KR20110109579A - 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법 - Google Patents
용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20110109579A KR20110109579A KR1020100029367A KR20100029367A KR20110109579A KR 20110109579 A KR20110109579 A KR 20110109579A KR 1020100029367 A KR1020100029367 A KR 1020100029367A KR 20100029367 A KR20100029367 A KR 20100029367A KR 20110109579 A KR20110109579 A KR 20110109579A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- electrode pin
- value
- determination
- measured
- voltage
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K11/00—Resistance welding; Severing by resistance heating
- B23K11/10—Spot welding; Stitch welding
- B23K11/11—Spot welding
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K11/00—Resistance welding; Severing by resistance heating
- B23K11/24—Electric supply or control circuits therefor
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K11/00—Resistance welding; Severing by resistance heating
- B23K11/24—Electric supply or control circuits therefor
- B23K11/25—Monitoring devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/20—Investigating the presence of flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/22—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating capacitance
- G01N27/24—Investigating the presence of flaws
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Electric Means (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
Abstract
Description
도 2 및 도 3은 도 1 용접 검사 장치의 동작과정을 보인 동작과정도.
도 4는 본 발명에 의한 용접 검사 장치의 다른 실시예를 보인 개략도.
도 5 및 도 6은 도 4의 용접 검사 장치의 동작과정을 보인 동작과정도.
도 7는 도 1의 용접 검사 장치의 사용예를 보인 개략도.
도 8은 도 1의 용접 검사 장치의 다른 사용예를 보인 개략도.
도 9는 본 발명에 의한 용접 검사 작업의 일부를 보인 흐름도.
13: 제 2전극핀 14: 제 3전극핀
15: 제 4전극핀 16: 제 5전극핀
17: 제 6전극핀 20: 전압계
22: 제 1전압계 24: 제 2전압계
30: 전류원 40: 스위치
42: 제 1스위치 44: 제 2스위치
46: 제 3스위치 S100. 판단단계
S110. 합격표시단계 S120. 불합격표시단계
S130. 계산단계 S140. 환산단계
S150. 추가표시단계
Claims (5)
- 피측정물의 동일 표면에 선단이 접촉하여 직선형태로 순서대로 동일한 간격으로 배치되는 제 1전극핀, 제 2전극핀, 제 3전극핀 제 4전극핀, 제 5전극핀과 제 6전극핀과;
상기 각각의 전극핀 사이에 전류를 인가하는 전류원과;
상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 1전압계와;
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압을 측정하는 제 2전압계와;
상기 전류원의 일단을 상기 제 1전극핀 또는 상기 제 3전극핀 중 하나와 선택적으로 연결하는 제 1스위치와;
상기 전류원의 타단을 상기 제 4전극핀 또는 상기 제 6전극핀 중 하나와 선택적으로 연결하는 제 2스위치와;
상기 전압계에서 측정된 전압으로 저항값을 계산하여, 저항값이 차이에 의해 합격 여부를 판단하는 판단부와;
상기 판단부에서의 판단결과를 외부로 디스플레이하는 표시부와;
상기 판단부에서의 판단결과, 불합격인 경우에는 합격치와의 차이를 계산하여 차액계산부와;
상기 차액계산부의 수치를 백분율로 환산하여 외부로 디스플레이하는 환산부;를 포함하는 구성을 가지는 것을 특징으로 하는 용접 검사 장치. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
상기 제 1전극핀과 상기 제 6전극핀에 전류를 인가하는 제 2단계;
상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하고 저항값(R2)을 계산하고, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 계산하여, A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 3단계;
상기 제 3단계의 A값과, 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이라 생각되는 지점에 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
상기 제 1전극핀과 상기 제 6전극핀에 전류를 인가하는 제 2단계;
상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하고 저항값(R2)을 계산하고, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 계산하여, A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 3단계;
상기 A의 값이 최대가 될 때까지 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀을 이동시키는 제 4단계; 그리고,
상기 A의 값이 최대가 될 때 측정된 A값과 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
제 1스위치를 제 1전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 4전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하여 저항값(R2)을 구하는 제 2단계;
제 1스위치를 제 3전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 6전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 구하는 제 3단계;
A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 4단계; 그리고,
상기 제 3단계의 A값과, 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계를 포함하며;
상기 제 2단계와 상기 제 3단계가 순간적으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법. - 제 1 항에 의해 구성되는 용접 검사 장치에 있어서,
상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이에 피측정물의 용접부분이라 생각되는 지점에 위치되도록 접촉시키는 제 1단계;
제 1스위치를 제 1전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 4전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 2전극핀과 상기 제 3전극핀 사이의 전압(V2)을 측정하여 저항값(R2)을 구하는 제 2단계;
제 1스위치를 제 3전극핀에 접점시키고, 제 2스위치를 제 6전극핀에 접점시키고, 전류를 인가시켜, 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀 사이의 전압(V1)을 측정하여 저항값(R1)을 구하는 제 3단계;
A = ((R2-R1)/R2) *100 에 의해 A값을 측정하는 제 4단계;
상기 A의 값이 최대가 될 때까지 상기 제 4전극핀과 상기 제 5전극핀을 이동시키는 제 5단계; 그리고,
상기 A의 값이 최대가 될 때 측정된 A값과 검사합격치인 B와 비교하여, 합격과 불합격을 판단하는 판단단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A≥B인 경우에는 합격임을 외부로 알리는 합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 불합격임을 외부로 알리는 불합격표시단계;
상기 판단단계에서의 판단결과, A<B인 경우에는 C=B-A의 값을 계산하는 계산단계;
상기 계산단계에서 계산된 값으로부터 C/B*100의 값을 계산하는 환산단계;
상기 환산단계에서 계산된 값을 외부로 디스플레이하여 추가작업량을 표시하는 추가표시단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 용접 검사 방법.
는 용접 검사 장치.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20100029367A KR101125216B1 (ko) | 2010-03-31 | 2010-03-31 | 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR20100029367A KR101125216B1 (ko) | 2010-03-31 | 2010-03-31 | 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20110109579A true KR20110109579A (ko) | 2011-10-06 |
KR101125216B1 KR101125216B1 (ko) | 2012-03-21 |
Family
ID=45026756
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR20100029367A KR101125216B1 (ko) | 2010-03-31 | 2010-03-31 | 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101125216B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107344270A (zh) * | 2016-05-06 | 2017-11-14 | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 | 用于对电池单元的端子与电极元件之间的焊口进行评估的方法和设备 |
KR20200051627A (ko) * | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 한스 레이저 테크놀러지 인더스트리 그룹 컴퍼니 리미티드 | 품질 검사 장치, 방법, 시스템 및 일체형 프로브 어셈블리 |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2024510497A (ja) * | 2021-06-11 | 2024-03-07 | エルジー エナジー ソリューション リミテッド | 溶接状態の検査装置および検査方法 |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100900629B1 (ko) * | 2002-05-07 | 2009-06-02 | 주식회사 포스코 | 코일 용접부 진단 방법 |
KR20070044647A (ko) * | 2005-10-25 | 2007-04-30 | 현대자동차주식회사 | 스폿용접 비파괴 검사장치 |
-
2010
- 2010-03-31 KR KR20100029367A patent/KR101125216B1/ko active IP Right Grant
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107344270A (zh) * | 2016-05-06 | 2017-11-14 | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 | 用于对电池单元的端子与电极元件之间的焊口进行评估的方法和设备 |
US10274448B2 (en) | 2016-05-06 | 2019-04-30 | GM Global Technology Operations LLC | Method and apparatus for evaluating a weld junction between a terminal and an electrode element of a battery cell |
CN107344270B (zh) * | 2016-05-06 | 2020-02-28 | 通用汽车环球科技运作有限责任公司 | 用于对电池单元的端子与电极元件之间的焊口进行评估的方法和设备 |
KR20200051627A (ko) * | 2018-11-02 | 2020-05-13 | 한스 레이저 테크놀러지 인더스트리 그룹 컴퍼니 리미티드 | 품질 검사 장치, 방법, 시스템 및 일체형 프로브 어셈블리 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101125216B1 (ko) | 2012-03-21 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102216324B1 (ko) | 접촉자의 유지 보수 방법 및 검사 장치 | |
KR20150111865A (ko) | 저항 측정 장치, 기판 검사 장치, 검사 방법, 및 검사용 지그의 메인터넌스 방법 | |
KR102640756B1 (ko) | 용착 상태 검출 방법 및 용착 상태 검출 장치 | |
KR101125216B1 (ko) | 용접 검사 장치 및 이를 이용한 용접 검사 방법 | |
JP2012173182A (ja) | 検査装置および検査方法 | |
KR101390385B1 (ko) | 너트 프로젝션 용접의 용접품질 평가방법 | |
JP2011112408A (ja) | 絶縁検査装置および絶縁検査方法 | |
JP2014151360A (ja) | 溶接品質検査方法 | |
KR100958038B1 (ko) | 용접 검사 장치 | |
KR20150144138A (ko) | 링 프로젝션 용접의 용접품질 평가방법 | |
KR20140146535A (ko) | 기판검사장치 | |
KR101961536B1 (ko) | 기판 검사 장치 및 기판 검사 방법 | |
JPH05288706A (ja) | 金属部材の欠陥監視システム | |
JP5001049B2 (ja) | スポット溶接強度評価方法および装置 | |
JPS643071Y2 (ko) | ||
JP6545598B2 (ja) | 抵抗測定装置および検査装置 | |
JP2009074923A (ja) | 導電材料製構造物の損傷検出方法 | |
KR102596731B1 (ko) | 릴레이 검사 시스템 | |
JP2013160729A (ja) | 溶接部の異材判定方法 | |
JP5965620B2 (ja) | 抵抗溶接の品質管理方法及び抵抗溶接装置 | |
CN101738421A (zh) | 一种检测电解槽阴极碳块组装质量的方法及测试夹具 | |
JPH0331894A (ja) | 電極間の短絡検出方法及びその装置 | |
KR102330768B1 (ko) | 무전원 용접 품질 측정 장치 | |
JP2005049314A (ja) | プロービングテスト法およびプローブ状態検出装置 | |
JP6723190B2 (ja) | 検査装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20141210 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160104 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20161226 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180102 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181226 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20191224 Year of fee payment: 9 |