KR20130061480A - 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 - Google Patents
배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20130061480A KR20130061480A KR1020110127807A KR20110127807A KR20130061480A KR 20130061480 A KR20130061480 A KR 20130061480A KR 1020110127807 A KR1020110127807 A KR 1020110127807A KR 20110127807 A KR20110127807 A KR 20110127807A KR 20130061480 A KR20130061480 A KR 20130061480A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- tfts
- data lines
- data line
- tft
- turned
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3225—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix
- G09G3/3233—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED] using an active matrix with pixel circuitry controlling the current through the light-emitting element
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
- G09G3/3208—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED] organic, e.g. using organic light-emitting diodes [OLED]
- G09G3/3275—Details of drivers for data electrodes
- G09G3/3291—Details of drivers for data electrodes in which the data driver supplies a variable data voltage for setting the current through, or the voltage across, the light-emitting elements
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2310/00—Command of the display device
- G09G2310/02—Addressing, scanning or driving the display screen or processing steps related thereto
- G09G2310/0264—Details of driving circuits
- G09G2310/0297—Special arrangements with multiplexing or demultiplexing of display data in the drivers for data electrodes, in a pre-processing circuitry delivering display data to said drivers or in the matrix panel, e.g. multiplexing plural data signals to one D/A converter or demultiplexing the D/A converter output to multiple columns
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
- G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Control Of El Displays (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
Abstract
본 발명은 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널에 관한 것이다.
역다중화부 복수의 데이터 선을 대응하는 복수의 배선에 연결하고, 불량 검출을 위해 역다중화부를 이용한다. 불량 검출 장치는 제1 내지 제3 직류 전압이 공급되는 제1 내지 제3 직류 배선, 제1 내지 제3 직류 배선 각각의 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제1 게이트 신호에 따라 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제1 데이터 선에 전달하는 복수의 제1 스위치, 및 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제2 게이트 신호에 따라 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제2 데이터 선에 전달하는 복수의 제2 스위치를 포함한다.
역다중화부 복수의 데이터 선을 대응하는 복수의 배선에 연결하고, 불량 검출을 위해 역다중화부를 이용한다. 불량 검출 장치는 제1 내지 제3 직류 전압이 공급되는 제1 내지 제3 직류 배선, 제1 내지 제3 직류 배선 각각의 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제1 게이트 신호에 따라 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제1 데이터 선에 전달하는 복수의 제1 스위치, 및 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제2 게이트 신호에 따라 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제2 데이터 선에 전달하는 복수의 제2 스위치를 포함한다.
Description
본 발명의 실시 예는 표시 장치에 포함되는 역다중화부 및 배선의 불량을 검출하는 방법 및 장치, 그리고 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널에 대한 것이다.
액티브 매트릭스(active matrix) 방식의 표시 패널의 검사를 위해서 RGB 직류 전압들과 게이트 신호를 이용한다.
즉, 표시 패널 중 복수의 적색 화소에 R 직류 전압이 게이트 신호에 동기되어 공급되고, 복수의 녹색 화소에 G 직류 전압이 게이트 신호에 동기되어 공급되며, 복수의 청색 화소에 B 직류 전압이 게이트 신호에 동기되어 공급된다.
적색, 녹색, 및 청색 화소 각각은 R 직류 전압, G 직류 전압, 및 B 직류 전압에 의해 발광하고, 발광 상태에서 무라, 명/암점 및 라인 불량 등이 검사된다.
이와 같은 감사 동작에서 표시 패널과 데이터 구동 회로 사이에 위치하는 역다중화부는 오프 상태이다. 따라서 역다중화부와 데이터 구동 회로 사이의 배선 및 역다중화부를 구성하는 TFT(Thin Film Transistor)의 불량은 검출할 수 없다.
본 발명의 실시 예는 배선 및 역다중화부의 불량을 검출할 수 있는 방법 및 장치를 제공하고자 한다.
본 발명의 실시 예에 따른 불량 검출 장치는 복수의 데이터 선을 대응하는 복수의 배선에 연결하는 역다중화부를 이용한다. 상기 불량 검출 장치는 제1 내지 제3 직류 전압이 공급되는 제1 내지 제3 직류 배선, 상기 제1 내지 제3 직류 배선에 연결되어, 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제1 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제1 데이터 선에 전달하는 복수의 제1 스위치, 및 상기 제1 내지 제3 직류 배선에 연결되어, 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제2 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제2 데이터 선에 전달하는 복수의 제2 스위치를 포함한다.
상기 역다중화부는, 상기 복수의 배선 중 대응하는 배선과 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 데이터 선을 연결하는 제1 TFT를 복수 개 포함하고, 상기 대응하는 배선에 복수의 데이터 선 중 대응하는 다른 데이터 선을 연결하는 제2 TFT를 복수 개 포함한다.
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 배선의 단락 불량을 검출 할 때, 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT 중 한 그룹만 온 상태이고, 상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치는 온 상태이다.
상기 복수의 제1 TFT가 온 상태일 때, 상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제1 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 데이터 선에 연결되고, 상기 대응하는 배선이 단락일 때, 상기 대응하는 데이터 선에 연결된 복수의 화소는 상기 단락 전압에 따라 발광한다.
상기 복수의 제2 TFT가 온 상태일 때, 상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 다른 데이터 선에 연결되고, 상기 대응하는 배선이 단락일 때, 상기 대응하는 다른 데이터 선에 연결된 복수의 화소는 상기 단락 전압에 따라 발광한다.
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT의 불량을 검출 할 때, 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT는 온 상태이고, 상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치 중 한 그룹만 온 상태이다.
상기 복수의 제1 스위치가 턴 온 상태일 때, 상기 턴 온 된 복수의 제1 스위치 각각에 연결된 복수의 제1 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제2 데이터 선에 연결된다.
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때, 상기 제2 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는다.
상기 복수의 제2 스위치가 턴 온 상태일 때, 상기 턴 온 된 복수의 제2 스위치 각각에 연결된 복수의 제2 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제1 데이터 선에 연결된다.
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때, 상기 제1 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는다.
상기 복수의 제1 스위치는, 상기 제1 게이트 신호가 전달되는 게이트 전극, 상기 제1 내지 제3 직류 배선 중 대응하는 직류 배선에 연결되어 있는 제1 전극, 및 상기 복수의 제1 데이터 선 중 대응하는 제1 데이터 선에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다.
상기 복수의 제2 스위치는, 상기 제2 게이트 신호가 전달되는 게이트 전극, 상기 제1 내지 제3 직류 배선 중 대응하는 직류 배선에 연결되어 있는 제1 전극, 및 상기 복수의 제2 데이터 선 중 대응하는 제2 데이터 선에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다.
본 발명의 다른 실시 예에 따른 불량 검출 방법은 제1 화소열에 대응하는 제1 데이터 선 및 제2 화소열에 대응하는 제2 데이터 선에 제1 TFT 및 제2 TFT를 통해 연결되는 배선에 대한 불량을 검출한다. 상기 불량 검출 방법은 상기 제1 데이터 선에 제1 직류 전압을 공급하고, 상기 제2 데이터 선에 상기 제1 직류 전압을 공급하는 단계, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 어느 하나만 턴 온 시키는 단계, 및 상기 제1 데이터 선 및 상기 제2 데이터 선 중 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 턴 온 된 TFT를 통해 상기 배선과 연결된 데이터 선의 화소열이 발광하는 상태에 따라 불량 여부를 검출하는 단계를 포함한다.
상기 제1 TFT가 턴 온일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는, 상기 제1 화소열이 발광하는 상태가 명선 또는 암선인 경우 상기 배선을 불량으로 검출한다.
