KR20070114959A - 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법 - Google Patents

자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20070114959A
KR20070114959A KR1020060048671A KR20060048671A KR20070114959A KR 20070114959 A KR20070114959 A KR 20070114959A KR 1020060048671 A KR1020060048671 A KR 1020060048671A KR 20060048671 A KR20060048671 A KR 20060048671A KR 20070114959 A KR20070114959 A KR 20070114959A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
cleaning
robot arm
wafer adsorption
spray nozzle
wafer
Prior art date
Application number
KR1020060048671A
Other languages
English (en)
Inventor
김용한
서재욱
Original Assignee
주식회사 하이닉스반도체
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 하이닉스반도체 filed Critical 주식회사 하이닉스반도체
Priority to KR1020060048671A priority Critical patent/KR20070114959A/ko
Publication of KR20070114959A publication Critical patent/KR20070114959A/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • H01L21/67051Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing using mainly spraying means, e.g. nozzles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B25HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
    • B25JMANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
    • B25J11/00Manipulators not otherwise provided for
    • B25J11/0095Manipulators transporting wafers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02041Cleaning
    • H01L21/02057Cleaning during device manufacture

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Robotics (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)

Abstract

본 발명은 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암(Robot Arm) 세정 방법에 관한 것으로, 본 발명은 반도체 소자를 형성하기 위한 공정에서 사용되는 웨이퍼 이송용 로봇 암(Robot Arm)에 부착된 불순물이 웨이퍼에 결함을 유발시키는 문제를 해결하기 위하여, 로봇 암 자동 세정 장치를 구비하되 자동 세정 장치 내에 스프레이 노즐, 세정용매 및 기체 공급부와 배출구를 구비시킴으로써 로봇 암의 청정도를 항상 우수하게 유지시킬 수 있도록 하는 발명에 관한 것이다.

