KR20090078255A - A solid state disk test handler - Google Patents

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KR20090078255A
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Abstract

An SSD(Solid State Disk) test handler is provided to enhance productivity by testing automatically an SSD of a bare state which is not assembled with a case. An SSD test handler includes a loading unit(100), a test unit(200), a carrier transfer robot, a shuttle unit(400), a first and second test tray rotation transfer units(500,600), and a first and second SSD transfer robots. A plurality of carrier trays for receiving SSDs are loaded into the loading unit. The test unit is opposite to the loading unit in order to test the SSDs of the test trays. The carrier transfer robot is installed between the loading unit and the test unit in order to load the carrier tray into the loading unit or to unload the carrier tray from the loading unit. The shuttle unit is installed between the test unit and the carrier transfer robot in order to transfer the test tray to a loading region or an unloading region. The first test tray rotation transfer unit is installed at a lower side of the shuttle unit in order to rotate and transfer the test tray of the loading region to the test unit. The second test tray rotation transfer unit rotates and transfers the test tray of the test unit to the unloading region. The first SSD transfer robot transfers the SSDs to the test tray of the loading region. The second SSD transfer robot transfers and classifies the SSDs of the test tray of the unloading region.

Description

에스에스디(SSD) 테스트 핸들러{A Solid State Disk Test Handler}A (S Solid State Disk Test Handler)

본 발명은 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 컴퓨터나 이동 단말기 등에서 데이터를 저장하기 위해 사용되는 SSD를 베어(bare) 상태에서 자동으로 테스트할 수 있는 에스에스디(SSD) 테스트 핸들러에 관한 것이다. The present invention relates to an SSD test handler, and more particularly, to test an SSD used for storing data in a computer or a mobile terminal in a bare state. It's about a handler.

에스에스디(Solid State Disk: 이하, SSD로 약칭함)는 컴퓨터에 사용되는 하드디스크(hard disk)나 이동 단말기에 사용되는 미니(mini) 하드디스크를 대체하기 위해 사용된다. SSD는 플래쉬 메모리(flash memory)와 같은 소자를 사용하여 데이터를 저장하므로써 프로그램의 실행 속도가 빠르고, 부팅 디스크(booting disk)로 사용 시 하드디스크에 비해 부팅시간이 단축되는 장점을 가지고 있다. A solid state disk (SSD) is used to replace a hard disk used in a computer or a mini hard disk used in a mobile terminal. SSDs have the advantage of speeding up the execution of programs by storing data using devices such as flash memory, and shortening boot time compared to hard disks when used as a boot disk.

SSD의 구성 및 작용을 첨부된 도 1을 참조하여 설명하면 다음과 같다.The configuration and operation of the SSD will be described with reference to FIG. 1.

도 1에 도시된 SSD는 케이스(case)(도시 않음)가 조립되지 않은 베어(bare) 상태의 SSD를 나타내며, 베어 상태의 SSD는 인쇄회로기판(1), 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(connector)(5)로 구성된다. 다수개의 플래쉬 메모리(2), 제어기(3), 입출력제어기(4) 및 커넥터(5)는 각각 인쇄회 로기판(1)에 실장되며, 각각을 실장 시 SSD의 데이터의 저장 용량에 따라 인쇄회로기판(1)의 일면에 제어기(3)와 입출력제어기(4)를 실장하고, 타면에 데이터를 저장하는 플래쉬 메모리(2)를 실장하여 구성할 수 있다. The SSD shown in FIG. 1 represents a bare SSD in which a case (not shown) is not assembled, and the bare SSD represents a printed circuit board 1, a plurality of flash memories 2, and a controller. (3), an input / output controller 4 and a connector 5. A plurality of flash memories 2, a controller 3, an input / output controller 4, and a connector 5 are each mounted on a printed circuit board 1, each of which is mounted on a printed circuit according to the storage capacity of the data of the SSD. The controller 3 and the input / output controller 4 may be mounted on one surface of the substrate 1, and the flash memory 2 for storing data may be mounted on the other surface.

SSD를 구성하는 제어기(3)는 SSD를 전반적으로 제어하며, 입출력제어기(4)는 커넥터(5)를 통해 입출력되는 데이터의 입출력을 제어한다. 다수개의 플래쉬 메모리(2)는 제어기(3)의 제어에 따라 입출력제어기(4)에서 입력되는 데이터를 저장하고, 출력할 데이터를 입출력제어기(4)로 출력한다. 입출력제어기(4)는 입력되거나 출력되는 데이터를 커넥터(5)로 전송하거나 수신되도록 제어한다. 데이터가 입출력되는 커넥터(5)는 다수개의 핀(5a)이 구비되어 컴퓨터나 이동단말기의 입출력단자(도시 않음)에 연결된다.The controller 3 constituting the SSD generally controls the SSD, and the input / output controller 4 controls the input / output of data input / output through the connector 5. The plurality of flash memories 2 store data input from the input / output controller 4 under the control of the controller 3, and output data to be output to the input / output controller 4. The input / output controller 4 controls input or output data to be transmitted or received to the connector 5. The connector 5 into which data is input and output is provided with a plurality of pins 5a and connected to an input / output terminal (not shown) of a computer or a mobile terminal.

케이스(도시 않음)가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD는 커넥터(5)에 구비되는 다수개의 핀(5a)으로 인해 SSD의 전기적인 특성 테스트 시 작업자가 수작업이나 반자동으로 테스트장치에 SSD를 장착하여 실시하였다. In the bare state in which the case (not shown) is assembled, a bare SSD is mounted on the test apparatus by a worker by hand or semi-automatically during the electrical characteristic test of the SSD due to the plurality of pins 5a provided in the connector 5. It was.

종래와 같이 베어 상태의 SSD의 테스트를 수작업을 이용하여 실시하는 경우 작업자의 숙련도에 따라 테스트 작업의 생산성이 결정되며, 숙련도가 낮은 경우에 테스트 작업의 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.When the test of the SSD in the bare state using a manual work as in the prior art, the productivity of the test work is determined according to the skill of the operator, there is a problem that the productivity of the test work is lowered when the skill is low.

본 발명은 이러한 종래기술의 문제점을 감안하여 안출된 것으로, 그 목적은 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the problems of the prior art, and an object thereof is to provide an SSD test handler capable of automatically testing a bare SSD in which a case is not assembled.

본 발명의 다른 목적은 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 하므로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 SSD 테스트 핸들러를 제공함에 있다.Another object of the present invention is to provide an SSD test handler that can improve the productivity of the SSD test by allowing the SSD to be automatically tested.

본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이(carrier tray)를 적재하는 적재부와, 적재부와 대향되도록 설치되어 다수개의 테스트 트레이(test tray)에 수납된 SSD를 테스트하는 테스트부와, 적재부와 테스트부 사이에 설치되어 캐리어 트레이를 적재부에 로딩(loading)시키거나 언로딩(unloading)시키는 캐리어 이송로봇과, 테스트부와 캐리어 이송로봇 사이에 설치되어 테스트 트레이를 로딩영역이나 언로딩영역으로 이송시키는 셔틀(shuttle)부와, 셔틀부의 하측에 설치되어 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이를 테스트부로 회전 이송시키는 제1테스트 트레이 회전이송부와, 제1테스트 트레이 회전이송부와 대향되도록 설치되어 테스트부에서 배출되는 테스트 트레이를 셔틀부의 언로딩영역으로 회전 이송시키는 제2테스트 트레이 회전이송부와, 테스트부와 대향되도록 설치되어 적재부에 로딩된 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이로 이송하는 제1SSD 이송로봇과, 제1SSD 이송로봇과 대향되도록 설치되어 셔틀부의 언로딩영역에 위치한 테스트 트레이에 수납된 SSD를 적재부에 로딩된 캐리어 트레이로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류하는 제2SSD 이송로봇으로 구성됨을 특징으로 한다. SSD test handler of the present invention is a loading unit for loading a plurality of carrier tray (carrier tray) for storing the SSD, and a test unit for testing the SSD installed in a plurality of test trays installed to face the loading unit And a carrier transfer robot installed between the loading unit and the test unit to load or unload the carrier tray to the loading unit, and between the test unit and the carrier transfer robot to install the test tray in the loading area. A shuttle unit for transferring to the unloading area, a first test tray rotation transfer unit installed below the shuttle unit to rotate and transfer the test tray located in the loading area of the shuttle unit to the test unit, and a first test tray rotation transfer unit; A second test tray installed so as to face each other and rotating the test tray discharged from the test unit to the unloading area of the shuttle unit It is installed so as to face the first transfer robot, and the first SSD transfer robot for transferring the SSD stored in the carrier tray loaded to the loading unit mounted to face the rotational transfer unit, the test unit to the test tray located in the loading area of the shuttle; And a second SSD transfer robot configured to transfer and classify the SSD stored in the test tray located in the unloading area of the shuttle unit to the carrier tray loaded in the loading unit according to the test result.

본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 케이스가 조립되지 않은 베어 상태의 SSD를 자동으로 테스트할 수 있도록 하므로써 SSD 테스트 작업의 생산성을 개선시킬 수 있는 이점을 제공한다. The SSD test handler of the present invention provides an advantage of improving the productivity of the SSD test operation by automatically testing the SSD in a bare state where the case is not assembled.