상기 제2 TFT가 턴 온일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는, 상기 제2 화소열이 발광하는 상태가 명선 또는 암선인 경우 상기 배선을 불량으로 검출한다.
본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 불량 검출 방법은, 제1 스위치 및 제1 화소열에 연결되어 있는 제1 데이터 선 및 제2 스위치 및 제2 화소열에 연결되어 있는 제2 데이터 선 각각에 연결되어 있는 제1 TFT 및 제2 TFT를 포함하는 역다중화부에 대한 불량을 검출한다. 상기 불량 검출 방법은, 상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치 중 하나만 턴 온 시키는 단계, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT를 턴 온 시키는 단계, 및 상기 제1 화소열 및 상기 제2 화소열의 발광 상태에 따라 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT에 대한 불량 여부를 검출한다.
상기 불량 여부를 검출하는 단계는, 상기 제1 화소열과 상기 제2 화소열의 발광 상태가 다를 때, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 적어도 하나를 불량으로 검출한다.
상기 제1 스위치가 턴 온 일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는, 상기 제1 화소열이 블랙으로 표시되고, 상기 제2 화소열이 소정의 밝기로 표시될 때, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 적어도 하나를 불량으로 검출한다.
상기 제2 스위치가 턴 온 일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는, 상기 제2 화소열이 블랙으로 표시되고, 상기 제1 화소열이 소정의 밝기로 표시될 때, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 적어도 하나를 불량으로 검출한다.
본 발명의 또 다른 실시 예에 따른 표시 패널은 복수의 데이터 선, 상기 복수의 데이터 선 각각에 연결되어 있는 복수의 화소, 상기 복수의 데이터 선을 대응하는 복수의 배선에 연결하는 역다중화부, 및 상기 복수의 배선 및 상기 역다중화부의 불량을 검출하는 불량 검출 장치를 포함한다.
상기 불량 검출 장치는, 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제1 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제1 데이터 선에 전달하는 복수의 제1 스위치 및 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제2 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제2 데이터 선에 전달하는 복수의 제2 스위치를 포함한다.
상기 역다중화부는, 상기 복수의 배선 중 대응하는 배선과 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 데이터 선을 연결하는 제1 TFT를 복수 개 포함하고, 상기 대응하는 배선에 복수의 데이터 선 중 대응하는 다른 데이터 선을 연결하는 제2 TFT를 복수 개 포함한다.
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 배선의 단락 불량을 검출 할 때, 상기 복수의 제1 TFT가 온 상태이고, 상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제1 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 데이터 선에 연결된다.
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 배선의 단락 불량을 검출 할 때, 상기 복수의 제2 TFT가 온 상태이고, 상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 다른 데이터 선에 연결된다.
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT의 불량을 검출 할 때, 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT는 온 상태이고, 상기 복수의 제1 스위치가 턴 온 상태이며, 상기 턴 온 된 복수의 제1 스위치 각각에 연결된 복수의 제1 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제2 데이터 선에 연결된다.
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때, 상기 제2 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는 표시 패널.
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT의 불량을 검출 할 때, 상기 복수의 제2 스위치가 턴 온 상태이고, 상기 턴 온 된 복수의 제2 스위치 각각에 연결된 복수의 제2 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제1 데이터 선에 연결된다.
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때, 상기 제1 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는다.
본 발명의 실시 예는 배선 및 역다중화부의 불량을 검출할 수 있는 방법 및 장치를 제공하고, 이를 포함하는 표시 패널을 제공한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 불량 검출 장치를 포함하는 표시 장치를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 화소를 나타낸 도면이다.
도 3은 배선 불량의 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 상태를 나타낸 도면이다.
도 4는 단락 배선이 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다.
도 5는 배선 불량의 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 다른 상태를 나타낸 도면이다.
도 6은 단락 배선이 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다.
도 7은 역다중화부의 불량 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 상태를 나타낸 도면이다.
도 8은 불량 TFT가 발생한 경우 표시 상태를 나타낸 도면이다.
도 9는 역다중화부의 불량 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 다른 상태를 나타낸 도면이다.
도 10은 불량 TFT가 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 화소를 나타낸 도면이다.
도 3은 배선 불량의 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 상태를 나타낸 도면이다.
도 4는 단락 배선이 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다.
도 5는 배선 불량의 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 다른 상태를 나타낸 도면이다.
도 6은 단락 배선이 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다.
도 7은 역다중화부의 불량 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 상태를 나타낸 도면이다.
도 8은 불량 TFT가 발생한 경우 표시 상태를 나타낸 도면이다.
도 9는 역다중화부의 불량 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 다른 상태를 나타낸 도면이다.
도 10은 불량 TFT가 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시 예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시 예에 한정되지 않는다. 도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "전기적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다. 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
이하, 도면을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 불량 검출 방법, 불량 검출 장치, 및 이를 포함하는 표시 장치를 설명한다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 불량 검출 장치를 포함하는 표시 장치를 나타낸 도면이다.
불량 검출 장치(100)는 복수의 데이터 선(D1-Dm)에 연결되어 있고, 복수의 데이터 선(D1-Dm)에 두 개의 테스트 게이트 신호(TGS1, TGS2)에 따라 적색 직류 전압(RDV), 녹색 직류 전압(GDV), 및 청색 직류 전압(BDV)을 전달한다.
불량 검출 장치(100)는 두 개의 게이트 배선(TG1, TG2), 적색 직류 배선(DC_R), 녹색 직류 배선(DC_G), 청색 직류 배선(DC_B), 복수의 제1 제어 스위치(T11-T1a), 및 복수의 제2 제어 스위치(T21-T2b)를 포함한다.
제1 게이트 배선(TG1)은 복수의 제1 제어 스위치(T11-T1a)의 게이트 전극에 연결되어 있고, 제2 게이트 배선(TG2)은 복수의 제2 제어 스위치(T21-T2b)의 게이트 전극에 연결되어 있다.
제1 게이트 신호(TGS1)는 제1 게이트 배선(TG1)을 통해 복수의 제1 제어 스위치(T11-T1a)의 게이트 전극에 전달되고, 제2 게이트 신호(TGS2)는 제2 게이트 배선(TG2)을 통해 복수의 제2 제어 스위치(T21-T2b)의 게이트 전극에 전달된다.
복수의 제1 제어 스위치(T11-T1a) 및 복수의 제2 제어 스위치(T21-T2b)는 P 채널 타입의 트랜지스터로 구현되어 있고, 제1 및 제2 게이트 신호(TGS1, TGS2)의 인에이블 레벨은 로우 레벨이고, 디스에이블 레벨은 하이 레벨이다.
복수의 제1 스위치(T11-T1a) 각각은 적색 직류 배선(DC_R), 녹색 직류 배선(DC_G), 및 청색 직류 배선(DC_B) 중 대응하는 직류 배선에 연결되어 있는 소스 전극 및 복수의 데이터 선(D1-Dm) 중 대응하는 데이터 선에 연결되어 있는 드레인 전극을 포함한다.
복수의 제2 스위치(T21-T2b) 각각은 적색 직류 배선(DC_R), 녹색 직류 배선(DC_G), 및 청색 직류 배선(DC_B) 중 대응하는 직류 배선에 연결되어 있는 소스 전극 및 복수의 데이터 선(D1-Dm) 중 대응하는 데이터 선에 연결되어 있는 드레인 전극을 포함한다.
불량 검출 장치(100)에 의해 배선(L1-Lk)의 불량 여부가 판단될 때 제1 및 제2 게이트 신호(TGS1, TGS2)는 모두 인에이블 레벨이다. 불량 검출 장치(100)에 의해 역다중화부(200)의 불량 여부가 판단될 때 제1 및 제2 게이트 신호(TGS1, TGS2) 중 어느 하나만 인에이블 레벨이다.
표시부(300)는 복수의 주사선(S1-Sn), 복수의 데이터 선(D1-Dm), 및 복수의 주사선(S1-Sn) 및 복수의 데이터 선(D1-Dm)이 교차하는 영역에 형성되어 있는 복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B)를 포함한다.
복수의 주사선(S1-Sn) 각각은 행 방향으로 형성되어 있고, 한 행에 형성된 복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B)는 동일한 주사선에 연결되어 있다. 복수의 데이터 선(D1-Dm)은 열 방향으로 형성되어 있고, 한 열에 형성된 복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B)는 동일한 데이터 선에 연결되어 있다.
복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B) 각각은 구동 회로 및 발광 소자를 포함한다. 복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B) 각각의 구동 회로는 대응하는 주사선을 통해 전달되는 주사 신호에 의해 대응하는 데이터 선을 통해 전달되는 데이터 신호를 기입하고, 기입된 데이터 신호에 따른 구동 전류를 생성하여 발광 소자에 공급한다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 화소를 나타낸 도면이다. 본 발명의 실시 예가 이에 한정되는 것은 아니다.
도 2에 도시된 화소는 i 번째 주사선(Si) 및 j 번째 데이터 선(Dj)에 연결된 화소이다.
도 2에 도시된 바와 같이, 화소(PXij)는 스위칭 트랜지스터(TS), 구동 트랜지스터(TD), 커패시터(C), 및 유기 발광 소자(OLED)를 포함한다.
스위칭 트랜지스터(TS)는 주사선(Si)에 연결되어 있는 게이트 전극, 데이터 선(Dj)에 연결되어 있는 제1 전극 및 구동 트랜지스터(TD)의 게이트 전극에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다.
구동 트랜지스터(TD)는 전압(ELVDD)에 연결되어 있는 소스 전극, 유기 발광 소자(OLED)의 애노드 전극에 연결되어 있는 드레인 전극, 및 스위칭 트랜지스터(TS)에 연결되어 있는 게이트 전극을 포함한다.
커패시터(C)는 구동 트랜지스터(TD)의 게이트 전극 및 소스 전극 사이에 연결되어 있고, 유기 발광 소자(OLED)의 캐소드 전극은 전압(ELVSS)에 연결되어 있다.
주사선(Si)을 통해 전달되는 주사 신호가 로우 레벨일 때, 스위칭 트랜지스터(TS)가 턴 온 되고, 데이터 선(Dj)를 통해 전달되는 데이터 신호에 의해 커패시터(C)가 충전된다.
커패시터(C)에 의해 구동 트랜지스터(TD)의 게이트 전압은 다음 주사시까지 일정하게 유지되고, 구동 트랜지스터(TD)의 게이트-소스 전압 차에 따르는 구동 전류가 발생한다. 유기 발광 소자(OLED)는 구동 전류에 따라 발광한다.
역다중화부(200)는 복수의 배선(L1-Lk) 및 복수의 데이터 선(D1-Dm) 사이에 연결되어 있다. 복수의 배선(L1-Lk)는 복수의 패드(PD1-PDk)에 연결되어 있고, 복수의 패드(PD1-PDk)에 입력되는 복수의 데이터 신호들은 복수의 배선(L1-Lk)를 통해 역다중화부(200)에 전달된다.
역다중화부(200)는 복수의 배선(L1-Lk)를 통해 전달되는 복수의 데이터 신호들을 복수의 TFT를 통해 대응하는 복수의 데이터 선에 전달한다. 역다중화부(200)는 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm), 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1), 제1 제어 선(CLA), 및 제2 제어 선(CLB)를 포함한다.
제1 제어 선(CLA)은 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)의 게이트 전극에 연결되어 있다. 제1 제어 선(CLA)를 통해 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)를 제어하는 제1 제어 신호(CON1)가 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)의 게이트 전극에 전달된다.
제2 제어 선(CLB)은 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)의 게이트 전극에 연결되어 있다. 제2 제어 선(CLB)를 통해 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)를 제어하는 제2 제어 신호(CON2)가 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)의 게이트 전극에 전달된다.
복수의 패드(PD1-PDk)가 데이터 구동 회로(도시하지 않음)에 연결되면, 데이터 구동 회로로부터 복수의 데이터 신호가 복수의 패드(PD1-PDk)로 입력된다.
이 때, 제1 제어 신호(CON1)에 의해 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)가 턴 온 되면, 복수의 데이터 선(D1, D3, … Dm)에 복수의 데이터 신호들이 전달되고, 제2 제어 신호(CON2)에 의해 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)가 턴 온 되면, 복수의 데이터 선(D2, D4, … Dm-1)에 복수의 데이터 신호들이 전달된다.
본 발명의 실시 예에 따라 복수의 배선(L1-Lk) 불량 및 역다중화부(200)의 불량 즉, 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 및 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)의 불량 여부를 검출할 때, 복수의 패드(PD1-PDk)는 데이터 구동 회로에 연결되어 있지 않다.
복수의 배선(L1-Lk)의 불량 여부를 검출할 때, 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 및 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1) 중 한 그룹만 턴 온 상태로 제어된다. 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 및 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)의 불량 여부를 검출할 때는 모두 턴 온 상태로 제어된다.
이하 도 3 내지 도 6을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 배선 불량 검출 방법을 설명한다. 설명의 편의를 위해서 도 3 내지 6에서는 9개의 화소 열만 도시하였다.
아울러 배선 불량 검출을 위해서 복수의 주사선(S1-Sn)에는 스위칭 트랜지스터(TS)를 턴 온 시키는 레벨의 복수의 주사신호가 전달된다. 배선 불량 검출 시, 적색, 녹색 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)의 레벨은 검출 조건에 따라 설정된다.
예를 들어, 배선이 전압(ELVSS)에 단락되면, 단락된 배선에 연결된 화소열은 높은 휘도로 발광한다. 이와 달리, 배선이 전압(ELVDD)에 단락되면, 단락된 배선에 연결된 화소열은 발과하지 않는다. 따라서 정상적인 배선에 연결된 화소열과 전압(ELVSS) 또는 전압(ELLVDD)에 단락된 배선에 연결된 화소열을 구분하기 적절한 정도로 적색, 녹색 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)의 레벨을 설정하면 된다.
실시 예에서는, 적색, 녹색 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)이 계조 범위 중에 중간 계조에 대응하는 데이터 전압과 동일한 레벨로 설정될 수 있다.
도 3은 배선 불량의 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 상태를 나타낸 도면이다.
도 3에 도시된 바와 같이, 제1 게이트 신호(TGS1) 및 제2 게이트 신호(TGS2)에 의해 복수의 제1 스위치(T11-T1a) 및 복수의 제2 스위치(T21-T2b)는 모두 턴 온 상태이고, 제1 제어 신호(CON1)에 의해 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)가 턴 온 상태이다. 그러면, 복수의 배선(L1-Lk) 각각은 턴 온 된 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)를 통해 복수의 데이터 선(D1-Dm)에 연결되어 있게 된다.
복수의 데이터 선(D1-Dm) 각각에는 대응하는 제1 스위치(또는 제2 스위치)를 통해 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV) 중 대응하는 직류 전압이 공급되고, 복수의 패드(PD1-PDk)는 데이터 구동 회로에 연결되지 않은 플로팅 상태이다. 따라서 복수의 데이터 선(D1-Dm) 각각을 통해 전달되는 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)은 복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B)에 전달되고, 복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B)는 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)에 따라 발광한다.
이 때, 복수의 배선(L1-Lk) 중 단락 배선이 발생하면, 단락 배선을 통해 단락 배선에 연결된 데이터 선이 단락 되고, 단락 된 데이터 선에 연결되어 있는 복수의 화소(PX_R, PX_G, PX_B)들은 단락 되지 않은 배선에 연결되어 있는 화소들과 다른 밝기로 발광한다.
예를 들어, 도 3에 도시된 바와 같이, 배선(L1)이 전압(ELVDD)에 단락 된 것으로 가정한다. 배선(L1)과 전압(ELVDD) 사이에는 저항 성분이 존재할 수 있다.
배선(L1)은 턴 온 된 제1 TFT(TA1)를 통해 데이터 선(D1)에 연결되어 있다. 따라서 데이터 선(D1)에는 전압(ELVDD)와 유사한 하이 레벨의 전압이 공급된다. 그러면, 도 2에 도시된 스위칭 트랜지스터(TS)를 통해 구동 트랜지스터(TD)의 게이트 전극에는 하이 레벨의 전압이 공급된다.
따라서 데이터 선(D1)에 연결된 복수의 화소(PX_R)는 매우 낮은 휘도로 발광한다. 즉, 데이터 선(D1)을 따라 암선(dark line)이 나타난다. 이와 같이, 암선으로 표시된 화소 열에 연결된 데이터 선에 전기적으로 연결되어 있는 배선이 단락 된 것으로 검출될 수 있다.
이와 달리, 배선(L1-Lk)이 전압(ELVSS)에 단락 될 수도 있다.
도 4는 단락 배선이 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다. 도 4에서는 배선(L1)이 전압(ELVSS)에 단락 된 상황이 도시되어 있다. 그러면 데이터 선(D1)에는 전압(ELVSS)과 유사한 로우 레벨의 전압이 공급된다. 그러면, 스위칭 트랜지스터(TS)를 통해 구동 트랜지스터(TD)의 게이트 전극에는 로우 레벨의 전압이 공급된다.
따라서 데이터 선(D1)에 연결된 복수의 화소(PX_R)는 매우 높은 휘도로 발광한다. 즉, 데이터 선(D1)을 따라 명선(bright line)이 나타난다. 이와 같이, 명선으로 표시된 화소 열에 연결된 데이터 선에 전기적으로 연결되어 있는 배선이 단락 된 것으로 검출될 수 있다.
이와 같은 방식으로 복수의 화소 열 중 암선 또는 명선으로 표시되는 화소 열에 대응하는 배선을 단락으로 판단할 수 있다. 배선(L2)이 단락 된 경우 데이터 선(D5)에 연결된 화소 열이 명선 또는 암선으로 표시되고, 배선(L3)이 단락 된 경우 데이터 선(D3)에 연결된 화소 열이 명선 또는 암선으로 표시되며, 배선(L4)이 단락 된 경우 데이터 선(D7)에 연결된 화소 열이 명선 또는 암선으로 표시된다.
도 3 및 도 4를 참조로 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)가 턴 온 상태인 조건으로 설명하였으나, 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 대신 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)가 턴 온 상태일 수 있다.
도 5는 배선 불량의 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 다른 상태를 나타낸 도면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)가 턴 온 상태인 경우에, 단락된 배선에 대응하는 화소열이 달라질 뿐 앞서 설명과 동일하다. 도 5에서도 배선(L1)이 전압(ELVDD)에 단락 된 것으로 가정한다. 배선(L1)과 전압(ELVDD) 사이에는 저항 성분이 존재할 수 있다.
배선(L1)은 턴 온 된 제2 TFT(TB4)를 통해 데이터 선(D4)에 연결되어 있다. 따라서 데이터 선(D4)에는 전압(ELVDD)과 유사한 하이 레벨의 전압이 공급된다. 그러면, 도 2에 도시된 스위칭 트랜지스터(TS)를 통해 구동 트랜지스터(TD)의 게이트 전극에는 하이 레벨의 전압이 공급된다.
따라서 데이터 선(D4)에 연결된 복수의 화소(PX_R)는 매우 낮은 휘도로 발광한다. 즉, 데이터 선(D4)을 따라 암선(dark line)이 나타난다. 이와 같이, 암선으로 표시된 화소 열에 연결된 데이터 선에 전기적으로 연결되어 있는 배선이 단락 된 것으로 검출될 수 있다.
도 6은 단락 배선이 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다. 도 6에서는 배선(L1)이 전압(ELVSS)에 단락 된 상황이 도시되어 있다.
그러면 데이터 선(D4)에는 전압(ELVSS)과 유사한 로우 레벨의 전압이 공급된다. 그러면, 스위칭 트랜지스터(TS)를 통해 구동 트랜지스터(TD)의 게이트 전극에는 로우 레벨의 전압이 공급된다.
따라서 데이터 선(D4)에 연결된 복수의 화소(PX_R)는 매우 높은 휘도로 발광한다. 즉, 데이터 선(D4)을 따라 명선(bright line)이 나타난다. 이와 같이, 명선으로 표시된 화소 열에 연결된 데이터 선에 전기적으로 연결되어 있는 배선이 단락 된 것으로 검출될 수 있다.
이와 같은 방식으로 복수의 화소 열 중 암선 또는 명선으로 표시되는 화소 열에 대응하는 배선을 단락으로 판단할 수 있다. 배선(L2)이 단락된 경우 데이터 선(D5)에 연결된 화소 열이 명선 또는 암선으로 표시되며, 배선(L3)이 단락된 경우 데이터 선(D3)에 연결된 화소 열이 명선 또는 암선으로 표시되고, 배선(L4)이 단락된 경우 데이터 선(D7)에 연결된 화소 열이 명선 또는 암선으로 표시된다.
이하, 도 7 내지 10을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 역다중화부(200)의 불량 검출 방법을 설명한다.
도 7-10에서도 도 3-6와 같이 설명의 편의를 위해 9개의 화소 열 만을 도시한다.
아울러 역다중화부 불량 검출을 위해서 복수의 주사선(S1-Sn)에는 스위칭 트랜지스터(TS)를 턴 온 시키는 레벨의 복수의 주사신호가 전달된다. 역다중화부 불량 검출 시, 적색, 녹색 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)의 레벨은 역다중화부에서 발생한 불량 TFT를 검출할 수 있는 적절한 전압으로 설정된다.
도 7은 역다중화부의 불량 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 상태를 나타낸 도면이다.
도 7에 도시된 바와 같이, 제1 게이트 신호(TGS1) 및 제2 게이트 신호(TGS2)에 의해 복수의 제1 스위치(T11-T1a) 및 복수의 제2 스위치(T21-T2b) 중 한 그룹의 스위치만 턴 온 상태이다.
본 발명의 실시 예에서 복수의 제2 스위치(T21-T2b)가 제2 게이트 신호(TG2)에 의해 턴 온 되고, 복수의 제1 스위치(T11-T1a)가 제1 게이트 신호(TG1)에 의해 턴 오프 되는 것으로 설정된다.
아울러, 제1 제어 신호(CON1)에 의해 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)가 턴 온 상태이고, 제2 제어 신호(CON2)에 의해 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)가 턴 온 상태이다.
그러면, 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)은 턴 온 된 복수의 제2 스위치(T21-T2b), 턴 온 된 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 및 턴 온 된 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)를 통해 복수의 데이터 선(D1-Dm)에 연결된다.
즉, 표시부(300)의 모든 적색, 녹색, 및 청색 화소(PX_R, PX_G, PX_B)에 대응하는 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)이 공급된다.
실시 예에서, 역다중화부(300)의 불량 검출을 위한 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)은 화소를 발광 시키지 않는 전압으로 설정할 수 있다.
