KR20180025385A - 데이터 드라이버, 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 구동 방법 - Google Patents

데이터 드라이버, 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

본 실시예들은 유기발광표시장치의 각 서브픽셀에 배치되는 센싱 트랜지스터의 불량을 검출하고 불량인 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀의 좌표를 추출하는 방식에 관한 것으로서, 기준 전압 라인을 초기화시킨 후 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압을 인가하고 스캔 트랜지스터가 온 상태이며 센싱 트랜지스터가 오프 상태인 구간에서 기준 전압 라인의 전압을 센싱하여 센싱 트랜지스터의 불량 여부를 판단할 수 있도록 한다. 본 실시예들에 의하면, 유기발광표시장치의 출하 이후에 발생하는 센싱 트랜지스터의 불량을 검출하고 검출된 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀의 좌표를 정확하게 추출할 수 있도록 하며 불량인 서브픽셀을 용이하게 리페어할 수 있도록 한다.

Description

데이터 드라이버, 유기발광표시장치 및 유기발광표시장치의 구동 방법{DATA DRIVER, ORGANIC LIGHT-EMITTING DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR DRIVING THEREOF}
본 실시예들은 유기발광표시장치와 유기발광표시장치의 구동 방법, 그리고 유기발광표시장치에 포함된 데이터 드라이버에 관한 것이다.
최근 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 명암비, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 크다는 장점이 있다.
이러한 유기발광표시장치는, 유기발광다이오드(OLED)와 이를 구동하는 구동 트랜지스터를 포함하는 서브픽셀을 매트릭스 형태로 배열하고 스캔 신호에 의해 선택된 서브픽셀의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어함으로써 영상을 표시한다.
각각의 서브픽셀은 유기발광다이오드(OLED)와 구동 트랜지스터 이외에 스캔 신호에 의해 동작하며 구동 트랜지스터에 인가되는 데이터 전압을 제어하는 스캔 트랜지스터와, 구동 트랜지스터에 인가되는 데이터 전압을 한 프레임 동안 유지시켜주기 위한 캐패시터와, 기준 전압 라인과 연결된 센싱 트랜지스터 등을 포함한다.
서브픽셀에 배치된 이러한 회로 소자는 이물 등에 의해 불량이 발생할 수 있으며, 불량이 발생한 회로 소자가 포함된 서브픽셀은 휘점, 암점 등으로 나타날 수 있다.
따라서, 각각의 서브픽셀에 배치된 회로 소자의 불량을 검출할 수 있는 방안이 요구되나, 불량인 회로 소자가 배치된 서브픽셀의 좌표를 정확하게 검출할 수 없거나 서브픽셀에 배치된 회로 소자 중 불량인 회로 소자를 정확하게 판단할 수 없는 문제점이 존재한다.
특히, 유기발광표시장치가 출하된 이후 발생하는 회로 소자의 불량을 검출하고 불량으로 검출된 회로 소자와 그 회로 소자가 배치된 서브픽셀의 좌표에 관한 정보를 제공할 수 있는 방안이 요구된다.
본 실시예들의 목적은, 서브픽셀에 배치된 회로 소자 중 기준 전압 라인과 연결된 센싱 트랜지스터의 불량을 검출할 수 있는 유기발광표시장치와 그 구동 방법을 제공하는 데 있다.
본 실시예들의 목적은, 불량으로 검출되는 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀의 좌표를 정확하게 추출할 수 있는 유기발광표시장치와 그 구동 방법을 제공하는 데 있다.
본 실시예들의 목적은, 유기발광표시장치가 출하된 이후에 발생하는 센싱 트랜지스터의 불량을 검출하고 불량인 센싱 트랜지스터에 관한 정보를 제공하는 유기발광표시장치와 그 구동 방법을 제공하는 데 있다.
일 측면에서, 본 실시예들은, 유기발광다이오드와, 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1 노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결된 스캔 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2 노드와 기준 전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀을 포함하는 유기발광표시장치를 제공한다.
이러한 유기발광표시장치는, 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압이 인가되고 스캔 트랜지스터가 온 상태이며 센싱 트랜지스터가 오프 상태인 구간에서 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 센싱부를 포함한다.
기준 전압 라인에는 기준 전압 제어 스위치가 연결될 수 있으며, 기준 전압 제어 스위치는 센싱부가 기준 전압 라인의 전압을 센싱하기 이전에 턴-온 되어 기준 전압 라인을 초기화한 후 턴-오프 될 수 있다.
