KR20070005597A

KR20070005597A - 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법 및 그 장치

Info

Publication number: KR20070005597A
Application number: KR1020067016661A
Authority: KR
Inventors: 테츠야 오토사카
Original assignee: 신에쓰 가가꾸 고교 가부시끼가이샤
Priority date: 2004-03-23
Filing date: 2005-03-18
Publication date: 2007-01-10
Also published as: KR101283859B1; US7633608B2; WO2005090939A1; US20080192239A1; TW200532186A; JP2005308717A

Abstract

코어/클래드의 굴절률 차 및 투광기/수광기의 간격에 의하지 않고, 항상 코어부 비원율을 정확하고 용이하게 측정하는 것이 가능한, 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법 및 그 장치를 제공한다. 코어부 및 클래드부를 가지는 광섬유 모재의 코어부 비원율을 측정하는 방법으로서, 당해 광섬유 모재의 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 액체 중에 광섬유 모재를 침지하고, 당해 광섬유 모재의 측면으로부터 평행광을 조사하여 투과광의 강도 분포를 측정하고, 코어부를 통과한 광에 의해 강도 분포에 생긴 암부의 폭을 측정하여 코어 직경 상대치를 구하고, 또한 광섬유 모재를 회전시켜 둘레 방향의 복수점에서 코어 직경 상대치를 구하고, 얻어진 복수의 코어 직경 상대치에 근거하여 코어부 비원율을 구하는 것을 특징으로 하고 있다.

광섬유 모재, 코어부 비원율, 침지, 평행광, 코어 직경 상대치

Description

광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법 및 그 장치{METHOD FOR MEASURING NONCIRCULARITY OF CORE PORTION OF OPTICAL FIBER PREFORM AND ITS INSTRUMENT}

본 발명은 광섬유 모재의 코어부 비원율(非圓率; noncircularity)의 측정 방법 및 그 장치에 관한 것이다.

문헌의 참조에 의한 통합이 인정되는 지정국에 대해서는, 하기의 출원에 기재된 내용을 참조에 의해 본 출원에 통합하고, 본 출원의 기재의 일부로 한다.

특원 2004－84718　　　출원일　평성 16년 3월 23일

특원 2005－10585　　　출원일　평성 17년 1월 18일

근년에, 광통신의 장거리화나 고속화를 제한하는 요인으로서, 편파 모드 분산(Polarization Mode Dispersion, 이하, PMD라 칭한다)의 영향이 주목되고 있다. PMD라는 것은, 서로 직교하는 편파면(plane of polarization)을 가지는 2개의 모드가 섬유 중을 조금 다른 속도로 전파함으로써, 입사된 펄스의 폭이 섬유 중을 전파함에 따라 퍼져 가는 현상을 가리키고 있다.

통상의 싱글 모드(single mode) 광섬유는, 코어부(core part)와 그 외주에 당해 코어부보다 굴절률이 낮은 클래드부(clad part)를 가지고 있고, 입사한 광은 거의 코어부에 갇히듯이 하여 진행된다. 코어부가 완전히 진원(眞圓)인 경우, 이 2 개의 모드는 축퇴(degeneracy)하고 있어 구별할 수 없지만, 코어부가 진원이 아니기도 하고, 광섬유 혹은 광케이블을 제작하는 단계에서 코어부에 뒤틀림(distoriton)이 가해지거나 하여 대칭성이 무너지면, 광섬유 중을 전파하는 2개의 모드의 속도에 차이를 생기게 하고 PMD를 발생시킨다.

PMD의 영향이 커지면, 광통신에 있어서 다른 신호광 펄스의 일부가 서로 겹치게 되고, 때로는 신호광 펄스의 검출이 불가능하게 된다. 따라서, 특히 PMD 특성이 엄하게 요구되는 것 같은 경우에는, 광섬유 코어부의 비원율을 엄밀히 관리하는 것이 중요하게 된다.