구체적으로, 제2 스위치(T21), 데이터 선(D4), 제2 TFT(TB4), 제1 TFT(TA1), 및 데이터 선(D1)을 포함하는 경로가 형성되고, 적색 직류 전압(RDV)이 데이터 선(D1) 및 데이터 선(D4)에 연결되어 있는 복수의 적색 화소(PX_R)에 공급된다. 제2 스위치(T22), 데이터 선(D5), 제1 TFT(TA5), 제2 TFT(TB2), 및 데이터 선(D2)을 포함하는 경로가 형성되고, 녹색 직류 전압(GDV)이 데이터 선(D2) 및 데이터 선(D5)에 연결되어 있는 복수의 녹색 화소(PX_G)에 공급된다. 제2 스위치(T23), 데이터 선(D6), 제2 TFT(TB6), 제1 TFT(TA3), 및 데이터 선(D3)을 포함하는 경로가 형성되고, 청색 직류 전압(BDV)이 데이터 선(D3) 및 데이터 선(D6)에 연결되어 있는 복수의 청색 화소(PX_B)에 공급된다.
이와 같은 방식으로 모든 화소에 대응하는 직류 전압이 공급되면 표시부(300) 전체는 블랙으로 표시된다. 그런데, 역다중화부(300)를 구성하는 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 및 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1) 중 불량 TFT가 발생하는 경우, 불량 TFT를 포함하는 경로의 데이터 선은 대응하는 직류 전압이 공급되지 않는다.
도 8은 불량 TFT가 발생한 경우 표시 상태를 나타낸 도면이다. 예를 들어, 제2 TFT(TB6) 및 제1 TFT(TA3) 중 적어도 어느 하나가 불량인 것으로 가정한다.
제2 TFT(TB6)가 불량일 때, 데이터 선(D3)에는 청색 직류 전압(BDV)이 공급되지 않는다. 따라서 데이터 선(D3)에 연결된 복수의 화소(PX_B)는 블랙으로 표시되지 않고 소정의 밝기로 발광한다. 즉, 명선이 발생한다. 제2 TFT(TB6) 대신 제1 TFT(TA3)가 불량인 경우에도 데이터 선(D3)에 연결된 화소 열은 명선으로 표시된다. 즉, 데이터 선에 연결된 제1 TFT 및 제2 TFT 중 적어도 하나는 불량이다.
이와 같은 방식으로, 명선이 발생하는 데이터 선에 의해 불량인 제1 TFT 또는 제2 TFT를 검출할 수 있다.
그러나 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니고 복수의 제2 스위치(T21-T2b) 대신 복수의 제1 스위치(T11-T1a)가 턴 온 될 수 있다.
도 9는 역다중화부의 불량 검출을 위한 불량 검출 장치 및 역다중화부의 다른 상태를 나타낸 도면이다.
도 9에 도시된 바와 같이, 복수의 제2 스위치(T21-T2b)가 제2 게이트 신호(TG2)에 의해 턴 오프 되고, 복수의 제1 스위치(T11-T1a)가 제1 게이트 신호(TG1)에 의해 턴 온 된 것으로 설정된다.
아울러, 제1 제어 신호(CON1)에 의해 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)가 턴 온 상태이고, 제2 제어 신호(CON2)에 의해 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)가 턴 온 상태이다.
그러면, 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)은 턴 온 된 복수의 제1 스위치(T11-T1a), 턴 온 된 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 및 턴 온 된 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1)를 통해 복수의 데이터 선(D1-Dm)에 연결된다.
즉, 표시부(300)의 모든 적색, 녹색, 및 청색 화소(PX_R, PX_G, PX_B)에 대응하는 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)이 공급되고, 역다중화부(300)의 불량 검출을 위한 적색, 녹색, 및 청색 직류 전압(RDV, GDV, BDV)은 화소를 발광 시키지 않는 전압으로 설정할 수 있다.
구체적으로, 제1 스위치(T21), 데이터 선(D1), 제1 TFT(TA1), 제2 TFT(TB4), 및 데이터 선(D4)을 포함하는 경로가 형성되고, 적색 직류 전압(RDV)이 데이터 선(D1) 및 데이터 선(D4)에 연결되어 있는 복수의 적색 화소(PX_R)에 공급된다. 제1 스위치(T12), 데이터 선(D2), 제2 TFT(TB2), 제1 TFT(TA5), 및 데이터 선(D5)을 포함하는 경로가 형성되고, 녹색 직류 전압(GDV)이 데이터 선(D2) 및 데이터 선(D5)에 연결되어 있는 복수의 녹색 화소(PX_G)에 공급된다. 제1 스위치(T13), 데이터 선(D3), 제1 TFT(TA3), 제2 TFT(TB6), 및 데이터 선(D6)을 포함하는 경로가 형성되고, 청색 직류 전압(BDV)이 데이터 선(D3) 및 데이터 선(D6)에 연결되어 있는 복수의 청색 화소(PX_B)에 공급된다.
이와 같은 방식으로 모든 화소에 대응하는 직류 전압이 공급되면 표시부(300) 전체는 블랙으로 표시된다. 그런데, 역다중화부(300)를 구성하는 복수의 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm) 및 복수의 제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1) 중 불량 TFT가 발생하는 경우, 불량 TFT를 포함하는 경로의 데이터 선은 대응하는 직류 전압이 공급되지 않는다.
도 10은 불량 TFT가 발생한 경우 다른 표시 상태를 나타낸 도면이다. 예를 들어, 도 8과 동일하게 제2 TFT(TB6) 및 제1 TFT(TA3) 중 적어도 어느 하나가 불량인 것으로 가정한다.
제2 TFT(TB6)가 불량일 때, 데이터 선(D6)에는 청색 직류 전압(BDV)이 공급되지 않는다. 따라서 데이터 선(D6)에 연결된 복수의 화소(PX_B)는 블랙으로 표시되지 않고 소정의 밝기로 발광한다. 즉, 명선이 발생한다. 제2 TFT(TB6) 대신 제1 TFT(TA3)가 불량인 경우에도 데이터 선(D6)에 연결된 화소 열은 명선으로 표시된다. 즉, 데이터 선에 연결된 제1 TFT 및 제2 TFT 중 적어도 하나는 불량이다.
