 수 없다.
만일 전자부품들이 테스트보드에 실린 상태에서 위의 요건들이 결격되어서 일부의 전자부품들이 테스터에 전기적으로 연결될 수 없는 조건에서 테스트 시간이 긴 테스트가 수행되면, 결국 일부의 전자부품들은 테스트될 수가 없고, 또한 제대로 테스트되지 못하고 불량 판정된 일부의 전자부품들에 대한 그 이후의 처리(분류나 재테스트 등)들에 대하여 시간이 소요되므로 그 만큼 테스터의 가동 효율 감소와 그로 인한 처리 용량의 감소가 당연히 따르게 된다.
본 발명의 목적은 앞서 설명한 2가지의 고려해야 될 사항들을 모두 만족시킬 수 있고, 특히 소터와 적절히 결합될 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러에 관한 기술을 제공하는 것이다.
본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러는 외부에서 공급되어 온 트레이를 테스터로 공급하여 상기 트레이에 실려 있는 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키기 위해 마련되는 연결부분; 및 상기 연결부분을 제어하는 제어장치; 를 포함하며, 상기 연결부분은 외부에서 온 상기 트레이를 직접 상기 테스터로 공급하여 상기 트레이에 실려 있는 상태의 전자부품들이 상기 테스터에 전기적으로 연결되도록 함으로써 전자부품의 테스트를 위해서 전자부품을 상기 트레이와 분리하여 개별 이동시켜야 하는 과정이 생략된다.
상기 연결부분은 외부에서 공급되어 온 트레이를 상기 테스터로 공급한 후 테스트가 종료하면 회수하는 수급장치를 포함한다.
상기 테스터는 전기적인 특성 테스트인 주 테스트에 앞서서 주 테스트를 수행하는 데 필요한 요건이 충족되었는지 여부를 확인하기 위한 사전 테스트를 수행한다.
상기 연결부분은 주 테스트가 완료된 전자부품이 실린 트레이는 소터로 보내고, 주 테스트가 이루어져야 할 전자부품이 실린 트레이는 소터로부터 받음으로써 소터와 트레이를 교환하는 교환장치를 더 포함할 수 있다.
상기 테스터에 의한 테스트가 이루어진 전자부품들 중 불량 판정된 전자부품을 상기 트레이로부터 분리시킨 뒤 재안착시키는 재안착장치; 를 더 포함하고, 상기 제어장치는 불량 판정된 전자부품이 상기 재안착장치에 의해 상기 트레이에 재안착되도록 제어하고, 전자부품의 재안착이 완료되면 상기 테스터에 의해 다시 테스트를 수행하도록 제어한다.
상기 테스터에 의해 테스트가 이루어진 전자부품들 중 불량 판정된 전자부품의 안착불량을 검사하기 위한 카메라; 상기 카메라에 의한 검사를 통해 불량 판정된 전자부품의 안착불량이 전자부품의 각위치 이탈에 원인이 있는 경우 전자부품을 정상적인 상태로 회전시키는 회전테이블; 및 상기 회전테이블을 회전시키는 회전기; 를 더 포함하고, 상기 제어장치는 상기 카메라에 의해 촬영된 이미지를 통해 안착불량으로 판단된 전자부품의 정상적인 재안착을 위해 상기 재안착장치를 제어한다.
상기 회전테이블은 투명한 재질로 구비되고, 상기 카메라는 상기 회전테이블의 하방에 배치되며, 상기 제어장치는 상기 재안착장치를 제어하여 불량 판정된 전자부품을 상기 회전테이블로 이동시키고, 상기 카메라에 의해 촬영된 이미지를 통해 전자부품의 안착불량을 판독한 후 전자부품의 각위치 불량은 상기 회전테이블의 회전을 통해 보정하며, 전자부품의 X-Y축 상의 위치 불량은 상기 재안착장치에 의해 다시 상기 트레이로 이동하는 전자부품의 이동좌표의 조정을 통해 보정한다.
상기 재안착장치는 전자부품을 파지하거나 파지를 해제하는 픽킹모듈; 상기 픽킹모듈을 승강시킴으로써 상기 픽킹모듈의 파지나 파지 해제 작업을 가능하게 하는 승강기; 및 상기 픽킹모듈을 수평 이동시킴으로써 상기 픽킹모듈에 파지된 전자부품이 이동될 수 있게 하는 이동기; 를 포함하고, 상기 픽킹모듈은 상기 트레이로부터 불량 판정된 전자부품을 인출하여 상기 회전테이블로 이동시키거나 상기 회전테이블에서 상기 트레이로 전자부품을 이동 적재시키기 위한 픽커; 상기 픽커의 인출 작업이 이루어지도록 불량 판정된 전자부품이 안착된 포켓을 개방시키는 제1 개방소자; 상기 픽커의 적재 작업이 이루어지도록 전자부품이 안착될 포켓을 개방시키는 제2 개방소자; 및 상기 픽커를 왕복 이동시킴으로써 상기 픽커의 인출 작업 시에는 상기 픽커가 상기 제1 개방소자와 짝을 이루도록 하고, 상기 픽커의 적재 작업 시에는 상기 픽커가 상기 제2 개방소자와 짝을 이루도록 하는 왕복기; 를 포함한다.
상기 제1 개방소자에는 상기 픽커에 의해 파지된 전자부품이 상방으로 통과될 수 있는 제1 통과구멍이 있고, 상기 제2 개방소자에는 상기 픽커에 의해 파지된 전자부품이 하방으로 통과될 수 있는 제2 통과구멍이 있으며, 상기 제1 통과구멍은 단면적은 상기 제2 통과구멍의 단면적보다 넓다.
본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.
첫째, 전자부품들이 공급되어 온 트레이로부터 분리되어 개별 이동하는 과정이 생략되기 때문에, 특히 테스트 시간이 매우 짧은 테스트에서 전자부품들에 대한 처리 용량이 향상된다.
