KR20100003804A - Method for repairing liquid crystal display - Google Patents

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Abstract

PURPOSE: A defect modifying method of a liquid crystal display using a pattern image as a reference image is provided to modify internal defect such as brightness defect in a state that the liquid crystal display is not separated. CONSTITUTION: A part of a color filter substrate above a defect region is cut by irradiating laser beam. A defect part on a TFT(Thin Film Transistor) layer is welded as cut or welded by irradiating the laser light. Cut part of the color filter substrate is a black matrix region. The irradiation position of the laser light is selected based on the pattern image of the TFT layer having the same pattern as the liquid crystal display.

Description

액정 표시장치의 결함 수정 방법{METHOD FOR REPAIRING LIQUID CRYSTAL DISPLAY}How to fix defects in liquid crystal display {METHOD FOR REPAIRING LIQUID CRYSTAL DISPLAY}

본 발명은 엘시디에 관한 것으로서, 특히 레이저를 이용하여 엘시디의 결함을 수정(repairing)하는 방법에 관한 것이다.The present invention relates to LCDs, and more particularly to a method for repairing defects of LCDs using a laser.

일반적으로 모니터나 TV로 이용되는 액정디스플레이는 사용 중에 휘점 불량이 발생될 수 있다. 이는 기판 상에 기판 상에 배선을 형성할 때 파티클이나 노광불량 등에 의한 결함에 의해서, 또한 금속 배선의 석출에 의해서도 결함에 의해 발생하는 것이다.In general, a liquid crystal display used as a monitor or a TV may have a bright point defect during use. This is caused by defects caused by particles, poor exposure, or the like when the wirings are formed on the substrate on the substrate, and also by precipitation of the metal wirings.

기존에는 이러한 결함을 리페어하기 위해서 액정디스플레이를 패널 상태까지 완전히 분해한 후 레이저를 이용하여 TFT 면의 배선 패턴을 컷팅(cutting)하거나 웰딩(welding)하여 암점화시키고 있다.Conventionally, in order to repair such defects, the liquid crystal display is completely disassembled to the panel state and then darkened by cutting or welding the wiring pattern on the TFT surface using a laser.

이를테면 LCD TV 제품과 같은 액정 표시장치에 휘점 불량이 발생하면, 패널상태까지 완전히 분해한 후, LCD 패널을 결함 수정 장치에 로딩한다. 이어 TFT 층의 후면쪽을 현미경으로 관찰하면서 후면쪽에서 레이저를 조사하여, 도 8에서 나타낸 TFT 층의 패턴 이미지와 같이, TFT 층의 패턴의 결함 부위를 컷팅하거나 웰딩한 다. 결함 리페어가 끝나면 액정 표시장치를 다시 조립한다.For example, when a bright point defect occurs in a liquid crystal display device such as an LCD TV product, the LCD panel is loaded into a defect correcting device after being completely disassembled to the panel state. The laser is irradiated from the rear side while observing the rear side of the TFT layer under a microscope to cut or weld the defect portion of the pattern of the TFT layer, as shown in the pattern image of the TFT layer shown in FIG. When the defect repair is finished, reassemble the liquid crystal display.

그러나, 이러한 기존의 방법은 이와 같이 액정 표시장치를 완전한 분해 조립을 하여야 하는 문제점이 있다. 그에 따라 공정이 번잡하고 고비용이 초래된다.However, this conventional method has a problem in that the liquid crystal display must be completely disassembled and assembled. This results in complicated processes and high costs.

본 발명은 이와 같은 종래기술의 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 공정이 간단한 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 제공하는 목적을 갖는다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve such problems of the prior art, and has an object of providing a defect correction method of a liquid crystal display device having a simple process.

본 발명의 목적에 따르면, 액정 표시장치를 전면쪽으로 레이저를 조사하여 결함을 수정하는 방법이 제공된다.According to the object of the present invention, there is provided a method of correcting a defect by irradiating a laser toward the front of the liquid crystal display.

또한 본 발명의 목적에 따르면, 2 단계를 통하여 결함을 수정하는 방법이 제공된다.According to an object of the present invention, there is also provided a method of correcting a defect in two steps.