또한, 기준 전압 라인에는 샘플링 스위치가 연결될 수 있으며, 센싱부는 센싱 트랜지스터가 오프인 상태에서 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압이 인가되고 스캔 트랜지스터가 온 상태가 된 후 기설정된 시간이 경과하면 샘플링 스위치를 턴-온 시켜 기준 전압 라인의 전압을 센싱할 수 있다.
이러한 유기발광표시장치는 불량 검출부를 더 포함할 수 있으며, 불량 검출부는 센싱부에 의해 센싱된 전압을 기설정된 전압과 비교하고 비교 결과에 따라 센싱 트랜지스터의 불량 여부를 판단할 수 있다.
이러한 유기발광표시장치는 불량인 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀의 좌표를 저장한 메모리를 더 포함할 수 있으며, 불량 검출부는 센싱 트랜지스터가 불량으로 판단되면 불량으로 판단된 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀의 좌표를 메모리에 저장된 좌표와 비교하고 메모리에 저장된 좌표를 갱신할 수 있다.
다른 측면에서, 본 실시예들은, 기준 전압 라인과 연결된 기준 전압 제어 스위치를 턴-온 시켜 기준 전압 라인을 초기화하는 단계와, 기준 전압 라인과 연결된 센싱 트랜지스터를 턴-오프 하는 단계와, 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압을 인가하고 스캔 트랜지스터를 턴-온 하는 단계와, 스캔 트랜지스터가 턴-온 되고 기설정된 시간이 경과하면 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 단계와, 센싱된 전압이 기설정된 전압보다 크면 센싱 트랜지스터가 불량인 것으로 판단하는 단계와, 센싱 트랜지스터가 불량인 것으로 판단되면 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀의 좌표를 메모리에 저장하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법을 제공한다.
다른 측면에서, 본 실시예들은, 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압이 인가되고 구동 트랜지스터의 제1 노드와 데이터 라인 사이에 연결된 스캔 트랜지스터가 온 상태이며 구동 트랜지스터의 제2 노드와 기준 전압 라인 사이에 연결된 센싱 트랜지스터가 오프 상태인 구간에서 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 센싱부와, 센싱부에 의해 센싱된 전압과 기설정된 전압을 비교하고 비교 결과에 기초하여 센싱 트랜지스터가 불량인지 여부를 판단하는 불량 검출부와, 불량 검출부에 의해 불량으로 검출된 센싱 트랜지스터가 배치된 화소의 좌표를 저장하는 메모리를 포함하는 데이터 드라이버를 제공한다.
본 실시예들에 의하면, 스캔 트랜지스터가 온 상태이고 센싱 트랜지스터가 오프 상태인 구간에서 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압을 인가하고 기준 전압 라인의 전압을 센싱함으로써, 센싱 트랜지스터의 불량을 검출할 수 있도록 한다.
본 실시예들에 의하면, 센싱 트랜지스터의 불량을 검출하는 로직을 통해 불량인 센싱 트랜지스터를 판단함으로써, 불량인 센싱 트랜지스터가 배치된 서브픽셀의 좌표를 정확하게 검출할 수 있도록 하며 출하 이후 발생하는 불량도 검출할 수 있도록 한다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에 배치된 화소 구조의 예시를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 센싱 트랜지스터의 불량을 검출하는 구성을 나타낸 도면이다.
도 4 내지 도 6은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 센싱 트랜지스터의 불량을 검출하는 과정을 설명하기 위한 도면이다.
도 7은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 센싱 트랜지스터의 불량을 검출하기 위한 로직에 따른 전압, 신호의 타이밍을 나타낸 도면이다.
도 8은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 구동 방법의 과정을 나타낸 흐름도이다.
이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성요소 사이에 다른 구성요소가 "개재"되거나, 각 구성요소가 다른 구성요소를 통해 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 개략적인 구성을 나타낸 것이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는 다수의 게이트 라인(GL) 및 다수의 데이터 라인(DL)이 배치되고, 다수의 서브픽셀(SP: Sub Pixel)이 배치된 유기발광표시패널(110)과, 다수의 게이트 라인(GL)을 구동하는 게이트 드라이버(120)와, 다수의 데이터 라인(DL)을 구동하는 데이터 드라이버(130)와, 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)를 제어하는 컨트롤러(140) 등을 포함한다.
게이트 드라이버(120)는, 다수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동한다.