둘째, 테스트 시간이 긴 테스트가 수행되어야 하는 경우에 사전에 불량 상태에 있는 전자부품(들)을 제거시킴으로써 궁극적으로 테스터의 가동 효율 및 처리 효율이 향상된다.
셋째, 테스트를 수행하기에 부적절한 전자부품을 재배치시켜서 테스트 수행이 적절히 이루어지도록 함으로써 궁극적으로 테스터의 가동 효율 및 처리 효율이 향상된다.
넷째, 전자부품의 재배치 과정에서 전자부품을 트레이로부터 인출하는 구성과 재공급하는 구성의 규격을 달리함으로써 인출 작업의 수월성과 재공급 작업의 정밀성이 담보된다.
다섯째, 특히 소터와 결합하여 단순히 트레이를 교환하는 역할을 넘어 테스트를 수행하기에 부적절한 전자부품을 미리 솎아내기 때문에 전체적인 테스트시스템의 가동성 및 효율성을 대폭 향상시킨다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러에서 다루는 트레이의 개념적인 평면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러와 소터의 결합 구조를 예시하고 있다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러에 결합되는 테스터에 대한 개략도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 5는 도 4의 핸들러에 적용된 카트를 도시하고 있다.
도 6은 도 4의 핸들러에 적용된 카메라와 회전테이블의 배치관계를 설명하기 위한 참조도이다.
도 7은 도 4의 핸들러에 적용된 소켓촬영기에 대한 발췌도이다.
도 8은 도 4의 핸들러에 적용된 연결부분에 대한 발췌도이다.
도 9는 도 8의 연결부분에 구성된 수급장치에 대한 발췌도이다.
도 10은 도 9의 수급장치에 적용된 입출기의 작동을 설명하기 위한 참조도이다.
도 11은 도 8의 연결부분에 구성된 교환장치에 대한 발췌도이다.
도 12는 도 4의 핸들러에 적용된 재안착장치에 대한 발췌도이다.
도 13은 도 12의 일부를 부분 확대하여 도시하고 있다.
도 14는 본 발명에 따른 핸들러의 제1 작동예를 설명하기 위한 흐름도이다.
도 15는 본 발명에 따른 핸들러의 제2 작동예를 설명하기 위한 흐름도이다.
본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복 또는 실질적으로 동일한 구성에 대한 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.
그리고 본 발명에 따른 핸들러는 소터와 결합되는 형태로 구비되는 것이 바람직하게 고려될 수 있으므로, 이하의 주된 구성 설명에서는 소터와의 결합을 고려한 본 발명에 따른 핸들러를 예로 들어서 설명한다.
<트레이에 대한 설명>
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러에서 다루는 트레이(T)의 개념적인 평면도이다.
트레이(T)는 설치보드(B)와 포켓(P)들을 포함하여 구성된다.
설치보드(B)는 그 일 측에 테스터의 테스트소켓들과 전기적으로 접촉되는 제1 접촉단자(T1)들을 가지며, 포켓(P)을 게재하여 전자부품들과 전기적으로 접촉될 수 있는 제2 접촉단자(T2)들을 가진다. 물론, 제1 접촉단자(T1)들과 제2 접촉단자(T2)들은 전기회로를 통해 상호 전기적으로 연결되어 있다. 이러한 설치보드(B)에는 후술할 테스터와의 전기적인 연결을 위해 파지홈(G)이 형성되어 있다.
포켓(P)은 전자부품을 안착시키기 위한 안착공간(S)을 구비하며, 설치보드(B)에 설치된다. 이러한 포켓(P)은 연결단자(T3)들을 가지는데, 연결단자(T3)는 설치보드(B)의 제2 접촉단자(T2)와 전자부품의 단자 간을 전기적으로 연결시킨다. 따라서 포켓(P)에 안착된 전자부품은 연결단자(T3), 제2 접촉단자(T3) 및 제1 접촉단자(T1)를 통해 테스터에 전기적으로 연결될 수 있다. 이러한 포켓(P)은 주지된 바와 같이 안착공간(S)을 폐쇄하기 위한 잠금요소(L)를 가지며, 이는 주지된 바와 같이 잠금요소(L)를 이루는 조작부재를 하방으로 가압함으로써 안착공간(S)이 개방되고, 탄성력에 의해 조작부재가 상승하면 안착공간(S)이 폐쇄되는 기술을 적용할 수 있다.
<소터와 핸들러의 관계 설명>
도 2에는 본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러(HR, 이하 '핸들러'라 약칭함)가 소터(ST)와 결합되어 있는 구조가 도시되어 있다.
핸들러(HR)는 소터(ST)의 우 측방에 결합되어서 소터(ST)로 주 테스트가 완료된 전자부품이 실린 트레이(T)를 제공하거나 소터(ST)로부터 테스트되어야 할 전자부품이 실린 트레이(T)를 받게 된다.
이러한 소터(ST)와 핸들러(HR)의 결합 시스템에서, 소터(ST)는 핸들러(HR)로부터 온 트레이(T)에 실린 전자부품들을 트레이(T)로부터 언로딩시키면서 테스트 결과에 따라 분류하고, 비워진 트레이(T)에는 테스트되어야 할 전자부품들을 적재시킨 후에 핸들러(HR)로 되돌려 보낸다.
그리고 핸들러(HR)는 카트(100)에 적재된 채로 공급되어 오는 트레이(T)를 소터(ST)로 보내고, 소터(ST)로부터 오는 트레이(T)를 카트(100)에 적재시킨다. 이 때, 소터(ST)로 보내는 트레이(T)에는 주 테스트가 완료된 전자부품들이 실려 있고, 소터(ST)로부터 오는 트레이(T)에는 주 테스트가 이루어져야 할 전자부품들이 실려 있다.