또한 본 발명에 따르면, TFT 층의 패턴 이미지 또는 반전된 TFT 층의 패턴 이미지와 같은 참조 이미지를 이용하여 액정 표시장치를 분해하지 않은 상태에서 TFT 패턴 상의 결함을 수정할 수 있는 결함 수정 방법이 제공된다.According to the present invention, there is also provided a defect correction method capable of correcting a defect on a TFT pattern without disassembling the liquid crystal display using a reference image such as a pattern image of a TFT layer or a pattern image of an inverted TFT layer.

본 발명의 일측면에 따른 액정 표시장치의 결함 수정 방법은: (a) 상기 액정디스플레이의 전면쪽에서 레이저광을 조사하여 결함 부위 위의 컬러필터 기판측의 일부분을 컷팅하는 단계; 및 (b) 상기 액정디스플레이의 전면쪽에서 레이저광을 조사하여 TFT 층 상의 상기 결함 부위를 컷팅 또는 웰딩하는 단계를 포함한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method of correcting a defect of a liquid crystal display, the method comprising: (a) cutting a portion of a color filter substrate side on a defect site by irradiating a laser beam from a front side of the liquid crystal display; And (b) irradiating a laser beam from the front side of the liquid crystal display to cut or weld the defect site on the TFT layer.

여기서 상기 (a) 단계에서 컷팅되는 상기 컬러필터 기판측의 일부분은 블랙 매트릭스 부위일 수 있다.Here, a portion of the color filter substrate side cut in the step (a) may be a black matrix portion.

또한 상기 (a) 및 (b) 단계는 상기 액정디스플레이와 동일한 패턴을 가지는 TFT 층의 패턴 이미지에 의거하여 상기 레이저광의 조사 위치를 선정할 수 있다.In addition, in steps (a) and (b), the irradiation position of the laser light may be selected based on a pattern image of a TFT layer having the same pattern as that of the liquid crystal display.

상기 TFT 층의 패턴 이미지는 상기 액정디스플레이의 후면쪽에서 취해진 이미지를 반전시킨 반전된 TFT 층의 패턴 이미지일 수 있다.The pattern image of the TFT layer may be a pattern image of the inverted TFT layer inverting the image taken from the rear side of the liquid crystal display.

본 발명의 다른 측면에 따른, 액정 표시장치의 결함 수정 방법은: 상기 액정 표시장치와 동일한 패턴을 가지는 TFT 층의 패턴 이미지를 준비하는 단계; 상기 액정 표시장치의 전면 이미지와 상기 TFT 층의 패턴 이미지를 매칭시켜서 레이저광의 조사 위치를 결정하는 단계; 및 상기 액정 표시장치의 전면쪽에서 상기 결정된 레이저광 조사 위치에 레이저광을 조사하여 상기 액정 표시장치의 TFT 층 상의 결함 부위를 리페어하는 단계를 포함한다.According to another aspect of the present invention, a method for correcting a defect of a liquid crystal display includes: preparing a pattern image of a TFT layer having the same pattern as the liquid crystal display; Determining an irradiation position of a laser light by matching a front image of the liquid crystal display with a pattern image of the TFT layer; And repairing a defective portion on the TFT layer of the liquid crystal display by irradiating a laser beam to the determined laser light irradiation position on the front side of the liquid crystal display.

상기 결함 부위를 리페어하는 단계는: 상기 레이저광의 조사를 통해 상기 액정 표시장치의 컬러필터 기판측의 일부분을 컷팅하는 단계; 및 상기 레이저광의 조사를 통해 상기 액정 표시장치의 TFT 층 상의 상기 결함 부위를 컷팅 또는 웰딩하는 단계를 포함할 수 있다.The repairing of the defective portion may include: cutting a portion of a side of a color filter substrate of the liquid crystal display through irradiation of the laser light; And cutting or welding the defective portion on the TFT layer of the liquid crystal display through irradiation of the laser light.

상기 부분적으로 컷팅되는 컬러필터 기판측의 일부분은 블랙 매트릭스 부위일 수 있다.A portion of the partially cut color filter substrate side may be a black matrix portion.

상기 TFT 층의 패턴 이미지는 상기 액정 표시장치의 후면에서 취해진 이미지를 반전한 반전 TFT 층의 패턴 이미지일 수 있다.The pattern image of the TFT layer may be a pattern image of the inverting TFT layer inverting the image taken from the rear side of the liquid crystal display.

