JP2007085908A - 配向計 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】 円周上に等間隔に配置された複数の受光素子と該受光素子と被測定対象物を挟んで配置された光源からなり、該光源は前記受光素子が並ぶ円の中心軸上付近に配置され、前記光源から照射され前記被測定対象物を透過した透過光を前記受光素子で受光するように構成した。
【選択図】 図1
Description
受光素子114は、光源111を中心として例えば8〜12個設けられた受光ダイオードで、被測定対象物112からの反射光を受光して電気信号に変換するもので、例えば光軸となす反射角度θを55度程度に選定して配向方向を測定する。
図5は信号の流れを示すもので、受光素子114で電気信号に変換された信号は素子信号130としてA/D変換器131に入力され、分布測定手段132により光の分布測定が行われた後、配向演算手段133により配向方向が演算されて測定値134が出力される。
更に、透過式として沿面に配置した発光素子から斜め方向に照射された光をシートを挟んで対向する沿面に配置した受光素子で測定する場合、フィルタの屈折率に応じて受光側の信号強度が変化し、S/Nを安定化し難いという欠点があった。
1)分子配向を透過光により求めることで、共押し出しやラミネートフィルムの全層に渡る配向状態を得易くすること。
2)透過光による測定であってもS/Nを劣化させずに測定ができるようにすること。
3)薄膜などのように反射側への光導波性の小さな被測定対象物でも配向特性の測定ができるようにすること。
が可能な配向計を実現することにある。
円周上に等間隔に配置された複数の受光素子と該受光素子と被測定対象物を挟んで配置された光源からなり、該光源は前記受光素子が並ぶ円の中心軸上付近に配置され、前記光源から照射され前記被測定対象物を透過した透過光を前記受光素子で受光するように構成したことを特徴とする。
前記受光素子は半導体フォトディテクタ、光源はLED或いは、円偏光レーザダイオードであることを特徴とする。
各受光素子の個体差を記憶する記憶手段を有し、前記被測定対象物の配向方向の演算に際しては前記記憶手段に記憶された個体差に基づいて校正をおこなうことを特徴とする。
校正に際しては照射軸上に拡散板を配置することを特徴とする。
校正に際しては照射軸上にレンズユニットを配置すると共に照射軸上で移動可能としたことを特徴とする。
被測定対象物の光導波性または光透過率に応じてレンズユニットにより光束を調整可能としたことを特徴とする。
被測定対象物を挟んで対向して配置された光源と受光素子は光源が下側になるように配置したことを特徴とする。
光源は赤外線を含んだ光源とし、受光素子は赤外線透過フィルタを透過した光を受光するようにしたことを特徴とする。
円周上に等間隔に配置された複数の受光素子と該受光素子と被測定対象物を挟んで配置された光源からなり、該光源は前記受光素子が並ぶ円の中心軸上付近に配置され、前記光源から照射され前記被測定対象物を透過した透過光を前記受光素子で受光するように構成したので、共押し出しやラミネートフィルムの全層に渡る配向状態を得易くなり、また、薄膜等で反射側に導波される光が少ない場合でも透過光による測定であるためS/Nを劣化させずに測定ができる。
光源は半導体フォトディテクタ、光源はLED或いは、円偏光レーザダイオードとしたので、小型化が可能である。。
各受光素子の個体差を記憶する記憶手段を有し、前記被測定対象物の配向方向の演算に際しては前記記憶手段に記憶された個体差に基づいて校正を行うので、正確な配向測定が可能である。
校正に際しては照射軸上に拡散板を配置するので、拡散板を用いない場合に比べ、受光素子に入る光量が増えるため正確な校正を行うことができる。
また、校正時に照射光を拡散させることで受光素子の感度や機械精度によるばらつきを抑えて測定精度を向上させることができる。
校正に際しては照射軸上にレンズユニットを配置すると共に照射軸上で移動可能としたので、拡散光の広がりを調整することができる。
被測定対象物の光導波性または光透過率に応じてレンズユニットにより光束を調整可能としたので、正確な配向の測定が可能となる。
請求項7記載の発明によれば、
被測定対象物を挟んで対向して配置された光源と受光素子は光源が下側になるように配置したので、埃の影響を少なくすることができる。
請求項8記載の発明によれば、
光源は赤外線を含んだ光源とし、受光素子は赤外線透過フィルタを透過した光を受光するようにしたので、可視光による迷光がノイズ成分になるのを防いでS/Nの低下を防止することができる。
図3(c,d)は校正位置に予め支持部材35aに設置した拡散板35の位置に合わせてセンサ部を矢印A方向に移動させるように構成したものである。
また、校正時に照射光を拡散させることで受光素子の感度や機械精度によるばらつきを抑えて測定精度を向上させることができる。
したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形を含むものである。
2 受光素子
3 発光回路
4 受光回路
6 A/D変換器
10 CPU
12 拡散板駆動回路
15 演算器
16 入出力インタフェース
30 被測定対象物
31 受光素子保持部
35 拡散板
35a 支持部材
36 レンズユニット
50 発光素子保持部
111 光源
113 集光レンズ
116 鍔部
117 受光素子装着穴
118 レンズ装着穴
119 光源保持部
120 位置決め部
121 固定穴
122 受光素子固定穴
123 上部外周部
130 素子信号
132 分布測定手段
133 配向演算手段
134 測定値出力
Claims (8)
- 円周上に等間隔に配置された複数の受光素子と該受光素子と被測定対象物を挟んで配置された光源からなり、該光源は前記受光素子が並ぶ円の中心軸上付近に配置され、前記光源から照射され前記被測定対象物を透過した透過光を前記受光素子で受光するように構成したことを特徴とする配向計。
- 前記受光素子は半導体フォトディテクタ、光源はLED或いは、円偏光レーザダイオードであることを特徴とする請求項1に記載の配向計。
- 各受光素子の個体差を記憶する記憶手段を有し、前記被測定対象物の配向方向の演算に際しては前記記憶手段に記憶された個体差に基づいて校正をおこなうことを特徴とする請求項1又は2に記載の配向計。
- 校正に際しては照射軸上に拡散板を配置することを特徴とする請求項1乃至3に記載の配向計。
- 校正に際しては照射軸上にレンズユニットを配置すると共に照射軸上で移動可能としたことを特徴とする請求項1乃至3に記載の配向計。
- 被測定対象物の光導波性または光透過率に応じてレンズユニットにより光束を調整可能としたことを特徴とする請求項5に記載の配向計。
- 被測定対象物を挟んで対向して配置された光源と受光素子は光源が下側になるように配置したことを特徴とする請求項1乃至6に記載の配向計。
- 光源は赤外線を含んだ光源とし、受光素子は赤外線透過フィルタを透過した光を受光するようにしたことを特徴とする請求項1乃至7に記載の配向計。
Priority Applications (1)
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JP2005275484A JP4710510B2 (ja) | 2005-09-22 | 2005-09-22 | 配向計 |
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2005
- 2005-09-22 JP JP2005275484A patent/JP4710510B2/ja active Active
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