위와 같이 소터(ST)와 핸들러(HR) 간에 이루어지는 트레이(T)의 교환(화살표 a 참조)은 번인 테스트 시스템에서 소터와 보드수급장치 간에 이루어지는 기술과 동일하다.
다만, 도 2와 같은 결합 시스템에서 본 발명에 따른 핸들러(HR)의 특징적 기능은 소터(ST)로부터 온 트레이(T)를 카트(100)에 적재시키기 전에 트레이(T)에 실린 전자부품들에 대하여 사전 테스트를 진행함에 있다. 즉, 본 발명에 따른 핸들러(HR)는 기존에 소터와 트레이를 교환해 왔던 보드수급장치를 대체하여 적용될 수 있고, 거기에 더하여 트레이(T)에 실린 전자부품들에 대하여 사전 테스트를 진행할 수 있다. 이에 대해서는 목차를 달리하여 후술한다.
위의 용어들 중 '주 테스트'라 함은 생산된 전자부품을 출하하기에 전에 전자부품들에 대하여 전기적인 특성에 대한 양부를 판단하기 위한 것이고, 사전 테스트라 함은 주 테스트에 앞서서 주 테스트를 수행하는 데 필요한 요건이 충족되었는지 여부를 확인하기 위한 것이다. 여기서 필요한 요건 중의 하나는 배경기술에서 언급한 바와 같이 트레이에 실린 전자부품들이 테스터와 전기적으로 연결될 수 있는 상태인 것을 말한다.
참고로, 본 발명에 따른 핸들러(HR)는 그 후방에 테스터(TESTER)가 결합되어 있는데, 테스터(TESTER)는 도 3에서와 같이 테스트소켓(TS)들을 구비한 소켓블록(SB)을 가지며, 테스트소켓(TS)들은 후방으로 가압되는 트레이(T)의 제1 접촉단자(T1)들과 전기적으로 연결된다.
<핸들러의 구성에 대한 개략적인 설명>
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 핸들러(HR)에 대한 개념적인 평면도이다.
도 4에서와 같이 본 발명에 따른 핸들러(HR)는 카트(100), 연결부분(200), 재안착장치(300), 카메라(400), 회전테이블(500), 회전기(600), 소켓촬영기(700), 제거테이블(800) 및 제어장치(900)를 포함한다.
카트(100)는 처리 용량 및 전체 처리 시간을 단축하기 위해 쌍으로 구비되며, 작업자가 핸들러(HR)에 결합시키거나 탈거시킬 수 있다. 이러한 카트(100)는 도 5에서와 같이 트레이(T)들을 상하 방향으로 적재시킬 수 있으며, 주 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 트레이(T)들은 카트(100)에 의해 핸들러(HR)로 공급되고, 주 테스트가 되어야 할 전자부품들이 실린 트레이(T)들은 카트(100)에 적재된 상태에서 핸들러(HR)로부터 회수될 수 있다.
연결부분(200)은 외부(본 실시예에서는 소터 측)에서 공급되어 온 트레이(T)를 테스터(TESTER)로 공급하여 트레이(T)에 실려 있는 전자부품들을 테스터(TESTER)에 전기적으로 연결시키며, 소터(ST)와 트레이(T)를 교환하는 기능을 수행한다. 본 실시예에 따르면 주 테스트가 완료된 전자부품이 실린 트레이(T)는 카트(100)에 의해 공급되어 오고, 주 테스트가 되어야 할 전자부품이 실린 트레이(T)는 소터(ST)에 의해 공급되어 오며, 연결부분(200)은 이렇듯 카트(100)나 소터(ST)를 통해서 외부에서 공급되어 오는 트레이(T)를 모두 처리한다. 이러한 연결부분(200)에 대해서는 목차를 달리하여 설명한다.
재안착장치(300)는 테스터(TESTER)에 의해 사전 테스트가 이루어진 전자부품들 중 불량 판정된 전자부품을 트레이(T)로부터 분리하여 인출시킨 뒤 재안착시킨다. 이러한 재안착장치(300)에 대해서도 차후 목차를 달리하여 설명한다.
카메라(400)는 사전 테스트가 이루어진 전자부품들 중 불량 판정된 전자부품을 촬영하여 그 안착 불량 정도를 계산하기 위해 마련된다.
회전테이블(500)은 카메라(400)에 의한 검사를 통해 불량 판정된 전자부품의 안착 불량이 전자부품의 각위치 이탈에 원인이 있는 경우 전자부품을 정상적인 상태로 회전시키기 위해 마련되며, 투명재질로 구비된다.
그리고 도 6에서와 같이 위의 카메라(400)는 회전테이블(500)의 하방에 배치된다.
회전기(600)는 회전테이블(500)을 회전시킨다.
소켓촬영기(700)는 테스터(TESTER)의 소켓블록(SB)에 있는 테스트소켓(TS)들을 촬영하기 위해 마련된다. 즉, 잦은 사용으로 인하여 테스트소켓(TS)에 불량이 발생할 수 있는데, 이러한 경우 테스트소켓(TS)이 그 기능을 하지 못하므로 테스트소켓(TS)의 불량 여부를 주기적으로 확인하여 불량이 발생된 테스트소켓(TS)을 적절한 시기에 교체할 필요가 있다. 따라서 본 실시예에 따른 핸들러(HR)는 소켓촬영기(700)를 구비한다. 도 7에서와 같이 소켓촬영기(700)는 촬영기(710)와 무버(720)를 포함한다.
촬영기(710)는 후방에 보이는 테스트소켓(TS)을 촬영한다.
무버(720)는 촬영기(710)가 다수의 테스트소켓(TS)들을 순차적으로 촬영할 수 있도록 촬영기(710)를 X축 방향으로 순차적으로 이동시킨다.
