KR20070007512A - 평판형 x선원을 이용한 디지털 x선 영상 시스템 및 이를이용한 x선 영상 검출방법 - Google Patents

평판형 x선원을 이용한 디지털 x선 영상 시스템 및 이를이용한 x선 영상 검출방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템 및 이를 이용한 X선 영상 검출 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 매트릭스 형태로 배열된 픽셀 형태의 캐소드와, 상기 캐소드에 대향하여 구비되고 상기 캐소드에 대향하는 측면에는 상기 캐소드로부터 가속된 전자가 입사되는 타겟 물질이 적층되어 있는 평판형 애노드를 포함하여 구성되어, 상기 픽셀 형태로 구비된 캐소드를 개별 구동하여 X선을 발생시키는 평판형 X선원과; 상기 X선원으로부터 X선이 방출되는 면에 접촉되어 구비되고, 상기 X선의 진행방향을 결정하는 제1그리드와; 상기 제1그리드를 통해 방출되어 피사체를 통과한 X선을 선택적으로 입사시키는 제2그리드와; 상기 평판형 X선원과 동일한 면적을 갖고, 상기 제2그리드에 밀착되어 구비되며 상기 제2그리드를 통해 입사된 X선에 반응하여 가시광선을 발생시키는 형광 스크린과, 상기 형광 스크린에 의해 발생된 가시광선을 광 검출기로 안내하는 광 가이드와, 상기 광 가이드를 통해 안내된 가시광선을 영상신호로 변환시키는 광 검출기로 이루어지는 디지털 X선 검출기와; 상기 평판형 X선원과 디지털 X선 검출기에 연결되어 상기 평판형 X선원과 상기 디지털 X선 검출기의 동작을 동기화시키고, 픽셀 형태로 배열된 상기 평판형 X선원의 각 캐소드들의 동작 순서를 제어하며 상기 디지털 X선 검출기로부터 전달된 영상신호를 영상화 및 저장하는 마이크로프로세서;를 포함하여 구성됨으로써 좁은 공간에서 적은 양의 X선을 이용하면서도 고 해상도의 X선 영상을 획득할 수 있기 때문에 피사체가 X선에 과도하게 노출되는 것을 방지하고, 디 지털 X선 검출기의 구조를 단순하게 하여 제조비용을 절감할 수 있는 기술에 관한 것이다.
평판형 X선원, 디지털 X선 영상 시스템, 탄소나노튜브, 신호증배

Description

평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템 및 이를 이용한 X선 영상 검출방법{A digital radiography system using a flat-panel type X-ray source and the method of using the same}
도 1 은 종래기술에 따른 X선 발생장치를 간략하게 도시한 단면도.
도 2 는 종래기술에 따른 디지털 X선 영상 시스템을 간략하게 도시한 구성도.
도 3 은 도 2에 도시된 종래의 디지털 X선 영상 시스템에 사용되는 광 검출기의 구성을 보여주는 사시도.
도 4 는 본 발명에 따른 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템의 구성을 간략하게 도시한 구성도.
도 5 는 본 발명에 따른 전계방출소자를 이용한 평판형 X선원에 있어서, 각각의 픽셀 타입의 캐소드들을 선택적으로 구동하기 위한 제어회로의 구성을 설명하기 위한 도면.
도 6 은 본 발명에 따른 전계방출소자를 이용한 평판형 X선원의 구동 원리를 설명하기 위한 개념도.
도 7 은 본 발명에 따른 디지털 X선 영상 시스템에 사용되는 X선 검출기의 구성을 도시한 분해 사시도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
110, 200 : X선원 111 : 진공관
112, 210 : 캐소드 113, 222 : 애노드
114, 220 : 타겟물질 115, 214 : 전자빔
120, 224 : X선 130, 300 : 피사체
140, 500 : 디지털 X선 검출기 142 : 그리드
144, 540 : 광 검출기 150, 600 : 마이크로 프로세서
202 : 기판 232 : 스위칭 수단
234 : 열 스캐닝 드라이버 236 : 행 스캐닝 드라이버
238 : 전원 250 : 제1그리드
260 : 차폐막 252 : X선 흡수영역
254 : X선 투과영역 510 : 제2그리드
520 : 형광 스크린 530 : 광 가이드
본 발명은 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상시스템 및 이를 이용한 X선 영상 검출방법에 관한 것으로서, 종래의 시스템보다 좁은 공간에서 적은 양의 X선을 이용하면서도 고 해상도의 디지털 X선 영상을 제공할 수 있는 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상시스템 및 이를 이용한 X선 영상 검출방법에 관한 것이다.
최근 디지털 산업의 발전에 따라 의학영상장비들도 디지털 방식으로 전환 및 향상되어 가고 있다. 이러한 양상의 일환으로 최근에는 기존의 X선관과 디지털 방사선 영상 검출기를 이용하여 디지털 방식의 X선 영상을 획득하는 디지털 X선 영상장치(digital radiography, DR)가 개발되어 기존의 X선 필름을 대체하고 있으며, 진단 능력을 향상시키기 위하여 더욱 고품질의 X선 영상이 요구된다.
