KR20100078616A - 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치 및 이를 이용한 이방성 도전필름의 시험 방법 - Google Patents
이방성 도전필름의 절연저항 측정장치 및 이를 이용한 이방성 도전필름의 시험 방법 Download PDFInfo
- Publication number
- KR20100078616A KR20100078616A KR1020080136920A KR20080136920A KR20100078616A KR 20100078616 A KR20100078616 A KR 20100078616A KR 1020080136920 A KR1020080136920 A KR 1020080136920A KR 20080136920 A KR20080136920 A KR 20080136920A KR 20100078616 A KR20100078616 A KR 20100078616A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- conductive film
- anisotropic conductive
- insulation resistance
- test pads
- connection bumps
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
- G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
- G01R27/025—Measuring very high resistances, e.g. isolation resistances, i.e. megohm-meters
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/06711—Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
- G01R31/2879—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to electrical aspects, e.g. to voltage or current supply or stimuli or to electrical loads
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2884—Testing of integrated circuits [IC] using dedicated test connectors, test elements or test circuits on the IC under test
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
Abstract
Description
실시예 | 비교예 | |||
테스트 패드의 간격(㎛) | 12 | 14 | 16 | 20 |
절연 저항(Ω) | 8.5×108 | 6.5×1011 | 1.9×1012 | 3.5×1012 |
Claims (5)
- 전기적 신호를 인가하는 다수의 접속 범프를 포함하는 집적회로칩;이방성 도전필름을 매개하여, 상기 다수의 접속 범프와 각각 접속하여 전기적 신호를 인가받는 다수의 테스트 패드를 구비하며, 상기 다수의 테스트 패드 사이의 간격은 서로 다르도록 되어 있는 기판; 및상기 다수의 테스트 패드 중, 인접하는 한 쌍의 테스트 패드 사이의 절연 저항을 측정할 수 있는 절연저항 측정기를 포함하는, 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 다수의 접속 범프는 균일한 간격으로 배치되어 있는 것인, 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 테스트 패드의 간격은 12㎛, 14㎛, 16㎛ 및 20㎛인 것인, 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치.
- 제1항에 있어서, 상기 테스트 패드는 산화 인듐 주석(indium tin oxide)으로 이루어진 것인, 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치.
- 전기적 신호를 인가하는 다수의 접속 범프를 포함하는 집적회로칩과, 상기 다수의 접속 범프와 각각 접속하여 전기적 신호를 인가받는 다수의 테스트 패드를 구비하며, 상기 다수의 테스트 패드 사이의 간격은 서로 다르도록 되어 있는 기판을, 이방성 도전필름을 이용하여 서로 접속시키는 단계;상기 다수의 테스트 패드 중, 인접하는 테스트 패드 사이의 절연 저항을 각각 측정하는 단계; 및상기 측정된 절연 저항이 소정치 이하로 되는, 인접하는 테스트 패드 사이의 거리를 상기 이방성 도전필름을 사용할 수 없는 전극 간격으로 판단하는 단계를 포함하는, 이방성 도전필름의 시험방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080136920A KR101050416B1 (ko) | 2008-12-30 | 2008-12-30 | 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치 및 이를 이용한 이방성 도전필름의 시험 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020080136920A KR101050416B1 (ko) | 2008-12-30 | 2008-12-30 | 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치 및 이를 이용한 이방성 도전필름의 시험 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20100078616A true KR20100078616A (ko) | 2010-07-08 |
KR101050416B1 KR101050416B1 (ko) | 2011-07-19 |
Family
ID=42639815
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020080136920A KR101050416B1 (ko) | 2008-12-30 | 2008-12-30 | 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치 및 이를 이용한 이방성 도전필름의 시험 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101050416B1 (ko) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150092433A (ko) * | 2014-02-04 | 2015-08-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
KR102429423B1 (ko) | 2022-05-25 | 2022-08-04 | 주식회사 에너피아 | 히팅필름 전용 저항 측정장치 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100681581B1 (ko) * | 2006-02-27 | 2007-02-09 | 엘에스전선 주식회사 | 저항 측정용 회로 접속 구조체 |
-
2008
- 2008-12-30 KR KR1020080136920A patent/KR101050416B1/ko active IP Right Grant
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR20150092433A (ko) * | 2014-02-04 | 2015-08-13 | 삼성디스플레이 주식회사 | 표시장치 |
KR102429423B1 (ko) | 2022-05-25 | 2022-08-04 | 주식회사 에너피아 | 히팅필름 전용 저항 측정장치 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR101050416B1 (ko) | 2011-07-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101934439B1 (ko) | 본딩 불량 검출이 가능한 디스플레이 장치 | |
US7710406B2 (en) | Touch panel | |
CN110416264B (zh) | 显示装置的绑定方法及显示装置 | |
US8305542B2 (en) | Thin film transistor array substrate with improved test terminals | |
US7683496B2 (en) | Misalignment detection devices | |
CN109559667B (zh) | 一种阵列基板、其测试方法及显示面板、显示装置 | |
CN103268029B (zh) | 一种显示模组及显示器 | |
US8284340B2 (en) | Liquid crystal display device | |
US8008584B2 (en) | Panel circuit structure | |
JP2012226058A (ja) | 表示装置 | |
JP2015049435A (ja) | ドライバic、表示装置およびその検査システム | |
US20050099565A1 (en) | Liquid crystal display device and inspecting method of bonding state between liquid crystal display panel and drive IC | |
CN110927999B (zh) | 显示面板及其测试方法 | |
KR20040059670A (ko) | 액정표시패널의 검사용 범프 구조 | |
JP2820233B2 (ja) | 表示装置の検査装置および検査方法 | |
KR101050416B1 (ko) | 이방성 도전필름의 절연저항 측정장치 및 이를 이용한 이방성 도전필름의 시험 방법 | |
US20030227593A1 (en) | Liquid crystal display device and manufacturing method of liquid crystal display device | |
KR20060112521A (ko) | 접속 범프와 기판도전막 패턴 간의 안정적인 접촉저항을갖는 액정구동회로 칩 접속 범프 구조 설계 및 이방성 전도접착제를 사용한 칩온글라스/칩온플렉스 접속 방법 | |
US20130335655A1 (en) | Substrate and Manufacturing Method of Panel Display Device and Corresponding Liquid Crystal Display Panel | |
KR20100064498A (ko) | 액정패널과 연결기판 간의 접속 상태를 테스트하는 방법 및이를 이용한 액정표시장치 | |
US20030137629A1 (en) | Display device | |
CN104201167B (zh) | 一种焊垫结构及显示装置 | |
KR20110060249A (ko) | 이방성 도전 필름의 접속저항 측정 장치 및 방법 | |
US8373838B2 (en) | Display apparatus | |
US20090073098A1 (en) | Display module with identification circuit on panel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140603 Year of fee payment: 4 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20150618 Year of fee payment: 5 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20160614 Year of fee payment: 6 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20170613 Year of fee payment: 7 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20180612 Year of fee payment: 8 |
|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20190611 Year of fee payment: 9 |