KR20180045302A - Spin Synapse Device using Spin Orbit Torque and Method of operating the same - Google Patents
Spin Synapse Device using Spin Orbit Torque and Method of operating the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR20180045302A KR20180045302A KR1020160139257A KR20160139257A KR20180045302A KR 20180045302 A KR20180045302 A KR 20180045302A KR 1020160139257 A KR1020160139257 A KR 1020160139257A KR 20160139257 A KR20160139257 A KR 20160139257A KR 20180045302 A KR20180045302 A KR 20180045302A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- layer
- spin
- free layer
- synapse
- domain wall
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/10—Magnetoresistive devices
-
- H01L43/08—
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/16—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using elements in which the storage effect is based on magnetic spin effect
-
- H01L43/02—
-
- H01L43/10—
-
- H01L43/12—
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/01—Manufacture or treatment
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N—ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10N50/00—Galvanomagnetic devices
- H10N50/80—Constructional details
- H10N50/85—Magnetic active materials
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Hall/Mr Elements (AREA)
- Mram Or Spin Memory Techniques (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 스핀 시냅스 소자에 관한 구조와 작동방법에 관한 것으로, 더욱 자세하게는 스핀 궤도 토크에 의해 자구벽 이동을 이용한 스핀 시냅스 소자에 관한 구조와 동작방법에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION Field of the Invention [0001] The present invention relates to a structure and an operation method of a spin synapse element, and more particularly, to a structure and an operation method of a spin synapse element using a magnetic domain wall movement with a spin orbital torque.
최근에 다수 제안되고 있는 불휘발성 메모리 중에서 자기 메모리로는 TMR(tunneling magnetoresistance)를 이용하는 자기저항 랜덤 액세스 메모리(MRAM)가 있다. 현재까지 스핀 전달 토크를 이용한 MRAM의 구동은 자성층의 자화방향에 따른 저항변화를 이용하여 0과 1을 기록하는 방식을 이용하여 제작되었다. MRAM은 자기저항 효과를 발휘하는 자기저항 소자의 자화 상태에 따라 메모리 셀에 정보를 저장하는 메모리이다. Among the nonvolatile memories that have been recently proposed, there is magnetoresistive random access memory (MRAM) using tunneling magnetoresistance (TMR) as a magnetic memory. Until now, the driving of the MRAM using the spin transfer torque was made by using the method of writing 0 and 1 using the resistance change according to the magnetization direction of the magnetic layer. MRAM is a memory that stores information in a memory cell in accordance with the magnetization state of a magnetoresistive element exhibiting a magnetoresistive effect.
보통 자기저항 소자는 자화 가변층과 자화 고정층을 포함하는데, 자화 가변층과 자화 고정층의 자화 방향이 평행한 경우엔 낮은 저항 상태가 나타나고, 자화 방향이 서로 상반되는 경우엔 높은 저항 상태가 나타난다. 이를 이용하여 정보를 저장하는데 이용할 수 있다.Usually, the magnetoresistive element includes a magnetization variable layer and a magnetization fixed layer. When the magnetization direction of the magnetization variable layer and the magnetization fixed layer are parallel, a low resistance state appears. When the magnetization directions are opposite to each other, a high resistance state appears. Which can be used to store information.
종래의 MRAM소자는 저항이 높은 상태 또는 낮은 상태의 두 가지 값만은 가지고 있다. 한편, 2014년 IBM에서 CMOS를 이용한 뉴로모픽 시냅스와 뉴런을 만들어 실제 뉴로모픽 컴퓨터로서의 가능성을 보여주었다.Conventional MRAM devices have only two values, a high resistance state and a low resistance state. Meanwhile, in 2014, IBM created a CMOS neurópic synapse and neuron to show the possibility of a real newcomer computer.
그러나, 생물체 내의 시냅스 거동을 CMOS기반의 소자를 통해 구현하기 위해서는 가중치를 줄 수 있어야 하지만, 종래의 MRAM소자는 이를 구현하기 어려운 문제점이 있다.However, in order to realize synaptic behavior in an organism through a CMOS-based device, weighting can be given, but conventional MRAM devices have a problem that it is difficult to implement.
또한, 자기저항 소자의 크기를 줄여 MRAM의 사이즈를 축소시키는 경우에 자기저항 소자에서의 보자력(Hc)이 증가되기 때문에, 기입에 필요한 전류가 증가하게 된다. 이 때문에, 256Mbit 이상의 큰 용량에 대해서 낮은 전류값으로 구동되는 축소된 셀의 구동은 매우 어렵다는 문제점이 있다.Further, when the size of the MR element is reduced by reducing the size of the magnetoresistive element, the coercive force (Hc) in the magnetoresistive element is increased, so that the current required for writing increases. For this reason, there is a problem that it is very difficult to drive a reduced cell driven with a low current value for a large capacity of 256 Mbits or more.
MRAM의 기록 밀도를 높이기 위해서는 소자(magnetic tunneling junction) 요소의 사이즈를 감소시켜야 하는데, 문제는 소자 요소의 폭이 수십 나노미터(nm) 이하로 감소되면, 고정층에서 발생하는 스트레이 필드(stray field)의 세기가 크게 증가하여, 자유층의 스위칭(즉, 자화 반전) 특성에 악영향을 줄 수 있다. 따라서 자유층의 스위칭 불균형(switching asymmetry) 문제가 발생하고, 이는 메모리 소자(MRAM)의 동작에 심각한 문제가 될 수 있다.In order to increase the recording density of the MRAM, it is necessary to reduce the size of the magnetic tunneling junction element. The problem is that when the width of the element element is reduced to several tens of nanometers (nm) or less, the stray field The strength greatly increases, which may adversely affect switching (i.e., magnetization inversion) characteristics of the free layer. Therefore, a problem of switching asymmetry of the free layer occurs, which can be a serious problem in the operation of the memory device (MRAM).
또한, 스핀 전달 토크 메모리의 경우, 전력소모가 비교적 크며, 읽기 동작시에 필요한 전류에 의해 소자가 영향을 받아 안정성 문제가 존재한다. Further, in the case of the spin transfer torque memory, the power consumption is relatively large, and the device is affected by the current required in the read operation, and there is a stability problem.