Description

자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법{AUTO CLEANING APPARATUS AND THE METHOD FOR CLEANING ROBOT ARM USING THE SAME}
도 1은 웨이퍼 이송용 로봇 암을 도시한 개략도.
도 2는 로봇 암의 웨이퍼 흡착부 및 웨이퍼 캐리어를 도시한 개략도.
도 3은 웨이퍼에 결함이 발생한 것을 도시한 평면도.
도 4는 웨이퍼의 결함을 확대하여 나타낸 평면 사진.
도 5는 본 발명에 따른 자동 세정 장치를 도시한 개략도.
도 6은 본 발명에 따른 자동 세정 장치의 스프레이 노즐을 도시한 개략도.
도 7은 본 발명에 따른 스프레이 노즐의 분사구를 도시한 개략도.
도 8은 본 발명에 따른 I-형 스프레이 노즐을 도시한 개략도.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 세정 장치를 이용한 로봇 암 자동 세정 방법을 도시한 순서도.
본 발명은 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법에 관한 것으로, 본 발명은 반도체 소자를 형성하기 위한 공정에서 사용되는 웨이퍼 이송용 로 봇 암에 부착된 불순물이 웨이퍼에 결함을 유발시키는 문제를 해결하기 위하여, 로봇 암 자동 세정 장치를 구비하되 자동 세정 장치 내에 스프레이 노즐, 세정용매 및 기체 공급부와 배출구를 구비시킴으로써 로봇 암의 청정도를 항상 우수하게 유지시킬 수 있도록 하는 발명에 관한 것이다.
도 1은 웨이퍼 이송용 로봇 암을 도시한 개략도이다.
도 1을 참조하면, 웨이퍼를 흡착하여 웨이퍼를 이동시키는 웨이퍼 흡착부(10)가 구비되며, 웨이퍼 흡착부(10)가 자유롭게 움직일 수 있도록 하는 관절부(20)가 구비된다. 관절부(20)는 로봇 암의 본체에 해당하는 구동부(10)와 연결되어 웨이퍼 흡착부(10)의 기능이 정상적으로 수행될 수 있도록 한다.
도 2는 로봇 암의 웨이퍼 흡착부 및 웨이퍼 캐리어를 도시한 개략도이다.
도 2를 참조하면, 웨이퍼 흡착부(10)의 에지부를 도시한 것으로, 웨이퍼 흡착부(10)에 불순물(40)이 부착되어 있다. 이러한 웨이퍼 흡착부(10)가 웨이퍼 캐리어(50) 내부로 들어갈 경우 불순물(40)이 웨이퍼(60)에 부착되어 웨이퍼 결함을 발생시킬 수 있다.
도 3은 웨이퍼에 결함이 발생한 것을 도시한 평면도이다.
도 3을 참조하면, 웨이퍼(60) 중심부에 웨이퍼 흡착부(10)가 유입되는 방향으로 결함이 발생한 것을 알 수 있다.(ⓐ 영역 참조)
도 4는 웨이퍼의 결함을 확대하여 나타낸 평면 사진으로, 도 3의 ⓐ 영역을 확대하여 나타낸 것이다. 웨이퍼 흡착부(10)에 부착되어 있던 불순물에 의해 웨이퍼가 긁혀져 나가는 결함이 발생하였다.
상술한 바와 같이, 반도체 소자의 형성 공정에 있어서 사소한 불순물도 큰 결함으로 나타날 수 있다. 특히, 웨이퍼를 낱개 단위로 이송하는 로봇 암은 웨이퍼가 적재되어 있는 웨이퍼 캐리어 내부로 진입한 후 웨이퍼의 중심부를 들어올려 캐리어 밖으로 빠져나오는 방식을 사용하기 때문에 웨이퍼에 스크래치(Scratch)를 발생시킬 위험이 높다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 웨이퍼 이송용 로봇 암과 근접한 위치에 자동 세정 장치를 구비시키되, 자동 세정 장치 내에 미립자 크기의 세정용매를 분사할 수 있는 스프레이 노즐 및 불순물 분사 장치를 구비시킴으로써, 로봇 암을 효율적으로 세정할 수 있는 자동 세정 장치 및 이를 이용한 자동 세정 방법을 제공하는 것을 그 목적으로 한다.
본 발명은 상기와 같은 목적을 달성하기 위한 것으로서, 본 발명에 자동 세정 장치는 박스 표면의 일 측에 형성되며 로봇 암(Robot Arm)의 웨이퍼 흡착부가 출입하는 출입구와, 웨이퍼 흡착부가 상기 박스 내부로 들어갔을 때 상기 웨이퍼 흡착부의 인접부에 위치하는 스프레이 노즐과, 스프레이 노즐과 연결되는 세정용매 공급부와, 스프레이 노즐과 연결되는 세정기체 공급부 및 박스 표면의 타 측에 형성되며 박스 내부의 공기를 배출하는 배출부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 스프레이 노즐은 세정용매 및 기체를 고속으로 분사하는 분사구를 적어도 하나 이상 포함하고, 상기 웨이퍼 흡착부를 스캔하는 방식으로 유동 가능 며, 웨이퍼 흡착부의 상부 및 하부에 각각 형성되는 것을 특징으로 한다.
아울러, 본 발명에 따른 자동 세정 장치를 이용한 로봇 암 자동 세정 방법은 로봇 암(Robot Arm)의 웨이퍼 흡착부를 자동 세정 장치의 출입구로 주입하는 단계와, 세정용매 공급부 및 세정기체 공급부와 연결되어 있는 스프레이 노즐을 상기 웨이퍼 흡착부에 근접시키는 단계와, 웨이퍼 흡착부에 세정용매을 분사하는 단계와, 웨이퍼 흡착부에 세정기체를 분사하여 상기 웨이퍼 흡착부에 잔류하는 세정용매을 증발시키는 단계 및 증발된 세정가스를 자동 세정장치의 배출부를 통하여 배출시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
여기서, 자동 세정 장치는 트랙 장비, 오버레이 장비, CD-SEM 장비 및 PWI 장비의 로봇 암에 모두 적용 가능하고, 세정용매는 DI수(DI Water), 시너(Thinner), IPA 및 이들의 혼합용매 중 선택된 어느 하나를 사용하고, 세정기체는 N2를 포함하고, 스프레이 노즐은 스캐닝 방식으로 웨이퍼 흡착부를 세정 공정을 수행하고, 스프레이 노즐은 상기 웨이퍼 흡착부의 상부 및 하부에 각각 구비되어 세정용매 및 세정기체를 분사하는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참고로 하여 본 발명에 따른 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 자동 세정 방법에 관하여 상세히 설명하면 다음과 같다.
도 5는 본 발명에 따른 자동 세정 장치를 도시한 개략도이다.
도 5를 참조하면, 자동 세정 장치(200)가 박스 형태로 구비되며, 박스 표면의 일 측에 로봇 암의 웨이퍼 흡착부(100)가 출입할 수 있도록 구비된 출입구(210) 가 존재한다. 출입구(210)로 웨이퍼 흡착부(100)가 들어갔을 때 웨이퍼 흡착부의 인접부에 위치한 스프레이 노즐이 구비된다. 이때, 스프레이 노즐은 웨이퍼 흡착부(100)의 상부에 위치하는 제 1 스프레이 노즐(220) 및 하부에 위치하는 제 2 스프레이 노즐(230) 2개가 구비된다. 제 1 및 제 2 스프레이 노즐에는 세정용매 공급부 및 세정기체 공급부가 연결된다. 자동 세정 장치(200)의 박스 표면 타 측에 박스 내부의 공기를 배출하는 배출부(270)가 구비된다.
이상의 자동 세정 장치(200)를 이용한 로봇 암의 세정 공정은 다음과 같다. 먼저, 로봇 암의 웨이퍼 흡착부(100)를 자동 세정 장치(200)의 출입구(210)로 주입한다. 다음에는, 세정용매 공급부(미도시) 및 세정기체 공급부(미도시)와 연결되어 있는 스프레이 노즐(220, 230)을 웨이퍼 흡착부에 근접시키고, 세정용매을 스캐닝 방식으로 분사하여 웨이퍼 흡착부(100)를 세정한다. 그 다음에는, 동일한 스프레이 노즐(220, 230)을 이용하여 세정기체를 분사하고 세정 공정에서 잔류하는 웨이퍼 흡착부(100)의 세정용매을 증발시킨다. 이와 같은 작용에 의하여 웨이퍼 흡착부(100)에 잔류하는 불순물이 제거 되는데, 이러한 불순물은 세정용매 및 기체와 함께 자동 세정 장치 내에 잔류하므로 배출부(270)에서 지속적으로 자동 세정 장치 내의 공기를 흡수하고 이를 세정 장치 외부로 배출한다.
여기서, 세정용매는 DI수(DI Water), 시너(Thinner), IPA 및 이들의 혼합용매 중 선택된 어느 하나를 사용하고, 세정기체는 N2를 포함하는 기체를 사용하는 것이 바람직하다.
도 6은 본 발명에 따른 자동 세정 장치의 스프레이 노즐을 도시한 개략도이다.
도 6을 참조하면, 스프레이 노즐(280)의 일 측에 세정용매 공급부(250) 및 세정기체 공급부(260)가 구비되고, 타측 에지부에는 공급된 세정용매 및 기체를 고속으로 분사하는 분사구(240)를 구비된다. 여기서, 스프레이 노즐(280)은 웨이퍼 흡착부(100)를 스캔하는 방식으로 이동하며 세정 공정을 수행한다. 이때, 스프레이 노즐(280)은 웨이퍼 흡착부(100)의 상부 및 하부에 각각 구비되어 세정 공정을 더 효율적으로 수행할 수 있으며, 분사구(240)는 적어도 하나 이상 형성하여 원형 또는 I-형의 스프레이 노즐(280)을 형성할 수 있다.
도 7은 본 발명에 따른 스프레이 노즐의 분사구를 도시한 개략도이다.
도 7을 참조하면, 스프레이 노즐(280)에서 분사 압력 세기 및 속도를 조절하고 분사구(240)를 통하여 세정용매(245)가 미립자 크기로 분사된다.
도 8은 본 발명에 따른 I-형 스프레이 노즐을 도시한 개략도이다.
도 8을 참조하면, 다수의 분사구(240)가 일렬로 배열되어 I-형의 스프레이 노즐(290)을 형성한다.
도 9는 본 발명의 일실시예에 따른 자동 세정 장치를 이용한 로봇 암 자동 세정 방법을 도시한 순서도이다.
도 9를 참조하면, 대기 상태의 로봇 암에 소정의 공정이 부여되면, 로봇 암은 소정의 공정을 진행(Run)한다.
다음에는, 진행이 완료된 로봇 암을 자동 세정 장치로 이동시킨다. 이때, 자 동 세정 장치는 트랙 장비, 오버레이 장비, CD-SEM 장비 및 PWI 장비의 로봇 암에 모두 적용 가능하다.
그 다음에는, 자동 세정 장치 내부에서 DI수를 이용한 스캔 클리닝(Scan Cleaning) 공정 및 N2 기체를 이용한 DI수 증발 과정을 수행하여 웨이퍼 흡착부를 세정한다.
그 다음에는, 세정 공정이 수행된 로봇 암을 장비 대기 상태로 원위치한다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 자동 세정 방법은 트랙 장비, 오버레이 장비, CD-SEM 장비 및 PWI 장비의 로봇 암이 근접한 위치에 자동 세정 장치를 구비시키고 자동 세정 장치 내에 미립자 크기의 세정용매를 분사할 수 있는 스프레이 노즐 및 불순물 분사 장치를 구비시킴으로써, 로봇 암을 효율적으로 세정하고 웨이퍼 이송 과정에서 발생할 수 있는 웨이퍼의 결함을 방지할 수 있다. 여기서, 자동 세정 장치는 스프레이 노즐, 세정용매 및 기체 공급부와 배출구와 같은 간단한 구성 요소로 구비되므로 공정 장비에 따라서 크기 조절이 가능하며 공정 설비를 구성하는데 큰 부담이 발생하지 않는다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명은 웨이퍼 이송용 로봇 암에 부착된 불순물이 웨이퍼에 결함을 유발시키는 문제를 해결하기 위하여, 로봇 암 자동 세정 장치를 구비하되 자동 세정 장치 내에 스프레이 노즐, 세정용매 및 기체 공급부와 배출구를 구비시킴으로써 로봇 암의 청정도를 항상 우수하게 유지시킬 수 있다. 따 라서, 반도체 소자의 형성 공정 중 발생할 수 있는 웨이퍼의 결함을 방지할 수 있고 반도체 소자의 형성 공정 마진 및 신뢰성을 향상시킬 수 있는 효과를 제공한다.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예는 예시의 목적을 위한 것으로, 당업자라면 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상과 범위를 통해 다양한 수정, 변경, 대체 및 부가가 가능할 것이며, 이러한 수정 변경 등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.

