KR20080061739A - 액정 표시패널의 검사 방법 - Google Patents

액정 표시패널의 검사 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20080061739A
KR20080061739A KR1020060136788A KR20060136788A KR20080061739A KR 20080061739 A KR20080061739 A KR 20080061739A KR 1020060136788 A KR1020060136788 A KR 1020060136788A KR 20060136788 A KR20060136788 A KR 20060136788A KR 20080061739 A KR20080061739 A KR 20080061739A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
defect
liquid crystal
screen
defects
crystal display
Prior art date
Application number
KR1020060136788A
Other languages
English (en)
Inventor
김철한
Original Assignee
엘지디스플레이 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 엘지디스플레이 주식회사 filed Critical 엘지디스플레이 주식회사
Priority to KR1020060136788A priority Critical patent/KR20080061739A/ko
Publication of KR20080061739A publication Critical patent/KR20080061739A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8803—Visual inspection
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/50—Protective arrangements
    • G02F2201/506—Repairing, e.g. with redundant arrangement against defective part
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00—Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/58—Arrangements comprising a monitoring photodetector
    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2203/00—Function characteristic
    • G02F2203/69—Arrangements or methods for testing or calibrating a device

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

자동 비전 검사 시에 검출력을 향상시킬 수 있고, 자동 비전 검사시에 결함을 즉시 판정함으로써, 후속 공정을 조속하게 진행시킬 수 있는 액정 표시 패널의 검사 방법이 제공된다. 액정 표시 패널의 검사 방법은, 검사시료를 자동 비전 검사기 내에 투입하는 단계; 카메라를 사용하여 검사시료를 촬영하는 단계; 실제 결함 유형을 구분할 수 있는 결함 이미지를 화면상에 디스플레이하는 단계; 및 자동 비전 검사시, 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계를 포함하되, 결함은 포인트 결함, 라인 결함 및 이물 결함을 포함하는 정형 결함과 얼룩 결함 중 어느 하나 이상을 포함한다. 결함이 중첩된 경우, 중첩된 부위를 병합한 화면을 디스플레이하며, 결함이 라인 결함인 경우, 라인 결함 부위를 화면 상의 에지부에만 디스플레이한다.
액정 표시패널, 결함, 자동 비전 검사, VAP, 결함 중첩, 라인 결함