일반적으로 임상용 및 산업용으로 사용되는 X선은 초창기에 발명된 X선관을 통해 발생된다. 도 1 은 종래기술에 따른 X선 발생장치를 나타내는 단면도로서, 진공관(111) 내에 구비되는 필라멘트 형상의 캐소드(112)로부터 가속된 전자빔(115)이 고 에너지 상태로 애노드(113) 상의 타겟 물질(114)에 입사되어 원추형 빔(cone beam) 타입의 X선(120)을 발생시키는 원리를 나타낸다.
디지털 X선 영상장치에 있어서는 X선을 검출하여 영상화하는데 있어서, 기존의 필름 대신 디지털 방식의 X선 영상 검출기를 이용하는 시스템이 개발되어 사용되고 있다. 디지털 X선 영상 검출기는 매트릭스 형태의 배열을 이루고 있는 픽셀(pixel) 타입의 소형 광 검출기들이 각각의 위치 별로 흡수되는 X선의 에너지를 직접 또는 간접적으로 검출하여 흡수된 X선의 에너지와 위치에 대한 정보를 디지털화하여 마이크로프로세서로 전송함으로써 X선을 저장 또는 영상화한다.
X선을 검출하기 위한 디지털 X선 검출기의 종류는 X선을 광 검출기가 직접 흡수하여 그 흡수된 에너지에 비례하는 전기 신호를 출력하는 직접 방식과, X선을 형광 스크린(scintillator)에 흡수시키고, 상기 형광 스크린에 흡수된 X선의 에너지에 비례하여 형광 스크린에서 발생되는 가시광선을 픽셀 형태의 광 검출기에서 흡수한 가시광선의 양에 비례하는 전기 신호를 출력하는 간접 방식으로 구분할 수 있다.
집접 방식으로 X선을 검출하는 광 검출기는 비정질 셀레늄을 센서 물질로 사용하고, 평판형 구조를 이루고 있다. 직접 방식의 경우 형광 스크린을 사용하지 않고 X선을 픽셀 형태의 광 검출기에서 직접 검출하므로 공간 분해능이 픽셀 크기에 의해서만 결정된다. 하지만 충분한 검출 효율을 확보하기 위해서는 광 검출기의 두께가 충분히 두꺼워야 하고, 이 두께에 충분한 전기장을 형성하기 위해서는 고전압을 사용해야 하기 때문에 전기적인 안정성이 상대적으로 미흡하고, 직접 방식에 사용되는 비정질 셀레늄은 물질의 특성 상 사용 온도의 제한이 있어 실외에서 사용하기에는 주의가 필요하며, 잔상에 의한 이미지 랙(image lag)이 다소 심하다는 단점이 있다.
간접 방식으로 X선을 검출하는 광 검출기는 비정질 실리콘을 센서 물질로 사용하고 평판형 구조로 이루어져 있거나, 광학 렌즈와 병용하여 CCD(Charge-coulped device)나 CMOS 카메라를 사용하는 종류가 있다. 간접 방식 중 비정질 실리콘을 센서 물질로 이용하는 방식은 픽셀 구조의 비정질 실리콘 광 다이오드가 넓은 면적에 걸쳐 매트릭스 형태로 배열되고, 이와 형광 스크린을 바로 접합함으로써 형광 스크린에서 발생하는 가시광선의 영상을 바로 접해있는 광 다이오드에서 검출하는 원리를 이용하고 있으며, X선에 대한 검출 효율이 높다는 장점을 가지고 있다. 여기서, 출력 신호는 흡수된 가시광선의 양에 비례하고, 상기 가시광선의 양은 형광 스크린에 흡수된 X선의 에너지에 비례하므로, 결국 최종 출력 신호는 흡수된 X선의 에너 지에 비례하게 된다. 또한 원자번호와 밀도가 높은 물질을 형광 스크린으로 사용함으로써 X선에 대한 검출 효율이 좋고 광 검출기를 작동하는데 낮은 전압으로도 충분하므로 전기적 안정성이 우수하다. 하지만 형광 스크린을 사용함에 있어, 형광 스크린 내부에 X선이 흡수될 때 그 위치에서 발생하는 가시광선들이 산란되어 원래 X선이 흡수되는 지점에 해당하는 픽셀뿐만 아니라 주변의 픽셀에서도 가시광선이 검출되므로 공간 분해능이 저하되는 단점이 있다. 한편, 간접 방식의 X선 검출 방식 중 광학 렌즈와 CCD 또는 CMOS 카메라를 병용해서 사용하는 방식은 형광 스크린에서 형성되는 영상을 광학 렌즈를 통해 카메라로 포착함으로써 영상을 획득하는 원리를 이용하며 제작 비용이 전자에 비해 상대적으로 저렴하다는 이점이 있다. 그러나 이러한 방식은 별도의 광 증배 기능이 없기 때문에 형광 스크린에서 발생하는 광량의 대부분이 손실되고 아주 낮은 비율의 광량만이 렌즈에 도달하기 때문에 충분한 광량을 확보하기 위해서는 많은 양의 X선이 필요하다는 단점이 있다.
도 2 는 종래기술에 따른 디지털 X선 영상 시스템을 개략적으로 도시한 구성도이고, 도 3 은 도 2에 도시된 종래의 디지털 X선 영상 시스템에 사용되는 광 검출기의 구성을 보여주는 사시도이다.
