KR20150000211A

KR20150000211A - 터치스크린패널 자동 검사장치 및 방법

Info

Publication number: KR20150000211A
Application number: KR20130072376A
Authority: KR
Inventors: 송영조
Original assignee: (주)엔시스
Priority date: 2013-06-24
Filing date: 2013-06-24
Publication date: 2015-01-02
Also published as: KR101515887B1

Abstract

본 발명은 터치스크린패널(TSP) 생산라인에서 TSP 모델 변경에 따른 택타임(T/T) 요구를 충족시킬 수 있도록 검사 구성을 용이하게 변경할 수 있는 터치스크린패널 자동 검사장치 및 방법에 관한 것이다. 본 발명의 장치는, 회전가능한 인덱스 테이블; 상기 인덱스 테이블에 배치되어 테스트할 테스트스크린패널(TSP)을 로딩하고 로딩된 TSP의 접속 커넥터에 핀을 접촉하여 드라이버 칩에 펌웨어를 탑재(Fusing)시키며 테스트 신호를 인가할 수 있도록 된 테스트 베드; 상기 테스트 베드에 TSP를 로딩/언로딩하기 위한 로딩/언로딩 존; 상기 테스트 베드에 탑재된 TSP에 펌웨어를 퓨징하기 위한 퓨징 존; 상기 테스트 베드에 탑재된 TSP에 터치 검사 머신으로 터치를 인가하여 터치 및 드래그 기능을 시험하기 위한 터치 검사 존; 상기 터치 검사결과를 해당 TSP에 마킹 머신으로 표시하기 위한 마킹 존; 및 사용자의 조작에 따라 검사가 시작되면, 상기 인덱스 테이블을 존 단위로 회전시키고 상기 테스트 베드에 로딩된 TSP에 펌웨어를 퓨징시키고 퓨징이 완료되면 소정의 터치 패턴이나 드래그 패턴에 따라 상기 터치 검사 머신을 제어하여 터치 검사를 수행하며, 터치 검사가 완료되면 검사 결과에 따라 해당 TSP에 마킹하도록 상기 마킹 머신을 제어하는 컨트롤러로 구성된다.

Description

터치스크린패널 자동 검사장치 및 방법{TOUCH SCREEN PANEL TEST APPARATUS AND METHOD }

본 발명은 터치스크린 자동 검사장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 터치스크린패널(TSP) 생산라인에서 TSP 모델 변경에 따른 택타임(T/T) 요구를 충족시킬 수 있도록 검사 구성을 용이하게 변경할 수 있는 터치스크린패널 자동 검사장치 및 방법에 관한 것이다.

일반적으로, 터치 스크린 패널(Touch Screen Panel; TSP)은 손으로 접촉(touch)하면 그 위치를 입력받도록 하는 특수한 입력장치를 장착한 화면으로서, 키보드를 사용하지 않고 화면(스크린)에 나타난 문자나 특정 위치에 사람의 손 또는 물체가 닿으면, 그 위치를 파악하여 저장된 소프트웨어에 의해 특정 처리를 할 수 있도록 하는 것이다.

이러한 터치 스크린 패널은 LCD 모니터의 화면에 터치패널(touch panel)을 부가한 것으로서, 터치패널은 적외선을 사용한 광학식과, 폴리에스테르 필름에 ITO(인듐산화 주석)막을 피복한 투명 도전막의 접점을 사용하는 투명전극 방식, 스테인리스 강선을 투명 도전성 필름에 묻은 투명 도전성 필름 방식, 정전용량의 변화를 검출하는 정전용량 방식, 패널에 닿은 손끝의 압력을 패널 주변에 배치한 압력센서에 대한 힘의 배분으로부터 위치를 감지하는 방식 등이 있다.

따라서 터치패널을 장착한 화면에 미리 나타낸 문자나 그림 정보를 손으로 접촉하면, 접촉한 화면의 위치에 따라 사용자가 선택한 사항이 무엇인지를 파악하고 이에 대응하는 명령을 컴퓨터로 처리하도록 하여, 아주 쉽게 자신이 원하는 정보를 얻을 수 있도록 할 수 있다.

이러한 터치 스크린 패널의 제조공정에서는 터치패널의 동작이 정확히 이루어지는지 즉, 터치 자체를 인식하는지 여부와, 터치 위치(좌표)를 오류 없이 인식하는지 여부에 대한 양부 검사가 필수적이다.

터치 스크린 패널(TSP)을 검사하기 위하여 종래에는 도 1에 도시된 바와 같이, 조립라인에서 조립되어 흘러온 TSP를 제1 검사원이 검사라인으로 로딩 및 1차 외관검사를 수향하고, 제2 검사원이 펌웨어를 다운로드시키며, 제3 검사원이 터치검사를 수행하고, 제4 검사원이 검사결과를 마킹 및 2차 외관검사를 수행한 후 검사완료된 TSP를 배출하였다. 이와 같이 라인 배치방식으로 배열된 종래의 TSP 검사라인은 적어도 4명의 검사원과 8m 이상의 검사라인이 요청되어 생산비용이 많이 소요되는 문제점이 있다.

이러한 문제점을 해소하기 위하여 자동으로 터치패널의 양부를 검사하는 검사장치가 공개특허 제2010-0077298호 "터치패널 자동검사장치"호 개시되었다. 상기 공개특허는 수평이동수단을 이용하여 검사봉을 X축과 Y축 방향으로 이동시켜 검사하는 방식이다.

종래의 TSP 자동검사장치는 모든 구성이 고정되어 시험대상인 TSP의 모델이 변경될 경우에 해당 모델에 맞는 자동검사장치로 교체해야 하므로 모델 변경에 따른 검사라인 구성에 시간과 비용이 많이 드는 문제점이 있다. 특히, TSP 모델 변경에 따른 택타임(T/T)을 맞추기 위해 검사라인을 증설하거나 변경하는 등 전체 검사라인에 대한 재배치가 요구되어 시간과 비용 손실이 발생하였다.

본 발명은 상기와 같은 종래의 문제점을 해소하기 위해 제안된 것으로, 본 발명의 목적은 터치스크린패널(TSP) 생산라인에서 TSP 모델 변경에 따른 택타임(T/T) 요구를 충족시킬 수 있도록 검사 구성을 용이하게 변경할 수 있는 터치스크린패널 자동 검사장치 및 방법을 제공하는 것이다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 장치는, 회전가능한 인덱스 테이블; 상기 인덱스 테이블에 배치되어 테스트할 테스트스크린패널(TSP)을 로딩하고 로딩된 TSP의 접속 커넥터에 핀을 접촉하여 드라이버 칩에 펌웨어를 탑재(Fusing)시키며 테스트 신호를 인가할 수 있도록 된 테스트 베드; 상기 테스트 베드에 TSP를 로딩/언로딩하기 위한 로딩/언로딩 존; 상기 테스트 베드에 탑재된 TSP에 펌웨어를 퓨징하기 위한 퓨징 존; 상기 테스트 베드에 탑재된 TSP에 터치 검사 머신으로 터치를 인가하여 터치 및 드래그 기능을 시험하기 위한 터치 검사 존; 상기 터치 검사결과를 해당 TSP에 마킹 머신으로 표시하기 위한 마킹 존; 및 사용자의 조작에 따라 검사가 시작되면, 상기 인덱스 테이블을 존 단위로 회전시키고 상기 테스트 베드에 로딩된 TSP에 펌웨어를 퓨징시키고 퓨징이 완료되면 소정의 터치 패턴이나 드래그 패턴에 따라 상기 터치 검사 머신을 제어하여 터치 검사를 수행하며, 터치 검사가 완료되면 검사 결과에 따라 해당 TSP에 마킹하도록 상기 마킹 머신을 제어하는 컨트롤러를 포함하는 것을 특징으로 한다.

또한 상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 방법은, 로딩/언로딩 존에서 테스트할 TSP를 테스트 베드에 로딩하고 검사를 시작하는 단계; 상기 테스트 베드의 컨택 유닛을 하강하여 TSP의 구동칩에 핀을 접속한 후 펌웨어를 퓨징하기 시작하는 단계; 퓨징하면서 인덱스 테이블을 회전시켜 퓨징 존에 안착시키는 단계; 퓨징이 완료되면 상기 인덱스 테이블을 회전시켜 검사 존에 안착시키고 터치 검사 머신을 작동시켜 터치 검사하는 단계; 터치 검사가 완료되면, 상기 인덱스 테이블을 회전시켜 마킹 존에 안착시키고 검사결과를 마킹하는 단계; 및 마킹이 완료되면, 상기 인덱스 테이블을 회전시켜 다시 로딩/언로딩 존에 안착시킨 후 검사가 완료된 TSP를 언로딩하는 단계를 포함한다.

본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사장치는 종래의 라인 배치(Batch)형 검사라인과 비교할 경우에 라인 길이를 대폭 줄일 수 있어 검사라인이 차지하는 공간을 줄일 수 있고, 검사인원을 대략 1/4 정도로 축소하여 생산비용을 크게 줄일 수 있는 효과가 있다. 더욱이 대부분의 검사공정이 유지비용이 많이 드는 클린 룸에서 이루어지는 것을 감안할 경우, 검사라인이 차지하는 공간을 줄일 경우 클린 룸 유지비용도 크게 줄일 수 있다.

또한 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사장치는 TSP 생산 모델 변경에 따라 택/타임(Tact/Time; T/T)이 변경될 경우에 Zone을 가변하거나 새로 추가하고, 지그를 교체하거나 새로 추가하며, 검사장치를 추가하는 등 다양한 구성 변경을 통해 신속하게 T/T을 충족시킬 수 있도록 신속하게 검사라인을 변경할 수 있는 장점이 있다.

도 1은 종래의 터치스크린패널 검사라인의 예를 도시한 개략도,
도 2는 본 발명에 따른 터치스크린패널 검사 라인의 예를 도시한 개략도,
도 3은 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 개념을 도시한 개략도,
도 4는 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 개략 사시도,
도 5는 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 절차를 도시한 순서도,
도 6은 본 발명에 따라 로딩/언로딩 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도,
도 7은 본 발명에 따라 퓨징 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도,
도 8은 본 발명에 따라 터치 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도,
도 9는 본 발명에 따라 마킹 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도,
도 10은 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 구성 블럭도,
도 11은 도 10에 도시된 테스트 베드를 도시한 개략도,
도 12는 도 10에 도시된 터치 검사 머신의 개략 구성도,
도 13은 도 10에 도시된 마킹 머신의 개략 구성도,
도 14는 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 운영 화면의 예,
도 15는 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 관리 화면의 예이다.

본 발명과 본 발명의 실시에 의해 달성되는 기술적 과제는 다음에서 설명하는 본 발명의 바람직한 실시예들에 의하여 보다 명확해질 것이다. 다음의 실시예들은 단지 본 발명을 설명하기 위하여 예시된 것에 불과하며, 본 발명의 범위를 제한하기 위한 것은 아니다.

도 2는 본 발명에 따른 터치스크린패널 검사 라인의 예를 도시한 개략도이다.

본 발명에 따른 터치스크린패널 검사 라인의 예는 도 2에 도시된 바와 같이, 프레임(101)에 지지되며 회전 가능한 인덱스 테이블(102) 위에 적어도 4개 이상의 존(Zone)이 탑재된 복수의 자동검사장치(100-1,100-2)를 이용하여 각 한명의 검사원(52)이 TSP 조립라인에서 흘러온 터치스크린패널을 본 발명의 자동검사장치(100-1,100-2)에 로딩하고 퓨징(Fusing), 터치 검사(Tuch Inspection), 마킹(Marking) 등과 같은 일련의 과정을 거쳐 검사를 완료한 후 검사 완료된 TSP를 언로딩하여 배출할 수 있도록 되어 있다.

도 2를 참조하면, 관리자 PC(30)는 랜(LAN;32)을 통해 각 검사자 PC(50)와 연결되어 있고, 각 검사자 PC(50)는 해당 라인(Line1 또는 Line2)의 PLC(40) 및 자동검사장치(100-1,100-2)와 각각 연결되어 있다. 각 검사장치(100-1,100-2)는 검사기1 내지 검사기4의 스테이지로 되어 있으며, 바람직하게는 4개의 검사기 스테이지는 로딩/언로딩 존, 퓨징 존, 터치검사 존, 마킹 존으로 구현될 수 있다.

이러한 본 발명의 터치스크린패널 검사 라인을 종래의 라인 배치(Batch)형 검사라인과 비교할 경우에 라인 길이를 대폭 줄일 수 있어 검사라인이 차지하는 공간을 줄일 수 있고, 검사인원을 대략 1/4 정도로 축소하여 생산비용을 크게 줄일 수 있는 효과가 있다. 더욱이 대부분의 검사공정이 유지비용이 많이 드는 클린 룸에서 이루어지는 것을 감안할 경우, 검사라인이 차지하는 공간을 줄일 경우 클린 룸 유지비용도 크게 줄일 수 있다.

도 3은 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 설계 개념을 도시한 개략도이다.

본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치(100)는 도 3에 도시된 바와 같이, TSP 모델 변경에 따라 택/타임(Tact/Time; T/T)이 변경될 경우(S1)에 Zone을 가변하거나 새로 추가하고, 지그를 교체하거나 새로 추가하며, 검사장치를 추가하는 등 다양한 검사구성 변경(S2)을 통해 T/T을 만족시켜 고객이 요구하는 생산량을 충족(S3)시키도록 된 것이다.

도 4는 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 기본형을 도시한 개략 사시도이고, 도 5는 본 발명에 따른 기본형 장치를 이용하여 터치스크린패널을 자동으로 검사하는 절차를 도시한 순서도이다.

본 발명의 실시예에 따른 기본형 터치스크린패널 자동 검사 장치(100)는 도 4에 도시된 바와 같이, 프레임(101)에 지지되는 회전가능한 인덱스 테이블(102)과, 인덱스 테이블(102)의 4방향에 배치되어 테스트할 N개의 TSP를 로딩하고 로딩된 TSP의 접속 커넥터에 핀을 접촉하여 드라이버 칩에 펌웨어를 탑재(Fusing)시키며 테스트 신호를 인가할 수 있도록 된 테스트 베드(110)와, 테스트 베드(110)에 N개의 TSP(10)를 로딩/언로딩하기 위한 로딩/언로딩 존(Z1)과, 테스트 베드(110)에 탑재된 N개의 TSP(10)에 펌웨어를 동시에 퓨징하기 위한 퓨징 존(Z2)과, 테스트 베드(110)에 탑재된 N개의 TSP에 동시에 타점방식이나 드래그 방식으로 터치 및 드래그 기능을 시험하기 위한 터치 검사존(Z3)과, 터치 검사결과를 해당 TSP(10)에 동시에 표시하기 위한 마킹 존(Z4)과, 검사자와 관리자의 조작에 따라 전체 검사과정을 자동으로 처리하기 위한 컨트롤러(103)로 이루어지고, 터치 검사존(Z3)에는 터치 검사 머신(120)이 설치되어 있고, 마킹 존(Z4)에는 마킹 머신(130)이 설치되어 있다.