Description

액정 표시패널의 검사 방법 {Test method of liquid crystal display panel}
도 1a 내지 도 1c는 각각 종래의 기술에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 화면을 나타내는 도면들이다.
도 2a 및 도 2b는 각각 종래의 기술에 따른 결함을 나타내는 화면이다.
도 3은 자동 비전 검사기(VAP)의 개략적인 구성도이다.
도 4는 도 3의 광정보 처리부를 나타내는 도면이다.
도 5는 자동 비전 검사기(VAP)의 측단면도이다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 방법의 동작 흐름도이다.
도 7a 내지 도 7c는 각각 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 결과를 비교하기 위한 화면이다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 디스플레이 방법의 동작 흐름도이다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 디스플레이 방법의 동작 흐름도이다.
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 결함을 나타내는 화면이다.
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 결함을 나타내는 화면이다.
본 발명은 액정 표시장치의 검사 방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로, 액정 표시장치의 결함 검사 방법 및 결함 디스플레이 방법에 관한 것이다.
액정 표시장치는 액정의 특정한 분자 배열에 전압을 인가하여 다른 분자 배열로 변환시키고, 이러한 분자 배열에 의해 발광하는 액정 셀의 복굴절성, 선광성 및 광산란 특성 등의 광학적 성질의 변화를 시각 변화로 변환하는 것으로, 액정 셀에 의한 빛의 변조를 이용한 표시 장치이다.
이러한 액정 표시장치는 브라운관에 비하여 소형화가 가능하여 퍼스널 컴퓨터(Personal Computer)와 노트북 컴퓨터(Note Book Computer)의 모니터는 물론, 복사기 등의 사무자동화기기, 휴대전화기나 호출기 등의 휴대기기까지 광범위하게 이용되고 있다.
이중에서 가장 널리 사용되는 액티브 매트릭스 구동 방식의 액정 표시장치의 액정 패널 제조 공정은 기판 세정과, 기판 패터닝, 배향막 형성, 기판 합착/액정 주입, 실장 공정으로 나누어질 수 있다.
기판 세정 공정에서는 상부 및 하부 기판의 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 된다. 기판 패터닝 공정에서는 상부 기판의 패터닝과 하부 기판의 패터닝으로 나누어진다
상부 기판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 하부기 판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성되며, TFT의 소스전극에 접속되도록 데이터 라인과 게이트라인 사이의 화소영역에 화소전극이 형성된다. 기판합착/액정주입 공정에서는 하부 기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal)재를 이용한 상부 및 하부 기판의 합착 공정, 액정 주입, 주입구 봉지, 세정, 연마(grinding), 검사 공정이 순차적으로 이루어져 액정 패널이 완성된다.
종래 디스플레이 화질 검사는 육안 검사에 의존하고 있다. 즉, 작업자의 목시 검사로 불량을 검출함으로써, 점 결함, 라인 결함, 얼룩 등의 불량들이 유출되며, 또한, 최근 모델의 대형화에 따라 작업자의 목시 검사에 많은 어려움이 따랐다. 이에 따라 최근 자동 비전 검사(VAP)가 이루어지고 있는 실정이다.
도 1a 내지 도 1c는 각각 종래의 기술에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 화면을 나타내는 도면들이다.
도 1a는 화면(10) 상에 결함(11)이 있는 실제 패널 이미지를 나타내고 있고, 도 1b는 화면(10) 상에 실제 결함이 있는 영역을 생략(omit)하고 박스(12)로 디스플레이함으로써, 검출 불가 영역이 형성된 것을 나타내는 나타낸다. 도 1c는 결함 발생시, 측광에 기인하여 주변의 ±3 픽셀 영역을 생략한 상태로 화면(10) 상에 디스플레이함으로써, 해당 결함 영역이 박스(13)로 디스플레이되는 것을 나타낸다.
도 2a 및 도 2b는 각각 종래의 기술에 따른 결함을 나타내는 화면이다.
도 2a는 결함을 연결하여 디스플레이함으로써, 화면(10) 상에 결함 중첩부(21)가 형성된 것을 나타내고, 도 2b는 라인 결함(22, 23)이 발생시 화면(10) 상 에 라인 전체를 디스플레이하는 것을 나타낸다.
종래의 기술에 따른 결함을 디스플레이하는 방법은, 자동 비전 검사기 의 점등시, 결함의 위치를 박스로 표기함으로써, 검출 불가 영역이 형성되어 검출력을 저하시키는 문제점이 있다. 또한, 종래의 기술에 따른 결함 검사 방법은, 자동 비전 검사(VAP) 이후, 후속 공정인 오토 프로브(AP) 단계에서 결함을 판정함으로써, 자동 비전 검사시 결함을 판정하지 않기 때문에 후속 공정이 지체된다는 문제점이 있다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 목적은, 자동 비전 검사 시에 검출력을 향상시킬 수 있는 액정 표시 패널의 검사 방법을 제공하기 위한 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 다른 목적은, 자동 비전 검사 시에 결함을 즉시 판정함으로써, 후속 공정을 조속하게 진행시킬 수 있는 액정 표시 패널의 검사 방법을 제공하기 위한 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 목적은, 자동 비전 검사에 따른 결함 정보의 활용을 극대화시킬 수 있는 액정 표시 패널의 검사 방법을 제공하기 위한 것이다.