(실시예)(Example)

본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하면 다음과 같다.An embodiment of the SSD test handler of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도이고, 도 3은 도 2에 도시된 SSD 테스트 핸들러의 측면도이며, 도 4는 도 2에 도시된 테스트부의 정면도이다. 도시된 바와 같이 본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 적재부(100), 테스트부(200), 캐리어 이송로봇(300), 셔틀부(400), 제1테스트 트레이 회전이송부(500), 제2테스트 트레이 회전이송부(600), 제1SSD 이송로봇(700) 및 제2SSD 이송로봇(800)으로 구성되며, 각각의 구성을 순차적으로 설명하면 다음과 같다. 2 is a plan view showing the configuration of the SSD test handler of the present invention, Figure 3 is a side view of the SSD test handler shown in Figure 2, Figure 4 is a front view of the test unit shown in FIG. As shown, the SSD test handler of the present invention includes a loading unit 100, a test unit 200, a carrier transfer robot 300, a shuttle unit 400, a first test tray rotation transfer unit 500, and a second test. It is composed of a tray rotation transfer unit 600, the first SSD transfer robot 700 and the second SSD transfer robot 800, each of the configuration will be described as follows.

적재부(100)는 테스트될 SSD나 테스트된 SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이(10)를 적재하기 위한 것으로, 다수개의 캐리어 트레이(10), 다수개의 제1적재기(110), 다수개의 제2적재기(120), 제3적재기(130), 다수개의 버퍼부(140) 및 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The loading unit 100 is for loading a plurality of carrier trays 10 for storing the SSD to be tested or the tested SSD, and a plurality of carrier trays 10, a plurality of first loaders 110, and a plurality of second ones. The stacker 120, the third stacker 130, a plurality of buffer units 140, and a carrier tray gripping plate member 150 are described as follows.

다수개의 캐리어 트레이(10)는 테스트될 SSD나 테스트되는 SSD를 수납하기 위해 각각 수납홈(11)이 형성되며, 이러한 캐리어 트레이(10)를 적재하기 위해 적 재부(100)는 8개의 적재기(110,120,130)로 구성된다. The plurality of carrier trays 10 are formed with receiving grooves 11 for accommodating the SSD to be tested or the SSD to be tested, and the loading unit 100 has eight stackers 110, 120, and 130 for loading the carrier tray 10. It consists of

적재부(100)를 구성하는 다수개의 제1적재기(110)는 3 세트(set)로 구성되며, 각각에 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 캐리어 트레이(10)가 적재된다. 다수개의 제2적재기(120)는 4 세트로 구성되며, 각각에 다수개의 제1적재기(110)의 타측에 설치되어 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 수납하기 위한 다수개의 캐리어 트레이(10)가 적재된다. 예를 들어, 다수개의 제2적재기(120)가 도 2에 도시된 바와 같이 4 세트로 구성되는 경우에 3 세트의 적재기(120)는 양품 SSD를 수납하는 캐리어 트레이(10)를 적재하며, 나머지 1 세트의 적재기(120)는 불량품 SSD를 수납하는 캐리어 트레이(10)를 적재할 수 있도록 구성할 수 있다. 제3적재기(130)는 다수개의 제1적재기(110)와 다수개의 제2적재기(120) 사이에 설치되어 다수개의 제1적재기(110)에서 테스트될 SSD가 배출된 빈 캐리어 트레이(10)를 적재한다. 테스트될 SSD가 모두 배출된 빈 캐리어 트레이(10)를 적재하는 제3적재기(130)는 1 세트로 구성된다. The plurality of first stackers 110 constituting the stacking unit 100 is composed of three sets, and a plurality of carrier trays 10 in which SSDs to be tested are stored are loaded. The plurality of second stackers 120 is composed of four sets, each of which is installed on the other side of the plurality of first stackers 110, a plurality of carriers for storing the classified SSDs classified as good or bad according to the test results The tray 10 is stacked. For example, in the case where the plurality of second loading machines 120 is composed of four sets as shown in FIG. 2, the three sets of stackers 120 load the carrier tray 10 containing the good SSDs, and the rest The set of stackers 120 may be configured to accommodate the carrier tray 10 for storing the defective SSD. The third loading unit 130 is installed between the plurality of first loading unit 110 and the plurality of second loading unit 120 and the empty carrier tray 10 in which the SSD to be tested in the plurality of first loading unit 110 is discharged. Load it. The third stacker 130, which loads the empty carrier tray 10 from which all the SSDs to be tested, is discharged, is composed of one set.

다수개의 버퍼부(140)는 테스트된 SSD를 수납하기 위해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 더 구비되어 설치된다. 다수개의 버퍼부(140)는 특히 테스트된 SSD를 등급별로 분류 시 다수개의 제2적재기(120)가 부족한 경우에 추가로 사용하기 위해 설치된다. 이러한 다수개의 버퍼부(140)가 설치된 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)는 제1 내지 제3적재기(110,120,130)의 상측에 설치되어 캐리어 이송로봇(130)에 의해 로딩되는 캐리어 트레이(10)를 파지하거나 해제한다. 캐리어 트레이(10)를 파지하기 위해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)는 실린더와 지 지부재로 이루어지는 파지기구(151)가 상측에 배열되어 설치된다.The plurality of buffer units 140 are further provided in the carrier tray gripping plate member 150 to accommodate the tested SSD. The plurality of buffer units 140 are installed for additional use, especially when the plurality of second stackers 120 is insufficient when classifying the tested SSDs by grade. The carrier tray gripping plate member 150 having the plurality of buffer parts 140 installed thereon is installed on the upper side of the first to third loading machines 110, 120, and 130 to hold the carrier tray 10 loaded by the carrier transfer robot 130. Or release it. In order to hold the carrier tray 10, the carrier tray gripping plate member 150 is provided with a gripping mechanism 151 consisting of a cylinder and a supporting member arranged above.

테스트부(200)는 적재부(100)와 대향되도록 설치되어 다수개의 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트될 SSD를 테스트하여 배출하기 위한 것으로, 다수개의 테스트 트레이(20), 테스트 사이트(210), 제1테스트 승강기(220), 제1테스트 수평이송기구(230), 제2테스트 승강기(240), 제2테스트 수평이송기구(250) 및 제3테스트 수평이송기구(260)로 구성되며 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The test unit 200 is installed to face the loading unit 100 to test and discharge the SSD to be stored in the plurality of test trays 20, and the plurality of test trays 20 and the test site 210. And a first test lifter 220, a first test lifter 230, a second test lifter 240, a second test lifter 250, and a third test lifter 260, respectively. The configuration of the following is as follows.

다수개의 테스트 트레이(20)는 다수개의 SSD가 수납되며, 테스트 사이트(210)는 다수개의 테스트 트레이(20)와 접촉되어 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트될 SSD를 테스트하는 테스트장치(도시 않음)가 설치된다. The plurality of test trays 20 may accommodate a plurality of SSDs, and the test site 210 may be in contact with the plurality of test trays 20 to test the SSD to be tested in the test tray 20 (not shown). ) Is installed.

제1테스트 승강기(220)는 테스트 사이트(210)의 일측에 설치되어 제1테스트 트레이 회전이송부(500)에 의해 회전 이송된 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 테스트 트레이(20)를 순차적으로 승강시켜 정렬한다. 제1테스트 수평이송기구(230)는 테스트 사이트(210)와 제1테스트 승강기(220) 사이에 설치되어 다수개의 테스트 트레이(20)를 테스트 사이트(210)로 이송시킨다. The first test lifter 220 is installed at one side of the test site 210 and sequentially lifts a plurality of test trays 20 in which SSDs to be tested to be rotated and transferred by the first test tray rotation transfer unit 500 are stored. Sort it out. The first test horizontal transfer mechanism 230 is installed between the test site 210 and the first test elevator 220 to transfer the plurality of test trays 20 to the test site 210.

제2테스트 승강기(240)는 테스트 사이트(210)의 타측에 설치되어 테스트 사이트(210)에서 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 트레이(20)를 이송받아 순차적으로 하강시켜 제2테스트 트레이 회전이송부(600)로 이송시킨다. 제2테스트 수평이송기구(250)는 테스트 사이트(210)와 제2테스트 승강기(240) 사이에 설치되어 다수개의 테스트 트레이(20)를 테스트 사이트(210)에서 제2테스트 트레이 승강기(240)로 이송시킨다. The second test lifter 240 is installed at the other side of the test site 210 and is sequentially transported by receiving a plurality of test trays 20 containing SSDs tested at the test site 210 to sequentially rotate the second test tray. Transfer to the sending unit 600. The second test horizontal transfer mechanism 250 is installed between the test site 210 and the second test lifter 240 to transfer the plurality of test trays 20 from the test site 210 to the second test tray lifter 240. Transfer.

제3테스트 수평이송기구(260)는 제1테스트 수평이송기구(230)와 제2테스트 수평이송기구(250) 사이에 설치되어 제1테스트 수평이송기구(230)와 제2테스트 수평이송기구(250)와 직교되는 방향으로 테스트 트레이(20)를 이송시켜 테스트 사이트(230)에 테스트 트레이(20)를 접촉시키거나 해제시킨다. The third test horizontal transfer mechanism 260 is installed between the first test horizontal transfer mechanism 230 and the second test horizontal transfer mechanism 250 so that the first test horizontal transfer mechanism 230 and the second test horizontal transfer mechanism ( The test tray 20 is transferred in a direction orthogonal to 250 to contact or release the test tray 20 at the test site 230.