이와 같은 본 발명의 터치스크린패널 자동 검사 장치(100)를 이용하여 터치스크린패널(10)을 검사하는 절차는 도 5에 도시된 바와 같이, 로딩/언로딩 존(Z1)에서 테스트할 TSP(10)를 테스트 베드(110)에 로딩하고 검사를 시작하는 단계(S101)와, 컨택 실린더 유닛을 하강하여 TSP의 구동칩에 핀을 접속한 후 펌웨어를 퓨징하기 시작하는 단계(S102)와, 퓨징하면서 인덱스 테이블(102)을 90도 회전시켜 퓨징 존에 안착시키는 단계(S103)와, 퓨징이 완료되면 인덱스 테이블(102)을 90도 회전시켜 검사 존에 안착시키고 터치 검사 머신(120)을 작동시켜 터치 검사하는 단계(S104,S105)와, 터치 검사가 완료되면 인덱스 테이블(102)을 90도 회전시켜 마킹 존(Z4)에 안착시키고 검사결과를 마킹하는 단계(S106,S107)와, 마킹이 완료되면 인덱스 테이블(102)을 90도 회전시켜 다시 로딩/언로딩 존(Z1)에 안착시킨 후 검사가 완료된 TSP를 언로딩하는 단계(S108,S109)로 구성된다.

도 6은 본 발명에 따라 로딩/언로딩 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도이다.

도 6을 참조하면, 로딩/온로딩 존에서 테스트할 셀(TSP)이 존재할 경우에 셀을 로딩한 후 스타트를 조작하면 실린더가 다운되어 로딩된 셀과 테스트 지그의 전기적인 접촉이 이루어진다(S201~S204). 테스트가 완료된 상태이면, 로딩된 셀을 퓨징 존으로 회전시키기 위해 인덱스를 90도 회전시키고, 마킹을 거쳐 새로 도달된 셀들에 대한 테스트가 종료되면 스톱을 조작하여 실린더를 업시키고 테스트 완료된 셀을 언로딩한다(S205~S209).

도 7은 본 발명에 따라 퓨징 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도이다.

도 7을 참조하면, 스타트가 된 후 인덱스 회전이 완료되면, 퓨징(Fusing)을 시작하고, 퓨징이 정상적으로 완료되면 채널별 퓨징 결과를 저장한다(S301~S306). 만일, 퓨징시 에러가 발생되면 소정 횟수(예컨대, 2회) 반복하여 시도하고, 계속 에러가 발생될 경우에는 해당 셀은 퓨징 에러로 기록하고 적색 LED를 점등한다(S304,S305). 채널별 퓨징 결과를 바탕으로 터치 검사 존에서의 검사 진행여부를 판단한다(S307).

도 8은 본 발명에 따라 터치 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도이다.

도 8을 참조하면, 스타트가 된 후 인덱스 회전이 완료되면, 채널 별 퓨징 완료여부를 판단하여 퓨징이 정상적으로 완료된 채널에 대해서만 터치검사를 진행한다(S401,S402).

N개의 TSP에 대해 동시에 타점방식이나 드래그 방식으로 터치검사를 시작하고, 검사가 정상적으로 완료되면 채널별 검사 결과를 저장한다(S403~S407). 만일, 터치검사 에러가 발생되면 소정 횟수(예컨대, 2회) 반복하여 시도하고, 계속 에러가 발생될 경우에는 해당 셀은 검사 에러로 기록하고 적색 LED를 점등한다(S405,S406). 채널별 검사 결과를 바탕으로 마킹 존에서의 마킹 진행여부를 판단한다(S408).

도 9는 본 발명에 따라 마킹 존에서의 동작 절차를 도시한 순서도이다.

도 9를 참조하면, 스타트가 된 후 인덱스 회전이 완료되면, 채널 별 테스트 완료여부를 판단하여 퓨징과 테스트가 정상적으로 완료된 채널에 대해서만 마킹을 동시에 진행한다(S501,S502). 마킹을 완료하면, 채널별 검사 결과를 저장하고, 정상 채널일 경우에는 Green LED를 점등하고 불량 채널일 경우에는 적색 LED를 점등하여 표시한다(S503,504).

도 10은 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 구성 블럭도이다.

