KR20120012771A - 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치 - Google Patents

미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20120012771A
KR20120012771A KR1020110132185A KR20110132185A KR20120012771A KR 20120012771 A KR20120012771 A KR 20120012771A KR 1020110132185 A KR1020110132185 A KR 1020110132185A KR 20110132185 A KR20110132185 A KR 20110132185A KR 20120012771 A KR20120012771 A KR 20120012771A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
display module
miffy
jig
module
mipi
Prior art date
Application number
KR1020110132185A
Other languages
English (en)
Inventor
김기홍
Original Assignee
주식회사 지엔티시스템즈
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 지엔티시스템즈 filed Critical 주식회사 지엔티시스템즈
Priority to KR1020110132185A priority Critical patent/KR20120012771A/ko
Publication of KR20120012771A publication Critical patent/KR20120012771A/ko
Priority to PCT/KR2012/007697 priority patent/WO2013085142A1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3183Generation of test inputs, e.g. test vectors, patterns or sequences

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

본 발명은 미피 브리지 모듈(MIPI Bridge Module)을 테스트 지그(jig)에 장착하여 기존 디스플레이 모듈 검사 장치의 교체 없이 미피 인터페이스를 지원하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치에 관한 것으로, 본 발명에 따른 검사장치는 디스플레이 모듈의 검사를 위한 제어신호 및 테스트 패턴을 생성하는 본체와, 상기 디스플레이 모듈이 착탈식으로 장착되며, 상기 본체로부터 출력되는 테스트 패턴을 미피(MIPI) 데이터로 변환하는 미피 브리지 모듈을 구비하는 지그를 포함한다.

Description

미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치{Apparatus for Testing display modules with a Jig having MIPI Bridge Module}
본 발명은 미피 브리지 모듈(Mobile Industry Processor Interface Bridge Module)을 테스트 지그(jig)에 장착하여 기존 디스플레이 모듈 검사 장치의 교체 없이 미피 인터페이스를 지원하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 핸드폰이나 PDA 등의 모바일 기기를 생산하는 생산라인 중에는 모바일 기기의 디스플레이 장치에 해당하는 액정디스플레이(LCD)나 유기발광다이오드(OLED) 모듈을 검사하는 검사기가 있다. 이러한 생산 라인 중의 검사기는 생산공정라인에 결합되어 설치되어 있고, 크기도 대형이고, 가격 또한 고가이다. 이러한 생산공정 라인에 설치되는 디스플레이모듈 검사기는 디스플레이모듈을 검사하기 위한 구동신호를 발생하는 신호발생기와 디스플레이모듈을 장착하는 지그(Jig)로 구성된다.
그러나, 종래의 디스플레이 모듈 검사기는 디스플레이 모듈의 영상신호 인터페이스가 변경되면 디스플레이 모듈 검사기를 교체해야 하는 문제점이 있다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로, RGB 및 MCU 데이터를 미피 데이터로 변환하는 미피 브리지 모듈(MIPI Bridge Module)을 테스트 지그(jig)에 장착하여 기존 디스플레이 모듈 검사 장치의 교체 없이 미피 인터페이스를 지원하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치를 제공하는 것이다.
상기의 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치는 디스플레이 모듈의 검사를 위한 제어신호 및 테스트 패턴을 생성하는 본체와, 상기 디스플레이 모듈이 착탈식으로 장착되며, 상기 본체로부터 출력되는 테스트 패턴을 미피(MIPI) 데이터로 변환하는 미피 브리지 모듈을 구비하는 지그를 포함한다.
본 발명에 따른 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치는 RGB 및 MCU 데이터를 미피 데이터로 변환하는 미피 브리지 모듈(MIPI Bridge Module)을 테스트 지그(jig)에 장착하여 기존 디스플레이 모듈 검사 장치의 교체 없이 미피 인터페이스를 지원할 수 있다.
도 1은 본 발명에 따른 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치의 블록구성도이다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 지그의 구성을 도시한 사시도이다.
도 3은 도 1에 도시된 지그의 구성을 도시한 블록도이다.
이하, 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명에 따른 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치를 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치의 블록구성도를 도시한다.
도 1을 참조하면, 미피(Mobile Industry Processor Interface: MIPI) 브리지 모듈(Bridge Module)이 장착된 지그(jig)를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치(이하, 검사장치)(10)는 본체(100)와 지그(200), 디스플레이 모듈(300) 등을 포함한다.
본체(100)는 사용자 입력부(110), 인터페이스(120), 메모리(130), 테스트 패턴 생성부(140), 제어부(150)를 포함한다.
사용자 입력부(110)는 사용자로부터 디스플레이 모듈 검사에 필요한 각종 설정정보를 입력받는다. 상기 사용자 입력부(110)는 버튼 및 키패드, 키보드 등으로 구현될 수 있다.
인터페이스(120)는 검사장치(10)과 외부장치를 연결하는 중계역할을 한다. 상기 외부장치는 컴퓨터 및 노트북 등일 수 있으며, 사용자는 상기 외부장치를 통해 검사장치(10)의 동작을 제어할 수 있으며, 측정 데이터를 모니터링할 수 있다. 또한, 측정장치(10)는 상기 인터페이스(120)를 통해 외부장치로부터 검사에 필요한 이미지 파일이나 테스트 패턴 등의 데이터를 입력 받을 수 있다.
메모리(130)에는 디스플레이 모듈(300)의 검사에 필요한 테스트 패턴 및 디스플레이 모듈(300)을 검사하는 중에 발생하는 각종 데이터가 저장된다. 또한, 상기 메모리(130)에는 측정장치(10)의 전반적인 동작 제어를 위한 제반 프로그램이 저장된다.
테스트 패턴 생성부(140)는 상기 메모리(130)에 저장된 테스트 패턴을 참조하여 테스트 패턴을 RGB 데이터로 생성하여 출력한다.
제어부(150)는 상기 사용자 입력부(110)를 통해 입력되는 사용자 명령에 따라 검사장치(10)의 전반적인 동작을 제어한다. 이러한 제어부(150)는 머신 컨트롤 유닛(Machine Control unit: MCU)으로 구현될 수 있다. 또한, 상기 제어부(150)는 디스플레이 모듈(300)을 구동하는 신호를 생성한다.
지그(200)는 상기 본체(100)에 착탈식으로 장착되며, 상기 본체(100)로부터 제공되는 RGB 및 MCU 데이터(신호)를 미피(MIPI) 데이터로 변환하여 출력하는 미피 브리지 모듈(210)을 구비한다. 상기 MCU 데이터는 상기 제어부(150)로부터 출력되는 신호이고, 상기 미피 데이터는 MIPI 4-Lane 신호이다. 상기 미피 브리지 모듈(210)는 MIPI 4-Lane 브리지로, RGB 인터페이스 및 MCU 인터페이스와 MIPI 인터페이스 사이를 중계하는 역할을 한다.
디스플레이 모듈(300)은 상기 지그(200)에 착탈 가능하게 장착되며, 상기 본체(100) 또는 상기 미피 브리지 모듈(210)로부터 제공되는 테스트 패턴을 출력한다.
상기 디스플레이 모듈(300)은 LCD(Liquid Crystal Display), TFT-LCD(thin film transistor LCD), OLED(Organic Light Emitting Diode) 등을 포함한다.
이하, 도 2 및 도 3을 참조하여 미피 브리지 모듈이 장착된 지그의 구성 및 동작을 설명한다.
도 2a 및 도 2b는 본 발명에 따른 지그의 구성을 도시한 사시도이고, 도 3은 도 1에 도시된 지그의 구성을 도시한 블록도이다.
도 2a를 참조하면, 신호 경로가 인쇄된 인쇄회로기판의 일면에는 제1접속부(201), 제2접속부(202), 제3접속부(203), 제1전원공급부(204)가 설치되며, 인쇄회로기판의 다른 일면에는 제4접속부 및 스위치가 배치된다.
제1접속부(201) 및 제2접속부(202)는 지그(200)를 본체(100)에 전기적으로 연결한다. 상기 본체(100)에는 상기 제1접속부(201) 및 제2접속부(202)와 상응하는 위치에 상기 제1접속부(201) 및 제2접속부(202)와 결합하기 위한 접속부가 설치된다.
상기 제1접속부(201)는 디스플레이 모듈(300)의 구동 전압, 디스플레이 제어신호, 제어신호, 터치스크린 통신신호 및 구동전압을 중계한다.
상기 제2접속부(202)는 디스플레이 모듈(300)의 백라이트 구동 전압 및 테스트 패턴을 상기 본체(100)로부터 제공받아 전달한다.
제3접속부(203)는 미피 브리지 모듈(210)의 입력 접속부(213a) 및 출력 접속부(213b)와 각각 결합되는 두 개의 접속부(203a, 203b)를 포함한다.
제1전원공급부(204)는 상기 제1접속부(201)를 통해 입력되는 모듈 구동전압을 디스플레이 모듈(300)의 패널 로직 전원으로 변환하여 출력한다. 그리고, 상기 제1전원공급부(204)는 상기 제2접속부(202)를 통해 입력되는 테스트 패턴(디스플레이 데이터)에 대한 디스플레이 신호를 출력한다.
상기 미피 브리지 모듈(210)은 제어신호 및 RGB 및 MCU 데이터를 미피 데이터로 변환하는 변환부(211)와 상기 제2접속부(202)를 통해 입력되는 백라이트 전원을 백라이트 구동전압으로 조정하여 출력하는 제2전원공급부(212)를 포함한다. 상기 변환부(211)는 RGB 및 MCU 인터페이스와 미피 인터페이스 사이를 중계하는 공지된 프로세스를 사용할 수 있다.
상기 미피 브리지 모듈(210)은 인쇄회로기판의 배면에 설치되는 상기 제3접속부(203)과 결합하는 입출력 인터페이스(213)를 포함한다.
도 2b를 참조하면, 인쇄회로기판의 다른 일면에는 제4접속부(205)와 스위치(206)가 설치된다.
제4접속부(205)는 디스플레이 모듈(300)을 연결하는 접속구로, 미피 브리지 모듈(210)로부터 출력되는 미피 데이터를 상기 디스플레이 모듈(300)로 전달한다.
스위치(206)는 구동 전압의 소모전류를 디지털 전압계로 측정하기 위한 것이다.
상기와 같이 설명된 검사장치는 상기 설명된 실시 예들의 구성과 방법이 한정되게 적용될 수 있는 것이 아니라, 상기 실시 예들은 다양한 변형이 이루어질 수 있도록 각 실시 예들의 전부 또는 일부가 선택적으로 조합되어 구성될 수도 있다.
100: 본체
200: 지그
201: 제1접속부
202: 제2접속부
203: 제3접속부
204: 제1전원공급부
210: 미피 브리지 모듈
211: 변환부
212: 제2전원공급부

Claims (6)

  1. 디스플레이 모듈(300)의 검사를 위한 제어신호 및 테스트 패턴을 생성하는 본체(100)와,
    상기 디스플레이 모듈(300)이 착탈식으로 장착되며, 상기 본체(100)로부터 출력되는 테스트 패턴를 미피(MIPI) 데이터로 변환하는 미피 브리지 모듈(210)을 구비하는 지그(200)를 포함하는 것을 특징으로 하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 지그(200)는,
    상기 본체(100)로부터 출력되는 제어신호 및 전원을 전달하는 제1접속부(201)와,
    상기 본체(100)로부터 출력되는 테스트 패턴을 제공하는 제2접속부(202)와,
    상기 제1접속부(201) 및 제2접속부(202)를 통해 입력되는 제어신호 및 테스트 패턴을 미피 데이터로 변환하는 상기 미피 브리지 모듈(210)의 입출력 접속부(213a, 213b)와 체결되는 제3접속부(203)와,
    상기 디스플레이 모듈(300)의 구동 전원을 공급하는 제1전원공급부(204)와,
    상기 디스플레이 모듈(300)과 연결되며 상기 미피 데이터를 상기 디스플레이 모듈(300)로 전달하는 제4접속부(205)와,
    상기 제1접속부(201)을 통해 공급되는 구동전압의 소모 전류를 측정하기 위한 스위치(206)를 포함하며,
    상기 제1접속부(201) 및 제2접속부(202), 제3접속부(203), 제1전원공급부(204)는 인쇄회로기판의 일면에 배치되며, 상기 제4접속부(205)와 상기 스위치(206)는 상기 인쇄회로기판의 다른 일면에 배치되는 것을 특징으로 하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치.
  3. 제1항에 있어서, 상기 미피 브리지 모듈(210)은,
    상기 제어신호 및 테스트 패턴을 미피 데이터로 변환하는 변환부(211)와,
    상기 디스플레이 모듈(300)의 백라이트 전원을 공급하는 백라이트 전원공급부(212)를 포함하는 것을 특징으로 하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치.
  4. 제1항 또는 제3항에 있어서, 상기 테스트 패턴은,
    RGB 데이터인 것을 특징으로 하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치.
  5. 제3항에 있어서, 상기 미피 데이터는,
    MIPI 4-Lane 신호인 것을 특징으로 하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치.
  6. 제1항에 있어서, 상기 디스플레이 모듈(300)은,
    액정디스플레이, 유기발광다이오드와 같은 디스플레이 장치인 것을 특징으로하는 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치.
KR1020110132185A 2011-12-09 2011-12-09 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치 KR20120012771A (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110132185A KR20120012771A (ko) 2011-12-09 2011-12-09 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치
PCT/KR2012/007697 WO2013085142A1 (ko) 2011-12-09 2012-09-25 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110132185A KR20120012771A (ko) 2011-12-09 2011-12-09 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20120012771A true KR20120012771A (ko) 2012-02-10

Family

ID=45836568

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110132185A KR20120012771A (ko) 2011-12-09 2011-12-09 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치

Country Status (2)

Country Link
KR (1) KR20120012771A (ko)
WO (1) WO2013085142A1 (ko)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102591046A (zh) * 2012-03-08 2012-07-18 无锡博一光电科技有限公司 液晶屏的rgb接口测试方法
CN102789073A (zh) * 2012-03-08 2012-11-21 无锡博一光电科技有限公司 Mipi接口液晶屏测试方法
CN102929004A (zh) * 2012-09-26 2013-02-13 深圳市立德通讯器材有限公司 一种用于具有mipi 接口的液晶显示屏的测试***
CN103941436A (zh) * 2014-03-31 2014-07-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组测试与展示***及其使用方法
KR20140111854A (ko) * 2013-03-12 2014-09-22 엘지디스플레이 주식회사 표시장치 및 그 구동방법
CN104360511A (zh) * 2014-11-25 2015-02-18 武汉精测电子技术股份有限公司 实现两种模式的mipi模组测试方法和测试***
WO2020087579A1 (zh) * 2018-10-30 2020-05-07 重庆先进光电显示技术研究院 一种显示面板的检测装置及其检测方法
KR20220001979A (ko) * 2020-06-30 2022-01-06 주식회사 두원테크 디스플레이 모듈 검사 시스템
WO2022158643A1 (ko) * 2021-01-21 2022-07-28 주식회사 두원테크 디스플레이 모듈 검사 시스템

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106054418B (zh) * 2016-07-11 2020-05-15 浙江华懋光电科技有限公司 Lcd的检测方法及检测装置

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100918784B1 (ko) * 2009-02-11 2009-09-23 주식회사 지엔티시스템즈 휴대형 디스플레이모듈 검사기
KR20110062326A (ko) * 2009-12-03 2011-06-10 삼성전기주식회사 신호 인터페이스 방식 변환 장치
KR101058088B1 (ko) * 2011-02-28 2011-08-24 위드시스템 주식회사 디스플레이 모듈 에이징 테스트 장치

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102789073A (zh) * 2012-03-08 2012-11-21 无锡博一光电科技有限公司 Mipi接口液晶屏测试方法
CN102591046A (zh) * 2012-03-08 2012-07-18 无锡博一光电科技有限公司 液晶屏的rgb接口测试方法
CN102789073B (zh) * 2012-03-08 2015-07-29 无锡博一光电科技有限公司 Mipi接口液晶屏测试方法
CN102929004A (zh) * 2012-09-26 2013-02-13 深圳市立德通讯器材有限公司 一种用于具有mipi 接口的液晶显示屏的测试***
CN102929004B (zh) * 2012-09-26 2015-01-07 深圳市立德通讯器材有限公司 一种用于具有mipi 接口的液晶显示屏的测试***
KR20140111854A (ko) * 2013-03-12 2014-09-22 엘지디스플레이 주식회사 표시장치 및 그 구동방법
CN103941436B (zh) * 2014-03-31 2017-02-08 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组测试与展示***及其使用方法
CN103941436A (zh) * 2014-03-31 2014-07-23 京东方科技集团股份有限公司 一种显示模组测试与展示***及其使用方法
CN104360511A (zh) * 2014-11-25 2015-02-18 武汉精测电子技术股份有限公司 实现两种模式的mipi模组测试方法和测试***
WO2020087579A1 (zh) * 2018-10-30 2020-05-07 重庆先进光电显示技术研究院 一种显示面板的检测装置及其检测方法
US11176857B2 (en) 2018-10-30 2021-11-16 Chongqing Advance Display Technology Research Display panel testing apparatus and testing method
KR20220001979A (ko) * 2020-06-30 2022-01-06 주식회사 두원테크 디스플레이 모듈 검사 시스템
WO2022158643A1 (ko) * 2021-01-21 2022-07-28 주식회사 두원테크 디스플레이 모듈 검사 시스템

Also Published As

Publication number Publication date
WO2013085142A1 (ko) 2013-06-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR20120012771A (ko) 미피 브리지 모듈이 장착된 지그를 구비한 디스플레이 모듈 검사 장치
US10726766B2 (en) Display device and interface method thereof
US8363198B2 (en) Liquid crystal display device
TW200622995A (en) Liquid crystal display and driving method
KR100918784B1 (ko) 휴대형 디스플레이모듈 검사기
JP2007206282A (ja) 情報処理装置、及び輝度制御方法
US9287215B2 (en) Source driver integrated circuit and display device comprising source driver integrated circuit
CN104680971A (zh) 有机发光显示装置
KR102087785B1 (ko) 유기발광 디스플레이 장치
US9953577B2 (en) Gate drive integrated circuit used in image display device, image display device, and organic EL display
CN216084272U (zh) 一种TCON模组以及Tconless屏设备
CN101452127B (zh) 液晶显示装置及其测试***与测试方法
KR102113620B1 (ko) 표시장치의 테스트장치
KR20130005196A (ko) 쇼팅바 타입 오토 프로브 장치의 오토 프로브 블럭
KR100768780B1 (ko) 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치
KR20120118650A (ko) 모바일 디스플레이 모듈 테스트 장치
CN205192974U (zh) 一种lcd裸片检测单元架构
JP2012193928A (ja) 石油ファンヒーター用回路基板
KR20080029114A (ko) 모듈화된 액정표시장치
KR102558842B1 (ko) 표시장치
KR20070071952A (ko) 구동 장치 및 이를 포함하는 액정 표시 장치
KR101187572B1 (ko) 표시장치의 구동 제어회로
KR20230102651A (ko) 먹스 집적회로 및 이를 포함하는 프로브 카드
US11696403B2 (en) Display device and electronic apparatus
KR20120079332A (ko) 표시장치

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application