JP6032661B2 - 容量性タッチスクリーンをテストするための方法及び装置並びに移動体端末 - Google Patents

Description

〔関連出願の相互参照〕
本願は、2012年6月29日に出願された、発明の名称を“METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CAPACITIVE TOUCHSCREEN, AND MOBILE TERMINAL”とする、中国特許出願第201210222802.8号の優先権を主張するとともに、参照により、その全体がここに組み込まれる。

本発明は、タッチスクリーン技術の分野に関し、特に、容量性タッチスクリーンをテストするための方法及び装置並びに移動体端末に関する。

電子デバイスのマンマシンインタラクション装置として、タッチスクリーンがますます広く採用されている。

従来では、電子デバイスのタッチスクリーンは、電子デバイスが工場から出荷前にテストされる必要がある。例えば、迅速にテストを実行するために、電子デバイスは、一般的には、単に人間のタッチによってテストされ、かつ、人間のタッチのトラックがリアルタイムに表示される。もし前記トラックが、人間のタッチのトラックと一致する場合、前記タッチスクリーンが正常であることを示し、もし前記トラックが人間のタッチのトラックと一致しない場合、例えば、断線の現象が存在するか又はトラックがドリフトしており、前記タッチスクリーンのITOにおいて断線回路又は短絡回路の問題が存在することを示している。

しかしながら、もし前述のテスト方法が使用される場合、前記タッチスクリーンが不良品であるか否かは、手動で判定される必要があり、テスト方法のテスト効率の悪化の原因となる。

本発明の実施形態は、容量性タッチスクリーンをテストするための方法及び装置並びに移動体端末を提供し、前記タッチスクリーンのテスト効率を改善することができる。

前述の目的を達成させるために、本発明の実施形態は、以下の技術的解決策を使用する。

一態様に基づいて、本発明の態様は、容量性タッチスクリーンをテストするための方法を提供し、前記方法は、
プリセット領域におけるタッチオペレーションへのタッチスクリーンのレスポンスに基づいて、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得するステップと、
もし前記レスポンス情報セットがプリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記タッチスクリーンの動作状態は異常であると判定するステップと
を含み、
前記プリセットレスポンス情報セットは、前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるときの前記プリセット領域における前記タッチオペレーションへの前記レスポンスである。

別の態様に基づいて、本発明の態様は、容量性タッチスクリーンをテストするための装置をさらに提供し、前記装置は、タッチスクリーン及びプロセッサを含み、
前記タッチスクリーンは、プリセット領域におけるタッチオペレーションに応答し、かつ、前記プロセッサにレスポンス情報を送信するように構成され、かつ、
前記プロセッサは、前記タッチスクリーンにより送信された前記レスポンス情報を受信し、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得し、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットがプリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記タッチスクリーンの動作状態は異常であるであると判定するように構成される。

さらに別の態様に基づいて、本発明の態様は、容量性タッチスクリーンをテストするための前述の装置を備える移動体端末をさらに提供する。

本発明の実施形態に提供される容量性タッチスクリーンをテストするための方法及び装置並びに移動体端末において、タッチオペレーションに対するタッチスクリーン上で取得されたレスポンス情報セットと、プリセットレスポンス情報セットとに基づいて、タッチスクリーンの動作状態が正常であるか否かが、手動の判定を必要とすることなく、自動的に判定することができ、それによって、タッチスクリーンのテスト効率が改善される。

本発明の実施形態又は従来技術における技術的解決策をより明確に説明するために、以下に、実施形態又は従来技術を説明するために必要な添付図面を簡潔に紹介する。当然ながら、以下の説明における添付図面は、本発明の幾つかの実施形態を示しているに過ぎず、当業者は、創造的努力なしにこれらの添付図面からさらに他の図面を導き出すことができる。
本発明の実施形態に基づく容量性タッチスクリーンをテストするための方法の概略的なフローチャートである。 投射型容量性タッチスクリーンの概略構造図である。 本発明の実施形態に基づく容量性タッチスクリーンをテストするための別の方法の概略的なフローチャートである。 本発明の実施形態に基づく容量性タッチスクリーンをテストするためのさらに別の方法の概略的なフローチャートである。 タッチスクリーンの表示領域及び非表示領域の概略図である。 本発明の実施形態に基づく容量性タッチスクリーンをテストするための装置の概略構造図である。