제거테이블(800)은 재안착장치(300)에 의해 재안착된 전자부품이 리테스트(retest)된 후에도 불량 판정되었을 경우, 궁극적으로 불량 판정된 전자부품을 제거해 내기 위해 구비된다. 이러한 제거테이블(800)은 고정형으로 구비될 수도 있지만, 실시하기에 따라서는 Y축 또는 X축 방향으로 이동 가능하게 구비될 수도 있다.
제어장치(900)는 위의 각 구성들을 제어하며, 이에 따른 트레이(T)의 물류와 전자부품의 처리에 대해서는 목차를 달리하여 후술할 작동 설명에서 참조될 수 있다.
<연결부분에 대한 설명>
연결부분(200)은 도 8의 발췌도에서와 같이 수급장치(210), 받침판(220), 교환장치(230), 엘리베이터(240) 및 이동장치(250)를 포함한다.
수급장치(210)는 소터(ST)로부터 온 트레이(T)를 테스터(TESTER)로 공급하거나 사전 테스트가 완료된 후 트레이(T)를 회수하여 카트(100)로 이동시키고, 카트(100)로부터 트레이(T)를 가져와 소터(ST) 측으로 보낸다. 이를 위해 도 9의 발췌도에서와 같이 수급장치(210)는 입출기(211), 회전원(212), 연결기(213) 및 구동원(214)을 포함한다.
입출기(211)는 좌우 한 쌍으로 구비되고, 카트(100)로부터 트레이(T)를 인출하거나 카트(100)로 트레이(T)를 인입시키며, 회전 가능하게 구비되는 제1 파지부재(211a)와 제2 파지부재(211b)를 가진다.
제1 파지부재(211a)는 제2 파지부재(211b)보다 더 전방으로 돌출되어 있고, 전단이 'ㄱ'(기역)자 형상으로 구부러진 걸쇠 형태를 가진다.
제2 파지부재(211b)는 제1 파지부재(211a)의 후방에 구비되며, 하방으로 개구된 파지홈(GG)을 가지고 있고, 제1 파지부재(211a)와 일체로 결합되어 있다.
회전원(212)은 제1 파지부재(211a)와 제2 파지부재(211b)를 정역 회전시킴으로써 도 10의 (a) 및 (b)에서와 같이 제1 파지부재(211a) 또는 제2 파지부재(211b)가 트레이(T)를 파지하거나 파지를 해제하는 상태가 되게 한다. 여기서 도 10에는 비교 도시를 위해 트레이(T)의 상하 위치가 변동된 것으로 도시되어 있지만, 실제로는 트레이(T)의 상하 위치는 변동이 없고 입출기(211)가 승강하여 제1 파지부재(211a)나 제2 파지부재(211b)가 트레이(T)를 파지할 수 있는 상태가 되게 한다.
여기서 제1 파지부재(211a)는 제2 파지부재(211b)보다 더 가늘게 전방으로 연장된 형태를 가지는 데 이러한 이유는 카트(100)에 상하 방향으로 적재된 트레이(T)들 간의 간격이 좁기 때문이다. 따라서 처음에 트레이(T)를 카트(100)로부터 인출할 때는 제1 파지부재(211a)가 사용되고, 트레이(T)가 카트(100)로부터 적어도 일부 또는 전부가 인출된 후에는 제2 파지부재(211a)가 사용된다. 따라서 트레이(T)를 카트(100)로부터 인출하여 대기위치(WP, 도 4 참조)로 이동시키는 작업은 다단계로 이루어지고, 이 때 제1 파지부재(211a)와 제2 파지부재(211b)가 순차적으로 기능한다.
즉, 트레이(T)를 카트(100)로부터 인출하고자 할 때에는 제1 파지부재(211a)가 먼저 트레이(T)를 파지하는데, 이 때 제1 파지부재(211a)의 전단은 카트(100)에 상하 방향으로 적재된 트레이(T)들 중 어느 하나를 인출해야 하기 때문에 트레이(T)와 트레이(T) 사이의 좁은 간격으로 진입해야만 한다. 따라서 제1 파지부재(211a)는 트레이(T)와 트레이(T) 사이의 좁은 간격으로 진입할 수 있는 정도의 구성을 가져야만 하는 것이다. 그리고 제1 파지부재(211a)를 이용한 트레이(T)의 이동 작업 후에 제2 파지부재(211b)를 이용하여 트레이(T)를 궁극적으로 대기위치(WP)로 이동시킨다.
연결기(213)는 트레이(T)의 파지홈(G)에 삽입될 수 있는 파지돌기(213a)를 가진다. 따라서 파지돌기(213a)가 파지홈(G)에 삽입되면 연결기(213)가 트레이(T)를 파지하는 상태가 되고, 파지돌기(213a)가 파지홈(G)으로부터 탈거되면 연결기(213)가 트레이(T)의 파지를 해제하는 상태가 된다.
구동원(214)은 입출기(211), 회전원(212), 연결기(213)를 전후 방향인 Y축 방향으로 이동시킨다. 따라서 제1 파지부재(211a), 제2 파지부재(211b) 및 연결기(213)에 의해 파지된 트레이(T)는 전후 방향으로 이동될 수 있다. 이 때, 연결기(213)에 의해 파지된 트레이(T)가 후방으로 이동되면, 트레이(T)가 테스터(TESTER) 측으로 가압되면서 제1 접촉단자(T1)가 테스트소켓(TS)에 접촉됨으로써 트레이(T)와 테스터(TESTER)가 전기적으로 연결된다.
받침판(220)은 대기위치(WP)에 있거나 사전 테스트가 진행 중인 트레이(T)를 받친다. 여기서 받침판(220)은 지지레일로 대체되거나 받침판(220)이 지지레일을 구비하도록 구비될 수 있다.
