KR20140108364A - 필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치 및 필터 값 추출기 - Google Patents

필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치 및 필터 값 추출기 Download PDF

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KR20140108364A
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Abstract

본 발명은 터치 감지 장치에 관한 것이다. 본 발명의 터치 감지 장치는 터치 패널, 그리고 터치 패널을 통해 터치를 감지하도록 구성되는 터치 감지기를 포함한다. 터치 감지기는 복수의 감지 라인들을 통해 터치 패널과 각각 연결되는 복수의 감지부들을 포함한다. 복수의 감지부들 각각은, 터치 패널로부터 출력되는 신호에 대응하는 복수의 입력 샘플들 및 복수의 필터 계수들을 연산하여 특정한 타이밍에 유효한 필터 값(filtered value)을 출력하는 필터 값 추출기를 포함한다.

Description

필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치 및 필터 값 추출기{TOUCH SENSE DEVICE INCLUDING FILTERED VALUE EXTRACTOR AND FILTERED VALUE EXTRACTOR}
본 발명은 전자 장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치 및 필터 값 추출기에 관한 것이다.
터치 감지 장치는 외부의 터치를 인식하도록 구성되는 장치이다. 터치 감지 장치는 스마트폰, 스마트 패드, 사용자 단말 등과 같은 다양한 장치들에 사용되고 있으며, 그 활용 범위는 점차 넓어지고 있다. 터치 감지 장치는 외부의 터치에 응답하여 신호를 출력하는 터치 패널 및 터치 패널의 출력 신호에 기반하여 터치가 발생한 위치를 특정하는 터치 감지기를 포함한다.
터치 감지 장치는 터치를 식별하는 방식에 따라 정전식, 감압식, 투명 전극식 등으로 분류된다. 정전식 터치 감지 장치는 멀티 터치가 가능한 이점으로 인해, 가장 널리 사용되고 있다.
터치 감지 장치는 터치 감지의 정밀도를 높이기 위하여 복수의 채널들을 이용하여 감지를 수행한다. 복수의 채널들을 이용한 감지가 수행되면, 복수의 채널들 각각에 필터가 요구된다. 필터의 사이즈는 터치 감지 장치의 복잡도 및 사이즈에 영향을 주며, 감소된 복잡도 및 감소된 사이즈를 갖는 필터에 대한 연구가 요구되고 있다.
본 발명의 목적은 감소된 복잡도 및 감소된 사이즈를 갖고 필터 값(filtered value)을 추출하는 필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치 및 필터 값 추출기를 제공하는 데에 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 터치 감지 장치는, 터치 패널; 그리고 상기 터치 패널을 제어하고, 상기 터치 패널을 통해 터치를 감지하도록 구성되는 터치 감지기를 포함하고, 상기 터치 감지기는 복수의 감지 라인들을 통해 상기 터치 패널과 각각 연결되는 복수의 감지부들을 포함하고, 상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 터치 패널로부터 출력되는 신호에 대응하는 복수의 입력 샘플들 및 복수의 필터 계수들을 연산하여 특정한 타이밍에 유효한 필터 값(filtered value)을 출력하는 필터 값 추출기를 포함한다.
실시 예로서, 상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 복수의 입력 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 연산하여 상기 특정한 타이밍과 다른 제 2 타이밍에 유효한 제 2 필터 값(filtered value)을 출력하는 제 2 필터 값 추출기를 포함한다.
실시 예로서, 상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 필터 값 및 상기 제 2 필터 값을 연산하여 최종 필터 값을 출력하도록 구성되는 후속 처리기를 더 포함한다.
실시 예로서, 상기 필터 값 추출기는, 클럭 신호에 응답하여, 상기 복수의 입력 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 곱셈기; 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 곱셈기의 출력 신호 및 지연 신호를 연산하는 덧셈기; 그리고 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 지연 신호를 출력하는 지연기를 포함한다.
실시 예로서, 상기 지연기의 출력 신호는 상기 복수의 필터 계수들이 한 번씩 선택되어 상기 복수의 입력 샘플들과 연산된 때에 유효한 필터 값에 대응한다.
실시 예로서, 상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 복수의 입력 샘플들 중 첫 번째 샘플을 무시하고, 두 번째 샘플부터 출력하도록 구성되는 샘플 드롭기(sample dropper); 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 샘플 드롭기로부터 출력되는 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 제 2 곱셈기; 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 곱셈기의 출력 신호 및 제 2 지연 신호를 연산하는 제 2 덧셈기; 그리고 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 제 2 지연 신호를 출력하는 제 2 지연기를 더 포함한다.
실시 예로서, 상기 제 2 지연기의 출력 신호는 상기 지연기의 출력 신호가 유효한 필터 값에 대응하는 때보다 늦은 타이밍에 유효한 필터 값에 대응한다.
실시 예로서, 상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 지연기의 출력 신호가 유효한 때부터 상기 지연기의 출력 신호 및 상기 제 2 지연기의 출력 신호를 순차적으로 선택하도록 구성되는 멀티플렉서; 그리고 상기 지연기의 출력 신호가 유효한 때부터 상기 멀티플렉서의 출력 신호들을 연산하여 최종 필터 값으로 출력하도록 구성되는 후속 처리기를 더 포함한다.
실시 예로서, 상기 후속 처리기는 상기 멀티플렉서의 출력 신호들의 평균값을 계산하도록 구성된다.
본 발명의 실시 예에 따른 필터 값 추출기는, 클럭 신호에 응답하여, 복수의 입력 샘플들 및 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 곱셈기; 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 곱셈기의 출력 신호 및 지연 신호를 연산하는 덧셈기; 그리고 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 지연 신호를 출력하는 지연기를 포함한다.
실시 예로서, 상기 지연기의 출력 신호는 특정한 타이밍에 유효한 필터 값을 갖는다.
실시 예로서, 상기 유효한 필터 값은 상기 복수의 입력 샘플들이 상기 복수의 필터 계수들에 대응하는 필터에 의해 필터링된 값이다.
실시 예로서, 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 복수의 입력 샘플들 중 첫 번째 샘플을 무시하고, 두 번째 샘플부터 출력하도록 구성되는 샘플 드롭기(sample dropper); 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 샘플 드롭기로부터 출력되는 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 제 2 곱셈기; 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 곱셈기의 출력 신호 및 제 2 지연 신호를 연산하는 제 2 덧셈기; 그리고 상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 제 2 지연 신호를 출력하는 제 2 지연기를 더 포함한다.
실시 예로서, 상기 클럭 신호에 응답하여, 특정한 타이밍부터 상기 지연기의 출력 신호 및 상기 제 2 지연기의 출력 신호를 순차적으로 선택하도록 구성되는 멀티플렉서; 그리고 상기 특정한 타이밍부터 상기 멀티플렉서의 출력 신호들을 연산하여 출력하도록 구성되는 후속 처리기를 더 포함한다.
실시 예로서, 상기 특정한 타이밍은 상기 복수의 필터 계수들이 한 번씩 선택되어 상기 복수의 입력 샘플들과 연산된 때에 대응한다.
본 발명의 실시 예들에 따르면, 하나의 덧셈기 및 하나의 곱셈기로 구성되는 필터 값 추출기가 제공된다. 따라서, 감소된 복잡도 및 감소된 사이즈를 갖는 필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치 및 필터 값 추출기
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 감지 장치를 보여주는 블록도이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널을 보여준다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 감지기를 보여주는 블록도이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 감지 회로를 보여주는 블록도이다.
도 5는 구동 회로가 구동 라인들에 전송하는 펄스 신호의 예를 보여주는 타이밍도이다.
도 6은 감지 회로가 감지 라인들로부터 수신하는 신호의 예를 보여주는 타이밍도이다.
도 7은 통상적인 필터를 보여준다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 필터값 추출기를 보여준다.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 필터 값 추출 방법을 보여주는 순서도이다.
도 10은 본 발명의 응용 예에 따른 필터값 추출기를 보여준다.
도 11은 본 발명의 응용 예에 따른 필터 값 추출 방법을 보여주는 순서도이다.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 모바일 장치를 보여주는 블록도이다.
이하에서, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명의 기술적 사상을 용이하게 실시할 수 있을 정도로 상세히 설명하기 위하여, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 감지 장치(100)를 보여주는 블록도이다. 도 1을 참조하면, 터치 감지 장치(100)는 터치 패널(110) 및 터치 감지기(120)를 포함한다.
터치 패널(110)은 터치에 응답하여 변화하는 신호를 출력하도록 구성된다.
터치 감지기(120)는 터치 패널(110)을 제어하고, 터치 패널(110)로부터 출력되는 신호의 변화에 따라, 터치를 감지하도록 구성된다.
예시적으로, 터치 감지 장치(100)는 정전식(capacitive) 감지 장치일 수 있다. 그러나, 본 발명의 기술적 사상은 정전식 감지 장치에 한정되지 않는다. 터치 감지 장치(100)는 투명 전극식 또는 감압식 감지 장치일 수 있다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 터치 패널(110)을 보여준다. 도 1 및 도 2를 참조하면, 터치 패널(110)은 터치 영역(111)에 배열된 제 1 도전 라인들(113) 및 제 2 도전 라인들(115)을 포함한다.
제 1 도전 라인들(113)은 터치 영역(111)에서 가로축의 방향으로 평행하게 제공될 수 있다. 제 2 도전 라인들(115)은 터치 영역(111)에서 세로축의 방향으로 평행하게 배열될 수 있다. 제 2 도전 라인들(115)은 제 1 도전 라인들(113)의 위에 제공될 수 있다. 제 1 도전 라인들(113) 및 제 2 도전 라인들(115)은 전기적으로 절연될 수 있다.
제 2 도전 라인들(115)은 특정한 패턴을 가질 수 있다. 예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이, 제 2 도전 라인들(115)은 마름모 형태가 반복되는 패턴을 가질 수 있다. 그러나, 제 2 도전 라인들(115)의 패턴은 도 2에 도시된 바에 한정되지 않는다.
제 1 도전 라인들(113)은 복수의 구동 라인들(DL)에 각각 연결된다. 제 2 도전 라인들(115)은 복수의 감지 라인들(SL)에 각각 연결된다. 복수의 구동 라인들(DL) 및 복수의 감지 라인들(SL)은 터치 감지기(120)에 연결될 수 있다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 터치 감지기(120)를 보여주는 블록도이다. 도 1 및 도 3을 참조하면, 터치 감지기(120)는 구동 회로(121), 감지 회로(123), 그리고 제어 및 처리 회로(125)를 포함한다.
구동 회로(121)는 복수의 구동 라인들(DL)에 연결된다. 구동 회로(121)는 제어 및 처리 회로(125)의 제어에 따라, 복수의 구동 라인들(DL)에 전압을 인가하도록 구성된다. 예시적으로, 구동 회로(121)는 순차적인 일련의 펄스들을 포함하는 펄스 신호를 구동 라인들(DL)에 공급할 수 있다. 구동 회로(121)는 구동 라인들(DL)에 순차적으로 펄스 신호를 공급할 수 있다.
감지 회로(123)는 복수의 감지 라인들(SL)에 연결된다. 감지 회로(123)는 제어 및 처리 회로(125)의 제어에 따라, 감지 라인들(SL)을 통해 전달되는 신호를 감지하도록 구성된다. 감지 회로(123)는 감지된 신호를 디지털 신호로 변환하여 제어 및 처리 회로(125)로 전달할 수 있다.
제어 및 처리 회로(125)는 구동 회로(121) 및 감지 회로(123)를 제어하도록 구성된다. 제어 및 처리 회로(125)는 감지 회로(123)로부터 수신되는 신호에 응답하여, 터치 패널(110)에서 터치가 발생하였는지, 그리고 터치 패널(110)의 어느 위치에서 터치가 발생하였는지를 판별할 수 있다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 감지 회로(123)를 보여주는 블록도이다. 도 3 및 도 4를 참조하면, 감지 회로(123)는 복수의 감지부들(S_1~S_m)을 포함한다.
복수의 감지부들(S_1~S_m) 각각은 전하 증폭기(CA), 신호 처리기(SP), 아날로그-디지털 변환기(ADC), 그리고 필터(FIR)를 포함한다.
전하 증폭기(CA)는 감지 라인들(SL)을 통해 수신되는 신호(예를 들어, 전류 신호)를 전압 신호로 변환하도록 구성된다.
신호 처리기(SP)는 전하 증폭기(CA)의 출력 신호를 처리하도록 구성된다. 예를 들어, 신호 처리기(SP)는 전하 증폭기(CA)의 출력 신호를 복조하고, 필터링을 수행할 수 있다. 신호 처리기(SP)는 전하 증폭기(CA)의 출력 신호를 직류(DC) 신호로 변환할 수 있다.
아날로그-디지털 변환기(ADC)는 신호 처리기(SP)의 출력 신호를 디지털 신호로 변환할 수 있다. 아날로그-디지털 변환기(ADC)의 출력 신호는 제어 및 처리 회로(125)로 전달될 수 있다.
필터(FIR)는 아날로그-디지털 변환기(ADC)의 출력 신호를 필터링하도록 구성된다.
예시적으로, 전하 증폭기(CA) 및 신호 처리기(SP)는 아날로그 신호를 처리하고, 필터(FIR)는 디지털 신호를 처리할 수 있다.
도 5는 구동 회로(121)가 구동 라인들(DL)에 전송하는 펄스 신호의 예를 보여주는 타이밍도이다. 도 1 내지 도 5를 참조하면, 구동 회로(121)는 구동 라인들(DL1~DLn)에 순차적으로 펄스 신호를 출력할 수 있다.
제 1 구간(T1)에서, 구동 회로(121)는 제 1 구동 라인(DL1)으로 펄스 신호를 출력하고, 다른 구동 라인들(DL2~DLn)에는 펄스 신호를 출력하지 않는다. 제 1 구동 라인(DL1)으로 제공된 펄스 신호는 커플링에 의해 감지 라인들(SL)로 전달된다. 감지 회로(123)는 감지 라인들(SL)을 통해 펄스 신호를 수신할 수 있다. 구동 라인들(DL1~DLn)은 터치 영역(111)의 제 1 도전 라인들(113)과 연결되고, 감지 라인들(SL)은 터치 영역(111)의 제 2 도전 라인들(115)과 연결된다. 감지 회로(123)와 제어 및 처리 회로(125)는 감지 라인들(SL)을 통해 수신되는 신호에 기반하여, 터치 영역(111) 중 제 1 구동 라인(DL1)과 연결된 제 1 도전 라인과 인접한 영역에서 터치가 발생하는지 감지할 수 있다. 예를 들어, 감지 라인들(SL) 중 특정한 감지 라인의 신호가 변화하면, 제 1 구동 라인(DL1) 및 해당 감지 라인에 대응하는 터치 영역(111)의 부분에서 터치가 발생한 것으로 판별될 수 있다.
제 2 구간(T2)에서, 구동 회로(121)는 제 2 구동 라인(DL2)으로 펄스 신호를 출력하고, 다른 구동 라인들(DL1, DL3~DLn)에는 펄스 신호를 출력하지 않는다. 제 2 구동 라인(DL2)으로 제공된 펄스 신호는 커플링에 의해 감지 라인들(SL)로 전달된다. 감지 회로(123)는 감지 라인들(SL)을 통해 펄스 신호를 수신할 수 있다. 감지 회로(123)와 제어 및 처리 회로(125)는 감지 라인들(SL)을 통해 수신되는 신호에 기반하여, 터치 영역(111) 중 제 2 구동 라인(DL2)과 연결된 제 1 도전 라인과 인접한 영역에서 터치가 발생하는지 감지할 수 있다. 예를 들어, 감지 라인들(SL) 중 특정한 감지 라인의 신호가 변화하면, 제 2 구동 라인(DL2) 및 해당 감지 라인에 대응하는 터치 영역(111)의 부분에서 터치가 발생한 것으로 판별될 수 있다.
구동 라인들(DL1~DLn)에 순차적으로 펄스 신호가 제공됨에 따라, 구동 라인들(DL1~DLn)에 대응하는 터치 영역(111)의 부분에서 터치가 발생하는지 순차적으로 판별된다. 즉, 구동 라인들(DL1~DLn)에 순차적으로 펄스 신호를 공급하는 동작은, 터치 영역(111)에서 터치가 발생하는지를 순차적으로 스캔하는 동작일 수 있다.
도 6은 감지 회로(123)가 감지 라인들(SL)로부터 수신하는 신호의 예를 보여주는 타이밍도이다. 예시적으로, 복수의 감지 채널들 중 k 번째 감지 라인(SLk)을 통해 k 번째 감지부(S_k)로 수신되는 신호의 예가 도 6에 도시된다.
도 1 내지 도 6을 참조하면, 제 1 구간(T1)에서, 제 1 구동 라인(DL1)으로 출력된 펄스 신호가 커플링에 의해 감지 라인들(SL)로 전달된다. 제 k 감지부(SL_k)는 제 k 감지 라인(SLk)으로부터 신호를 수신할 수 있다. 전하 증폭기(CA)는 제 k 감지 라인(SLk)을 통해 수신되는 전류 신호를 전압 신호로 변환할 수 있다. 예시적으로, 제 1 구동 라인(DL1)에 스윙(swing)하는 펄스 신호가 공급되므로, 전하 증폭기(CA)의 출력 신호 또한 스윙(swing)하는 신호일 수 있다.
예시적으로, 제 1 구동 라인(DL1) 및 제 k 감지 라인(SLk)에 대응하는 터치 영역(111)의 부분에서 터치가 발생하지 않은 경우, 전하 증폭기(CA)의 출력 신호는 실선의 형태로 나타날 수 있다. 터치가 발생한 경우, 제 1 구동 라인(DL1) 및 제 k 감지 라인(SLk) 사이의 커패시턴스가 변화하고, 전하 증폭기(CA)의 출력 신호는 점선의 형태로 나타날 수 있다.
신호 처리기(SP)는 전하 증폭기(CA)의 출력 신호를 동일 위상을 갖는 신호로 정류(rectify)할 수 있다. 예를 들어, 신호 처리기(SP)는 전하 증폭기(CA)의 출력 신호 중 음의 위상(또는 양의 위상)을 갖는 부분을 반전하여, 전하 증폭기(CA)의 출력 신호를 동일한 양의 위상(또는 음의 위상)을 갖는 신호로 복조할 수 있다. 신호 처리기(SP)는 복조된 신호를 필터링(예를 들어, 저대역 통과 필터링)하여, 직류 신호를 출력할 수 있다.
신호 처리기(SP)의 출력 신호는 출력 신호의 레벨이 최종 직류 레벨로 이동하는 과도 구간(TI, Transient Interval) 및 출력 신호의 레벨이 최종 직류 레벨에 도달한 안정 구간(SI, Stable Interval)을 가질 수 있다.
예시적으로, 제 1 구동 라인(DL1) 및 제 k 감지 라인(SLk)에 대응하는 터치 영역(111)의 부분에서 터치가 발생하지 않은 경우, 신호 처리기(SP)의 출력 신호는 실선의 형태로 나타날 수 있다. 터치가 발생한 경우, 제 1 구동 라인(DL1) 및 제 k 감지 라인(SLk) 사이의 커패시턴스가 변화하고, 신호 처리기(SP)의 출력 신호는 점선의 형태로 나타날 수 있다.
아날로그-디지털 변환기(ADC)는 신호 처리기(SP)의 출력 신호를 샘플링하도록 구성된다. 예시적으로, 아날로그-디지털 변환기(ADC)는 신호 처리기(SP)의 출력 신호가 과도 구간(TI)일 때 샘플링을 수행하지 않고, 안정 구간(SI)일 때 샘플링을 수행할 수 있다.
제 2 구간(T2)에서, 제 2 구동 라인(DL2)으로 출력된 펄스 신호가 커플링에 의해 감지 라인들(SL)로 전달된다. 제 k 감지부(SL_k)는 제 k 감지 라인(SLk)으로부터 신호를 수신할 수 있다. 전하 증폭기(CA)는 제 k 감지 라인(SLk)을 통해 수신되는 전류 신호를 전압 신호로 변환할 수 있다. 신호 처리기(SP)는 직류 레벨을 갖는 신호를 출력할 수 있다. 아날로그-디지털 변환기(ADC)는 직류 레벨을 갖는 신호를 샘플링할 수 있다. 터치가 발생하지 않은 경우, 신호는 실선으로 나타날 수 있다. 터치가 발생한 경우, 신호는 점선으로 나타날 수 있다.
예를 들어, 제 1 구간(T1)에서 터치가 발생하다가 제 2 구간(T2)에서 터치가 사라지는 경우, 신호 처리기(SP)의 출력 신호의 레벨은 증가할 수 있다. 제 1 구간(T1)에서 터치가 발생하지 않다가 제 2 구간(T1)에서 터치가 발생하는 경우, 신호 처리기(SP)의 출력 신호의 레벨은 감소할 수 있다. 제 1 및 제 2 구간들(T1, T2)에서 터치가 발생하지 않는 경우, 신호 처리기(SP)의 출력 신호는 하이 레벨을 유지할 수 있다. 제 1 및 제 2 구간들(T1, T2)에서 터치가 발생하지 않는 경우, 신호 처리기(SP)의 출력 신호는 로우 레벨을 유지할 수 있다.
마찬가지로, 제 3 내지 제 n 구간들(T3~Tn)에서, 제 3 내지 제 n 구동 라인들(DL3~DLn)로 출력되는 펄스 신호에 따라, 감지 회로(123)의 제 k 감지부(S_k)의 전하 증폭기(CA), 신호 처리기(SP) 및 아날로그-디지털 변환기(ADC)는, 도 6에 도시된 바와 같이, 터치 여부에 따라 실선 또는 점선으로 나타나는 신호를 출력하고, 샘플링할 수 있다.
도 7은 통상적인 필터(FIR)를 보여준다. 도 7을 참조하면, 필터(FIR)는 복수의 지연기들(D), 복수의 곱셈기들(M), 그리고 복수의 덧셈기들(A)을 포함한다.
복수의 지연기들(D)은 입력 샘플들을 지연하여 출력하도록 구성된다. 복수의 곱셈기들은 입력 샘플 및 지연된 입력 샘플들을 필터 계수들(C0~Ci)과 곱하도록 구성된다.
복수의 덧셈기들(A)은 복수의 곱셈기들(M)의 출력들을 더하도록 구성된다.
필터(FIR)는 클럭 신호에 응답하여 동작할 수 있다. 복수의 지연기들(D)은 클럭 신호에 응답하여 지연된 신호를 출력하고, 곱셈기들(M)은 클럭 신호에 응답하여 곱셈을 수행하고, 덧셈기들(A)은 클럭 신호에 응답하여 덧셈을 수행할 수 있다.
필터(FIR)의 클럭에 따른 출력은 표 1일 수 있다.
클럭 출력 신호 상태
1 y(n)=C0·x(n) 과도 응답
2 y(n)=C0·x(n)
+C1·x(n-1)		 과도 응답
3 y(n)=C0·x(n)
+C1·x(n-1)
+C2·x(n-2)		 과도 응답
… … …
i y(n)=C0·x(n)
+C1·x(n-1)
+C2·x(n-2)+…
+C(i-1)·x(n-(i-1))		 과도 응답
i+1 y(n)=C0·x(n)
+C1·x(n-1)
+C2·x(n-2)+…
+C(i-1)·x(n-(i-1))
+Ci·x(n-i)		 안정 응답
표 1을 참조하면, 필터 계수들(C0~Ci)의 수가 'i+1'개일 수 있다. 이때, 필터(FIR)는 'i' 번째 클럭이 입력될 때까지 과도 응답을 출력하고, 'i+1'번째 클럭부터 안정 응답을 출력할 수 있다. 필터(FIR)의 후속 스테이지에서, 필터(FIR)에 'i'번째 클럭이 입력될 때까지의 필터(FIR)의 출력 신호는 무시되고, 필터(FIR)에 'i+1' 번째 클럭이 입력된 때부터의 필터(FIR)의 출력 신호가 필터 값(filtered value)으로 사용될 수 있다.
도 8은 본 발명의 실시 예에 따른 필터 값 추출기(FIRa)를 보여준다. 도 8을 참조하면, 필터 값 추출기(FIRa)는 곱셈기(M), 덧셈기(A), 지연기(D), 그리고 계수 저장부(CSU)를 포함한다.
곱셈기(M)는 아날로그-디지털 변환기(ADC)로부터 전달되는 입력 샘플들 및 필터 계수들(C0~Ci)을 곱하도록 구성된다. 곱셈기(M)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여, 아날로그-디지털 변환기(ADC)로부터 전달되는 입력 샘플 및 계수 저장부(CSU)로부터 전달되는 계수를 연산하여 출력할 수 있다.
덧셈기(A)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여, 곱셈기(M)의 출력 신호 및 지연기(D)에 의해 지연된 지연 신호(DS)를 더할 수 있다.
지연기(D)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여, 덧셈기(A)의 출력 신호를 지연하여 지연 신호(DS)로 출력할 수 있다. 지연기(D)는 초기값으로 '0' 또는 'null'을 출력할 수 있다.
계수 저장부(CSU)는 복수의 필터 계수들(C0~Ci)을 저장하도록 구성된다. 계수 저장부(CSU)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여, 첫 번째 필터 계수(C0)로부터 마지막 필터 계수(Ci)까지, 필터 계수들을 순차적으로 선택하여 출력하도록 구성된다. 예를 들어, 계수 저장부(CSU)는 특정 위치에 저장된 필터 계수를 출력하도록 구성되는 시프트 레지스터일 수 있다.
지연기(D)의 출력 신호는 필터 값 추출기(FIRa)의 출력 신호일 수 있다. 피터 값 추출기(FIRa)의 출력 신호는 필터(FIR, 도 7 참조)의 출력 신호와 다를 수 있다. 단, 특정한 타이밍에, 필터 값 추출기(FIRa)의 출력 신호는 필터(FIR)의 출력 신호와 동일할 수 있다. 즉, 필터 값 추출기(FIRa)는 필터(FIR)보다 감소된 복잡도 및 사이즈를 갖고, 특정한 타이밍에 필터(FIR)의 출력 신호와 동일한 출력 신호를 출력하는 장치일 수 있다.
필터 값 추출기(FIRa)의 클럭에 따른 출력은 표 2일 수 있다.
클럭 출력 신호 상태
1 y(n)=Ci·x(n) 무효 상태
2 y(n)=C(i-1)·x(n)
+Ci·x(n-1)		 무효 상태
3 y(n)=C(i-2)·x(n)
+C(i-1)·x(n-1)
+Ci·x(n-2)		 무효 상태
… … …
i y(n)=C1·x(n)+…
+C(i-2)·x(n-(i-3))
+C(i-1)·x(n-(i-2))
+Ci·x(n-(i-1))		 무효 상태
i+1 y(n)=C0·x(n)
+C1·x(n-1)+…
+C(i-2)·x(n-(i-2))
+C(i-1)·x(n-(i-1))
+Ci·x(n-i)		 유효 상태
(필터 값)
표 2를 참조하면, 필터 계수들(C0~Ci)의 수가 'i+1'개일 수 있다. 이때, 필터(FIR)는 'i' 번째 클럭이 입력될 때까지 무효 응답을 출력하고, 'i+1'번째 클럭에서 유효 응답을 출력할 수 있다. 필터 값 추출기(FIRa)의 후속 스테이지에서, 필터 값 추출기(FIRa)에 'i+1'번째 클럭이 입력될 때의 필터 값 추출기(FIRa)의 출력 신호만이 필터 값(filtered value)으로 사용될 수 있다.
표 1 및 표 2를 참조하면, 필터(FIR) 및 필터 값 추출기(FIRa)에 제 1 내지 제 i 클럭 신호가 입력될 때, 필터(FIR) 및 필터 값 추출기(FIRa)의 출력 신호는 서로 다르다. 필터(FIR) 및 필터 값 추출기(FIRa)에 제 i+1 클럭 신호가 입력될 때, 필터(FIR) 및 필터 값 추출기(FIRa)의 출력 신호는 동일하다. 제 i+1 클럭 신호 이후의 클럭 신호에서, 필터(FIR)는 안정 응답을 지속적으로 출력하는 반면, 필터 값 추출기(FIRa)의 출력 신호는 필터(FIR)의 출력 신호와 달라진다.
즉, 필터 값 추출기(FIRa)는 특정한 클럭 타이밍에서, 필터(FIR)의 출력 신호와 동일한 출력 신호, 즉 필터 값(filtered value)을 출력값을 추출하는, 원-포인트 필터 값 추출기(one-point filtered value extractor)일 수 있다.
예시적으로, 도 6에 도시된 바와 같이, 아날로그-디지털 변환기(ADC)가 샘플링을 수행할 수 있는 구간은 안정 구간(SI)으로 한정되어 있다. 즉, 아날로그-디지털 변환기(ADC)가 출력할 수 있는 샘플들의 수는 한정되어 있다. 따라서, 도 7에 도시된 필터(FIR)가 사용되어도, 필터(FIR)가 출력하는 안정 응답 샘플들의 수는 한정된다. 예를 들어, 아날로그-디지털 변환기(ADC)가 출력하는 샘플들의 수가 i+1 개일 때, 필터(FIR)는 하나의 안정 응답 샘플만을 출력한다. 이 경우, 도 7의 필터(FIR)가 사용된 감지 회로(123) 및 도 8의 필터 값 추출기(FIRa)가 사용된 감지 회로(123)는 동일한 성능을 갖는다. 즉, 본 발명의 실시 예에 따른 필터-값 추출기(FIRa)가 사용되면, 필터(FIR)가 사용된 터치 감지 장치와 동일한 성능을 가지며, 감소된 복잡도 및 사이즈를 갖는 터치 감지 장치가 제공될 수 있다.
아날로그-디지털 변환기(ADC)가 출력하는 샘플들의 수는 i+2 개 이상일 수 있다. 이때, 필터(FIR)는 둘 이상의 안정 응답 샘플들을 출력할 수 있다. 아날로그-디지털 변환기(ADC)는 신호 처리기(SP)로부터 출력되는 직류 레벨을 샘플링하도록 구성된다. 아날로그-디지털 변환기(ADC)의 출력 신호는 직류 레벨을 가리킨다. 필터(FIR)는 저대역 통과 필터일 수 있다. 필터(FIR)는 직류 성분을 통과시키고, 높은 주파수를 갖는 잡음 성분을 제거할 수 있다. 필터(FIR)의 출력 샘플들이 저대역 통과 필터링된 직류 레벨을 가리키므로, 필터(FIR)의 안정 응답 샘플들은 동일한(또는 유사한) 값을 가질 수 있다. 즉, 필터(FIR) 대신 본 발명의 실시 예에 따른 필터 값 추출기(FIRa)가 적용되어도, 필터(FIR)가 사용된 것과 동일한(또는 매우 유사한) 필터링 효과가 적용될 수 있다.
도 9는 본 발명의 실시 예에 따른 필터 값 추출 방법을 보여주는 순서도이다. 도 8 및 도 9를 참조하면, S110 단계에서, 샘플 변수(n) 및 가산 변수(S)가 초기화된다. 샘플 변수(n)는 '0'으로 초기화되고, 가산 변수(S)는 '0'으로 초기화될 수 있다.
S120 단계에서, 샘플 변수(n)에 해당하는 디지털 샘플이 수신된다. 디지털 샘플은 아날로그-디지털 변환기(ADD)로부터 수신될 수 있다.
S130 단계에서, 샘플 변수(n)에 대응하는 필터 계수가 선택된다. 계수 저장부(CSU)는 저장된 필터 계수들(Ci~C0) 중 클럭 신호(CLK)에 대응하는 필터 계수를 선택할 수 있다.
S140 단계에서, 수신된 디지털 샘플 및 선택된 필터 계수가 연산된다. 곱셈기(M)는 수신된 디지털 샘플 및 계수 저장부(CSU)로부터 수신되는 필터 계수를 연산할 수 있다.
S150 단계에서, 곱해진 결과가 가산 변수(S)와 더해진다. 덧셈기(A)는 곱셈기(M)의 출력값을 가산 변수(S)와 합할 수 있다.
S160 단계에서, 더해진 결과가 가산 변수(S)로 저장된다. 예를 들어, 지연기(D)는 덧셈기(A)의 출력값을 한 클럭 지연하여 출력함으로써, 가산 변수(S)를 장할 수 있다.
S170 단계에서, 샘플 변수(n)가 기준값에 도달했는지 판별된다. 예를 들어, 기준값은 필터 값 추출기(FIRa)가 유효한 필터 값을 출력하는 클럭 값일 수 있다. 샘플 변수(n)가 기준값에 도달하지 않았으면, S180 단계에서 샘플 변수(n)가 증가된다. 이후에, S120 단계가 다시 수행된다. 예를 들어, 필터 값 추출기(FIRa)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여, 다음으로 수신되는 입력 샘플에 대해 연산을 수행할 수 있다.
샘플 변수(n)가 기준값에 도달했으면, S190 단계에서 가산 변수(S)가 필터 값으로 출력된다. 예를 들어, 필터 값 추출기(FIRa)의 후단에서, 샘플 변수(n)가 기준값에 도달한 때에, 지연기(D)의 출력인 가산 변수(S)를 필터 값(filtered value)으로 사용할 수 있다.
도 10은 본 발명의 응용 예에 따른 필터 값 추출기(FIRb)를 보여준다. 도 10을 참조하면, 필터 값 추출기(FIRb)는 제 1 내지 제 3 필터부들(FU1~FU3), 샘플 드롭기들(SD1, SD2), 멀티플렉서(MUX), 후속 프로세서(PP), 그리고 계수 저장부(CSU)를 포함한다.
제 1 필터부(FU1)는 곱셈기(M1), 덧셈기(A1), 그리고 지연기(D1)를 포함한다. 제 1 필터부(FU1)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여 동작할 수 있다. 곱셈기(M1)는 입력 샘플들 및 필터 계수들을 각각 곱하도록 구성된다. 덧셈기(A1)는 곱셈기(M1)의 출력 신호 및 지연 신호(DS1)를 더하도록 구성된다. 지연기(D1)는 덧셈기(A1)의 출력 신호를 지연하여 지연 신호(DS1)로 출력하도록 구성된다. 지연기(DS1)의 출력 신호는 제 1 필터부(FU1)의 출력 신호(y1(n))로 멀티플렉서(MUX)로 전달될 수 있다. 제 1 필터부(FU1)는 특정한 타이밍에 유효한 필터 값을 출력할 수 있다.
샘플 드롭기(SD1)는 아날로그-디지털 변환기(ADC)로부터 입력 샘플들을 수신한다. 샘플 드롭기(SD1)는 클럭 신호(CLK1)에 응답하여, 첫 번째 입력 샘플을 무시하고, 두 번째 입력 샘플부터 통과시킬 수 있다.
제 2 필터부(FU2)는 곱셈기(M2), 덧셈기(A2), 그리고 지연기(D2)를 포함한다. 제 2 필터부(FU2)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여 동작할 수 있다. 곱셈기(M2)는 샘플 드롭기(SD1)의 출력 샘플들 및 필터 계수들을 각각 곱하도록 구성된다. 덧셈기(A2)는 곱셈기(M2)의 출력 신호 및 지연 신호(DS2)를 더하도록 구성된다. 지연기(D2)는 덧셈기(A2)의 출력 신호를 지연하여 지연 신호(DS2)로 출력하도록 구성된다. 지연기(DS2)의 출력 신호는 제 2 필터부(FU2)의 출력 신호(y2(n))로 멀티플렉서(MUX)로 전달될 수 있다. 제 2 필터부(FU2)는 제 1 필터부(FU1)가 유효한 필터 값을 출력하는 타이밍보다 늦은 특정한 타이밍에, 유효한 필터 값을 출력할 수 있다.
샘플 드롭기(SD2)는 샘플 드롭기(SD1)의 출력 샘플들을 수신한다. 샘플 드롭기(SD2)는 클럭 신호(CLK1)에 응답하여, 첫 번째 샘플을 무시하고, 두 번째 샘플부터 통과시킬 수 있다.
제 3 필터부(FU3)는 곱셈기(M3), 덧셈기(A3), 그리고 지연기(D3)를 포함한다. 제 3 필터부(FU3)는 클럭 신호(CLK)에 응답하여 동작할 수 있다. 곱셈기(M3)는 샘플 드롭기(SD2)의 출력 샘플들 및 필터 계수들을 각각 곱하도록 구성된다. 덧셈기(A3)는 곱셈기(M3)의 출력 신호 및 지연 신호(DS3)를 더하도록 구성된다. 지연기(D3)는 덧셈기(A3)의 출력 신호를 지연하여 지연 신호(DS3)로 출력하도록 구성된다. 지연기(DS3)의 출력 신호는 제 3 필터부(FU3)의 출력 신호(y3(n))로 멀티플렉서(MUX)로 전달될 수 있다. 제 3 필터부(FU3)는 제 2 필터부(FU2)가 유효한 필터 값을 출력하는 타이밍보다 늦은 특정한 타이밍에, 유효한 필터 값을 출력할 수 있다.
멀티플렉서(MUX)는 제 1 내지 제 3 필터부들(FU1~FU3)의 출력 신호들(y1(n)~y3(n))을 수신한다. 멀티플렉서(MUX)는 클럭 신호(MUX)에 응답하여, 제 1 내지 제 3 출력 신호들(y1(n)~y(3))을 순차적으로 선택할 수 있다. 예를 들어, 제 1 필터부(FU1)가 유효한 필터 값을 출력하는 타이밍에, 멀티플렉서(MUX)는 제 1 필터부(FU1)의 출력 신호(y1(n))를 선택할 수 있다. 제 2 필터부(FU2)가 유효한 필터 값을 출력하는 타이밍에, 멀티플렉서(MUX)는 제 2 필터부(FU2)의 출력 신호(y2(n))를 선택할 수 있다. 제 3 필터부(FU3)가 유효한 필터 값을 출력하는 타이밍에, 멀티플렉서(MUX)는 제 3 필터부(FU3)의 출력 신호(y3(n))를 선택할 수 있다.
후속 프로세서(PP)는 멀티플렉서(MUX)의 출력 신호들을 수신하고, 수신된 신호들을 연산하도록 구성된다. 예를 들어, 후속 프로세서(PP)는 수신된 신호들의 평균(또는 가중 평균)을 계산하고, 계산 결과를 최종 필터 값(filtered value)으로 선택할 수 있다.
계수 저장부(CSU)는 복수의 필터 계수들(C0~Ci)을 저장하도록 구성된다. 계수 저장부(CSU)는 복수의 필터부들(FU1~FU3)에 서로 다른 필터 계수들을 제공하도록 구성된다. 예를 들어, 계수 저장부(CSU)는 제 1 필터부(FU1)에 k 번째 필터 계수(Ck)가 제공될 때, 제 2 필터부(FU2)에 k+1 번째 필터 계수(C(k+1))를 제공하고, 제 3 필터부(FU3)에 k+2번째 필터 계수(C(k+2))를 제공할 수 있다.
제 1 필터부(FU1)는 아날로그-디지털 변환기(ADC)로부터 전달되는 입력 샘플들의 첫 번째 샘플부터 연산을 수행할 수 있다. 즉, 제 1 필터부(FU1)는 입력 샘플들의 i+1 번째 샘플이 연산될 때, 유효한 필터 값을 출력할 수 있다.
제 2 필터부(FU2)는 아날로그-디지털 변환기(ADC)로부터 전달되는 입력 샘플들의 두 번째 샘플부터 연산을 수행할 수 있다. 즉, 제 2 필터부(FU2)는 입력 샘플들의 i+2 번째 샘플이 연산될 때, 유효한 필터 값을 출력할 수 있다.
제 3 필터부(FU3)는 아날로그-디지털 변환기(ADC)로부터 전달되는 입력 샘플들의 두 번째 샘플부터 연산을 수행할 수 있다. 즉, 제 3 필터부(FU3)는 입력 샘플들의 i+3 번째 샘플이 연산될 때, 유효한 필터 값을 출력할 수 있다.
도 10에 도시된 바와 같이 필터부들(FU1~FU3)이 샘플 드롭기들(SD1, SD2)을 통해 병렬로 제공되면, 연속적인 필터 값들(filtered values)이 연산될 수 있다. 연속적인 필터 값들(filtered values)은 도 7의 필터(FIR)의 안정 응답 샘플들과 동일할 수 있다.
도 7 및 도 10에 도시된 바와 같이, 3 포인트 필터 값을 추출하는 필터 값 추출기의 복잡도 및 사이즈는 필터(FIR)의 복잡도 및 사이즈보다 작다. 따라서, 본 발명의 실시 예에 따르면, 동일한 성능을 유지하며, 감소된 복잡도 및 사이즈를 갖는 터치 감지 장치가 제공될 수 있다.
샘플들의 수가 한정되는 터치 감지 장치와 같이, 한정된 수의 안정 응답 샘플들이 요구되는 경우 또는 안정 응답 샘플들이 동일한 값을 갖는 경우, 본 발명의 실시 예에 따른 필터 값 추출기(FIRa 또는 FIRb)는 감소된 복잡도 및 감소된 사이즈를 갖고, 동일한 성능을 유지하며, 필터(FIR)를 대체할 수 있다.
예시적으로, 필터 값 추출기(FIRb)는 세 개의 필터부들(FU1~FU3)을 포함하는 것으로 도 10에 도시되어 있다. 그러나, 필터 값 추출기(FIRb)의 필터부들의 수는 한정되지 않는다. 즉, 필터 값 추출기(FIRb)가 출력하는 유효한 필터 값들의 수는 한정되지 않는다.
도 11은 본 발명의 응용 예에 따른 필터 값 추출 방법을 보여주는 순서도이다. 도 10 및 도 11을 참조하면, S210 단계에서, 서로 다른 타이밍에 따라 복수의 필터 값들이 계산된다. 예를 들어, 제 1 필터부(FU1)는 제 1 타이밍에, 제 2 필터부(FU2)는 제 1 타이밍보다 늦은 제 2 타이밍에, 그리고 제 3 필터부(FU3)는 제 2 타이밍보다 늦은 제 3 타이밍에 유효한 필터 값을 계산할 수 있다.
S220 단계에서, 복수의 필터 값들의 평균이 계산된다. 후속 프로세세(PP)는 복수의 필터 값들의 평균(또는 가중 평균)을 계산할 수 있다.
S230 단계에서, 계산된 평균 값이 최종 필터 값으로 출력된다.
도 12는 본 발명의 실시 예에 따른 모바일 장치(1000)를 보여주는 블록도이다. 도 12를 참조하면, 모바일 장치(1000)는 어플리케이션 프로세서(1100), 메모리(1200), 스토리지(1300), 모뎀(1400), 사용자 인터페이스(1500), 터치 패널(1610) 및 터치 감지기(1620), 그리고 표시 패널(1710) 및 표시 구동기(1720)를 포함한다.
어플리케이션 프로세서(1100)는 모바일 장치(1000)의 제반 동작을 제어하고, 논리 연산을 수행할 수 있다.
메모리(1200)는 어플리케이션 프로세서(1100)의 동작 메모리일 수 있다. 메모리(1200)는 랜덤 액세스 메모리(RAM)를 포함할 수 있다. 메모리(1200)는 PRAM, MRAM, RRAM, FRAM, 플래시 메모리 등과 같은 불휘발성 메모리, 또는 DRAM, SDRAM 등과 같은 휘발성 메모리를 포함할 수 있다.
스토리지(1300)는 모바일 장치(1000)의 보조 저장소일 수 잇다. 스토리지(1300)는 불휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 스토리지(1300)는 플래시 메모리, MRAM, PRAM, FRAM, RRAM 등과 같은 불휘발성 메모리를 포함할 수 있다. 스토리지(1300)는 하드 디스크 드라이브(HDD)를 포함할 수 있다.
메모리(1200) 및 스토리지(1300)가 동일한 종류의 불휘발성 메모리로 구성되는 경우, 메모리(1200) 및 스토리지(1300)는 하나의 구성 요소로 통합될 수 있다.
모뎀(1400)은 어플리케이션 프로세서(1100)의 제어에 따라 외부와 유선 또는 무선 통신을 수행할 수 있다. 모뎀(1400)은 WiFi, LTE, CDMA, GSM, WiMax, NFC, 블루투스 등과 같은 무선 통신 표준, 또는 USB, Firewire, PCI, SATA, Ethernet 등과 같은 유선 통신 표준에 따라 통신을 수행할 수 있다.
사용자 인터페이스(1500)는 어플리케이션 프로세서(1100)의 제어에 따라 사용자와 신호를 교환할 수 있다. 사용자 인터페이스(1500)는 키보드, 버튼, 마이크, 카메라 등과 같은 사용자 입력 인터페이스, 또는 스피커, 모터, 램프 등과 같은 사용자 출력 인터페이스를 포함할 수 있다.
터치 패널(1610) 및 터치 감지기(1620)는 도 1 내지 도 20을 참조하여 설명된 터치 패널(110) 및 터치 감지기(120)에 대응할 수 있다. 터치 패널(1610) 및 터치 감지기(1620)는 사용자 인터페이스(1500)에 포함될 수 있다.
표시 패널(1710) 및 표시 구동기(1720)는 LCD, AMOLED 등과 같은 표시 패널과 이를 구동하도록 구성되는 구동기일 수 있다. 표시 패널(1710) 및 표시 구동기(1720)는 사용자 인터페이스(1500)에 포함될 수 있다.
터치 패널(1610) 및 표시 패널(1710)은 다층 구조로 구성될 수 있다. 예를 들어, 터치 패널(1610)은 표시 패널(1710)의 위에 형성될 수 있다.
터치 패널(1610) 및 표시 패널(1710)은 단층 구조로 구성될 수 있다. 예를 들어, 터치 패널(1610) 및 표시 패널(1710)은 하나의 기판에 형성될 수 있다.
본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시 예에 관하여 설명하였으나, 본 발명의 범위와 기술적 사상에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능하다. 그러므로 본 발명의 범위는 상술한 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며 후술하는 특허청구범위뿐만 아니라 이 발명의 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
100; 터치 감지 장치
110; 터치 패널
120; 터치 감지기
111; 터치 영역
113; 제 1 도전 라인들
115; 제 2 도전 라인들
DL; 구동 라인들
SL; 감지 라인들
121; 구동 회로
123; 감지 회로
125; 제어 및 처리 회로

Claims (15)

  1. 터치 패널; 그리고
    상기 터치 패널을 제어하고, 상기 터치 패널을 통해 터치를 감지하도록 구성되는 터치 감지기를 포함하고,
    상기 터치 감지기는 복수의 감지 라인들을 통해 상기 터치 패널과 각각 연결되는 복수의 감지부들을 포함하고,
    상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 터치 패널로부터 출력되는 신호에 대응하는 복수의 입력 샘플들 및 복수의 필터 계수들을 연산하여 특정한 타이밍에 유효한 필터 값(filtered value)을 출력하는 필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 복수의 입력 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 연산하여 상기 특정한 타이밍과 다른 제 2 타이밍에 유효한 제 2 필터 값(filtered value)을 출력하는 제 2 필터 값 추출기를 포함하는 터치 감지 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 복수의 감지부들 각각은, 상기 필터 값 및 상기 제 2 필터 값을 연산하여 최종 필터 값을 출력하도록 구성되는 후속 처리기를 더 포함하는 터치 감지 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 필터 값 추출기는,
    클럭 신호에 응답하여, 상기 복수의 입력 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 곱셈기;
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 곱셈기의 출력 신호 및 지연 신호를 연산하는 덧셈기; 그리고
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 지연 신호를 출력하는 지연기를 포함하는 터치 감지 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 지연기의 출력 신호는 상기 복수의 필터 계수들이 한 번씩 선택되어 상기 복수의 입력 샘플들과 연산된 때에 유효한 필터 값에 대응하는 터치 감지 장치.
  6. 제 4 항에 있어서,
    상기 복수의 감지부들 각각은,
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 복수의 입력 샘플들 중 첫 번째 샘플을 무시하고, 두 번째 샘플부터 출력하도록 구성되는 샘플 드롭기(sample dropper);
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 샘플 드롭기로부터 출력되는 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 제 2 곱셈기;
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 곱셈기의 출력 신호 및 제 2 지연 신호를 연산하는 제 2 덧셈기; 그리고
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 제 2 지연 신호를 출력하는 제 2 지연기를 더 포함하는 터치 감지 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제 2 지연기의 출력 신호는 상기 지연기의 출력 신호가 유효한 필터 값에 대응하는 때보다 늦은 타이밍에 유효한 필터 값에 대응하는 터치 감지 장치.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 복수의 감지부들 각각은,
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 지연기의 출력 신호가 유효한 때부터 상기 지연기의 출력 신호 및 상기 제 2 지연기의 출력 신호를 순차적으로 선택하도록 구성되는 멀티플렉서; 그리고
    상기 지연기의 출력 신호가 유효한 때부터 상기 멀티플렉서의 출력 신호들을 연산하여 최종 필터 값으로 출력하도록 구성되는 후속 처리기를 더 포함하는 터치 감지 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 후속 처리기는 상기 멀티플렉서의 출력 신호들의 평균값을 계산하도록 구성되는 터치 감지 장치.
  10. 클럭 신호에 응답하여, 복수의 입력 샘플들 및 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 곱셈기;
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 곱셈기의 출력 신호 및 지연 신호를 연산하는 덧셈기; 그리고
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 지연 신호를 출력하는 지연기를 포함하는 필터 값 추출기.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 지연기의 출력 신호는 특정한 타이밍에 유효한 필터 값을 갖는 필터 값 추출기.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 유효한 필터 값은 상기 복수의 입력 샘플들이 상기 복수의 필터 계수들에 대응하는 필터에 의해 필터링된 값인 필터 값 추출기.
  13. 제 10 항에 있어서,
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 복수의 입력 샘플들 중 첫 번째 샘플을 무시하고, 두 번째 샘플부터 출력하도록 구성되는 샘플 드롭기(sample dropper);
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 샘플 드롭기로부터 출력되는 샘플들 및 상기 복수의 필터 계수들을 각각 순차적으로 연산하여 출력하도록 구성되는 제 2 곱셈기;
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 곱셈기의 출력 신호 및 제 2 지연 신호를 연산하는 제 2 덧셈기; 그리고
    상기 클럭 신호에 응답하여, 상기 제 2 덧셈기의 출력 신호를 지연하여 상기 제 2 지연 신호를 출력하는 제 2 지연기를 더 포함하는 필터 값 추출기.
  14. 제 13 항에 있어서,
    상기 클럭 신호에 응답하여, 특정한 타이밍부터 상기 지연기의 출력 신호 및 상기 제 2 지연기의 출력 신호를 순차적으로 선택하도록 구성되는 멀티플렉서; 그리고
    상기 특정한 타이밍부터 상기 멀티플렉서의 출력 신호들을 연산하여 출력하도록 구성되는 후속 처리기를 더 포함하는 필터 값 추출기.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 특정한 타이밍은 상기 복수의 필터 계수들이 한 번씩 선택되어 상기 복수의 입력 샘플들과 연산된 때에 대응하는 필터 값 추출기.
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