本発明の実施形態における添付図面を参照して、本発明の実施形態における技術的解決策を以下に明瞭かつ十分に説する。当然ながら、説明される実施形態は、本発明の実施形態の全てというよりはむしろ単なる一部に過ぎない。創造的努力なしに本発明の実施形態に基づいて当業者によって得られる他の全ての実施形態は、本発明の保護範囲であるものとする。

〔実施形態１〕
図1に示されるように、本発明の実施形態は、容量性タッチスクリーンをテストする方法を提供する。前記方法は、タッチスクリーンが統合されている電子デバイスに適用されてもよく、前記電子デバイスは具体的には、例えば携帯電話又はPADであってもよい。前記方法は、以下のステップを含む。

101.プリセット領域におけるタッチオペレーションへの前記タッチスクリーンのレスポンスに基づいて、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得する。

102.前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットがプリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記タッチスクリーンの動作状態は異常であると判定する。

前記タッチスクリーンがプリセット領域においてタッチオペレーションを受信した後、もし前記プリセット領域内にあり、かつ、前記タッチオペレーションに対応する前記タッチポイントが、短絡又は切断されていない場合、前記プリセット領域におけるタッチポイントの容量値は変化する。ここで、前記プリセット領域におけるタッチポイントは、割り込み信号及び前記タッチポイントの座標位置の少なくとも1を電子デバイスに通知する。このように、前記電子デバイスは、前記タッチオペレーションへの前記タッチスクリーンのレスポンスに基づいて、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得する。

前記電子デバイスは、プリセットレスポンス情報セットを記憶し、その結果、前記電子デバイスは、前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるか否かをテストすることができる。前記プリセットレスポンス情報セットは、前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるときの前記プリセット領域における前記タッチオペレーションへの前記レスポンスである。このように、もし、前記タッチオペレーションに対して電子デバイスによって取得された前記レスポンス情報セットが、前記プリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記電子デバイスは、前記タッチスクリーンの動作状態が異常であると判定する。

これに対応して、もし、前記タッチオペレーションに対する前記電子デバイスによって取得された前記レスポンス情報セットが、前記プリセットレスポンス情報セットと一致する場合、前記電子デバイスは、前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であると判定する。

本発明の実施形態において提供される容量性タッチスクリーンをテストするための方法において、プリセット領域におけるタッチオペレーションに対して前記タッチスクリーン上で取得されるレスポンス情報セットが、プリセットレスポンス情報セットと一致するか否かが判定され、かつ、前記判定の結果に基づいて、前記タッチスクリーンの動作状態が正常であるか否かが、手動の判定を要求することなく自動的に判定されることが可能であり、それによって、前記タッチスクリーンのテスト効率を改善する。

〔実施形態２〕
この実施形態は、実施例として投射型容量性タッチスクリーンの構造を使用して説明される。図2に示されるように、水平及び垂直電極、つまり、図2に示されているX軸及びY軸上の電極が、投射型容量性タッチスクリーンのガラス表面上に構成されており、各行の電極が相互に接続され、かつ、各列の電極もまた相互に接続されている。指がタッチ領域に触れるとき、前記タッチ領域のX軸及びY軸上の電子デバイスは、相互キャパシタンスを生成する。前記タッチポイントの容量値が変化した後、前記タッチスクリーンは、電子デバイスに割り込み信号を送信してもよく、又は、前記タッチスクリーンは、X軸及びY軸上の前記電極の位置に基づいて、前記タッチスクリーン上のタッチポイントの位置を電子デバイスに通知する。当然ながら、前記タッチスクリーンは、さらに、前記割り込み信号及び前記タッチポイントの位置を前記電子デバイスに通知してもよい。

各行の電極が相互に接続され、かつ、各列の電極が相互に接続されているので、タッチオペレーションに対応するプリセット領域は、各X軸上の少なくとも1の電極と、各Y軸上の少なくとも1の電極とをカバーできる。