교환장치(230)는 소터(ST)와 트레이(T)를 교환하기 위해 구성되며, 대기위치(WP)에 있는 트레이(T)를 좌측에 있는 소터(ST) 측으로 밀어 보내거나 소터(ST) 측에서 오는 트레이(T)를 우측의 대기위치(WP)로 잡아당긴다. 이를 위해 도 11의 발췌도에서와 같이 교환장치(230)는 전후 한 쌍으로 구비되며 파지레버(231), 파지원(232) 및 이동원(233)을 포함한다.
파지레버(231)는 파지홈(231a)을 가지고 있으며, 그 회전에 의해 트레이(T)를 파지하거나 파지를 해제할 수 있다.
파지원(232)은 파지레버(231)를 정역 회전시킴으로써 파지레버(231)가 트레이(T)를 파지하거나 파지를 해제할 수 있도록 한다.
이동원(233)은 파지레버(231)를 좌우 방향인 X축 방향으로 이동시킴으로써 파지레버(231)에 의해 파지된 트레이(T)를 X축 방향으로 이동시킨다.
엘리베이터(240)는 위의 수급장치(210) 및 교환장치(230)를 승강시킴으로써 카트(100)에 상하 방향으로 적재된 트레이(T)를 인출할 수 있도록 하거나, 트레이(T)를 적절한 위치에서 카트(100)로 인입시킬 수 있도록 한다.
이동장치(250)는 처리용량 확보를 위해 X축 방향으로 나란하게 위치하는 2개의 카트(100)를 대상으로 트레이(T)의 입출 작업이 가능하도록 하거나, 2개의 테스터(TESTER)를 활용할 수 있도록 엘리베이터(240)를 X축 방향으로 이동시킨다. 이 때, 엘리베이터(240)가 이동하면 엘리베이터(240)와 결합된 수급장치(210), 받침판(220) 및 교환장치(230)도 함께 이동된다.
<재안착장치에 대한 설명>
재안착장치(300)는 2개의 기능을 수행한다. 그 첫 번째 기능은 사전 테스트에서 불량 판정된 전자부품을 트레이(T)로부터 분리하여 인출한 후 다시 적재시키는 기능이고, 두 번째 기능은 반복적인 사전 테스트에서 지속적으로 불량 판정된 전자부품을 트레이(T)로부터 인출하여 제거테이블(800)로 이동시키는 기능이다. 이러한 기능들을 수행하기 위해 도 12의 발췌도에서와 같이 재안착장치(300)는 픽킹모듈(310), X축 이동기(320), Y축 이동기(330) 및 Z축 이동기(340)를 포함한다.
픽킹모듈(310)은 전자부품을 파지하거나 파지 해제하기 위해 마련되며, 도 12의 발췌도와 도 13의 부분 확대도에서와 같이 픽커(311), 승강원(312), 제1 개방소자(313), 제1 다우너(314), 제2 개방소자(315), 제2 다우너(316) 및 왕복기(317)를 포함한다.
픽커(311)는 전자부품을 흡착하여 파지하거나 파지를 해제한다.
승강원(312)은 픽커(311)가 전자부품을 파지하거나 파지 해제할 수 있도록 픽커(311)를 승강시킨다. 참고로, 도 12 및 도 13에는 승강원(312)에 의해 픽커(311)가 제2 개방소자(315) 측에서 하강된 상태가 도시되어 있다.
제1 개방소자(313)는 픽커(311)가 트레이(T)로부터 전자부품을 인출할 수 있도록 포켓(P)을 개방시킨다. 이를 위해 제1 개방소자(313)는 포켓(P)을 개방할 수 있으면서도 전자부품이 통과될 수 있도록 하기 위해 사각 형태의 제1 통과구멍(313a)을 가진다.
제1 다우너(314)는 제1 개방소자(313)를 하강시켜서 제1 개방소자(313)가 포켓(P)의 조작부재를 하방으로 가압하여 포켓(P)을 개방시킬 수 있도록 한다.
제2 개방소자(315)는 픽커(311)가 트레이(T)로 전자부품을 적재시킬 수 있도록 포켓(P)을 개방시킨다. 이를 위해 제2 개방소자(315)는 전자부품이 통과될 수 있는 사각 형태의 제2 통과구멍(315a)을 가진다.
그리고 제1 개방소자(313)와 제2 개방소자(315)는 상호 X축 방향으로 인접하게 나란히 배치되며, 테스트될 전자부품의 크기가 변경될 수 있으므로 교체 가능하도록 탈착 가능하게 구비된다.
제2 다우너(316)는 제2 개방소자(315)를 하강시켜서 제2 개방소자(315)가 포켓(P)을 개방시킬 수 있도록 한다.
왕복기(317)는 픽커(311)를 X축 방향으로 왕복 이동시킴으로써 픽커(311)가 트레이(T)로부터 전자부품을 인출할 시에는 픽커(311)와 제1 개방소자(313)가 상하 방향으로 나란히 위치하여 서로 짝을 이루도록 하고, 픽커(311)가 트레이(T)로 전자부품을 적재할 시에는 픽커(311)와 제2 개방소자(315)가 상하 방향으로 나란히 위치하여 서로 짝을 이루도록 한다.
여기서 제1 통과구멍(313a)의 단면적은 제2 통과구멍(315a)의 단면적보다 넓다. 왜냐하면, 제1 통과구멍(313a)은 정위치를 벗어나 안착되어 있는 전자부품을 트레이(T)로부터 인출하기 위해 전자부품의 외곽규격보다 상당히 넓은 것이 바람직하지만, 제2 통과구멍(315a)은 전자부품이 트레이(T)에 적재될 때 정밀하게 안착이 유도되도록 안내할 필요가 있기 때문에 전자부품의 외곽규격과 거의 동일할 정도의 넓이를 가지는 것이 바람직하기 때문이다.
