KR20140142774A - 엘이디(led)모듈 선별장치 - Google Patents

엘이디(led)모듈 선별장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20140142774A
KR20140142774A KR20130063888A KR20130063888A KR20140142774A KR 20140142774 A KR20140142774 A KR 20140142774A KR 20130063888 A KR20130063888 A KR 20130063888A KR 20130063888 A KR20130063888 A KR 20130063888A KR 20140142774 A KR20140142774 A KR 20140142774A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
led module
power supply
current value
led
sorting
Prior art date
Application number
KR20130063888A
Other languages
English (en)
Inventor
현동훈
오평식
Original Assignee
현동훈
오평식
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 현동훈, 오평식 filed Critical 현동훈
Priority to KR20130063888A priority Critical patent/KR20140142774A/ko
Publication of KR20140142774A publication Critical patent/KR20140142774A/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
    • G01R31/2632Circuits therefor for testing diodes
    • G01R31/2635Testing light-emitting diodes, laser diodes or photodiodes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R19/00Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
    • G01R19/165Indicating that current or voltage is either above or below a predetermined value or within or outside a predetermined range of values
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Led Devices (AREA)

Abstract

본 발명은 LED모듈에 전압값을 일정하게 공급하기 위한 파워서플라이; 상기 파워서플라이의 전원공급단에 연결되며 LED모듈과 전기적 접촉을 이루기 위한 전기접촉단자; 상기 파워서플라이의 전원공급단 일측에 연결 구비되며 LED모듈로부터 전류값을 검출하기 위한 전류측정기; 상기 전류측정기로부터 LED모듈의 검출된 전류값을 입력받아 기설정된 기준값과의 비교 연산을 통해 검출된 전류값에 따라 LED모듈을 등급 판정하기 위한 컨트롤러부; 상기 컨트롤러부에 의해 등급 판정된 상태를 디스플레이하기 위한 디스플레이부; 를 포함하여 이루어지는 것으로서, 저가로 구현할 수 있고 제조사에서 제조된 이후 각 산업현장에 유통되어 취급되는 LED모듈에 대해 중소기업이나 개인기업 등지에서도 등급별 분류 및 선별작업을 간단히 실시할 수 있을 뿐만 아니라 동시에 LED모듈에 대한 신뢰성 검사까지 동시에 수행할 수 있는 LED모듈 선별장치 및 선별방법에 관한 것이다.