図3に示されるように、本発明の実施形態は、容量性タッチスクリーンをテストする方法を提供する。前記方法は、前記タッチスクリーンの表示領域の動作状態が異常でありかつ故障タイプである位置を決定するために使用されてもよい。タッチオペレーションは、プリセット領域に沿って実行され、前記プリセット領域は、前記タッチスクリーンの前記表示領域内である。前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上のタッチポイントの座標位置を含む。前記方法は、以下のステップを含む。

301.前記プリセット領域におけるタッチオペレーションへの前記タッチスクリーンのレスポンスに基づいて、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得する。前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上のタッチポイントの位置を含む。

302.前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、プリセットレスポンス情報セットと一致するか否かを判定する。

もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、前記プリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、ステップ303が実行される。

もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、前記プリセットレスポンス情報セットと一致する場合、ステップ305が実行される。

303.前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セット及び前記プリセットレスポンス情報セットの共通集合セットが取得された後、前記プリセットレスポンス情報セットにおける前記共通集合セットの補集合セットを獲得し、かつ、前記補集合セットに含まれるタッチポイントの位置に対応するタッチポイントが非接続であると判定する。

304.もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、最初のタッチポイントの位置を含む場合、前記最初のタッチポイントの前記位置に対応するタッチポイントが短絡されていると判定する。前記最初のタッチポイントの位置は、偶数のタッチポイントと同一位置であり、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる。

305.前記タッチスクリーンの表示領域の動作状態が正常であると判定する。

図2に示されるように、前記タッチスクリーンは、例示的に9のX軸及び9のY軸を含む。プリセット領域は、前記タッチスクリーンの最も左側に沿って、前記タッチスクリーンの最下端まで下に移動し、かつ次いで、左から右へ前記タッチスクリーンの最も右側まで移動することによって定義される。前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるとき、前記タッチオペレーションに対する前記タッチスクリーンのレスポンス情報が18のタッチポイントを含む場合、前記プリセットレスポンス情報セットは、18のタッチポイントの位置情報を含む。

もし、X軸の第2行の電極A及び電極Bが切断されており、X軸の第3行の電極が接続されることができない場合、キャパシタンス変化は、電極C及び電極Dの間で発生しえず、前記タッチスクリーンは、前記電極C及び電極Dによって構成されるタッチポイントのキャパシタンス変化を感知できず、かつ、割り込み信号を電子デバイスに通知せず、かつ、前記電子デバイスはまた、前記タッチスクリーンによって通知される割り込み信号を受信できない。従って、前記タッチスクリーンの前記表示領域の動作状態が異常であり、かつ、故障タイプである位置を決定するために、修理を容易にするために、前記プリセット領域におけるタッチオペレーションに対する前記タッチスクリーン上のレスポンス情報セット及びプリセットレスポンス情報セットの共通集合セットが、まず取得される必要がある。このように、前記プリセットレスポンス情報セットにおける前記共通集合セットの補集合セットに含まれるタッチポイントの位置に対応するタッチポイントが非接続であると判定される。

もし、X軸の第4行の電極Eと、X軸の第5行の電極Fとが短絡した場合、第4行の電極が相互に接続され、かつ、第5行の電極も相互に接続されるので、この場合、前記タッチオペレーションが、X軸の第4行の最も左側の電極Mに移動するとき、電極MとY軸の第1列にある電極Lとの間のキャパシタンス変化だけでなく、X軸の第5行の最も左側の電極Nと電極Lとの間のキャパシタンス変化もまた発生する。同様に、前記タッチオペレーションが、X軸の第5行の最も左側の電極Nに移動するとき、前記電極Nと前記電極Lとの間のキャパシタンス変化だけでなく、前記電極Mと前記電極Lとの間のキャパシタンス変化も発生する。この場合、前記タッチスクリーンは、前記電極M及び前記電極Lによって構成されるタッチポイントの位置と、前記電極N及び前記電極Lによって構成されるタッチポイントの位置とをそれぞれ、つまり2回、電子デバイスに通知する。従って、前記タッチオペレーションへのレスポンスに含まれる最初のタッチポイントの位置について、前記最初のタッチポイントの位置は、偶数のタッチポイントと同一位置であり、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる。