X축 이동기(320) 및 Y축 이동기(330)는 픽킹모듈(310)을 X축이나 Y축 방향으로 이동시킴으로써 픽킹모듈(310)이 트레이(T), 회전테이블(500) 또는 제거테이블(800) 상방의 요구되는 좌표에 위치될 수 있도록 한다.
Z축 이동기(340)는 픽킹모듈(310)을 하강시킴으로써 픽킹모듈(310)에 의한 전자부품의 파지 또는 파지의 해제가 가능하게 하고, 또한 픽킹모듈(310)을 상승시켜서 픽킹모듈(310)이 파지한 전자부품이 다른 구성과 간섭 없이 X축 방향과 Y축 방향으로 이동될 수 있도록 하는 승강기로서 기능한다.
<작동 설명-제1 예>
본 작동 설명은 소터(ST)와 핸들러(HR)가 결합된 경우, 제어장치(900)의 제어에 따른 핸들러(HR) 및 소터(ST)의 작동에 대한 것이다. 이를 도 14를 참조하여 설명한다.
먼저, 작업자는 주 테스트가 완료된 전자부품들이 실린 트레이(T)들을 카트(100)에 적재시킨 상태로 핸들러(HR)에 공급한다<S101>.
카트(100)가 핸들러(HR)로 공급되면, 제어장치(900)는 수급장치(210) 및 교환장치(230)를 제어함으로써, 수급장치(210)는 트레이(T)를 카트(100)로부터 대기위치(WP)로 이동<S102>시키고, 교환장치(300)는 대기위치(WP)에 있는 트레이(T)를 소터(ST) 측으로 밀어 보낸다. 즉, 주 테스트가 완료된 전자부품이 실린 트레이(T)들은 대기위치(WP)를 거쳐 소터(ST)로 이동된다.
이에 따라 소터(ST)는 주 테스트가 완료된 트레이(T)를 잡아 당겨서 가져감으로써 트레이(T)가 소터(ST)로 이동된다<S103>. 그리고 소터(ST)는 트레이(T)에 실린 전자부품들을 언로딩시키면서 테스트 결과에 따라 분류<S104>하고, 비워진 트레이(T)에는 주 테스트가 이루어져야 할 전자부품들을 싣는다<S105>. 이 때, 소터(ST)의 정상적인 동작에 따라 전자부품들이 트레이(T)에 적절히 안착될 수도 있지만, 각종 기구적 공차나 작동 오차 등으로 인해 일부 전자부품의 안착 상태가 불량이 될 수도 있다. 한편, 주 테스트가 이루어져야 할 전자부품들이 트레이(T)에 모두 실리면, 소터(ST)는 해당 트레이(T)를 핸들러(HR)로 보내고, 핸들러(HR)의 교환장치(230)는 소터(ST) 측으로부터 오는 트레이(T)를 잡아 당겨 대기위치(WP)로 이동시킨다<S106>. 그 다음 수급장치(210)가 작동하여 트레이(T)를 테스터(TESTER)에 전기적으로 연결<S107>시키고, 이어서 테스터(TESTER)에 의한 전자부품들의 사전 테스트가 이루어진다<S108>. 그리고 사전 테스트의 결과에 따른 양부의 판정이 이루어진다<S109>.
만일, 사전 테스트에서 이상이 없으면, 수급장치(210)에 의해 트레이(T)는 대기위치(WP)를 거쳐 카트(100)로 이동된다<S110>.
그러나 사전 테스트에서 어느 특정 전자부품의 전기적 연결에 불량이 발생한 것으로 판정되면, 재안착장치(300)가 작동하여 불량 판정된 전자부품을 트레이(T)로부터 분리하여 인출<S111>한 후, 회전테이블(500)로 이동<S112>시킨다. 이 때, 재안착장치(300)에 의한 전자부품의 파지를 위해 픽커(311)와 제1 개방소자(313)가 짝을 이룬다.
전자부품이 회전테이블(500)에 놓이면, 카메라(400)가 작동하여 전자부품을 촬영<S113>하고, 촬영된 이미지와 기 저장된 정상 이미지를 비교하여 회전테이블(500)에 놓인 전자부품의 X축-Y축 방향으로의 위치 불량과 각위치 불량을 계산<S114>한다. 여기서 각위치 불량은 회전테이블(500)을 회전시킴으로써 보정하고, 각위치가 보정된 전자부품은 픽커(311)에 파지된 전자부품의 이동좌표의 조정을 통해 X축-Y축 방향으로의 위치 불량을 보정한 후 전자부품을 트레이(T)에 재안착시킨다<S115>. 이 때, 재안착 과정에서는 픽커(311)와 제2 개방소자(315)가 짝을 이룬다.
재안착이 완료되면, 테스터(TESTER)에 의해 다시 사전 테스트<S116>가 이루어지고, 재판정<S117>을 거친 후 반복된 사전 테스트의 결과에 따라서 정상인 경우에는 트레이(T)를 카트(100)로 이동시키고, 불량인 경우에는 재안착장치(300)가 작동하여 트레이(T)로부터 불량 판정된 전자부품 인출하여 제거테이블(800)로 이동<S118>시킨 후 불량 판정된 전자부품이 분리된 트레이(T)를 카트(100)로 이동시킨다.
참고로, 위의 단계 S108, S109, S111 내지 S117은 수회 반복될 수 있다. 예를 들어 재안착 및 재판정이 1회 이루어진 후에도 불량 판정이 되면, 설정된 횟수만큼 다시 재안착 및 재판정 과정을 수회 반복하도록 구현하는 것이다.
만일, 동일한 포켓(P) 위치에서 다른 전자부품들이 사전 테스트되었는데도 불구하고 반복적으로 불량이 발생된 경우에는, 전자부품과 트레이(T) 간의 전기적인 연결의 오류보다는 테스터(TESTER)의 테스트소켓 불량일 가능성이 크므로 소켓촬영기(700)를 구동시켜서 테스트소켓에 대한 검사를 실시한다. 여기서 소켓촬영기(700)는 핸들러(HR)의 가동 전에 1회 구동하여 테스트소켓의 불량 여부를 먼저 확인하도록 함을 기본으로 할 수 있지만, 언급한 바와 같이 도중에 테스트소켓 불량으로 의심되는 상황이 발생되면 소켓촬영기(700)가 구동되도록 하는 것이 바람직하다.
다만, 위와 같은 작동은 다음과 같이 다양하게 변형될 수 있다.
첫째, 제2 통과구멍(315a)이 있는 제2 개방소자(315)에 전자부품의 위치를 보정할 수 있는 기능을 부여함으로써 카메라(400)에 의한 판독 과정을 거치지 않고, 단순하게 재안착만 시키는 예를 고려해볼 수도 있다. 이러한 경우, 카메라(400)나 회전테이블(500)은 생략될 수 있다.
둘째, 소터(ST)의 처리 속도에 따라서 재안착 과정을 다수 회 반복할 수도 있다.
셋째, 재안착과정을 생략하고, 1회 사전 테스터에서 불량 판정된 전자부품을 제거테이블(800)로 이동시켜버리는 것도 고려될 수 있다. 이 경우 재안착장치(300)는 단순히 트레이(T)로부터 전자부품을 제거시키는 제거장치로 대체될 수 있다.
<작동 설명-제2 예>
본 예는 테스터(TESTER)가 전자부품의 기능을 테스트할 수 있는 경우에 적용될 수 있으며, 테스터(TESTER)에 의한 테스트의 처리 시간이 짧은 경우에 바람직하게 고려될 수 있다. 이를 도 15를 참조하여 설명한다.
작업자는 테스트되어야 할 전자부품이 실린 트레이(T)들을 카트(100)에 적재시킨 상태로 핸들러(HR)에 공급한다<S201>.
카트(100)가 핸들러(HR)로 공급되면, 수급장치(210)는 트레이(T)를 카트(100)로부터 대기위치(WP)로 이동<S202>시키고, 이어서 대기위치(WP)에 있는 트레이(T)를 테스터(TESTER)에 전기적으로 연결시킨다<S203>. 이에 따라 테스터(TESTER)가 전자부품들을 테스트하게 된다<S204>. 이어서 불량 여부를 판정한다<S205>.
만일, 테스트에서 이상이 없다고 판정되면, 수급장치(210)에 의해 트레이(T)는 대기위치(WP)를 거쳐 카트(100)로 이동된다<S206>.
마찬가지로, 테스트에서 어느 특정 전자부품의 기능에 불량이 있다고 판정되면, 재안착장치(300)가 작동하여 불량 판정된 전자부품을 트레이(T)로부터 분리하여 인출<S207>한 후, 회전테이블(500)로 이동<S208>시킨다. 물론, 이 때에도 재안착장치(300)에 의한 전자부품의 파지를 위해 픽커(311)와 제1 개방소자(313)가 짝을 이룬다.
전자부품이 회전테이블(500)에 놓이면, 카메라(400)가 작동하여 전자부품을 촬영<S209>하고, 촬영된 이미지와 기 저장된 정상 이미지를 비교하여 X축-Y축 방향으로의 위치 불량과 각위치 불량을 계산<S210>한다. 그리고 제1 예와 동일하게 각위치 불량은 회전테이블(500)을 회전시킴으로써 보정하고, 각위치가 보정된 전자부품은 회전테이블(500)로부터 픽커(311)에 의해 파지된 후 전자부품의 이동좌표의 조정을 통해 X축-Y축 방향으로의 위치가 보정되면서 트레이(T)에 재안착된다<S211>. 본 예에서도 재안착 과정에서는 픽커(311)와 제2 개방소자(315)가 당연히 짝을 이룬다.
재안착이 완료되면, 테스터(TESTER)에 의해 테스트가 다시 이루어지고<S212>, 재판정<S213>을 거쳐 반복된 테스트의 결과에 따라서 정상인 경우에는 트레이(T)를 카트(100)로 이동시키고, 불량인 경우에는 재안착장치(300)가 작동하여 트레이(T)로부터 불량 판정된 전자부품 인출하여 제거테이블(800)로 이동<S214>시킨다. 그리고 불량 판정된 전자부품이 분리된 트레이(T)는 수급장치(210)에 의해 카트(100)로 이동된다.
제1 예와 동일하게 본 예의 경우에도 다양하게 변형될 수 있으며, 특히 본 예에 따르면 소터(ST)와 트레이(T)를 교환하기 위한 교환장치(230)의 생략이 가능하다.
한편, 위의 실시예는 트레이(T)에 제1 접촉단자(T1)와 제2 접촉단자(T2)가 구비되는 경우를 고려하여 설명되었다.
그러나 종래기술 1에서와 같이 트레이가 단순히 전자부품을 이동시키는 캐리어로서 구비된 경우에도 본 발명의 적용될 수 있다. 예를 들어, 종래기술 1에서와 같이 별도의 연결 구조의 게재 없이 전자부품과 테스터가 직접 전기적으로 연결될 수 있도록 한 경우에도, 테스터의 테스트소켓을 행렬 형태로 구비하고, 테스트소켓들 간의 간격이 트레이에 실려 있는 상태의 전자부품들 간의 간격과 동일하게 하면, 전자부품들의 개별 이동 없이 외부에서 공급되어 온 트레이에 실린 그 상태 그대로 직접 전자부품과 테스터가 전기적으로 연결될 수 있게 되는 것이다. 이와 같이 본 발명은 다양한 응용예로 변형될 수 있다. 이 변형 예에서와 같이 본 발명은 전자부품의 테스트를 위해서 전자부품을 트레이와 분리하여 개별 이동시켜야 하는 과정이 생략될 수 있는 것이 그 주요한 기본적인 특징 중의 하나이다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등범위로 이해되어져야 할 것이다.