이와 같은 방식으로, 명선이 발생하는 데이터 선에 의해 불량인 제1 TFT 또는 제2 TFT를 검출할 수 있다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
불량 검출 장치(100), 데이터 선(D1-Dm), 테스트 게이트 신호(TGS1, TGS2)
적색 직류 전압(RDV), 녹색 직류 전압(GDV), 청색 직류 전압(BDV)
게이트 배선(TG1, TG2), 적색 직류 배선(DC_R), 녹색 직류 배선(DC_G)
청색 직류 배선(DC_B), 제1 제어 스위치(T11-T1a), 표시부(300)
제2 제어 스위치(T21-T2b), 주사선(S1-Sn), 화소(PX_R, PX_G, PX_B)
스위칭 트랜지스터(TS), 구동 트랜지스터(TD), 커패시터(C)
유기 발광 소자(OLED), 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)
제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1), 제1 제어 선(CLA), 제2 제어 선(CLB)
배선(L1-Lk), 패드(PD1-PDk)
적색 직류 전압(RDV), 녹색 직류 전압(GDV), 청색 직류 전압(BDV)
게이트 배선(TG1, TG2), 적색 직류 배선(DC_R), 녹색 직류 배선(DC_G)
청색 직류 배선(DC_B), 제1 제어 스위치(T11-T1a), 표시부(300)
제2 제어 스위치(T21-T2b), 주사선(S1-Sn), 화소(PX_R, PX_G, PX_B)
스위칭 트랜지스터(TS), 구동 트랜지스터(TD), 커패시터(C)
유기 발광 소자(OLED), 제1 TFT(TA1, TA3, … TAm)
제2 TFT(TB2, TB4, … TBm-1), 제1 제어 선(CLA), 제2 제어 선(CLB)
배선(L1-Lk), 패드(PD1-PDk)
Claims (26)
- 복수의 데이터 선을 대응하는 복수의 배선에 연결하는 역다중화부를 이용하는 불량 검출 장치에 있어서,
제1 내지 제3 직류 전압이 공급되는 제1 내지 제3 직류 배선,
상기 제1 내지 제3 직류 배선에 연결되어, 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제1 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제1 데이터 선에 전달하는 복수의 제1 스위치, 및
상기 제1 내지 제3 직류 배선에 연결되어, 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제2 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제2 데이터 선에 전달하는 복수의 제2 스위치를 포함하는 불량 검출 장치. - 제1항에 있어서,
상기 역다중화부는,
상기 복수의 배선 중 대응하는 배선과 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 데이터 선을 연결하는 제1 TFT를 복수 개 포함하고, 상기 대응하는 배선에 복수의 데이터 선 중 대응하는 다른 데이터 선을 연결하는 제2 TFT를 복수 개 포함하고,
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 배선의 단락 불량을 검출 할 때,
상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT 중 한 그룹만 온 상태이고, 상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치는 온 상태인 불량 검출 장치. - 제2항에 있어서,
상기 복수의 제1 TFT가 온 상태일 때,
상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제1 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 데이터 선에 연결되고,
상기 대응하는 배선이 단락일 때, 상기 대응하는 데이터 선에 연결된 복수의 화소는 상기 단락 전압에 따라 발광하는 불량 검출 장치. - 제2항에 있어서,
상기 복수의 제2 TFT가 온 상태일 때,
상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 다른 데이터 선에 연결되고,
상기 대응하는 배선이 단락일 때, 상기 대응하는 다른 데이터 선에 연결된 복수의 화소는 상기 단락 전압에 따라 발광하는 불량 검출 장치. - 제1항에 있어서,
상기 역다중화부는,
상기 복수의 배선 중 대응하는 배선과 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 데이터 선을 연결하는 제1 TFT를 복수 개 포함하고, 상기 대응하는 배선에 복수의 데이터 선 중 대응하는 다른 데이터 선을 연결하는 제2 TFT를 복수 개 포함하며,
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT의 불량을 검출 할 때,
상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT는 온 상태이고, 상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치 중 한 그룹만 온 상태인 불량 검출 장치. - 제5항에 있어서,
상기 복수의 제1 스위치가 턴 온 상태일 때,
상기 턴 온 된 복수의 제1 스위치 각각에 연결된 복수의 제1 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제2 데이터 선에 연결되는 불량 검출 장치. - 제6항에 있어서,
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때,
상기 제2 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는 불량 검출 장치. - 제5항에 있어서,
상기 복수의 제2 스위치가 턴 온 상태일 때,
상기 턴 온 된 복수의 제2 스위치 각각에 연결된 복수의 제2 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제1 데이터 선에 연결되는 불량 검출 장치. - 제8항에 있어서,
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때,
상기 제1 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는 불량 검출 장치. - 제1항에 있어서,
상기 복수의 제1 스위치는,
상기 제1 게이트 신호가 전달되는 게이트 전극, 상기 제1 내지 제3 직류 배선 중 대응하는 직류 배선에 연결되어 있는 제1 전극, 및 상기 복수의 제1 데이터 선 중 대응하는 제1 데이터 선에 연결되어 있는 제2 전극을 포함하는 불량 검출 장치. - 제1항에 있어서,
상기 복수의 제2 스위치는,
상기 제2 게이트 신호가 전달되는 게이트 전극, 상기 제1 내지 제3 직류 배선 중 대응하는 직류 배선에 연결되어 있는 제1 전극, 및 상기 복수의 제2 데이터 선 중 대응하는 제2 데이터 선에 연결되어 있는 제2 전극을 포함하는 불량 검출 장치. - 제1 화소열에 대응하는 제1 데이터 선 및 제2 화소열에 대응하는 제2 데이터 선에 제1 TFT 및 제2 TFT를 통해 연결되는 배선에 대한 불량을 검출하는 방법에 있어서,
상기 제1 데이터 선에 제1 직류 전압을 공급하고, 상기 제2 데이터 선에 상기 제1 직류 전압을 공급하는 단계,
상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 어느 하나만 턴 온 시키는 단계, 및
상기 제1 데이터 선 및 상기 제2 데이터 선 중 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 턴 온 된 TFT를 통해 상기 배선과 연결된 데이터 선의 화소열이 발광하는 상태에 따라 불량 여부를 검출하는 단계를 포함하는 불량 검출 방법. - 제12항에 있어서,
상기 제1 TFT가 턴 온일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는,
상기 제1 화소열이 발광하는 상태가 명선 또는 암선인 경우 상기 배선을 불량으로 검출하는 불량 검출 방법. - 제12항에 있어서,
상기 제2 TFT가 턴 온일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는,
상기 제2 화소열이 발광하는 상태가 명선 또는 암선인 경우 상기 배선을 불량으로 검출하는 불량 검출 방법. - 제1 스위치 및 제1 화소열에 연결되어 있는 제1 데이터 선 및 제2 스위치 및 제2 화소열에 연결되어 있는 제2 데이터 선 각각에 연결되어 있는 제1 TFT 및 제2 TFT를 포함하는 역다중화부에 대한 불량을 검출하는 방법에 있어서,
상기 제1 스위치 및 상기 제2 스위치 중 하나만 턴 온 시키는 단계,
상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT를 턴 온 시키는 단계, 및
상기 제1 화소열 및 상기 제2 화소열의 발광 상태에 따라 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT에 대한 불량 여부를 검출하는 불량 검출 방법. - 제15항에 있어서,
상기 불량 여부를 검출하는 단계는,
상기 제1 화소열과 상기 제2 화소열의 발광 상태가 다를 때, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 적어도 하나를 불량으로 검출하는 불량 검출 방법. - 제16항에 있어서,
상기 제1 스위치가 턴 온 일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는,
상기 제1 화소열이 블랙으로 표시되고, 상기 제2 화소열이 소정의 밝기로 표시될 때, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 적어도 하나를 불량으로 검출하는 불량 검출 방법. - 제16항에 있어서,
상기 제2 스위치가 턴 온 일 때, 상기 불량 여부를 검출하는 단계는,
상기 제2 화소열이 블랙으로 표시되고, 상기 제1 화소열이 소정의 밝기로 표시될 때, 상기 제1 TFT 및 상기 제2 TFT 중 적어도 하나를 불량으로 검출하는 불량 검출 방법. - 복수의 데이터 선,
상기 복수의 데이터 선 각각에 연결되어 있는 복수의 화소,
상기 복수의 데이터 선을 대응하는 복수의 배선에 연결하는 역다중화부, 및
상기 복수의 배선 및 상기 역다중화부의 불량을 검출하는 불량 검출 장치를 포함하고,
상기 불량 검출 장치는,
제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제1 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제1 데이터 선에 전달하는 복수의 제1 스위치, 및
상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 하나를 제2 게이트 신호에 따라 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 복수의 제2 데이터 선에 전달하는 복수의 제2 스위치를 포함하는 표시 패널. - 제19항에 있어서,
상기 역다중화부는,
상기 복수의 배선 중 대응하는 배선과 상기 복수의 데이터 선 중 대응하는 데이터 선을 연결하는 제1 TFT를 복수 개 포함하고, 상기 대응하는 배선에 복수의 데이터 선 중 대응하는 다른 데이터 선을 연결하는 제2 TFT를 복수 개 포함하는 표시 패널. - 제20항에 있어서,
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 배선의 단락 불량을 검출 할 때,
상기 복수의 제1 TFT가 온 상태이고, 상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제1 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 데이터 선에 연결되는 표시 패널. - 제20항에 있어서,
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 배선의 단락 불량을 검출 할 때,
상기 복수의 제2 TFT가 온 상태이고, 상기 대응하는 배선은 상기 턴 온 된 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 상기 대응하는 다른 데이터 선에 연결되는 표시 패널. - 제20항에 있어서,
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT의 불량을 검출 할 때,
상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT는 온 상태이고, 상기 복수의 제1 스위치가 턴 온 상태이며, 상기 턴 온 된 복수의 제1 스위치 각각에 연결된 복수의 제1 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제2 데이터 선에 연결되는 표시 패널. - 제23항에 있어서,
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때,
상기 제2 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는 표시 패널. - 제20항에 있어서,
상기 불량 검출 장치가 상기 복수의 제1 TFT 및 상기 복수의 제2 TFT의 불량을 검출 할 때,
상기 복수의 제2 스위치가 턴 온 상태이고, 상기 턴 온 된 복수의 제2 스위치 각각에 연결된 복수의 제2 데이터 선 각각은 상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나를 통해 대응하는 제1 데이터 선에 연결되는 표시 패널. - 제25항에 있어서,
상기 복수의 제1 TFT 중 하나 및 상기 복수의 제2 TFT 중 하나 중 적어도 하나가 불량일 때,
상기 제1 데이터 선에는 상기 제1 내지 제3 직류 전압 중 대응하는 직류 전압이 전달되지 않는 표시 패널.