또한, 스핀 전달 토크 메모리의 자기 재료층의 저항값을 읽기 위해 소자에 전압을 걸어 전류를 흘려주면, 이 전류에 의해 자화의 방향이 간섭을 받게 되어 메모리의 자기 재료층의 저항값을 부정확하게 읽게 되어 소자의 안정성을 저하시키게 된다. Further, if a current is flowed by applying a voltage to the element in order to read the resistance value of the magnetic material layer of the spin transfer torque memory, the magnetization direction is interfered by the current, and the resistance value of the magnetic material layer of the memory is read incorrectly And the stability of the device is lowered.
또한, CMOS 시냅스의 경우, 시냅스 소자 하나를 만드는데 필요한 소자의 크기가 크고, 공정 과정이 다른 소자에 비해 복잡하다.Also, in the case of a CMOS synapse, the size of a device required to make one synapse element is large, and the process is complicated compared to other devices.
미국 출원 특허 US13/318119(출원일 2010년 4월30일)를 보면, 비자성체를 포함하는 구조이고, 스핀 전달 토크에 의한 자벽의 이동으로 저장 기능을 수행하고 있는 메모리를 개시하고 있으나, 스핀 전달 토크를 이용하여 메모리 제작시에는 구동 전력이 크기 때문에 소자의 직접화에 한계가 있는 문제점이 있다.US patent application No. US13 / 318119 (filed on April 30, 2010) discloses a memory including a non-magnetic body and performing a storage function by movement of a magnetic wall by a spin transfer torque. However, There is a problem in that direct driving of the device is limited because the driving power is large when the memory is manufactured.
미국 출원 특허 US13/318119(출원일 2008년 10월21일)를 보면, 자성 박막 사이에 절연 박막을 형성하고 있는 구조이고, 스핀 궤도 토크를 사용하여 소자를 제어한다. 또한, 저전류 다단계 전류-스위칭 마그네틱 메모리관한 것으로, 자기 터널링 접합(magnetic tunneling junction: 소자)을 적용하고 있고, 자유층 도메인을 이동하기 위해 전자의 편극된 스핀에 의해 발생된 토크를 이용한 자기 메모리 관한 것이다. 이러한 소자는 제작 구조가 복잡하고 직접화가 어렵다는 문제가 있다.US patent application No. US13 / 318119 (filed October 21, 2008) discloses a structure in which an insulating thin film is formed between magnetic thin films, and a device is controlled using a spin orbital torque. In addition, it relates to a low current multi-step current-switching magnetic memory, which applies a magnetic tunneling junction and uses a torque generated by an electron polarized spin to move the free layer domain will be. Such a device has a problem in that its fabrication structure is complicated and it is difficult to direct the device.
미국 출원 특허 12/118499(출원일 2008년 5월 29일)를 보면, 두 개의 필러 구조에서, 한 쪽의 단자에 전류를 가해 강자성층의 자벽을 변화시켜 자유층의 자화 상태를 1에서 0으로 리셋하는 방법을 사용하여 양방향의 전류를 사용하는 spin RAM이고, 이의 구동 특성을 향상하는 기술이다. 또한, 다층 구조의 자기 메모리이고, 스핀 트랜스퍼 토크에 의해 도메인이 조절되는 소자로, 자성 박막 사이에 장벽층을 사용하고 있는 구조이다. 또한, 이 구조는 스핀 전달 토크를 이용하여 메모리 제작시에는 구동 전력이 크기 때문에 소자의 직접화에 한계가 있는 문제점이 있다.In US patent application No. 12/118499 (filed on May 29, 2008), in a two-pillar structure, a magnetization state of the free layer is reset from 1 to 0 by varying the magnetic wall of the ferromagnetic layer by applying current to one terminal Is a spin RAM that uses bi-directional currents, and is a technique for improving its driving characteristics. Further, the magnetic memory of the multilayer structure is a device whose domain is controlled by the spin transfer torque, and a barrier layer is used between the magnetic thin films. In addition, this structure has a problem in that direct drive of the device is limited because the drive power is large at the time of memory fabrication using the spin transfer torque.
본 발명이 이루고자 하는 제1 기술적 과제는 스핀 궤도 토크에 따라 자구벽 이동이 발생하는 자유층을 포함하는 스핀 시냅스 소자를 제공하는데 있다.A first aspect of the present invention is to provide a spin synapse device including a free layer in which a magnetic domain wall movement occurs according to a spin orbital torque.
또한, 본 발명이 이루고자 하는 제2 기술적 과제는 상기 제1 기술적 과제를 달성하기 위한 스핀 시냅스 소자의 동작 방법을 제공하는데 있다.According to a second aspect of the present invention, there is provided a method of operating a spin synapse device to achieve the first technical object.
상술한 제1 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명은, 기판 상에 형성된 전극, 상기 전극 상에 형성되고, 스핀 궤도 토크에 따라 자구벽 이동이 발생하는 자유층, 상기 자유층 상에 형성된 비자기 재료인 터널 장벽층, 상기 터널 장벽층 상에 형성되고, 자화 방향이 고정된 제1 고정층, 상기 제1 고정층 상에 형성된 스페이서층 및 상기 스페이서층 상에 형성된 제2 고정층을 포함하는 스핀 시냅스 소자인 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a magnetoresistance effect element comprising: an electrode formed on a substrate; a free layer formed on the electrode, the free layer generating a magnetic domain wall movement according to a spin orbital torque; A tunnel barrier layer, a spin synapse element formed on the tunnel barrier layer and including a first pinning layer having a fixed magnetization direction, a spacer layer formed on the first pinning layer, and a second pinning layer formed on the spacer layer .
상기 자유층은 Co, Fe, Pd, Ni, Mn 및 이의 금속 합금으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나를 포함하는 금속 합금으로 이루어진 스핀 시냅스 소자인 것을 특징으로 한다.Wherein the free layer is a spin synapse element made of a metal alloy containing at least any one selected from the group consisting of Co, Fe, Pd, Ni, Mn, and a metal alloy thereof.