Description

엘이디(LED)모듈 선별장치 및 선별방법{APPARATUS AND METHOD FOR SORTING LED MODULE}
본 발명은 제조사에서 제조된 이후 각 산업현장에 유통되어 취급되는 LED모듈에 대해 중소기업이나 개인기업 등지에서도 등급별 분류 및 선별작업을 간단히 실시할 수 있도록 하기 위한 LED모듈 선별장치 및 선별방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 간단한 구성으로 이루어지고 저가 구현이 가능하며 전류값의 차이를 이용하는 간단한 방식으로 LED모듈을 등급별로 분류할 수 있도록 한 LED모듈 선별장치 및 선별방법에 관한 것이다.
일반적으로 LED모듈은 다수의 LED칩들이 형성된 웨이퍼(wafer)를 접착시트에 접착하는 접착공정과, 상기 접착시트에 접착된 웨이퍼를 절단하여 LED칩을 각각 개별화하는 소잉(sawing)공정과, 상기 개별화된 LED칩을 접착시트로부터 분리하는 분리공정과, 상기 접착시트로부터 분리된 LED칩을 리드프레임에 본딩하는 본딩공정과, 상기 LED칩을 리드프레임의 접속패드나 와이어를 통해 전기적으로 연결하는 와이어 본딩공정 등을 통해 제조된다.
이러한 LED모듈은 이종 반도체를 PN 접합시켜 제조되어 전자가 가지는 에너지가 직접 빛 에너지로 변환되면서 발광이 일어나는 것으로서, 보다 구체적으로 반도체에 주입된 전자와 정공은 밴드 갭(band gap)을 넘어 접합부에서 재결합하는 과정에서 밴드 갭에 해당하는 에너지가 방출되면서 빛이 나게 되는 것인데, 이때 접합되는 반도체 사이의 밴드 갭에 따라 발광 색상이 결정되므로 이를 잘 이용하게 되면 청색, 녹색, 백색 등 원하는 대로 색상을 조절할 수가 있게 된다.
또한, LED모듈을 제조할 때 밴드 갭의 차이 또는 웨이퍼의 상태에 따라 LED모듈의 특성이 광범위하게 다르게 나타날 수 있다.
이로 인해, 제조된 LED모듈은 성능시험의 테스트를 통해 각각의 등급을 매김으로써 등급별로 분류 및 선별하는 작업이 수행되고 있다.
이렇게 제조된 LED모듈을 등급화시켜 분류 및 선별하는 기술은 적분구 등의 광디텍터를 이용하여 LED모듈에서 방사되는 광에 대해 광특성을 검사 및 검출하는 장치가 사용되고 있으며, 이러한 광특성을 검출하는 LED모듈 선별기를 통해 등급별로 분류된 후 유통되고 있다.
여기서, 광특성은 휘도, 파장, 광속, 광도, 조도, 분광분포, 색온도 등일 수 있다.
하지만, 광특성을 검출하여 테스트하는 종래 LED모듈 선별기를 통해 등급별로 분류된 후 유통되고 있는 LED모듈은 패키징공정 또는 유통과정 중에 충격이나 습기 등의 다양한 외부 요인에 의해 불량품이 발생되거나 등급이 떨어질 수 있음에도 불구하고, 실제 LED모듈을 다양한 제품에 적용하고 있는 각각의 산업현장(특히, 중소기업이나 개인기업)에서는 제조사에서 한번 결정된 등급에만 의존하여 등급별 적용 및 제품화하므로 제품 불량이 발생되거나 제품 효율이 저하될 수밖에 없는 문제점이 있었으며, 이는 각 산업현장에서 생산되는 LED모듈 적용제품 및 제품생산기업에 대한 신뢰성 저하는 물론 제품 불매의 요인이 되기도 한다.
또한, 상술한 적분구 등의 광디텍터를 포함하여 이루어지는 종래 LED모듈 선별기는 상당히 고가 장비이고 구성이 복잡한 것으로서, 대기업인 제조사 이외의 중소기업이나 개인기업 등지에서는 구입 및 사용하기가 매우 힘든 장비이므로 LED모듈 제조사에서 한번 결정된 등급에만 의존하여 등급별로 적용 및 제품화할 수밖에 없는 입장에 있다.
한편, LED모듈을 등급화시켜 분류 및 선별하기 위한 종래 LED모듈 선별기의 선행기술 관련해서는, 국내등록특허 제10-0969975호와 국내공개특허 제10-2012-0103818호 등을 비롯한 다수가 제안되어 있으나, 이들은 모두 상술한 예시에서와 같이 적분구를 이용하여 광특성을 검출함으로써 LED모듈을 등급별로 분류 및 선별하는 방식의 구성을 갖는 것이다.
대한민국 등록특허공보 제10-0969975호
대한민국 공개특허공보 제10-2012-0103818호
본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해소 및 이를 감안하여 안출된 것으로서, 간단한 구성으로 이루어지게 하고 저가로 구현할 수 있으며 전류값의 차이를 이용하는 간단한 방식으로 LED모듈을 등급별로 분류할 수 있도록 한 LED모듈 선별장치 및 선별방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 전류는 광출력에 비례하는 원리를 활용하여 LED모듈로부터 전류값을 측정함에 따라 전류값 차이에 따른 등급별 분류를 가능하게 하는 LED모듈 선별장치 및 선별방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명은 LED모듈을 취급하는 중소기업이나 개인기업 등지에서 쉽게 사용할 수 있도록 하며, 이를 통해 제조사에서 제조된 이후 유통되는 LED모듈에 대해 등급 검사 및 기존 등급 처리에 대한 신뢰성 검사까지 간단히 수행할 수 있도록 하고 LED모듈이 적용되는 다양한 제품에 대해 LED모듈로 인한 생산제품의 불량발생 및 효율저하 문제를 개선할 수 있도록 할 뿐만 아니라 신뢰성을 확보할 수 있도록 하기 위한 LED모듈 선별장치 및 선별방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 LED모듈 선별장치는,
LED모듈에 전압값을 일정하게 공급하기 위한 파워서플라이; 상기 파워서플라이의 전원공급단에 연결되며 LED모듈과 전기적 접촉을 이루기 위한 전기접촉단자; 상기 파워서플라이의 전원공급단 일측에 연결 구비되며 LED모듈로부터 전류값을 검출하기 위한 전류측정기; 상기 전류측정기로부터 LED모듈의 검출된 전류값을 입력받아 기설정된 기준값과의 비교 연산을 통해 검출된 전류값에 따라 LED모듈을 등급 판정하기 위한 컨트롤러부; 상기 컨트롤러부에 의해 등급 판정된 상태를 디스플레이하기 위한 디스플레이부; 를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
바람직하게, 상기 전기접촉단자와 LED모듈과의 전기적 접촉에 따른 용이함 및 안정감을 부여하기 위해 지그가 사용되는 것을 특징으로 한다.
한편, 상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 LED모듈 선별방법은,
LED모듈에 일정한 전압값으로 전압을 공급하는 단계; 상기 전압을 일정하게 공급한 상태에 LED모듈로부터 전류값을 검출해내는 단계; 상기 LED모듈의 검출된 전류값에 대해 기준값과의 비교 연산을 통해 검출된 전류값에 따라 LED모듈을 등급 판정하는 단계; 상기 LED모듈의 등급 판정된 상태를 디스플레이하는 단계; 를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 전류는 광출력에 비례하는 원리를 활용하는 것으로서 LED모듈로부터 검출된 전류값의 차이에 따라 등급별 분류 및 선별을 가능하게 하는 LED모듈 선별장치 및 선별방법을 제공할 수 있다.
특히, 종래 광특성만을 검출하여 테스트하는 기존 장치들에 비해 간단한 구성 및 방식으로 이루어지게 할 수 있는 것으로서 저가의 장치를 구현할 수 있으며, 제조사에서 제조된 이후 각 산업현장에 유통되어 취급되는 LED모듈에 대해 중소기업이나 개인기업 등지에서도 등급별 분류 및 선별작업을 간단히 실시할 수 있을 뿐만 아니라 기존 제조사에서 등급 처리된 LED모듈에 대해 신뢰성을 확인하는 검사까지 동시에 실시할 수 있는 유용한 효과를 달성할 수 있다.
본 발명은 유통되는 완제품의 LED모듈을 취급하는 중소기업이나 개인기업 등지에서 쉽게 사용할 수 있는 것으로서, 자체 등급 처리 및 신뢰성 검사를 수행할 수 있어 LED모듈이 적용되는 다양한 제품에 대해 LED모듈로 인한 생산제품의 불량발생 및 효율저하 문제를 개선할 수 있고 제품 신뢰성을 높일 수 있는 유용한 효과를 달성할 수 있다.
도 1은 본 발명의 실시예에 의한 LED모듈 선별장치를 설명하기 위해 나타낸 구성도.
도 2는 본 발명의 실시예에 의한 LED모듈 선별방법을 설명하기 위해 나타낸 흐름도.
본 발명에 대해 첨부한 도면을 참조하여 바람직한 실시예를 설명하면 다음과 같으며, 이와 같은 상세한 설명을 통해서 본 발명의 목적과 구성 및 그에 따른 특징들을 보다 잘 이해할 수 있게 될 것이다.
본 발명의 실시예에 의한 LED모듈 선별장치(100)는 도 1에 나타낸 바와 같이, 파워서플라이(110), 전기접촉단자(120), 전류측정기(130), 컨트롤러부(140), 디스플레이부(150)를 포함하여 이루어진다.
상기 파워서플라이(110)는 전류값을 검출하고자 하는 LED모듈(1)에 전압값을 일정하게 공급하여주기 위한 것으로서, 보다 안정된 전압 공급을 위해 정전압 레귤레이터가 연결 설치될 수 있다.
상기 전기접촉단자(120)는 파워서플라이(110)의 (+)(-) 전원공급단에 연결 구비되는 것으로서, LED모듈(1) 측과 전기적인 접촉을 이루기 위한 것이다.
상기 전류측정기(130)는 LED모듈(1)로부터 전류값을 검출해내기 위한 것으로서, 파워서플라이(110)의 전원 공급을 위한 전원공급단의 일측, 즉 (+) 전원공급단 측에 연결 구비된다.
이때, 상기 전류측정기(130)는 소수점 셋째자리 또는 넷째자리까지 검출할 수 있는 정도이면 충분하다 할 것이다.
상기 컨트롤러부(140)는 전류측정기(130)로부터 LED모듈(1)의 검출된 전류값을 입력받아 기설정된 기준값과의 비교 연산을 통해 검출된 전류값에 따라 LED모듈(1)의 등급을 판정하기 위한 것이다.
이때, 상기 컨트롤러부(140)는 4개 내지 8개의 등급으로 분류하여 처리할 수 있을 정도이면 충분하다 할 것이며, 검출된 전류값에 따라 LED모듈(1)의 불량 처리도 가능하다 할 것이다.
상기 디스플레이부(150)는 컨트롤러부(140)에서의 제어명령을 통해 LED모듈(1)의 등급 판정된 상태를 디스플레이하기 위한 것이다.
한편, 상기 전기접촉단자(120)와 LED모듈(1)과의 전기적 접촉에 따른 용이함 및 안정감을 부여하기 위해 지그(160)를 사용함이 바람직하다 할 수 있다.
일 예로, 상기 지그(160)는 LED모듈(1)의 안착 배치를 가능하게 하되 LED모듈(1)과의 전기적인 연결을 위한 연결단자가 구비되어 있는 LED안착부(161)와, 상기 LED안착부(161)의 연결단자가 연장되어 노출되며 전기접촉단자(120)의 삽입에 의한 접촉 연결됨을 갖는 접속연결부(162)로 구성될 수 있다.
이때, 상기 지그(160)는 전기접촉단자(120)와 LED모듈(1)과의 전기적인 접촉을 위한 것으로서 LED모듈(1)에 맞는 다양한 형상 및 크기로 구비될 수 있으며, 이동기구(미 도시됨)를 통해 전후 이동 및/또는 상하 이동이 가능하도록 구성될 수도 있다.
덧붙여, LED모듈(1)은 진동피더(미 도시됨) 등을 통해 선별장치(100) 상으로 자동 로딩 및 낱개로 순차 공급되게 함으로써 자동화설비의 구현이 가능한데, 이때에는 지그(160)가 필히 사용된다 할 것이다.
이러한 상술한 구성으로 이루어진 본 발명의 실시예에 의한 LED모듈 선별장치(100)의 동작관계 및 작용을 도 1 및 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
전기접촉단자(120)를 완제품인 LED모듈(1) 측에 전기적으로 접촉시킨 상태에 파워서플라이(110)를 작동시킴으로써 LED모듈(1) 측에 일정한 전압값으로 전압을 공급한다.
이때, LED모듈(1)을 전기접촉단자(120)와 전기적 접촉상태로 연결하기 위해 지그(160)가 사용될 수 있다.
LED모듈(1)에 일정한 전압이 인가되면 전류측정기(130)에서 LED모듈(1)로부터 전류값을 자동 검출하게 되고, 검출된 전류값을 컨트롤러부(140)로 보낸다.
전류측정기(130)로부터 LED모듈(1)에서 발생되는 검출된 전류값을 입력받은 컨트롤러부(140)에서는 LED모듈(1)의 검출된 전류값에 대해 기 설정된 기준값과의 비교 연산을 통해 검출된 전류값에 따라 LED모듈(1)을 등급 판정한다.
또한, 컨트롤러부(140)에서는 LED모듈(1)을 등급 판정함과 더불어 디스플레이부(150)를 통하여 판정된 LED모듈(1)의 등급 상태를 디스플레이한다.
따라서, 본 발명은 전류값의 차이를 이용하는 간단한 방식으로 저가로 구현할 수 있는 LED모듈 선별장치(100)를 제공할 수 있으며, 제조된 완제품의 LED모듈을 취급하는 중소기업이나 개인기업 등지에서도 완제품의 LED모듈에 대해 등급 검사 및 신뢰성 검사를 자체 실시할 수 있음은 물론 간단하게 수행할 수 있고 LED모듈이 적용되는 다양한 생산제품에 대해 LED모듈로 인해 발생될 수 있는 제품불량 및 효율저하 문제까지 개선시킬 수 있는 것이다.
이상에서 설명한 실시예는 본 발명의 바람직한 실시예를 설명한 것에 불과하고, 이러한 실시예에 극히 한정되지 않는다 할 것이며, 본 발명의 기술적 사상과 특허청구범위 내에서 이 기술분야의 당업자에 의하여 다양한 수정과 변형 또는 치환이 이루어질 수 있다 할 것이다.
1: LED모듈 110: 파워서플라이
120: 측정단자 130: 전류측정기
140: 컨트롤러부 150: 디스플레이부
160: 지그

Claims (3)

  1. LED모듈을 등급별로 분류하기 위한 LED모듈 선별장치에 있어서,
    LED모듈에 전압값을 일정하게 공급하기 위한 파워서플라이;
    상기 파워서플라이의 전원공급단에 연결되며 LED모듈과 전기적 접촉을 이루기 위한 전기접촉단자;
    상기 파워서플라이의 전원공급단 일측에 연결 구비되며 LED모듈로부터 전류값을 검출하기 위한 전류측정기;
    상기 전류측정기로부터 LED모듈의 검출된 전류값을 입력받아 기설정된 기준값과의 비교 연산을 통해 검출된 전류값에 따라 LED모듈을 등급 판정하기 위한 컨트롤러부;
    상기 컨트롤러부에 의해 등급 판정된 상태를 디스플레이하기 위한 디스플레이부; 를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 LED모듈 선별장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 전기접촉단자와 LED모듈과의 전기적 접촉에 따른 용이함 및 안정감을 부여하기 위해 지그가 사용되는 것을 특징으로 하는 LED모듈 선별장치.
  3. LED모듈을 등급별로 분류하기 위한 LED모듈 선별방법에 있어서,
    LED모듈에 일정한 전압값으로 전압을 공급하는 단계;
    상기 전압을 일정하게 공급한 상태에 LED모듈로부터 전류값을 검출해내는 단계;
    상기 LED모듈의 검출된 전류값에 대해 기준값과의 비교 연산을 통해 검출된 전류값에 따라 LED모듈을 등급 판정하는 단계;
    상기 LED모듈의 등급 판정된 상태를 디스플레이하는 단계; 를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 하는 LED모듈 선별방법.
KR20130063888A 2013-06-04 2013-06-04 엘이디(led)모듈 선별장치 KR20140142774A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130063888A KR20140142774A (ko) 2013-06-04 2013-06-04 엘이디(led)모듈 선별장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR20130063888A KR20140142774A (ko) 2013-06-04 2013-06-04 엘이디(led)모듈 선별장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20140142774A true KR20140142774A (ko) 2014-12-15