もし、前記タッチスクリーンの前記表示領域が切断され又は短絡していると、電子デバイスが判定した場合、警報を与える手段又はタッチスクリーン上に異常パターンを表示させる手段等が使用されてもよく、この実施形態において特に限定されるものではない。

当然ながら、もし、前記タッチスクリーンの前記表示領域の動作状況が正常であるか否かをテストするのみである場合、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに対するタッチスクリーンであり、かつ、前記電子デバイスによって取得される前記レスポンス情報メッセージは、応答されるタッチポイントの数、及び、応答されるタッチポイントの位置の少なくとも1つを含む必要があるのみである。この場合、電子デバイスは、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが前記プリセットレスポンス情報セットと一致するか否かを判定する必要があるのみである。もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが前記プリセットレスポンス情報セットと一致する場合、前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であり、かつ、もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが前記プリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、つまり、2セットに含まれるタッチポイントの数及び/又は前記タッチポイントの位置は異なる場合、前記タッチスクリーンの動作状態は、異常である。

なお、この実施形態において、例示的なプリセット領域が、前記タッチスクリーンの最も左側に沿って、前記タッチスクリーンの最下端まで下に移動し、かつ次いで、左から右へ前記スクリーンの最も右側に移動することによって定義されている。しかしながら、前記プリセット領域が各行の少なくとも1の電極及び各列の少なくとも1の電極をカバーすることができるのであれば、前記プリセット領域は別の領域であってもよく、この実施形態において特に限定されるものではない。

さらに、本発明の実施形態において、ステップ303とステップ304との間の連続的な関係は必要ではない。前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報が取得された後、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報がプリセットレスポンス情報を一致しないと判定されるのであれば、前記タッチスクリーンが短絡されているか否かがまず判定されてもよく、又は、前記タッチスクリーンが非接続であるか否かがまず判定されてもよく、これは、本発明の実施形態において特に限定されない。

本発明の実施形態で提供される容量性タッチスクリーンをテストする方法において、プリセット領域におけるタッチオペレーションに対する前記タッチスクリーン上の取得されたレスポンス情報セットと、プリセットレスポンス情報セットに含まれるタッチポイントの数及び/又はタッチポイントの座標位置とに基づいて、前記タッチスクリーンの動作状態が正常であるか否かが、自動的に判定されることができ、かつ、例えば切断された回路又は短絡回路を有する位置のような前記タッチスクリーンの故障位置は、手動の判定を要求することなく、前記タッチポイントの座標位置に基づいて判定されることができ、それによって、前記タッチスクリーンのテスト効率を改善する。

〔実施形態３〕
図4に示されるように、非表示領域におけるタッチキーの動作状況が正常であるか否かをテストするために、本発明の実施形態は、容量性タッチスクリーンをテストするための方法をさらに提供する。この実施形態において、前記非表示領域は、電子デバイス上をタッチするために使用されることができるキーである。もし、前記タッチキーの位置が外部表示領域である場合、プリセット領域は非表示領域内にあり、具体的には、非表示領域におけるタッチキーである。プリセットレスポンス情報セットは、前記表示領域におけるプリセットタッチポイントの位置を含む。前記方法は、以下を含む。

401.タッチオペレーションへの前記タッチスクリーンのレスポンスに基づいて前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得する。ここで、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットは、前記タッチオペレーションに応答する表示領域におけるタッチポイントの位置を含む。

402.前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる前記タッチポイントの前記位置が、前記プリセットレスポンス情報セットに含まれる前記タッチポイントの前記位置と一致しない場合、前記タッチスクリーンの非表示領域は異常に動作すると判定する。

図5に示されるように、前記非表示領域51におけるタッチキー511に対するプリセットレスポンス情報セットは、表示領域52におけるタッチポイントGの座標位置であり、非表示領域51におけるタッチキー512に対するプリセットレスポンス情報セットは、前記表示領域52におけるタッチポイントHの座標位置であり、かつ、非表示領域51におけるタッチキー513に対するプリセットレスポンス情報セットは、前記表示領域52におけるタッチポイントJの座標位置である。もし、タッチキー511、512及び513の動作状態が正常である場合、前記表示領域52におけるタッチポイントG、H及びJは、3のキーがタッチされるときに応答する。もし前記タッチキー511が非接続である場合、電子デバイスによって取得される前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報は、前記タッチポイントGの座標位置を含まない。これに対応して、もし前記タッチキー511及び前記タッチキー512が非接続である場合、同一の問題が発生する。もし前記タッチキー511及びタッチキー512が短絡される場合、前記電子デバイスによって取得されるタッチオペレーションに対するレスポンス情報は、前記タッチポイントG及びHの座標位置を含み、従って、タッチキー511及びタッチキー512が短絡していると判定されてもよい。

この実施形態において、タッチスクリーンの表示領域が、電子デバイスのタッチキーをテストするために使用される。もし、タッチオペレーションがタッチキー上で実行される場合、前記タッチスクリーンの前記表示領域において応答するタッチポイントの座標位置が、プリセットレスポンス情報セットにおけるタッチポイントの座標位置と一致し、タッチキーが正常に動作すると判定され、かつ、もし前記タッチスクリーンの前記表示領域において応答するタッチポイントの座標位置が、前記プリセットタッチポイントの座標位置と一致しない場合、前記タッチキーの動作状態は異常であると判定される。

本発明の実施形態で提供されるタッチスクリーンをテストするための方法において、プリセット領域におけるタッチオペレーションに対する前記タッチスクリーン上の取得されたレスポンス情報セットと、プリセットレスポンス情報セットに含まれるタッチポイントの座標位置とに基づいて、前記タッチスクリーン上のタッチキーの動作状態が正常であるか否かを、手動の判定を要求することなく自動的に判定されることができ、それによって、前記タッチスクリーンのテスト効率を改善する。

〔実施形態４〕
図6に示されるように、本発明の実施形態は、容量性タッチスクリーンをテストするための装置をさらに提供する。タッチスクリーンは、前記装置に統合され、かつ、前記装置は、タッチスクリーン61及びプロセッサ62を備える。

前記タッチスクリーン61は、プリセット領域におけるタッチオペレーションに応答し、かつ、レスポンス情報を前記プロセッサ62に送信するように構成される。

前記プロセッサ62は、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得するために、前記タッチスクリーン61によって送信された前記レスポンス情報を受信し、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットがプリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記タッチスクリーンの動作状態は異常であると判定するように構成される。

前記タッチスクリーン61が前記タッチオペレーションを受信した後、もし、タッチ領域にあり、かつ、前記タッチオペレーションによってタッチされるタッチポイントが、短絡、又は切断されている場合、前記タッチ領域におけるタッチポイントの容量値は変化し、かつ、前記タッチスクリーン61は、割り込み信号及び前記タッチポイントの座標位置の少なくとも1をプロセッサ62に通知する。前記タッチスクリーン上の複数のタッチポイントが、タッチオペレーションによって順にタッチされてもよいので、前記プロセッサ62は、タッチオペレーションへのタッチスクリーンのレスポンスに基づいて前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットを取得する。

前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるか否かをテストするために、前記装置60は、前記プリセットレスポンス情報セットを記憶する。このように、もし、前記プロセッサ62によって取得されるタッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、前記プリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記プロセッサ62は、タッチスクリーンの動作状態が異常であると判定する。

もし、前記プロセッサ62によって取得された前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、前記プリセットレスポンス情報セットと一致する場合、前記プロセッサ62は、前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であると判定する。

具体的には、前記タッチスクリーンの表示領域の動作状態が正常であるか否かがテストされるとき、前記プリセット領域は、タッチスクリーンの前記表示領域内にある。

前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットは、タッチポイントの数及びタッチポイントの位置の少なくとも1つを含み、ここで、前記タッチポイントは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上にある。

前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるとき、前記プリセットレスポンス情報セットは、タッチポイントの数及びタッチポイントの位置の少なくとも1つを含む。ここで、前記タッチポイントは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上にある。

前記タッチスクリーンの前記表示領域の動作状態が正常であるか否かをテストするのみである場合、タッチスクリーンの動作状態が異常であるか否かをプロセッサ62が判定することは、特に以下のことを含む。つまり、
もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる前記タッチポイントの数及び/又は前記タッチポイントの位置が、前記プリセットレスポンス情報セットに含まれるタッチポイントの数及び/又はタッチポイントの位置と一致しない場合、前記タッチスクリーン61の動作状態が異常であると判定する。

前記タッチスクリーン61の表示領域の動作状態が異常であり、かつ、故障タイプである位置をテストする場合、前記タッチスクリーン61の前記表示領域の動作状態が異常であるとプロセッサ62が判定することは、特に以下のことを含む。つまり、
前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セット及び前記プリセットレスポンス情報セットの共通集合セットが取得された後、前記プリセットレスポンス情報セットにおける前記共通集合セットの補集合セットを取得し、かつ、前記補集合セットに含まれるタッチポイントの位置に対応しているタッチポイントが切断されていると判定することと、
もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、最初のタッチポイントの位置を含む場合、前記最初のタッチポイントの位置に対応するタッチポイントが短絡されていると判定することとを含み、前記最初のタッチポイントの前記位置は、偶数のタッチポイントと同一位置であり、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる。

前記タッチスクリーン61の非表示領域におけるタッチキーの動作状態が正常であるか否かがテストされるとき、前記プリセット領域は、前記タッチスクリーンの非表示領域であり、かつ、特に任意のタッチキーであってもよい。

前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットは、前記タッチオペレーションに応答する表示領域におけるタッチポイントの位置を含む。

前記プリセットレスポンス情報セットは、前記表示領域におけるプリセットタッチポイントの位置を含む。

前記プロセッサ62が、前記タッチスクリーン61の非表示領域の動作状態が異常であると判定することは、具体的には、もし前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる前記タッチポイントの位置が、前記プリセットレスポンス情報セットに含まれる前記タッチポイントの位置と一致しない場合、前記タッチスクリーンの前記非表示領域が異常に動作すると判定することを含む。

本発明の実施形態で提供される容量性タッチスクリーンをテストするための装置において、プロセッサによって取得されるタッチオペレーションに対するタッチスクリーン上のレスポンス情報セットと、プリセットレスポンス情報セットに含まれるタッチポイントの数及び/又はタッチポイントの座標位置とに基づいて、前記プロセッサは、手動の判定を必要とすることなく、タッチスクリーン上のタッチキーの動作状態が正常であるか否かを自動的に判定することが可能であり、それによって、タッチスクリーンのテスト効率を改善する。

なお、本発明の前述の実施形態に提供される容量性タッチスクリーンをテストするための装置は、特にタッチスクリーンが統合された電子デバイス、例えば携帯電話又はコンピュータであってもよい。

本発明の実施形態は、前述の実施形態において提供された容量性タッチスクリーンをテストするための装置を備える移動体端末をさらに提供し、かつ、その具体的な構造は省略する。

当業者は、方法の実施形態のステップの全て又は一部は、関連するハードウェアに指示するプログラムによって実施されてもよいことを理解することができる。前記プログラムは、コンピュータ読み取り可能な記憶媒体に記憶されてもよい。プログラムが実行されると、方法の実施形態のステップが実行される。前記記憶媒体は、例えば、ROM、RAM、磁気ディスク、又は光ディスク等の、プログラムコードを記憶することができる任意の媒体を含む。

前述の説明は、単に本発明の特定の実装方法であるが、本発明の保護範囲を限定することを意図していない。本発明で開示された技術的範囲内で当業者により容易に理解される任意の変更又は置換は、本発明の保護範囲内に入るものとする。従って、本発明の保護範囲は、特許請求の範囲の保護範囲に従うものとする。

51 非表示領域
52 表示領域
511 タッチキー
512 タッチキー
513 タッチキー
G タッチポイント
H タッチポイント
J タッチポイント
60 装置
61 タッチスクリーン
62 プロセッサ

Claims (7)

1. 容量性タッチスクリーンをテストするための方法であって、前記方法は、
   プリセット領域におけるタッチオペレーションへのタッチスクリーンのレスポンスに基づいて、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得するステップと、
   もし前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットがプリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記タッチスクリーンの動作状態は異常であると判定するステップと
   を含み、
   前記プリセットレスポンス情報セットは、前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるときの前記プリセット領域における前記タッチオペレーションへの前記レスポンスであり、
   前記プリセット領域は、前記タッチスクリーンの表示領域にあり、かつ、
   前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットは、タッチポイントの数及びタッチポイントの位置の少なくとも1つを含み、前記タッチポイントは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上にあり、
   かつ、
   前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるとき、前記プリセットレスポンス情報セットは、タッチポイントの数及びタッチポイントの位置の少なくとも1つを含み、前記タッチポイントは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上にあり、
   前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セット及び前記プリセットレスポンス情報セットの共通集合セットが取得された後、前記プリセットレスポンス情報セットにおける前記共通集合セットの補集合セットを獲得するステップと、
   前記補集合セットに含まれるタッチポイントの位置に対応するタッチポイントが非接続であると判定するステップと
   をさらに含む、方法。
2. もし前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、最初のタッチポイントの位置を含む場合、前記最初のタッチポイントの前記位置に対応するタッチポイントが短絡していると判定するステップであって、前記最初のタッチポイントの前記位置は、偶数のタッチポイントと同一位置であり、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる、ステップをさらに含む請求項1に記載の方法。
3. 容量性タッチスクリーンをテストするための装置であって、前記装置は、タッチスクリーン及びプロセッサを備え、
   前記タッチスクリーンは、プリセット領域におけるタッチオペレーションに応答し、かつ、前記プロセッサにレスポンス情報を送信するように構成され、かつ、
   前記プロセッサは、前記タッチスクリーンにより送信された前記レスポンス情報を受信し、前記タッチオペレーションに対するレスポンス情報セットを取得し、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットがプリセットレスポンス情報セットと一致しない場合、前記タッチスクリーンの動作状態は異常であるであると判定するように構成され、
   前記プリセット領域は、前記タッチスクリーンの表示領域にあり、
   前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットは、タッチポイントの数及びタッチポイントの位置の少なくとも1つを含み、前記タッチポイントは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上にあり、かつ、
   前記タッチスクリーンの前記動作状態が正常であるとき、前記プリセットレスポンス情報セットは、タッチポイントの数及びタッチポイントの位置の少なくとも1つを含み、前記タッチポイントは、前記プリセット領域における前記タッチオペレーションに応答する前記タッチスクリーン上にあり、
   前記プロセッサは、
   前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セット及び前記プリセットレスポンス情報セットの共通集合セットを取得し、
   前記プリセットレスポンス情報セットにおける前記共通集合セットの補集合セットを獲得し、かつ、
   前記補集合セットに含まれるタッチポイントの位置に対応するタッチポイントが非接続であると判定する
   ようにさらに構成された装置。
4. 前記プロセッサは、もし、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットが、最初のタッチポイントの位置を含む場合、前記最初のタッチポイントの前記位置に対応するタッチポイントが短絡していると判定するようにさらに構成され、前記最初のタッチポイントの前記位置は、偶数のタッチポイントと同一位置であり、かつ、前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットに含まれる、請求項3に記載の装置。
5. 前記プリセット領域は、前記装置の非表示領域であり、
   前記タッチオペレーションに対する前記レスポンス情報セットは、前記タッチオペレーションに応答する表示領域を含み、かつ、
   前記プリセットレスポンス情報セットは、前記表示領域におけるプリセットタッチポイントの位置を含む、
   請求項3に記載の装置。
6. 前記非表示領域は、前記装置上をタッチするために使用されうるキーである、請求項5に記載の装置。
7. 前記装置が移動体端末である、請求項3から６のいずれか一項に記載の装置。

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