캐리어 이송로봇(300)은 도 3, 도 5 및 도 6에 도시된 바와 같이 적재부(100)와 테스트부(200) 사이에 설치되어 적재부(100)에 적재된 캐리어 트레이(10)를 로딩하거나 언로딩하기 위한 것으로, 캐리어 프레임(310), 다수개의 캐리어 수평이송기구(320), 다수개의 캐리어 승강기(330) 및 다수개의 캐리어 클램프기구(340)로 구성된다. 이러한 구성을 갖는 캐리어 이송로봇(300)의 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The carrier transport robot 300 is installed between the loading unit 100 and the test unit 200 as shown in FIGS. 3, 5, and 6 to load the carrier tray 10 loaded on the loading unit 100. In order to load or unload, it is composed of a carrier frame 310, a plurality of carrier horizontal transport mechanism 320, a plurality of carrier elevator 330 and a plurality of carrier clamp mechanism 340. Referring to each configuration of the carrier transfer robot 300 having such a configuration as follows.

캐리어 프레임(310)은 적재부(100)와 테스트부(200) 사이에 설치되며, 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)는 각각 캐리어 프레임(310)에 설치된다. 다수개의 캐리어 승강기(330)는 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)에 각각 설치되어 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)에 의해 수평방향으로 이송된다. 다수개의 캐리어 클램프기구(340)는 다수개의 캐리어 승강기(330)에 각각 설치되어 적재부(100)에 적재된 캐리어 트레이(10)를 로딩하거나 언로딩한다. 즉, 다수개의 캐리어 클램프기구(340)는 각각 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)와 다수개의 캐리어 승강기(330)에 의해 수평 및 수직방향으로 이송되어 캐리어 트레이(10)를 제1적재기(110)에서 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 일측에 로딩한다. 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에 수납된 테스트될 SSD가 모두 배출되면 다수개의 캐리어 클램프기구(340)는 빈 캐리어 트레이(10)를 테스트된 SSD를 수납할 수 있도록 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 이송하거나, 타측에 캐리어 트레이(10)가 모두 위치되면 빈 캐리어 트레이(10)를 제3적재기(130)로 이송한다. 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 이송된 빈 캐리어 트레이(10)에 테스트된 SSD가 모두 채워지면 다수개의 캐리어 클램프기구(340)는 다수개의 캐리어 수평이송기구(320)와 다수개의 캐리어 승강기(330)에 의해 이송되어 빈 캐리어 트레이(10)를 제2적재기(120)로 언로딩한다. The carrier frame 310 is installed between the loading part 100 and the test part 200, and the plurality of carrier horizontal transfer mechanisms 320 are respectively installed in the carrier frame 310. The plurality of carrier elevators 330 are respectively installed in the plurality of carrier horizontal transfer mechanisms 320 and are horizontally transferred by the plurality of carrier horizontal transfer mechanisms 320. The plurality of carrier clamp mechanisms 340 are respectively installed in the plurality of carrier elevators 330 to load or unload the carrier tray 10 loaded in the loading unit 100. That is, the plurality of carrier clamp mechanisms 340 are respectively transported in the horizontal and vertical directions by the plurality of carrier horizontal transport mechanisms 320 and the plurality of carrier lifters 330, thereby loading the carrier tray 10 with the first stacker 110. In the carrier tray gripping plate member 150 is loaded on one side. When all the SSDs to be tested stored in the carrier tray 10 loaded on the carrier tray gripping plate member 150 are discharged, the plurality of carrier clamp mechanisms 340 may store the empty carrier tray 10 so as to accommodate the tested SSD. When the carrier tray 10 is located at the other side of the carrier tray gripping plate member 150, or the carrier tray 10 is located at the other side, the empty carrier tray 10 is transferred to the third loading machine 130. When all of the tested SSDs are filled in the empty carrier tray 10 transferred to the other side of the carrier tray gripping plate member 150, the plurality of carrier clamp mechanisms 340 may include a plurality of carrier horizontal transfer mechanisms 320 and a plurality of carrier lifts. Transferred by 330 to unload the empty carrier tray 10 into the second loader 120.

캐리어 트레이(10)를 로딩하거나 언로딩하는 다수개의 캐리어 클램프기구(340)는 공압실린더(341), 다수개의 캐리어 이송가이드(342), 다수개의 캐리어 클램프부재(343) 및 제1탄성부재(344)로 구성되며, 각 구성을 설명하면 다음과 같다.The plurality of carrier clamp mechanisms 340 for loading or unloading the carrier tray 10 may include a pneumatic cylinder 341, a plurality of carrier transfer guides 342, a plurality of carrier clamp members 343, and a first elastic member 344. ) And each component is as follows.

공압실린더(341)는 캐리어 승강기(330)에 설치되며, 다수개의 캐리어 이송가이드(342)는 공압실린더(341)의 양측에 각각 설치되어 공압실린더(341)에 의해 이송된다. 다수개의 캐리어 클램프부재(343)는 다수개의 캐리어 이송가이드(342)에 각각 설치되어 공압실린더(341)에 의해 다수개의 캐리어 이송가이드(342)를 따라 서로 벌어지거나 좁아지는 왕복 운동하여 캐리어 트레이(10)를 파지한다. 제1탄성부재(344)는 다수개의 캐리어 클램프부재(343)에 각각 설치되어 다수개의 캐리어 클램프부재(343)가 좁아지는 방향으로 이송 시 복원력을 제공한다. The pneumatic cylinder 341 is installed in the carrier lift 330, the plurality of carrier transfer guides 342 are respectively installed on both sides of the pneumatic cylinder 341 is conveyed by the pneumatic cylinder 341. The plurality of carrier clamp members 343 are respectively installed in the plurality of carrier transfer guides 342, and the carrier tray 10 is formed by a pneumatic cylinder 341 to reciprocate between the plurality of carrier transfer guides 342. Grip). The first elastic member 344 is installed on each of the plurality of carrier clamp members 343 to provide a restoring force when the plurality of carrier clamp members 343 are transported in a narrowing direction.

서로 좁아지거나 멀어지는 방향으로 이송되는 다수개의 캐리어 클램프부재(343)는 각각 다수개의 ㄱ자형 부재(343a), 다수개의 제2탄성부재(343b), 접촉부 재(343c) 및 지지핀(343d)으로 이루어진다. 다수개의 ㄱ자형 부재(343a)는 각각 다수개의 캐리어 수평이송기구(342)에 설치되며, 다수개의 제2탄성부재(343b)는 다수개의 ㄱ자형 부재(343a)의 내측에 각각 설치된다. 접촉부재(343c)는 다수개의 제2탄성부재(343b)에 각각 설치되어 제2탄성부재(343b)에 의해 캐리어 트레이(10)를 파지 시 캐리어 트레이(10)와 밀착되며, 다수개의 지지핀(343d)은 ㄱ자형 부재(343a)의 내측에 배열되도록 설치되어 캐리어 트레이(10)를 지지한다.The plurality of carrier clamp members 343 which are conveyed in a narrower or farther direction are composed of a plurality of L-shaped members 343a, a plurality of second elastic members 343b, a contact member 343c and a support pin 343d, respectively. . The plurality of L-shaped members 343a are respectively installed in the plurality of carrier horizontal transfer mechanisms 342, and the plurality of second elastic members 343b are respectively installed in the plurality of the L-shaped members 343a. The contact members 343c are respectively installed on the plurality of second elastic members 343b to be in close contact with the carrier tray 10 when the carrier tray 10 is gripped by the second elastic members 343b. 343d is installed to be arranged inside the L-shaped member 343a to support the carrier tray 10.

셔틀부(400)는 테스트부(200)와 캐리어 이송로봇(300) 사이에 설치되어 테스트 트레이(20)를 로딩영역(L)이나 언로딩영역(U)으로 이송시키기 위한 것으로, 도 2, 도 3, 도 7 및 도 8에 도시된 바와 같이 셔틀 프레임(410), 푸시기구(420), 다수개의 제1트레이 수평이송기구(430), 다수개의 제1셔틀 클램프기구(440), 다수개의 제2셔틀 클램프기구(450), 제3셔틀 클램프기구(460)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다.The shuttle 400 is installed between the test unit 200 and the carrier transfer robot 300 to transfer the test tray 20 to the loading area L or the unloading area U. FIG. 2 and FIG. 3, 7 and 8 shuttle frame 410, push mechanism 420, a plurality of first tray horizontal transfer mechanism 430, a plurality of first shuttle clamp mechanism 440, a plurality of agents The two shuttle clamp mechanism 450 and the third shuttle clamp mechanism 460, each of which will be described as follows.

셔틀 프레임(410)은 일측과 타측에 테스트 트레이(20)가 통과될 수 있도록 다수개의 테스트 트레이 통과구멍(411)이 형성되고 다수개의 테스트 트레이 통과구멍(411) 사이에 푸시판 통과구멍(412)이 형성된다. Shuttle frame 410 has a plurality of test tray through hole 411 is formed so that the test tray 20 can pass through one side and the other side, push plate through hole 412 between the plurality of test tray through hole 411 Is formed.