도 2를 참조하면, 피사체(130)가 X선관(110)과 디지털 X선 검출기(140) 사이에 위치하고, 마이크로프로세서(150)로부터의 신호에 따라 X선관(110)에서 방출되는 원추형 빔 타입의 X선(120)이 피사체(130)에 조사되고, 피사체(130)를 통과한 X선(120)이 디지털 X선 검출기(140)를 통해 검출되어 상기 디지털 X선 검출기(140)에 연결된 마이크로프로세서(150)의 디스플레이를 통해 영상을 획득하는 과정이 나 타나 있다. 상기 디지털 X선 검출기(140)는 매트릭스 형태 배열로 이루어진 광 검출기(144)를 구비한다.
상기한 바와 같이 종래기술에 따른 X선은 원추형 빔 타입으로 방출되어 피사체의 구조가 기하학적으로 확대되어 획득된 영상에 왜곡이 발생하는 것을 방지하기 위해 거의 평행한 형태의 X선을 얻기 위해서는 X선원과 피사체 간에 어느 정도 거리를 유지하여야 한다. 이는 더욱 강력한 X선을 요구하여 X선이 발생하는 과정에서 대부분의 전자 에너지는 열로 변환되어 X선관에 부하가 과도하게 인가됨으로써 X선관의 수명이 저하되는 등의 문제점이 발생하였다. 또한, X선은 피사체를 통과하면서 많은 양이 산란되고, 산란된 X선이 예정된 위치의 광 검출기에 인접한 다른 광 검출기에서 검출되어 노이즈로 작용하기 때문에 X선 영상의 대조도가 저하되는 문제점이 있다. 따라서 매트릭스 형태로 배열된 광 검출기(144) 전면에 비산란 그리드(142)를 설치하여 산란선에 의한 노이즈가 발생하는 것을 방지하였다. 그러나 이와 같이 피사체를 통과하면서 산란된 X선에 의한 노이즈를 방지하기 위하여 비산란 그리드를 설치하는 경우, 그리드의 라인 간격과 매트릭스 형태로 구비되는 디지털 광 검출기의 픽셀 크기와의 차이에 의해 그리드 라인에 대한 위신호(aliasing) 효과가 발생하고, 그리드 라인의 비균질도로 인해 무아레(Moire)현상이 발생하여 진단의 오류를 유발하는 문제점이 있다.
따라서, 본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위하여 전계방출소자를 이용한 평판형 X선원을 사용하여 면광원으로부터의 평행한 형태의 X선을 얻을 수 있으므로 X선원과 피사체 간의 거리를 단축시켜 X선 촬영 공간을 감소시킬 수 있고, 광 증배 수단을 구비하는 디지털 X선 검출기를 사용함으로써 적은 양의 X선으로도 고해상도의 영상을 획득할 수 있으며, 피사체의 방사선 피폭량을 줄일 수 있는 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템 및 이를 이용한 X선 검출방법을 제공하는데 목적이 있다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템은,
매트릭스 형태로 배열된 픽셀 형태의 캐소드와, 상기 캐소드에 대향하여 구비되고 상기 캐소드에 대향하는 측면에는 상기 캐소드로부터 가속된 전자가 입사되는 타겟 물질이 적층되어 있는 평판형 애노드를 포함하여 구성되어, 상기 픽셀 형태로 구비된 캐소드를 개별 구동하여 X선을 발생시키는 평판형 X선원과;
상기 X선원으로부터 X선이 방출되는 면에 접촉되어 구비되고, 상기 X선의 진행방향을 결정하는 제1그리드와;
상기 제1그리드를 통해 방출되어 피사체를 통과한 X선을 선택적으로 입사시키는 제2그리드와;
상기 평판형 X선원과 동일한 면적을 갖고, 상기 제2그리드에 밀착되어 구비되며 상기 제2그리드를 통해 입사된 X선에 반응하여 가시광선을 발생시키는 형광 스크린과, 상기 형광 스크린에 의해 발생된 가시광선을 광 검출기로 안내하는 광 가이드와, 상기 광 가이드를 통해 안내된 가시광선을 영상신호로 변환시키는 광 검 출기로 이루어지는 디지털 X선 검출기와;
상기 평판형 X선원과 디지털 X선 검출기에 연결되어 상기 평판형 X선원과 상기 디지털 X선 검출기의 동작을 동기화시키고, 픽셀 형태로 배열된 상기 평판형 X선원의 각 캐소드들의 동작 순서를 제어하며 상기 디지털 X선 검출기로부터 전달된 영상신호를 영상화 및 저장하는 마이크로프로세서를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기한 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템을 이용한 X선 영상 검출방법은,
상기 구성으로 이루어지는 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템을 이용한 X선 영상 검출방법에 있어서,
마이크로프로세서에 픽셀 형태로 배열된 상기 평판형 X선원의 각 캐소드들의 동작 순서를 입력하는 단계와;
각 픽셀에 해당하는 영상 신호를 순차적으로 생성하기 위해서 X선원과 디지털 X선 검출기의 동작을 동기화시키는 단계와;
입력된 스캔 순서에 의해 해당하는 픽셀의 캐소드에 전원을 인가하여 선택된 순서에 따라 순차적으로 X선원의 각 픽셀에서 X선을 방출시키는 단계와;
피사체를 통과한 X선을 디지털 X선 검출기로 검출하여 각 픽셀에 대응하는 영상신호를 마이크로프로세서로 전달하는 단계와;
상기 마이크로프로세서에 전달된 영상신호를 취합하여 영상을 구현하고, 이를 디스플레이시키거나 또는 저장하는 단계를 포함하여 구성된다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예를 첨부 도면을 참고로 하여 상세하게 설명 하면 다음과 같다.
도 4 는 본 발명에 따른 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템의 구성을 간략하게 도시한 구성도이고, 도 5 는 본 발명에 따른 전계방출소자를 이용한 평판형 X선원에 있어서, 각각의 픽셀 타입의 캐소드들을 선택적으로 구동하기 위한 제어회로의 구성을 설명하기 위한 도면이다.
먼저, 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 디지털 X선 영상 시스템은 전계방출소자로 이루어지고, 순차적으로 스캔하여 평행한 형태의 X선을 방출할 수 있는 평판형 X선원(200)과, X선원으로부터 방출된 X선의 형태 및 진행 방향을 결정하며, 상기 X선원(200)의 전면에 구비되는 제1그리드(250)와, 피사체(300)를 투과하면서 산란된 X선을 흡수하고, 비산란 X선만이 디지털 X선 검출기(500)로 입사되도록 유도하는 제2그리드(510)와, 피사체(300)를 투과하여 입사된 X선을 영상 신호로 전환시키는 디지털 X선 검출기(500)와, X선원(200) 및 디지털 X선 검출기(500)를 제어하고 영상 신호를 취합하여 영상을 구성하고, 이를 디스플레이하거나 저장하는 마이크로프로세서(600)로 이루어진다.
도 5를 참조하면, 상기 X선원(200)은 매트릭스 형태로 배열된 픽셀 형태의 캐소드(210)가 행 스캐닝 드라이버(236)와 열 스캐닝 드라이버(234) 및 전원(238)에 각각 연결되고, 상기 캐소드(210)에 대향하여 구비되는 애노드(222)가 전원(238)에 연결되어 이루어진다. 이때, 상기 캐소드(210)는 스캔 드라이버들(234, 236)과 전원(238) 사이에 스위칭 수단(232)을 갖는다. 상기 스캔 드라이버들(234, 236)은 마이크로프로세서(600)에 각각 연결되어 있다.
X선원은 다음과 같은 방법으로 구동된다.
미리 입력된 동작 순서에 따라 마이크로프로세서(600)로부터 스캔신호가 각 스캔 드라이버들(234, 236)에 전송되면, 각 스캔 드라이버들(234, 236)은 전송된 신호에 따라 해당 픽셀의 스위칭 수단(232)을 온(on)시켜 선택된 픽셀의 캐소드(210)에 전원(238)이 인가되고, 캐소드(210)와 애노드(222) 간의 전압차에 의해 선택된 픽셀에서 전자빔(214)이 발생된다. 전자빔(214)은 상기 애노드(222) 상의 타겟 물질(220)을 타격하여 X선(224)을 발생시킨다. (도 6 참조)
다음은 본 발명에 따른 X선 영상 시스템을 구성하는 각 구성 요소에 대하여 설명한다.
도 6 은 본 발명에 따른 전계방출소자를 이용한 평판형 X선원의 구동 원리를 설명하기 위한 개념도이고, 도 7 은 본 발명에 따른 디지털 X선 영상 시스템에 사용되는 X선 검출기의 구성을 도시한 분해 사시도로서, 도 4와 연관지어 설명한다.
상기 X선원(200)은 진공챔버(도시 않됨) 내의 기판(202) 상에 매트릭스 형태로 배열된 픽셀 형태의 캐소드(210)와, 상기 캐소드(210)에 대향하여 구비되고, 캐소드(210)에 대향하는 측면에 캐소드(210)로부터 가속된 전자빔이 입사되는 타겟 물질(220)이 적층된 평판형 애노드(222)를 구비하는 전계방출소자로 이루어진다. 이때, 구동 전압을 낮추고, 고전압 스위칭에 유리하게 할 수 있도록 상기 캐소드(210)와 애노드(222) 사이에 게이트전극(도시안됨)을 더 구비할 수도 있다.
상기 캐소드(210)는 마이크로 팁, 금속-절연체의 합성물, 다이아몬드계 재료(DLC; Diamon Like Carbon), 나노물질 등이 사용될 수 있으며,바람직하게는 높은 전계 방출 특성을 갖는 탄소나노튜브(CNT; Carbon Nano Tube)를 금속류의 캐소드 물질 상에 적층하여 사용할 수 있다.
상기 애노드(222)는 알루미늄 또는 구리로 이루어진다. 이때, 상기 애노드(222)는 낮은 에너지를 갖는 X선을 여과하는 필터로 작용된다. 즉, 타겟 물질(220)에서 발생되는 X선(224) 중 영상 획득에 도움이 되지 않는 비교적 낮은 에너지를 갖는 X선(224)은 필터 작용을 하는 애노드(222)에 흡수되어 피사체(300)에 대한 불필요한 방사선의 조사를 억제한다. 상기 애노드(222)는 알루미늄으로 형성되는 경우 1 내지 2.5㎜ 두께로 형성될 수 있다. 그리고, 상기 타겟 물질(220)은 텅스텐 또는 텅스텐 합금 물질로 이루어지며, 유방암 검사 장비인 마모그래피(mammography) 장비에서는 몰리브데늄으로 이루어질 수도 있다. 상기 타겟 물질(220)은 보통 수 내지 수십 ㎛의 두께로 이루어지며, 텅스텐을 사용하는 경우 20 내지 30㎛ 두께로 형성된다.
상기 X선원(200) 전면에는 X선원(200)과 동일한 면적을 갖는 매트릭스 형태의 제1그리드(250)가 더 구비된다. 상기 제1그리드(250)는 X선원(200)으로부터 방출되는 X선(224)의 진행 방향을 결정한다. 상기 제1그리드(250)는 X선 투과영역(254)과 X선 흡수영역(252)으로 나뉜다. 이때, X선 투과영역(254)은 그래파이트 파이버 또는 플라스틱으로 형성될 수 있고, X선 흡수영역(252)은 납 또는 쎄로벤드(cerrobend)로 형성될 수 있다. 상기 제1그리드(250)는 X선의 형태를 펜슬 빔 형태로 형성하고, 평행한 형태의 X선이 방출될 수 있도록 1 내지 2㎜의 두께로 형성된다.
또한, 상기 X선원(200)의 후면에는 예정된 진행 방향 이외의 방향으로 방출되는 X선을 차단하기 위한 차폐막(260)이 더 구비된다. 상기 차폐막(260)은 예정된 방향 이외의 방향으로 방사되는 X선을 포획하여 방사선에 의한 피해를 줄일 수 있다. 상기 차폐막(260)은 납과 같이 X선을 흡수할 수 있는 물질로 이루어지는 것이 바람직하다.
본 발명에 따른 평판형 X선원(200)은 비교적 넓은 면적에 걸쳐서 낮은 세기의 X선을 발생시키기 때문에 X선 발생에 수반되는 열이 비교적 적으므로 공기 순환을 사용한 공냉 방식을 이용하여 X선원에서 발생되는 열을 냉각시킬 수 있다. 또한, 별도의 방열구조가 필요한 경우 X선원(200) 후면에 TEC(Thermo-Electric Cooler)를 설치하여 X선원(200)을 냉각시킬 수도 있다.
본 발명에 있어서, 디지털 X선 검출기(500)는 형광 스크린(520), 광 가이드(530) 및 광 검출기(540)의 결합에 의해 이루어지고, X선(224)이 입사되는 형광 스크린(520) 전면에 제2그리드(510)를 구비한다.
상기 제2그리드(510)는 상기 X선원(200)의 면적과 동일한 면적으로 이루어지며, 상기 제1그리드(250)와 같이 매트릭스 형태로 이루어진다. 제2그리드(510)는 상기 X선원(200)의 각 픽셀로부터 방출된 X선을 그 픽셀에 대응하는 위치에 입사시키고, 상기 X선(224)이 피사체를 통과하면서 발생하는 산란선을 흡수하여 디지털 X선 검출기의 예정된 위치 이외의 영역에서 X선이 검출되는 것을 방지한다. 상기 제2그리드(510)는 상기 제1그리드(250)와 같은 구조 및 재료로 구성할 수 있다. 상기 제1그리드(250)와 제2그리드(510)의 X선 투과영역은 서로 일치시킴으로써 위신호 및 무아레 현상이 발생하는 것을 방지한다.
상기 형광 스크린(520)은 상기 제2그리드(510)을 통해 입사된 X선(224)을 흡수하여 가시광선을 발생시킨다. 본 발명에 따른 디지털 X선 영상 시스템에서는 종래의 디지털 X선 영상 시스템이 매트릭스 형태로 배열된 픽셀 타입의 광 검출기를 사용하는 것과는 달리, 광 가이드(530)를 통해 형광 스크린(520)과 연결된 하나의 광 검출기(540)를 이용하여, 미리 정해진 시이퀀스(sequence)에 따라 각 픽셀 별로 순차적으로 조사되는 X선에 의해 형광 스크린(520)에서 생성되는 가시광선을 연속적으로 검출하여야 하기 때문에 가시광선의 생성 및 소멸 속도가 빠른 형광 스크린(520)을 사용하는 것이 바람직하다.
상기 광 가이드(530)는 상기 형광 스크린(520)에서 발생된 가시광선을 모아서 광 검출기(540)로 안내하는 역할을 한다.
상기 광 검출기(540)는 상기 광 가이드(530)를 통해 전달된 가시광선을 디지털 영상 신호로 전환시키고, 필요에 따라 전환된 영상 신호를 적절하게 증배시켜 마이크로프로세서(600)에 전달한다. 상기 광 검출기(540)는 가시광선을 디지털 영상 신호로 신속하게 전환시키는 동시에 신호의 증배 효과를 보일 수 있는 소자로 형성할 수 있으며, 예를 들어 광증배관(Photo Multiplier Tube ; PMT) 또는 애벌런치 광다이오드(Avalanche photodiode ; APD)가 사용될 수 있다. 이 경우, 광 증배 효과는 크게는 106 이상의 증배율을 얻을 수 있고, 이에 따라 미량의 가시광선만으로도 충분한 크기의 영상 신호를 생성할 수 있게 된다. 다시 말해서 최초에 조사되 는 X선의 선량을 충분히 낮추어도 원하는 해상도의 영상을 검출할 수 있게 되고, 이에 따라 피사체에 조사되는 방사선량을 최소화할 수 있다.
상기 마이크로프로세서(600)는 디지털 X선 검출기(500)에서 전송받은 영상 신호를 취합하여 X선 영상을 구성하고, 이를 디스플레이시키거나 또는 저장한다.
이하, 본 발명에 따른 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템의 동작방법에 대하여 설명한다.
우선, 마이크로프로세서(600)에 픽셀 형태로 배열된 평판형 X선원(200)의 각 캐소드들의 동작 순서를 입력한다. 이때, 평판형으로 구성된 X선원을 구성하는 전체 픽셀에 대하여 일괄적으로 스캔 순서를 할당할 수도 있지만, 경우에 따라 상기 X선원을 일정 부분들로 분할하여(예를 들어, 2등분, 4등분 등), 각 분할면에 따라 스캔 순서를 할당함으로써 동시에 두 개 이상의 픽셀에서(즉, 각 분할면 당 1개씩) X선이 방출되도록 동작 순서를 결정할 수도 있다. 이 경우, 동시에 주사되는 각 픽셀에 해당되는 영상 신호의 검출을 위해서는 대응하는 형광 스크린 또한 같은 면적으로 분할되고, 분할된 각 부분별로 별도의 광 가이드 및 광 검출기가 구성되어야 함은 물론이다. 이러한 구성 및 스캔 방법을 사용하면 동일한 크기의 피사체를 촬영함에 있어 소요되는 X선의 주사 시간을 분할된 배수만큼의 배율로 줄여줄 수 있다는 장점이 있다. 또한, 피사체(300)의 크기 및 내부구조에 따라 부분적으로 다른 크기의 에너지를 갖는 X선을 방출시킬 수도 있다. 즉, 피사체의 크기 및 내부구조에 따라 X선이 투과되는 양 및 산란되는 양이 다르기 때문에 X선원의 각 픽셀 별로 선량이 다른 X선을 방출시킴으로써 피사체에 대한 X선의 조사 선량을 최적화할 수 있다.
다음, 각 픽셀에 해당되는 영상 신호를 순차적으로 생성하기 위해서 X선원(200)과 디지털 X선 검출기(500)의 동작을 동기화시킨다. 이를 위하여 상기 마이크로프로세서(600)는 호스트 역할을 한다.
그 다음, 상기 마이크로프로세서(600)는 입력된 스캔 순서에 의해 선택된 어느 한 픽셀 또는 다수 개의 픽셀에서 X선을 방출시킨다.
상기 X선원(200)의 픽셀에서 방출된 X선(224)은 제1그리드(250), 피사체(300) 및 제2그리드(510)를 통과하여 디지털 X선 검출기(500)의 형광 스크린(520)에 입사된다.
상기 X선(224)은 상기 형광 스크린(520)의 형광물질을 타격하여 가시광선을 발생시키고, 가시광선은 광 가이드(530)를 통해 광 검출기(540)로 전달된다. 상기 광 검출기(540)는 가시광선을 영상 신호로 전환시킨다. 이때, 상기 광 검출기(540)는 상기 X선원(200)의 면적 분할 개수에 따라 분할된 부분의 수와 동일한 개수의 광 검출기가 각각 해당하는 부분의 형광스크린에 광 가이드를 통해 연결되어 다수 개의 픽셀에서 방출된 X선을 동시에 검출하여 영상 신호로 전환할 수 있다. 이때, 증배기능이 있는 광 검출기(540)를 사용하여 신호를 증배시킬 수 있음은 전술한 바와 같다.
상기 마이크로프로세서(600)는 전송받은 영상 신호의 픽셀 위치 및 에너지 크기를 계산하여 영상을 구성한 후 이를 디스플레이하거나 또는 저장한다.
그 후, 상기 마이크로프로세서(600)는 다음 X선 촬영을 위해서 상기 X선원 (200)과 디지털 X선 검출기(500)를 초기화시킨다.
이와 같이, 본 발명의 상세한 설명에서는 구체적인 실시예에 관해 설명하였으나, 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 그러므로, 본 발명의 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며, 후술하는 특허청구범위 뿐만 아니라 이 청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템 및 이를 이용한 X선 영상 검출방법은 전계방출소자를 이용한 평판형 X선원을 사용함으로써 넓은 면적에 걸쳐 평행한 펜슬 형태의 X선빔을 구현할 수 있으므로 촬영 공간을 감소시키고, X선원이 과열되는 것을 방지할 수 있으며, 피사체에 방사선 피폭량을 감소시킬 수 있는 이점이 있다.
또한, X선원과 X선 검출기가 평행하게 구비되어 X선원의 각 픽셀마다 예정된 순서에 의해 X선을 방출시킬 수 있으므로 피사체의 특성에 따라 각 픽셀 별로 조사되는 X선의 선량을 조절하여 방출할 수 있는 이점이 있다.
또한, 종래의 디지털 X선 영상 시스템에 있어 매트릭스 형태로 형성된 수많은 광 검출기가 요구되던 것과는 달리 신호 증배 기능을 갖는 한 개 혹은 수 개의 광 검출기 만으로도 원하는 영상을 얻을 수 있으므로 전체 시스템의 제조 비용을 절감할 수 있고, 피사체에 방사선 피폭량을 더욱 감소시킬 수 있는 효과도 있다.

Claims (13)

  1. 매트릭스 형태로 배열된 픽셀 형태의 캐소드와, 상기 캐소드에 대향하여 구비되고 상기 캐소드에 대향하는 측면에는 상기 캐소드로부터 가속된 전자가 입사되는 타겟 물질이 적층되어 있는 평판형 애노드를 포함하여 구성되어, 상기 픽셀 형태로 구비된 캐소드를 개별 구동하여 X선을 발생시키는 평판형 X선원과;
    상기 X선원으로부터 X선이 방출되는 면에 접촉되어 구비되고, 상기 X선의 진행방향을 결정하는 제1그리드와;
    상기 제1그리드를 통해 방출되어 피사체를 통과한 X선을 선택적으로 입사시키는 제2그리드와;
    상기 평판형 X선원과 동일한 면적을 갖고, 상기 제2그리드에 밀착되어 구비되며 상기 제2그리드를 통해 입사된 X선에 반응하여 가시광선을 발생시키는 형광 스크린과, 상기 형광 스크린에 의해 발생된 가시광선을 광 검출기로 안내하는 광 가이드와, 상기 광 가이드를 통해 안내된 가시광선을 영상신호로 변환시키는 광 검출기로 이루어지는 디지털 X선 검출기와;
    상기 평판형 X선원과 디지털 X선 검출기에 연결되어 상기 평판형 X선원과 상기 디지털 X선 검출기의 동작을 동기화시키고, 픽셀 형태로 배열된 상기 평판형 X선원의 각 캐소드들의 동작 순서를 제어하며 상기 디지털 X선 검출기로부터 전달된 영상신호를 영상화 및 저장하는 마이크로프로세서;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시 스템.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 X선원은 애노드와 캐소드 사이에 게이트전극을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 애노드는 알루미늄 또는 구리로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 타겟 물질은 텅스텐, 텅스텐 합금 물질 및 몰리브데늄으로 이루어지는 군에서 선택되는 물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 캐소드는 마이크로 팁, 다이아몬드계 재료(DLC; Diamon Like Carbon) 및 탄소나노튜브로 이루어지는 군에서 선택되는 한 가지 이상의 물질로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 마이크로프로세서로부터 전송된 신호에 의해 구동되며, 상기 전송된 신호에 해당하는 X선원의 픽셀을 선택하는 스캔 드라이버와,
    상기 스캔 드라이버에 의해 선택된 각 픽셀의 캐소드를 전원에 연결하는 스위칭 수단을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1그리드와 제2그리드는 X선 투과영역과 X선 흡수영역이 격자형태로 이루어져 있는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 X선 투과영역은 그래파이트 파이버 또는 플라스틱으로 형성되고, 상기 X선 흡수영역은 납 또는 쎄로벤드(cerrobend)로 형성되는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 X선원의 후면에 X선을 차단하는 차폐막을 더 구비하는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  10. 제 1 항에 있어서,
    상기 광 검출기는 광증배관(PMT) 또는 애벌런치 광 다이오드(APD)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 디지털 X선 검출기는 상기 형광 스크린을 동일한 면적의 복수 개의 부분으로 분할하여, 분할된 각 부분에 각각 연결되는 분할 면의 개수와 동일한 개수의 광 가이드와, 역시 분할 면의 개수와 동일한 개수의 광 검출기로 구성되는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 이용한 디지털 X선 영상 시스템.
  12. 제1항 내지 제 11 항의 구성으로 이루어지는 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템을 이용한 X선 영상 검출방법에 있어서,
    마이크로프로세서에 픽셀 형태로 배열된 상기 평판형 X선원의 각 캐소드들의 동작 순서를 입력하는 단계와;
    각 픽셀에 해당하는 영상 신호를 순차적으로 생성하기 위해서 X선원과 디지털 X선 검출기의 동작을 동기화시키는 단계와;
    입력된 스캔 순서에 의해 해당하는 픽셀의 캐소드에 전원을 인가하여 선택된 순서에 따라 순차적으로 X선원의 각 픽셀에서 X선을 방출시키는 단계와;
    피사체를 통과한 X선을 디지털 X선 검출기로 검출하여 각 픽셀에 대응하는 영상신호를 마이크로프로세서로 전달하는 단계와;
    상기 마이크로프로세서에 전달된 영상신호를 취합하여 영상을 구현하고, 이를 디스플레이시키거나 또는 저장하는 단계;
    를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템을 이용한 X선 영상 검출방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 X선원의 각 픽셀에서 X선을 방출시키는 단계에 있어서, 각 픽셀마다 피사체의 크기 및 내부 구조에 따라 다른 크기의 에너지를 갖는 X선을 방출시키는 것을 특징으로 하는 평판형 X선원을 구비한 디지털 X선 영상 시스템을 이용한 X선 영상 검출방법.
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Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100767384B1 (ko) * 2007-02-08 2007-10-17 라드텍주식회사 X선 듀얼 에너지 검출기
DE102008004148A1 (de) 2007-01-24 2008-08-21 Samsung Electro - Mechanics Co., Ltd., Suwon Öffnungs- und Schließvorrichtung für Mobiltelefone
DE102008007216A1 (de) 2007-05-29 2008-12-11 Samsung Electro - Mechanics Co., Ltd., Suwon Gedruckte Leiterplatte und Herstellungsverfahren derselben
WO2009017348A2 (en) * 2007-07-27 2009-02-05 Hanwha L & C Corp. Optical filter for a quasi-monochromatic x-ray and multi-energy x-ray imaging system with the quasi-monochromatic x-ray
KR100895067B1 (ko) * 2007-12-17 2009-05-04 한국전자통신연구원 개별 어드레싱이 가능한 대면적 x 선 시스템
WO2009151197A1 (ko) * 2008-06-13 2009-12-17 한국전기연구원 나노-구조 물질을 이용하는 엑스선관 및 이를 이용한 시스템
KR100933118B1 (ko) * 2007-05-23 2009-12-21 경희대학교 산학협력단 조합형 평면 엑스레이 장치
KR100952326B1 (ko) * 2007-09-07 2010-04-12 한화엘앤씨 주식회사 준단색 다중 에너지 엑스-선 촬영장치
KR101101300B1 (ko) * 2008-06-13 2012-01-05 한국전기연구원 음극부 교체가 용이한 치과 진단 및 구강암 치료용 엑스선관 시스템 및 그 방법
US8509387B2 (en) 2008-11-11 2013-08-13 Canon Kabushiki Kaisha X-ray imaging apparatus
US9337381B2 (en) 2013-10-21 2016-05-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor buffer structure, semiconductor device including the semiconductor buffer structure, and method of manufacturing the semiconductor device using the semiconductor buffer structure
CN112617868A (zh) * 2019-10-07 2021-04-09 西门子医疗有限公司 成像设备和成像方法

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101042049B1 (ko) * 2010-06-21 2011-06-16 주식회사 디알텍 전자기식 그리드, 전자기식 그리드 제어 장치 및 이를 이용한 엑스선 장치
US9190270B2 (en) 2013-06-04 2015-11-17 Samsung Electronics Co., Ltd. Low-defect semiconductor device and method of manufacturing the same
KR20150024720A (ko) 2013-08-27 2015-03-09 삼성전자주식회사 평판형 엑스선 발생기 및 이를 구비하는 엑스선 영상 시스템
KR102139961B1 (ko) 2019-11-01 2020-07-31 주식회사 크럭셀 영상판 스캔 장치의 제어방법, 이를 구현하기 위한 프로그램이 저장된 기록매체 및 이를 구현하기 위해 매체에 저장된 컴퓨터프로그램

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
IL109143A (en) * 1993-04-05 1999-03-12 Cardiac Mariners Inc X-rays as a low-dose scanning detector by a digital X-ray imaging system
JPH0966054A (ja) * 1995-09-01 1997-03-11 Canon Inc X線撮影装置
KR20040021015A (ko) * 2002-09-02 2004-03-10 한국전기연구원 평판 엑스-레이 검출기의 데이터 획득 및 전처리 장치
KR20050052701A (ko) * 2003-12-01 2005-06-07 전자부품연구원 광학렌즈를 갖는 인체영상센서 및 제조 방법

Cited By (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008004148A1 (de) 2007-01-24 2008-08-21 Samsung Electro - Mechanics Co., Ltd., Suwon Öffnungs- und Schließvorrichtung für Mobiltelefone
KR100767384B1 (ko) * 2007-02-08 2007-10-17 라드텍주식회사 X선 듀얼 에너지 검출기
KR100933118B1 (ko) * 2007-05-23 2009-12-21 경희대학교 산학협력단 조합형 평면 엑스레이 장치
DE102008007216A1 (de) 2007-05-29 2008-12-11 Samsung Electro - Mechanics Co., Ltd., Suwon Gedruckte Leiterplatte und Herstellungsverfahren derselben
WO2009017348A3 (en) * 2007-07-27 2009-04-16 Hanwha L & C Corp Optical filter for a quasi-monochromatic x-ray and multi-energy x-ray imaging system with the quasi-monochromatic x-ray
WO2009017348A2 (en) * 2007-07-27 2009-02-05 Hanwha L & C Corp. Optical filter for a quasi-monochromatic x-ray and multi-energy x-ray imaging system with the quasi-monochromatic x-ray
KR100952326B1 (ko) * 2007-09-07 2010-04-12 한화엘앤씨 주식회사 준단색 다중 에너지 엑스-선 촬영장치
KR100895067B1 (ko) * 2007-12-17 2009-05-04 한국전자통신연구원 개별 어드레싱이 가능한 대면적 x 선 시스템
WO2009078582A1 (en) * 2007-12-17 2009-06-25 Electronics And Telecommunications Research Institute The discretely addressable large-area x-ray system
US8199881B2 (en) 2007-12-17 2012-06-12 Electronics And Telecommunications Research Institute Discretely addressable large-area X-ray system
WO2009151197A1 (ko) * 2008-06-13 2009-12-17 한국전기연구원 나노-구조 물질을 이용하는 엑스선관 및 이를 이용한 시스템
KR101101300B1 (ko) * 2008-06-13 2012-01-05 한국전기연구원 음극부 교체가 용이한 치과 진단 및 구강암 치료용 엑스선관 시스템 및 그 방법
US8509387B2 (en) 2008-11-11 2013-08-13 Canon Kabushiki Kaisha X-ray imaging apparatus
US9245659B2 (en) 2008-11-11 2016-01-26 Canon Kabushiki Kaisha X-ray imaging apparatus
US9337381B2 (en) 2013-10-21 2016-05-10 Samsung Electronics Co., Ltd. Semiconductor buffer structure, semiconductor device including the semiconductor buffer structure, and method of manufacturing the semiconductor device using the semiconductor buffer structure
CN112617868A (zh) * 2019-10-07 2021-04-09 西门子医疗有限公司 成像设备和成像方法

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