본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치(100)는 도 10에 도시된 바와 같이, 네트워크(32)에 연결된 검사자 PC(50)가 PLC(40)에 연결되어 있고, PLC(40)가 인덱스 모터(105)와 테스트 베드(110), 터치 검사 머신(20), 마킹 머신(130)을 컨트롤하는 구조로 되어 있다.

도 10을 참조하면, 본 발명에 따른 자동 검사 장치는 조작을 입력받고 검사장치의 동작상태나 검사내용을 표시하는 사용자 인터페이스(UI)를 제공하는 검사자 PC(50)와, 제어신호에 따라 인덱스 테이블(102)을 회전시키는 인덱스 모터(105)와, 인덱스 테이블(102)에 배치되어 N개의 TSP를 로딩/온로딩하고 각 TSP의 드라이버에 신호를 인가하기 위한 테스트 베드(110)와, 제어신호에 따라 TSP의 스크린을 터치 혹은 드래그하여 TSP를 테스트하기 위한 터치 검사 머신(120)과, 제어신호에 따라 검사결과를 해당 TSP에 표시하기 위한 마킹 머신(130)과, 검사자의 조작이나 관리자의 조작에 따라 테스트 베드(110)에 로딩된 TSP(10)에 펌웨어를 퓨징시키고 퓨징이 완료되면 소정의 터치 패턴이나 드래그 패턴에 따라 터치 검사 머신(120)을 제어하여 터치 검사를 수행하며, 터치 검사가 완료되면 검사 결과에 따라 해당 TSP에 마킹하도록 마킹 머신(130)을 제어하는 PLC 컨트롤러(40)로 구성된다.

도 11은 본 발명의 검사 장치에 사용되는 테스트 베드를 도시한 개략도이다.

본 발명의 검사 장치에 사용되는 테스트 베드(110)는 도 11에 도시된 바와 같이, 컨텍트 유니트(110a)와 장탈착 가능한 지그(110b)로 구성된다. 컨텍트 유니트(110a)는 TSP의 구동칩과 접촉되는 핀 블럭(113)과, 모델에 대응하여 핀 블록의 위치를 이동시키기 위한 리니어 모터(LM;112)와, 제어신호에 따라 핀 블럭을 업/다운 구동시켜 TSP의 드라이버칩과 전기적인 접촉이 이루어지게 하는 업/다운 실린더(111)로 구성되고, 지그(110b)는 지그 메인 베이스(115) 위에 장/찰착할 수 있는 지그 서브 베이스(114)들로 이루어진다. 지그 서브 베이스는 테스트모델의 T/T에 따라 개별적으로 증설할 수 있다.

도 12는 본 발명의 검사 장치에 사용되는 터치 검사 존의 개략 구성도이다.

본 발명의 검사 장치에 사용되는 터치 검사 존(Z3)은 도 12에 도시된 바와 같이, 테스트 베드(110)에 탑재된 N개의 TSP(10)의 스크린을 동시에 터치 및 드래그하기 위한 터치 검사 머신(120)으로 이루어지는데, 터치 검사 머신(120)은 다수의 터치봉과, 제어신호에 따라 터치봉을 업/다운시키기 위한 업/다운 실린더(121)와, 터치봉을 X축 방향으로 동시에 이동시키기 위한 X축 로봇(122)과, 터치봉을 Y축방향으로 동시에 이동시키기 위한 Y축 로봇(123)으로 구성되어 컨트롤러(103)의 제어신호에 따라 미리 정해진 터치 검사 패턴이나 드래그 검사 패턴에 따라 각각의 TSP(10)를 검사한다.

도 13은 본 발명의 검사 장치에 사용되는 마킹 존의 개략 구성도이다.

본 발명의 검사 장치에 사용되는 마킹 존(Z4)은 도 13에 도시된 바와 같이, 테스트 베드(110)에 탑재된 N개의 TSP(10)에 검사 결과를 마킹하기 위한 마킹 머신(130)으로 이루어지는데, 마킹 머신(130)은 다수의 마킹 펜(131)과, 마킹 펜(131)을 지지하면서 업/다운시키기 위한 업/다운 실린더(132)와, 마킹 펜을 Y축방향으로 이동시키기 위한 Y축 로봇(133)으로 구성되어 컨트롤러(103)의 제어신호에 따라 터치 검사 결과(양,부 기호)를 해당 TSP(10)에 동시에 마킹한다.

도 14는 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 운영 화면의 예이고, 도 15는 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치의 관리 화면의 예이다.

본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치(100)는 도 14에 도시된 바와 같이, 사용자 인터페이스 화면에 생산중인 TSP의 모델명과, 검사기(회로) 번호와, 인덱스 존별 진행상태와, 얌품 검사수량과, 불량검사 수량을 표시한다.

또한 본 발명에 따른 터치스크린패널 자동 검사 장치는 도 15에 도시된 바와 같이, 관리자 PC(30)의 화면 상에 생산라인별 모니터링 화면을 표시하는데, 생산라인별 모니터링 화면에는 모델명과, 검사자 성명, 양품수량과 불량 검사수량, 데이터 출력 아이콘 등이 표시되고, 데이터 출력을 클릭하면 해당 라인의 검사 시작시간과 종료시간 모델 검사자 검사 총수량, 양품수량, 불량품수량 등이 출력된다. 이러한 운영화면과 관리화면은 하나의 예에 불과하고, 필요에 따라 운영 소프트웨어를 변경하여 다양한 화면과 통계 등을 제공할 수 있다.

이상에서 본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나, 본 기술분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다.

10: TSP 22: 조립라인
24: 검사라인 30: 관리자 PC
40: PLC 50: 검사원
100: TSP 자동검사장치 101: 프레임
102: 인덱스 테이블
105: 인덱스 모터 110,110-1~110-4: 테스트 베드
111: 업/다운 실린더 112: 리니어 모터
113: 컨텍트 핀 블럭 115: 퓨징부
120: 터치 검사 머신 121: 업/다운 실린더
122: X-Y 로봇 130: 마킹 머신
131: 마킹 펜 132: 업/다운 실린더
133: Y-로봇

Claims

터치스크린패널(TSP) 생산 라인에 있어서,
외관검사 및 로딩, 펌웨어 다운로드, 터치 기능 검사, 마킹, 이물질 외관검사를 통합 인덱스 방식으로 제공하는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
터치스크린패널(TSP) 생산 라인에 있어서,
터치스크린패널(TSP) 모델별, 공정별로 서로 다른 택타임(T/T)을 맞춰주기 위해 인덱스의 존을 더하거나 빼서 구성하거나 기능별 존 할당을 조정하거나 TSP 거치 지그의 수량을 조절하여 유연하게 구성할 수 있는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
터치스크린패널(TSP) 생산 라인에 있어서,
터치스크린패널 모델별 검사정보를 데이터화하여 등록 및 저장하여 두고, 생산 TSP 모델 변경시 소프트웨어만으로 쉽게 검사 라인을 변경할 수 있고,
통합관리 소프트웨어에 의해 사무실의 관리자가 각 생산라인의 생산현황을 한눈으로 확인할 수 있으며, 설비에서 진행된 생산관련 데이터의 통계자료를 원클릭으로 자료화 가능하도록 된 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
회전가능한 인덱스 테이블;
상기 인덱스 테이블에 배치되어 테스트할 N개의 테스트스크린패널(TSP)을 로딩하고 로딩된 TSP의 접속 커넥터에 핀을 접촉하여 드라이버 칩에 펌웨어를 탑재(Fusing)시키며 테스트 신호를 인가할 수 있도록 된 테스트 베드;
상기 테스트 베드에 N개의 TSP를 로딩/언로딩하기 위한 로딩/언로딩 존;
상기 테스트 베드에 탑재된 N개의 TSP에 펌웨어를 동시에 퓨징하기 위한 퓨징 존;
상기 테스트 베드에 탑재된 N개의 TSP에 터치 검사 머신으로 터치나 드래그를 동시에 인가하여 터치 및 드래그 기능을 시험하기 위한 터치 검사 존;
상기 터치 검사결과를 해당 TSP에 마킹 머신으로 동시에 표시하기 위한 마킹 존; 및
사용자의 조작에 따라 검사가 시작되면, 상기 인덱스 테이블을 존 단위로 회전시키고 상기 테스트 베드에 로딩된 N개의 TSP에 펌웨어를 동시에 퓨징시키고 퓨징이 완료되면 소정의 터치 패턴이나 드래그 패턴에 따라 상기 터치 검사 머신을 제어하여 터치 검사를 동시에 수행하며, 터치 검사가 완료되면 검사 결과에 따라 해당 TSP에 마킹하도록 상기 마킹 머신을 제어하는 컨트롤러를 포함하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
제4항에 있어서, 상기 자동 검사장치는
상기 컨트롤러가 유/무선 네트워크를 통해 호스트 장치와 연결되어 운영 및 관리 프로그램에 따라 검사라인을 운영 및 관리할 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 테스트 베드는
테스트할 N개의 TSP를 로딩 혹은 언로딩하기 위한 N개의 지그와,
상기 각 지그에 탑재된 테스트 대상 TSP의 구동칩과 접촉되는 핀 블럭과,
테스트 모델에 대응하여 핀 블록의 위치를 이동시키기 위한 리니어 모터와,
제어신호에 따라 상기 핀 블럭을 업/다운 구동시켜 TSP의 드라이버칩과 전기적인 접촉이 이루어지게 하는 업/다운 실린더로 구성된 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 터치 검사 머신은
다수의 터치봉과,
제어신호에 따라 상기 터치봉을 업/다운시키기 위한 업/다운 실린더와,
상기 터치봉을 X축 방향으로 동시에 이동시키기 위한 X축 로봇과,
상기 터치봉을 Y축방향으로 동시에 이동시키기 위한 Y축 로봇으로 구성되어 상기 컨트롤러의 제어신호에 따라 미리 정해진 터치 검사 패턴이나 드래그 검사 패턴에 따라 각각의 TSP를 동시에 검사하는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 마킹 머신은
다수의 마킹 펜과, 상기 마킹 펜을 지지하면서 업/다운시키기 위한 업/다운 실린더와, 상기 마킹 펜을 Y축방향으로 이동시키기 위한 Y축 로봇으로 구성되어
상기 컨트롤러의 제어신호에 따라 터치 검사 결과를 해당 TSP에 동시에 마킹하는 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
제4항 또는 제5항에 있어서, 상기 터치스크린패널 자동 검사장치는
상기 터치 검사 존이나 마킹 존을 증설하거나 상기 테스트 베드의 지그를 증설하여 검사속도를 향상시킬 수 있도록 된 것을 특징으로 하는 터치스크린패널 자동 검사장치.
로딩/언로딩 존에서 테스트할 N개의 TSP를 테스트 베드에 로딩하고 검사를 시작하는 단계;
상기 테스트 베드의 컨택 유닛을 하강하여 TSP의 구동칩에 핀을 접속한 후 N개의 TSP에 펌웨어를 동시에 퓨징하기 시작하는 단계;
퓨징하면서 인덱스 테이블을 회전시켜 퓨징 존에 안착시키는 단계;
퓨징이 완료되면 상기 인덱스 테이블을 회전시켜 검사 존에 안착시키고, 터치 검사 머신을 작동시켜 동시에 N개의 TSP를 동시에 터치 및 드래그 검사하는 단계;
터치 검사가 완료되면, 상기 인덱스 테이블을 회전시켜 마킹 존에 안착시키고 N개의 TSP에 검사결과를 동시에 마킹하는 단계; 및
마킹이 완료되면, 상기 인덱스 테이블을 회전시켜 다시 로딩/언로딩 존에 안착시킨 후 검사가 완료된 TSP를 언로딩하는 단계를 포함하는 터치스크린패널 자동 검사방법.