상기 금속 합금은 CoFeB, CoNi 및 CoPd로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나를 가질 수 있다.The metal alloy may have at least one selected from the group consisting of CoFeB, CoNi, and CoPd.
상기 터널 장벽층은 금속산화물이고, 상기 금속산화물은 HfO2, ZrO2, AlOx, SiO2, MgO 및 Ta2O3로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나를 가질 수 있다.The tunnel barrier layer may be a metal oxide, and the metal oxide may have at least one selected from the group consisting of HfO 2 , ZrO 2 , AlO x , SiO 2 , MgO, and Ta 2 O 3 .
상기 제1 고정층 및 상기 제2 고정층은 Co, Fe, Pd, Ni, Mn 및 이의 합금으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나를 가질 수 있다.The first pinned layer and the second pinned layer may have at least one selected from the group consisting of Co, Fe, Pd, Ni, Mn and their alloys.
상기 스페이서층은 Ta, Cu, Ru 및 W로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나를 가질 수 있다.The spacer layer may have at least one selected from the group consisting of Ta, Cu, Ru, and W.
상술한 제2 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명은, 기판 상에 형성되고 중금속으로 구성된 전극, 상기 전극 상에 형성된 자유층, 상기 자유층 상에 형성된 터널 장벽층, 상기 터널 장벽층 상에 형성된 제1 고정층, 상기 제1 고정층 상에 형성된 스페이서층 및 상기 스페이서층 상에 형성된 제2 고정층을 포함하는 스핀 시냅스 소자에 있어서, 상기 전극의 장축 방향으로 자기장를 가하는 단계, 상기 자기장의 반대 방향으로 펄스 파워를 가하는 단계, 상기 펄스 파워에 의한 단계적인 상기 자구벽의 이동으로 인해 상기 스핀 시냅스 소자의 자기 저항값이 단계적으로 증가하는 단계 및 상기 자기 저항값이 포화가 되고, 상기 자유층의 자화 방향이 상기 고정층의 자화방향과 반대 방향으로 형성된 단계를 포함하는 스핀 시냅스 소자의 동작 방법을 제공하는 데 있다.According to another aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising: an electrode formed on a substrate and composed of heavy metal; a free layer formed on the electrode; a tunnel barrier layer formed on the free layer; 1. A spin synapse device comprising a first pinned layer, a spacer layer formed on the first pinned layer, and a second pinned layer formed on the spacer layer, the spin synaptic device comprising: applying a magnetic field in the major axis direction of the electrode; A step of gradually increasing the magnetoresistance value of the spin synapse element due to the movement of the magnetic domain wall in a stepwise manner by the pulse power and the magnetoresistance value being saturated, The magnetization direction of the spin synapse element being formed in a direction opposite to the magnetization direction of the spin synapse element There.
상기 자기 저항값이 최대가 되고, 상기 자유층의 자화 방향이 상기 고정층의 자화방향과 반대 방향으로 형성된 단계이후에, 상기 스핀 시냅스 소자에 가해진 자기장 방향으로 펄스 파워를 가하는 단계, 단계적인 상기 펄스 파워에 의한 단계적인 상기 자구벽의 이동으로 인해 상기 스핀 시냅스 소자의 자기 저항값이 단계적으로 감소하는 단계 및 상기 자기 저항값이 최소가 되고, 상기 자유층의 자화 방향이 상기 고정층의 자화방향과 동일 방향으로 형성된 단계를 더 포함하는 스핀 시냅스 소자의 동작 방법을 제공하는 데 있다.Applying a pulse power in a direction of a magnetic field applied to the spin synapse element after the magnetoresistance value reaches a maximum and a magnetization direction of the free layer is formed in a direction opposite to a magnetization direction of the pinned layer; The step of decreasing the magnetoresistive value of the spin synapse element in a stepwise manner due to the movement of the magnetic domain wall in a stepwise manner by the movement of the magnetization direction of the free layer, The method comprising the steps of: forming a spin synapse element on a substrate;
상기 펄스 파워가 누적된 상태의 확인을 위해 상기 스핀 시냅스 소자의 자기 저항값을 확인하는 단계를 더 포함하는 스핀 시냅스 소자의 동작 방법을 제공하는 데 있다.And confirming the magnetoresistance value of the spin synapse device in order to confirm the accumulation of the pulse power.
상술한 본 발명에 따르면, 스핀 전달 토크를 이용하는 자기 소자보다더 낮은 전류로 자유층의 자화 반전이 가능한 효과가 있다.According to the present invention described above, there is an effect that the magnetization inversion of the free layer can be reversed with a lower current than the magnetic element using the spin transfer torque.
또한, 소자의 구조가 종래의 CMOS에 비해 간단하기 때문에 제작이 용이한 효과가 있다.In addition, since the structure of the device is simpler than that of the conventional CMOS, it is easy to manufacture.
또한, 저전력 및 고집적의 비휘발성 메모리를 제작할 수 있는 효과가 있다.Further, there is an effect that a nonvolatile memory of low power consumption and high integration can be manufactured.
또한, 단순 공정으로 저전력의 메모리 제작이 가능하므로, 고집적 뉴로모픽 컴퓨터 소자에 적용이 용이한 효과가 있다.In addition, since it is possible to manufacture a low-power memory by a simple process, it is easy to apply to a highly integrated neurocomputer computer device.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 스핀 궤도 토크를 이용하여 구동되는 소자 구조의 단면도이다.
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 소자에 인가되는 자기장의 세기에 따라 이동되는 자구벽 상태를 보여주는 모식도이다.
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 펄스 신호가 누적 또는 변환됨에 따른 자구벽의 이동 상태를 보여주는 모식도이다.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 펄스가 진행됨에 따라 자구벽의 이동이 발생하고, 자구벽의 이동에 따른 자기 저항값(MR)의 변화에 대한 그래프이다.
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 Long-Term Potentiation(LTP, 장기 강화)와 Long-Term Depression(LTD, 장기 억압)의 2가지 동작에 대한 그래프이다.1 is a cross-sectional view of a device structure driven using a spin orbital torque according to a preferred embodiment of the present invention.
2 is a schematic diagram showing a magnetic domain wall state that is moved according to the intensity of a magnetic field applied to a device according to a preferred embodiment of the present invention.