게이트 드라이버(120)는, 컨트롤러(140)의 제어에 따라 온(ON) 전압 또는 오프(OFF) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트 라인(GL)으로 순차적으로 공급하여 다수의 게이트 라인(GL)을 순차적으로 구동한다.
게이트 드라이버(120)는, 구동 방식에 따라 유기발광표시패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고, 양 측에 위치할 수도 있다.
또한, 게이트 드라이버(120)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
각 게이트 드라이버 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 유기발광표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, GIP(Gate In Panel) 타입으로 구현되어 유기발광표시패널(110)에 직접 배치될 수 있다.
또한, 유기발광표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있으며, 유기발광표시패널(110)과 연결된 필름상에 실장되는 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수도 있다.
데이터 드라이버(130)는, 다수의 데이터 라인(DL)으로 데이터 전압을 공급함으로써 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다.
데이터 드라이버(130)는, 특정 게이트 라인이 열리면 컨트롤러(140)로부터 수신한 영상 데이터를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환하여 다수의 데이터 라인(DL)에 공급함으로써 다수의 데이터 라인(DL)을 구동한다.
데이터 드라이버(130)는 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로(Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 다수의 데이터 라인(DL)을 구동할 수 있다.
각 소스 드라이버 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG: Chip On Glass) 방식으로 유기발광표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 유기발광표시패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 유기발광표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다.
또한, 각 소스 드라이버 집적회로는, 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 각 소스 드라이버 집적회로의 일 단은 적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(Source Printed Circuit Board)에 본딩되고, 타 단은 유기발광표시패널(110)에 본딩된다.
컨트롤러(140)는, 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)로 각종 제어신호를 공급하여, 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)를 제어한다.
이러한 컨트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(130)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하며, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 제어한다.
컨트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
컨트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(130)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터를 출력하는 것 이외에, 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블 신호(DE), 클럭 신호(CLK) 등의 타이밍 신호를 입력받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130)로 출력한다.
예를 들어, 컨트롤러(140)는, 게이트 드라이버(120)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.
여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 드라이버(120)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 컨트롤러(140)는, 데이터 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Source Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.
여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 드라이버(130)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 드라이버(130)의 출력 타이밍을 제어한다.
컨트롤러(140)는, 소스 드라이버 집적회로가 본딩된 소스 인쇄회로기판과 연성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 또는 연성 인쇄 회로(FPC: Flexible Printed Circuit) 등의 연결 매체를 통해 연결된 컨트롤 인쇄회로기판(Control Printed Circuit Board)에 배치될 수 있다.
이러한 컨트롤 인쇄회로기판에는, 유기발광표시패널(110), 게이트 드라이버(120) 및 데이터 드라이버(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 전원 컨트롤러(미도시)가 더 배치될 수 있다. 이러한 전원 컨트롤러는 전원 관리 집적회로(Power Management IC)라고도 한다.
유기발광표시장치(100)에서 유기발광표시패널(110)에 배치되는 각 서브픽셀은 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode), 둘 이상의 트랜지스터, 적어도 하나의 캐패시터 등의 회로 소자로 구성될 수 있다.
각 서브픽셀을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시패널(110)에 배치된 서브픽셀 구조의 예시를 나타낸 것이다.
도 2를 참조하면, 각 서브픽셀은, 유기발광다이오드(OLED)와, 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 구동 트랜지스터(DRT)를 포함한다.
또한, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결된 스토리지 캐패시터(Cst)와, 스캔 신호에 의해 제어되며 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 해당 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결된 스캔 트랜지스터(SCT)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 해당 기준 전압 라인(RVL) 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터(SENT) 등을 포함할 수 있다.
유기발광다이오드(OLED)는, 제1 전극(예: 애노드 전극 또는 캐소드 전극), 유기층 및 제2 전극(예: 캐소드 전극 또는 애노드 전극)으로 이루어진다.
일 예로, 유기발광다이오드(OLED)의 제1 전극은 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 연결되고, 유기발광다이오드(OLED)의 제2 전극은 기저 전압(EVSS)이 인가될 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는, 유기발광다이오드(OLED)로 구동 전류를 공급하여 유기발광다이오드(OLED)를 구동하는 트랜지스터로서, 게이트 노드에 해당하는 제1 노드(N1), 소스 노드 또는 드레인 노드에 해당하는 제2 노드(N2), 드레인 노드 또는 소스 노드에 해당하는 제3 노드(N3)를 갖는다.
스캔 트랜지스터(SCT)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)로 데이터 전압을 전달해주는 트랜지스터로서, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결되고 게이트 노드에 인가되는 스캔 신호에 의해 턴-온 되어 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)로 데이터 전압을 전달해 줄 수 있다.
스토리지 캐패시터(Cst)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되어 한 프레임 동안 일정 전압을 유지해준다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)와 기준 전압 라인(RVL) 사이에 전기적으로 연결되고 게이트 노드에 인가되는 신호에 의해 제어될 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)는, 턴-온 되어 기준 전압 라인(RVL)을 통해 공급된 기준 전압(Vref)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2 노드(N2)에 인가해 줄 수 있다.
또한, 센싱 트랜지스터(SENT)는, 서브픽셀에 포함된 유기발광다이오드(OLED)나 구동 트랜지스터(DRT)와 같은 회로 소자의 열화를 센싱하기 위해 이용될 수 있다.
일 예로, 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-오프 된 상태에서 제2 노드(N2)의 전압을 플로팅시킨 후 센싱 트랜지스터(SETN)가 턴-온 되어 기준 전압 라인(RVL)을 통해 제2 노드(N2)의 전압을 센싱하고 회로 소자의 열화 정도를 측정할 수 있도록 한다.
따라서, 제2 노드(N2)로 기준 전압(Vref)을 공급하거나 제2 노드(N2)의 전압을 센싱하기 위해 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상적으로 동작하는 것은 매우 중요하나, 센싱 트랜지스터(SENT)에 이물 등으로 인한 불량이 발생하는 경우 이를 검출할 수 없는 문제점이 존재한다.
본 실시예들은, 전술한 서브픽셀의 구조에서 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출할 수 있는 방안과, 이를 통해 불량인 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 정확하게 검출할 수 있는 방안을 제공한다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 서브픽셀에 배치된 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하는 구성을 나타낸 것이다.
도 3을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 각각의 서브픽셀에 배치된 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 검출하기 위하여, 데이터 라인(DL)으로 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 인가하고 스캔 트랜지스터(SCT)를 온 상태로 제어하며 센싱 트랜지스터(SENT)를 오프 상태로 제어한 후 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다.
이때, 구동 전압 라인(DVL)으로 인가되는 구동 전압(EVDD)은 서브픽셀의 구동을 위한 구동 전압(EVDD)이 인가될 수 있으며, 유기발광다이오드(OLED)의 제2 전극으로 기저 전압(EVSS)이 인가될 수 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하는 구간은 유기발광표시장치(100)가 디스플레이 구동을 위한 구간과 시간적으로 구분되어 디스플레이 구동을 시작하기 이전 또는 디스플레이 구동을 종료한 이후에 수행될 수 있다. 또한, 경우에 따라서는 디스플레이 구동 구간에서 각 프레임 사이의 블랭크 구간에서 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부 센싱을 수행할 수도 있다.
즉, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 센싱하기 위하여, 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프된 상태에서 구동 전압(EVDD)과 기저 전압(EVSS)을 인가한다.
그리고, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 검출을 수행하는 서브픽셀로 데이터 라인(DL)을 통해 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 인가하고 스캔 트랜지스터(SCT)을 온 상태로 제어하여 구동 트랜지스터(DRT)에 전압이 인가되도록 한다.
따라서, 제2 노드에 전압이 인가되고 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프인 상태에서 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱함으로써, 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인지 여부를 판단할 수 있도록 한다.
구체적으로, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하기 위하여, 센싱부(310), 불량 검출부(320) 및 메모리(330)를 포함할 수 있다. 또한, 기준 전압 라인(RVL)으로 인가되는 전압을 제어하는 기준 전압 제어부(340)를 포함할 수 있다.
기준 전압 제어부(340)는, 기준 전압 라인(RVL)과 연결된 기준 전압 제어 스위치(SPRE)와 연결되어 기준 전압 제어 스위치(SPRE)의 동작을 제어한다.
기준 전압 제어부(340)는, 센싱부(310)가 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 검출을 위해 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱하기 이전에 기준 전압 제어 스위치(SPRE)를 턴-온 시켜 기준 전압 라인(RVL)을 초기화한다.
기준 전압 제어부(340)에 의해 기준 전압 라인(RVL)이 초기화되면, 구동 전압 라인(DVL)으로 구동 전압(EVDD)을 인가하고, 유기발광다이오드(OLED)의 제2 전극으로 기저 전압(EVSS)을 인가하며, 데이터 라인(DL)으로 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 인가한다.