본 발명의 목적들은 이상에서 언급한 목적으로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 목적들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 방법은, 검사시료를 자동 비전 검사기 내에 투입하는 단계; 카메라를 사용하여 상기 검사시료를 촬영하는 단계; 실제 결함 유형을 구분할 수 있는 결함 이미지를 화면상에 디스플레이하는 단계; 및 자동 비전 검사시, 상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계를 포함하되, 상기 결함은 포인트 결함, 라인 결함 및 이물 결함을 포함하는 정형 결함과 얼룩 결함 중 어느 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 결함 이미지를 디스플레이하는 단계는, 상기 결함이 중첩된 경우, 상기 중첩된 결함이 병합된 화면을 디스플레이하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 결함 이미지를 디스플레이하는 단계는, 상기 결함이 라인 결함인 경우, 상기 라인 결함 부위를 상기 화면 상의 에지부에만 디스플레이하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 상기 결함이 존재할 경우, 수리 여부를 판단하는 단계를 추가로 포함할 수 있다.
여기서, 상기 카메라는 전하결합소자(CCD) 카메라이거나 CMOS 카메라인 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시패널의 결함 디스플레이 방법은, 검사시료를 자동 비전 검사기 내에 투입하는 단계; 카메라를 사용하여 상기 검사시료를 촬영하는 단계; 실제 결함 유형을 구분할 수 있는 결함 이미지를 화면상에 디스플레이하는 단계; 상기 디스플레이된 화면상에 결 함이 있는지 확인하는 단계; 및 상기 결함이 중첩된 경우, 상기 결함 중첩 부분을 병합하여 디스플레이하는 단계를 포함하여 구성된다.
여기서, 상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계는, 자동 비전 검사시에 수행되는 것을 특징으로 한다.
또한, 상기 기술적 과제를 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정 표시패널의 결함 디스플레이 방법은, 검사시료를 자동 비전 검사기 내에 투입하는 단계; 카메라를 사용하여 상기 검사시료를 촬영하는 단계; 실제 결함 유형을 구분할 수 있는 결함 이미지를 화면상에 디스플레이하는 단계; 상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계; 및 상기 결함이 라인 결함인 경우, 상기 라인 결함 부분을 화면의 에지부에 디스플레이하는 단계를 포함하여 구성된다.
여기서, 상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계는, 자동 비전 검사시에 수행되는 것을 특징으로 한다.
기타 실시예들의 구체적인 사항들은 상세한 설명 및 도면들에 포함되어 있다. 본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있을 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하고 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것으로, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐 이다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시 패널의 검사 방법을 상세히 설명한다.
본 발명의 실시예는, 자동 비전 검사기(VAP)를 이용한 검사시, 실제 결함 이미지를 확보하여 결함 유형별로 디스플레이하고, 또한, 결함이 중첩되었거나 라인 결함이 존재할 경우, 검출력을 저하시키지 않도록 표시하는 것을 개시한다.
먼저, 도 3 내지 도 5를 참조하여, 자동 비전 검사기(VAP) 및 검사 방법에 대해 설명한다.
도 3은 자동 비전 검사기(VAP)의 개략적인 구성도이고, 도 4는 도 3의 광정보 처리부를 나타내는 도면이다.
먼저, 도 3을 참조하면, 액정 표시패널의 검사 장치는, 대상물에 대한 정보를 획득하여 처리하는 광정보 처리부(100)와, 광정보 처리부(100)에 대향되어 대상물을 장착하고 신호를 인가하는 오토 프로브 검사기(200)를 구비한다.
광정보 처리부(100)는 도 4에 도시된 바와 같이, 액정 패널에 대한 정보를 획득하는 CCD(Charge Coupled Device) 카메라(110), 상기 CCD 카메라(110)를 상하 좌우로 이동시키는 이동 제어수단(130)과, CCD 카메라(110)로부터 얻어진 정보를 처리하는 정보 처리부(140)를 구비한다.
CCD 카메라(110)는 검사를 위한 액정 패널을 라인별로 스캐닝하는 라인 카메라(Line Camera)와 액정 패널을 일정 면적별로 스캐닝할 수 있는 영역 카메라(Area Camera)가 선택적으로 사용될 수 있다. 또한, 상기 CCD 카메라(110) 대신에 CMOS 카메라가 사용될 수 있다.
이러한 CCD 카메라(110)는 1000 프레임/sec 단위로 대상물인 액정 패널을 촬영하게 된다.
이동 제어수단(130)의 상하이동은 대상물과 CCD 카메라(110)의 초점(focus)을 조절하고, 이동 제어수단(130)의 좌우이동은 CCD 카메라(110)가 작동되어 대상물을 스캐닝할 때 CCD 카메라(110)를 좌우로 이동시킨다.
정보 처리부(140)은 CCD 카메라(110)로부터 전달된 정보를 작업자가 확인할 수 있는 화상으로 처리하는 비전 하드웨어(Vision H/W: 141), 상기 비전 하드웨어(141)를 통해 처리된 화상이 표시되는 화상표시부(142) 및 검사되는 액정패널 상의 결함을 표시하는 결함 맵(Defect Map: 143)을 구비할 수 있다.
도 5는 자동 비전 검사기(VAP)의 측단면도이다.
도 5를 참조하면, 검사 장치인 자동 비전 검사기(300)는, 워크 테이블(310), 프로브 유닛(320), 서브 테이블(330), 워크 스테이지(340), 백라이트 유닛(350), CCD 카메라(360) 및 광정보 처리부(370)를 포함한다. 워크 스테이지(340)는 검사시료를 안착시키며, 상기 백라이트 유닛(350)으로부터 제공되는 광원을 제공받는다.
자동 비전 검사기(300)는 로더(Loader) → 워크 테이블(310) → 서브 테이블(330)로 이어지며, 서브 테이블(330)에서 60˚ 경사를 주고, 상승 또는 하강시킴으로써 프로브 유닛(320)과 접촉하여 카메라(360)를 통해 검사가 이루어진다. 이때, 상기 카메라(360)에 의해 촬영된 검사시료의 이미지는 광정보 처리부(370)에 의해 처리됨으로써, 자동으로 검사가 이루어진다.