FIG. 3 is a schematic diagram showing a moving state of a magnetic domain wall according to the accumulation or conversion of a pulse signal according to a preferred embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a graph showing a change in magnetoresistance value (MR) according to movement of a magnetic domain wall due to movement of a magnetic domain wall as a pulse progresses according to a preferred embodiment of the present invention.
FIG. 5 is a graph illustrating two operations of a long-term potentiation (LTP) and a long-term depression (LTD) according to a preferred embodiment of the present invention.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 형태를 가질 수 있는 바, 특정 실시예들을 도면에 예시하고 본문에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 개시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.The present invention is capable of various modifications and various forms, and specific embodiments are illustrated in the drawings and described in detail in the text. It should be understood, however, that the invention is not intended to be limited to the particular forms disclosed, but includes all modifications, equivalents, and alternatives falling within the spirit and scope of the invention. Like reference numerals are used for like elements in describing each drawing.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다. Unless defined otherwise, all terms used herein, including technical or scientific terms, have the same meaning as commonly understood by one of ordinary skill in the art to which this invention belongs. Terms such as those defined in commonly used dictionaries are to be interpreted as having a meaning consistent with the contextual meaning of the related art and are to be interpreted as either ideal or overly formal in the sense of the present application Do not.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명은 뉴로모픽 컴퓨터등에 적용을 위한 시냅스 소자이고, 스핀-궤도 토크에 의해 일어나는 자성층의 자구벽 이동을 이용하여 생물과 유사한 시냅스 거동을 구현하고 있는 시냅스 소자이다.The present invention is a synaptic element for use in a neuromotion computer or the like, and is a synapse element that implements a synapse behavior similar to a living body by using the magnetic wall movement of a magnetic layer caused by a spin-orbital torque.
보통의 경우, CMOS 시냅스 소자를 제작하게 되면, CMOS 시냅스 소자의 크기가 커서, 집적화도 어렵고 제작 공정이 복잡해서 생산 원가가 높아진다. 이와 같은 문제를 해결하는 최선의 방법이 스핀 궤도 토크를 이용하는 소자이고, 스핀 궤도 토크를 이용하여 자구벽을 제어할 수 있는 소자를 제작하는 것이다.In general, when a CMOS synapse device is manufactured, the size of the CMOS synapse device is large, and integration is difficult and the manufacturing process is complicated, resulting in a high production cost. The best way to solve such a problem is to use a spin-orbit torque and to manufacture a device capable of controlling the magnetic domain wall by using the spin-orbit torque.
도 1은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 스핀 궤도 토크를 이용하여 구동되는 소자 구조의 단면도이다.1 is a cross-sectional view of a device structure driven using a spin orbital torque according to a preferred embodiment of the present invention.
도 1을 참조하면, 기판(10) 상에 전극(20)이 형성된다. 상기 전극(20)은 중금속 재질로 구성되며, 전극(20) 상에 자유층(30)이 형성되어 있고, 자유층(30) 상에 터널 장벽층(40)이 있다. 또한, 터널 장벽층(40) 상에 제1 고정층(50), 제1 고정층(50) 상에 스페이서층(60), 스페이서층(60) 상에 제2 고정층(70)이 형성된다.Referring to FIG. 1, an
스핀 궤도 토크는 자유층(30) 바로 아래에 배치되어 있는 중금속으로 구성된 전극(20)에 전류를 흘려주게 되면, 라쉬바 효과 혹은 스핀 홀 효과에 의해 스핀 분극이 일어나게 된다. 이로 인해 자유층(30)으로 스핀 펌핑이 일어나게 되면서 스핀 전류가 흐르게 된다. 이 스핀 전류로 인해 자유층(30)의 자화반전이 일어난다. 이 경우에는 자유층(30)에 직접적인 전류를 가해주지 않아도 되기 때문에, 소모 전류가 낮다. 또한 스핀 궤도 토크를 이용한 메모리는 쓰기 라인과 읽기 라인이 분리되어 있기 때문에 소자 작동의 안정성 확보도 용이해진다.When a current is supplied to the
CMOS 시냅스는 여러 게이트와의 채널이 필요한 설계를 하게 되어, CMOS 시냅스의 소자의 크기가 커지지만, 스핀 궤도 토크를 기반으로 하는 시냅스는 하나의 소자를 이용하여 구성이 되기 때문에, 기존의 CMOS 소자에 비해 작은 사이즈로 소자를 제작할 수 있다. Because CMOS synapses are designed to require multiple gates and channels, the size of a CMOS synapse becomes larger, but synapses based on spin-orbit torque are constructed using a single device, The device can be manufactured with a smaller size.
기존의 스핀 전달 토크에 비해 더 낮은 전류로도 자화 반전이 가능한스핀 궤도 토크를 이용한 소자의 구조가 기존의 CMOS에 비해 간단하기 때문에 제작이 용이하다. It is easy to fabricate because the structure of the device using the spin-orbit torque that can reverse the magnetization with lower current than the existing spin transfer torque is simpler than the conventional CMOS.
전극(20)은 비자성의 금속이고, 전극(20)으로 사용하는 금속으로는 Ta이 있고, 스핀 궤도 토크를 제공할 수 있다. 전극(20)과 자유층(20)의 경계면에서 스핀 분극된 전자의 축적으로부터 스핀 궤도 토크가 발생하게 된다. 분극 방향은 자성의 방향과는 다르고, 전류 방향에 의해 결정된다.The
자유층(20)은 접촉하고 있는 전극(20)에서의 전류에 의해 자구벽의 이동이 가능하다. 자유층(20)으로 사용되는 재료는 CoFeB, Co/Ni, Co/Pd, CoFe, Co가 있다.The
터널 장벽층(40)으로 사용되는 물질은 산화물이고, 주로 사용되는 산화물로는 MgO, AlOx가 있다.The material used for the
제1 고정층(50) 및 제2 고정층(70)은 Co, Fe, Pd, Ni, Mn, Fe, Co, Ni, Cr, permalloy, heusler alloy, 갈륨망간비소(GaMnAs) 또는 게르마늄망간(GeMn)이 주로 사용된다.The first pinned
상기 제2 고정층(70)은 자구벽의 이동시 제1 고정층(50)의 자화방향이 변경되는 현상을 방지하기 위해 구비된다. 즉, 제2 고정층(70)은 제1 고정층(50)과 동일한 자화방향을 가지고, 자유층(20)의 자구벽의 이동 또는 자화의 변경에 따라 제1 고정층(50)의 자화가 영향을 받는 것을 방지한다.The second pinning
스페이서층(60)은 비자성층으로, Ta, Ru 또는 Cu가 주로 이용되는 재료이다.The
도 2는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 소자에 인가되는 전류값의 크기에 따라 이동되는 자구벽 상태를 보여주는 모식도이다.FIG. 2 is a schematic view showing a state of a magnetic domain wall moving according to a magnitude of a current value applied to a device according to a preferred embodiment of the present invention. FIG.
도 2의 (a), (b) 및 (c)를 참조하면, 전극(100)에서 전류가 장축 방향으로 흐르고 있는 상태이다. Referring to FIGS. 2 (a), 2 (b) and 2 (c), a current flows in the
도 2의 (a)를 참조하면, 자유층(120)에서의 자구벽의 이동이 최대로 될 수 있도록 전극(100)의 장축 방향으로 펄스 파워가 계속 가해지는 상태이다.2 (a), pulse power is continuously applied in the major axis direction of the
또한, 고정층(140)의 자화 방향과 자유층(120)의 주요 자화 방향이 서로 반대 상태를 보이고 있으므로, 자기 소자의 수직 방향의 자기 저항은 높은 값 또는 최대값이 될 수 있다.In addition, since the magnetization direction of the pinned
도 2의 (b)를 참조하면, 인가된 외부 자기자의 방향과 무관하게 전극(100)에 흐르는 전류값에 의해 제어되어 자유층(120)의 자구벽의 스핀 방향에 따른 비율이 동등한 상태로 있음을 볼 수 있다. Referring to FIG. 2 (b), the ratio of the magnetic domain wall of the
또한, 고정층(140)의 자화 방향과 자유층(120)의 자구벽의 비율이 동등하므로, 소자의 수직 방향의 자기 저항은 전체 자기 저항값 중에서 중간값을 가질 수 있다.Further, since the magnetization direction of the pinned
도 2의 (c)를 참조하면, 자유층(120)에서의 자구벽의 이동이 최대로 될 수 있도록 중금속층(100)의 장축 방향으로 펄스 파워가 계속 가해지는 상태이다.Referring to FIG. 2 (c), the pulse power is continuously applied in the longitudinal direction of the
또한, 고정층(140)의 자화 방향과 자유층(120)의 주요 자화 방향이 서로 같은 상태를 보이고 있으므로, 소자의 수직 방향의 자기 저항은 낮은 값 또는 최소값이 될 수 있다.In addition, since the magnetization direction of the pinned
도 2의 (a), (b) 및 (c)를 참조하면, 전극(100)의 장축 방향으로 펄스 파워를 조절하여 자유층(120) 내의 동일 스핀 방향의 자구벽의 영역을 조절할 수 있다.Referring to FIGS. 2 (a), 2 (b) and 2 (c), the region of the magnetic domain wall in the same spin direction in the
도 3은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 펄스 신호가 누적 또는 변환됨에 따른 자유층의 자구벽 이동 상태를 보여주는 모식도이다.FIG. 3 is a schematic diagram showing a magnetic domain wall movement state of a free layer as a pulse signal is accumulated or converted according to a preferred embodiment of the present invention.
도 3의 (a) 및 (b)를 참조하면, (a)는 펄스 파워의 진행을 보여주고 있고, (b)는 펄스 파워의 진행에 따른 자유층(120)의 자구벽 이동 상태를 보여주고 있다. 3 (a) and 3 (b), FIG. 3 (a) shows the progress of the pulse power, FIG. 3 (b) shows the magnetic domain wall movement state of the
도 3을 참조하면, 1번 펄스에 해당하는 전류값이 전극(110)에 흐르고, 전류 방향은 전극(110)의 지면 방향으로 흐르도록 설정한다. 이 때, 자유층(120)의 주요 영역의 자화 방향과 고정층(140)의 자화 방향이 반대가 되어 있기 때문에 소자의 수직 방향의 자기 저항값은 높은 값을 보일 수 있다.Referring to FIG. 3, the current value corresponding to the first pulse flows through the
이어서, 2번 펄스가 가해지고, 자유층(120)은 반대 방향의 자화 방향인 동등한 크기의 자구벽으로 구성되어 있기 때문에, 1번 펄스에서의 소자의 자기 저항값 보다 감소하게 된다. Then, the second pulse is applied, and since the
이어서, 3번 펄스가 가해지고, 자유층(120)의 자구벽은 이동하여, 고정층(140)의 자화 방향과 동일한 방향의 자구벽 영역이 증가한다. 따라서 소자의 자기 저항은 감소하게 된다.Then, the third pulse is applied, and the magnetic domain wall of the
이어서, 3번 펄스를 위상 반전한 4번 펄스가 가해지고, 자유층(120) 내의 자구벽은 3번 펄스를 가했을 때와 달리 반대 방향으로 이동하여, 자유층(110)의 자구벽의 영역 상태는 2번 펄스가 가해졌을 경우와 동일한 상태가 된다. Next, the fourth pulse, which is phase-inverted from the third pulse, is applied, and the magnetic domain wall in the
이어서 5번 펄스를 주면, 자유층(120) 내의 자구벽은 더 이동하게 되어 고정층(140)의 자화 상태와 반대인 자구벽 영역이 증가하고, 소자의 자기 저항은 1번 펄스를 가했을때와 동일한 상태로 환원된다.Subsequently, when the fifth pulse is applied, the magnetic domain wall in the
스핀 궤도 토크를 이용한 자구벽 이동의 경우, 전류가 흐르는 방향의 수직한 방향으로 자구벽의 이동이 발생한다. 스핀 궤도 전류에 의한 자구벽 이동에 필요한 전류는 스핀 전달 토크에 의한 자구벽 이동에 필요한 전류의 10% 정도이다.In the case of the magnetic domain wall movement using the spin orbital torque, the magnetic domain wall moves in a direction perpendicular to the direction in which the current flows. The current required for the magnetic domain wall movement due to the spin orbital current is about 10% of the current required for the magnetic domain wall movement due to the spin transfer torque.
도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 펄스가 진행됨에 따라 자구벽의 이동이 발생하고, 자구벽의 이동에 따른 자기 저항값(MagnetoResistance)의 변화에 대한 그래프이다.FIG. 4 is a graph illustrating a change in magnetoresistance due to movement of a magnetic domain wall as a pulse progresses according to a preferred embodiment of the present invention. FIG.
도 4를 참조하면, 소자의 초기 상태는 자유층(120)의 자화 방향이 고정층(140)의 자화 방향과 동일한 상태에 있고, 소자의 자기 저항값이 최소인 상태이다.Referring to FIG. 4, the initial state of the device is a state in which the magnetization direction of the
소자의 자유층(120)의 자화 방향이 고정층(140)의 자화 방향과 동일한 상태에 있게 되면, 소자의 수직 방향의 자기 저항은 최소로 될 수 있다. If the magnetization direction of the
소자에 단계적으로 펄스 파워(pulse power)를 가함으로써, 전극(100)으로 흐르는 전류로 인해 스핀 궤도 전류가 발생하고, 자유층(120)내의 자구벽은 이동된다. By applying pulse power stepwise to the device, a spin orbital current is generated due to the current flowing to the
소자의 초기 상태에서, 도 3의 4번과 같은 역펄스 파워를 가하여 자유층(120)의 자구벽을 이동시킨다. 고정층(140)의 자화방향과 반대인 자화 방향을 가진 자구벽 영역의 증가로 소자의 자기 저항은 증가한다. 이어서 가해지는 역펄스로 인해 자구벽은 더 이동되고, 고정층(140)의 자화 방향과 반대인 자화 방향을 가진 자구벽 영역이 최대가 되기 때문에, 소자의 자기 저항은 최대가 된다.In the initial state of the device, a reverse pulse power as in No. 4 of FIG. 3 is applied to move the magnetic domain wall of the
이어서, 도3의 1번 펄스와 같은 펄스 파워를 가하여 자구벽의 이동 방향을 전환한다. 자구벽의 이동으로 고정층(140)의 자화 방향과 동일한 방향의 자화 방향을 가진 자유층(120) 자구벽의 영역이 증가하게 되고, 소자의 자기 저항은 감소하게 된다.Subsequently, the same pulse power as the first pulse of FIG. 3 is applied to change the moving direction of the magnetic domain wall. The area of the magnetic domain wall of the
이어서 펄스 파워를 더 가하면, 이어지는 자구벽의 이동으로, 고정층(140)의 자화 방향과 동일한 방향의 자화 방향을 가진 자구벽 여역은 최대가 되고, 소자의 자기 저항값은 최소가 된다.Subsequently, when the pulse power is further applied, the subsequent magnetic domain wall movement causes the domain wall free region having the magnetization direction in the same direction as the magnetization direction of the pinned
즉, 자유층(120)의 자구벽 이동에 따른 동일 자화 방향을 가진 영역의 변화에 의해 소자의 자기 저항값을 조절할 수 있고, 펄스 파워의 진행에 따라 자유층(120)의 자구벽이 이동하므로, 소자의 자기 저항값은 단계적으로 조절이 가능하게 된다.That is, the magnetoresistance value of the device can be adjusted by changing the region having the same magnetization direction due to the magnetic domain wall movement of the
도 5는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 Long-Term Potentiation(LTP, 장기 강화)와 Long-Term Depression(LTD, 장기 억압)의 2가지 동작에 대한 그래프이다. FIG. 5 is a graph illustrating two operations of a long-term potentiation (LTP) and a long-term depression (LTD) according to a preferred embodiment of the present invention.
도 5를 참조하면, 생물학적 시냅스는 Long-Term Potentiation(LTP, 장기 강화)와 Long-Term Depression(LTD, 장기 억압)의 2가지 동작을 한다. LTP는 2개의 신경세포간의 연결인 시냅스가 긴 주기를 가지고 자극을 받을 때 신경세포간 신호전달이 점점 향상되는 것을 말한다. 즉, 시냅스의 신호전달 능력이 향상된다는 뜻이다. LTD는 반대로 신경세포간의 신호전달이 점점 약화되는 것은 의미한다. 이렇게 신호전달의 향상과 약화를 조절하는 것을 시냅스의 weight를 조절한다고 한다. 이와 같은 생물학적 시냅스의 동작은 도 4의 자구벽 이동에 따른 자기 저항값의 조절과 유사한 형태임을 알 수 있다.Referring to FIG. 5, biological synapses perform two operations, Long-Term Potentiation (LTP) and Long-Term Depression (LTD). LTP is a synapse between two neurons that is stimulated with a long cycle, which means that the signal transmission between the neurons is gradually improved. This means that the signaling ability of the synapse is improved. LTD, on the contrary, means that signaling between neurons is getting weaker. It is said that the control of the improvement and weakening of the signal transduction regulates the weight of the synapse. It can be seen that the operation of the biological synapse is similar to the adjustment of the magnetoresistance value according to the movement of the magnetic domain wall in FIG.
본 발명에서는, 스핀 시냅스의 경우, 생물학적 시냅스의 LTP, LTD의 동작에서와 같이 자구벽 이동 동작을 통한 자기저항의 변화로 유사 형태로 구현할 수 있다.In the present invention, in the case of the spin synapse, it can be implemented in a similar manner by changing the magnetoresistance through the magnetic domain wall movement operation as in the operation of the biological synapse LTP, LTD.
실시예1Example 1
실험적인 조사를 위해, 다음의 구조로 소자를 제작한다. 기판으로는 Si을 사용하고, 기판인 Si 상에 SiO2를 120 nm 두께로 형성한다. 이어서, 전극(100)으로 Ta을 2 nm으로 형성한 후에, 전극(100) 상에 자유층(120)으로 Co0.4Fe0.55B0.05로 형성하였다. For experimental investigation, the device is fabricated with the following structure. Si is used as a substrate, and SiO 2 is formed to a thickness of 120 nm on Si as a substrate. Subsequently, Ta was formed to 2 nm as the
또한 자유층(120) 상에 순차적으로, 터널 장벽층(130)으로 MgO 2 nm, 고정층(140)으로 Fe를 4 nm를 형성하였다.Further, MgO 2 nm was formed as a
평가예1Evaluation example 1
실시예1에서 제작된 소자를 평가하였다. 전극(100)에 장축 방향으로 펄스 파워를 가하여 전류를 흐르도록 하고, 펄스 파워에 따라 자유층(120) 내의 자구벽은 이동하고, 자구벽의 이동 방향은 전류 흐름에 수직 방향으로 이동하였다. 펄스 파워를 가하여 전류값인 5.06×106 A/Cm2 내지 6.46×106A/Cm2 의 범위에서 전극(100)으로 흐르는 전류를 변화하였다. The devices fabricated in Example 1 were evaluated. Pulse power was applied to the
펄스 파워를 동일 위상으로 연속하여 가하면, 자유층(120)의 자구벽은 한쪽 방향으로 이동을 하여 자유층(120)의 스핀 방향이 모두 동일한 상태가 된다. 이 때, 자유층(120)의 자화 방향이 고정층(140)의 자화 방향과 동일한 방향이 되어 소자의 자기 저항값은 최대값에 도달하였다. When the pulse power is continuously applied in the same phase, the magnetic domain wall of the
10: 기판
20: 전극
30: 자유층
40: 터널 장벽층
50: 제1 고정층
60: 스페이서층
70: 제2 고정층
100: 전류방향
110: 전극
120: 자유층
130: 터널 장벽층
140: 고정층10: substrate 20: electrode
30: free layer 40: tunnel barrier layer
50: first fixing layer 60: spacer layer
70: second fixed layer 100: current direction
110: electrode 120: free layer
130: tunnel barrier layer 140: fixed layer
Claims (10)
상기 전극 상에 형성되고, 스핀 궤도 토크에 따라 자구벽 이동이 발생하는 자유층;
상기 자유층 상에 형성된 비자기재료인 터널 장벽층;
상기 터널 장벽층 상에 형성되고, 자화 방향이 고정된 제1 고정층;
상기 제1 고정층 상에 형성된 스페이서층; 및
상기 스페이서층 상에 형성된 제2 고정층을 포함하는 것을 특징으로 하는 스핀 시냅스 소자.An electrode formed on a substrate;
A free layer formed on the electrode and generating a magnetic domain wall movement in accordance with a spin orbit torque;
A tunnel barrier layer which is a nonmagnetic material formed on the free layer;
A first pinned layer formed on the tunnel barrier layer and having a fixed magnetization direction;
A spacer layer formed on the first pinning layer; And
And a second pinning layer formed on the spacer layer.
상기 자유층은 Co, Fe, Pd, Ni, Mn 및 이의 합금으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 스핀 시냅스 소자.The method according to claim 1,
Wherein the free layer comprises at least one selected from the group consisting of Co, Fe, Pd, Ni, Mn, and alloys thereof.
상기 자유층은 CoFeB, CoNi 및 CoPd로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 스핀 시냅스 소자.3. The method of claim 2,
Wherein the free layer is at least one selected from the group consisting of CoFeB, CoNi, and CoPd.
상기 터널 장벽층은 금속산화물이고, 상기 금속산화물은 HfO2, ZrO2, AlOx, SiO2, MgO 및 Ta2O3로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 스핀 시냅스 소자.The method according to claim 1,
Wherein the tunnel barrier layer is a metal oxide and the metal oxide is at least one selected from the group consisting of HfO 2 , ZrO 2 , AlOx, SiO 2 , MgO, and Ta 2 O 3 .
상기 제1 고정층 및 상기 제2 고정층은 Co, Fe, Pd, Ni, Mn 및 이의 합금으로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나를 포함하는 것을 특징으로 하는 스핀 시냅스 소자.The method according to claim 1,
Wherein the first pinned layer and the second pinned layer comprise at least one selected from the group consisting of Co, Fe, Pd, Ni, Mn, and alloys thereof.
상기 스페이서층은 Ta, Cu, Ru 및 W로 이루어진 군에서 선택된 적어도 어느 하나인 것을 특징으로 하는 스핀 시냅스 소자.The method according to claim 1,
Wherein the spacer layer is at least one selected from the group consisting of Ta, Cu, Ru, and W.
상기 전극의 장축 방향으로 자기장을 가하는 단계;
상기 자기장의 방향과 반대 방향으로 펄스 파워를 가하는 단계;
상기 펄스 파워에 의한 단계적인 상기 자구벽의 이동으로 인해 상기 스핀 시냅스 소자의 자기 저항값이 단계적으로 증가하는 단계; 및
상기 자기 저항값이 포화가 되고, 상기 자유층의 자화 방향이 상기 고정층의 자화방향과 반대 방향으로 형성된 단계를 포함하는 스핀 시냅스 소자의 동작 방법.A free layer formed on the electrode, a tunnel barrier layer formed on the free layer, a first pinning layer formed on the tunnel barrier layer, a spacer layer formed on the first pinning layer, and a spacer layer formed on the spacer layer, A spin synapse device comprising a second pinning layer formed on a layer,
Applying a magnetic field in a longitudinal direction of the electrode;
Applying pulse power in a direction opposite to the direction of the magnetic field;
The magnetoresistance value of the spin synapse element is increased stepwise due to the stepwise movement of the magnetic domain wall by the pulse power; And
Wherein the magnetoresistance value is saturated and the magnetization direction of the free layer is formed in a direction opposite to the magnetization direction of the pinned layer.
상기 자기 저항값이 최대가 되고, 상기 자유층의 자화 방향이 상기 고정층의 자화방향과 반대 방향으로 형성된 단계이후에,
상기 스핀 시냅스 소자에 펄스 파워의 방향과 동일 방향으로 자기장을 가하는 단계;
상기 펄스 파워와 동일 방향으로 인가되는 자기장에 의해 상기 자구벽의 이동으로 인해 상기 스핀 시냅스 소자의 자기 저항값이 단계적으로 감소하는 단계; 및
상기 자기 저항값이 최소가 되고, 상기 자유층의 자화 방향이 상기 고정층의 자화방향과 동일 방향으로 형성된 단계를 더 포함하는 스핀 시냅스 소자의 동작 방법.8. The method of claim 7,
After the step of setting the magnetization direction of the free layer in a direction opposite to the magnetization direction of the pinned layer,
Applying a magnetic field to the spin synapse device in the same direction as the direction of the pulse power;
The magnetoresistance value of the spin synapse element is gradually decreased due to the movement of the magnetic domain wall by a magnetic field applied in the same direction as the pulse power; And
The magnetoresistance value is minimized and the magnetization direction of the free layer is formed in the same direction as the magnetization direction of the pinned layer.
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160139257A KR20180045302A (en) | 2016-10-25 | 2016-10-25 | Spin Synapse Device using Spin Orbit Torque and Method of operating the same |
US16/344,662 US10885960B2 (en) | 2016-10-25 | 2017-10-25 | Spin device, and operating method therefor and manufacturing method therefor |
PCT/KR2017/011822 WO2018080159A1 (en) | 2016-10-25 | 2017-10-25 | Spin device, and operating method therefor and manufacturing method therefor |
EP17863763.3A EP3534421B1 (en) | 2016-10-25 | 2017-10-25 | Spin device |
CN201780064988.XA CN109952662B (en) | 2016-10-25 | 2017-10-25 | Spin device, method of operating the same, and method of manufacturing the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020160139257A KR20180045302A (en) | 2016-10-25 | 2016-10-25 | Spin Synapse Device using Spin Orbit Torque and Method of operating the same |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20180045302A true KR20180045302A (en) | 2018-05-04 |
Family
ID=62199687
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020160139257A KR20180045302A (en) | 2016-10-25 | 2016-10-25 | Spin Synapse Device using Spin Orbit Torque and Method of operating the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR20180045302A (en) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020141848A1 (en) * | 2019-01-03 | 2020-07-09 | 한양대학교 산학협력단 | Operation method of neural network element using spin-orbit torque |
KR20200084796A (en) * | 2019-01-03 | 2020-07-13 | 한양대학교 산학협력단 | Method of Neuromorphic Device using Spin-Orbit Torque |
KR102440814B1 (en) | 2021-07-01 | 2022-09-07 | 한국과학기술연구원 | Nano spin device using spin currents from ferromagnetic layer and heavy metal channel |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150042025A (en) * | 2013-10-10 | 2015-04-20 | 한양대학교 산학협력단 | Ferromagnetic multilayer thin film and magnetic tunnel junction structure including the same |
-
2016
- 2016-10-25 KR KR1020160139257A patent/KR20180045302A/en not_active Application Discontinuation
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150042025A (en) * | 2013-10-10 | 2015-04-20 | 한양대학교 산학협력단 | Ferromagnetic multilayer thin film and magnetic tunnel junction structure including the same |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020141848A1 (en) * | 2019-01-03 | 2020-07-09 | 한양대학교 산학협력단 | Operation method of neural network element using spin-orbit torque |
KR20200084796A (en) * | 2019-01-03 | 2020-07-13 | 한양대학교 산학협력단 | Method of Neuromorphic Device using Spin-Orbit Torque |
KR102440814B1 (en) | 2021-07-01 | 2022-09-07 | 한국과학기술연구원 | Nano spin device using spin currents from ferromagnetic layer and heavy metal channel |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US10885960B2 (en) | Spin device, and operating method therefor and manufacturing method therefor | |
CN113167842B (en) | Voltage controlled interlayer exchange coupling magnetic resistance memory device and operation method thereof | |
CN108780779B (en) | Exchange bias-use type magnetization reversal element, exchange bias-use type magnetoresistance effect element, exchange bias-use type magnetic memory, nonvolatile logic circuit, and magnetic neuron element | |
CN108604573B (en) | Magnetic wall utilization type analog memory element and magnetic wall utilization type analog memory | |
Tehrani et al. | Magnetoresistive random access memory using magnetic tunnel junctions | |
CN109690675B (en) | Novel word line pulse writing method applicable to magnetoelectric tunnel junction | |
JP4575181B2 (en) | Spin injection magnetic random access memory | |
US6269018B1 (en) | Magnetic random access memory using current through MTJ write mechanism | |
US7394684B2 (en) | Spin-injection magnetic random access memory | |
US7714399B2 (en) | Magnetic memory element and magnetic memory apparatus | |
CN108604604B (en) | Magnetic wall-using spin MOSFET and magnetic wall-using analog memory | |
KR100754930B1 (en) | Information storage and interpretation method of magnetic random access memory using voltage-control magnetization reversal as the writing type | |
US8988934B2 (en) | Multibit cell of magnetic random access memory with perpendicular magnetization | |
US10839930B2 (en) | Magnetic domain wall type analog memory element, magnetic domain wall type analog memory, nonvolatile logic circuit, and magnetic neuro-element | |
US8406041B2 (en) | Scalable magnetic memory cell with reduced write current | |
Bromberg et al. | Experimental demonstration of four-terminal magnetic logic device with separate read-and write-paths | |
KR100997023B1 (en) | Spin torque magnetic memory and method for correcting offset magnetic field | |
US8625327B2 (en) | Magnetic random access memory and initializing method for the same | |
KR20180045302A (en) | Spin Synapse Device using Spin Orbit Torque and Method of operating the same | |
KR20180045328A (en) | Spin Neuron Device and Method of operating the same | |
US12014762B2 (en) | Semiconductor memory device with spin-orbit coupling channel | |
JP5030888B2 (en) | Resonant tunnel magnetoresistive element, magnetic memory cell, and magnetic random access memory | |
JP2007305823A (en) | Memory using magnetoresistance effect element and its driving method | |
WO2011036752A1 (en) | Resonant tunneling magnetoresistance effect element, magnetic memory cell, and magnetic random access memory | |
KR101236116B1 (en) | Magnetic Memory of using Magnetic Domain Motion and Method of operating the same |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E601 | Decision to refuse application |