동시에 스캔 신호에 의해 스캔 트랜지스터(SCT)을 턴-온 시키고 센싱 트랜지스터(SENT)는 턴-오프 시킨다.
스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태가 되고 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프 상태가 된 후 기설정된 시간이 경과하면, 센싱부(310)는 기준 전압 라인(RVL)과 연결된 샘플링 스위치(SAM)를 턴-온 시켜 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다.
서브픽셀에 배치된 각각의 전압 라인과 트랜지스터의 제어를 통해 제2 노드(N2)에 전압이 인가된 상태이고 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프된 상태이므로, 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상이면 기준 전압 라인(RVL)은 초기화 상태의 전압이 센싱되게 된다.
반면, 센싱 트랜지스터(SENT)가 이물 등에 의해 불량인 상태이면 제2 노드(N2)의 전압에 의해 기준 전압 라인(RVL)의 전압이 센싱되므로, 이를 통해 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 판단할 수 있다.
센싱부(310)가 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱하면 센싱된 전압을 불량 검출부(320)로 전달한다.
불량 검출부(320)는, 센싱부(310)에 의해 센싱된 전압을 기설정된 전압과 비교하고 비교 결과에 따라 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인지 여부를 판단한다.
일 예로, 불량 검출부(320)는, 센싱된 전압이 기준 전압 라인(RVL)의 초기화된 전압과 동일하면 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상인 것으로 판단하고, 초기화된 전압보다 크면 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 것으로 판단할 수 있다.
또는, 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상인 경우에도 약간의 누설 전류가 발생할 수 있으므로, 센싱된 전압이 일정 전압보다 큰 경우에만 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 것으로 판단할 수도 있다.
불량 검출부(320)는, 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 것으로 판단되면 불량으로 판단된 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 확인한다.
본 실시예들은, 각각의 서브픽셀별로 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 공급하고 각각의 서브픽셀에 배치된 스캔 트랜지스터(SCT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 스캔 신호로 제어하며 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출함에 따라, 불량인 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 X, Y 좌표를 정확하게 추출할 수 있도록 한다.
불량 검출부(320)는, 불량인 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 추출하면, 추출된 좌표를 메모리(330)에 저장된 좌표와 비교한다.
불량 검출부(320)는, 추출된 좌표가 메모리(330)에 이미 저장된 좌표에 해당하지 않으면 추출된 좌표를 메모리(330)에 추가함으로써 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 서브픽셀의 좌표를 지속적으로 갱신할 수 있도록 한다.
이를 통해, 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 서브픽셀의 좌표를 정확히 추출하고 추출된 좌표를 갱신할 수 있도록 하여, 이후 메모리(330)에 저장된 좌표 데이터를 이용하여 서브픽셀의 리페어(Repair)가 용이하게 수행될 수 있도록 한다.
도 4 내지 도 6은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하는 과정을 구체적으로 나타낸 것이다.
도 4는 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하기 위한 로직을 수행하기 이전의 과정을 나타낸 것이다.
도 4를 참조하면, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하는 로직을 수행하기 이전에 기준 전압 라인(RVL)과 연결된 기준 전압 제어 스위치(SPRE)를 턴-온 시킨다.
기준 전압 라인(RVL)과 연결된 기준 전압 제어 스위치(SPRE)를 턴-온 시킴으로써 기준 전압 라인(RVL)을 초기화한다.
기준 전압 라인(RVL)을 초기화함으로써 기준 전압 라인(RVL)의 전압 변화를 센싱하여 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 검출할 수 있도록 한다.
기준 전압 라인(RVL)의 초기화가 완료되면 기준 전압 제어 스위치(SPRE)를 턴-오프 시켜 기준 전압 라인(RVL)의 전압에 따라 기준 전압 라인(RVL)에 연결된 캐패시터(Cline)가 충전될 수 있도록 한다.
도 5는 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출할 수 있도록 서브픽셀에 인가되는 전압과 신호를 제어하는 과정을 나타낸 것이다.
도 5를 참조하면, 기준 전압 라인(RVL)의 초기화가 완료된 후 각각의 서브픽셀에 인가되는 전압과 신호를 제어하여, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 검출할 수 있도록 한다.
구동 전압 라인(DVL)으로 구동 전압(EVDD)을 인가하고 유기발광다이오드(OLED)의 제2 전극으로 기저 전압(EVSS)을 인가한다.
일 예로, 구동 전압 라인(DVL)으로 26V의 구동 전압(EVDD)을 인가하고 유기발광다이오드(OLED)의 제2 전극으로 6.5V의 기저 전압(EVSS)을 인가할 수 있다.
그리고, 데이터 라인(DL)으로 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 인가하며, 일 예로, 10V의 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 인가할 수 있다.
스캔 트랜지스터(SCT)의 게이트 노드에 하이 레벨의 신호를 인가시켜 스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태가 되도록 하고, 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드에는 로우 레벨의 신호를 인가시켜 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프 상태가 되도록 한다.
스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태이므로 데이터 라인(DL)을 통해 인가된 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')이 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 인가된다.
구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')이 인가됨에 따라 구동 전압(EVDD)이 제2 노드(N2)에 인가된 상태가 된다.
제2 노드(N2)에 전압이 인가된 상태에서 센싱 트랜지스터(SENT)는 오프인 상태이므로, 제2 노드(N2)의 전압이 기준 전압 라인(RVL)으로 인가되지 않게 된다.
그러나, 센싱 트랜지스터(SENT)가 이물 등에 의해 불량인 상태인 경우에는, 제2 노드(N2)에 인가된 전압이 센싱 트랜지스터(SENT)를 통해 기준 전압 라인(RVL)에 인가되어 기준 전압 라인(RVL)에 연결된 캐패시터(Cline)이 충전되게 된다.
도 6은 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출할 수 있도록 서브픽셀을 제어한 후 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 판단하는 과정을 나타낸 것이다.
도 6을 참조하면, 스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태이고 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프 상태에서 데이터 라인(DL)으로 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')이 인가된 후 일정 시간이 경과하면 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다.
센싱부(310)는, 기준 전압 라인(RVL)과 연결된 샘플링 스위치(SAM)을 턴-온 시켜 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다.
제2 노드(N2)에 전압이 인가된 상태에서 센싱 트랜지스터(SENT)는 오프된 상태이므로, 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상인 경우에는 기준 전압 라인(RVL)의 전압 상태는 초기화된 전압 상태가 된다.
센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 경우에는 제2 노드(N2)에 인가된 전압에 의해 충전된 기준 전압 라인(RVL)의 전압이 센싱되게 된다.
센싱부(310)는, 기준 전압 라인(RVL)에서 센싱된 전압값을 불량 검출부(320)로 전달한다.
불량 검출부(320)는, 센싱부(310)에 의해 센싱된 전압을 기설정된 전압과 비교하고 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 판단한다.
불량 검출부(320)는, 센싱된 전압이 기준 전압 라인(RVL)이 초기화된 상태의 전압인 경우이거나 일정 전압 이하인 경우에는 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상인 것으로 판단한다.
불량 검출부(320)는, 센싱된 전압이 기준 전압 라인(RVL)의 초기화 상태의 전압보다 높거나 일정 전압보다 큰 경우에는 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 것으로 판단한다.
불량 검출부(320)는, 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 것으로 판단되면 불량으로 판단된 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 메모리(330)에 저장하여 유기발광표시장치(100)의 출하 이후에 발생한 이물 등에 의해 불량인 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 추출할 수 있도록 한다.
도 7은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)가 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하는 과정에서 서브픽셀에 인가되는 전압과 신호의 타이밍을 나타낸 것이다.
도 7을 참조하면, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 검출을 위해 기준 전압 라인(RVL)을 초기화하는 구간(701)과, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 검출을 위한 로직을 수행하는 구간(702)과, 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 판단하는 구간(703)으로 구분될 수 있다.
기준 전압 라인(RVL)을 초기화하는 구간(701)에서 구동 전압 라인(DVL)으로 26V의 구동 전압(EVDD)을 인가하고 유기발광다이오드(OLED)의 제2 전극으로 6.5V의 기저 전압(EVSS)을 인가한다.
그리고, 데이터 라인(DL)으로 10V의 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 인가한다.
스캔 트랜지스터(SCT)의 게이트 노드에 하이 레벨의 신호를 인가하여 스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태가 되도록 하고, 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드에는 로우 레벨의 신호를 인가하여 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프 상태가 되도록 한다.
이때, 스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태가 되는 시점에 기준 전압 라인(RVL)에 연결된 기준 전압 제어 스위치(SPRE)를 턴-온 시켜 기준 전압 라인(RVL)을 초기화한다.