본 발명의 방법에 따르면, 액정 표시장치를 분해하지 않은 상태에서 휘점 불량 등의 내부 결함을 수정할 수 있다. 따라서, 공정이 단순화되고 저렴한 비용으로 액정 TV와 같은 제품의 결함을 수정할 수 있다. 또한 본 발명의 방법은 가상의 TFT 층의 패턴 이미지를 참조 이미지로 이용하기 때문에 정확하고 신속하게 공정을 진행시킬 수 있다.According to the method of the present invention, internal defects such as bright point defects can be corrected without disassembling the liquid crystal display. Thus, the process is simplified and defects in products such as liquid crystal TVs can be corrected at low cost. In addition, the method of the present invention uses the pattern image of the virtual TFT layer as a reference image, so that the process can be performed accurately and quickly.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 상세하게 설명한다.Hereinafter, a defect correction method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 1은 본 발명의 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 설명하기 위해 도시한 액정 표시장치의 단면도로서, 중간부분에는 액정 표시장치(10)의 단면도, 상부부분에는 컬러필터 기판측(20) 및 TFT 어레이 기판측(30)의 단면을 각각 나타낸다. 도면을 참조하여 본 발명이 적용되는 전형적인 액정 표시장치(10)의 구조를 먼저 설명한다. 일반적인 액정 표시장치(10)는, 크게 TFT 어레이 기판측(30), 컬러필터 기판측(20), 및 백라이트 유닛을 포함한다. 백라이트 유닛은, 도면에서 TFT 어레이 기판측의 하부에 결합되며 여기서는 도시되지 않았다.1 is a cross-sectional view of a liquid crystal display device shown for explaining a defect correction method of a liquid crystal display device of the present invention, the middle portion of the liquid crystal display device 10, the upper portion of the color filter substrate side 20 and the TFT The cross section of the array substrate side 30 is shown, respectively. The structure of a typical liquid crystal display device 10 to which the present invention is applied will be described first with reference to the drawings. The general liquid crystal display device 10 largely includes a TFT array substrate side 30, a color filter substrate side 20, and a backlight unit. The backlight unit is coupled to the lower portion of the TFT array substrate side in the drawing and is not shown here.

TFT 어레이 기판측(30)은 글라스(Glass) 기판과, 그 위에 형성된 TFT 층을 포함한다. The TFT array substrate side 30 includes a glass substrate and a TFT layer formed thereon.

글라스 기판 상에 형성된 TFT 층은 게이트(Gate)와, 절연막(GI)과, 액티브층(ACT)과, N+ 층과, 소스/드레인 전극(S/D)과, 패시베이션층(PAS)과, 화소전극(PKL)과, 캐패시터(Cs)를 포함한다.The TFT layer formed on the glass substrate includes a gate, an insulating film GI, an active layer ACT, an N + layer, a source / drain electrode S / D, a passivation layer PAS, and a pixel. The electrode PKL and the capacitor Cs are included.

컬러필터 기판측(20)은 글라스(Glass) 기판과, 기판 상에 형성된 컬러필터층 및 공통전극(CN)을 포함한다. 컬러필터층은 Red, Green 및 Blue의 안료를 포함하는 컬러 필터부와 컬러 필터부를 둘러싸는 형태로 지지하는 블랙 매트릭스(Black Matrix: BM)를 포함한다. 상세하게 후술되지만, 본 발명은 액정 표시장치(10)의 전면에서 레이저광을 조사하여 TFT 패턴 상의 결함을 수정하며, 1 차적으로 이 블랙 매트릭스(Black Matrix)의 일부를 레이저로 컷팅한다.The color filter substrate side 20 includes a glass substrate, a color filter layer and a common electrode CN formed on the substrate. The color filter layer includes a color filter part including red, green, and blue pigments, and a black matrix (BM) supporting the color filter part in a form surrounding the color filter part. Although described in detail below, the present invention irradiates a laser beam from the front surface of the liquid crystal display device 10 to correct defects on the TFT pattern, and primarily cuts a part of the black matrix with a laser.