HR : 전자부품 테스트용 핸들러
200 : 연결부분
210 : 수급장치
230 : 교환장치
300 : 재안착장치
310 : 픽킹모듈
311 : 픽커
313 : 제1 개방소자
313a : 제1 통과구멍
315 : 제2 개방소자
315a : 제2 통과구멍
320 : X축 이동기
330 : Y축 이동기
340 : Z축 이동기
400 : 카메라
500 : 회전테이블
600 : 회전기
T : 트레이
B : 설치보드
T1 : 제1 접촉단자 T2 : 제2 접촉단자 P : 포켓
T3 : 연결단자
900 : 제어장치

Claims (9)

  1. 외부에서 공급되어 온 트레이를 테스터로 공급하여 상기 트레이에 실려 있는 전자부품들을 테스터에 전기적으로 연결시키기 위해 마련되는 연결부분; 및
    상기 연결부분을 제어하는 제어장치; 를 포함하며,
    상기 연결부분은 외부에서 온 상기 트레이를 직접 상기 테스터로 공급하여 상기 트레이에 실려 있는 상태의 전자부품들이 상기 테스터에 전기적으로 연결되도록 함으로써 전자부품의 테스트를 위해서 전자부품을 상기 트레이와 분리하여 개별 이동시켜야 하는 과정이 생략되는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 연결부분은 외부에서 공급되어 온 트레이를 상기 테스터로 공급한 후 테스트가 종료하면 회수하는 수급장치를 포함하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  3. 제12 항에 있어서,
    상기 테스터는 전기적인 특성 테스트인 주 테스트에 앞서서 주 테스트를 수행하는 데 필요한 요건이 충족되었는지 여부를 확인하기 위한 사전 테스트를 수행하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 연결부분은 주 테스트가 완료된 전자부품이 실린 트레이는 소터로 보내고, 주 테스트가 이루어져야 할 전자부품이 실린 트레이는 소터로부터 받음으로써 소터와 트레이를 교환하는 교환장치를 더 포함하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  5. 제1 항에 있어서,
    상기 테스터에 의한 테스트가 이루어진 전자부품들 중 불량 판정된 전자부품을 상기 트레이로부터 분리시킨 뒤 재안착시키는 재안착장치; 를 더 포함하고,
    상기 제어장치는 불량 판정된 전자부품이 상기 재안착장치에 의해 상기 트레이에 재안착되도록 제어하고, 전자부품의 재안착이 완료되면 상기 테스터에 의해 다시 테스트를 수행하도록 제어하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  6. 제65 항에 있어서,
    상기 테스터에 의해 테스트가 이루어진 전자부품들 중 불량 판정된 전자부품의 안착불량을 검사하기 위한 카메라;
    상기 카메라에 의한 검사를 통해 불량 판정된 전자부품의 안착불량이 전자부품의 각위치 이탈에 원인이 있는 경우 전자부품을 정상적인 상태로 회전시키는 회전테이블; 및
    상기 회전테이블을 회전시키는 회전기; 를 더 포함하고,
    상기 제어장치는 상기 카메라에 의해 촬영된 이미지를 통해 안착불량으로 판단된 전자부품의 정상적인 재안착을 위해 상기 재안착장치를 제어하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 회전테이블은 투명한 재질로 구비되고,
    상기 카메라는 상기 회전테이블의 하방에 배치되며,
    상기 제어장치는 상기 재안착장치를 제어하여 불량 판정된 전자부품을 상기 회전테이블로 이동시키고, 상기 카메라에 의해 촬영된 이미지를 통해 전자부품의 안착불량을 판독한 후 전자부품의 각위치 불량은 상기 회전테이블의 회전을 통해 보정하며, 전자부품의 X-Y축 상의 위치 불량은 상기 재안착장치에 의해 다시 상기 트레이로 이동하는 전자부품의 이동좌표의 조정을 통해 보정하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  8. 제5 항에 있어서,
    상기 재안착장치는,
    전자부품을 파지하거나 파지를 해제하는 픽킹모듈;
    상기 픽킹모듈을 승강시킴으로써 상기 픽킹모듈의 파지나 파지 해제 작업을 가능하게 하는 승강기; 및
    상기 픽킹모듈을 수평 이동시킴으로써 상기 픽킹모듈에 파지된 전자부품이 이동될 수 있게 하는 이동기; 를 포함하고,
    상기 픽킹모듈은,
    상기 트레이로부터 불량 판정된 전자부품을 인출하여 상기 회전테이블로 이동시키거나 상기 회전테이블에서 상기 트레이로 전자부품을 이동 적재시키기 위한 픽커;
    상기 픽커의 인출 작업이 이루어지도록 불량 판정된 전자부품이 안착된 포켓을 개방시키는 제1 개방소자;
    상기 픽커의 적재 작업이 이루어지도록 전자부품이 안착될 포켓을 개방시키는 제2 개방소자; 및
    상기 픽커를 왕복 이동시킴으로써 상기 픽커의 인출 작업 시에는 상기 픽커가 상기 제1 개방소자와 짝을 이루도록 하고, 상기 픽커의 적재 작업 시에는 상기 픽커가 상기 제2 개방소자와 짝을 이루도록 하는 왕복기; 를 포함하는
    전자부품 테스트용 핸들러.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 제1 개방소자에는 상기 픽커에 의해 파지된 전자부품이 상방으로 통과될 수 있는 제1 통과구멍이 있고,
    상기 제2 개방소자에는 상기 픽커에 의해 파지된 전자부품이 하방으로 통과될 수 있는 제2 통과구멍이 있으며,
    상기 제1 통과구멍은 단면적은 상기 제2 통과구멍의 단면적보다 넓은
    전자부품 테스트용 핸들러.
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