워크 스테이지(340)에는 백라이트 유닛(350)과 편광판(POL)이 부착되어 있으며, 패널 캐리어(Panel Carrier)로 검사용 패널을 고정시켜 서브 테이블(330)까지 이동시킨다.
워크 테이블(310)에 프로브 유닛(320)가 장착되어 있으며, 프로브 유닛(320)에는 프로브 베이스, PCB 베이스, 조작기(Manipulator), 포고 블록(Pogo Block), TCP 블록 및 프로브 블록이 각각 구성되어 있으며, 이때, 프로브 블록 패널 패드부와 접촉되어 CCD 카메라(360)가 검사시료를 촬영하여 검사할 수 있도록 장비를 구동시킨다.
백라이트 유닛(350)에서 발광되는 광원을 패턴 발생기(Pattern Generator)에 의해 다양한 패턴으로 바꾸어 주며, 자동 비전 검사기(300)는 이 패턴으로 액정 패널의 결함을 자동으로 판별하게 된다.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 방법의 동작 흐름도이다.
도 6을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 방법은, 먼저, 검사시료인 액정 패널 또는 액정 모듈을 준비하여(S610), 자동 비전 검사기(VAP) 내에 투입하고 검사를 위해 검사 조건을 세팅한다(S620).
다음으로, 상기 자동 비전 검사기(VAP)에 전원을 인가하고(S630), 도 4에 도시된 CCD 카메라를 사용하여 LCD 패널을 촬영한다(S640).
다음으로, 실제 결함 유형을 구분하여 화면 상에 디스플레이한다(S650). 즉, 자동 비전 검사시, 결함을 즉시 판정할 수 있도록, 각 결함 유형별로 별도 디스플레이하여 후속 공정을 조속히 진행시킬 수 있고, 실제 결함 이미지이기 때문에 오토 프로브 검출력을 향상시킬 수 있다. 여기서, 상기 결함은 포인트 결함, 라인 결함 및 이물 결함을 포함하는 정형 결함과 얼룩 결함 중 어느 하나 이상을 포함할 수 있다. 따라서, 상기 결함은 중첩되어 표시될 수도 있고, 라인 형태로 표시되는 라인 결함일 수 있다.
다음으로, 상기 결함을 나타내는 실제 화면 상에 결함이 있는지 확인하여(S660), 결함이 존재하지 않는 경우, 후속 공정을 진행한다(S690). 만일, 결함이 존재할 경우, 수리가 가능한지 확인하고(S670), 수리가 가능하면, 후속 공정을 진행하고, 수리가 불가능할 경우, 액정 표시패널을 폐기한다(S680).
한편, 도 7a 내지 도 7c는 각각 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 검사 결과를 비교하기 위한 화면이다.
도 7a는 CCD 카메라의 의해 촬영된 실제 결함 이미지를 나타내며, 도 7b는 기존의 방법에 따라 처리된 결함 이미지를 나타내는 화면이다. 기존의 경우, 실제 결함보다 넓은 범위로 결함이 표시됨으로써, 검출력을 저하시키는 것을 알 수 있다.
도 7c는 본 발명의 실시예에 따차 처리된 결함 이미지로서, 도 7a에 도시된 실제 이미지과 실질적으로 동일하게 표시되며, 이에 따라 기존에 비해 검출력을 향상시킬 수 있는 것을 나타낸다.
한편, 자동 비전 검사기(300)를 이용한 검사를 위해 액정 표시패널을 정렬할 경우, 비전 검사 후에 결함 정보를 디스플레이할 필요가 있다. 이하, 도 8 내지 도 11을 참조하여, 비전 검사후, 결함 정보를 디스플레이하는 방법을 설명한다.
도 8은 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 디스플레이 방법의 동작 흐름도이다.
도 8을 참조하면, 본 발명의 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 디스플레이 방법은, 먼저, 검사시료인 액정 패널 또는 액정 모듈을 준비하여(S810), 자동 비전 검사기(VAP) 내에 투입하고, 자동 비전 검사를 위해 검사 조건을 세팅한다(S820).
다음으로, 상기 자동 비전 검사기(VAP)에 전원을 인가하고(S830), 도 4에 도시된 CCD 카메라를 사용하여 LCD 패널을 촬영한다(S840).
다음으로, 실제 결함 유형을 구분하여 화면 상에 디스플레이한다(S850). 즉, 각 결함 유형별로 별도 디스플레이하여 오토 프로브 검출력을 향상시킨다.
다음으로, 디스플레이 화면 상에 결함 중첩부가 존재하는지 확인하고(S860), 결함이 중첩된 경우, 중첩된 부분을 병합(Merging)한 화면으로 표시한다(S870).
도 10은 본 발명의 실시예에 따른 결함을 나타내는 화면으로서, 결합이 중첩된 부분(1010)을 병합하여 표시함으로써, 중첩에 의한 검출력 저하를 방지하게 되고, 결국 결함 검출력을 증가시킬 수 있게 된다.
도 9는 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 디스플레이 방법의 동작 흐름도이다.
도 9를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 액정 표시패널의 결함 디스 플레이 방법은, 먼저, 검사시료인 액정 패널 또는 액정 모듈을 준비하여(S910), 자동 비전 검사기(VAP) 내에 투입하고 검사를 위해 검사 조건을 세팅한다(S920).
다음으로, 상기 자동 비전 검사기(VAP)에 전원을 인가하고(S930), 도 4에 도시된 CCD 카메라를 사용하여 LCD 패널을 촬영한다(S940).
다음으로, 실제 결함 유형을 구분하여 화면 상에 디스플레이한다(S950). 즉, 각 결함 유형별로 별도 디스플레이하여 오토 프로브 검출력을 향상시킨다.
다음으로, 디스플레이 화면 상에 라인 결함이 존재하는지 확인하고(S960), 라인 결함이 존재할 경우, 상기 라인 결함을 패널 에지부 상에만 표시한다(S970).
도 11은 본 발명의 다른 실시예에 따른 결함을 나타내는 화면으로서, 여러 라인 결함(1110, 1120, 1130)을 패널 에지부에만 표시함으로써, 검출력 저하를 방지하게 되고, 결국 결함 검출력을 증가시킬 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해되어야만 한다.
본 발명에 따르면, 자동 비전 검사시 검출력을 향상시킬 수 있고, 자동 비전 검사 시에 결함을 즉시 판정함으로써, 후속 공정을 조속하게 진행시킬 수 있다. 또한, 본 발명에 따르면, 자동 비전 검사 시에 따른 결함 정보의 활용을 극대화시 킬 수 있다.

Claims (9)

  1. 검사시료를 자동 비전 검사기 내에 투입하는 단계;
    카메라를 사용하여 상기 검사시료를 촬영하는 단계;
    실제 결함 유형을 구분할 수 있는 결함 이미지를 화면상에 디스플레이하는 단계; 및
    자동 비전 검사시, 상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계
    를 포함하되,
    상기 결함은 포인트 결함, 라인 결함 및 이물 결함을 포함하는 정형 결함과 얼룩 결함 중 어느 하나 이상을 포함하는 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 검사 방법.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 결함 이미지를 디스플레이하는 단계는, 상기 결함이 중첩된 경우, 상기 중첩된 결함이 병합된 화면을 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 검사 방법.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 결함 이미지를 디스플레이하는 단계는, 상기 결함이 라인 결함인 경우, 상기 라인 결함 부위를 상기 화면 상의 에지부에만 디스플레이하는 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 검사 방법.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 결함이 존재할 경우, 수리 여부를 판단하는 단계
    를 추가로 포함하는 액정 표시패널의 검사 방법.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 카메라는 전하결합소자(CCD) 카메라이거나 CMOS 카메라인 것을 특징으로 하는 액정 표시패널의 검사 방법.
  6. 검사시료를 자동 비전 검사기 내에 투입하는 단계;
    카메라를 사용하여 상기 검사시료를 촬영하는 단계;
    실제 결함 유형을 구분할 수 있는 결함 이미지를 화면상에 디스플레이하는 단계;
    상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계; 및
    상기 결함이 중첩된 경우, 상기 결함 중첩 부분을 병합하여 디스플레이하는 단계
    를 포함하는 액정 표시장치의 결함 디스플레이 방법.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계는, 자동 비전 검사시에 수행되는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 디스플레이 방법.
  8. 검사시료를 자동 비전 검사기 내에 투입하는 단계;
    카메라를 사용하여 상기 검사시료를 촬영하는 단계;
    실제 결함 유형을 구분할 수 있는 결함 이미지를 화면상에 디스플레이하는 단계;
    상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계; 및
    상기 결함이 라인 결함인 경우, 상기 라인 결함 부분을 화면의 에지부에 디스플레이하는 단계
    를 포함하는 액정 표시장치의 결함 디스플레이 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 디스플레이된 화면상에 결함이 있는지 확인하는 단계는, 자동 비전 검사시에 수행되는 것을 특징으로 하는 액정 표시장치의 결함 디스플레이 방법.
KR1020060136788A 2006-12-28 2006-12-28 액정 표시패널의 검사 방법 KR20080061739A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060136788A KR20080061739A (ko) 2006-12-28 2006-12-28 액정 표시패널의 검사 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060136788A KR20080061739A (ko) 2006-12-28 2006-12-28 액정 표시패널의 검사 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20080061739A true KR20080061739A (ko) 2008-07-03