그 외, TFT 어레이 기판측(30)과 컬러필터 기판측(20)에는 각각 편광판(polarizer: Pol)과 배향막(alingment layer: Al)이 구비된다.In addition, a polarizer (Po) and an alignment layer (Al) are provided on the TFT array substrate side 30 and the color filter substrate side 20, respectively.

이러한 TFT 어레이 기판측(30)과 컬러필터 기판측(20)이 실런트(Sealant)와 스페이서(Spacer)를 개재한 상태로 서로 접합된다. 이미 설명한 바 있지만, TFT 어레이 기판측(30)이 후면에는 백라이트유닛(미도시)이 결합된다.The TFT array substrate side 30 and the color filter substrate side 20 are bonded to each other with a sealant and a spacer interposed therebetween. Although already described, the backlight unit (not shown) is coupled to the rear side of the TFT array substrate side 30.

본 발명의 액정 표시장치의 결함 수정 방법은 제품 상태의 액정 표시장치(10)에 휘점 불량이 발생하였을 때 액정 표시장치(10)를 분해하지 않은 상태에서 장치의 전면쪽에서 레이저광을 조사하여 TFT 패턴 상의 결함을 수정한다. 이는 종래의 방법이 액정 표시 장치를 LCD 패널 상태까지 분해하고 나서 TFT 어레이 기판측의 후면쪽에서 레이저를 조사하는 것과는 반대이다. 본 발명의 방법은 수정 대상이 되는 액정 표시장치(10)의 TFT 층의 패턴 이미지와 동일한 이미지를 미리 확보한다. 보다 정확하게는 액정 표시장치(10)를 기준으로 TFT 어레이 기판측(30)의 후면쪽에서 본 TFT 층의 패턴 이미지를 반전시킨 '반전 TFT 층의 패턴 이미지'를 이용할 수 있다. 이러한 TFT 층의 패턴 이미지 또는 반전 TFT 층의 패턴 이미지는 제조 공정에서 이용된 것이거나, 추후 확보된 것일 수 있다.The defect correction method of the liquid crystal display of the present invention is a TFT pattern by irradiating a laser light from the front side of the device without disassembling the liquid crystal display device 10 when a bright point defect occurs in the liquid crystal display device 10 in the state of the product. The defect on the image. This is in contrast to the conventional method in which the liquid crystal display is disassembled to the LCD panel state and then irradiated with a laser from the rear side of the TFT array substrate side. The method of the present invention secures in advance the same image as the pattern image of the TFT layer of the liquid crystal display 10 to be corrected. More precisely, a 'pattern image of the inverting TFT layer' in which the pattern image of the TFT layer viewed from the rear side of the TFT array substrate side 30 with respect to the liquid crystal display device 10 can be used. The pattern image of the TFT layer or the pattern image of the inverting TFT layer may be used in the manufacturing process or may be secured later.

따라서, 미리 확보된 TFT 층의 패턴 이미지 또는 반전 TFT 층의 패턴 이미지를 결함 수정 장치에 디스플레이시키고 실제 수정 대상 액정 표시장치의 전면과 매 칭시킨다. 이러한 과정을 통해 레이저광의 조사 위치를 선정 또는 결정한다. 이어, 레이저광을 액정 표시장치의 전면쪽에서 조사하여 1 차적으로 컬러필터층의 블랙 매트릭스(BM)의 일부분을 컷팅한다. 물론, 컷팅되는 블랙 매트릭스(BM) 부위는 수정될 결함 부위의 위쪽에 위치된 부위이다. 2 차적으로 레이저광을 조사하여 TFT 패턴 상의 결함 부위를 수정한다. 결함 수정은 컷팅 및 웰딩(Welding)을 포함한다.Therefore, the pattern image of the TFT layer secured in advance or the pattern image of the inverting TFT layer is displayed on the defect correction apparatus and matched with the front surface of the actual liquid crystal display device to be corrected. Through this process, the irradiation position of the laser light is selected or determined. Subsequently, a laser beam is irradiated from the front side of the liquid crystal display to primarily cut a part of the black matrix BM of the color filter layer. Of course, the cut black matrix (BM) site is the site located above the defective site to be corrected. Secondly, the laser beam is irradiated to correct the defect site on the TFT pattern. Defect correction includes cutting and welding.

이하, 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 상세하게 설명한다.Hereinafter, a defect correction method of a liquid crystal display according to a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

도 2에 나타낸 바와 같이 LCD TV와 같은 액정 표시장치에 휘점 불량이 발생하면, 도 3과 같은 그 액정 표시장치와 동일한 패턴을 가지는 TFT 층의 패턴 이미지를 준비한다. TFT 층의 패턴 이미지는 상술한 바와 같이 TFT 어레이 기판의 후면쪽에서 본 이미지를 반전시킨 이미지이다. 실제로는 이러한 TFT 층의 패턴 이미지는 결함 수정에 이용되는 장치에 미리 저장되어 있을 수 있고, 작업 개시 시에 선택함으로써 준비 과정이 이루어질 수 있다.As shown in Fig. 2, when a bright point defect occurs in a liquid crystal display such as an LCD TV, a pattern image of a TFT layer having the same pattern as that of the liquid crystal display as shown in Fig. 3 is prepared. The pattern image of the TFT layer is an image inverted from the image seen from the rear side of the TFT array substrate as described above. In practice, the pattern image of such a TFT layer may be stored in advance in an apparatus used for defect correction, and a preparation process may be made by selecting at the start of the work.

이어, 액정 표시장치의 전면 이미지와 상기 TFT 층의 패턴 이미지를 매칭시켜서 레이저광의 조사 위치를 결정한다. 액정 표시장치를 결함 수정 장치에 로딩하여 액정 표시장치의 전면 이미지를 얻고 나서, 위에서 선택된 TFT 층의 패턴 이미지를 로딩된 액정 표시장치의 전면 이미지와 매칭시킨다. 이는 주지의 결함 수정 장치 내의 알고리즘을 통해 이루어 질 수 있다. 바람직하게는 로딩된 액정 표시장치의 전면 이미지와 매칭된 TFT 층의 패턴 이미지를 결함 수정 장치의 디스플레이를 통해 출력하여 작업 진행 사항을 모니터링 및 제어할 수 있다.Next, the irradiation position of the laser light is determined by matching the front image of the liquid crystal display with the pattern image of the TFT layer. The liquid crystal display is loaded into a defect correction apparatus to obtain a front image of the liquid crystal display, and then the pattern image of the TFT layer selected above is matched with the front image of the loaded liquid crystal display. This can be done through algorithms in known defect correction devices. Preferably, the pattern image of the TFT layer matched with the front image of the loaded liquid crystal display may be output through the display of the defect correction apparatus to monitor and control the progress of the work.

이렇게 레이저 조사 위치가 결정되면, 도 4에 도시한 바와 같이, 액정 표시장치의 전면쪽에서 결정된 레이저광 조사 위치에 2 단계에 걸쳐서 레이저광을 조사하여 액정 표시장치의 TFT 층 상의 결함 부위를 리페어한다.When the laser irradiation position is determined in this way, as shown in Fig. 4, the laser beam is irradiated to the laser light irradiation position determined on the front side of the liquid crystal display in two steps to repair the defective portion on the TFT layer of the liquid crystal display.

본 발명의 방법에 있어서 리페어 단계는 상술한 바와 같이 2 단계로 이루어진다. 우선, 1 차적으로 레이저광의 조사를 통해 액정 표시장치의 컬러필터 기판측의 일부분을 컷팅한다. 보다 구체적으로는, 도 5에서와 같이, 결함 부위의 위쪽의 블랙 매트릭스를 부분적으로 컷팅한다. 도 5에서 좌측의 "A" 부분은 TFT층의 메탈라인을 컷팅하기 위하여 해당 BM 부분을 절단한 것이고, 우측의 "B" 부분은 TFT층의 메탈라인을 웰딩하기 위하여 해당 BM 부분을 절단한 것이다. 이들 "A" 및 "B" 부분은 둘 중에 하나만 있을 수 있고, 컷팅과 웰딩이 모두 수행될 경우에는 두 부분이 모두 절단될 수 있다.The repair step in the method of the present invention consists of two steps as described above. First, a part of the color filter substrate side of the liquid crystal display device is cut by primarily irradiating laser light. More specifically, as shown in FIG. 5, the black matrix above the defect site is partially cut. In FIG. 5, the portion “A” on the left is a cut portion of the BM to cut the metal line of the TFT layer, and the portion “B” on the right is a cut portion of the BM portion to weld the metal line of the TFT layer. . These "A" and "B" parts may be only one of the two, and both parts may be cut when both cutting and welding are performed.

이어 2 차적으로 레이저광의 조사를 통해 액정 표시장치의 TFT 층 상의 결함 부위를 컷팅 또는 웰딩한다. 구체적으로 TFT 패턴 상의 메탈 라인을 컷팅하거나 웰딩한다. 이는 도 6으로 나타낸 사진과 같이 "a" 부위와 같이 메탈라인이 절단되거나, "b" 부분과 같이 메탈라인이 웰딩된다. 도면에서 "c"부위는 컷팅 전의 단락된 부위를 보여준다.Subsequently, the defect site on the TFT layer of the liquid crystal display is cut or welded through the laser light irradiation. Specifically, the metal line on the TFT pattern is cut or welded. As shown in FIG. 6, the metal line is cut like the “a” portion, or the metal line is welded like the “b” portion. The "c" part in the figure shows the shorted part before cutting.

도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 설명하기 위해 도시한 컬러필터층과 TFT 층의 패턴이미지를 나타낸 도면이다. 도면에서 알 수 있는 바와 같이 1차 BM 부분을 컷팅하고, 2차 TFT 패턴 상의 메탈라인을 컷팅(또는 웰딩)한다. 여기서 우측의 TFT 패턴 이미지는 액정 표시장치의 전면에서 바라본 이미지가 된다. 즉, 후면에서 취해진 TFT 패턴 이미지를 반전한 반전 TFT 패턴 이미지이다. 이는 도 8의 종래의 방법에서의 LCD 패널의 후면을 현미경으로 관찰하면서 후면쪽에서 레이저를 조사하는 종래 방법의 TFT 패턴 이미지와는 반대라는 것을 알 수 있다.FIG. 7 is a view illustrating a pattern image of a color filter layer and a TFT layer to explain a defect correction method of a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention. As can be seen from the figure, the primary BM portion is cut and the metal lines on the secondary TFT pattern are cut (or welded). The TFT pattern image on the right becomes the image seen from the front of the liquid crystal display. That is, the inverted TFT pattern image inverting the TFT pattern image taken from the back side. It can be seen that this is opposite to the TFT pattern image of the conventional method of irradiating a laser from the rear side while observing the rear side of the LCD panel in the conventional method of FIG. 8 under a microscope.

블랙 매트릭스(BM)는 각 화소의 영역을 결정하며, R, G, B 간 색간섭을 방지하여 선명도를 높이는 역할을 수행한다. 아래 표 1은 현재 이용된 블랙 매트릭스 재료의 종류와 특성을 나타낸다.The black matrix BM determines an area of each pixel and increases the sharpness by preventing color interference between R, G, and B. Table 1 below shows the types and properties of currently used black matrix materials.

특성/재료종류Characteristics / Materials CrCr Cr/CrOx이층막Cr / CrOx two-layer film 수지BMResin BM GraphiteGraphite 차광재Shading CrCr Cr/CrOxCr / CrOx Carbon 안료 또는 RGB 합 안료Carbon Pigment or RGB Sum Pigment GraphiteGraphite 막두께Thickness ~0.2㎛~ 0.2㎛ ~0.2㎛~ 0.2㎛ ~0.1㎛~ 0.1㎛ ~0.4㎛~ 0.4㎛ 반사율reflectivity ~50%~ 50% ~4%~ 4% ~2%~ 2% ~7%~ 7% 제조공정Manufacture process PhotolithoPhotolitho PhotolithoPhotolitho PhotolithoPhotolitho Lift-OffLift-off B/M 공정 숫자B / M process number 88 88 55 77 공정 안정성Process stability 매우우수Very good 매우우수Very good 우수Great 보통usually

표 2는 각 물질의 컷팅을 위한 파장을 나타낸다.Table 2 shows the wavelengths for the cutting of each material.

IR(1064nm)IR (1064 nm) Green(532nm)Green (532 nm) UV3(355nm)UV3 (355 nm) uv4(266nm)uv4 (266 nm) AluminumAluminum CopperCopper PolyimidePolyimide PolyimidePolyimide GoldGold KaptonKapton KaptonKapton Poly siliconPoly silicon SiliconSilicon siliconsilicon AluminumAluminum NitrideNitride NitrideNitride Silicon DioxideSilicon dioxide SOGSOG SOGSOG Silicon DioxideSilicon dioxide Silicon DIOXIDESilicon DIOXIDE

표 3 및 4는 레이저 표준 에너지와 최고 에너지 옵션을 나타낸다.Tables 3 and 4 show laser standard energy and highest energy options.

ModelModel 1064nm1064nm 532nm532 nm 355nm355 nm 266nm266 nm IR OnlyIR Only 0.5mJ0.5mJ Green OnlyGreen only 0.5mJ0.5mJ IR/GreenIR / Green 0.5mJ0.5mJ 0.5mJ0.5mJ Green/UV3Green / UV3 0.5mJ0.5mJ 0.5mJ0.5mJ Green/UV43Green / UV43 0.5mJ0.5mJ 0.25mJ0.25mJ triLite UV3triLite UV3 0.5mJ0.5mJ 0.5mJ0.5mJ 0.4mJ0.4mJ

*표준 에너지 (레이저 아퍼처(aperture)에서 최소 펄스 에너지)* Standard energy (minimum pulse energy at laser aperture)

Model Model 1064nm1064nm 532nm532 nm 355nm355 nm 266nm266 nm IRIR 2.2mJ2.2 mJ Green OnlyGreen only 2.2mJ2.2 mJ IR/GreenIR / Green 2.2mJ2.2 mJ 2.2mJ2.2 mJ

*최고 에너지 옵션(레이저 아퍼처에서 최소 펄스 에너지)Highest energy option (minimum pulse energy at laser aperture)

표 5는 컷팅 사이즈를 나타낸다.Table 5 shows the cutting sizes.

Minimum with 100 * objectiveMinimum with 100 * objective 2㎛*2㎛2㎛ * 2㎛ 1㎛*1㎛1 μm * 1 μm 1㎛*1㎛1 μm * 1 μm 2㎛*2㎛52 μm * 2 μm 5 Maximum with 50 * objectiveMaximum with 50 * objective 50㎛*50㎛50㎛ * 50㎛ 40㎛*40㎛40㎛ * 40㎛ 30㎛*30㎛30㎛ * 30㎛ 30㎛*30㎛30㎛ * 30㎛

* 컷팅 사이즈(싱글 펄스)* Cutting size (single pulse)

도 1은 본 발명의 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 설명하기 위해 도시한 액정 표시장치의 단면도.BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS Fig. 1 is a cross-sectional view of a liquid crystal display shown for explaining a defect correction method of a liquid crystal display of the present invention.

도 2는 불량 휘점이 발생한 액정 TV를 나타내는 도면.2 is a view showing a liquid crystal TV with a defective bright spot.

도 3은 본 발명에 이용되는 TFT 층의 패턴 이미지의 일례.3 is an example of a pattern image of a TFT layer used in the present invention.

도 4는 본 발명의 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 설명하기 위해 도시한 액정 표시장치의 단면도.4 is a cross-sectional view of the liquid crystal display shown for explaining the defect correction method of the liquid crystal display of the present invention.

도 5는 본 발명의 액정 표시장치의 결함 수정 방법의 과정에서 부분적으로 컷팅된 컬러필터층의 블랙 매트릭스를 보여주는 도면.FIG. 5 is a diagram illustrating a black matrix of a color filter layer partially cut in the course of a defect correction method of a liquid crystal display of the present invention; FIG.

도 6은 본 발명의 액정 표시장치의 결함 수정 방법에 의해 결함이 수정된 TFT 층의 패턴 사진.6 is a pattern photograph of a TFT layer in which defects are corrected by a defect correction method of a liquid crystal display of the present invention.

도 7은 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 액정 표시장치의 결함 수정 방법을 설명하기 위해 도시한 컬러필터층과 TFT 층의 패턴이미지를 나타낸 도면.7 is a view showing a pattern image of a color filter layer and a TFT layer shown for explaining a defect correction method of a liquid crystal display device according to a preferred embodiment of the present invention.

도 8은 종래의 액정 표시장치의 결함 수정 방법에서 이용되는 TFT 층의 패턴 이미지.8 is a pattern image of a TFT layer used in a defect correction method of a conventional liquid crystal display.

Claims (8)

액정 표시장치의 결함 수정 방법에 있어서:In the defect correction method of the liquid crystal display: (a) 상기 액정디스플레이의 전면쪽에서 레이저광을 조사하여 결함 부위 위의 컬러필터 기판측의 일부분을 컷팅하는 단계; 및(a) irradiating a laser beam from the front side of the liquid crystal display to cut a portion of the side of the color filter substrate on the defect site; And (b) 상기 액정디스플레이의 전면쪽에서 레이저광을 조사하여 TFT 층 상의 상기 결함 부위를 컷팅 또는 웰딩하는 단계를 포함하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.(b) irradiating a laser beam from the front side of the liquid crystal display to cut or weld the defect portion on the TFT layer. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 (a) 단계에서 컷팅되는 상기 컬러필터 기판측의 일부분은 블랙 매트릭스 부위인 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.A portion of the color filter substrate side cut in the step (a) is a black matrix portion, the defect correction method of the liquid crystal display. 청구항 1에 있어서,The method according to claim 1, 상기 (a) 및 (b) 단계는 상기 액정디스플레이와 동일한 패턴을 가지는 TFT 층의 패턴 이미지에 의거하여 상기 레이저광의 조사 위치를 선정하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.(A) and (b) is a defect correction method of the liquid crystal display, characterized in that for selecting the irradiation position of the laser light based on the pattern image of the TFT layer having the same pattern as the liquid crystal display. 청구항 3에 있어서,The method according to claim 3, 상기 TFT 층의 패턴 이미지는 상기 액정디스플레이의 후면쪽에서 취해진 이 미지를 반전시킨 반전된 TFT 층의 패턴 이미지인 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.And the pattern image of the TFT layer is a pattern image of an inverted TFT layer inverting an image taken from the rear side of the liquid crystal display. 액정 표시장치의 결함 수정 방법에 있어서:In the defect correction method of the liquid crystal display: 상기 액정 표시장치와 동일한 패턴을 가지는 TFT 층의 패턴 이미지를 준비하는 단계;Preparing a pattern image of a TFT layer having the same pattern as the liquid crystal display; 상기 액정 표시장치의 전면 이미지와 상기 TFT 층의 패턴 이미지를 매칭시켜서 레이저광의 조사 위치를 결정하는 단계; 및Determining an irradiation position of a laser light by matching a front image of the liquid crystal display with a pattern image of the TFT layer; And 상기 액정 표시장치의 전면쪽에서 상기 결정된 레이저광 조사 위치에 레이저광을 조사하여 상기 액정 표시장치의 TFT 층 상의 결함 부위를 리페어하는 단계를 포함하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.Irradiating a laser beam to the determined laser light irradiation position on the front side of the liquid crystal display to repair a defect portion on the TFT layer of the liquid crystal display. 청구항 5에 있어서, 상기 결함 부위를 리페어하는 단계는:The method of claim 5, wherein repairing the defect site comprises: 상기 레이저광의 조사를 통해 상기 액정 표시장치의 컬러필터 기판측의 일부분을 컷팅하는 단계; 및Cutting a portion of the side of the color filter substrate of the liquid crystal display by irradiating the laser light; And 상기 레이저광의 조사를 통해 상기 액정 표시장치의 TFT 층 상의 상기 결함 부위를 컷팅 또는 웰딩하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.And cutting or welding the defective portion on the TFT layer of the liquid crystal display by irradiating the laser light. 청구항 6에 있어서,The method according to claim 6, 상기 부분적으로 컷팅되는 컬러필터 기판측의 일부분은 블랙 매트릭스 부위인 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.And a portion of the partially cut color filter substrate side is a black matrix portion. 청구항 5에 있어서,The method according to claim 5, 상기 TFT 층의 패턴 이미지는 상기 액정 표시장치의 후면에서 취해진 이미지를 반전한 반전 TFT 층의 패턴 이미지인 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 수정 방법.And the pattern image of the TFT layer is a pattern image of the inverting TFT layer inverting the image taken from the rear side of the liquid crystal display.
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