광섬유의 코어부의 비원율은, 예를 들면, 니어 필드 이미지(Near Field Image)법에 의해 측정할 수 있다. 그러나, 싱글 모드 광섬유의 코어부의 직경은 겨우 10μm 정도로 매우 작기 때문에, 측정 정밀도가 부족한데다, 광섬유를 커트(cut)한 때의 측정면의 상태에도 영향을 받기 쉽다. 따라서, 코어부의 비원율은 광섬유용 프리폼(preform)(이하, 단지 프리폼이라 칭한다)의 단계에서도 측정되어 있는 것이 바람직하다.

프리폼의 비원율은, 예를 들면, 레이저 외경 측정기를 이용하여, 프리폼을 회전시키면서 복수의 방향으로부터 외경을 측정하고, 얻어진 외경 데이터의 최대치와 최소치의 차를 평균치로 나누어 비원율을 구할 수 있다. 그 외에, 최소 제곱법 등을 이용하여 타원의 식을 계산하고, 장축과 단축의 길이, 및 그들의 평균치로부터 비원율을 구할 수도 있다.

그러나, 프리폼의 코어부의 비원율은, 통상, 코어부가 클래드부의 일부와 일 체로 합성되기 때문에, 상기의 방법으로 측정하는 것은 불가능하다.

특허문헌 1은, 도 1에 나타내듯이, 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 액체로 채워진 용기(1)를 관통하도록 광섬유 모재(2)를 수평으로 배치하고, 광섬유 모재(2)의 측면에 광원부(3)로부터 평행광을 조사하고, 투과한 광을 수광부(4)로 수광하여 얻은 촬상의 광강도 분포에 근거하여 코어부 비원율을 구하는 방법을 제안하고 있다. 이 방법은, 광강도 분포의 명부(bright space)의 폭을 측정하여 코어 직경 상대치를 구하고, 이로부터 코어부 비원율을 구하는 것이다.

특허문헌 1:　특개 2003－42894호 공보

<발명이 해결하고자 하는 과제>

그러나, 코어에 의해 집광되는 명부(bright space)를 인식하여 코어부 비원율을 구하는 특허문헌 1의 방법은, 용기(1) 내의 매칭 오일(matching oil)(클래드부와 굴절률이 대략 동등한 액체)이 광섬유 모재(2)의 삽통부(inserting section)로부터 누설되지 않도록, 용기(1)의 삽통부는 탄성을 가지는 패킹재로 실링(sealing)되어 있지만, 그런데도 광섬유 모재(2)의 긴 방향으로 복수점(plural points) 측정할 때에, 용기(1)를 상대 이동시키면, 매칭 오일이 누설되는 경우가 있다.

또한, 특허문헌 1의 방법은, 도 2에 나타내듯이, 코어(5)/클래드(6)의 굴절률 차 및 투광기(light projector)(3)/수광기(photoreceiver)(4)의 간격에 따라서는, 코어에 의해 집광되는 명부의 폭(a)을 나타내는 경계가 불선명하게 되고, 명부의 폭의 검출이 곤란 혹은 불가능한 경우가 있다.

또, 특허문헌 1의 청구항 2 및 도 3에서 설명되어 있는 방법으로 산출되는 값은 타원 형상에 근거하는 비원율과는 다른 것을 나타내고 있다. 왜냐하면, 타원을 360도 회전시킨 경우에는, 굵은 직경부(thick portion) 및 가는 직경부(thin portion)가 각각 2회씩 관측되기 때문이다. 특허문헌 1의 청구항 2 및 도 3에 있어서는, 굵은 직경부 및 가는 직경부가 각각 1회씩밖에 관측되어 있지 않다.

본 발명은, 상기 과제를 감안하여, 코어/클래드의 굴절률 차 및 투광기/수광기의 간격에 의하지 않고, 항상, 코어부 비원율을 정확하고 용이하게 측정하는 것이 가능한 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법 및 그 장치를 제공하는 것을 목적으로 하고 있다.

<과제를 해결하기 위한 수단>

본 발명의 코어부 비원율의 측정 방법은, 코어부 및 클래드부를 가지는 광섬유 모재의 코어부 비원율을 측정하는 방법으로서, 당해 광섬유 모재의 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 액체 중에 광섬유 모재를 침지하고, 당해 광섬유 모재의 측면으로부터 평행광을 조사하여 투과광의 강도 분포를 측정하고, 코어부를 통과한 광에 의해 강도 분포에 생긴 암부(dark space)의 폭을 측정하여 코어 직경 상대치를 구하고, 또한 광섬유 모재를 회전시켜 둘레 방향의 복수점에서 코어 직경 상대치를 구하고, 얻어진 복수의 코어 직경 상대치에 근거하여 코어부 비원율을 구하는 것을 특징으로 하고 있다.

본 발명에 있어서는, 코어부를 통과한 광에 의해 생긴 암부의 폭은, 검출 역치를 조정할 수 있는 평행광 투광형 외경 측정기(예를 들면, 키엔스사 제조 LS－7500)를 이용하여 측정하는 것이 바람직하다.

코어부 비원율은, 복수의 둘레 방향(φ)으로부터 측정한 코어 직경 상대치(Dc(φ))의 최대치와 최소치의 차를 코어 직경 상대치(Dc(φ))의 평균치로 나누는 것에 의하든지, 혹은 Dc(φ)와 φ를 Dc(φ) = A ＋ Bsin2φ로 피팅(fitting)하여 얻어지는 A 및 B를 이용하여, 2B/A를 계산하여 구해진다. 전자는 측정치로부터 생각될 수 있는 최대의 비원율을 나타내고, 후자는 타원 성분만을 추출한 비원율로 되어 있다.

후자의 계산에는 퓨리에(Fourier) 해석 또는 고속 퓨리에 해석을 이용할 수 있다. 퓨리에 해석 또는 고속 퓨리에 해석을 이용하는 장점은, 저차 성분(Sinφ의 성분)이나 고차 성분(Sin3φ, Sin4φ, Sin5φ,…)을 완전히 제거한 피팅(fitting) 결과를, 계산만으로 용이하게 구할 수 있다는 것에 있다.

코어부 비원율의 측정은 광섬유 모재를 연직으로 배치하여 행하고, 액체를 수용하는 용기의 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분은, 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 재질, 바람직하게는 클래드부와 동일한 재질로 구성된다.

액체를 수용하는 용기는, 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분에 마주보는 평행한 외표면을 가진다. 또한, 당해 용기의 중앙에 원통 형상의 구멍이 설치되고, 용기의 마주보는 평행한 외표면 및 원통 형상의 구멍의 내표면이 경면 연마(polishing)되어 있는 것이 바람직하다.

용기 내의 액체의 온도 및 코어부 비원율 측정 장치의 설치된 분위기의 온도는 거의 일정하게 조절된다.

본 발명의 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치는 코어부 및 클래드부를 가지는 광섬유 모재의 코어부 비원율을 측정하는 장치로서, 당해 광섬유 모재의 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 액체 중에 광섬유 모재를 침지하는 수단과, 당해 액체 중에 침지된 광섬유 모재의 측면을 향하여 평행광을 조사하는 수단과, 광섬유 모재를 투과한 투과광의 강도 분포를 측정하는 수단과, 당해 강도 분포에 있어서 코어부를 통과한 광에 의해 생긴 암부의 폭을 측정하여 코어 직경 상대치를 구하는 수단과, 당해 코어 직경 상대치를 광섬유 모재의 둘레 방향 복수점에서 측정하기 위해 광섬유 모재를 회전시키는 수단을 가지고, 복수의 코어 직경 상대치에 근거하여 코어부 비원율을 구하는 것을 특징으로 하고 있다.

본 발명에 의한 코어부 비원율의 측정 장치는 광섬유 모재를 연직으로 지지하는 수단을 가지고, 액체를 수용하는 용기의 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분은, 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 재질, 바람직하게는 동일한 재질로 구성되고 있다. 또, 용기의 적어도 조사광 및 투과광이 통과하는 부분은 마주보는 평행한 외표면을 가지고, 바람직하게는 그 중앙에는 원통 형상의 구멍이 설치되고, 이들 외표면 및 원통 형상의 구멍의 내표면은 경면 연마되어 있다.

코어 직경 상대치를 구하는 수단에는, 검출 역치를 조정할 수 있는 평행광 투광형 외경 측정기나 프리폼 애널라이저(preform analyzer)(굴절률 분포 측정기)를 이용할 수 있다. 각 수단의 제어 및 연산 처리는 제어·연산 장치로 한다. 본 측정 시스템을 프리폼 애널라이저에 조립해 넣음으로써, 굴절률 분포와 코어부 비원율의 측정을 동일한 장치로 할 수 있어 효과적이다.

<발명의 효과>

본 발명에 의한 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법 및 그 장치에 의하면, 광섬유 모재의 코어부 비원율을 정확하고 용이하게 측정할 수 있다.

도 1은　종래 기술에 의한 코어 비원율의 측정 방법을 설명하는 개략도이다.

도 2는　종래 기술에 의한 광강도 분포를 설명하는 개략도이다.

도 3은　본 발명에서 사용한 코어 비원율의 측정 장치를 나타내는 개략도이다.

도 4는　본 발명에서 사용한 코어 비원율의 측정 장치의 광학 측정부를 설명하는 개략도이다.

도 5는　본 발명에 의한 광강도 분포를 설명하는 개략도이다.

도 6은　본 발명에 의한 광강도 분포를 설명하는 개략도이다.

도 7은　본 발명에 의한 측정 장치의 광학계의 다른 예를 설명하는 개략도이다.

도 8은　본 발명에 의한 측정 장치의 광학계에 대해서, 또 다른 예를 설명하는 개략도이다.

도 9는　복수의 둘레 방향(φ)으로부터 광강도 분포의 암부를 측정하고, 코 어 직경 상대치(Dc(φ))를 구한 예를 나타내는 그래프이다.

<부호의 설명>

1 용기

2 광섬유 모재(optical fiber base material)

3 투광기(light projector)

4 수광기(photoreceiver)

5 코어(core)

6 클래드(clad)

7 행잉부(hanging part)

8 매칭 오일(matching oil)

9 셀(cell)

10 오일 탱크

11 광 조사부

12 광 검출부

13 레이저광(LED 확산광)

14 원통 형상의 구멍

15 프리폼 애널라이저용 레이저 광원

16 프리폼 애널라이저용 수광기

17 코어부 비원율 측정용 투광기

18 코어부 비원율 측정용 수광기

이하, 발명의 실시의 형태를 통하여 본 발명을 설명하지만, 이하의 실시 형태는 청구의 범위에 관계되는 발명을 한정하는 것은 아니고, 또 실시 형태 중에서 설명되어 있는 특징의 조합의 모두가 발명의 해결 수단에 필수적이다라고는 할 수 없다.

본 발명의 코어부 비원율의 측정 방법은 광섬유 모재의 측면으로부터 평행광을 조사하고, 광섬유 모재의 복수의 둘레 방향(φ)으로 광강도 분포의 암부를 측정하여 코어 직경 상대치(Dc(φ))를 구하고, 코어 직경 상대치의 최대치와 최소치의 차를 코어 직경 상대치의 평균치로 나누든지, 혹은 Dc(φ)와 φ를 Dc(φ) = A ＋ Bsin2φ로 피팅(fitting)하여 얻어지는 A 및 B를 이용하여, 2B/A를 계산하여 코어부 비원율을 구하는 것이고, 광강도 분포는 검출 역치의 조정 가능한 평행광 투광형 외경 측정기를 이용하여 측정할 수 있다.

광강도 분포는, 도 5에 나타내듯이, 광섬유 모재에 평행광을 조사하면, 클래드(6)을 투과한 광은 직진하고, 굴절률이 높은 코어(5)를 투과한 광은 수렴한다. 이 때문에 수광면에서는 클래드부와 코어부의 경계에서 명부(a)와 암부(b)를 발생시킨다.

그러나, 코어/클래드의 굴절률 차가 큰 경우나, 수광기가 보다 후방에 있는 경우, 초점 위치가 수광기보다 앞에 있게 되고, 도 2에서 설명한 것처럼, 명부(a)의 윤곽이 불선명하게 되거나 전혀 인식할 수 없는 경우가 있다.

그래서, 명부(a)의 윤곽이 불선명한 경우에서도, 도 6에 나타내는 암부(b)의 폭을 이용하여 코어부의 상대 직경을 인식하면, 코어/클래드의 굴절률 차나 수광기의 위치에 관계없이 양호하게 인식할 수 있다. 이때, 수광부의 검출 역치를 조정함으로써, 여러 가지 코어 외경, 코어/클래드비의 프리폼에 대해서도 이 암부(b)의 위치가 확실히 검지되고, 정확한 측정을 가능하게 한다.

이하, 본 발명의 코어부 비원율의 측정 방법 및 장치에 대해서, 더 상세하게 설명하지만, 본 발명은 이들에 한정되지 않고 여러 가지 태양이 가능하다.

먼저, 도 3에 나타내듯이, 회전·상하동 기구를 구비한 행잉부(hanging part)(7)에 연직으로 장착한 광섬유 모재(2)를, 매칭 오일(matching oil)(8)로 채워진 셀(9)을 구비한 오일 탱크(10) 안에 담그고, 광섬유 모재(2)에 측방으로부터 평행광을 광 조사부(11)로부터 조사하여, 투과광의 광강도를 광 검출부(12)에서 측정함으로써, 광섬유 모재(2)의 직경 방향의 광강도 분포가 구해진다.

이와 같이, 상방이 개구하고 있는 오일 탱크(10) 안에 광섬유 모재(2)를 연직으로 침지하고 있기 때문에, 특허문헌 1과 같이 매칭 오일(8)이 누설되지 않는다. 또한, 광학 측정부가 오일 탱크(10)의 상단에 있기 때문에, 광섬유 모재(2)를 상하로 이동함으로써, 긴 방향의 여러 가지 위치를 용이하게 측정할 수 있다. 또한, 행잉부(hanging part)(7)로 광섬유 모재(2)를 회전시킴으로써, 둘레 방향의 임의의 위치에서 광강도 분포를 측정할 수 있다.

매칭 오일(8)은 광섬유 모재(2)의 클래드부의 굴절률과 대략 동일한 굴절률로 조정되어 있다.

광학 측정부는, 도 4에 나타내듯이, 평행광 투광형 외경 측정기를 이용할 수 있고, 이에는 평행광, 예를 들면 레이저광이나 LED 확산광(13)을 광섬유 모재(2)에 조사하는 광 조사부(11)와, 매칭 오일(8)로 채워진 투명한 셀(9) 및 광섬유 모재(2)를 투과한 투과광을 검출하는 광 검출부(12)를 구비하고 있다.

또한, 광 검출부(12)는 투과광의 검출 역치의 조정이 가능하고, 이에 따라 광강도 분포의 코어 외주부에 생기는 암부를 명료하게 인식할 수 있고, 정확한 코어 직경 상대치의 측정이 가능하게 된다.

셀(9)은 매칭 오일(8)과 셀 재료 사이에서의 광의 굴절에 의한 오차를 막기 때문에, 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 재질, 바람직하게는 클래드부와 동일한 재질로 구성된 것으로 한다. 또한, 셀(9)의 외표면은 광의 입사면 및 출사면이 서로 평행으로, 입사광 및 출사광에 대하여 수직면을 이루도록 구성하여, 셀(9)에서의 광의 굴절을 막는다.

또한, 매칭 오일(8)의 굴절률은 온도에 의해 변화하기 때문에, 광학 측정부의 설치된 분위기의 온도 및 매칭 오일(8)의 온도를 거의 일정하게 조절함으로써, 측정 정밀도를 더 향상시킬 수 있다.

광섬유 모재(2)는 셀(9)의 중앙에 설치되고, 매칭 오일(8)로 채워진 원통 형상의 구멍(14) 안으로 수납되지만, 이러한 구성으로 함으로써, 광섬유 모재(2)의 클래드부와 매칭 오일(8)의 굴절률 차에 의해 생기는 오차를 작게 할 수 있다.

셀(9)의 외표면 및 원통 형상의 구멍(14)의 내표면을 경면 연마하여 두면, 측정 정밀도를 더 향상시킬 수 있다.

상기 구성의 장치를 이용하고, 광섬유 모재의 복수의 둘레 방향(φ)에서 광 강도 분포의 암부를 측정하여 코어 직경 상대치(Dc(φ))를 구한 예를 도 9에 나타내었다. 도 중, 실선은 측정치에 의한 것이고, 점선은 피팅(fitting)하여 얻어진 것이다.

코어부 비원율은 코어 직경 상대치의 최대치와 최소치의 차를 코어 직경 상대치의 평균치로 나눈 경우에는 0.61%로 계산되었다. 점선으로 나타낸 것처럼, Dc(φ)와 φ를 Dc(φ) = A ＋ Bsin2φ로 피팅(fitting)하여 얻어진 A 및 B를 이용하고, 2B/A를 계산하여 코어부 비원율을 구한 경우에는 A = 4.346, B = 0.0106으로부터 0.49%로 계산되었다.

Dc(φ) = A ＋ Bsin2φ로 피팅(fitting)하여 계산한 경우의 코어부 비원율이 작게 되는 것은 저차 및 고차의 사인(sin) 성분이 존재하기 때문이고, 저차의 성분은 측정 장치에 기인하는 노이즈(noise)적인 성분, 고차의 성분은 실제의 코어 형상을 나타내고 있다고 생각된다.

또한, 본 발명의 코어부 비원율의 측정 장치에 프리폼 애널라이저(preform analyzer)를 조립해 넣고, 셀, 상하동 기구, 회전 기구 등을 공용(共用)하는 구성으로 할 수도 있다.

예를 들면, 도 7에 나타내듯이, 프리폼 애널라이저용 레이저 광원(15) 및 이의 수광기(16)로 이루어지는 광학계와, 코어부 비원율 측정용 투광기(17) 및 이의 수광기(18)로 이루어지는 광학계를 직교하도록 배치하거나, 도 8에 나타내듯이, 이러한 광학계를 상하로 배치할 수도 있다. 이러한 구성으로 함으로써, 워크피스(work-piece)의 세트(set) 등의 준비를 공통화할 수 있고, 측정의 효율을 향상시 킬 수 있다.

이상, 본 발명을 실시의 형태를 이용하여 설명하였지만, 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시의 형태에 기재된 범위에는 한정되지 않는다. 상기 실시의 형태에 다양한 변경 또는 개량을 가하는 것이 가능하다는 것이 당업자에게 명백하다. 그 다양한 변경 또는 개량을 가한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있는 것이 청구의 범위의 기재로부터 명백하다.

본 발명에 의하면, 선뽑기(drawing)에 제공하는 광섬유 모재를 사전에 효율적이고 정확하게 검사할 수 있고, 광섬유의 제조 관리상 매우 유용하다.

Claims

코어부 및 클래드부를 가지는 광섬유 모재의 코어부 비원율을 측정하는 방법으로서,

당해 광섬유 모재의 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 액체 중에 광섬유 모재를 침지하고,

당해 광섬유 모재의 측면으로부터 평행광을 조사하여 투과광의 강도 분포를 측정하고,

코어부를 통과한 광에 의해 강도 분포에 생긴 암부의 폭을 측정하여 코어 직경 상대치를 구하고,

또한 광섬유 모재를 회전시켜 둘레 방향의 복수점에서 코어 직경 상대치를 구하고,

얻어진 복수의 코어 직경 상대치에 근거하여 코어부 비원율을 구하는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항에 있어서,

코어부를 통과한 광에 의해 생긴 암부의 폭을, 평행광 투광형 외경 측정기를 이용하여 측정하는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제2항에 있어서,

평행광 투광형 외경 측정기가 검출 역치를 조정할 수 있는 것을 특징으로 하 는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,

복수의 둘레 방향으로부터 측정한 코어 직경 상대치의 최대치와 최소치의 차를 코어 직경 상대치의 평균치로 나눔으로써, 코어부 비원율을 구하는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,

복수의 둘레 방향(φ)으로부터 측정한 코어 직경 상대치(Dc(φ))를

　　　Dc(φ) = A ＋ Bsin2φ

로 피팅(fitting)하고, 2B/A를 코어부 비원율로 하는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제5항에 있어서,

상기 피팅(fitting)이 퓨리에 해석 또는 고속 퓨리에 해석을 이용하는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,

코어부 비원율의 측정이 광섬유 모재를 연직으로 배치하여 행해지는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,

액체를 수용하는 용기의 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분이, 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 재질로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,

액체를 수용하는 용기의 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분이, 클래드부와 동일한 재질로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,

액체를 수용하는 용기는, 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분에 마주보는 평행한 외표면을 가지고, 당해 용기의 중앙에 원통 형상의 구멍이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제10항에 있어서,

마주보는 평행한 외표면 및 원통 형상의 구멍의 내표면이 경면 연마되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서,

용기의 액체가 일정 온도로 조절되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
제1항 내지 제12항 중 어느 한 항에 있어서,

코어부 비원율 측정 장치의 설치된 분위기의 온도가 거의 일정하게 조절되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 방법.
코어부 및 클래드부를 가지는 광섬유 모재의 코어부 비원율을 측정하는 장치로서,

당해 광섬유 모재의 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 액체 중에 광섬유 모재를 침지하는 수단과,

당해 액체 중에 침지된 광섬유 모재의 측면을 향하여 평행광을 조사하는 수단과, 광섬유 모재를 투과한 투과광의 강도 분포를 측정하는 수단과,

당해 강도 분포에 있어서 코어부를 통과한 광에 의해 생긴 암부의 폭을 측정하여 코어 직경 상대치를 구하는 수단과,

당해 코어 직경 상대치를 광섬유 모재의 둘레 방향 복수점으로 측정하기 위해 광섬유 모재를 회전시키는 수단을 가지고,

복수의 코어 직경 상대치에 근거하여 코어부 비원율을 구하는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제14항에 있어서,

코어 직경 상대치를 구하는 수단이 평행광 투광형 외경 측정기인 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제15항에 있어서,

평행광 투광형 외경 측정기가 검출 역치를 조정할 수 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제14항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,

광섬유 모재를 연직으로 지지하는 수단을 가지고 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제14항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,

액체를 수용하는 용기의 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분이, 클래드부와 굴절률이 대략 동등한 재질로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제14항 내지 제17항 중 어느 한 항에 있어서,

액체를 수용하는 용기의 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분이, 클래드부와 동일한 재질로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제14항 내지 제19항 중 어느 한 항에 있어서,

액체를 수용하는 용기는, 적어도 광섬유 모재에 조사되는 평행광 및 그 투과광이 통과하는 부분에 마주보는 평행한 외표면을 가지고, 당해 용기의 중앙에 원통 형상의 구멍이 설치되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제20항에 있어서,

마주보는 평행한 외표면 및 원통 형상의 구멍의 내표면이 경면 연마되어 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.
제14항 내지 제21항 중 어느 한 항에 있어서,

프리폼 애널라이저(preform analyzer)를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치
제14항 내지 제22항 중 어느 한 항에 있어서,

각 수단의 제어 및 연산 처리를 하는 제어·연산 장치를 구비하고 있는 것을 특징으로 하는 광섬유 모재의 코어부 비원율의 측정 장치.