또는, 스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태가 되기 이전에 기준 전압 제어 스위치(SPRE)를 턴-온 시켜 기준 전압 라인(RVL)을 초기화할 수도 있다.
센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하는 로직을 수행하는 구간(702)에서, 서브픽셀에 인가된 전압과 온 상태인 스캔 트랜지스터(SCT)에 의해 센싱 트랜지스터(SENT)와 연결된 제2 노드(N2)에 전압이 인가되게 된다.
그리고, 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상인지 여부에 따라 센싱 트랜지스터(SENT)와 연결된 기준 전압 라인(RVL)의 전압이 변화하게 된다.
예를 들어, 센싱 트랜지스터(SENT)가 정상인 경우에는 기준 전압 라인(RVL)의 전압이 초기화된 상태의 전압 상태로 유지된다(Vsen_정상).
센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 경우에는 제2 노드(N2)에 인가된 전압에 의해 기준 전압 라인(RVL)의 전압이 상승하게 된다(Vsen_비정상).
센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인지 여부를 판단하는 구간(703)에서 기준 전압 라인(RVL)과 연결된 샘플링 스위치(SAM)를 턴-온 시켜 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다.
센싱 트랜지스터(SENT)가 정상인 경우에는 기준 전압 라인(RVL)의 초기화 상태의 전압이 센싱되나, 불량인 경우에는 제2 노드(N2)의 전압에 의해 상승된 전압이 센싱되게 된다.
따라서, 기준 전압 라인(RVL)의 전압 센싱을 통해 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 판단할 수 있으며, 각 서브픽셀에 인가되는 전압과 신호를 통해 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 검출 로직을 수행함으로써 불량인 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 정확하게 추출할 수 있다.
그리고, 불량으로 판단된 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 메모리(330)에 저장된 좌표와 비교하고 메모리(330)에 저장된 좌표를 갱신함으로써, 진행성으로 발생한 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출할 수 있도록 한다.
또한, 추출된 좌표를 이용하여 센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 서브픽셀의 리페어(Repair)에 이용할 수 있도록 한다.
도 8은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)에서 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출하는 과정을 나타낸 것이다.
도 8을 참조하면, 기준 전압 라인(RVL)을 초기화하고(S800), 센싱 트랜지스터(SENT)를 턴-오프 시켜 센싱 트랜지스터(SENT)가 오프 상태가 되도록 한다(S810).
이후, 데이터 라인(DL)으로 불량 검출용 데이터 전압(Vdata')을 인가하고(S820), 스캔 트랜지스터(SCT)를 턴-온 시켜 스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태가 되도록 한다(S830).
스캔 트랜지스터(SCT)가 온 상태가 되고 기설정된 시간이 경과하면 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱한다(S840).
센싱된 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 기준 전압 라인(RVL)의 초기화 상태의 전압 또는 기설정된 전압과 비교하고 비교 결과에 따라 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량 여부를 판단한다.
센싱 트랜지스터(SENT)가 불량인 것으로 판단되면(S850) 불량인 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 갱신한다(S860).
이를 통해, 이물 등에 의해 불량 상태인 센싱 트랜지스터(SENT)를 검출하고 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 추출할 수 있도록 한다.
따라서, 유기발광표시장치(100)가 출하된 이후에 발생하는 센싱 트랜지스터(SENT)의 불량을 검출할 수 있도록 하며, 불량인 센싱 트랜지스터(SENT)가 배치된 서브픽셀의 좌표를 갱신함에 따라 서브픽셀의 리페어(Repair)가 용이하도록 하는 이점을 제공한다.