푸시기구(420)는 푸시판 통과구멍(412)에 위치되도록 셔틀 프레임(410)에 설치되며 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 제2SSD 이송로봇(800)이 파지할 수 있도록 푸시(push)하기 위해 푸시판(421), 푸시 고정부재(422), 다수개의 푸시 가이드부재(423) 및 다수개의 푸시 공압실린더(424)로 구성된다. 푸시기구(420)의 푸시판(421)은 푸시판 통과구멍(412)을 승강되어 통과될 수 있도록 설치되며 다수개의 푸시핀(421a)이 배열되어 설치되며, 푸시 고정부재(422)는 푸시판(421)의 하측에 위치되도록 셔틀 프레임(410)에 고정 설치된다. 다수개의 푸시 가이드부재(423)는 푸시 고정부재(422)와 푸시판(421) 사이에 설치되어 푸시판(421)의 승/하강 시 가이드하며, 다수개의 푸시 공압실린더(424)는 푸시 고정부재(422)와 푸시판(421) 사이에 설치되어 푸시판(421)을 승/하강시킨다. The push mechanism 420 is installed in the shuttle frame 410 so as to be positioned in the push plate through-hole 412, and pushes the tested SSD housed in the test tray 20 so that the second SSD transfer robot 800 can hold ( It is composed of a push plate 421, a push fixing member 422, a plurality of push guide member 423 and a plurality of push pneumatic cylinder 424 to push. The push plate 421 of the push mechanism 420 is installed so as to pass through the push plate through hole 412, a plurality of push pins (421a) are arranged and installed, the push fixing member 422 is a push plate It is fixedly installed on the shuttle frame 410 to be located below the 421. The plurality of push guide members 423 are installed between the push fixing member 422 and the push plate 421 to guide when the push plate 421 is raised / lowered, the plurality of push pneumatic cylinder 424 is a push fixing member It is installed between the 422 and the push plate 421 to raise and lower the push plate 421.

다수개의 제1트레이 수평이송기구(430)는 각각 셔틀 트레임(410)의 일측에 설치되며, 각각은 벨트이송기구로 이루어진다. The plurality of first tray horizontal transfer mechanisms 430 are installed on one side of the shuttle train 410, respectively, each consisting of a belt transfer mechanism.

다수개의 제1셔틀 클램프기구(440)는 각각 다수개의 제1트레이 수평이송기구(430)에 설치되어 테스트 트레이(20)를 이송시키기 위한 것으로, 제2트레이 수평이송기구(441), 제1트레이 클램프부재(442) 및 다수개의 접촉핀(442a)으로 구성된다. 제1셔틀 클램프기구(440)의 제2트레이 수평이송기구(441)는 제1트레이 수평이송기구(430)에 설치되며, 제1트레이 클램프부재(442)는 제2트레이 수평이송기구(441)에 설치되어 제2트레이 수평이송기구(441)에 의해 전/후진된다. 다수개의 접촉핀(442a)은 제1트레이 클램프부재(442)에 설치되어 제1트레이 클램프부재(442)의 전/후진에 의해 테스트 트레이(20)와 접촉하거나 해제되어 테스트 트레이(20)를 지지한다. 이와 같이 접촉핀(432a)에 의해 접촉되거나 해제되기 위해 테스트 트레이(20)는 양측면에 홈(도시 않음)이 형성된다. The plurality of first shuttle clamp mechanisms 440 are respectively installed in the plurality of first tray horizontal transfer mechanisms 430 to transfer the test tray 20, and the second tray horizontal transfer mechanisms 441 and the first trays. It consists of a clamp member 442 and a plurality of contact pins (442a). The second tray horizontal transfer mechanism 441 of the first shuttle clamp mechanism 440 is installed in the first tray horizontal transfer mechanism 430, and the first tray clamp member 442 is the second tray horizontal transfer mechanism 441. It is installed in the second tray horizontal transfer mechanism 441 is moved forward / backward. The plurality of contact pins 442a are installed in the first tray clamp member 442 to contact or release the test tray 20 by forward / backward of the first tray clamp member 442 to support the test tray 20. do. As described above, the test tray 20 has grooves (not shown) formed at both sides thereof in order to be contacted or released by the contact pins 432a.

다수개의 제2셔틀 클램프기구(450)는 셔틀 프레임(410)의 타측에 각각 설치되어 테스트 트레이(20)를 지지하기 위한 것으로, 각각 제3트레이 수평이송기구(451), 제2트레이 클램프부재(452) 및 트레이 지지부재(452a)로 구성된다. 제2셔 틀 클램프기구(450)의 제3트레이 수평이송기구(451)는 셔틀 프레임(410)의 타측에 고정되도록 설치되며, 제2트레이 클램프부재(452)는 제3트레이 수평이송기구(451)에 설치되어 제3트레이 수평이송기구(451)에 의해 전/후진된다. 트레이 지지부재(452a)는 제2트레이 클램프부재(452)에 설치되어 제2트레이 클램프부재(452)의 전/후진에 따라 이동되어 테스트 트레이(20)를 지지한다. The plurality of second shuttle clamp mechanisms 450 are provided on the other side of the shuttle frame 410 to support the test tray 20, respectively, and the third tray horizontal transfer mechanism 451 and the second tray clamp member ( 452 and the tray support member 452a. The third tray horizontal transfer mechanism 451 of the second shuttle clamp mechanism 450 is installed to be fixed to the other side of the shuttle frame 410, and the second tray clamp member 452 is the third tray horizontal transfer mechanism 451. ) Is forward / reversed by the third tray horizontal transfer mechanism 451. The tray support member 452a is installed in the second tray clamp member 452 to move along the front / rear of the second tray clamp member 452 to support the test tray 20.

제3셔틀 클램프기구(460)는 다수개의 제2셔틀 클램프기구(450) 사이에 위치되도록 셔틀 프레임(410)의 타측 설치되어 테스트 트레이(20)를 지지하기 위한 것으로, 실린더(461) 및 접촉핀(462)으로 구성된다. 실린더(461)는 제2셔틀 클램프기구(450) 사이에 위치되도록 셔틀 프레임(410)의 타측에 고정 설치되며, 접촉핀(462)은 실린더(461)에 의해 전/후진되도록 설치되어 테스트 트레이(20)를 지지한다. 즉, 제3셔틀 클램프기구(460)는 푸시기구(420)로 테스트 트레이(20)가 이송되면 이를 지지한다. The third shuttle clamp mechanism 460 is installed on the other side of the shuttle frame 410 so as to be positioned between the plurality of second shuttle clamp mechanisms 450 to support the test tray 20. The cylinder 461 and the contact pins 462. The cylinder 461 is fixedly installed on the other side of the shuttle frame 410 so as to be located between the second shuttle clamp mechanism 450, and the contact pin 462 is installed to be forward / backward by the cylinder 461, so that the test tray ( 20). That is, the third shuttle clamp mechanism 460 supports the test tray 20 when the test tray 20 is transferred to the push mechanism 420.

제1테스트 트레이 회전이송부(500)는 셔틀부(400)의 하측에 설치되어 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트될 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)를 테스트부(200)로 하강시킨 후 회전 및 이송시킨다. The first test tray rotation transfer part 500 is installed below the shuttle part 400 to test the test tray 20 in which the SSD to be tested located in the loading area L of the shuttle part 400 is stored in the test part 200. ) And then rotate and transport.

제2테스트 트레이 회전이송부(600)는 셔틀부(400)의 하측에 제1테스트 트레이 회전이송부(500)와 대향되도록 설치되어 테스트부(200)에서 배출되는 테스트가 완료된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)를 이송 및 회전시킨 후 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)으로 승강시킨다. The second test tray rotation transfer unit 600 is installed at the lower side of the shuttle unit 400 to face the first test tray rotation transfer unit 500, and the test in which the test discharged from the test unit 200 is completed is stored. After the tray 20 is transported and rotated, the tray 20 is elevated to the unloading area U of the shuttle 400.

테스트 트레이(20)를 회전 이송시키는 제1테스트 트레이 회전이송부(500)와 제2테스트 트레이 회전이송부(600)는 각각 트레이 수평이송기구(510,610), 테스트 트레이 승강기(520,620), 테스트 트레이 회전기구(530,630) 및 테스트 트레이 회전부재(540,640)로 구성되며, 각각의 구성을 설명하면 다음과 같다. The first test tray rotation transfer unit 500 and the second test tray rotation transfer unit 600 which rotates the test tray 20 to rotate the tray horizontal transfer mechanisms 510 and 610, the test tray lifts 520 and 620, and the test tray rotation, respectively. It is composed of a mechanism (530, 630) and the test tray rotating member (540, 640), each of which will be described as follows.

트레이 수평이송기구(510,610)는 테스트 트레이(20)를 수평방향으로 이송시키며, 테스트 트레이 승강기(520,620)는 테스트 트레이 수평이송기구(510,610)에 설치되어 테스트 트레이(20)를 승/하강시킨다. 테스트 트레이 회전기구(530,630)는 테스트 트레이 승강기(520,620)에 설치된다. 테스트 트레이 회전부재(540,640)는 테스트 트레이 회전기구(530,630)에 설치되어 테스트 트레이 회전기구(530,630)와 테스트 트레이 수평이송기구(510,610)와 테스트 트레이 승강기(520,620)에 의해 이송과 승/하강과 회전되어 테스트 트레이(20)를 회전 이송시킨다. 테스트 트레이(20)는 테스트 트레이 회전부재(540,640)에 파지된 상태에서 테스트 트레이 회전기구(530,630)에 의해 도 3에 도시된 화살표 b와 같은 방향으로 90 도(degree) 회전되어 수납된 SSD의 커넥터(5: 도 1에 도시됨)가 테스트부(200)를 향하도록 하거나 하측을 향하도록 한다. The tray horizontal transfer mechanisms 510 and 610 transfer the test tray 20 in the horizontal direction, and the test tray lifts 520 and 620 are installed in the test tray horizontal transfer mechanisms 510 and 610 to raise and lower the test tray 20. The test tray rotating mechanisms 530 and 630 are installed in the test tray elevators 520 and 620. The test tray rotating members 540 and 640 are installed in the test tray rotating mechanisms 530 and 630 and are transported, lifted, lowered and rotated by the test tray rotating mechanisms 530 and 630, the test tray horizontal transfer mechanisms 510 and 610, and the test tray lifters 520 and 620. To rotate the test tray 20. The test tray 20 is rotated by 90 degrees in the same direction as arrow b shown in FIG. 3 by the test tray rotating mechanisms 530 and 630 while being held by the test tray rotating members 540 and 640. (5: shown in FIG. 1) faces the test unit 200 or faces downward.

