KR20140070822A - 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법 - Google Patents

디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20140070822A
KR20140070822A KR1020120135653A KR20120135653A KR20140070822A KR 20140070822 A KR20140070822 A KR 20140070822A KR 1020120135653 A KR1020120135653 A KR 1020120135653A KR 20120135653 A KR20120135653 A KR 20120135653A KR 20140070822 A KR20140070822 A KR 20140070822A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
smear
data
display device
image data
unit
Prior art date
Application number
KR1020120135653A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102008474B1 (ko
Inventor
차동훈
오의열
김진구
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020120135653A priority Critical patent/KR102008474B1/ko
Publication of KR20140070822A publication Critical patent/KR20140070822A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102008474B1 publication Critical patent/KR102008474B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/94—Investigating contamination, e.g. dust
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
    • G01N2021/9513—Liquid crystal panels

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

본 발명은, 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하기 위해서, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 기준 디스플레이 장치; 상기 기준 디스플레이 장치에 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 제공하는 데이터 관리부; 및 상기 데이터 관리부를 컨트롤하는 컨트롤부를 포함하여 이루어지고, 상기 데이터 관리부는 상기 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있는 데이터 저장부 및 상기 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 데이터 생성부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것으로서,
본 발명은 기준 디스플레이 장치에서 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사하기 위한 기준, 구체적으로, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 제공하기 때문에, 본 발명에 따르면, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치에서 제공하는 기준에 근거하여 보다 객관적으로 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사할 수 있다.