이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 유기발광표시장치 110: 유기발광표시패널
120: 게이트 드라이버 130: 데이터 드라이버
140: 컨트롤러 310: 센싱부
320: 불량 검출부 330: 메모리
340: 기준 전압 제어부

Claims (14)

  1. 유기발광다이오드;
    상기 유기발광다이오드와 구동 전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 구동 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터에 데이터 전압이 인가되는 제1 노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결된 스캔 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터와 상기 유기발광다이오드가 연결되는 제2 노드와 기준 전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터; 및
    상기 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압이 인가되고 상기 스캔 트랜지스터가 온 상태이며 상기 센싱 트랜지스터가 오프 상태인 구간에서 상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 센싱부
    를 포함하는 유기발광표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 센싱부에 의해 센싱된 상기 기준 전압 라인의 전압과 기설정된 전압을 비교하고 비교 결과에 따라 상기 센싱 트랜지스터의 불량 여부를 판단하는 불량 검출부를 더 포함하는 유기발광표시장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 센싱 트랜지스터가 불량인 화소의 좌표를 저장하는 메모리를 더 포함하는 유기발광표시장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 불량 검출부는,
    상기 센싱 트랜지스터가 불량인 것으로 판단되면 불량으로 판단된 센싱 트랜지스터가 배치된 화소의 좌표를 상기 메모리에 저장된 좌표와 비교하고 상기 메모리에 저장된 좌표를 갱신하는 유기발광표시장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 기준 전압 라인에 연결된 기준 전압 제어 스위치를 더 포함하고,
    상기 기준 전압 제어 스위치는,
    상기 센싱부가 상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하기 이전에 턴-온 되어 상기 기준 전압 라인을 초기화한 후 턴-오프 되는 유기발광표시장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 기준 전압 제어 스위치는,
    상기 센싱 트랜지스터가 오프 상태이고 상기 스캔 트랜지스터가 온 상태가 되는 시점에 턴-온 되어 상기 기준 전압 라인을 초기화한 후 턴-오프 되는 유기발광표시장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 기준 전압 라인에 연결된 샘플링 스위치를 더 포함하고,
    상기 센싱부는,
    상기 데이터 라인으로 상기 불량 검출용 데이터 전압이 인가되고 상기 스캔 트랜지스터가 온 상태가 된 후 기설정된 시간이 경과하면 상기 샘플링 스위치를 턴-온 시켜 상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 유기발광표시장치.
  8. 기준 전압 라인과 연결된 기준 전압 제어 스위치를 턴-온 시켜 상기 기준 전압 라인을 초기화하는 단계;
    상기 기준 전압 라인과 연결된 센싱 트랜지스터를 턴-오프 하는 단계;
    데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압을 인가하고 스캔 트랜지스터를 턴-온 하는 단계; 및
    상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 단계
    를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 단계는,
    상기 스캔 트랜지스터가 턴-온 되고 기설정된 시간이 경과하면 상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 단계; 및
    상기 센싱된 전압이 기설정된 전압보다 크면 상기 센싱 트랜지스터가 불량인 것으로 판단하는 단계를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 센싱 트랜지스터가 불량인 것으로 판단되면 상기 센싱 트랜지스터가 배치된 화소의 좌표를 메모리에 저장하는 단계를 더 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법.
  11. 데이터 라인으로 불량 검출용 데이터 전압이 인가되고 구동 트랜지스터의 제1 노드와 상기 데이터 라인 사이에 연결된 스캔 트랜지스터가 온 상태이며 상기 구동 트랜지스터의 제2 노드와 기준 전압 라인 사이에 연결된 센싱 트랜지스터가 오프 상태인 구간에서 상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 센싱부;
    상기 센싱부에 의해 센싱된 전압과 기설정된 전압을 비교하고 비교 결과에 기초하여 상기 센싱 트랜지스터가 불량인지 여부를 판단하는 불량 검출부; 및
    상기 불량 검출부에 의해 불량으로 검출된 상기 센싱 트랜지스터가 배치된 화소의 좌표를 저장하는 메모리
    를 포함하는 데이터 드라이버.
  12. 제11항에 있어서,
    상기 기준 전압 라인과 연결된 기준 전압 제어 스위치를 더 포함하고,
    상기 기준 전압 제어 스위치는,
    상기 센싱부가 상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하기 이전에 턴-온 되어 상기 기준 전압 라인을 초기화한 후 턴-오프 되는 데이터 드라이버.
  13. 제11항에 있어서,
    상기 기준 전압 라인과 연결된 샘플링 스위치를 더 포함하고,
    상기 센싱부는,
    상기 센싱 트랜지스터가 오프 상태이고 상기 스캔 트랜지스터가 온 상태가 된 후 기설정된 시간이 경과하면 상기 샘플링 스위치를 턴-온 시켜 상기 기준 전압 라인의 전압을 센싱하는 데이터 드라이버.
  14. 제11항에 있어서,
    상기 불량 검출부는,
    불량으로 검출된 센싱 트랜지스터가 배치된 화소의 좌표를 상기 메모리에 저장된 좌표와 비교하고 상기 메모리에 저장된 좌표를 갱신하는 데이터 드라이버.
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