제1SSD 이송로봇(700)은 테스트부(200)의 대향되도록 설치되어 캐리어 이송로봇(300)에 의해 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(10)가 적재부(100)의 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩되면 테스트될 SSD를 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 빈 테스트 트레이(20)로 이송한다. The first SSD transfer robot 700 is installed to face the test unit 200 so that the carrier tray 10 containing the SSD to be tested by the carrier transfer robot 300 includes the carrier tray gripping plate member of the loading unit 100 ( When loaded to 150, the SSD to be tested is transferred to the empty test tray 20 located in the loading area L of the shuttle 400.

제2SSD 이송로봇(800)은 제1SSD 이송로봇(700)과 대향되도록 설치되어 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)에 위치한 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 적 재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에 테스트 결과에 따라 분류하여 이송시킨다. 테스트 결과에 따라 SSD를 분류하는 제2SSD 이송로봇(800)은 테스트장치(도시 않음)로부터 전송된 테스트 결과를 제어장치(도시 않음)를 통해 전송받아 양품과 불량품에 따라 등급을 분류하여 적재부(100)의 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)로 이송한다.The second SSD transfer robot 800 is installed to face the first SSD transfer robot 700 and loads the tested SSD stored in the test tray 20 located in the unloading area U of the shuttle 400. In accordance with the test results, the carrier tray 10 loaded in the) is classified and transported. The second SSD transfer robot 800 classifying the SSDs according to the test result receives the test result transmitted from the test device (not shown) through the control device (not shown), and classifies the grades according to the good and defective parts, and then loads ( The carrier tray gripping plate member 150 of 100 is transferred to the carrier tray 10 loaded.

캐리어 트레이(10)를 이송시키는 제1SSD 이송로봇(700)과 제2SSD 이송로봇(800)의 상세한 구성은 도 2에 도시된 바와 같이 X-Y 이송로봇(710,810)과 픽커(720,820)로 구성된다. X-Y 이송로봇(710,810)은 테스트부(200)와 대향되도록 각각 설치되며, 픽커(picker)(720,820)는 X-Y 이송로봇(710,810)에 각각 이동되도록 설치된다. X-Y 이송로봇(710,810)에 각각 이동되도록 설치된 픽커(720,820)는 적재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에 수납된 테스트될 SSD를 셔틀부(400)에 위치한 테스트 트레이(20)로 이송하거나 셔틀부(400)에 위치한 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 적재부(100)에 로딩된 캐리어 트레이(10)로 이송한다. 즉, 픽커(720,820)는 다수개의 제1적재기(110)에 적재된 캐리어 트레이(10)가 캐리어 이송로봇(300)에 의해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩되면, 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)에서 테스트될 SSD를 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트 트레이(20)로 이송한다. 또한, 픽커(720,820)는 다수개의 제2적재기(110)에 적재된 캐리어 트레이(10)가 캐리어 이송로봇(300)에 의해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩되면, 셔틀부(400)의 언로딩영역(U)에 위치하고 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)에 서 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류한다. 테스트된 SSD가 캐리어 트레이(10)에 채워지면 캐리어 이송로봇(300)은 트레이 파지플레이트부재(150)에 로딩된 캐리어 트레이(10)를 다수개의 제2적재기(120)로 이송한다.Detailed configuration of the first SSD transport robot 700 and the second SSD transport robot 800 for transporting the carrier tray 10 is composed of X-Y transport robot (710,810) and pickers (720,820). The X-Y transfer robots 710 and 810 are installed to face the test unit 200, and the pickers 720 and 820 are installed to move to the X-Y transfer robots 710 and 810, respectively. Pickers 720 and 820 installed to be moved to the XY transfer robots 710 and 810 respectively transfer the SSD to be tested contained in the carrier tray 10 loaded in the loading unit 100 to the test tray 20 located in the shuttle unit 400. Alternatively, the tested SSD received in the test tray 20 located in the shuttle unit 400 is transferred to the carrier tray 10 loaded in the loading unit 100. That is, the pickers 720 and 820 are carrier tray gripping plate members 150 when the carrier tray 10 loaded on the plurality of first loading machines 110 is loaded on the carrier tray gripping plate member 150 by the carrier transfer robot 300. The SSD to be tested in the carrier tray 10 loaded in the 150 is transferred to the test tray 20 located in the loading area L of the shuttle 400. In addition, the pickers 720 and 820 may have the carrier tray 10 loaded on the plurality of second loading machines 110 when the carrier tray 10 is loaded on the carrier tray gripping plate member 150 by the carrier transfer robot 300. The test SSD 20 located in the unloading area U is stored in the test tray 20 and transferred to the carrier tray 10 loaded on the carrier tray holding plate member 150 according to the test result. When the tested SSD is filled in the carrier tray 10, the carrier transport robot 300 transfers the carrier tray 10 loaded on the tray holding plate member 150 to the plurality of second loading machines 120.

이상의 본 발명의 SSD 테스트 핸들러에 구성되는 각각의 이송로봇, 수평이송기구 및 승강기는 각각 리니어 모터, 볼스크류 및 벨트 이송기구중 하나가 선택되어 적용되며, 각각의 이송기구에는 LM 가이드가 더 구비될 수 있다.Each of the transfer robot, the horizontal transfer mechanism, and the elevator configured in the SSD test handler of the present invention are selected and applied to each of a linear motor, a ball screw, and a belt transfer mechanism, and each transfer mechanism may further include an LM guide. Can be.

상기 구성을 갖는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 작용을 설명하면 다음과 같다. Referring to the operation of the SSD test handler of the present invention having the above configuration is as follows.

작업자가 적재부(100)의 다수개의 제1적재기(110)에 테스트될 SSD가 수납되는 다수개의 캐리어 트레이(10)를 적재한다. 제1적재기(110)에 테스트될 SSD가 수납된 캐리어 트레이(10)가 적재되면 캐리어 이송로봇(300)은 다수개의 제1적재기(110)에 적재된 캐리어 트레이(10)를 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 일측으로 이송시켜 로딩시킨다. 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 일측에 캐리어 트레이(10)가 로딩되면 SSD 이송로봇(700)은 테스트될 SSD를 셔틀부(400)의 로딩영역(L)에 위치한 테스트 트레이(20)로 이송한다. An operator loads a plurality of carrier trays 10 in which SSDs to be tested are stored in the plurality of first loading units 110 of the loading unit 100. When the carrier tray 10 containing the SSD to be tested is loaded in the first loading unit 110, the carrier transport robot 300 may move the carrier tray 10 loaded in the plurality of first loading units 110 into a carrier tray holding plate member. Transfer to one side of 150 to load. When the carrier tray 10 is loaded on one side of the carrier tray gripping plate member 150, the SSD transfer robot 700 transfers the SSD to be tested to the test tray 20 located in the loading area L of the shuttle 400. do.

SSD 이송로봇(700)이 캐리어 트레이(10)에 수납된 테스트될 SSD를 테스트 트레이(20)로 이송하는 작업 중에 캐리어 트레이(10)가 비워지면 캐리어 이송로봇(300)은 빈 캐리어 트레이(10)를 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 이송한다. 캐리어 이송로봇(300)은 또한 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150) 의 타측에 캐리어 트레이(10)가 모두 위치되면 빈 캐리어 트레이(10)를 제3적재기(130)로 이송한다. 이러한 연속적인 과정을 통해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측으로 빈 캐리어 트레이(10)가 이송되고, 테스트 트레이(10)에 테스트될 SSD가 모두 채워지면 이를 제1테스트 트레이 회전이송부(500)가 파지하여 하강시킨다. 테스트 트레이(20)가 하강되면 제1테스트 트레이 회전이송부(500)는 테스트 트레이(20)를 회전시켜 도 2에 도시된 화살표 a1방향으로 이송시킨다. If the carrier tray 10 is emptied while the SSD transport robot 700 transports the SSD to be tested, which is stored in the carrier tray 10, to the test tray 20, the carrier transport robot 300 may empty the carrier tray 10. To the other side of the carrier tray gripping plate member 150. The carrier transfer robot 300 also transfers the empty carrier tray 10 to the third loader 130 when the carrier tray 10 is located at the other side of the carrier tray gripping plate member 150. Through this continuous process, the empty carrier tray 10 is transferred to the other side of the carrier tray gripping plate member 150, and when the SSDs to be tested are filled in the test tray 10, the first test tray rotation transfer part 500 is filled. ) Grasps and descends. When the test tray 20 is lowered, the first test tray rotation transfer part 500 rotates the test tray 20 and transfers the test tray 20 in the direction of arrow a1 shown in FIG. 2.

테스트 트레이(20)가 화살표 a1방향으로 이송되면 테스트부(200)는 테스트 트레이(20)를 이송받아 제1테스트 승강기(220)에 의해 도 4에 도시된 화살표 a2방향으로 이송시킨다. 이러한 연속적인 동작을 통해 제1테스트 승강기(220)에 두개의 테스트 트레이(20)가 위치되면 제1테스트 수평이송기구(230)는 화살표 a3 방향으로 두 개의 테스트 트레이(20)를 이송시켜 테스트 사이트(210)로 위치시킨다. When the test tray 20 is transferred in the arrow a1 direction, the test unit 200 receives the test tray 20 and transfers the test tray 20 in the direction of the arrow a2 shown in FIG. 4 by the first test elevator 220. When the two test trays 20 are positioned in the first test elevator 220 through the continuous operation, the first test horizontal transfer mechanism 230 transfers the two test trays 20 in the direction of the arrow a3 to the test site. Position (210).

