KR20130109214A

KR20130109214A - 향상된 품질의 크림프를 제조하기 위한 방법 및 장치

Info

Publication number: KR20130109214A
Application number: KR1020137019504A
Authority: KR
Inventors: 베르너 호프마이스터
Original assignee: 로베르트 보쉬 게엠베하
Priority date: 2011-02-17
Filing date: 2012-01-31
Publication date: 2013-10-07
Also published as: KR101554651B1; US20140041200A1; EP2676336A1; WO2012110310A1; CN103370841B; JP2014505988A; CN103370841A; JP5615451B2; DE102011004298A1

Abstract

크림프를 제조하기 위한 방법과 장치가 기재되어 있다. 이와 관련하여 크림프-미가공품(3)을 금형(5)에 의해 소성 변형시킨다. 특히 금형(5)을 후방으로 이동시킬 때(13), 금형(5)이 크림프 미가공품(3)에 가하는 힘과 금형(5)의 이동 거리(x)를 모두 측정한다. 최대 힘(F_max)에서의 위치와 힘이 가해지지 않은 초기 위치 사이의 거리 변화(Δx)는 크림프 미가공품(3)의 탄성 복원, 즉 탄성 회복에 대한 지표를 제공한다. 이 지표는 제조된 크림프의 품질에 대한 척도이다.

Description

향상된 품질의 크림프를 제조하기 위한 방법 및 장치{METHOD AND DEVICE FOR THE QUALITY-ASSURING PRODUCTION OF A CRIMP}

본 발명은 크림프를 제조하기 위한 방법 및 장치에 관한 것이다.

크림핑은 2개의 부품을 소성 변형에 의해 서로 결합시키는 접합 방법을 의미한다. 특히 크림프 결합, 즉 도체와, 예를 들어 커넥터 또는 슬리브와 같은 결합 부재 사이의 분리가 어려운 기계적 결합은 크림핑에 의해 실현될 수 있다. 이러한 크림프 결합은 예를 들면 납땜 또는 용접과 같은 종래의 결합 방법에 대한 대안으로 이용할 수 있고 크림프 결합이 적절히 이루어지면 2개의 크림핑된 부품 사이의 전기적 및 기계적 연결이 신뢰성 있게 확보될 수 있다. 특히 2개의 부품 사이의 기밀 결합은 크림핑을 적절히 수행하면 실현될 수 있는데, 이는 크림프-미가공품과 예를 들면 미세한 스트랜드 배선을 소성 변형하면 산소의 침투가 최대한 차폐되어 부식으로부터 내부가 보호되는 구조가 형성될 수 있기 때문이다.

종래에는 크림프 결합을 이루기 위해서 예를 들면 소성 변형 가능한 슬리브 부재 또는 커넥터 부재 형태의 크림프-미가공품을 크림프-미가공품과 크림핑할 제2부품, 예를 들면 케이블의 단부와 접촉시킨다. 이어서, 상기 크림프-미가공품을 향한 측면에 적절히 변형시킨 크림프-성형면을 갖는 적절한 금형에 의한 압착을 통해 크림프-미가공품을 소성 변형시키는데, 이때 상기 제2부품은 통상적으로 크림프-미가공품에 의해 완전히 둘러싸이게 되고 크림프-미가공품에 의해 압착된다. 이때 상기 금형을 통상적으로 성형기에 의해 크림프-미가공품 방향으로 크림프-미가공품이 최대 압착력에 의해 압착 변형될 때까지 소정 거리만큼 이동시킨다. 이어서, 상기 금형은 크림프-미가공품으로부터 소정 거리만큼 다시 이동하여 크림프-미가공품에 의해 크림핑된 부품을 제공할 수 있다. 상기 성형기는 예를 들면 금형이 체결될 수 있는 유압식, 공압식 또는 전기식 압착기일 수 있다.