Family

ID=52460103

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR20130063888A KR20140142774A (ko) 2013-06-04 2013-06-04 엘이디(led)모듈 선별장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20140142774A (ko)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112233998A (zh) * 2020-09-27 2021-01-15 佛山市国星半导体技术有限公司 一种led芯片的分档方法
KR20210010217A (ko) * 2019-07-19 2021-01-27 주식회사 디이엔티 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법
KR102244667B1 (ko) * 2019-10-17 2021-04-23 이명종 마이크로 엘이디 픽셀 패키지의 제조 방법 및 이에 의해 제조된 마이크로 엘이디 픽셀 패키지
CN114664702A (zh) * 2022-03-18 2022-06-24 东莞市中麒光电技术有限公司 Led芯片筛选方法及显示屏

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210010217A (ko) * 2019-07-19 2021-01-27 주식회사 디이엔티 디스플레이 패널의 전기 검사장치 및 방법
KR102244667B1 (ko) * 2019-10-17 2021-04-23 이명종 마이크로 엘이디 픽셀 패키지의 제조 방법 및 이에 의해 제조된 마이크로 엘이디 픽셀 패키지
CN112233998A (zh) * 2020-09-27 2021-01-15 佛山市国星半导体技术有限公司 一种led芯片的分档方法
CN112233998B (zh) * 2020-09-27 2024-05-31 佛山市国星半导体技术有限公司 一种led芯片的分档方法
CN114664702A (zh) * 2022-03-18 2022-06-24 东莞市中麒光电技术有限公司 Led芯片筛选方法及显示屏

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9627279B2 (en) Method for removing defective light emitting diode (LED) package from LED package arrary
US20120248335A1 (en) Method and apparatus for inspecting solar cell
KR20110132572A (ko) 전자 디바이스의 개선된 테스트를 위한 시스템 및 방법
JP2012208121A (ja) 発光素子の検査装置及び方法
KR20140142774A (ko) 엘이디(led)모듈 선별장치
US20150015266A1 (en) Multi-functional online testing system for semiconductor light-emitting devices or modules and method thereof
CN110261755B (zh) 一种探针卡、检测装置以及晶圆检测方法
CN104360256A (zh) 一种二极管的光电测试方法
JPS59134841A (ja) 電子部品へのボンデイングのためのオン・ライン検査方法およびシステム
KR101537044B1 (ko) Led 패키지 검사 장치
CN101552313B (zh) 一种磁场激励的led在线检测方法
US20150137709A1 (en) Backlight module and method for detecting electrostatic damage thereof
CN112798923A (zh) 发光二极管晶圆以及发光二极管晶圆检测装置与方法
KR101528887B1 (ko) 발광다이오드 스크리닝 장치 및 방법
CN112098786A (zh) 适用于光通信发光器件的在线综合测试***及方法
KR101447716B1 (ko) 에피웨이퍼의 검사 장치 및 에피웨이퍼의 검사 방법
JP2012503758A (ja) ソーラーモジュールを備える発光素子の測定装置及びその測定方法
CN106057696B (zh) 基于光电分离的二极管光电测试方法
CN214150940U (zh) Mini LED多通道并联测试***
KR101041460B1 (ko) 엘이디 검사장치 및 이를 이용한 엘이디 검사방법
KR20110139812A (ko) 발광 다이오드 칩에 대한 정전 방전 시험 장치 및 양호한 발광 다이오드 칩 선별 방법
TWI278644B (en) Testing method and structure for LEDs in wafer form
KR101097801B1 (ko) 발광다이오드 백라이트 어레이 제조방법
KR101153339B1 (ko) 반도체 발광소자 검사 방법
KR101266510B1 (ko) 하면 접촉식 led 칩 검사 장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application