두 개의 테스트 트레이(20)가 테스트 사이트(210)로 이송되어 위치되면 제3테스트 수평이송기구(260)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a4방향으로 이송시켜 테스트장치(도시 않음)에 접촉시킨다. 두 개의 테스트 트레이(20)가 테스트장치에 접촉되어 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트될 SSD의 테스트가 완료되면 제3테스트 수평이송기구(260)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a4의 역방향으로 이송시킨다. When the two test trays 20 are transferred to the test site 210 and positioned, the third test horizontal transfer mechanism 260 moves the two test trays 20 in the direction of the arrow a4 to contact the test apparatus (not shown). Let's do it. When the two test trays 20 are in contact with the test apparatus and the test of the SSD to be stored in the test tray 20 is completed, the third test horizontal transfer mechanism 260 moves the two test trays 20 to the arrow a4. Transfer it in the reverse direction.

두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a4의 역방향으로 이송되면 제2테스트 수평이송기구(250)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a5방향으로 이송시켜 제2테스트 승강기(240)에 위치시킨다. 두 개의 테스트 트레이(20)가 제2테스트 승강 기(240)에 위치되면 제2테스트 승강기(240)는 두 개의 테스트 트레이(20)를 화살표 a6방향으로 연속적으로 이송시켜 테스트 트레이(20)가 순차적으로 제2테스트 트레이 회전이송부(600)로 위치시킨다. When the two test trays 20 are transferred in the reverse direction of the arrow a4, the second test horizontal transfer mechanism 250 transfers the two test trays 20 in the direction of the arrow a5 to position the second test lifter 240. When the two test trays 20 are positioned in the second test lifter 240, the second test lifter 240 continuously transfers the two test trays 20 in the direction of the arrow a6 so that the test trays 20 sequentially. To the second test tray rotation transfer unit (600).

제2테스트 트레이 회전이송부(600)는 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)가 이송되면 이를 화살표 a7방향으로 이송시킨 후 회전 및 승강시켜 셔틀부(400)로 이송시킨다. 테스트 트레이(20)가 이송되면 셔틀부(400)는 테스트된 SSD가 수납된 테스트 트레이(20)를 고정시킨 후 테스트 트레이(20)를 화살표 a8방향으로 이송시켜 언로딩영역(U)에 위치된 푸시기구(420)로 이송시킨다. When the test tray 20 containing the tested SSD is transferred, the second test tray rotation transfer unit 600 transfers the test tray 20 in the arrow a7 direction, rotates and lifts it, and then transfers the test tray 20 to the shuttle 400. When the test tray 20 is transferred, the shuttle unit 400 fixes the test tray 20 in which the tested SSD is stored, and then moves the test tray 20 in the direction of arrow a8 to be located in the unloading area U. Transfer to the push mechanism (420).

테스트 트레이(20)가 이송되면 푸시기구(420)는 테스트 트레이(20)에 수납된 테스트된 SSD를 푸시하여 테스트 트레이(20)에 삽입된 테스트된 SSD를 이탈시켜 제2SSD 이송로봇(800)이 파지할 수 있도록 한다. 제2SSD 이송로봇(800)은 파지된 SSD를 적재부(100)의 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측에 로딩된 다수개의 빈 캐리어 트레이(10)로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류한다. 즉, 제2SSD 이송로봇(800)은 캐리어 이송로봇(300)에 의해 캐리어 트레이 파지플레이트부재(150)의 타측에 로딩된 다수개의 빈 캐리어 트레이(10)에 SSD를 등급별로 분류하여 수납한다. 제2SSD 이송로봇(800)의 연속적인 동작에 의해 테스트된 SSD가 분류되어 빈 캐리어 트레이(10)에 수납되어 채워지면 캐리어 이송로봇(300)은 캐리어 트레이(10)를 등급별로 다수개의 제2적재기(120)로 각각 이송시켜 적재한다. 테스트 결과에 따른 등급의 종류가 많아지는 경우에 제2SSD 이송로봇(800)은 테스트된 SSD를 다수개의 버퍼부(140)에 수납한다.When the test tray 20 is transferred, the push mechanism 420 pushes the tested SSD stored in the test tray 20 to release the tested SSD inserted into the test tray 20 so that the second SSD transfer robot 800 is moved. Allow gripping. The second SSD transfer robot 800 transfers and classifies the held SSD to a plurality of empty carrier trays 10 loaded on the other side of the carrier tray holding plate member 150 of the loading unit 100 according to the test result. That is, the second SSD transfer robot 800 classifies and classifies SSDs into grades in the plurality of empty carrier trays 10 loaded on the other side of the carrier tray gripping plate member 150 by the carrier transfer robot 300. When the SSD tested by the continuous operation of the second SSD transfer robot 800 is classified and stored in the empty carrier tray 10 and filled, the carrier transfer robot 300 loads the carrier tray 10 by the plurality of second loading machines. Transfer them to 120 and load them. When the type of grade increases according to the test result, the second SSD transfer robot 800 stores the tested SSD in the plurality of buffer units 140.

이러한 과정을 통해 제2SSD 이송로봇(800)에 의해 테스트된 SSD가 모두 비워지면 빈 테스트 트레이(20)는 셔틀부(400)에 의해 화살표 a9방향으로 이송되어 로딩영역(L)으로 이송된다. 로딩영역(L)으로 이송된 테스트 트레이(20)는 제1SSD 이송로봇(700)에 의해 테스트될 SSD가 다시 수납되는 과정을 반복하여 대량의 SSD를 자동으로 테스트하여 분류할 수 있게 된다. When all of the SSDs tested by the second SSD transfer robot 800 are emptied through this process, the empty test tray 20 is transferred to the loading area L by the shuttle unit 400 in the direction indicated by the arrow a9. The test tray 20 transferred to the loading area L may repeatedly classify the SSD to be tested by the first SSD transport robot 700 to automatically test and classify a large amount of SSDs.

본 발명의 SSD 테스트 핸들러는 낸드 플래쉬나 제어기 등과 같이 부품을 인쇄회로기판에 실장한 후 케이스를 조립하지 않은 베어 상태의 SSD나 케이스가 조립된 SSD를 테스트하여 양품과 불량품으로 분류하는 분야에 적용할 수 있다.SSD test handler of the present invention can be applied to the field of testing the SSD of the bare state or the SSD assembled with the case after mounting the components on the printed circuit board, such as NAND flash or controller, and classify them as good or bad. Can be.

도 1은 SSD의 사시도,1 is a perspective view of an SSD,

도 2는 본 발명의 SSD 테스트 핸들러의 구성을 나타낸 평면도,2 is a plan view showing the configuration of an SSD test handler of the present invention;

도 3은 도 2에 도시된 SSD 테스트 핸들러의 측면도, 3 is a side view of the SSD test handler shown in FIG. 2;

도 4는 도 2에 도시된 테스트부의 정면도,4 is a front view of the test unit illustrated in FIG. 2;

도 5는 도 3에 도시된 캐리어 이송로봇의 사시도,5 is a perspective view of the carrier transport robot shown in FIG.

도 6은 도 5에 도시된 캐리어 이송로봇의 평면도,6 is a plan view of the carrier transport robot shown in FIG.

도 7은 도 3에 도시된 셔틀부의 사시도,7 is a perspective view of the shuttle unit shown in FIG.

도 8은 도 7에 도시된 셔틀부의 측면도.8 is a side view of the shuttle shown in FIG.

* 도면의 주요 부분에 대한 부호 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings

10: 캐리어 트레이 20: 테스트 트레이 10: carrier tray 20: test tray

100: 적재부 110: 제1적재기100: loading unit 110: first loading machine

120: 제2적재기 130: 제3적재기 120: second loading machine 130: third loading machine

140: 버퍼부 150: 캐리어 트레이 파지플레이트부재140: buffer portion 150: carrier tray gripping plate member

200: 테스트부 210: 테스트 사이트200: test unit 210: test site

220:제1테스트 승강기 230: 제1테스트 수평이송기구220: first test lift 230: first test horizontal transfer mechanism

240: 제2테스트 승강기 250: 제2테스트 수평이송기구240: second test lift 250: second test horizontal transfer mechanism

260: 제3테스트 수평이송기구 300: 캐리어 이송로봇260: the third test horizontal transfer mechanism 300: carrier transfer robot

310: 캐리어 프레임 320: 캐리어 수평이송기구310: carrier frame 320: carrier horizontal transport mechanism

330: 캐리어 승강기 340: 제2캐리어 클램프기구330: carrier lift 340: second carrier clamp mechanism

400: 셔틀부 410: 셔틀 프레임400: shuttle 410: shuttle frame

420: 푸시기구 430: 셔틀이송기구420: push mechanism 430: shuttle transfer mechanism

440: 제1셔틀 클램프기구 500: 제1테스트 트레이 회전이송부440: first shuttle clamp mechanism 500: first test tray rotation transfer unit

600: 제2테스트 트레이 회전이송부 700: 제1SSD 이송로봇600: second test tray rotation transfer unit 700: the first SSD transfer robot

800: 제2SSD 이송로봇800: second SSD transport robot

Claims (13)

SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이를 적재하는 적재부와,A stacking unit for stacking a plurality of carrier trays for storing SSDs; 상기 적재부와 대향되도록 설치되어 다수개의 테스트 트레이에 수납된 SSD를 테스트하는 테스트부와,A test unit installed to face the loading unit and testing the SSDs stored in the plurality of test trays; 상기 적재부와 상기 테스트부 사이에 설치되어 캐리어 트레이를 적재부에 로딩시하거나 언로딩하는 캐리어 이송로봇과,A carrier transfer robot installed between the loading unit and the test unit to load or unload a carrier tray into the loading unit; 상기 테스트부와 상기 캐리어 이송로봇 사이에 설치되어 테스트 트레이를 로딩영역이나 언로딩영역으로 이송시키는 셔틀부와,A shuttle unit installed between the test unit and the carrier transfer robot to transfer a test tray to a loading area or an unloading area; 상기 셔틀부의 하측에 설치되어 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이를 상기 테스트부로 회전 이송시키는 제1테스트 트레이 회전이송부와,A first test tray rotation transfer part installed at a lower side of the shuttle part to rotate and transfer a test tray located in a loading area of the shuttle part to the test part; 상기 제1테스트 트레이 회전이송부와 대향되도록 설치되어 상기 테스트부에서 배출되는 테스트 트레이를 상기 셔틀부의 언로딩영역으로 회전 이송시키는 제2테스트 트레이 회전이송부와, A second test tray rotation transfer unit installed to face the first test tray rotation transfer unit and rotating the test tray discharged from the test unit to the unloading area of the shuttle unit; 상기 테스트부와 대향되도록 설치되어 상기 적재부에 로딩된 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 상기 셔틀부의 로딩영역에 위치한 테스트 트레이로 이송하는 제1SSD 이송로봇과,A first SSD transfer robot installed to face the test unit and transferring the SSD housed in the carrier tray loaded in the loading unit to a test tray located in the loading area of the shuttle unit; 상기 제1SSD 이송로봇과 대향되도록 설치되어 상기 셔틀부의 언로딩영역에 위치한 테스트 트레이에 수납된 SSD를 상기 적재부에 로딩된 캐리어 트레이로 테스트 결과에 따라 이송하여 분류하는 제2SSD 이송로봇으로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.And a second SSD transfer robot which is installed to face the first SSD transfer robot and transfers and classifies the SSD stored in the test tray located in the unloading area of the shuttle unit to the carrier tray loaded in the loading unit according to the test result. SSD test handler. 제1항에 있어서, 상기 적재부는 테스트될 SSD나 테스트되는 SSD를 수납하는 다수개의 캐리어 트레이와, The storage apparatus of claim 1, wherein the stacking unit comprises: a plurality of carrier trays for storing the SSD to be tested or the SSD to be tested; 상기 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 캐리어 트레이를 각각 적재하는 다수개의 제1적재기와, A plurality of first stackers each carrying a plurality of carrier trays in which the SSD to be tested is stored; 상기 다수개의 제1적재기의 타측에 설치되어 상기 테스트된 SSD를 테스트 결과에 따라 양품과 불량품으로 분류하여 수납하기 위한 다수개의 캐리어 트레이를 각각 적재하는 다수개의 제2적재기와,A plurality of second stackers each installed on the other side of the plurality of first stackers, each stacking a plurality of carrier trays for storing the tested SSDs according to a test result and classifying them as good or bad; 상기 다수개의 제1적재기와 상기 다수개의 제2적재기 사이에 상기 다수개의 제1적재기에서 테스트될 SSD가 배출된 빈 캐리어 트레이를 적재하는 제3적재기와,A third loader for loading an empty carrier tray from which the SSD to be tested in the plurality of first loaders is discharged between the plurality of first loaders and the plurality of second loaders; 상기 제1 내지 제3적재기의 상측에 설치되어 상기 캐리어 이송로봇에 의해 로딩되는 캐리어 트레이를 파지하거나 해제하는 캐리어 트레이 파지플레이트부재로 구성되며, A carrier tray gripping plate member installed on the upper side of the first to third loading machines to hold or release the carrier tray loaded by the carrier transfer robot, 상기 캐리어 트레이 파지플레이트부재는 테스트된 SSD를 수납하기 위한 다수개의 버퍼부가 더 구비되어 설치됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.The carrier tray gripping plate member is a SSD test handler, characterized in that is provided with a plurality of buffer unit for further receiving the tested SSD. 제2항에 있어서, 상기 다수개의 캐리어 트레이는 각각 SSD를 수납하기 위한 수납홈이 형성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.The SSD test handler of claim 2, wherein each of the plurality of carrier trays has an accommodation groove for accommodating the SSD. 제1항에 있어서, 상기 테스트부는 다수개의 테스트 트레이와,The method of claim 1, wherein the test unit comprises a plurality of test trays, 상기 다수개의 테스트 트레이와 접촉되어 테스트 트레이에 수납된 테스트될 SSD를 테스트하는 테스트장치가 설치되는 테스트 사이트와, A test site in contact with the plurality of test trays, the test site having a test device installed thereon for testing the SSD to be tested in the test tray; 상기 테스트 사이트의 일측에 설치되어 상기 제1테스트 트레이 회전이송부에 의해 회전 이송된 테스트될 SSD가 수납된 다수개의 테스트 트레이를 순차적으로 승강시켜 정렬하는 제1테스트 승강기와, A first test lifter installed at one side of the test site and sequentially lifting and arranging a plurality of test trays containing SSDs to be tested which are rotated and transferred by the first test tray rotation transfer unit; 상기 테스트 사이트와 상기 제1테스트 승강기 사이에 설치되어 다수개의 테스트 트레이를 상기 테스트 사이트로 이송시키는 제1테스트 수평이송기구와, A first test horizontal transfer mechanism installed between the test site and the first test lift to transfer a plurality of test trays to the test site; 상기 테스트 사이트의 타측에 설치되어 상기 테스트 사이트에서 테스트된 SSD가 수납된 다수개의 테스트 트레이를 이송받아 순차적으로 하강시켜 상기 제2테스트 트레이 회전이송부로 이송시키는 제2테스트 승강기와,A second test lifter installed at the other side of the test site and receiving a plurality of test trays in which the SSDs tested at the test site are received and descending sequentially to transfer the test trays to the second test tray rotation transfer unit; 상기 테스트 사이트와 상기 제2테스트 승강기 사이에 설치되어 다수개의 테스트 트레이를 테스트 사이트에서 제2테스트 트레이 승강기로 이송시키는 제2테스트 수평이송기구와,A second test horizontal transfer mechanism installed between the test site and the second test lift to transfer a plurality of test trays from the test site to the second test tray lift; 상기 제1테스트 수평이송기구와 상기 제2테스트 수평이송기구 사이에 설치되어 제1테스트 수평이송기구와 제2테스트 수평이송기구와 직교되는 방향으로 상기 테스트 사이트로 이송된 다수개의 테스트 트레이를 상기 테스트 사이트로 이송시켜 테스트 사이트에 다수개의 테스트 트레이를 접촉시키거나 해제시키는 제3테스트 수평이송기구로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.Testing the plurality of test trays installed between the first test horizontal transfer mechanism and the second test horizontal transfer mechanism and transferred to the test site in a direction orthogonal to the first test horizontal transfer mechanism and the second test horizontal transfer mechanism; SSD test handler, characterized in that consisting of a third test horizontal transfer mechanism for transporting to the site to contact or release the plurality of test trays on the test site. 제1항에 있어서, 상기 캐리어 이송로봇은 상기 적재부에 설치되는 캐리어 프레임과,According to claim 1, wherein the carrier transfer robot is a carrier frame which is installed in the loading portion, 상기 캐리어 프레임의 일측에 각각 설치되는 다수개의 캐리어 수평이송기구와,A plurality of carrier horizontal transfer mechanisms respectively installed on one side of the carrier frame; 상기 캐리어 수평이송기구에 각각 설치되어 캐리어 수평이송기구에 의해 수평방향으로 이송되는 다수개의 캐리어 승강기와,A plurality of carrier lifts which are respectively installed on the carrier horizontal transfer mechanism and are transported in a horizontal direction by a carrier horizontal transfer mechanism; 상기 다수개의 캐리어 승강기에 각각 설치되어 상기 캐리어 수평이송기구와 캐리어 승강기에 의해 이송되어 상기 적재부에 적재된 캐리어 트레이를 로딩하거나 언로딩하는 다수개의 캐리어 클램프기구로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.And a plurality of carrier clamp mechanisms respectively installed in the plurality of carrier elevators and configured to load or unload a carrier tray loaded by the carrier horizontal transfer mechanism and the carrier elevator loaded on the loading unit. 제5항에 있어서, 상기 다수개의 캐리어 클램프기구는 각각 상기 캐리어 승강기에 설치되는 공압실린더와,The pneumatic cylinder of claim 5, wherein each of the plurality of carrier clamp mechanisms is installed in the carrier elevator; 상기 공압실린더의 양측에 각각 설치되어 공압실린더에 의해 이송되는 다수개의 캐리어 이송가이드와, A plurality of carrier transfer guides respectively installed at both sides of the pneumatic cylinder and conveyed by the pneumatic cylinder; 상기 다수개의 캐리어 이송가이드에 각각 설치되어 상기 공압실린더에 의해 상기 다수개의 캐리어 이송가이드를 따라 서로 벌어지거나 좁아지는 왕복 운동하여 캐리어 트레이를 파지하는 다수개의 캐리어 클램프부재와,A plurality of carrier clamp members installed in the plurality of carrier conveyance guides, respectively, for holding the carrier tray by reciprocating movements that are opened or narrowed along the plurality of carrier conveyance guides by the pneumatic cylinder; 상기 다수개의 캐리어 클램프부재에 각각 설치되어 다수개의 캐리어 클램프부재가 좁아지는 방향으로 이송 시 복원력을 제공하는 제1탄성부재로 구성되며, The first elastic member is provided on each of the plurality of carrier clamp members to provide a restoring force when the plurality of carrier clamp members are transported in a narrowing direction. 