Priority Applications (7)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110127807A KR101943069B1 (ko) | 2011-12-01 | 2011-12-01 | 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 |
JP2012067450A JP6034033B2 (ja) | 2011-12-01 | 2012-03-23 | 配線および逆多重化部の不良検出方法、不良検出装置および不良検出装置を含む表示パネル |
US13/484,644 US9390644B2 (en) | 2011-12-01 | 2012-05-31 | Detecting method of defects of line and demultiplexer, defect detecting device, and display panel including the defect detecting device |
EP12179991.0A EP2600627B1 (en) | 2011-12-01 | 2012-08-10 | Detecting method of defects of line and demultiplexer, defect detecting device, and display panel including the defect detecting device |
CN2012205638782U CN202976770U (zh) | 2011-12-01 | 2012-10-30 | 缺陷检测装置和显示面板 |
CN201210422647.4A CN103137050B (zh) | 2011-12-01 | 2012-10-30 | 线路和分用器的缺陷检测方法、缺陷检测装置和显示面板 |
TW101141623A TWI585425B (zh) | 2011-12-01 | 2012-11-08 | 線路與解多工器之缺陷檢測方法、缺陷檢測裝置、以及包含該缺陷檢測裝置之顯示面板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020110127807A KR101943069B1 (ko) | 2011-12-01 | 2011-12-01 | 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20130061480A true KR20130061480A (ko) | 2013-06-11 |
KR101943069B1 KR101943069B1 (ko) | 2019-04-18 |
Family
ID=47018737
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020110127807A KR101943069B1 (ko) | 2011-12-01 | 2011-12-01 | 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9390644B2 (ko) |
EP (1) | EP2600627B1 (ko) |
JP (1) | JP6034033B2 (ko) |
KR (1) | KR101943069B1 (ko) |
CN (2) | CN103137050B (ko) |
TW (1) | TWI585425B (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020096074A1 (ko) * | 2018-11-05 | 2020-05-14 | 한국로봇융합연구원 | 신호 배선의 다중화 및 단선감지에 의한 다중 배선 간 전환 제어방법 및 시스템 |
KR20220051407A (ko) * | 2020-01-20 | 2022-04-26 | 윤구(구안) 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 표시 패널의 테스트 회로, 방법 및 표시 패널 |
Families Citing this family (32)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101943069B1 (ko) * | 2011-12-01 | 2019-04-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 |
KR102057288B1 (ko) * | 2013-02-21 | 2019-12-19 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법 |
KR102098743B1 (ko) | 2013-10-02 | 2020-04-09 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유기 발광 표시 패널 |
TWI502261B (zh) * | 2013-12-12 | 2015-10-01 | Chunghwa Picture Tubes Ltd | 畫素陣列基板及顯示面板 |
CN104112426B (zh) * | 2014-06-30 | 2016-08-24 | 上海天马有机发光显示技术有限公司 | 一种oled像素驱动电路、静电释放保护电路及检测方法 |
TWI540323B (zh) | 2014-09-16 | 2016-07-01 | 友達光電股份有限公司 | 顯示面板之測試單元結構與顯示面板 |
TWI552126B (zh) | 2014-10-08 | 2016-10-01 | 友達光電股份有限公司 | 亮點偵測方法及顯示面板 |
CN104392685B (zh) * | 2014-12-15 | 2017-06-09 | 合肥京东方光电科技有限公司 | 阵列基板、显示面板和极性反转驱动方法 |
KR102295168B1 (ko) * | 2014-12-29 | 2021-08-30 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
KR102304585B1 (ko) * | 2015-01-30 | 2021-09-27 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 검사 장치 및 표시 장치 |
CN104992946B (zh) * | 2015-05-29 | 2018-03-16 | 京东方科技集团股份有限公司 | 一种显示基板及其制备方法、显示面板及显示装置 |
CN104933979A (zh) * | 2015-07-20 | 2015-09-23 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测电路、检测方法和显示装置 |
US10262590B2 (en) | 2015-08-03 | 2019-04-16 | Sharp Kabushiki Kaisha | Active matrix substrate and display panel |
KR102462070B1 (ko) * | 2015-12-31 | 2022-11-01 | 엘지디스플레이 주식회사 | 디스플레이패널 및 그 검사 방법 |
CN105511129B (zh) * | 2016-01-28 | 2019-07-16 | 厦门天马微电子有限公司 | 显示面板、显示装置及显示面板的测试方法 |
KR102566085B1 (ko) * | 2016-07-07 | 2023-08-14 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 패널 및 이를 포함하는 표시 장치 |
CN106057111B (zh) * | 2016-08-09 | 2019-09-13 | 武汉华星光电技术有限公司 | 测试电路及液晶面板 |
CN106297615B (zh) * | 2016-09-09 | 2017-12-22 | 京东方科技集团股份有限公司 | 显示装置的检测电路及方法 |
CN106356013B (zh) * | 2016-10-26 | 2019-06-07 | 上海天马微电子有限公司 | 一种阵列基板、检测电路及其断路和短路检测方法 |
CN106601163A (zh) * | 2016-12-29 | 2017-04-26 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 一种液晶盒的辉点检测方法 |
KR102351323B1 (ko) * | 2017-03-28 | 2022-01-17 | 삼성전자주식회사 | 디스플레이의 균열을 감지하기 위한 회로 및 이를 포함하는 전자 장치 |
US10453366B2 (en) * | 2017-04-18 | 2019-10-22 | Samsung Display Co., Ltd. | System and method for white spot mura detection |
JP2018189778A (ja) * | 2017-05-01 | 2018-11-29 | 株式会社ジャパンディスプレイ | 表示装置 |
CN107728395B (zh) * | 2017-10-31 | 2020-07-03 | 京东方科技集团股份有限公司 | 阵列基板、显示装置、数据线不良的检测装置及检测方法 |
CN109493769B (zh) * | 2018-11-12 | 2022-03-01 | 成都中电熊猫显示科技有限公司 | 测试方法、装置和存储介质 |
KR102675921B1 (ko) * | 2019-11-07 | 2024-06-17 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 표시 장치의 데이터 링크 라인 결함 검출 방법 |
CN111063282A (zh) * | 2019-11-27 | 2020-04-24 | 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 | 显示面板的测试电路及oled显示器 |
CN111785196A (zh) * | 2020-07-10 | 2020-10-16 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板及其测试方法、显示装置 |
CN112017543B (zh) * | 2020-08-28 | 2022-11-15 | 昆山国显光电有限公司 | 显示面板及其短路测试方法和显示装置 |
KR20220147194A (ko) | 2021-04-26 | 2022-11-03 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 |
CN113450706B (zh) * | 2021-06-25 | 2023-04-14 | 京东方科技集团股份有限公司 | 检测电路及其驱动方法、显示面板和显示装置 |
CN114550669A (zh) * | 2022-03-01 | 2022-05-27 | 福建华佳彩有限公司 | 一种补偿Data信号以改善面板残影的驱动方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011186301A (ja) * | 2010-03-10 | 2011-09-22 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及び電子機器 |
Family Cites Families (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030085855A1 (en) | 2001-07-17 | 2003-05-08 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Array substrate, method of inspecting array substrate, and liquid crystal display |
JP2003308051A (ja) | 2002-04-16 | 2003-10-31 | Seiko Epson Corp | 画像信号供給回路および電気光学パネル |
JP4572316B2 (ja) * | 2003-05-30 | 2010-11-04 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学パネルの駆動回路及び方法、電気光学装置並びに電子機器 |
KR101066495B1 (ko) | 2005-04-07 | 2011-09-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | 액정표시장치 및 이의 검사방법 |
KR101209042B1 (ko) | 2005-11-30 | 2012-12-06 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시 장치 및 그 검사 방법 |
EP1964099A1 (en) * | 2005-12-13 | 2008-09-03 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Active matrix array device |
JP4561647B2 (ja) * | 2006-02-02 | 2010-10-13 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置用基板、電気光学装置および検査方法 |
KR100732819B1 (ko) | 2006-08-30 | 2007-06-27 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기전계발광 표시장치 및 그의 모기판 |
TW200910600A (en) * | 2007-08-24 | 2009-03-01 | Au Optronics Corp | TFT array substrate |
JP5428299B2 (ja) | 2008-03-18 | 2014-02-26 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置及び電子機器 |
KR101574808B1 (ko) * | 2008-07-04 | 2015-12-04 | 가부시키가이샤 제이올레드 | 표시 장치 및 그 제어 방법 |
JP4780159B2 (ja) * | 2008-08-27 | 2011-09-28 | ソニー株式会社 | 表示装置とその駆動方法 |
KR20100071536A (ko) | 2008-12-19 | 2010-06-29 | 엘지디스플레이 주식회사 | 표시 패널의 검사장치 및 이를 이용한 검사방법 |
KR101305379B1 (ko) | 2009-07-21 | 2013-09-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 씨오지 타입 액정표시장치 및 이의 검사방법 |
KR101015312B1 (ko) | 2009-08-20 | 2011-02-15 | 삼성모바일디스플레이주식회사 | 유기전계발광 표시장치 및 그의 모기판 |
CN102043266B (zh) * | 2009-10-21 | 2012-08-01 | 北京京东方光电科技有限公司 | 检测薄膜场效应晶体管阵列基板的设备及方法 |
EP2528051A4 (en) * | 2010-01-19 | 2013-05-22 | Sharp Kk | DISPLAY PANEL AND INSPECTION METHOD THEREOF |
US8502842B2 (en) * | 2011-05-24 | 2013-08-06 | Apple Inc. | Offsetting multiple coupling effects in display screens |
KR101943069B1 (ko) * | 2011-12-01 | 2019-04-18 | 삼성디스플레이 주식회사 | 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 |
-
2011
- 2011-12-01 KR KR1020110127807A patent/KR101943069B1/ko active IP Right Grant
-
2012
- 2012-03-23 JP JP2012067450A patent/JP6034033B2/ja active Active
- 2012-05-31 US US13/484,644 patent/US9390644B2/en active Active
- 2012-08-10 EP EP12179991.0A patent/EP2600627B1/en active Active
- 2012-10-30 CN CN201210422647.4A patent/CN103137050B/zh active Active
- 2012-10-30 CN CN2012205638782U patent/CN202976770U/zh not_active Expired - Lifetime
- 2012-11-08 TW TW101141623A patent/TWI585425B/zh active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2011186301A (ja) * | 2010-03-10 | 2011-09-22 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置及び電子機器 |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2020096074A1 (ko) * | 2018-11-05 | 2020-05-14 | 한국로봇융합연구원 | 신호 배선의 다중화 및 단선감지에 의한 다중 배선 간 전환 제어방법 및 시스템 |
KR20220051407A (ko) * | 2020-01-20 | 2022-04-26 | 윤구(구안) 테크놀로지 컴퍼니 리미티드 | 표시 패널의 테스트 회로, 방법 및 표시 패널 |
US11893914B2 (en) | 2020-01-20 | 2024-02-06 | Yungu (Gu' An) Technology Co., Ltd. | Test circuit and method for display panel and display panel |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN103137050A (zh) | 2013-06-05 |
JP6034033B2 (ja) | 2016-11-30 |
US9390644B2 (en) | 2016-07-12 |
EP2600627A2 (en) | 2013-06-05 |
TW201329472A (zh) | 2013-07-16 |
EP2600627A3 (en) | 2015-07-01 |
EP2600627B1 (en) | 2018-10-03 |
TWI585425B (zh) | 2017-06-01 |
CN103137050B (zh) | 2018-01-12 |
JP2013117709A (ja) | 2013-06-13 |
CN202976770U (zh) | 2013-06-05 |
KR101943069B1 (ko) | 2019-04-18 |
US20130141314A1 (en) | 2013-06-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101943069B1 (ko) | 배선 및 역다중화부의 불량 검출 방법, 불량 검출 장치 및 불량 검출 장치를 포함하는 표시 패널 | |
CN107799063B (zh) | 有机发光显示装置及其驱动方法 | |
KR102252158B1 (ko) | 화소구동회로, 그 복원 방법, 및 디스플레이 장치 | |
US8614591B2 (en) | Mother substrate of organic light emitting displays capable of sheet unit testing and method of sheet unit testing | |
US9595213B2 (en) | Organic light-emitting display panel | |
KR101646812B1 (ko) | 표시 장치 및 그 구동 방법 | |
US9747841B2 (en) | Electro-optical device and driving method thereof | |
US9514665B2 (en) | Testing device, and testing method for the line and one sheet using the testing device | |
WO2017080081A1 (zh) | 采用外部补偿的amoled驱动电路架构 | |
US9767732B2 (en) | Display device | |
US8514153B2 (en) | Imaging device and method of correction pixel deterioration thereof | |
KR20160082770A (ko) | 표시 장치 | |
US10354591B2 (en) | Pixel driving circuit, repair method thereof and display device | |
US10943540B2 (en) | Display system with controllable connection | |
US8537151B2 (en) | Inspection method | |
KR20160148829A (ko) | 표시 장치 및 그의 리페어 방법 | |
US20160140902A1 (en) | Organic light-emitting display and method of driving the same | |
JP2006284916A (ja) | 表示装置、アレイ基板、及び表示装置の駆動方法 | |
KR102319202B1 (ko) | 유기전계 발광표시장치 | |
US20140111525A1 (en) | Display system | |
JP5842212B2 (ja) | 有機el表示パネルの検査方法及び検査システム | |
US20240105126A1 (en) | Data driving device, a display driving device, and a display driving method | |
KR102395215B1 (ko) | 유기전계발광표시장치 및 이의 구동방법 | |
KR100612280B1 (ko) | 표시 패널의 검사 장치 | |
KR102565597B1 (ko) | 유기발광 표시장치 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
N231 | Notification of change of applicant | ||
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant |