KR100768780B1

KR100768780B1 - 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치

Info

Publication number: KR100768780B1
Application number: KR1020060096992A
Authority: KR
Inventors: 김기회
Original assignee: (주)나이시스
Priority date: 2006-10-02
Filing date: 2006-10-02
Publication date: 2007-10-19

Abstract

본 발명은 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치에 관한 것으로서, 타이밍 컨트롤러를 구동하는 구동 클럭을 발생시키는 클럭 발생부, 상기 클럭 발생부에서 생성된 TTL 신호 방식의 구동 클럭을 LVDS 신호 방식으로 변환하는 TTL/LVDS 변환부, 외부기기로부터 입력되는 LVDS 신호 방식의 이미지 데이터가 입력되는 외부 커넥터, 상기 외부 커넥터로부터 입력된 이미지 데이터를 보정하여 출력하는 LVDS 버퍼부, 상기 TTL/LVDS 변환부 및 LVDS 버퍼부로부터 입력되는 구동 클럭 및 보정된 이미지 데이터를 상기 액정모듈의 타이밍 컨트롤러로 전송하기 위한 커넥터 및 상기 클럭 발생부 또는 LVDS 버퍼부를 선택적으로 구동하도록 제어하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 종래 구동장치 내부의 패턴 발생기의 구성을 생략할 수 있어 구동회로 제조 및 운영 비용을 최소화할 수 있는 효과가 있다.

LCD, 액정, 엘시디, 에이징, 디스플레이, 패턴.

Description

액정모듈용 에이징 테스트 구동장치{An Drive Circuit For Aging Test of LCD Module}

도 1은 종래 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 구성을 도시한 블록도이다.

도 2는 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 구성을 도시한 블록도이다.

도 3은 LVDS 버퍼부의 내부 회로 구성을 도시한 것이다.

<주요도면부호에 관한 설명>

10 : 전원부 20 : 제어부

30 : 클럭 발생부 40 : TTL/LVDS 변환부

50 : 멀티플렉서 60 : 외부 커넥터

70 : LVDS 버퍼부 80 : 커넥터

100 : 외부기기 200 : 액정 모듈

210 : 타이밍 컨트롤러 220 : 메모리(ROM)

230 : 액정 표시부

본 발명은 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 액정모듈의 내부 메모리에 에이징 패턴을 저장하고 구동장치에서 구동 클럭을 액정모듈 내부의 타이밍 컨트롤러로 인가하여 타이밍 컨트롤러가 내부 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭에 실어 디스플레이시키는 방식으로 에이징 테스트를 수행하도록 함으로써 종래 구동장치 내부의 패턴 발생기의 구성을 생략할 수 있도록 하는 장치에 관한 것이다.

액정표시장치(LCD : Liquid Crystal Display)는 제조가 완료되면 공정 검사를 거친 후 일정 시간 동안 가혹 조건하에서 디스플레이 특성을 검사하는 에이징(Aging)을 거친 후 출하된다.

통상적으로 에이징은 액정모듈이 장착된 팔레트가 고온의 환경을 제공하는 에이징 챔버 내에서 일정 시간 체류하면서 수행되며, 팔레트 상에는 액정모듈을 구동하기 위한 구동회로가 내장되어 있다.

이러한 구동회로가 도 1에 도시되어 있다.

도 1에 도시된 바와 같이, 종래 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치는 에이징 패턴을 발생하는 패턴 발생기(500), 필요한 구동 전압을 발생하는 전압 발생부(600), 패턴 발생기(500)를 제어하기 위한 신호 및 전압 발생부(600)를 제어하기 위한 신호를 출력하는 제어 패널(300), 패턴 발생기(500)로 클럭을 제공하는 클럭 발생부(400) 및 전압 발생부(600)의 소자 구동 전압을 입력받아 패턴 발생기(500)의 출력 신호를 LCD 모듈(800)로 전송하는 버퍼부(700)를 포함하여 구성된다.

최근에는 액정표시장치의 규격이 점차 풀 스케일을 제공하는 방향으로 변경되고 있으며, 그에 따라 에이징 테스트에서도 패턴 발생기(500)에서 발생되는 에이징 패턴도 풀 스케일을 제공하도록 요구되고 있다.

그러나, 패턴 발생기(500)가 풀 스케일을 제공하도록 업그레이드되기 위해서는 2배의 추가적인 라인이 필요하고 내부 회로가 복잡해지므로 업그레이드시 과다한 비용이 소요되고 불량율이 증가하여 가동률이 저하되는 한편 운영 비용이 증가하는 문제점이 있다.

또한, 종래 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치는 외부 기기로부터 입력 테스트를 위해 이미지 데이터가 입력되는 경우 LVDS 신호 형태의 이미지 데이터를 TTL 신호로 변환한 후 다시 LVDS 신호로 변환되어 액정모듈로 전송되도록 되어 있어 내부 구조가 복잡하게 되는 문제점이 있다.

본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 액정모듈의 내부 메모리에 에이징 패턴을 저장하고 구동장치에서 구동 클럭을 액정모듈 내부의 타이밍 컨트롤러로 인가하여 타이밍 컨트롤러가 내부 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭에 실어 디스플레이시키는 방식으로 에이징 테스트 를 수행하도록 함으로써 종래 구동장치 내부의 패턴 발생기의 구성을 생략할 수 있어 구동회로 제조 및 운영 비용을 최소화할 수 있도록 하는 것이다.

본 발명의 다른 목적은 외부 기기로부터 입력되는 이미지 데이터를 별도의 변환처리를 거치지 않고 액정 모듈로 바이패스시킴으로써 에이징 공정 외 입력 테스트, 최종 테스트 등의 기타 디스플레이 특성 검사까지 하나의 구동장치에서 수행가능하도록 하는 것이다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일측면에 따르면, 상기 타이밍 컨트롤러를 구동하는 구동 클럭을 발생시키는 클럭 발생부, 상기 클럭 발생부에서 생성된 TTL 신호 방식의 구동 클럭을 LVDS 신호 방식으로 변환하는 TTL/LVDS 변환부, 외부기기로부터 입력되는 LVDS 신호 방식의 이미지 데이터가 입력되는 외부 커넥터, 상기 외부 커넥터로부터 입력된 이미지 데이터를 보정하여 출력하는 LVDS 버퍼부, 상기 TTL/LVDS 변환부 및 LVDS 버퍼부로부터 입력되는 구동 클럭 및 보정된 이미지 데이터를 상기 액정모듈의 타이밍 컨트롤러로 전송하기 위한 커넥터 및 상기 클럭 발생부 또는 LVDS 버퍼부를 선택적으로 구동하도록 제어하는 제어부를 포함하되, 상기 타이밍 컨트롤러는 상기 구동 클럭이 수신되는 경우 액정모듈에 구비된 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키고, 상기 이미지 데이터가 입력되는 경우 상기 이미지 데이터를 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이 징 테스트 구동장치가 제공된다.

여기서, 상기 제어부의 제어신호에 기초하여 상기 타이밍 컨트롤러의 사양별 구동 전압을 상기 타이밍 컨트롤러로 인가하는 멀티플렉서가 더 포함되는 것이 바람직하다.

그리고, 상기 제어부는 I²C 통신 규격의 형태를 갖고, 상기 액정모듈의 메모리에 저장된 에이징 패턴의 디스플레이 시간, 디스플레이 순서, 명암 중 적어도 어느 하나를 제어하기 위한 디스플레이 제어신호를 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 것이 보다 바람직하다.

이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 일 실시예를 상세하게 설명하기로 한다.

도 2는 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 구성을 도시한 블록도이고, 도 3은 LVDS 버퍼부의 내부 회로 구성을 도시한 것이다.

도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치는 전원부(10), 제어부(20), 클럭 발생부(30), TTL/LVDS 변환부(40), 멀티플렉서(50), 외부 커넥터(60), LVDS 버퍼부(70) 및 커넥터(80)를 포함하여 구성된다.

전원부(10)는 제어부(20) 및 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 구동 전원을 공급한다. 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 공급되는 전원은 내부 전원으로 공급될 수도 있고 외부 커넥터(60)를 통해 공급된 외부 전원일 수도 있다. 이를 위해, 전원부(10)는 내부 전원과 외부 전원을 스위칭하여 선택적으로 출력할 수 있도록 되어 있는 것이 바람직하다.

제어부(20)는 클럭 발생부(30) 또는 LVDS 버퍼부(70)를 선택적으로 구동하도록 제어하고, 멀티플렉서(50)가 현재 접속된 액정모듈(200)의 사양에 따라 적절한 구동전압을 타이밍 컨트롤러(210)로 인가하도록 제어한다. 제어부(20)는 통상의 경우에는 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)를 구동하기 위한 인에이블 신호를 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)로 인가하여 액정모듈(200) 내부의 메모리인 ROM(220)에 저장된 에이징 패턴이 액정 표시부(230)에 디스플레이되도록 제어하고, 외부 이미지가 입력되는 경우에는 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)를 디스에이블시키고 LVDS 버퍼부(70)에 인에이블 신호를 인가하여 외부기기(100)로부터 입력되는 이미지 데이터가 액정 표시부(230)에 디스플레이되도록 제어한다. 또한, 제어부(20)는 I²C 통신 규격을 통해 타이밍 컨트롤러(210)와 통신이 가능하며, 액정모듈(200)의 메모리인 ROM(220)에 저장된 에이징 패턴이 디스플레이되는 순서, 디스플레이 시간, 명암 중 적어도 어느 하나를 제어하기 위한 디스플레이 제어신호를 타이밍 컨트롤러(210)로 전송한다.

클럭 발생부(30)는 제어부(20)의 인에이블 신호에 의해 구동되어 에이징 모드 개시를 위한 클럭 신호를 생성한다. 상술한 바와 같이, 외부 이미지 데이터를 디스플레이하는 경우에는 클럭 발생부(30)는 비활성화된다.

TTL/LVDS 변환부(40)는 클럭 발생부(30)에서 생성된 TTL(Transistor Transistor Logic) 신호를 액정모듈(200)의 처리신호 형식인 LVDS(Low Voltage Differential Signalling) 신호로 변환하여 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 전송한다.

멀티플렉서(50)는 에이징 모드에서 타이밍 컨트롤러(210)의 규격에 맞는 인에이블 전압을 인가하기 위한 것이다. 액정모듈(200)은 제조사, 기종 등에 따라 타이밍 컨트롤러(210)를 구동하는 인에이블 전압이 3.3V, 2.5V, 0V 등으로 상이하다. 따라서, 제어부(20)는 외부의 PC(미도시) 등으로부터 검사대상 액정모듈의 사양 정보를 미리 수신하여 그에 상응하는 제어신호를 멀티플렉서(50)로 인가하며, 멀티플렉서(50)는 제어신호에 기초하여 검사대상 액정모듈의 규격에 맞는 인에이블 전압을 타이밍 컨트롤러(210)로 인가한다. 상술한 바와 같이, 외부 이미지 데이터를 디스플레이하는 경우에는 멀티플렉서(50)는 비활성화된다.

외부 커넥터(60)는 외부 기기(100)가 접속되는 부분으로서 외부 커넥터(60)를 통해 외부 기기(100)로부터 액정모듈(200)의 디스플레이 특성을 보다 정밀하게 검사하기 위한 이미지 데이터가 LVDS 신호의 형태로 입력된다.

LVDS 버퍼부(70)는 외부 기기(100)로부터 입력된 LVDS 형태의 이미지 데이터를 보정하여 타이밍 컨트롤러(210)로 출력한다. LVDS 버퍼부(70)는 도 3에 도시된 바와 같이, 입력된 신호가 하이(H)인 경우에는 그대로 하이(H)로 출력하고 입력된 신호가 로우(L)인 경우에는 그대로 로우(L)로 출력시키는 버퍼로서 데이터 전송 중에 신호가 왜곡되어 신호의 레벨이 감소하거나 주기가 변형된 경우 LVDS 버퍼 부(70)를 통과하면서 원래의 레벨 및 주기로 보정된다.

커넥터(80)는 본 발명에 따른 구동장치와 액정모듈(200)을 접속하기 위한 접속장치이다.

이하에서는 상기 도면을 참조하여 본 발명에 따른 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치의 동작을 설명하기로 한다.

에이징 모드

에이징 모드에서 제어부(20)는 인에이블 신호를 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)로 인가하여 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)를 활성화시키고 LVDS 버퍼부(70)는 비활성화시킨다.

클럭 발생부(30)에서 생성된 클럭 신호는 TTL/LVDS 변환부(40)에서 LVDS 신호로 변환된 후 커넥터(80)를 통해 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)에 인가된다.

한편, 멀티플렉서(50)는 제어부(20)로부터 인가된 제어신호에 기초하여 3.3V, 2.5V, 0V 중 어느 하나의 전압을 타이밍 컨트롤러(210)에 인에이블 신호로 인가한다.

타이밍 컨트롤러(210)는 상기 클럭 신호 및 인에이블 신호를 수신하면 ROM(220)에 미리 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부(230)로 디스플레이시킨다.

상술한 바와 같이, 액정 표시부(230)에 출력되는 에이징 패턴의 순서, 디스플레이 시간, 명암의 정도 등은 제어부(20)에 의해 가변될 수 있다.

입력 테스트 모드 (또는 최종 테스트 모드)

입력 테스트 모드(또는 최종 테스트 모드)에서 제어부(20)는 인에이블 신호를 LVDS 버퍼부(70)로 인가하여 LVDS 버퍼부(70)를 활성화시키고 클럭 발생부(30) 및 멀티플렉서(50)는 비활성화시킨다.

외부 기기(100)로부터 입력된 이미지 데이터는 LVDS 버퍼부(70)에서 신호 레벨 및 주기 등이 보정된 후 커넥터(80)를 통해 액정모듈(200)의 타이밍 컨트롤러(210)로 출력된다. 상술한 바와 같이, 외부 기기(100)로부터 입력되는 이미지 데이터는 LVDS 신호이므로 별도의 변환 처리 없이 액정모듈(200)로 전송될 수 있다.

타이밍 컨트롤러(210)는 상기 구동 전원 및 이미지 데이터를 수신하면 이미지 데이터를 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부(230)로 디스플레이시킨다.

상기와 같은 본 발명에 따르면, 액정모듈의 내부 메모리에 에이징 패턴을 저장하고 구동장치에서 구동 클럭을 액정모듈 내부의 타이밍 컨트롤러로 인가하여 타이밍 컨트롤러가 내부 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭에 실어 디스플레이시키는 방식으로 에이징 테스트를 수행하도록 함으로써 종래 구동장치 내부의 패 턴 발생기의 구성을 생략할 수 있어 구동회로 제조 및 운영 비용을 최소화할 수 있는 효과가 있다.

또한, 외부 기기로부터 입력되는 이미지 데이터를 별도의 변환처리를 거치지 않고 액정 모듈로 바이패스시킴으로써 에이징 공정 외 입력 테스트, 최종 테스트 등의 기타 디스플레이 특성 검사까지 하나의 구동장치에서 수행가능하도록 하는 효과도 있다.

비록 본 발명이 상기 언급된 바람직한 실시예와 관련하여 설명되어졌지만, 발명의 요지와 범위로부터 벗어남이 없이 다양한 수정이나 변형을 하는 것이 가능하다. 따라서 첨부된 특허청구의 범위는 본 발명의 요지에서 속하는 이러한 수정이나 변형을 포함할 것이다.

Claims

액정모듈의 타이밍 컨트롤러에 접속되어 액정 모듈의 에이징 테스트를 구동하는 장치에 있어서,

상기 타이밍 컨트롤러를 구동하는 구동 클럭을 발생시키는 클럭 발생부;

상기 클럭 발생부에서 생성된 TTL 신호 방식의 구동 클럭을 LVDS 신호 방식으로 변환하는 TTL/LVDS 변환부;

외부기기로부터 입력되는 LVDS 신호 방식의 이미지 데이터가 입력되는 외부 커넥터;

상기 외부 커넥터로부터 입력된 이미지 데이터를 보정하여 출력하는 LVDS 버퍼부;

상기 TTL/LVDS 변환부 및 LVDS 버퍼부로부터 입력되는 구동 클럭 및 보정된 이미지 데이터를 상기 액정모듈의 타이밍 컨트롤러로 전송하기 위한 커넥터; 및

상기 클럭 발생부 또는 LVDS 버퍼부를 선택적으로 구동하도록 제어하는 제어부를 포함하되,

상기 타이밍 컨트롤러는 상기 구동 클럭이 수신되는 경우 액정모듈에 구비된 메모리에 저장된 에이징 패턴을 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키고, 상기 이미지 데이터가 입력되는 경우 상기 이미지 데이터를 출력 클럭 신호에 실어 액정 표시부로 디스플레이시키는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치.
제 1 항에 있어서,

상기 제어부의 제어신호에 기초하여 상기 타이밍 컨트롤러의 사양별 구동 전압을 상기 타이밍 컨트롤러로 인가하는 멀티플렉서가 더 포함되는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치.
제 1 항에 있어서,

상기 제어부는 I²C 통신 규격의 형태를 갖고, 상기 액정모듈의 메모리에 저장된 에이징 패턴의 디스플레이 시간, 디스플레이 순서, 명암 중 적어도 어느 하나를 제어하기 위한 디스플레이 제어신호를 상기 타이밍 컨트롤러로 전송하는 것을 특징으로 하는 액정모듈용 에이징 테스트 구동장치.