Family

ID=39813955

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060136788A KR20080061739A (ko) 2006-12-28 2006-12-28 액정 표시패널의 검사 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20080061739A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140068557A (ko) * 2012-11-28 2014-06-09 엘지디스플레이 주식회사 결함 검사 장치 및 이를 이용한 표시장치의 결함 검사 방법
KR101409568B1 (ko) * 2012-11-28 2014-06-19 엘지디스플레이 주식회사 표시패널 검사장치 및 그 검사방법
CN112394064A (zh) * 2020-10-22 2021-02-23 惠州高视科技有限公司 一种屏幕缺陷检测的点线测量方法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20140068557A (ko) * 2012-11-28 2014-06-09 엘지디스플레이 주식회사 결함 검사 장치 및 이를 이용한 표시장치의 결함 검사 방법
KR101409568B1 (ko) * 2012-11-28 2014-06-19 엘지디스플레이 주식회사 표시패널 검사장치 및 그 검사방법
CN112394064A (zh) * 2020-10-22 2021-02-23 惠州高视科技有限公司 一种屏幕缺陷检测的点线测量方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101291843B1 (ko) 액정표시장치의 검사장치 및 그의 검사방법
US7800568B2 (en) Apparatus and method for inspecting liquid crystal display
JP2008040201A (ja) 液晶パネル検査方法及び装置
KR101367078B1 (ko) 액정 표시장치의 얼룩 검사 방법
KR20080061739A (ko) 액정 표시패널의 검사 방법
TWI332587B (en) An apparatus and method for inspecting a liquid crystal display panel
KR101034923B1 (ko) 오토 프로브 검사장비 및 이를 이용한 검사방법
KR20070006480A (ko) 실 라인 검사 장치 및 이를 이용한 실 라인 검사 방법
KR101258267B1 (ko) 액정 패널의 검사 장치, 이를 사용한 워크 테이블 유닛의안착 방법 및 교체 방법
JP2008216810A (ja) 液晶パネル検査装置及び液晶パネル検査方法
JP2019158442A (ja) 表示パネル検査システムおよび表示パネル検査方法
KR20080060027A (ko) 액정 표시장치용 검사 장치
KR20140139929A (ko) 표시 패널의 검사 장치 및 검사 방법
JP2003177371A (ja) 液晶表示装置の検査装置及びその検査方法
KR101073330B1 (ko) 액정 패널의 오토 프로브 검사 장치 및 검사 방법
KR101343500B1 (ko) 액정패널의 오토 프로브 검사장치 및 검사방법
KR101414273B1 (ko) 반사 및 투과 효율을 향상시켜 기판을 검사하는 방법 및장치
JP3898037B2 (ja) 液晶表示パネルの点灯表示検査方法及び点灯表示検査装置
JP3932873B2 (ja) 液晶パネルの検査装置及び検査方法
KR20090006456A (ko) 액정패널 검사장치 및 검사방법
KR100989216B1 (ko) 액정표시장치 공정 장비의 척 구조
JP4443779B2 (ja) 液晶表示パネル点灯表示検査方法及び検査システム
JP3284166B2 (ja) 液晶表示パネルの検査方法及び装置
KR20070001434A (ko) 액정표시장치의 검사장비 및 검사방법
KR100825314B1 (ko) 박막트랜지스터 어레이의 검사 장비

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination