KR102295168B1 - 표시 장치 - Google Patents

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Abstract

표시 품질이 개선된 표시 장치가 제공된다. 표시 장치는 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시부를 둘러싼 비표시 영역을 포함하는 표시 패널; 상기 표시 영역에서, 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 복수의 액티브 픽셀; 상기 비표시 영역에서, 제2 방향으로 배열되는 복수의 더미 픽셀; 상기 비표시 영역에서, 제1 방향으로 연장되는 리페어 테스트 라인 및 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인; 상기 복수의 액티브 픽셀들에 연결되고 상기 복수의 표시 픽셀들에 연결가능하고, 상기 제1 방향으로 연장되는 복수의 스캔 라인; 상기 복수의 표시 픽셀 및 상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 상기 복수의 표시 픽셀 및 상기 복수의 더미 픽셀에 연결가능하고, 상기 제2 방향으로 연장되는 복수의 데이터 라인; 상기 복수의 더미 픽셀들에 연결되고 상기 복수의 더미 픽셀들에 연결가능고, 상기 제2 방향으로 연장되는 적어도 하나의 더미 데이터 라인; 상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 제1 방향으로 연장되는 복수의 리페어 라인으로서, 적어도 하나의 리페어 라인이 적어도 하나의 더미 픽셀과 적어도 하나의 표시 픽셀을 연결하는 복수의 리페어 라인; 및 상기 더미 데이터 라인과 상기 리페어 테스트 라인을 연결하고 각각의 데이터 라인을 상기 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인 중 하나와 연결하는 복수의 스위칭 소자를 포함한다.

Description

표시 장치 {Display apparatus}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로, 더 상세하게는 더미 픽셀을 이용하여 불량 픽셀을 리페어할 수 있는 표시 장치에 관한 것이다.
최근 모니터, 텔레비전, 휴대용 표시 장치 등의 경량화 및 박형화가 요구되고 있다. 이러한 요구에 따라 기존의 음극선관 표시 장치는 액정 표시 장치 또는 유기 전계 발광 표시 장치와 같은 평판 표시 장치로 대체되고 있다.
평판 표시 장치는 영상을 표시하는 복수의 픽셀을 포함하며, 복수의 픽셀은 표시하고자 하는 영상에 상응하는 데이터 신호를 수신하여, 데이터 신호에 상응하는 계조의 복수의 점을 표시하며, 복수의 점의 집합은 영상 데이터에 상응하는 영상을 표시한다.
복수의 픽셀 중 특정 픽셀에서 불량이 발생하는 경우, 특정 픽셀은 스캔 신호 및 데이터 신호와 무관하게 항상 발광하거나 전혀 발광하지 않을 수 있다. 또는 불량 픽셀은 데이터 신호에 상응하는 계조가 아닌 다른 계조로 발광할 수 있다. 이와 같이 불량 화소는 관찰자에게 명점 또는 암점으로 인식되며, 특히 명점은 시인성이 높아 관찰자에게 쉽게 관측된다. 복수의 픽셀 중 일부 픽셀만이 불량이더라도, 전체 표시 장치의 표시 품질은 불량으로 판정될 수 있다. 따라서, 불량 픽셀의 발생은 표시 장치의 수율 저하 및 비용 증가의 원인이 되고 있다.
이에, 본 발명이 해결하고자 하는 과제는 더미 픽셀을 이용하여 불량 픽셀을 리페어하여 표시 품질이 향상된 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 다른 과제는 더미 픽셀을 이용하여 불량 픽셀을 리페어 후, 결합 검출이 용이한 표시 장치를 제공하는 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명의 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역을 둘러싼 비표시 영역을 포함하는 표시 패널; 상기 표시 영역에서, 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 복수의 액티브 픽셀; 상기 비표시 영역에서, 제2 방향으로 배열되는 복수의 더미 픽셀; 상기 비표시 영역에서, 제1 방향으로 연장되는 리페어 테스트 라인 및 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인; 상기 복수의 액티브 픽셀들에 연결되고 상기 복수의 표시 픽셀들에 연결가능하고, 상기 제1 방향으로 연장되는 복수의 스캔 라인; 상기 복수의 표시 픽셀 및 상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 상기 복수의 표시 픽셀 및 상기 복수의 더미 픽셀에 연결가능하고, 상기 제2 방향으로 연장되는 복수의 데이터 라인; 상기 복수의 더미 픽셀들에 연결되고 상기 복수의 더미 픽셀들에 연결가능고, 상기 제2 방향으로 연장되는 적어도 하나의 더미 데이터 라인; 상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 제1 방향으로 연장되는 복수의 리페어 라인으로서, 적어도 하나의 리페어 라인이 적어도 하나의 더미 픽셀과 적어도 하나의 표시 픽셀을 연결하는 복수의 리페어 라인; 및 상기 더미 데이터 라인과 상기 리페어 테스트 라인을 연결하고 각각의 데이터 라인을 상기 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인 중 하나와 연결하는 복수의 스위칭 소자를 포함한다.
한편, 상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치는, 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역을 둘러싼 비표시 영역을 포함하는 표시 패널; 상기 표시 영역에서, 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 복수의 액티브 픽셀; 상기 비표시 영역에서, 제2 방향으로 배열되는 복수의 더미 픽셀; 상기 비표시 영역에서, 제1 방향 및 제2 방향으로 연장되는 복수의 액티브 픽셀 테스트 라인; 상기 복수의 액티브 픽셀들에 연결되고 상기 복수의 표시 픽셀들에 연결가능하도록 상기 제1 방향으로 연장되는 복수의 스캔 라인; 상기 복수의 표시 픽셀 및 상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 상기 복수의 표시 픽셀 및 상기 복수의 더미 픽셀에 연결가능하도록 상기 제2 방향으로 연장되는 복수의 데이터 라인; 상기 복수의 더미 픽셀들에 연결되고 상기 복수의 더미 픽셀들에 연결가능하도록 상기 제2 방향으로 연장되는 적어도 하나의 더미 데이터 라인;
상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 제1 방향으로 연장되는 복수의 리페어 라인으로서, 적어도 하나의 리페어 라인이 적어도 하나의 더미 픽셀과 적어도 하나의 표시 픽셀을 연결하는 복수의 리페어 라인; 및 상기 복수의 더미 픽셀 중 적어도 하나와 상기 복수의 액티브 픽셀 테스트 라인 중 하나를 연결하고 각각의 데이터 라인을 상기 복수의 픽셀 테스트 라인 중 하나와 연결하는 복수의 스위칭 소자를 포함한다.
본 발명의 기타 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다.
본 발명의 실시예들에 의하면 적어도 다음과 같은 효과 있다.
즉, 표시 장치의 복수의 픽셀 중 일부 픽셀에 불량 화소가 발견되더라도, 더미 픽셀을 이용하여 불량 화소를 리페어하여 표시 장치의 표시 품질을 향상시킨다.
또한, 불량 화소의 리페어 후, 표시 장치의 결함을 용이하게 검출한다.
본 발명에 따른 효과는 이상에서 예시된 내용에 의해 제한되지 않으며, 더욱 다양한 효과들이 본 명세서 내에 포함되어 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 2는 도 1에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 더 상세히 도시한 블록도이다.
도 3은 도 2의 픽셀 회로 및 발광소자의 예시적인 실시예를 도시한 예시도이다.
도 4는 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에 그린 테스트 라인(DC_G)과 동일한 테스트 전압을 인가할 때, 명점 및 암점을 확인하고, 리페어 화소의 위치를 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
도 5는 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에 그린 테스트 라인(DC_G)과 동일한 테스트 전압을 인가할 때, 리페어된 화소 및 다른 정상 화소의 표시 품질을 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
도 6운 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에, 그린 테스트 라인(DC_G)과는 별개로, 오프 전압을 인가할 때, 리페어된 화소 및 다른 정상 화소의 표시 품질을 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(10)의 육안 검사 과정을 설명하는 순서도이다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 패널(110)을 개략적으로 도시한 예시도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치에 레드, 그린 및 블루 영상을 표시하여, 리페어된 화소 및 다른 정상 화소의 표시 품질을 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다.
본 명세서에서, 동일한 식별 부호는 실질적으로 동일한 구성을 지칭한다.
비록 제1, 제2 등이 다양한 구성요소들을 서술하기 위해서 사용되나, 이들 구성요소들은 이들 용어에 의해 제한되지 않음은 물론이다. 이들 용어들은 단지 하나의 구성요소를 다른 구성요소와 구별하기 위하여 사용하는 것이다. 따라서, 이하에서 언급되는 제1 구성요소는 본 발명의 기술적 사상 내에서 제2 구성요소일 수도 있음은 물론이다.
이하, 첨부된 도면을 참고하여 본 발명의 실시예들에 대해 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 도시한 블록도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(10)는 표시 패널(110), 데이터 구동부(120), 스캔 구동부(130) 및 제어부(140)를 포함할 수 있다.
표시 패널(110)은 표시 영역과 비표시 영역으로 포함할 수 있다. 표시 영역은 표시하고자 하는 영상이 표시되는 표시 패널(110) 상의 영역으로 정의될 수 있고, 비표시 영역은 표시 패널(110)상에서 표시 영역을 제외한 나머지 영역으로 정의될 있다.
또한, 표시 패널(110)에는 표시 영역 상에서 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)이 배열되는 액티브 영역(AA)과 비표시 영역 상에서 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn)이 배열되는 더미 영역(DA)이 정의될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서 더미 영역(DA)은 액티브 영역(AA)에 인접하게 배치될 수 있고, 더미 영역(DA)은 액티브 영역(AA)의 좌측 또는 우측에 배치될 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 더미 영역(DA)은 액티브 영역(AA)의 좌측과 우측 모두에 배치되거나, 더미 영역(DA)은 액티브 영역(AA)의 상측 및/또는 하측에 배치될 수 있다.
액티브 영역(AA)에는, 제1 방향으로, 예를 들어, 수평 방향으로 연장되고 표시 패널(110)의 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)로 스캔 신호(S1-Sn)를 전달하는 복수의 스캔 라인(SL1-SLn) 및 제2 방향으로, 예를 들어, 수직 방향으로 연장되고 제1 내지 제N 스캔 라인(SL1-SLn)의 스캔 신호(S1-Sn)에 응답하여 복수의 픽셀(PX)로 복수의 데이터 신호(D1-Dm)를 전달하는 복수의 데이터 라인(DL1-DLm)과 복수의 스캔 라인 및 복수의 데이터 라인을 따라, 제1 방향 및 제2 방향으로, 예를 들어, 수평 방향 및 수직 방향으로 배열되는 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)을 포함한다.
도시되지 않았으나, 본 발명의 일 실시예에 따르면, 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)은 복수의 데이터 라인과 분리 가능하게 연결될 수 있다. 또한, 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)은 복수의 스캔 라인과 분리 가능하게 연결될 수 있다.
표시 패널(110)은 제1 방향으로 연장되는 복수의 리페어 라인(RL1-RLn)을 포함할 수 있다. 복수의 리페어 라인(RL1-RLn)은 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn)에 연결되고, 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)에 연결 가능하게 배치될 수 있다.
더미 영역(DA)에는 제1 방향으로 연장되는 복수의 스캔 라인(SL1-SLn) 및 제2 방향으로 연장되는 더미 데이터 라인 (DDL)에 연결되는 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn)이 제2 방향을 따라 배열될 수 있다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 도시되지 않았으나, 본 발명의 다른 실시예에 따르면, 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn)은 제2 방향을 따라 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn) 들의 열이 배열될 수 있다.
본 명세서에서, 예를 들어, "단위 픽셀"은 자연색에 가까운 색을 하나의 점을 지칭하는 의미로 사용되며, 액티브 픽셀은 "단위 픽셀"을 구성하며 각각이 하나의 색을 표시하는 둘 이상의 서브 픽셀 중 하나의 의미로 사용된다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 액티브 픽셀은 복수의 서브 픽셀을 포함하는 하나의 단위 픽셀의 의미로 해석될 수도 있다. 즉, 본 명세서에서 하나의 액티브 픽셀이 배열되거나, 다른 구성과 연결된다고 기재되어 있더라도, 이는 하나의 서브 픽셀이 배열되거나 다른 구성과 연결되는 것으로 해석될 수도 있고, 하나의 단위 픽셀을 구성하는 복수의 서브 픽셀들이 배열되고 다른 구성과 연결된다고 해석될 수도 있다. 더미 픽셀에 대해서도 마찬가지이다. 예컨대, 하나의 더미 픽셀이 배열되거나 다른 구성과 연결된다고 기재되어 있더라도, 이는 하나의 더미 픽셀 회로가 배열되거나 다른 구성과 연결되는 것으로 해석될 수도 있고, 하나의 단위 픽셀을 구성하는 서브 픽셀들의 개수만큼 더미 픽셀 회로들이 배열되거나 다른 구성과 연결되는 것으로 해석될 수도 있다. 하나의 더미 픽셀이 존재한다는 것이 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn) 회로들이 존재하는 것으로 해석되는 경우, 더미 픽셀에 연결된 더미 데이터 라인(DDL)도 역시 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn) 회로들에 각각 연결된 복수의 더미 데이터 라인(DDL)들을 포함하는 것으로 해석되어야 할 것이다.
본 명세서에서, "연결 가능한" 또는 "연결 가능하게"라는 용어는 리페어 공정에서 레이저 등을 이용하여 연결될 수 있는 상태라는 것을 의미한다.
예컨대, 제1 부재와 제2 부재가 연결 가능하게 배치된다는 것은 제1 부재와 제2 부재가 실제로는 연결되어 있지 않지만, 리페어 공정에서 서로 연결될 수 있는 상태에 놓여 있다는 것을 의미한다. 구조적인 관점에서, 서로 "연결 가능한" 제1 부재와 제2 부재는 중첩 영역에서 절연막을 사이에 두고 서로 교차하도록 배치될 수 있다. 리페어 공정에서 상기 중첩 영역에 레이저가 조사되면, 상기 중첩 영역 내의 상기 절연막이 파괴되면서, 제1 부재와 제2 부재는 서로 전기적으로 연결된다.
또한, 본 명세서에서, "분리 가능한" 또는 "분리 가능하게"라는 용어는 리페어 공정에서 레이저 등을 이용하여 분리될 수 있는 상태라는 것을 의미한다. 예컨대, 제1 부재와 제2 부재가 분리 가능하게 연결된다는 것은 제1 부재와 제2 부재가 실제로는 연결되어 있지만, 리페어 공정에서 분리될 수 있는 상태에 놓여 있다는 것을 의미한다. 구조적인 관점에서, 분리 가능하게 연결된 제1 부재와 제2 부재는 도전성 연결 부재를 통해 서로 연결되도록 배치될 수 있다. 리페어 공정에서 상기 도전성 연결 부재에 레이저가 조사되면, 상기 도전성 연결 부재는 레이저가 조사된 부분이 녹으면서 절단되며, 제1 부재와 제2 부재는 서로 전기적으로 절연된다. 예시적으로 상기 도전성 연결 부재는 레이저에 의해 용융될 수 있는 실리콘층을 포함할 수 있다. 다른 예에 따르면, 상기 도전성 연결 부재는 전류에 의한 줄열에 의해 용융되면서 절단될 수 있다.
표시 패널(110)의 비표시 영역에는 제1 방향으로 나란히 연장된 리페어 테스트 라인(DC_Repair), 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm) 테스트 라인(DC_R,DC_G,DC_B) 및 테스트 게이트 라인이 배치될 수 있다.
본 발명의 일 실시예에서, 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)은 각각 레드, 그린 및 블루를 나타내는 세 가지 종류의 액티브 픽셀이 스캔 라인을 따라 순차적으로 배치되는 RGB 스트라이프 픽셀 구조로 예시적으로 구성되었으며, 이에 맞추어, 본 발명의 일 실시예에서, 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm) 테스트 라인(DC_R,DC_G,DC_B)은 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B)을 포함하도록 예시되었다.
표시 패널(110)에는 더미 데이터 라인(DDL)과 리페어 테스트 라인(DC_Repair)을 연결하고 각각의 데이터 라인을 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B) 중 하나와 연결하는 복수의 스위칭 소자(SW)가 배치될 수 있다.
또한, 복수의 스위칭 소자(SW)는 테스트 게이트 라인에 연결되어 테스트 게이트 라인의 신호에 따라 스위칭 여부가 결정될 수 있다. 본 발명의 일 실시예에서, 복수의 스위칭 소자(SW)는 PMOS 트랜지스터일 수 있고, 게이트 단자가 테스트 게이트 라인에 연결되고, 드레인 단자가 더미 데이터 라인(DDL) 또는 데이터 라인에 연결되고, 소스 단자가 리페어 테스트 라인(DC_Repair), 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 또는 블루 테스트 라인(DC_B)과 연결될 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 스위칭 소자(SW)는 다른 트랜지스터, 예를 들어, NMOS, BJT, CMOS 등으로 구현될 수 있다.
표시 패널(110)은 OLED, TFT-LCD, PDP, 또는 LED 디스플레이와 같은 평판 디스플레이 패널일 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
데이터 구동부(120)는, 타이밍 제어부(140)로부터 제공되는 영상 신호(IMAGE) 및 데이터 제어 신호(DCS)를 수신하여, 복수의 데이터 라인에 공급할 수 있다. 또한, 도 1에는 도시되지 않았지만, 데이터 구동부(120)는 래치회로와 레벨 시프터 회로를 포함할 수 있다. 래치회로는 직렬로 수신되는 영상 데이터를 저장하여 영상 데이터를 표시 패널(110)에 병렬로 인가하기 위해 데이터를 저장할 수 있고, 레벨 시프터 회로는 영상 신호(IMAGE)에 상응하여 표시 패널(110)에 제공되는 실제 전압의 레벨을 조정할 수 있다. 래치회로와 레벨 시프터 회로의 구체적 구성은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 용이하게 알 수 있으므로 구체적 설명은 생략된다.
스캔 구동부(130)는 타이밍 제어부(140)로부터 제공되는 스캔 제어 신호(SCS)를 수신하여, 복수의 스캔 라인에 복수의 스캔 신호를 순차적으로 인가할 수 있다. 복수의 스캔 신호는 더미 데이터 라인(DDL) 및 복수의 데이터 라인을 통해 인가되는 더미 데이터 신호 및 복수의 데이터 신호가 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn) 및 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)에 인가될 수 있도록 스위칭하는 역할을 수행한다.
도 1에 도시된 바에 따르면, 데이터 구동부(120), 스캔 구동부(130) 및 표시 패널(110)은 별도의 기능적 블록으로 도시되어 있으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 데이터 구동부(120) 및 스캔 구동부(130)는 표시 패널(110)의 적어도 일부 영역에 실장된 IC 칩일 수 있고, 표시 패널(110)의 적어도 일부에 직접 형성된 구동 회로일 수도 있다.
제어부(140)는 영상 신호(IMAGE)에 동기되어, 데이터 구동부(120) 및 스캔 구동부(130)를 구동하기 위한 데이터 제어 신호(DCS), 스캔 제어 신호(SCS) 및 스캔 구동 신호(SOC)를 출력할 수 있다. 영상 신호는 외부로부터 인가되는 영상 데이터를 표시 패널(110)의 복수의 액티브 픽셀(PX11-PXnm)의 배치 구조에 따른 각각의 액티브 픽셀의 계조 값에 관한 신호일 수 있다. 또한, 제어부(140)는 사용자의 기호, 표시 장치(10)의 기기 특성에 따라 외부의 영상 신호를 추가적으로 변조 또는 보상하여, 영상 신호로 가공할 수 있다.
도 2는 도 1에 도시된 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널을 더 상세히 도시한 블록도이다. 도 3은 도 2의 픽셀 회로 및 발광소자의 예시적인 실시예를 도시한 예시도이다. 이하에서는, 도 1에 비해 더 상세히 도시된 부분을 설명하고, 반복적인 설명은 생략된다.
도 2를 참조하면, 표시 패널(110)은 영상을 표시하는 표시 영역 및 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하며, 표시 영역은 발광에 의해 영상을 표시하는 액티브 영역(AA) 및 비표시 영역은 액티브 영역(AA) 주변의 더미 영역(DA)을 포함한다.
액티브 영역(AA)에는 복수의 스캔 라인들(SL1-SLn) 및 복수의 데이터 라인들(DL1-DLm)이 배열되고, 이들의 교차부에 대략 행렬 형태로 복수의 픽셀들이 배열된다. 복수의 픽셀은 픽셀 회로(C11-Cnm) 및 픽셀 회로(C11-Cnm)로부터 구동 전류를 공급받아 발광하는 복수의 발광 소자(E11-Enm)를 포함한다. 발광 소자(E11-Enm)와 픽셀 회로(C11-Cnm)는 서로 분리 가능하게 연결될 수 있다.
픽셀 회로(C11-Cnm)는 하나 이상의 박막 트랜지스터 및 커패시터를 포함할 수 있다. 복수의 픽셀(PX)은 하나의 색의 광을 방출하며, 예를 들어, 적색, 청색, 녹색, 백색 중 하나의 색의 광을 방출할 수 있다. 그러나, 본 발명은 이에 한정되지 않고, 적색, 청색, 녹색, 백색 외의 다른 색의 광을 방출할 수도 있다. 픽셀 회로(C11-Cnm)는 복수의 스캔 라인들(SL1-SLn) 중 동일 행의 스캔 라인에 연결되고, 복수의 데이터 라인들(DL1-DLm) 중 동일 열의 데이터 라인에 연결될 수 있다.
일 예에 따르면, 픽셀 회로(C11-Cnm)는 복수의 스캔 라인들(SL1-SLn) 중 동일 행의 스캔 라인(예컨대, SLi)에 분리 가능하게 연결되고, 복수의 데이터 라인들(DL1-DLm) 중 동일 열의 데이터 라인(예컨대, DLj)에 분리 가능하게 연결될 수 있다. 불량인 픽셀 회로, 예를 들어, 도 1 내지 도 3에 도시된 실시예에서, 첫 번째 스캔라인(SL2) 및 두 번째 데이터 라인이 교차하는 영역에 대응하는 픽셀(PX12)이 불량 픽셀일 때, 불량 픽셀(PX12)의 픽셀 회로(C12), 추후 리페어 시, 대응하는 불량 픽셀의 발광 소자(E12)에 연결되는 라인과 분리될 수 있다. 도시되지 않았으나, 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 불량 픽셀의 픽셀 회로(C12)를 디스에이블 시키기 위하여, 불량 픽셀의 픽셀 회로(C12)를 대응하는 스캔 라인(SL1)과 분리되거나, 대응하는 데이터 라인(DL2)와 분리하거나, 대응하는 스캔 라인 및 데이터 라인 모두와 분리할 수도 있다.
도 1 내지 도 3에 도시된 실시예에서, 불량 픽셀의 픽셀 회로(C12)와 발광 소자(E12)의 OLED를 연결하는 연결 배선의 일부에는 절단되어 개방되는 리페어 컷(RC)이 형성될 수 있다.
각 행에는 스캔 라인들(SL1-SLn)과 평행하며 이격 형성된 복수의 리페어 라인(RL1-RLn)들(RL1-RLn)이 배열된다. 복수의 픽셀의 발광 소자(E11-Enm)는 동일 행의 리페어 라인(RL1 --RL2)과 절연되고, 추후 리페어 시, 리페어 라인(RL1-RL2)과 전기적으로 연결될 수 있다. 즉, 복수의 픽셀(PX)의 발광 소자(E11-Enm)는 동일 행의 리페어 라인(RL1-RLn)과 연결 가능하게 배치될 수 있다. 예를 들어, 도 1 내지 도 3에 도시된 실시예에서, 첫 번째 스캔라인(SL2) 및 두 번째 데이터 라인이 교차하는 영역에 대응하는 픽셀(PX12)이 불량 픽셀일 때, 불량 픽셀의 발광 소자(E12)는 리페어 쇼트(RS) 지점에서 절연층을 사이에 두고 다른 층에 배치되는 레페어 라인(R1)와 전기적으로 연결될 수 있다. 구체적으로, 리페어 시, 리페어링 쇼트(RS) 지점에 레이저가 조사되면, 절연막이 파괴되면서 불량 픽셀의 발광 소자(E12)의 양극에 연결되는 배선과 리페어 라인(RL1)이 쇼트되어 전기적으로 연결될 수 있다. 이에 따라, 불량 픽셀의 발광 소자(E12)는 리페어 라인 (RL1)과 전기적으로 연결될 수 있다.
더미 영역(DA)은 활성 영역(AA)의 좌측 및 우측 중 적어도 일 측에 형성될 수 있다. 행마다 하나 이상의 더미 픽셀(DPX)이 배열될 수 있다. 도 3에서는 활성 영역(AA)의 좌측에 더미 영역(DA)이 배치되고, 각 행에 하나의 더미 픽셀(DPX)이 배치된 예를 도시하고 있다.
더미 영역(DA)에는 복수의 스캔 라인들(SL1-SLn)과 연결된 더미 픽셀들(DPX)이 배열된다. 더미 영역(DA)에는 더미 픽셀들(DPX)에 연결된 더미 데이터 라인(DDL)이 배열된다. 더미 데이터 라인(DDL)은 데이터 라인(DL1-DLm)과 평행하게 열 방향으로 연장된다. 리페어 라인(RL1-RLn)들과 스캔 라인들(SL1-SLn)은 더미 영역(DA)에도 연장된다. 즉, 동일 행의 더미 픽셀(DPXi)와 픽셀(PXi)은 동일 행의 스캔 라인(SLi) 및 리페어 라인(RLi)을 공유한다.
더미 픽셀(DPX)은 더미 픽셀 회로(DC)를 포함하고 발광 소자를 포함하지 않을 수 있다. 그러나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 더미 픽셀은(DPX) 더미 픽셀 회로(DC) 및 발광 소자를 모두 포함하나, 발광 소자가 더미 픽셀 회로에 의해 활성화되지 않는 것일 수 도 있다. 더미 픽셀 회로(DC)는 픽셀 회로(C)와 동일한 회로를 포함할 수 있다. 또한, 더미 픽셀 회로(DC)와 픽셀 회로(C)는 동일한 포토 리소그래피 공정에 의해 형성된 회로일 수 있다. 다른 예에 따르면, 더미 픽셀 회로(DC)는 픽셀 회로(C)와 상이할 수 있다. 예를 들어, 더미 픽셀 회로(DC)는 픽셀 회로(C)의 트랜지스터 및/또는 커패시터가 생략 및/또는 추가되거나, 트랜지스터와 커패시터의 사이즈 및 특성이 상이할 수 있다. 더미 픽셀 회로(DC)는 각각 다른 색상의 광을 방출하는 발광 소자들에 적합한 복수의 구동 트랜지스터들을 포함할 수 있다. 더미 픽셀 회로(DC)은 더미 데이터 라인(DDL)에 연결되고, 복수의 리페어 라인(RL1-RLn)들(RL1-RLn) 중 동일 행의 리페어 라인(RL1-RLn)(RL1-RLn)에 연결될 수 있다.
복수의 스위칭 소자(SW)는 페드를 통해 더미 데이터 라인(DDL) 및 복수의 데이터 라인(DL1-DLm)에 연결될 수 있다. 복수의 패드는 제1 방향, 즉 스캔 라인에 나란한 방향으로 배열될 수 있고, 데이터 구동부(120) 접속 영역(220)을 정의할 수 있다. 데이터 구동부(120)는 데이터 구동부(120) 접속 영역에 실장되어 패드에 접속되거나, 데이터 구동부(120)를 연결하는 접속 케이블의 일 단자가 복수의 패드에 연결될 수 있다.
리페어 테스트 라인(DC_Repair), 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B)은 각각 복수의 스위칭 소자(SW)를 통하여, 더미 데이터 라인(DDL) 또는 복수의 데이터 라인에 연결될 수 있다. 패널의 초기 시험 단계에서, 리페어 테스트 라인(DC_Repair), 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B)에 직류 전압 또는 펄스 전압을 인가함으로써, 각각의 액티브 픽셀의 표시 품질, 특히, 더미 픽셀의 더미 픽셀 회로에 의해 리페어된 불량 픽셀의 표시 품질을 검사할 수 있다.
복수의 스위칭 소자(SW)는, 차후, 테스트 게이트 전압에 의해 스위칭되어, 디스에이블되며, 이는 표시 장치(10)의 정상 동작 시, 데이터 라인으로 인가되는 데이터 전압 신호에 대하여, 테스트 라인들이 부하로 작용되는 것을 방지할 수 있다.
도 3을 참조하면, 발광 소자(E)는 제1 전극, 제1 전극에 대향하는 제2 전극, 제1 전극과 제2 전극 사이의 발광층을 포함하는 유기 발광 다이오드(OLED)일 수 있다. 제1 전극과 제2 전극은 각각 애노드 전극 및 캐소드 전극일 수 있다. 픽셀 회로(C)는 2개의 트랜지스터(T1 및 T2) 및 1개의 커패시터(C)를 구비할 수 있다.
제1 트랜지스터(T1)는 게이트 전극이 스캔 라인(SLi)에 연결되고, 제1 전극이 데이터 라인(DLi)에 연결되고, 제2 전극이 제2 트랜지스터(T2)의 게이트 전극 및 커패시터(Cst)의 제1 전극에 연결된다.
제2 트랜지스터(T2)는 제1 전극이 제1 전원으로부터 제1 전원 전압(ELVDD)을 인가 받고, 제2 전극이 발광 소자(E)의 화소 전극에 연결된다.
커패시터(Cst)는 제2 전극이 제1 전원으로부터 제1 전원 전압(ELVDD)을 인가 받는다.
제1 트랜지스터(T1)는 스캔 라인(SLi)으로부터 주사 신호(S)가 공급될 때 데이터 라인(DLj)으로부터 공급되는 데이터 신호(D)를 커패시터(Cst)의 제1 전극으로 전달한다. 이에 따라 커패시터(Cst)에는 데이터 신호(D)에 대응하는 전압이 충전되고, 커패시터(Cst)에 충전된 전압에 대응하는 구동 전류가 제2 트랜지스터(T2)를 통해 발광 소자(E)로 전달되어, 발광 소자(E)가 발광한다.
도 3에서는, 하나의 픽셀(P)에 2개의 트랜지스터와 1개의 커패시터를 구비하는 2Tr-1Cap 구조를 도시하고 있지만, 본 발명이 이에 한정되는 것은 아니다. 따라서 하나의 화소에 2개 이상의 복수의 박막 트랜지스터와 하나 이상의 커패시터를 구비할 수 있으며, 별도의 배선이 더 형성되거나 기존의 배선이 생략되어 다양한 구조를 갖도록 형성할 수도 있다.
더미 픽셀(DP)은 픽셀(P)와 동일 행에 배치될 수 있고, 더미 픽셀 회로(DC)를 구비한다. 더미 픽셀 회로(DC)는 픽셀 회로(C)와 동일할 수 있다. 다른 예에 따르면, 더미 픽셀 회로(DC)는 픽셀 회로(C)와 상이할 수 있다.
더미 픽셀 회로(DC)는 스캔 라인(SLi)과 더미 데이터 라인(DDL)에 연결된 제1 더미 트랜지스터(DT1), 제1 전원 전압(ELVDD)과 제1 더미 트랜지스터(DT1) 사이에 연결된 제2 더미 트랜지스터(DT2), 제1 전원 전압(ELVDD)과 제1 더미 트랜지스터(DT1) 사이에 연결된 더미 커패시터(DCst)를 포함할 수 있다. 도 3에는 예시적인 더미 픽셀 회로(DC)가 도시된 것이며, 더미 픽셀 회로(DC)는 이에 한정되지 않고, 하나 이상의 박막 트랜지스터 및 커패시터를 구비할 수 있으며, 또는 커패시터를 생략하는 등 다양한 구조를 갖도록 형성할 수도 있다.
더미 데이터 라인(DDL)은 더미 배선(DW)에 연결된다. 더미 배선(DW)은 데이터 라인들(DLi, DLj) 중 어느 하나에 연결 가능하도록 배치된다.
불량 픽셀(PX12)은 불량 픽셀(PX12)의 픽셀 회로(C12)에 불량이 발생한 것이다. 불량 픽셀(PX12)의 발광 소자(E12)는 도시된 바와 같이 예컨대 레이저 절단을 통해 리페어 컷(RC)를 형성하여 불량 픽셀(PX12)의 픽셀 회로(C)로부터 분리될 수 있다. 불량 픽셀(PX12)의 발광 소자(E12)는 예컨대 레이저를 이용하여 리페어 쇼트(RS)를 형성하여 리페어 라인(RL1-RLn)(RL)에 연결된다. 이로써, 불량 픽셀(PX12)의 발광 소자(E12)는 더미 픽셀 회로(DC1)에 연결된다.
데이터 구동부(120)는 제1 스캔 라인(SL1)이 제1 스캔 신호(S1)이 인가되는 시점에, 제2 데이터 라인(DL2)으로 인가되는 제2 데이터 신호(D2)를 더미 데이터 라인(DDL)에 인가되는 더미 데이터 신호(DDS)로서 인가할 수 있고, 이에 따라, 제1 더미 픽셀 구동부(DC1)는, 불량 픽셀(PX12)에 인가되는 데이터 신호(D2)에 상응하는 전류를 리페어 라인(RL1-RLn)(RL1) 및 리페어 쇼트(RS)를 경유하여 불량 화소의 발광 소자(E12)의 OLED에 제공할 수 있다.
이하에서는, 리페어링이 수행된 표시 패널(110)에 테스트 전압을 인가하여, 육안 검사를 실시하는 방식 및 그에 따른 본 발명의 일 실시예에 따른 효과를 설명하도록 한다.
도 4는 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에 그린 테스트 라인(DC_G)과 동일한 테스트 전압을 인가할 때, 명점 및 암점을 확인하고, 리페어 화소의 위치를 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
도 5는 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에 그린 테스트 라인(DC_G)과 동일한 테스트 전압을 인가할 때, 리페어된 화소 및 다른 정상 화소의 표시 품질을 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
도 4를 참조하면, 표시 패널(110)의 사전 육안 검사 단계에서, 일반적으로 패널을 구동하기 위한 구동 IC, 예를 들어, 데이터 구동부(120)는 설치되지 않을 수 있다. 이 때, 레드, 그린, 블루 색상을 나타내는 각각의 픽셀들에 상응하여, 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B)이, 레드, 그린, 블루 색상을 나타내는 픽셀들에 연결되어, 레드, 그린, 블루 색상에 상응하는 직류 또는 펄스 전압을 각각의 픽셀에 인가할 수 있다.
본 발명의 일 실시예에 따르면, 더미 영역(DA)에 형성되는 더미 픽셀들의 더미 데이터 라인(DDL)은 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에 연결되어 별도의 테스트 전압을 인가 받을 수 있으나, 리페어 테스트 라인(DC_Repair)이 없다는 전제 하에서, 더미 픽셀들의 데이터 라인은 레드, 그린, 블루 테스트 라인(DC_R, DC_G, DC_B) 중 어느 하나에 연결되어 그에 따른 테스트 전압을 인가받을 수 있다.
도 4 및 도 5에서는, 리페어 테스트 전압에, 그린 테스트 전압에 인가되는 전압과 동일한 전압이 인가되는 것을 예시하여, 더미 픽셀의 더미 데이터 라인(DDL)이 그린 테스트 라인(DC_G)과 동일한 테스트 전압이 인가되는 상황을 예시하였다.
도 4에서, 우선, 표시 패널(110)은 화이트 영상을 표시하여, 암점으로 표시되는 암점을 확인한다. 이 때, 레드, 그린, 블루 테스트 라인(DC_R, DC_G, DC_B)에는 모두 인에이블 신호가 인가되며, 각각의 테스트 라인에 연결되는 모든 화소는 발광하여, 화이트 영상을 표시할 수 있다. 이 때, 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에는 그린 테스트 라인(DC_G)에 인가되는 전압과 동일한 전압이 인가될 수 있고, 더미 픽셀에 의해 리페어된 픽셀은 정상적으로 발광하여, 암점으로 시인되지 않는다.
다만, 리페어된 픽셀이 그린 픽셀이 아닌 경우, 예를 들어, 블루 픽셀 또는 레드 픽셀인 경우, 블루 픽셀 또는 레드 픽셀과 그린 픽셀은 동일 계조 대비 필요한 전압값, 즉, 감마 값은 상이하므로, 리페어된 블루 또는 레드 픽셀은 다소 이질적으로 표시될 수 있다.
이어서, 표시 패널(110)은 블랙 영상을 표시하여, 명점으로 표시되는 암점을 확인한다. 리페어 테스트 라인(DC_Repair), 레드, 그린, 블루 테스트 라인(DC_R, DC_G, DC_B) 모두에 오프 전압이 인가되며, 이에 따라, 모든 액티브 픽셀은 디스에이블 될 수 있고, 블랙 영상이 표시될 수 있다. 다만, 불량 화소가 존재하는 경우, 이는 명점으로 인식될 수 있다.
이어서, 표시 패널(110)은 리페어 테스트 전압에만 별도의 전압을 인가하여, 리페어된 픽셀들의 위치를 확인할 수 있다. 리페어된 픽셀들은 각각 명점으로 시인될 것이다.
육안 테스트를 수행하는 검사자는, 리페어된 픽셀들의 위치를 확인하여, 차후의 육안 검사 시에, 이를 반영할 수 있다.
도 5를 참조하면, 도 4에 도시된 바와 같은 표시 패널(110)의 개략적인 암점 및 명점 확인을 위한 검사를 수행한 이후에, 레드, 그린, 블루 색상에 대한 표시 장치(10)의 표시 품질을 검사할 수 있다.
우선, 표시 패널(110)은 레드 영상을 표시 하여, 레드 영상에 대한 표시 패널(110)의 표시 품질을 검사할 수 있다.
레드 영상에 상응하여, 레드 테스트 라인(DC_R)은 레드 영상 신호가 인가되고, 리페어 테스트 라인(DC_Repair), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B)에는 오프 신호가 인가될 것이다.
이에 따라, 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에 연결된 더미 픽셀에 연결되는 리페어된 레드, 그린, 블루 픽셀은 오프 전압에 상응하여 발광하지 않을 수 있다.
따라서, 정상적으로 리페어된 레드 화소는 레드 영상에서 암점으로 검출될 수 있다.
이어서, 블루 영상에 대하여도, 레드 영상과 유사하게, 리페어된 블루 화소는 암점으로 검출될 것이따.
이와는 달리, 표시 패널(110)이 그린 영상을 표시하여, 그린 영상에 대한 표시 패널(110)의 품질을 검사하는 경우에, 그린 테스트 라인(DC_G) 및 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에는 그린 영상 신호가 인가되며, 이에 따라, 그린 픽셀 및 더미 픽셀은 인에이블 된다.
이에 따라, 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에 연결된 더미 픽셀에 연결되는 리페어된 레드, 그린, 블루 픽셀은 모두 발광할 수 있고, 그린 영상에 대하여, 리페어된 레드 및 블루 화소는 명점으로 검출될 수 있다.
검사자는 도 4에 예시한 바와 같이, 리페어된 화소의 위치를 확인하여, 도 5에 도시한 바와 같은 품질 검사를 하는 경우, 일반 화소와 다른 동작 특성을 보이는 리페어된 화소들이 불량이 아닌 것으로 판단할 수 있다.
도 6운 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에, 그린 테스트 라인(DC_G)과는 별개로, 오프 전압을 인가할 때, 리페어된 화소 및 다른 정상 화소의 표시 품질을 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
도 6을 참조하면, 레드, 그린 및 블루 영상에 대하여, 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에는 모두 오프 전압이 인가된다.
따라서, 레드, 그린 및 블루 영상에 대하여, 리페어된 모든 픽셀은 오프 상태를 유지할 것이며, 레드, 그린 및 블루 영상에 대하여, 리페어된 픽셀 각각은 암점으로 검출될 것이다.
검사자는 도 4에 도시된 바와 같이, 리페어 테스트 라인(DC_Repair)에만 전압을 인가하여, 리페어 화소의 위치를 미리 확인할 수 있다.
또한, 검사자는 미리 확인된 리페어 화소의 위치를 참조하여, 레드, 그린 및 블루 영상에서 암점으로 표시되는 리페어 화소가 정상인 것으로 판별할 수 있다.
도 5에 도시된 실시예의 경우, 리페어된 화소들이 명점 및 암점 모두로 검출되며, 서로 다른 색으로 발광할 수 있는 반면, 도 6에 도시된 실시예의 경우, 리페어된 화소들은 모두 암점으로 검출된다.
따라서, 작업자는 레드, 그린 및 블루 영상에 대하여 이상 발광을 하는 픽셀들이 리페어된 화소인지 아닌 지 여부를 더욱 쉽게 판별할 수 있으며, 이는 검사의 정확도 및 속도를 향상시킬 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치(10)의 육안 검사 과정을 설명하는 순서도이다.
우선, 도 4에 도시된 표를 참조하여 설명한 바와 같이, 표시 장치(10)의 암점 및 명점을 확인한다(S100).
이어서, 도 4에 도시된 표를 참조하여 설명한 바와 같이, 표시 장치(10)의 리페어된 픽셀의 위치를 확인한다(S110).
이어서, 도 5에 도시된 표를 참조하여 설명한 바와 같이, 레드 시험 영상에 대한 불량 화소 및 표시 품질을 검출한다(S120).
이어서, 도 5에 도시된 표를 참조하여 설명한 바와 같이, 그린 시험 영상에 대한 불량 화소 및 표시 품질을 검출한다(S130).
이어서, 도 5에 도시된 표를 참조하여 설명한 바와 같이, 블루 시험 영상에 대한 불량 화소 및 표시 품질을 검출한다(S140).
이 때, 사전에 리페어된 화소의 위치를 미리 확인하였으므로, 레드, 그린 및 블루 영상에 대하여, 암점으로 검출되는 리페어된 픽셀은 정상인 것으로 판별할 수 있다.
도 8은 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 패널(110)을 개략적으로 도시한 예시도이다.
도 8에서, 앞서 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명한 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 패널(110)과 실질적으로 동일한 구성에 대하여, 동일한 식별 부호를 사용하였으며, 반복적인 설명은 생략하고, 차이점을 위주로 설명한다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 패널(110)은, 스캔 라인이 연장되는 제1 방향 및 데이터 라인이 연장되는 제2 방향으로 연장되는 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B)을 포함한다.
레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B)이 제2 방향으로 연장되는 영역에서, 복수의 더미 픽셀(DPX1-DPXn) 중 적어도 하나는 레드 테스트 라인(DC_R), 그린 테스트 라인(DC_G) 및 블루 테스트 라인(DC_B) 중 하나와 연결될 수 있다.
즉, 도 8에서, 제1 스캔 라인 및 제2 데이터 라인이 교차하는 영역의 픽셀(PX12)의 픽셀 회로(C12)가 불량이고, 제2 스캔 라인 및 제1 데이터 라인이 교차하는 영역의 픽셀(PX21)의 픽셀 회로(C21)가 불량일 때, 제1 더미 픽셀(DPX1)은 제1 리페어 라인(RL1-RLn)(RL1) 및 제1 리페어 쇼트(RS1)을 통해 픽셀(PX12)의 발광 소자(E12)에 연결되고, 제2 더미 픽셀(DPX2)는 제2 리페어 라인(RL1-RLn)(RL2) 및 제2 리페어 쇼트(RS2)를 통해 픽셀(PX21)의 발광 소자(E21)에 연결될 수 있다.
또한, 발광 소자(E12)는 픽셀 회로(C12)와 제1 리페어 컷(RC1)에 의해 단절되고, 제1 더미 픽셀(DPX1)은 연결되는 발광 소자(E12)의 색에 상응하는 그린 테스트 라인(DC_G)에 스위칭 소자(SW)를 통해 연결될 수 있다.
또한, 발광 소자(E21)는 픽셀 회로(C21)와 제2 리페어 컷(RC2)에 의해 단절되고, 제2 더미 픽셀(DPX2)은 연결되는 발광 소자(E21)의 색에 상응하는 레드 테스트 라인(DC_R)에 스위칭 소자(SW)를 통해 연결될 수 있다.
참고로, 도 8은 표시 패널(110)에 복수의 픽셀이 R,G,B 순서로 배치된 것을 예시하였다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 표시 장치에 레드, 그린 및 블루 영상을 표시하여, 리페어된 화소 및 다른 정상 화소의 표시 품질을 확인하는 일 실시예를 설명하는 표이다.
이하에서는, 앞서 도 5를 참조하여, 레드, 그린 및 블루 영상에 대한 리페어된 화소 및 다른 정상 화소의 표시 품질을 확인하는 방식에 관한 설명과 중복되는 부분에 대한 설명은 생략하고, 본 발명의 다른 실시예에 따라 도출되는 차이점을 위주로 설명한다.
예를 들어, 리페어된 화소가 도 8에 도시된 바와 같이, 제1 리페어 픽셀(PX12) 및 제2 리페어 픽셀(PX21)이라고 할 때, 제1 더미 픽셀은 그린 테스트 라인(DC_G)과 연결되고, 제2 더미 픽셀은 레드 테스트 라인(DC_R)과 연결된다.
이에, 표시 패널(110)이 레드 영상을 표시할 때, 제1 더미 픽셀에 인가되는 테스트 신호(DC_Repair1)은 오프가 되고, 제2 더미 픽셀에 인가되는 테스트 신호(DC_Repair2)는 온 상태가 된다. 따라서, 표시 패널(110)이 레드 영상을 표시할 때, 리페어된 레드 화소는 발광하며, 리페어된 다른 화소는 오프된다. 따라서, 다른 불량화소가 없는 한, 암점 없는 레드 영상이 표시된다.
이어, 표시 패널(110)이 그린 또는 블루 영상을 표시할 때, 같은 이유에서, 다른 불량화소가 없는 한 암점 없는 그린 또는 블루 영상이 표시된다.
이에, 검사자는 미리 리페어된 화소의 위치를 확인하여, 이들을 육안 검사시 반영하여야 되는 어려움을 피할 수 있다.
10 : 표시 장치
110 : 표시 패널
120 : 데이터 구동부
130 : 스캔 구동부
140 : 제어부

Claims (24)

  1. 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 표시 패널을 포함하고,
    상기 표시 패널은,
    상기 표시 영역에서, 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 복수의 액티브 픽셀;
    상기 비표시 영역에서, 상기 제2 방향으로 배열되는 복수의 더미 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 리페어 테스트 라인;
    상기 비표시 영역에서 상기 제1 방향으로 연장되고 상기 복수의 액티브 픽셀 중 제1 액티브 픽셀과 전기적으로 연결된 액티브 픽셀 테스트 라인;
    상기 제1 액티브 픽셀과 상기 복수의 더미 픽셀 중 제1 더미 픽셀에 전기적으로 연결되고 상기 제1 방향으로 연장된 스캔 라인;
    상기 제1 액티브 픽셀에 전기적으로 연결되고 상기 제2 방향으로 연장된 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 전기적으로 연결되는 더미 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀 중 대응하는 더미 픽셀에 각각 전기적으로 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 복수의 리페어 라인으로서, 상기 제1 더미 픽셀과 상기 제1 액티브 픽셀을 연결하는 제1 리페어 라인을 포함하는 복수의 리페어 라인;
    상기 더미 데이터 라인과 상기 리페어 테스트 라인에 연결된 제1 스위칭 소자; 및
    상기 데이터 라인과 상기 액티브 픽셀 테스트 라인에 연결된 제2 스위칭 소자를 포함하고,
    상기 리페어 테스트 라인은 상기 복수의 액티브 픽셀과는 연결되지 않는 표시 장치.
  2. 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 표시 패널을 포함하고,
    상기 표시 패널은,
    상기 표시 영역에서, 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 복수의 액티브 픽셀;
    상기 비표시 영역에서, 상기 제2 방향으로 배열되는 복수의 더미 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 리페어 테스트 라인 및 액티브 픽셀 테스트 라인;
    상기 복수의 액티브 픽셀 중 제1 액티브 픽셀에 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 스캔 라인;
    상기 제1 액티브 픽셀에 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 연결되는 더미 데이터 라인;
    상기 제1 방향을 따라 연장되고 상기 복수의 더미 픽셀 중 제1 더미 픽셀 및 상기 제1 액티브 픽셀에 연결된 리페어 라인;
    상기 더미 데이터 라인과 상기 리페어 테스트 라인을 연결하는 제1 스위칭 소자; 및
    상기 데이터 라인을 상기 액티브 픽셀 테스트 라인과 연결하는 제2 스위칭 소자를 포함하고,
    상기 리페어 테스트 라인은 상기 복수의 액티브 픽셀과는 연결되지 않는 표시 장치.
  3. 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 표시 패널을 포함하고,
    상기 표시 패널은,
    상기 표시 영역에 위치하는 복수의 액티브 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수의 더미 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 리페어 테스트 라인 및 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인;
    상기 복수의 액티브 픽셀에 연결되는 복수의 스캔 라인 및 복수의 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 연결되는 복수의 스캔 라인 및 더미 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 상기 표시 영역으로 연장되는 복수의 리페어 라인;
    상기 더미 데이터 라인과 상기 리페어 테스트 라인을 연결하는 스위칭 소자를 포함하고,
    상기 리페어 테스트 라인은 상기 복수의 액티브 픽셀과는 연결되지 않는 표시 장치.
  4. 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 표시 패널을 포함하고,
    상기 표시 패널은,
    상기 표시 영역에 위치하는 복수의 액티브 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수의 더미 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 리페어 테스트 라인 및 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인;
    상기 복수의 액티브 픽셀에 연결되는 복수의 스캔 라인 및 복수의 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 연결되는 복수의 스캔 라인과 더미 데이터 라인;
    상기 더미 픽셀과 상기 복수의 액티브 픽셀 중 적어도 하나의 액티브 픽셀에 연결되는 리페어 라인; 및
    상기 더미 데이터 라인과 상기 리페어 테스트 라인을 연결하는 스위칭 소자를 포함하고,
    상기 리페어 테스트 라인은 상기 복수의 액티브 픽셀과는 연결되지 않는 표시 장치.
  5. 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역 주변의 비표시 영역을 포함하는 표시 패널을 포함하고,
    상기 표시 패널은,
    상기 표시 영역에 위치하는 복수의 액티브 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 복수의 더미 픽셀;
    상기 비표시 영역에 위치하는 리페어 테스트 라인 및 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인;
    상기 복수의 액티브 픽셀에 연결되는 복수의 스캔 라인과 복수의 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 연결되는 복수의 스캔 라인과 더미 데이터 라인;
    상기 더미 픽셀과 상기 복수의 액티브 픽셀 중 적어도 하나의 액티브 픽셀에 연결 가능하도록 구성된 리페어 라인; 및
    상기 더미 데이터 라인과 상기 리페어 테스트 라인을 연결하는 스위칭 소자를 포함하고,
    상기 리페어 테스트 라인은 상기 복수의 액티브 픽셀과는 연결되지 않는 표시 장치.
  6. 제1 항에 있어서, 상기 비표시 영역에서, 제1 방향으로 연장되는 게이트 테스트 라인을 더 포함하되, 상기 게이트 테스트 라인은 상기 제1 스위칭 소자 및 상기 제2 스위칭 소자에 연결되고, 상기 게이트 테스트 라인으로 인가되는 전압 신호에 상응하여 상기 제1 스위칭 소자의 스위칭 여부 및 상기 제2 스위칭 소자의 스위칭 여부가 결정되는,
    표시 장치
  7. 제6 항에 있어서, 상기 제1 스위칭 소자 및 상기 제2 스위칭 소자는 PMOS 트랜지스터이고,
    상기 제1 스위칭 소자는, 상기 게이트 테스트 라인에 연결되는 제1 게이트 단자, 상기 더미 데이터 라인에 연결되는 제1 드레인 단자 및 상기 리페어 테스트 라인에 연결되는 제1 소스 단자를 포함하고,
    상기 제2 스위칭 소자는, 상기 게이트 테스트 라인에 연결되는 제2 게이트 단자, 상기 데이터 라인에 연결되는 제2 드레인 단자 및 상기 액티브 픽셀 테스트 라인에 연결되는 제2 소스 단자를 포함하는,
    표시 장치.
  8. 제1 항에 있어서, 상기 액티브 픽셀 테스트 라인은 레드 테스트 라인, 그린 테스트 라인 및 블루 테스트 라인을 포함하고,
    상기 제2 스위칭 소자는 상기 레드 테스트 라인, 상기 그린 테스트 라인 및 상기 블루 테스트 라인 중 어느 하나에 연결된,
    표시 장치.
  9. 제1 항에 있어서, 상기 제1 액티브 픽셀은, 상기 데이터 라인과 연결되는 픽셀 회로 및 상기 픽셀 회로로부터 구동 전류를 인가받는 발광 소자를 포함하고, 상기 픽셀 회로와 상기 발광 소자는 분리가능하게 연결되는,
    표시 장치.
  10. 제9 항에 있어서, 상기 제1 액티브 픽셀은, 상기 픽셀 회로로 부터 상기 발광 소자로 인가되는 구동 전류를 차단하도록 구성된 제1 리페어부 및 상기 제1 더미 픽셀로부터 상기 발광 소자로 구동 전류를 인가하도록 구성된 제2 리페어부를 포함하는,
    표시 장치.
  11. 제10 항에 있어서, 상기 데이터 라인에 데이터 신호를 인가하고 상기 더미 데이터 라인에 더미 데이터 신호를 인가하는 데이터 구동부를 더 포함하되,
    상기 데이터 구동부는 상기 데이터 신호를 상기 더미 데이터 신호로서 상기 제1 더미 픽셀에 인가하는,
    표시 장치.
  12. 제1 항에 있어서, 상기 더미 데이터 라인을 상기 제1 스위칭 소자와 연결하는 제1 패드 및 상기 데이터 라인을 상기 제2 스위칭 소자와 연결하는 제2 패드를 포함하는,
    표시 장치.
  13. 제12 항에 있어서, 상기 데이터 라인에 데이터 신호를 인가하고 및 상기 더미 데이터 라인에 더미 데이터 신호를 인가하는 데이터 구동부를 더 포함하되, 상기 데이터 구동부는 상기 제1 패드를 통하여 상기 더미 데이터 라인에 연결되고 상기 제2 패드를 통해 상기 데이터 라인에 연결되는,
    표시 장치.
  14. 제13 항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 상기 데이터 신호를 상기 더미 데이터 신호로서 상기 제1 더미 픽셀에 인가하는,
    표시 장치.
  15. 화상을 표시하는 표시 영역 및 상기 표시 영역을 둘러싼 비표시 영역을 포함하는 표시 패널을 포함하고,
    상기 표시 패널은,
    상기 표시 영역에서, 제1 방향 및 제2 방향으로 배열되는 복수의 액티브 픽셀;
    상기 비표시 영역에서, 상기 제2 방향으로 배열되는 복수의 더미 픽셀;
    상기 비표시 영역에서, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향으로 연장되는 복수의 액티브 픽셀 테스트 라인;
    상기 복수의 액티브 픽셀에 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 복수의 스캔 라인;
    상기 복수의 액티브 픽셀에 연결되고 상기 제2 방향으로 연장되는 복수의 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 연결되는 적어도 하나의 더미 데이터 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀에 연결되고 상기 제1 방향으로 연장되는 복수의 리페어 라인으로서, 적어도 하나의 리페어 라인이 상기 복수의 더미 픽셀 중 적어도 하나의 더미 픽셀과 상기 복수의 액티브 픽셀 중 적어도 하나의 액티브 픽셀을 연결하는 복수의 리페어 라인;
    상기 복수의 액티브 픽셀 테스트 라인 중 하나와 연결된 리페어 테스트 라인;
    상기 복수의 더미 픽셀 중 상기 적어도 하나의 더미 픽셀과 상기 리페어 테스트 라인을 연결하고 각각의 데이터 라인을 상기 복수의 액티브 픽셀 테스트 라인 중 하나와 연결하는 복수의 스위칭 소자를 포함하고,
    상기 리페어 테스트 라인은 상기 복수의 액티브 픽셀과는 연결되지 않는,
    표시 장치.
  16. 제15 항에 있어서, 상기 비표시 영역에서, 상기 제1 방향 및 상기 제2 방향으로 연장되는 게이트 테스트 라인을 더 포함하되, 상기 게이트 테스트 라인은 상기 복수의 스위칭 소자에 연결되고, 상기 게이트 테스트 라인으로 인가되는 전압 신호에 상응하여 상기 스위칭 소자의 스위칭 여부가 결정되는,
    표시 장치.
  17. 제16 항에 있어서, 상기 스위칭 소자는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 스위칭 소자는, 상기 게이트 테스트 라인에 연결되는 게이트 단자, 상기 더미 데이터 라인 또는 복수의 데이터 라인에 연결되는 드레인 단자 및 상기 리페어 테스트 라인 또는 하나 이상의 액티브 픽셀 테스트 라인에 연결되는 소스 단자를 포함하는,
    표시 장치.
  18. 제15 항에 있어서, 상기 액티브 픽셀 테스트 라인은 레드 테스트 라인, 그린 테스트 라인 및 블루 테스트 라인을 포함하는,
    표시 장치.
  19. 제15 항에 있어서, 상기 복수의 액티브 픽셀은, 상기 복수의 데이터 라인과 연결되는 복수의 픽셀 회로 및 상기 픽셀 회로로부터 구동 전류를 인가받는 발광 소자를 포함하고, 상기 복수의 픽셀 회로와 상기 발광 소자는 분리가능하게 연결되는,
    표시 장치.
  20. 제19 항에 있어서, 상기 복수의 액티브 픽셀 중 적어도 하나의 액티브 픽셀은, 적어도 하나의 픽셀 회로로 부터 적어도 하나의 발광 소자로 인가되는 구동 전류를 차단하도록 구성된 적어도 하나의 제1 리페어부 및 상기 복수의 더미 픽셀 중 적어도 하나의 더미 픽셀로부터 발광 소자로 구동 전류를 인가하도록 구성된 적어도 하나의 제2 리페어부를 포함하는,
    표시 장치.
  21. 제20 항에 있어서, 상기 복수의 데이터 라인 및 상기 더미 데이터 라인으로 각각 복수의 데이터 신호 및 더미 데이터 신호를 인가하는 데이터 구동부를 더 포함하되,
    상기 데이터 구동부는 상기 복수의 데이터 신호 중 적어도 하나의 데이터 신호를 상기 더미 데이터 신호로서 상기 적어도 하나의 더미 픽셀에 인가하는, 표시 장치.
  22. 제15 항에 있어서, 상기 더미 데이터 라인 및 상기 복수의 데이터 라인을 상기 복수의 스위칭 소자와 연결하는 복수의 패드를 포함하는,
    표시 장치.
  23. 제22 항에 있어서, 상기 복수의 데이터 라인 및 상기 더미 데이터 라인으로 각각 복수의 데이터 신호 및 더미 데이터 신호를 인가하는 데이터 구동부를 더 포함하되, 상기 데이터 구동부는 상기 복수의 패드를 통하여 상기 더미 데이터 라인 및 상기 복수의 데이터 라인에 연결되는,
    표시 장치.
  24. 제23 항에 있어서, 상기 데이터 구동부는 적어도 하나의 데이터 신호를 상기 더미 데이터 신호로서 상기 적어도 하나의 더미 픽셀에 인가하는,
    표시 장치.
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