크림프 제조시 크림프 결합의 높은 품질을 달성하여 크림핑된 부품 사이에 견고한 기계적 연결과 이에 따라 전기적으로 안정한 연결이 확보될 수 있다. 예를 들면 크림핑시 충분한 압착력이 가해지지 않거나 적합하지 않은 접촉재가 사용될 때에는 예를 들면 미세한 스트랜드 배선이 충분히 견고하게 압착되지 않을 수 있다. 이에 따라 산소가 각각의 배선에 유입되어 산화에 의해 배선과 크림프-슬리브 사이의 접촉 저항이 증가된다. 게다가 불완전하게 압착된 배선이 크림프 결합으로부터 빠져나갈 우려가 있다. 다른 한편으로는 크림핑시 압착이 너무 높지 않거나 매우 작은 금형으로 압착되는 경우에 예를 들면 부피가 크고 미세한 스트랜드 배선의 단면을 과도하게 감소시키고 이로 인해 저항이 바람직하지 않게 증가될 수 있다. 이 밖에도, 미세한 스트랜드 배선에서 압축력이 과도하게 클 때에는 각각의 도체가 전단될 우려가 있다. 또한 균열이나 파단에 의해 크림프 결합이 손상될 수도 있다.

종래에는 대부분 크림프 결합의 품질을 확보하기 위해서 크림프의 외부 치수 측정, 예를 들면 배선에 대해 수직인 크림프 결합의 중앙을 관통하는 절편의 광학적 평가 및/또는 크림핑 중에 힘-경로를 관찰하였다.

품질면에서 가치가 높은 크림프를 제조하기 위한 방법과 상기 방법을 수행하기에 적합한 장치를 제공하고자 하는 요구가 있어 왔다.

상기 요구는 독립항의 요지에 의해 충족시킬 수 있다. 유리한 실시형태들은 종속항에 정의되어 있다.

신뢰성이 높은 크림프 결합을 위해 내부의 기계적 압착 상태가 필수일 수 있다는 것이 알려져 있다. 접촉할 때와 이에 따라 크림프 결합할 때에는 통상적으로 고강도 재료를 사용하기 때문에 크림프 결합의 탄성 회복을 측정하는 것이 유리할 수 있다. 상기 탄성 회복은 최대한 응력이 없는 결합에 이를때까지 내부 압축 응력을 감소시킨다. 상기 내부 응력은 안정한 전기적 연결을 위해 크림프 결합의 수명 중에 자연 노화에 의한 재료의 이완보다 더 커야 한다.

영구적인 품질 확보를 위해서 크림프 결합의 탄성 회복 경로를 크림프 결합 형성시 직접 측정하는 것이 유리할 수 있다. 이러한 측정은 내부 응력을 받은 상태에 대한 직접적인 지표를 제공할 수 있다.

탄성 회복 길이를 측정하기 위해서 최대 크림핑력에서 금형의 위치를 결정할 수 있다. 최대 크림핑력은 일반적으로 금형의 이동 경로의 전환점에 직접 위치한다. 또한 상기 금형의 위치는 크림프-미가공품으로부터 멀어지자마자, 즉 힘이 거의 없자마자 결정될 수 있다. 이 두 위치 사이의 차이는 크림프의 탄성 회복 거를 나타낸다.

이에 따라 상기 탄성 회복 길이에 대한 정보는 있을 수 있는 크림프 결합의 재료 결함을 포함하여 일어날 수 있는 크림프 결합의 거의 모든 결함을 안전하게 보호한다. 궁극적으로, 예를 들면 마찰과 같은 더 많은 결함들이 보정 인자에 의해 감소한다.

본 발명의 일 요지에 따르면, 금형에 의해 크림프-미가공품에 대해 크림프 결합을 형성할 때 회복 경로에 인가되는 힘을 측정하는데, 즉 금형에 의해 작용하는 최대 압축력을 얻은 다음, 금형이 크림프-미가공품으로부터 소정 경로로 이동한 후 측정한다. 추가로, 회복 경로 길이를 측정하여 최대 압축력에 의한 상태와 실질적으로 압축력이 없는 상태 사이의 회복 경로 상에서 금형을 적어도 이동시켜야 한다. 환언하면, 크림프-미가공품에 대한 최고 압축력으로 금형을 압착하는 위치와 후속 이동시 금형이 크림프-미가공품으로부터 소정 거리만큼 도달하고 크림프-미가공품에 금형에 의해 크림프-미가공품에 대해 실질적으로 압착력이 더 이상 가해지지 않는 초기 위치 사이의 거리를 측정해야 한다.

이와 관련하여 "실질적으로 압착력이 없는"이라 함은 경우에 따라 금형에 의해 크림프-미가공품에 대해 가해지는 힘으로서 크림프-미가공품의 소성 변형에 필요한 힘과 비교하여 무시할 수 있는 힘으로 이해되어야 한다. 이와 관련하여 특히 "실질적으로 압착력이 없는"이라 함은 금형에 의해 크림프-미가공품에 대해 가해지는 압착력이 본 발명에 따라 회복 경로 상에서 금형의 이동 중에 탄성 회복에 의해 크림프-미가공품으로부터 금형에 대해 가해지는 힘에 비해 작다는 것을 의미한다.

회복 경로 길이를 측정함으로써 실제 크림핑-공정, 즉 최대 압착력 이후에 크림프-미가공품이 얼마나 많이 다시 탄성 회복하는지를 결정할 수 있다.

이어서, 회복 경로 길이에 대한 정보와 이에 따라 제조된 크림프 결합의 탄성 회복에 대한 정보가 제공될 수 있다. 이러한 정보는 제조된 크림프 결합의 품질에 대한 양호한 지표를 제공할 수 있다는 것이 밝혀졌다. 얼마 안되는 탄성 회복, 즉 짧은 회복 경로 길이는 크림프 결합의 높은 기계적 내부 압력과 이에 따라 크림프 결합의 전기적 품질이 높다는 것을 의미한다. 탄성 회복이 크면, 즉 회복 경로 길이가 길면, 크림프 결합시 또는 이에 따른 접촉시 크림프 결합의 품질이 만족스럽지 않고/또는 크림프 결합의 전기성 안정성이 저하된다.

본 발명의 방법에 의하면, 크림프 결합의 형성시 직접 크림프 결합의 품질에 대한 확실한 척도를 얻을 수 있다. 특히 이러한 품질은 예를 들면 크림핑 공정시 비파괴식으로 신속하면서도 비용면에서 유리하게 직접 결정할 수 있다.

측정하고자 하는 회복 경로 길이는 크림프-미가공품의 위치에 따라 보정하는 제1기준점과 금형의 위치에 따라 보정하는 제2기준점 사이의 거리를 측정함으로써 결정될 수 있다. 예를 들면 크림프-미가공품은 크림프-미가공품-수용부 내에 수용되어 크림핑-공정 중에 고정 및 경우에 따라 성형될 수 있다. 상기 크림프-미가공품-수용부에서 예를 들면 크림프-미가공품의 위치에 따라 보정하는 적합한 기준점이 정의될 수 있다. 제2기준점으로서 금형에서, 바람직하게는 크림프-성형면 근처에서 기준 위치가 정의될 수 있다. 상기 2개의 정의된 기준점은 금형의 이동 중에 금형의 회복 경로 상에서 크림프-미가공품으로부터 소정의 경로만큼 연속적으로 떨어져 있기 때문에 2개의 기준점 사이의 거리를 측정함으로써 한편으로는 금형에 의해 최대 압착력이 크림프-미가공품에 가해지는 시점에서, 다른 한편으로는 금형이 크림프-미가공품에 더 이상 힘을 가하지 않는 시점에서 측정하고자 하는 회복 경로 길이가 결정될 수 있다.

예를 들면 크림프-미가공품-수용부의 위치는 고정되어 있고 압착력 하에서 이들의 변형을 알 수 있어 제1기준점을 신속하게 추측할 수 있는 경우에는 위치 측정기에 의해 금형의 위치, 또는 금형의 위치 또는 그의 크림프-성형면의 위치에 따라 보정하는 제2기준점의 위치를 충분히 측정할 수 있다. 이와 관련하여 크림핑-공정 중에 크림프-미가공품을 소성 변형시키는 크림프-성형면에 최대한 근접한 제2기준점을 선택하는 것이 유리할 수 있다. 이에 따라 회복 경로 길이를 측정함으로써 크림프-미가공품-수용부와 크림프-성형면 사이에 제공되는 변형된 크림프-미가공품의 탄성 회복 경로가 실제로 결정될 수 있고 예를 들면 금형의 변형 또는 금형을 이동시키는 장치의 변형과 같은 영향이 최대한 제거될 수 있게 된다.

상기 회복 경로 길이는 비접촉식으로 측정하는 것이 바람직하다. 특히 2개의 정의된 기준점 사이의 거리를 예를 들면 레이저 거리 측정기에 의해 광학적으로 측정할 수 있다. 이를 위해, 이러한 레이저 거리 측정기는 상기 기준점 중 하나로부터 다른 하나의 기준점까지 레이저 빔을 방출하고 상기 레이저광 중 반사된 일부를 다시 검출하여 이동시간 측정을 토대로 2개의 기준점 사이의 거리에 대한 정보를 얻을 수 있다. 상기 회복 경로 길이의 비접촉식 측정을 통해 확실하면서 마모없이 크림프 결합의 품질을 측정할 수 있다. 특히 광학적 측정, 예를 들면 레이저 거리 측정기에 의한 광학적 측정에 의해 회복 경로 길이를 예를 들면 수 마이크로미터 범위의 정밀도로 정확하게 측정할 수 있다. 이러한 방법으로 단순하고 확실하면서 마모없이 크림프 제조 중에 탄성 회복 경로에 대한 정확한 정보와 이에 따라 제조된 크핌프의 품질에 대한 정보를 얻을 수 있다.

본 명세서에 기재된 발명의 가능한 특징과 장점들은 부분적으로 상술한 크림프 제조 방법과 관련이 있고 크림프 제조 장치와도 부분적으로 관련이 있다는 것을 명심해야 한다. 기재 내용을 검토할 때 당업자라면 기재된 특징들은 서로 조합될 수 있고 이러한 조합에 의해 상승효과가 추가로 얻어질 수 있다는 것을 알 수 있다.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명하지만 본 발명을 한정하는 것은 아니다.
도 1은 본 발명의 일실시형태에 따른 크림프 제조방법을 수행하기 위한 장치를 도시하고 있다.
도 2는 크림프 제조방법 중에 전형적인 압착력 변화를 보여주고 있다.
상기 도면들은 개략적인 것일 뿐 실제 크기와 일치하는 것은 아니다.

이하, 도 1과 도 2를 참조하여 본 발명의 일실시형태에 따른 크림프 제조방법을 수행할 수 있는 장치를 기재하기로 한다.

도 1에는 크림프-미가공품(3)을 크림핑할 수 있는 장치(1)가 도시되어 있다. 장치(1)는 스탬프 형태의 금형(5)과 모루 형태의 크림프-미가공품-수용부(7)를 포함하고 있다. 금형(5)은 개략적으로만 도시되어 있는 성형기(9)에 체결되어 있다. 성형기(9)는 금형(5)을 화살표(11, 13)에 의해 표시된 바와 같이 수직방향으로 상하 이동시킬 수 있다. 금형(5)은 크림프-미가공품-수용부(7)를 향한 하부 측면에 크림프-성형면(15)을 가지며, 상기 크림프-성형면에는 크림핑 중에 크림프-미가공품을 소성 변형시키는 형상이 형성되어 있다.

성형기(9)는 측력기(19)와 함께 설치되고, 상기 측력기는 크림핑-공정 중에 크림프-미가공품(3)에 대한 금형(5)의 압착력을 측정하고 소정의 측정 데이터를 분석 전자장치(17)에 전달한다.

또한 장치(1)에 제공되어 있는 위치 측정기(21)에 의해 금형(5)의 위치를 측정할 수 있다. 도시된 실시예에서 위치 측정기(21)는 크림프-미가공품-수용부(7)에 고정 설치되어 있는 레이저 거리 측정기(23)에 의해 구현된다. 레이저 거리 측정기(23)는 개략적으로 도시되어 있고 크림핑-공정 중에 금형(5)의 이동방향(11, 13)에 해당하는 방향으로 시간 변조된 레이저 빔(27)을 방출한다. 레이저 빔(27)은 크림프-성형면(15) 가까이에 있는 금형(5)의 하부 말단에 측방 돌출 설치어 있는 반사기(25)에서 반사된다. 이어서, 레이저 빔(27)의 반사된 일부는 레이저 거리 측정기(23)의 검출기에 의해 검출된다. 방출된 레이저광과 검출된 반사 레이저광 사이의 측정하고자 하는 위상차로부터 레이저 거리 측정기(23)와 반사기(25) 사이의 거리(x)에 대한 이동시간 측정이 포함될 수 있다. 이에 따라 레이저 거리 측정기(23)는 크림핑-공정 중에 금형(5)의 크림프-성형면(15)의 위치를 매우 정확하게 측정할 수 있게 된다. 관련 정보는 분석 전자장치(17)에 전달된다.

크림프 제조방법에 따르면, 먼저 미변형 상태의 크림프-미가공품(3)을 크림프-미가공품-수용부(7)에 배치한다. 미변형 상태의 크림프-미가공품(3)은 2개의 접합판(29, 31)을 포함하고 있으며, 상기 접합판은 크림프-미가공품(3)의 바닥부(33)와 함께 공간(35)을 실질적으로 둘러싸고 있다. 크림프-미가공품(3)은 크림핑에 의해 케이블이 체결되는 예를 들면 커텍터 또는 부시의 단부일 수 있다. 이후, 공간(35)에 케이블 또는 상기 케이블의 노출된 다수 개의 스트랜드(37)를 삽입한다.

크림핑-공정 중에는 금형(5) 만이 성형기(9)에 의해 지속적으로 아래쪽을 향해 화살표(11) 방향으로 수직 이동한다. 이때 크림프-성형면(15)은 접합판(29, 31)과 접촉하게 되고 금형(5)이 더 아래쪽으로 이동하게 되면 접합판이 변형된다. 이때 초기 상태에서는 소성 변형이 일어난다. 금형(5)이 더 아래쪽으로 이동하면 접합판(29, 31)이 공간(35)에 위치한 스트랜드(37)를 점점 강하게 압축하게 되어 스트랜드가 한쪽에서는 고밀도로 접촉 배치되고 다른 한쪽에서는 접합판(29, 31)의 재료가 부분적으로 스트랜드(37) 사이의 공간에서 소성 유동하게 된다. 이때 크림프-미가공품(3)은 그 안에 수용된 스트랜드(37)를 포함하여 일부는 소성 변형되고 일부는 탄성 변형된다.

금형(5)이 지속적으로 하방 이동하는 동안에 금형(5)에 의해 크림프-미가공품(3)에 가해지는 힘(F)을 지속적으로 측정한다. 상기 힘의 크기는 측정에 있어 결정적으로 중요한 것은 아니고, 최대 압착력과 최소 압착력의 값만을 결정한다. 상기 성형기 및/또는 금형의 변형에 의한 오차 영향을 최대한 방지하기 위해서 측정기를 크림프-미가공품 가까이에 위치시킨다. 예를 들면 레이저 거리 측정기(23)는 크림프-미가공품-수용부(7) 위 크림프-미가공품 안착면 가까이에 설치하는 것이 유리하고 대응하는 측정기로서 사용되는 반사기(25)는 크림프-성형면(15)에 가까이 금형(5)에 설치할 수 있다.

크림핑-공정 중에 금형(5)은 측력기(19)가 나타낼 때까지 길게 수직으로 아래쪽을 향해 이동하여 크림프-미가공품(3)을 압착하는 금형(5)의 압착력은 최대 압착력(F_max)에 해당한다. 상기 금형은 크림프-미가공품으로부터 떨어질 때까지 소정의 접근 경로를 따라 위쪽으로 이동한다.

도 2에는 하향 이동(x)에 따라 인가된 압착력(F)의 전형적인 변화가 그래프 곡선(39)으로 도시되어 있다. 상기 크림프-미가공품의 변형시 압착력(F)은 크림프-미가공품(3)의 소성 탄성 변형 중에는 서서히 증가하고 추가 이동할 때에 압착력은 이동에 따라 급격하게 증가하는 범위에 있게 된다. 이는 소성 변형 이외에도 내부에 수용된 스트랜드(37)와 함께 크림프-미가공품(3)의 탄성 변형이 더 크게 기여한다는 의미로 생각될 수 있다. 최대 압착력(F_max)에 도달하면 금형(5)의 하방 이동이 멈추게 된다.

이어서, 금형(5)은 도 1에서 화살표(13)로 표시된 바와 같이 다시 위쪽으로 수직 이동하여 크림프-미가공품(3)으로부터 회복 경로 상에서 소정 경로만큼 이동한다. 또한 상기 회복 경로 상에서 금형(5)에 의해 크림프-미가공품(3)에 가해지는 힘(F)은 측력기(19)에 의해 지속적으로 측정된다.

도 2의 그래프 곡선(41)에 의해 도시된 바와 같이, 회복 경로 중에 힘(F)은 위치 이동(Δx)에 따라 거의 선형으로 감소한다. 이를 통해 금형(5)이 상향 이동하는 중에 크림프-미가공품(3) 변형 중 탄성 변형은 지속적으로 응력이 제거된다. 탄성 변형이 완전히 사라지는 순간에 크림프-미가공품(3)은 어떠한 힘도 더 이상 금형(5)에 가하지 않으므로 금형은 실질적으로 압착력 없이 위쪽으로 더 이동될 수 있다.

금형(5)의 이동 중에 위치 측정기(21)에 의해 레이저 거리 측정기(23)와 반사기(25) 사이의 거리(x)를 지속적으로 측정한다. 특히 금형(5)에 의해 크림프-미가공품(3)에 최대 압착력을 가하는 짧은 시간에 거리(x_max)를 측정한다. 나아가 회복 경로 중에 금형(5)에 의해 크림프-미가공품(3)에 가해지는 힘이 적어도 거의 0인 거리(x₀)가 측정된다. 경로차 Δx = x_max - x₀는 크림프-미가공품의 탄성 변형, 즉 금형(5)의 후방 이동 중에 크림프-미가공품의 탄성 회복에 대한 정보를 제공한다.

상기 정보(Δx)는 제조된 크림프의 품질에 대한 지표를 나타낸다. Δx가 작을수록, 즉 탄성 회복이 작을수록 일반적으로 크림프의 품질은 개선된다. 특히, 그렇지 않고 측정된 크림프에 대한 Δx가 결정된 값으로부터 벗어나는 경우에는 제조 결함이 있다는 지표일 수 있다.

상술한 방법 또는 상기 방법을 수행할 수 있는 장치에 의해서 크림핑-공정을 직접 제어할 수 있고 결정된 힘-경로 그래프를 참조하여 제조된 크림프의 품질을 단순하면서 높은 신뢰도로 분석할 수 있다.

Claims

크림프-미가공품(3)을 준비하고;
금형(5)에 의한 압축을 통해 상기 크림프-미가공품을 소성 변형시키는 것을 포함하는 크림프를 제조하기 위한 방법으로서, 상기 금형이 성형기(9)에 의한 압착시 하방 경로(11) 만큼 크림프-미가공품 방향으로 크림프-미가공품이 최대 압착력(F_max)에 의해 압착될 때까지 이동한 후, 회복 경로(13) 만큼 크림프-미가공품으로부터 이동하되;
회복 경로상에서 금형에 의해 크림프-미가공품에 가해지는 압착력(F)을 측정하고 회복 경로 길이(Δx)를 측정하여 회복 경로상에서 최대 압착력에서의 상태와 압착력이 없는 상태 사이에서 금형이 적어도 이동하는 것을 특징으로 하는 방법.
제1항에 있어서, 회복 경로 길이가 크림프-미가공품의 위치에 따라 보정하는 제1기준점과 금형의 위치에 따라 보정하는 제2기준점 사이의 거리를 측정함으로써 결정되는, 방법.
제2항에 있어서, 제2기준점이 금형의 크림프-성형면(15)의 위치에 따라 보정하는, 방법.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서, 회복 경로 길이가 비접촉식으로 측정되는, 방법
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 회복 경로 길이가 광학적으로 측정되는, 방법.
제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 측정된 회복 경로 길이(Δx)를 토대로 크림프의 품질에 대한 정보가 제공되는, 방법.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 따른 방법을 수행하도록 구성된 것을 특징으로 하는, 크림프를 제조하기 위한 장치.
제7항에 있어서, 크림프-미가공품(3)의 소성 변형을 위한 금형(5); 크림프-미가공품을 수용하기 위한 크림프-미가공품-수용부(7); 금형에 의해 크림프-미가공품에 가해지는 압착력(F)을 측정하기 위한 측력기(19); 금형의 위치 측정을 위한 위치 측정기(21)를 포함하는, 크림프를 제조하기 위한 장치.
제8항에 있어서, 상기 위치 측정기가 크림프-미가공품의 위치에 따라 보정하는 제1기준점과 금형의 위치에 따라 보정하는 제2기준점 사이의 거리를 측정하도록 구성된, 크림프를 제조하기 위한 장치.
제8항 또는 제9항에 있어서, 위치 측정기가 레이저 거리 측정기(23)를 포함하는, 크림프를 제조하기 위한 장치.