상기 다수개의 캐리어 클램프부재는 각각 상기 다수개의 캐리어 수평이송기구에 설치되는 다수개의 ㄱ자형 부재와, 상기 다수개의 ㄱ자형 부재의 내측에 각각 설치되는 다수개의 제2탄성부재와, 상기 다수개의 제2탄성부재에 각각 설치되어 제2탄성부재에 의해 캐리어 트레이를 파지 시 캐리어 트레이와 밀착되는 접촉부재와, 상기 ㄱ자형 부재의 내측에 배열되도록 설치되어 캐리어 트레이의 파지 시 캐리어 트레이를 지지하는 다수개의 지지핀으로 이루어짐을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.The plurality of carrier clamp members may each include a plurality of L-shaped members installed in the plurality of carrier horizontal transfer mechanisms, a plurality of second elastic members respectively installed inside the plurality of L-shaped members, and the plurality of second members. A plurality of supports each installed on the elastic member to be in close contact with the carrier tray when holding the carrier tray by the second elastic member, and arranged to be arranged inside the L-shaped member to support the carrier tray when holding the carrier tray. SSD test handler, characterized by a pin. 제1항에 있어서, 상기 셔틀부는 일측과 타측에 테스트 트레이가 통과될 수 있도록 다수개의 테스트 트레이 통과구멍이 형성되고 다수개의 테스트 트레이 통과구멍 사이에 푸시판 통과구멍이 형성되는 셔틀 프레임과,The shuttle frame of claim 1, wherein the shuttle unit comprises: a plurality of test tray through holes formed on one side and a second side thereof, and a push plate through hole formed between the plurality of test tray through holes; 상기 푸시판 통과구멍에 위치되도록 상기 셔틀 프레임에 설치되어 테스트 트레이에 수납된 SSD를 상기 제2SSD 이송로봇이 파지할 수 있도록 푸시하는 푸시기구와,A push mechanism installed in the shuttle frame so as to be positioned in the push plate through-hole to push the SSD housed in the test tray so that the second SSD transfer robot can grip; 상기 셔틀 프레임의 일측에 설치되는 다수개의 제1트레이 수평이송기구와,A plurality of first tray horizontal transfer mechanisms installed on one side of the shuttle frame; 상기 다수개의 제1트레이 수평이송기구에 각각 설치되어 테스트 트레이를 이송시키는 다수개의 제1셔틀 클램프기구와,A plurality of first shuttle clamp mechanisms respectively installed in the plurality of first tray horizontal transfer mechanisms to transfer a test tray; 상기 셔틀 프레임의 타측에 각각 설치되어 테스트 트레이를 지지하는 다수개의 제2셔틀 클램프기구와,A plurality of second shuttle clamp mechanisms respectively installed on the other side of the shuttle frame to support the test tray; 상기 다수개의 제2셔틀 클램프기구 사이에 위치되도록 상기 셔틀 프레임의 타측에 설치되어 테스트 트레이를 지지하는 제3셔틀 클램프기구로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러. And a third shuttle clamp mechanism installed on the other side of the shuttle frame to support the test tray so as to be positioned between the plurality of second shuttle clamp mechanisms. 제7항에 있어서, 상기 푸시기구는 상기 푸시판 통과구멍을 승강되어 통과될 수 있도록 설치되며 다수개의 푸시핀이 배열되어 설치되는 푸시판과, According to claim 7, The push mechanism is installed so as to pass through the push plate passage hole and the push plate is installed a plurality of push pins are arranged, 상기 푸시판의 하측에 위치되도록 셔틀 프레임에 고정 설치되는 푸시 고정부재와, A push fixing member fixed to the shuttle frame to be positioned below the push plate; 상기 푸시 고정부재와 상기 푸시판 사이에 설치되어 상기 푸시판의 승/하강 시 가이드하는 다수개의 푸시 가이드부재와,A plurality of push guide members installed between the push fixing member and the push plate to guide when the push plate is moved up / down; 상기 푸시 고정부재와 상기 푸시판 사이에 설치되어 상기 푸시판을 승/하강시키는 다수개의 푸시 공압실린더로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.SSD test handler, characterized in that composed of a plurality of push pneumatic cylinder which is installed between the push holding member and the push plate to raise and lower the push plate. 제7항에 있어서, 상기 다수개의 제1셔틀 클램프기구는 각각 상기 제1트레이 수평이송기구에 설치되는 제2트레이 수평이송기구와, 8. The apparatus of claim 7, wherein the plurality of first shuttle clamp mechanisms each include: a second tray horizontal transfer mechanism installed in the first tray horizontal transfer mechanism; 상기 제2트레이 수평이송기구에 설치되어 제2트레이 수평이송기구에 의해 전/후진되는 제1트레이 클램프부재와,A first tray clamp member installed in the second tray horizontal transfer mechanism and moved forward / backward by a second tray horizontal transfer mechanism; 상기 제1트레이 클램프부재에 설치되어 제1트레이 클램프부재의 전/후진에 의해 테스트 트레이와 접촉하거나 해제되는 다수개의 접촉핀으로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.And a plurality of contact pins installed on the first tray clamp member and contacting or releasing the test tray by forward / backward movement of the first tray clamp member. 제7항에 있어서, 상기 다수개의 제2셔틀 클램프기구는 각각 상기 셔틀 프레임의 타측에 설치되는 제3트레이 수평이송기구와, The apparatus of claim 7, wherein the plurality of second shuttle clamp mechanisms each include a third tray horizontal transfer mechanism installed on the other side of the shuttle frame; 상기 제3트레이 수평이송기구에 설치되어 제3트레이 수평이송기구에 의해 전/후진되는 제2트레이 클램프부재와,A second tray clamp member installed in the third tray horizontal transfer mechanism and moved forward / backward by a third tray horizontal transfer mechanism; 상기 제2트레이 클램프부재에 설치되어 제2트레이 클램프부재의 전/후진에 의해 테스트 트레이를 지지하는 트레이 지지부재로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.And a tray support member installed on the second tray clamp member to support the test tray by forward / backward of the second tray clamp member. 제7항에 있어서, 상기 제3셔틀 클램프기구는 상기 다수개의 제2셔틀 클램프기구 사이에 위치되도록 상기 셔틀 프레임의 타측 설치되는 실린더와,The method of claim 7, wherein the third shuttle clamp mechanism and the cylinder is installed on the other side of the shuttle frame to be located between the plurality of second shuttle clamp mechanism, 상기 실린더에 설치되어 실린더에 의해 전/후진되어 테스트 트레이를 지지하는 접촉핀으로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.SSD test handler, characterized in that consisting of a contact pin installed in the cylinder to be forward / backward by the cylinder to support the test tray. 제1항에 있어서, 상기 제1테스트 트레이 회전이송부와 제2테스트 트레이 회전이송부는 각각 테스트 트레이 수평이송기구와,According to claim 1, wherein the first test tray rotary feeder and the second test tray rotary feeder, respectively, a test tray horizontal transfer mechanism, 상기 테스트 트레이 수평이송기구에 설치되는 테스트 트레이 승강기와,A test tray lifter installed in the test tray horizontal transfer mechanism; 상기 테스트 트레이 승강기에 설치되는 테스트 트레이 회전기구와,A test tray rotating mechanism installed in the test tray lifter, 상기 테스트 트레이 회전기구에 설치되어 테스트 트레이 회전기구와 상기 테스트 트레이 수평이송기구와 상기 테스트 트레이 승강기에 의해 이송과 승/하강과 회전되어 테스트 트레이를 회전 이송시키는 테스트 트레이 회전부재로 구성됨을 특 징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.And a test tray rotating member installed in the test tray rotating mechanism, the test tray rotating mechanism, the test tray horizontal conveying mechanism, and the test tray lifter to rotate the feed tray by moving and lifting / lowering and rotating the test tray. SSD test handler. 제1항에 있어서, 상기 제1SSD 이송로봇과 상기 제2SSD 이송로봇은 각각 X-Y 이송로봇과,The method of claim 1, wherein the first SSD transport robot and the second SSD transport robot are each X-Y transport robot, 상기 X-Y 이송로봇에 각각 설치되어 상기 적재부에 로딩된 캐리어 트레이에 수납된 SSD를 상기 셔틀부에 위치한 테스트 트레이로 이송하거나 셔틀부에 위치한 테스트 트레이에 수납된 SSD를 상기 적재부에 로딩된 캐리어 트레이로 이송하는 픽커로 구성됨을 특징으로 하는 SSD 테스트 핸들러.Carrier trays respectively installed in the XY transfer robots and transferred to the test trays located in the carrier trays loaded in the loading unit or transferred to the test trays located in the shuttle unit are loaded into the storage trays. SSD test handler, characterized in that consisting of a picker to transfer to.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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KR100395366B1 (en) * 2000-12-27 2003-08-21 미래산업 주식회사 Handler for testing semiconductor

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102778642A (en) * 2010-04-12 2012-11-14 宰体有限公司 Test handler for semiconductor device, and inspection method for semiconductor device
CN117259264A (en) * 2023-11-17 2023-12-22 北京铁科世纪科技有限公司 Test equipment of multi-functional industrial controller mainboard
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