Claims (10)

  1. 박스 표면의 일 측에 형성되며 로봇 암(Robot Arm)의 웨이퍼 흡착부가 출입하는 출입구;
    상기 웨이퍼 흡착부가 상기 박스 내부로 들어갔을 때 상기 웨이퍼 흡착부의 인접부에 위치하는 스프레이 노즐;
    상기 스프레이 노즐과 연결되는 세정용매 공급부;
    상기 스프레이 노즐과 연결되는 세정기체 공급부; 및
    상기 박스 표면의 타 측에 형성되며 박스 내부의 공기를 배출하는 배출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 세정 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 스프레이 노즐은 세정용매 및 기체를 고속으로 분사하는 분사구를 적어도 하나 이상 포함하는 것을 특징으로 하는 자동 세정 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 스프레이 노즐은 상기 웨이퍼 흡착부를 스캔하는 방식으로 유동 가능한 것을 특징으로 하는 자동 세정 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 스프레이 노즐은 상기 웨이퍼 흡착부의 상부 및 하부에 각각 형성되는 것을 특징으로 하는 자동 세정 장치.
  5. 로봇 암(Robot Arm)의 웨이퍼 흡착부를 자동 세정 장치의 출입구로 주입하는 단계;
    세정용매 공급부 및 세정기체 공급부와 연결되어 있는 스프레이 노즐을 상기 웨이퍼 흡착부에 근접시키는 단계;
    상기 웨이퍼 흡착부에 세정용매을 분사하는 단계;
    상기 웨이퍼 흡착부에 세정기체를 분사하여 상기 웨이퍼 흡착부에 잔류하는 세정용매을 증발시키는 단계; 및
    상기 증발된 세정가스를 자동 세정장치의 배출부를 통하여 배출시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 로봇 암 자동 세정 방법.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 자동 세정 장치는 트랙 장비, 오버레이 장비, CD-SEM 장비 및 PWI 장비의 로봇 암에 모두 적용 가능한 것을 특징으로 하는 로봇 암 자동 세정 방법.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 세정용매는 DI수(DI Water), 시너(Thinner), IPA 및 이들의 혼합용매 중 선택된 어느 하나를 사용하는 것을 특징으로 하는 로봇 암 자동 세정 방법.
  8. 제 5 항에 있어서,
    상기 세정기체는 N2를 포함하는 것을 특징으로 하는 로봇 암 자동 세정 방법.
  9. 제 5 항에 있어서,
    상기 스프레이 노즐은 스캐닝 방식으로 웨이퍼 흡착부를 세정 공정을 수행하는 것을 특징으로 하는 로봇 암 자동 세정 방법.
  10. 제 5 항에 있어서,
    상기 스프레이 노즐은 상기 웨이퍼 흡착부의 상부 및 하부에 각각 구비되어 세정용매 및 세정기체를 분사하는 것을 특징으로 하는 로봇 암 자동 세정 방법.
KR1020060048671A 2006-05-30 2006-05-30 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법 KR20070114959A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060048671A KR20070114959A (ko) 2006-05-30 2006-05-30 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020060048671A KR20070114959A (ko) 2006-05-30 2006-05-30 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20070114959A true KR20070114959A (ko) 2007-12-05

Family

ID=39141484

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020060048671A KR20070114959A (ko) 2006-05-30 2006-05-30 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20070114959A (ko)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101103561B1 (ko) * 2009-07-13 2012-01-06 로체 시스템즈(주) 웨이퍼 이송용 로봇의 핑거 세정방법 및 이를 위한 클리너 모듈
WO2017220105A1 (en) 2016-06-20 2017-12-28 Abb Schweiz Ag Apparatus, system and method for cleaning an elongated object
WO2021187471A1 (ja) * 2020-03-19 2021-09-23 株式会社イシダ 物品把持装置

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101103561B1 (ko) * 2009-07-13 2012-01-06 로체 시스템즈(주) 웨이퍼 이송용 로봇의 핑거 세정방법 및 이를 위한 클리너 모듈
WO2017220105A1 (en) 2016-06-20 2017-12-28 Abb Schweiz Ag Apparatus, system and method for cleaning an elongated object
WO2021187471A1 (ja) * 2020-03-19 2021-09-23 株式会社イシダ 物品把持装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR100226548B1 (ko) 웨이퍼 습식 처리 장치
KR100271772B1 (ko) 반도체 습식 식각설비
KR102482211B1 (ko) 기판 처리 장치, 기판 처리 방법 및 기억 매체
JP7197376B2 (ja) 基板処理方法及び基板処理装置
US6605153B2 (en) Coating film forming apparatus
JP2007258462A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
KR101236810B1 (ko) 기판 이송 장치 및 이를 구비하는 기판 처리 장치 그리고 그의 처리 방법
TWI698922B (zh) 基板處理方法及基板處理裝置
KR20120138203A (ko) 기판 세정 장치
JP2004074021A (ja) 基板処理装置及び基板洗浄ユニット
JP7055467B2 (ja) 半導体ウェハの洗浄方法及び洗浄装置
JP2013138051A (ja) 基板処理装置および基板処理方法
CN110694991A (zh) 晶圆清洗装置
KR20120015662A (ko) 기판 처리 장치
JP4109175B2 (ja) 半導体製造装置
KR101499681B1 (ko) 기판 세정 장치의 챔버 배열 구조
KR20070114959A (ko) 자동 세정 장치 및 이를 이용한 로봇 암 세정 방법
US20070193607A1 (en) Methods and apparatus for cleaning edges of a substrate
US20110259521A1 (en) Substrate treatment apparatus
JP2005101524A (ja) 基板保持用チャックの洗浄・乾燥装置及び基板保持用チャックの洗浄・乾燥方法
KR102346493B1 (ko) 기판 처리 방법 및 기판 처리 장치
KR20120056485A (ko) 풉 세정용 퍼지시스템
JP2010267654A (ja) 洗浄装置、基板処理システム、洗浄方法、プログラムおよび記憶媒体
JP2006051504A (ja) 塗布装置
KR102284471B1 (ko) 처리액 노즐 및 기판 처리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
WITN Withdrawal due to no request for examination