Description

디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법{System and Method of inspecting Display Device}
본 발명은 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것으로서, 보다 구체적으로는 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사하는 검사 시스템 및 검사 방법에 관한 것이다.
액정표시장치(Liquid Crystal Display Device) 및 유기 발광장치(Organic Light Emitting Device) 등과 같은 디스플레이 장치는 TV, 노트북 컴퓨터, 모니터, 및 휴대폰 등에 널리 이용되고 있다.
이와 같은 디스플레이 장치는 화상을 디스플레이할 수 있는 패널을 제조한 후 모듈화 공정을 통해 제조되는데, 패널을 제조한 후 모듈화 공정 이전에 또는 모듈화 공정 이후에, 디스플레이 장치에 무라(Mura)와 같은 얼룩 불량이 발생하는지 여부에 대해서 검사하고, 검사 결과에 따라 양품 또는 불량품으로 분류한 후, 양품만을 최종 제품으로 출하한다.
상기 디스플레이 장치의 얼룩 불량 여부에 대한 검사는 작업자의 육안 검사를 통해 수행된다. 즉, 디스플레이 장치의 얼룩 불량에 대해서 일정 수준 이상의 교육을 받은 작업자가 육안으로 디스플레이 장치의 얼룩 불량의 정도에 대해서 검사한 후 그 검사 결과에 따라 양품 또는 불량품으로 분류하게 된다.
그러나, 이와 같은 종래의 방법은 작업자가 교체될 경우 얼룩 불량 판정 기준이 변경될 수 있는 문제가 있고, 또한, 설령 작업자가 교체되지 않는다 하더라도 작업자의 상태 등에 따라서 얼룩 불량 판정 기준이 일관적이지 못하게 되는 문제가 있다.
따라서, 불량품이 양품으로 판정될 경우 고객 클레임을 유발할 수 있고, 양품이 불량품으로 판정될 경우 불필요한 생산 비용 낭비를 초래하게 된다.
본 발명은 전술한 종래의 문제점을 해결하기 위해 고안된 것으로서, 본 발명은 보다 객관적인 방법으로 디스플레이 장치의 얼룩 불량 여부를 검사할 수 있는 검사 시스템 및 검사 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 상기 목적을 달성하기 위해서, 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하기 위해서, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 기준 디스플레이 장치; 상기 기준 디스플레이 장치에 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 제공하는 데이터 관리부; 및 상기 데이터 관리부를 컨트롤하는 컨트롤부를 포함하여 이루어지고, 상기 데이터 관리부는 상기 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있는 데이터 저장부 및 상기 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 데이터 생성부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템을 제공한다.
본 발명은 또한, 피검사 디스플레이 장치를 기준 디스플레이 장치 근방의 검사 위치로 이송하는 공정; 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 데이터가 데이터 저장부에 저장되어 있는지 판단함으로써, 상기 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한지 판단하는 공정; 상기 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한 경우, 상기 기준 얼룩 데이터에 기초한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 상기 기준 디스플레이 장치에서 디스플레이하고, 상기 기준 얼룩 화상과 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩을 비교하여 상기 피검사 디스플레이 장치의 불량 유무를 판단하는 공정; 및 상기 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우, 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터를 생성하고 저장하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법을 제공한다.
이상과 같은 본 발명에 따르면 다음과 같은 효과가 있다.
본 발명은 기준 디스플레이 장치에서 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사하기 위한 기준, 구체적으로, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 제공하기 때문에, 본 발명에 따르면, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치에서 제공하는 기준에 근거하여 보다 객관적으로 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량을 검사할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 시스템의 개략도이다.
도 2(a)는 피검사 디스플레이 장치에서 발견될 수 있는 일 예에 따른 얼룩을 도시한 것이고, 도 2(b)는 일반적인 디스플레이 장치를 이용하여 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이고, 도 2(c)는 본 발명의 일 실시예에 따라 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 소수점 이하의 계조를 표현하는 방법을 보여주는 그림이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우의 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다.
이하, 도면을 참조로 본 발명의 바람직한 실시예에 대해서 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 시스템의 개략도이다.
도 1에서 알 수 있듯이, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 시스템은, 피검사 디스플레이 장치(1)를 이송하는 이송부(10), 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하는 기준 디스플레이 장치(20), 상기 기준 디스플레이 장치(20)에 얼룩 데이터를 제공하는 데이터 관리부(30), 상기 데이터 관리부(30)를 컨트롤하는 컨트롤부(40)를 포함하여 이루어진다.
상기 피검사 디스플레이 장치(1)는 얼룩 불량 검사의 대상이 되는 것으로서, 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device) 및 유기 발광장치(Organic Light Emitting Device) 등과 같은 다양한 디스플레이 장치가 될 수 있다. 또한, 상기 피검사 디스플레이 장치(1)는 TV, 노트북 컴퓨터, 또는 모니터 등 다양한 형태의 장치가 될 수 있다.
이와 같은 피검사 디스플레이 장치(1)는 모듈화 공정 이전의 디스플레이 패널 상태일 수도 있고, 모듈화 공정 이후의 디스플레이 모듈 상태일 수도 있다.
상기 이송부(10)는 피검사 디스플레이 장치(1)를 검사 위치까지 이송하는 역할을 함과 더불어 검사가 완료된 피검사 디스플레이 장치(1)를 적재 위치까지 이송하는 역할을 할 수 있다.
도시하지는 않았지만, 상기 이송부(10)의 일단은 피검사 디스플레이 장치(1)의 제조 라인과 연결되고, 상기 이송부(10)의 타단은 검사결과에 따른 양품 또는 불량품으로 구분된 적재함과 연결될 수 있다.
상기 이송부(10)는 컨베이어 벨트와 같은 자동 이송 기구로 이루어질 수 있지만, 반드시 그에 한정되는 것은 아니다.
상기 기준 디스플레이 장치(20)는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량 검사 기준을 제공한다. 즉, 상기 기준 디스플레이 장치(20)는 다양한 크기 및 다양한 형태의 얼룩 화상 및 그 얼룩 화상의 불량 유무 정보를 디스플레이함으로써, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이되는 얼룩 화상 및 그 얼룩 화상의 불량 유무 정보를 기준으로 하여 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량 여부를 판단하게 된다.
이와 같은 기준 디스플레이 장치(20)는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 검사 위치 근방에 고정되어 있어, 상기 작업자의 얼룩 불량 여부 판단을 용이하게 할 수 있다.
상기 기준 디스플레이 장치(20)는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)와 동일한 종류로 이루어진 것이 바람직하지만, 반드시 그에 한정되는 것은 아니다. 즉, 상기 피검사 디스플레이 장치(1)가 액정표시장치인 경우 상기 기준 디스플레이 장치(20)도 액정표시장치인 것이 바람직하다.
상기 데이터 관리부(30)는 얼룩 불량에 대한 다양한 데이터를 관리하여 상기 기준 디스플레이 장치(20)에 제공한다.
상기 데이터 관리부(30)는 데이터 저장부(32) 및 데이터 생성부(34)를 포함하여 이루어진다.
상기 데이터 저장부(32)는 얼룩에 대한 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있다. 본 명세서에서, "얼룩에 대한 화상 데이터 및 불량 유무 데이터"는 "얼룩 데이터"로 칭해진다.
상기 데이터 저장부(32)에 저장된 얼룩에 대한 화상 데이터 및 불량 유무 데이터는 크기별 및 형태별로 구분되어 있다.
예로서, 상기 데이터 저장부(32)는 얼룩의 크기를 대, 중, 소로 구분하여 저장하고 있고, 각각의 크기별로 불량품으로 판정되어야 하는 얼룩과 양품으로 판정되어야 하는 얼룩을 구분한 불량 유무 데이터를 저장하고 있다.
또한, 상기 데이터 저장부(32)는 얼룩 불량의 형태를 점형, 선형 및 부정형으로 구분하여 저장하고 있고, 각각의 형태별로 불량품으로 판정되어야 하는 얼룩과 양품으로 판정되어야 하는 얼룩을 구분한 불량 유무 데이터를 저장하고 있다.
따라서, 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는 다양한 얼룩 데이터들 중에서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터가 기준 얼룩 데이터가 된다.
구체적으로 설명하면, 예로서, 작업자가 상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 점형의 대형 얼룩을 발견하면, 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는 다양한 얼룩 화상 데이터들 중에서 점형의 대형 얼룩과 관련한 얼룩 화상 데이터가 기준 얼룩 화상 데이터로 선정되고, 선정된 기준 얼룩 화상 데이터에 근거하여 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보가 디스플레이된다.
다시 말하면, 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 상기 데이터 저장부(32)에 저장된 다양한 얼룩 화상 데이터에 근거한 다양한 얼룩 화상을 상기 기준 디스플레이 장치(20)를 통해 보면서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 화상을 선정하고, 그와 같은 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보가 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 계속하여 디스플레이될 수 있도록 한다. 따라서, 작업자는 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩을 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이되는 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보와 비교하여, 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 양품 또는 불량품 여부를 판단할 수 있게 된다.
상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 얼룩 화상을 디스플레이하고, 디스플레이된 얼룩 화상 중에서 기준 얼룩 화상을 선정하는 동작은 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 수행된다.
상기 데이터 생성부(34)는 얼룩에 대한 새로운 화상 데이터를 생성한다.
상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 발견된 얼룩과 관련된 얼룩 화상 데이터가 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있지 않을 경우에, 상기 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하게 된다.
즉, 작업자가 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 화상을 선정하지 못한 경우 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량에 대한 판단을 보류하고, 상기 데이터 생성부(34)에서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성시키고, 생성된 새로운 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장시킨다.
상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩 불량 유무에 대한 판단을 보류한 경우에, 작업자 또는 전문가 집단에 의해서 상기 보류된 얼룩에 대해서 불량 유무를 결정하게 되고, 결정된 불량 유무 정보를 상기 데이터 저장부(32)에 저장한다.
이와 같은 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성시키고 생성된 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장하는 동작은 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 수행된다.
상기 데이터 생성부(34)는 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 프로그램을 탑재하고 있어, 상기 프로그램을 통해서 상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩과 최대한 가까운 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있게 된다. 상기 프로그램은 후술하는 바와 같은 디더링(Dithering) 및 FRC(Frame Rate Control) 기능을 수행할 수 있다.
도 2(a)는 피검사 디스플레이 장치에서 발견될 수 있는 일 예에 따른 얼룩을 도시한 것이고, 도 2(b)는 일반적인 디스플레이 장치를 이용하여 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이고, 도 2(c)는 본 발명의 일 실시예에 따라 얼룩 화상 데이터를 생성한 경우를 도시한 것이다.
도 2(a)에서 알 수 있듯이, 예로서, 피검사 디스플레이 장치에서 a 계조 내지 b 계조 범위의 휘도를 가지는 얼룩이 발생하였다고 가정하면, 그와 같은 얼룩은 상기 휘도 범위 내에서 소수점 이하의 계조 범위를 포함하게 된다.
그런데, 도 2(b)에서 알 수 있듯이, 일반적인 디스플레이 장치는 정수의 계조 범위의 휘도를 가지도록 설계되어 있기 때문에, 피검사 디스플레이 장치에서 발생한 얼룩과 유사한 휘도 범위를 가지는 얼룩 화상을 생성시키는 것은 어렵다. 즉, 도 2(b)와 같이 일반적인 디스플레이 장치는 a 계조와 b 계조 사이에서 계단식 휘도 차를 가지는 얼룩 화상을 생성하게 되어, 실제로 발생하는 얼룩의 형태와 상이하게 된다.
따라서, 도 2(c)에서와 같이, a 계조 내지 b 계조 범위에서 소수점 이하의 계조도 표현할 수 있어야 피검사 디스플레이 장치에서 발견된 얼룩과 유사한 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있다.
이와 같이, 소수점 이하의 계조를 표현하기 위해서, 본 발명의 일 실시예에서는 디더링(Dithering) 및 FRC(Frame Rate Contro) 기법을 이용할 수 있다.
상기 디더링 및 FRC 기법은 화면상의 화소를 일정한 크기의 디더 블록으로 분할하여 디더 블록 내의 화소의 휘도를 프레임마다 다르게 함으로써 정해진 계조의 수보다 더욱 많은 계조를 표현할 수 있게 하는 기법이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 소수점 이하의 계조를 표현하는 방법을 보여주는 그림이다.
도 3에서 알 수 있듯이, 예로서, 199 계조와 200 계조 사이의 199.25 계조, 199.5 계조, 및 199.75 계조를 구현해야 한다고 가정하면, 각각의 프레임에서 199 계조와 200 계조를 적절히 조합함으로써, 199.25 계조, 199.5 계조, 및 199.75 계조를 구현할 수 있게 된다.
구체적으로, 각각의 프레임(Fr.1, Fr.2, Fr.3, Fr.4) 마다 총 4개의 화소 중에서 3개의 화소는 199 계조를 표현하고 1개의 화소는 200 계조를 표현함으로써, 199.25 계조를 구현할 수 있다. 또한, 각각의 프레임(Fr.1, Fr.2, Fr.3, Fr.4) 마다 총 4개의 화소 중에서 2개의 화소는 199 계조를 표현하고 2개의 화소는 200 계조를 표현함으로써, 199.5 계조를 구현할 수 있다. 또한, 각각의 프레임(Fr.1, Fr.2, Fr.3, Fr.4) 마다 총 4개의 화소 중에서 3개의 화소는 200 계조를 표현하고 1개의 화소는 199 계조를 표현함으로써, 199.75 계조를 구현할 수 있다.
다시 도 2를 참조하면, 상기 데이터 생성부(34)는 디더링(Dithering) 및 FRC(Frame Rate Contro) 기능을 수행하는 프로그램을 탑재하고 있어서, 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩과 최대한 가까운 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있게 되는데, 이를 위해서는 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩의 휘도 정보를 얻기 위한 장치가 추가로 요구되며, 따라서, 본 발명은 상기 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩의 휘도 정보를 얻기 위한 휘도 측정 장치를 추가로 포함할 수 있다. 상기 휘도 측정 장치는 당업계에 공지된 다양한 장치가 이용될 수 있다.
결국, 상기 휘도 측정 장치를 이용하여 측정한 피검사 디스플레이 장치(1)에서 새롭게 발견된 얼룩의 휘도 정보를 이용하여, 상기 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하고, 생성된 얼룩 화상 데이터와 작업자 또는 전문가 집단에 의해서 결정한 불량 유무 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장한다.
상기 컨트롤부(40)는 상기 데이터 관리부(30)를 컨트롤하여 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 적절한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보가 디스플레이될 수 있도록 한다.
구체적으로, 상기 컨트롤부(40)는 상기 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는 다양한 얼룩 데이터에 근거한 얼룩 화상이 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이될 수 있도록 하고, 디스플레이되는 다양한 얼룩 화상 중에서 기준 얼룩 화상이 선정될 수 있도록 하고, 선정된 기준 얼룩 화상 및 그에 대한 불량 유무 정보가 계속하여 디스플레이될 수 있도록 한다.
또한, 상기 컨트롤부(40)는 상기 데이터 생성부(34)에서 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있도록 하고, 생성한 얼룩 화상 데이터를 상기 데이터 저장부(32)에 저장할 수 있도록 한다.
이상과 같은 기능을 할 수 있는 컨트롤부(40)는 작업자가 조작할 수 있도록 구성되며, 이를 위해서 마우스 또는 터치 패널 등과 같은 입력 수단이 상기 컨트롤부(40)에 구비되어 있다. 즉, 상기 컨트롤부(40)는 마우스 또는 터치 패널 등과 같은 입력 수단을 구비하고 있어, 작업자가 상기 입력 수단을 이용하여 상기 컨트롤부(40)를 조작할 수 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다. 이하, 도 1 및 도 4를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다. 앞서 설명한 구성과 관련하여 중복되는 구성에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
우선, 피검사 디스플레이 장치(1)를 이송한다(100S).
이 공정(100S)은 이송부(10)에 의해서 피검사 디스플레이 장치(1)를 기준 디스플레이 장치(200) 근방의 검사 위치로 이송하는 공정으로 이루어진다.
다음, 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한지 판단한다(110S).
이 공정(110S)은 작업자가 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터가 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는지 여부를 판단하는 공정으로 이루어진다.
상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터가 데이터 저장부(32)에 저장되어 있는지 여부를 판단하는 공정은, 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 상기 데이터 저장부(32)에 저장된 다양한 얼룩 데이터에 근거한 다양한 얼룩 화상을 상기 기준 디스플레이 장치(20)를 통해 보는 공정을 포함하여 이루어진다.
다음, 전술한 공정(110S)에서 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한 경우(Yes), 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하고(120S), 피검사 디스플레이 장치(1)의 불량 유무를 판단한 후(130S), 판단 결과에 따라 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류한다(140S).
상기 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 공정(120S)은, 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여, 상기 선정된 기준 얼룩 데이터에 기초한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이하도록 하는 공정을 포함하여 이루어진다.
상기 피검사 디스플레이 장치(1)의 불량 유무를 판단하는 공정(130S)은, 작업자가 상기 기준 디스플레이 장치(20)에서 디스플레이되는 기준 얼룩 화상과 상기 피검사 디스플레이 장치(1)이 얼룩을 비교하는 공정을 포함하여 이루어진다.
상기 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류하는 공정(140S)은 이송부(10)에 의해서 피검사 디스플레이 장치(1)를 적재 위치까지 이송하는 공정을 포함하여 이루어진다.
다음, 전술한 공정(110S)에서 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우(No), 새로운 얼룩 데이터를 생성하고(150S), 생성한 얼룩 데이터를 저장한다(160S).
이와 같은 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우(No)에 있어서의 구체적인 검사 방법은 도 5를 참조하여 보다 상세히 설명하기로 한다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우의 디스플레이 장치의 검사 방법을 보여주는 검사 흐름도이다. 이하, 도 1 및 도 5를 참조하여, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 장치의 검사 방법에 대해서 설명하기로 한다. 앞서 설명한 구성과 관련하여 중복되는 구성에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.
우선, 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우(200S), 피검사 디스플레이 장치의 얼룩의 휘도를 측정한다(210S).
다음, 측정한 휘도 정보에 근거하여 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하고(220S), 그 얼룩 화상 데이터의 불량 유무를 결정한다(230S).
상기 새로운 얼룩 화상 데이터를 생성하는 공정(220S)은 작업자가 컨트롤부(40)를 조작하여 디더링 및 FRC 기능을 구비한 데이터 생성부(34)에서 수행한다.
상기 얼룩 화상 데이터의 불량 유무를 결정하는 공정(230S)은 작업자 또는 전문가 집단에 의해서 결정한다.
다음, 얼룩 데이터를 저장하고(240S), 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류한다(250S).
상기 얼룩 데이터를 저장하는 공정(240S)은 전술한 공정(220S)에서 생성된 얼룩 화상 데이터 및 전술한 공정(230S)에서 결정한 불량 유무 데이터를 데이터 저장부(32)에 저장하는 공정을 포함하여 이루어진다.
상기 피검사 디스플레이 장치(1)를 양품 또는 불량품으로 분류하는 공정(250S)은 전술한 공정(230S)에서 결정한 불량 유무 데이터에 근거하여 수행한다.
1: 피검사 디스플레이 장치 10: 이송부
20: 기준 디스플레이 장치 30: 데이터 관리부
32: 데이터 저장부 34: 데이터 생성부
40: 컨트롤부

Claims (10)

  1. 피검사 디스플레이 장치의 얼룩 불량 검사 기준을 제공하기 위해서, 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 디스플레이하는 기준 디스플레이 장치;
    상기 기준 디스플레이 장치에 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 제공하는 데이터 관리부; 및
    상기 데이터 관리부를 컨트롤하는 컨트롤부를 포함하여 이루어지고,
    상기 데이터 관리부는 상기 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무 데이터를 저장하고 있는 데이터 저장부 및 상기 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 데이터 생성부를 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 기준 디스플레이 장치에서 디스플레이하는 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보는, 상기 데이터 저장부에 저장되어 있는 얼룩 화상 데이터 중에서 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 것으로 선정된 기준 얼룩 화상 데이터에 기초한 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 생성부는 상기 데이터 저장부에 저장되어 있는 얼룩 화상 데이터 중에서 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 화상 데이터가 선정되지 않은 경우, 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 상기 얼룩 화상 데이터를 생성하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 생성부는 상기 얼룩 화상 데이터를 생성할 수 있는 프로그램을 탑재하고 있고, 상기 프로그램은 디더링 및 FRC 기능을 수행할 수 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 데이터 저장부에서 저장하고 있는 얼룩 화상 데이터는 상기 데이터 생성부에서 생성한 얼룩 화상 데이터이고, 상기 데이터 저장부에서 저장하고 있는 불량 유무 데이터는 작업자 또는 전문가 집단에 의해 결정된 것임을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.
  6. 제1항에 있어서,
    상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩의 휘도를 측정하기 위한 휘도 측정 장치를 추가로 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 컨트롤부는 작업자가 상기 데이터 관리부를 컨트롤할 수 있도록 입력 수단을 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 시스템.
  8. 피검사 디스플레이 장치를 기준 디스플레이 장치 근방의 검사 위치로 이송하는 공정;
    상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 기준 얼룩 데이터가 데이터 저장부에 저장되어 있는지 판단함으로써, 상기 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한지 판단하는 공정;
    상기 기준 얼룩 데이터 선정이 가능한 경우, 상기 기준 얼룩 데이터에 기초한 기준 얼룩 화상 및 불량 유무 정보를 상기 기준 디스플레이 장치에서 디스플레이하고, 상기 기준 얼룩 화상과 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩을 비교하여 상기 피검사 디스플레이 장치의 불량 유무를 판단하는 공정; 및
    상기 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우, 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터를 생성하고 저장하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩과 관련된 얼룩 데이터를 생성하고 저장하는 공정은,
    상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩의 휘도를 측정하는 공정;
    상기 측정한 휘도 정보에 근거하여 얼룩 화상 데이터를 생성하고, 상기 얼룩 화상 데이터의 불량 유무를 결정하는 공정; 및
    상기 얼룩 화상 데이터 및 불량 유무를 상기 데이터 저장부에 저장하는 공정을 포함하여 이루어진 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 기준 얼룩 데이터 선정이 불가능한 경우 상기 피검사 디스플레이 장치의 얼룩의 휘도를 측정한 후, 측정한 휘도 정보에 근거하여 상기 피검사 디스플레이 장치의 불량 유무를 판단하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 검사 방법.
KR1020120135653A 2012-11-27 2012-11-27 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법 KR102008474B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120135653A KR102008474B1 (ko) 2012-11-27 2012-11-27 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120135653A KR102008474B1 (ko) 2012-11-27 2012-11-27 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20140070822A true KR20140070822A (ko) 2014-06-11
KR102008474B1 KR102008474B1 (ko) 2019-08-08

Family

ID=51125448

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120135653A KR102008474B1 (ko) 2012-11-27 2012-11-27 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102008474B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210116913A (ko) * 2020-03-18 2021-09-28 라온피플 주식회사 불량 이미지 생성 장치 및 방법

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09257639A (ja) * 1996-03-19 1997-10-03 Fujitsu Ltd 液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置
JP2008009208A (ja) * 2006-06-30 2008-01-17 Casio Comput Co Ltd ディスプレイ検査装置
KR20090044959A (ko) * 2007-11-01 2009-05-07 엘지디스플레이 주식회사 영상 표시 장치의 데이터 보상 회로 및 방법
JP4744665B2 (ja) * 2000-03-15 2011-08-10 オリンパス株式会社 基板検査装置及び基板検査システム
KR20120096281A (ko) * 2011-02-22 2012-08-30 삼성테크윈 주식회사 결함 판정 검증 시스템 및 방법

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09257639A (ja) * 1996-03-19 1997-10-03 Fujitsu Ltd 液晶パネルの欠陥画素検査方法及びその装置
JP4744665B2 (ja) * 2000-03-15 2011-08-10 オリンパス株式会社 基板検査装置及び基板検査システム
JP2008009208A (ja) * 2006-06-30 2008-01-17 Casio Comput Co Ltd ディスプレイ検査装置
KR20090044959A (ko) * 2007-11-01 2009-05-07 엘지디스플레이 주식회사 영상 표시 장치의 데이터 보상 회로 및 방법
KR20120096281A (ko) * 2011-02-22 2012-08-30 삼성테크윈 주식회사 결함 판정 검증 시스템 및 방법

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20210116913A (ko) * 2020-03-18 2021-09-28 라온피플 주식회사 불량 이미지 생성 장치 및 방법
WO2021187732A3 (ko) * 2020-03-18 2021-11-11 라온피플 주식회사 불량 이미지 생성 장치 및 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR102008474B1 (ko) 2019-08-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI665655B (zh) 應用於顯示面板之光學補償裝置及其運作方法
CN101751843B (zh) 补偿平板显示器的显示缺陷
CN101836099B (zh) 显示控制装置、检查***、显示控制方法、程序以及记录有该程序的计算机可读取的记录介质
KR20130061419A (ko) 감마 보정 방법
CN111340781B (zh) 不良产品的复核方法及装置
KR20170002770A (ko) 얼룩 검사 장치 및 이의 구동 방법
KR20140091916A (ko) 디스플레이 패널 검사방법
KR102142654B1 (ko) 디스플레이 장치의 화질 검사장치 및 그 방법
KR101980755B1 (ko) 표시패널의 색감차 얼룩 자동 검사 장치 및 방법
KR101045921B1 (ko) 디스플레이 패널 결함 검사 시스템 및 방법
CN105304063A (zh) 影像显示装置、影像分析方法及影像显示方法
KR20140121068A (ko) 평판디스플레이의 얼룩 검사 방법 및 장치
KR102008474B1 (ko) 디스플레이 장치의 검사 시스템 및 검사 방법
JP4664417B2 (ja) 表示パネル点灯検査装置、及び表示パネル点灯検査方法。
WO2017049863A1 (zh) 液晶滴注***及控制方法
KR101330098B1 (ko) 광학 필름의 결함 판별 방법
KR102020596B1 (ko) 디스플레이 장치의 무라 검출 장치 및 방법
KR101420331B1 (ko) 디스플레이 패널 휘도의 불균일도 측정방법
Warner Spot the difference
US12013602B2 (en) Method of detecting defective pixels in electronic displays
KR20070087407A (ko) 평판표시패널의 자동광학검사장치 및 자동광학검사방법
JP2003149081A (ja) 表示装置の検査方法及びそれを用いた検査装置
JP2020003219A (ja) 表示装置の欠陥検査装置
KR101315103B1 (ko) 광학 필름의 결함 판별 방법
KR100692808B1 (ko) 유기 전계 발광 디스플레이의 전류 편차 검사 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant