KR20060066203A - 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치 - Google Patents

반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치 Download PDF

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Abstract

반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치가 개시된다. 그러한 컬럼 선택선 신호 생성 장치는 데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 가지며, 인에이블 신호가 입력된 경우에 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부와, 상기 제1 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다른 상기 제2 구간 제어신호를 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비한다. 그리하여, 본 발명은 마지막 데이터가 메모리 셀에 쓰여지기 전에 상기 비트 라인의 프리챠지가 수행되는 문제를 감소하여 상기 메모리 셀에 마지막 데이터까지 손상되지 않고 쓰여질 수 있게 하는 효과가 있다.
컬럼 선택선 신호(CSL), tRDL, 프리챠지, 데이터 억세스 명령

Description

반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치{Apparatus for generating column select line signal in semiconductor memory device}
도 1은 tRDL을 설명하기 위한 타이밍도.
도 2는 종래의 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택 경로를 개략적으로 보인 블록도.
도 3은 도 2의 컬럼 선택선 신호가 생성되는 과정을 나타낸 타이밍도.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택 경로를 개략적으로 보인 블록도.
도 5는 도 4의 컬럼 선택선 신호 생성 장치의 등가 회로도.
도 6은 도 5의 컬럼 선택선 신호 생성 장치의 동작을 설명하기 위한 동작 타이밍도.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 컬럼 선택선 신호 생성 장치의 동작을 설명하기 위한 동작 타이밍도.
도 8은 도 5에 따른 컬럼 선택선 신호 생성 장치에 의하여 종래보다 빨라진 메모리 셀에의 데이터 라이트 시점을 보인 동작 타이밍도.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
122 : 커맨드 버퍼 124 : 컬럼 선택선 인에이블부
125 : 컬럼 선택선 디스에이블부 CMD : 데이터 억세스 명령
127 : PDT 제너레이터 128 : IO드라이버/MUX
129 : 비트라인 센스앰프 MC : 메모리셀
201 : 컬럼 선택선 신호 생성 장치 200 : 가변 컬럼 선택선 드라이버
130 : 딜레이 셀 DC : 딜레이셀
M1 : 제1 동작 모드 M2 : 제2 동작 모드
PWAX : 라이트 활성화 신호 PCA : 리드 활성화 신호
PWAX_Pre, PCA_Pre : 프리 커맨드 펄스
본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치에 관한 것이다.
반도체 메모리 장치의 동작 특성을 나타내는 요소 중 tRDL이라는 에이씨 파라미터(AC parameter)가 있다. 상기 tRDL은 타이밍적으로 볼 때 칼럼 선택선 신호(CSL)의 싸이클 수와 밀접하게 관련된다. 즉, 상기 칼럼 선택선 신호(CSL)의 이전 몇 싸이클 동안 계속적으로 데이터를 라이트하는 중에 로우 프리챠지 명령(row precharge command)에 의해 진행중인 라이트 동작이 인터럽트(interrupt)되었을 때, 마지막 데이터가 완전히 라이트되고 상기 로우 프리챠지 명령이 들어오기 위해서는 최소한 상기 tRDL 구간이 존재해야함을 나타낸다.
도 1은 상기 tRDL을 설명하기 위한 타이밍도이다.
도 1을 참조하면, tRDL은 라이트 명령(Write)에 의하여 데이터(Db0, Db1, Db2,Db3)중 최종 데이터(Db3)가 비트 라인에 인가된 후부터 로우 프리챠지 명령(RPC)이 인가되는 시점까지의 시간이다.
도 2는 종래의 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택경로를 보인 블록도이다.
도 2를 참조하면, 커맨드 버퍼(22), 컬럼 선택선 인에이블부(24), 컬럼 선택선 디스에이블부(25), 컬럼 선택선 드라이버(26), PDT 제너레이터(27), IO드라이버/MUX(28), 비트라인 센스앰프(29) 및 메모리셀(MC)이 도시되어 있다.
상기 커맨드 버퍼(22)는 데이터 억세스 명령(CMD)이 동작 클럭(CLK)에 응답하게 하여 동작 활성화 신호(PWAX or PCA)를 출력 한다.
상기 컬럼 선택선 인에이블부(24)는 상기 동작 활성화 신호(PWAX or PCA)를 수신하여 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)를 출력한다.
상기 컬럼 선택선 디스에이블부(25)는 상기 동작 활성화 신호(PWAX or PCA)를 수신한 후, 상기 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클에 응답하여 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)를 생성한다.
상기 컬럼 선택선 드라이버(26)는 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE), 상기 동작 활성화 신호(PWAX or PCA) 및 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD) 의 제어를 받아 컬럼 선택선 신호(CSL)를 출력한다.
상기 피디티 제너레이터(PDT generator)(27)는 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)를 수신하여 IO 드라이버/MUX(28) 인에이블 신호인 PDT 신호를 출력한다.
라이트 되어지는 데이터는 상기 컬럼 선택선 신호가 하이 상태에 있는 경우에는 트랜지스터(TR1)가 온 상태로 되며, 상기 IO 드라이버/MUX(28)도 상기 PDT 신호에 의해 인에이블되어 비트라인 센스앰프(29)에 의해 센싱(sensing)되어 비트라인(BL/BLB)으로 인가된다. 그리고, 상기 데이터는 최종적으로 상기 메모리셀(MC)에 쓰여지게 된다.
도 3은 도 2의 컬럼 선택선 신호가 생성되는 과정을 나타낸 타이밍도이다.
도 3을 참조하면, 동작 클럭(CLK), 데이터 억세스 명령(WR1, WR2, RD), 동작 활성화 신호(PWAX, PCA), 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE), 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD) 및 컬럼 선택선 신호(CSL)가 도시되어 있다. 상기 데이터 억세스 명령은 도 2에서의 CMD로서, 상기 도 3에서 구체적인 동작인 라이트(WR1, WR2) 또는 리드(RD)로 나타내었다.
먼저, 라이트 명령(WR1)이 인가되고 상기 동작 클럭(CLK)에서의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)가 생성된다.
상기 라이트 활성화 신호(PWAX)에 응답하여 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)가 생성되고, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)에 의하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 활성화된다.
상기 동작 클럭 싸이클보다 한 동작 클럭 싸이클 후의 제2 동작 클럭 싸이클 에 응답하여 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)가 생성되고, 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)에 의하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 비활성화된다.
다음으로, 상기 라이트 명령(WR2)이 인가된 후, 상기 라이트 명령(WR1)이 응답하게 하는 동작 클럭 싸이클보다 두 동작 클럭 싸이클 후의 제3 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)가 생성되어, 상기 라이트 명령(WR1)이 인가된 경우와 동일한 과정으로 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 생성된다.
상기 제3 동작 클럭 싸이클 이후의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 리드 활성화 신호(PCA)가 생성되는 경우에는 상기 리드 활성화 신호(PCA)에 응답하여 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)가 생성된다. 그리고, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)에 응답하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 활성화된다.
상기 제3 동작 클럭 싸이클 이후의 동작 클럭 싸이클보다 한 동작 클럭 싸이클 후의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)가 생성되고, 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)에 의하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)는 비활성화된다.
상기 리드 활성화 신호(PCA) 대신에 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)가 생성되는 경우, 즉 상기 리드 명령(RD) 대신에 라이트 명령이 인가되는 경우에는 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호의 생성이 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)에 응답하여 생성되는 것을 제외하고는 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)은 동일한 과정으로 활성화되고 비활성화된다.
상술한 바와 같이, 컬럼 선택선 신호는 컬럼 선택선 인에이블 신호에 응답하여 활성화되고, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호가 생성되게 하는 동작 클럭 싸이클보다 한 동작 클럭 싸이클 후인 제2 동작 클럭 싸이클에 응답하여 생성된 컬럼 선택선 디스에이블 신호에 의하여 비활성화되는 형태의 단일 동작 모드만을 갖는다.
따라서, 상기 라이트 명령 이후에 비트 라인 프리챠지가 수행되는 경우에 있어서 메모리 셀에 쓰여지게 될 데이터 중 마지막 데이터가 비트라인에 인가된 후 상기 메모리 셀에 완전히 쓰여지기 전에 상기 비트 라인의 프리챠지가 수행됨으로 인하여 상기 메모리 셀에 마지막 데이터가 제대로 쓰여지지 않는 문제점이 있다. 이는 비트라인 센스 앰프는 IO 드라이버보다 구동 능력이 떨어지기 때문이다. 따라서, 구동 능력이 뛰어난 IO 드라이버에 의한 구동 시간을 더 늘려야 할 필요성이 재고 되었다.
따라서, 본 발명의 목적은 컬럼 선택선 신호가 데이터 억세스 명령의 인가 형태에 따라 서로 다른 형태의 동작 모드를 갖도록 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 다른 목적은 종래의 메모리 셀에 완전히 쓰여지기 전에 상기 비트 라인의 프리챠지가 수행됨으로 인하여 상기 메모리 셀에 마지막 데이터가 제대로 쓰여지지 않는 문제를 개선하기 위한 컬럼 선택선 신호 생성 장치 및 방법을 제공 함에 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 프리챠지 전 라이트 동작 정리 시간(tRDL)을 빨리 가져갈 수 있도록 하여, 상기 프리챠지 전 라이트 동작 정리 시간의 마진이 넓어지게 되어 메모리 셀에 쓰여지는 데이터의 손실을 줄일 수 있는 컬럼 선택선 신호 생성 장치 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우 컬럼 선택선 신호의 폭을 넓게 하여, IO 드라이버의 구동 시간을 길게 하고 메모리 셀에 데이터 라이트가 빠르게 수행되게 함으로써 로우 프리챠지 시점을 빠르게 할 수 있는 컬럼 선택선 신호 생성 장치 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 또 다른 목적은 로우 프리챠지 시점을 빠르게 함으로써 고속 동작이 가능하게 하는 컬럼 선택 회로를 구비한 반도체 메모리 장치를 제공함에 있다.
상기의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 실시예적 구체화에 따른 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치는, 데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 가지며, 인에이블 신호가 입력된 경우에 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부; 및 상기 제1 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다른 상기 제2 구간 제어신호를 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비함을 특징으로 한다.
여기서, 상기 인에이블 신호는 동작 클럭 싸이클에 응답되어 인가된 상기 데이터 억세스 명령에 의하여 생성된 동작 활성화 신호에 응답하여 생성되어질 수 있다.
또한, 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점은 상기 제2 구간 천이 시점보다 빠른 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1 구간 제어신호는 상기 데이터 억세스 명령에 응답하여 천이되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제2 구간 제어신호는 상기 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제2 동작 클럭 싸이클에 의해 생성된 디스에이블 신호에 응답하여 천이되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 데이터 억세스 명령은 상기 제1 동작 모드에서 상기 제2 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제3 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 데이터 억세스 명령은 상기 제2 동작 모드에서 상기 제3 동작 클럭 싸이클 후의 제4 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가되는 것이 바람직하다.
상기의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예적 구체화에 따른 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치는, 데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령에 의해 생성된 인에이블 신호가 입력된 경우에 제 1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부; 및 상기 제1 동작 모드에서는 상기 데이터 억세스 명령이 인가되는 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클과 천이 시점이 대체적으로 일치하는 프리 커맨드 펄스에 응답하여 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 디스에이블 신호에 응답하여 상기 제2 구간 제어신호를 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다르게 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비한다.
여기서, 상기 프리 커맨드 펄스는 상기 제1 동작 모드에서 상기 디스에이블 신호보다 먼저 생성되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 프리 커맨드 펄스는 상기 제2 동작 모드에서 상기 디스에이블 신호보다 늦게 생성되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점은 상기 제2 구간 천이 시점보다 빠른 것이 바람직하다.
상기의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 실시예적 구체화에 따른 반도체 메모리 장치는, 하나의 억세스 트랜지스터와 스토리지 커패시터로 이루어진 단위 메모리 셀이 행과 열의 교차점에 매트릭스 형태로 연결된 메모리 블록을 복수로 가지는 메모리 셀 어레이; 상기 메모리 셀들의 행을 선택하기 위한 로우 선택 회로; 및 데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 가지며, 인에이블 신호가 입력된 경우에 제 1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부와, 상기 제1 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다른 상기 제2 구간 제어신호를 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비하여 상기 메모리 셀들의 열을 선택하기 위한 컬럼 선택 회로를 가짐을 특징으로 한다.
상기의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 또 다른 실시예적 구체화에 따라 데이터 억세스를 위해 메모리 셀과 연결되는 컬럼 라인을 선택하기 위한 컬럼 선택선 신호를 사용하는 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택 신호 생성 회로는, 상기 데이터 억세스를 위한 데이터 억세스 명령이 설정된 연속 윈도우 구간 내에서 라이트 명령에 연속으로 인가되는 지의 유무를 체크하는 연속 판정부; 및 상기 연속 판정부에 동작적으로 연결되며 상기 연속 인가의 유무에 따라 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 차별적으로 생성하는 신호 생성부를 구비함을 특징으로 한다.
여기서, 상기 연속 윈도우 구간은 상기 데이터 억세스 명령이 응답되게 하는 동작 클럭 싸이클로부터 상기 동작 클럭 싸이클보다 두 싸이클 이전의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 라이트 명령이 입력되는 구간임이 바람직하다.
상기의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 다른 실시예적 구체화에 따라 데이터 억세스를 위해 메모리 셀과 연결되는 컬럼 라인을 선택하는 컬럼 선택 회로를 구비한 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택선 신호 생성 방법은 상기 데이터 억세 스를 위한 데이터 억세스 명령이 설정된 연속 윈도우 구간 내에서 라이트 명령에 연속되어 인가되는 지의 유무에 따라, 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 차별적으로 생성하는 것을 특징으로 한다.
이하 첨부한 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다. 다양한 실시예에서의 설명들은 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 지식을 가지는 자에게 본 발명의 보다 철저한 이해를 돕기 위한 의도 이외에는 다른 의도없이 예를 들어 도시되고 한정된 것에 불과하므로, 본 발명의 범위를 제한하는 것으로 사용되어서는 아니 될 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택 경로를 개략적으로 보인 블록도이다.
도 4를 참조하면, 커맨드 버퍼(122), 컬럼 선택선 인에이블부(124), 컬럼 선택선 디스에이블부(125), PDT 제너레이터(127), IO드라이버/MUX(128), 비트라인 센스앰프(129), 메모리셀(MC) 및 컬럼 선택선 신호 생성 장치(201)가 도시되어 있다. 상기 컬럼 선택 신호 생성 장치(201)는 딜레이 셀(130) 및 가변 컬럼 선택선 드라이버(200)를 포함하고 있다.
상기 커맨드 버퍼(122)는 데이터 억세스 명령(CMD)을 수신하며, 동작 클럭(CLK)에 응답하게 하여 동작 활성화 신호(PWAX, PCA)를 출력한다.
상기 컬럼 선택선 인에이블부(124)는 상기 동작 활성화 신호(PWAX, PCA)를 수신하여 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)를 생성한다. 즉, 상기 컬럼 선택선 인에이블부(124)는 상기 동작 활성화 신호(PWAX, PCA)에 응답하여 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)를 생성한다.
상기 컬럼 선택선 디스에이블부(125)는 상기 동작 활성화 신호(PWAX, PCA)를 수신하며, 상기 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클에 응답하여 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)를 생성한다. 즉, 상기 컬럼 선택선 디스에이블부(125)는 상기 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제2 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)를 생성한다.
상기 컬럼 선택선 신호 생성 장치(201) 중 상기 가변 컬럼 선택선 드라이버(200)는, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)가 입력된 경우에 제1, 2 구간 제어신호에 응답하여 제1, 2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호(CSL)를 생성한다. 즉, 상기 컬럼 선택선 신호 장치에 의하여, 상기 데이터 억세스 명령(CMD)이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며 상기 데이터 억세스 명령(CMD)이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 갖는 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)를 생성한다.
상기 컬럼 선택선 신호 생성 장치(201) 중 상기 딜레이 셀(130)은 상기 제2 구간 제어신호를 생성하기 위하여, 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)가 지연(delay)되도록 한다. 상기 딜레이 셀(DC)(130)은 통상적으로 사용되는 지연회로(예를 들면, 하나 혹은 그 이상의 인버터 회로)가 사용되어질 수 있다.
상기 피디티 제너레이터(PDT generator)(127)는 상기 컬럼 선택선 신호(CSL) 를 수신하여 IO 드라이버/MUX(128) 인에이블 신호인 PDT 신호를 출력한다.
라이트 되어지는 데이터는 상기 컬럼 선택선 신호가 하이 상태에 있는 경우에는 트랜지스터(TR10)이 온 상태로 되고, 상기 IO 드라이버/MUX(128)도 상기 PDT 신호에 의해 인에이블되어 비트라인 센스앰프(129)에 의해 센싱되어 비트라인(BL/BLB)로 인가된다. 그리고, 상기 데이터는 최종적으로 상기 메모리셀(MC)에 쓰여지게 된다.
도 5는 도 4의 컬럼 선택선 신호 생성 장치의 등가 회로도이다.
도 5를 참조하면, 컬럼 선택선 신호 생성부(210) 및 구간 제어 신호 생성부(220)가 도시되어 있다.
상기 컬럼 선택선 신호 생성부(210)는 데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드와, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 갖는 컬럼 선택선 신호(CSL)를 생성한다. 그리고, 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)는 인에이블 신호인 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)가 입력된 경우에, 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는다.
상기 구간 제어신호 생성부(220)는 상기 제1 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다른 상기 제2 구간 제어신호를 출력한다.
데이터 억세스(data access)를 위한 상기 데이터 억세스 명령(CMD)이 설정된 연속 윈도우(window) 구간 내에서 상기 라이트 명령(WR1, WR2)에 연속으로 인가되 는 지의 유무를 체크하는 연속 판정부는 상기 동작 활성화 신호(PWAX, PCA)가 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)에 앞서 인가되는지의 여부를 판단 할 수 있는 부분이다. 따라서, 상기 연속 판정부는 상기 구간 제어신호 생성부(220)로 볼 수 있다. 그리고, 상기 연속 판정부에 동작적으로 연결되며 상기 연속 인가의 유무에 따라 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 차별적으로 생성하는 신호 생성부는, 컬럼 선택선 신호 생성부(210)로 볼 수 있다. 결국, 상기 연속 윈도우 구간은 상기 데이터 억세스 명령(CMD)이 응답되게 하는 동작 클럭 싸이클로부터 상기 동작 클럭 싸이클보다 두 싸이클 이전의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 라이트 명령이 입력되는 구간이 된다.
상기 컬럼 선택선 신호 생성부(210) 및 상기 구간 제어신호 생성부(220)에 의하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 생성되는 과정은 이하와 같다.
먼저, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)가 앤드 게이트(AND1)에 하이 상태로 입력되면, 노어 게이트(NOR2)의 입력(INPUT1)은 하이 상태로 되고, 인버터(INV2)를 거쳐 최종적으로 출력되는 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)는 상기 노어 게이트(NOR2)의 다른 입력(INPUT2)의 논리 상태와는 상관없이 하이 상태로 된다. 즉, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)에 응답하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 활성화된다.
다음으로, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)가 로우 상태이고, 상기 구간 제어신호 생성부(220)의 노어 게이트(NOR1)로 데이터 억세스 명령(CMD)에 의하여 생성된 리드 활성화 신호(PCA) 및 라이트 활성화 신호(PWAX) 중 어느 하나의 신호, 또는 컬럼 선택선 디스에이블 신호가 상기 딜레이 셀(130)를 거쳐 입력되면 상기 노어 게이트(NOR1)의 출력 신호는 로우 상태가 된다. 그리고, 상기 로우 상태의 신호는 인버터(INV1)에 의해 인버팅되어 노어 게이트(NOR3)로 입력된다. 이 경우 상기 노어 게이트(NOR3)에 의한 출력 신호는 로우 상태로 된다. 따라서, 상기 컬럼 선택선 신호 생성부(210)의 노어 게이트(NOR2)로 입력되는 두 개의 입력 신호(INPUT1, INPUT2)는 모두 로우 상태로 되므로, 상기 노어 게이트(NOR2)의 출력 신호는 하이 상태로 된다. 상기 노어 게이트(NOR2)의 출력 신호는 인버터(INV2)를 거쳐 인버팅되어 최종적인 컬럼 선택선 신호(CSL)는 로우 상태로 된다. 즉, 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)는 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)에 의해 활성화(activation)되어, 상기 데이터 억세스 명령(CMD)에 의하여 생성된 리드 활성화 신호(PCA), 라이트 활성화 신호(PWAX) 중 어느 하나의 신호,(PCA, PWAX) 및 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호 중 빠른 신호에 응답하여 비활성화(inactivation)된다. 여기서, 딜레이된 컬럼 선택선 디스인에이블 신호(도 4의 PCSLD_D)에 의하여 천이되는 경우는 입력 신호(INPUT2)가 제2 구간 제어신호를 갖게 되는 상태이고, 상기 리드 활성화 신호(PCA) 또는 라이트 활성화 신호(PWAX)에 의하여 천이되는 경우는 입력 신호(INPUT2)가 제1 구간 제어신호를 갖게 되는 상태이다.
도 6은 도 5의 컬럼 선택선 신호 생성 장치의 동작을 설명하기 위한 동작 타이밍도이다.
도 6을 참조하면, 동작 클럭(CLK), 동작 활성화 신호인 라이트 활성화 신호(PWAX) 및 리드 활성화 신호(PCA), 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE), 컬럼 선택 선 디스에이블 신호(PCSLD) 및 컬럼 선택선 신호(CSL), 제1 동작 모드(M1) 및 제2 동작 모드(M2)가 도시되어 있다. 데이터 억세스 명령(CMD)은 구체적인 동작 명령인 라이트 명령(WR1, WR2) 및 리드 명령(RD)으로 나타내었다.
메모리 셀에 데이터가 쓰여지기 위해서는 라이트 명령(WR1)이 인가되고 상기 동작 클럭(CLK)에서의 동작 클럭 싸이클(1TCK)에 응답하여 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)가 생성된다.
상기 라이트 활성화 신호(PWAX)에 응답하여 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)가 생성되고, 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)에 의하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 활성화된다. 상기 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)에 응답하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 활성화되는 것은 제1 동작 모드(M1)와 제2 동작 모드(M2)에서 동일하다.
상기 동작 클럭 싸이클보다 한 동작 클럭 싸이클 후의 제2 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 클럭 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)가 생성된다.
먼저, 데이터 억세스 명령(CMD)이 라이트 명령(WR1, WR2)에 연속되어 인가되는 경우인 제1 동작 모드는, 상기 라이트 명령(WR1)이 응답하게 하는 동작 클럭 싸이클(1TCK)보다 두 동작 클럭 싸이클 후의 제3 동작 클럭 싸이클(3TCK)에 응답하여 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)가 생성되는 모드이다. 즉, 상기 제1 동작 모드(M1)는, 라이트 명령(WR2)이 인가된 후 상기 제3 동작 클럭 싸이클(3TCK)에 응답하여 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)가 생성되는 경우, 상기 라이트 활성화 신호(PWAX)에 응답하여 상기 컬럼 선택선 신호가 천이되는 모드이다. 제1 구간 제어신호는 상 기 라이트 활성화 신호(PWAX)에 의해 생성된 신호(도 5의 INPUT2)로서, 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)의 제1 동작 모드의 펄스 구간을 결정하게 된다.
상기 제3 동작 클럭 싸이클(3TCK)은 라이트 명령(WR2)이 응답하게 하는 동작 클럭 싸이클이므로 뒤따르는 리드 명령(RD)과의 관계에서는 제1 동작 클럭 싸이클(1TCK)과 동일시 할 수 있다. 즉, 제2 동작 모드(M2)에서는 제1 동작 클럭 싸이클(1TCK)로 볼 수 있다. 도 6에서 제2 동작 모드(M2)와 관계되는 동작 클럭 싸이클(1TCK, 2TCK, 3TCK, 4TCK)는 그러한 의미로 명명되었다.
다음으로, 데이터 억세스 명령(CMD)이 라이트 명령(WR1, WR2)에 연속되어 인가되지 않는 경우인 제2 동작 모드는 상기 제3 동작 클럭 싸이클 이후의 제4 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 데이터 억세스 명령이 인가되는 모드이다. 즉, 상기 제2 동작 모드는 라이트 명령(WR2)이 인가된 후, 상기 라이트 명령(WR2)이 응답하게 하는 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클(2TCK)에 응답하여 생성된 디스에이블 신호인 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)에 의하여 비활성화되는 모드이다. 여기서, 제2 구간 제어신호는 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)에 의해 생성된 신호로서, 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)의 제2 동작 모드(M2)의 펄스 구간을 결정하게 된다.
도 7은 본 발명의 다른 실시예에 따른 컬럼 선택선 신호 생성 장치의 동작을 설명하기 위한 동작 타이밍도이다.
도 7을 참조하면, 컬럼 선택선 신호 생성 장치는 프리 커맨드 펄스(PWAX_Pre, PCA_Pre)에 응답하여 제1 구간 제어신호를 출력하며, 디스에이블 신호 에 응답하여 제2 구간 제어신호를 출력하는 구간 제어 신호 생성부를 구비한다. 즉, 상기 컬럼 선택선 신호 생성 장치에서의 컬럼 선택선 신호 생성부는 데이터 억세스 명령(도 4의 CMD)이 라이트 명령(WR1, WR2)에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드(M1)를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령(도 4의 CMD)이 상기 라이트 명령(WR1, WR2)에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드(M2)를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령(도 4의 CMD)에 의해 생성된 인에이블 신호가 입력된 경우에 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드(M1, M2)에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성한다. 그리고, 상기 컬럼 선택선 신호 생성 장치에서의 구간 제어신호 생성부는 제1 동작 모드(M1)에서는 상기 데이터 억세스 명령(CMD)이 인가되는 동작 클럭 싸이클(1TCK)의 다음 동작 클럭 싸이클인 제2 동작 클럭 싸이클(2TCK)과 천이 시점이 대체적으로 일치하는 프리 커맨드 펄스(PWAX_Pre, PCA_Pre)에 응답하여 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드(M2)에서는 디스에이블 신호에 응답하여 상기 제2 구간 제어신호를 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다르게 출력한다. 상기 디스에이블 신호는 상기 제2 동작 클럭 싸이클(2TCK)에 응답하여 생성되는 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)이다.
상기 제1 동작 모드(M1)에서 상기 프리 커맨드 펄스(PWAX_Pre, PCA_Pre)는 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)보다 먼저 생성되는 것이 바람직하다. 따라서, 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)는 딜레이 셀(DC)에 의하여 상기 프리 커맨드 펄스(PWAX_Pre, PCA_Pre)보다 늦게 생성되는 것이 바람직하다.
상기 제2 동작 모드(M2)에서 상기 프리 커맨드 펄스(PWAX_Pre, PCA_Pre)는 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)보다 늦게 생성되는 것이 바람직하다. 이는 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)의 천이가 상기 프리 커맨드 펄스(PWAX_Pre, PCA_Pre)와 상기 컬럼 선택선 디스에이블 신호 중 빠른 신호에 응답하여 천이되기 때문이다.
그리고, 상기 제2 구간 제어신호의 천이 시점은 상기 제1 구간 천이 시점보다 더 늦어지므로 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)의 펄스 폭은 상기 제2 동작 모드(M2)에서 더 넓게 된다.
본 발명의 또 다른 실시예는 하나의 억세스 트랜지스터와 스토리지 커패시터로 이루어진 단위 메모리 셀이 행과 열의 교차점에 매트릭스 형태로 연결된 메모리 블록을 복수로 가지는 메모리 셀 어레이, 상기 메모리 셀들의 행을 선택하기 위한 로우 선택 회로, 데이터 억세스 명령(CMD)이 라이트 명령(WR1, WR2)에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드(M1)를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령(CMD)이 상기 라이트 명령(WR1, WR2)에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드(M2)를 가지며, 인에이블 신호가 입력된 경우에 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드(M1,M2)에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부와, 상기 제1 동작 모드(M1)에서는 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드(M2)에서는 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다른 상기 제2 구간 제어신호를 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비하여 상기 메모리 셀들의 열을 선택하기 위한 컬럼 선택 회로를 가지는 반도체 메모 리 장치로 구체화된다. 여기서, 상기 인에이블 신호는 동작 클럭 싸이클에 응답되어 인가된 상기 데이터 억세스 명령(CMD)에 의하여 생성된 동작 활성화 신호(PWAX, PCA)에 응답하여 생성되는 컬럼 선택선 인에이블 신호(PCSLE)이다. 그리고, 상기 제1 구간 제어신호는 상기 데이터 억세스 명령에 응답하여 천이되며, 상기 제2 구간 제어신호는 상기 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제2 동작 클럭 싸이클에 의해 생성된 디스에이블 신호인 컬럼 선택선 디스에이블 신호(PCSLD)에 응답하여 천이된다. 그리고, 상기 데이터 억세스 명령은 상기 제1 동작 모드(M1)에서 상기 제2 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제3 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가되며, 상기 제2 동작 모드(M2)에서 상기 제3 동작 클럭 싸이클 후의 제4 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가된다.
본 발명의 또 다른 실시예인 데이터 억세스를 위해 메모리 셀과 연결되는 컬럼 라인을 선택하는 컬럼 선택회로를 구비한 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택선 신호 생성 방법은 상기 데이터 억세스를 위한 데이터 억세스 명령(CMD)이 설정된 연속 윈도우 구간 내에서 라이트 명령에 연속되어 인가되는 지의 유무에 따라, 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 차별적으로 생성한다. 여기서, 상기 연속 윈도우 구간은 상기 데이터 억세스 명령이 응답되게 하는 동작 클럭 싸이클로부터 상기 동작 클럭 싸이클보다 두 싸이클 이전의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 라이트 명령이 입력되는 구간이다.
도 8은 도 5에 따른 컬럼 선택선 신호 생성 장치에 의하여 종래보다 빨라진 메모리 셀에의 데이터 라이트 시점을 보인 동작 타이밍도이다.
도 8을 참조하면, 데이터 억세스 명령(WR)이 인가되어 동작 클럭(CLK)에 응답하여 컬럼 선택선 신호(CSL)가 생성된다. 구체적인 내부 응답 및 신호 생성 관계는 도 6 또는 도 7에서와 동일하므로 생략하였다.
상기 컬럼 선택선 신호(CSL)에 의해 IO 드라이버/MUX의 인에이블 신호인 PDT 신호가 생성된다. 그리고, 상기 데이터 억세스 명령이 응답하게 하는 동작 클럭 싸이클보다 한 싸이클 후의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)가 천이된다. 상기 컬럼 선택선 신호(CSL)의 천이 시점이 도 6 및 도 7에서 설명한 바와 같이 제1 동작 모드(801)와 제2 동작 모드(802)에서 서로 다르다. 그러므로, 상기 I0 드라이버/MUX 경로가 연결되어져 있는 시간이 더 길어지게 된다. 따라서, 메모리 셀(Cell)에 마지막 데이터가 쓰여지는 시점이 제1 동작 모드시(803)와 제2 동작 모드시(813)에서 다르게 된다. 즉, 제2 동작 모드시 마지막 데이터가 더 빨리 라이트된다. 따라서, 마지막 데이터가 상기 메모리 셀에 완전히 쓰여진 후 상기 비트 라인의 프리챠지가 수행되게 함으로써 데이터의 손상이 줄어들게 된다.
본 발명의 실시예에 따른 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치는 상기 실시예에 한정되지 않고, 본 발명의 기본 원리를 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 설계되고, 응용될 수 있음은 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가지는 자에게는 자명한 사실이라 할 것이다.
상술한 바와 같이 본 발명은, 개선된 컬럼 선택선 신호 생성 장치를 제공함으로써, 컬럼 선택선 신호가 데이터 억세스 명령의 인가 형태에 따라 서로 다른 형태의 동작 모드를 갖도록 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 컬럼 선택선 신호 생성 장치는 개선된 컬럼 선택선 신호 생성 장치를 제공함으로써 마지막 데이터가 메모리 셀에 쓰여지기 전에 상기 비트 라인의 프리챠지가 수행되는 문제를 감소하여 상기 메모리 셀에 마지막 데이터까지 손상되지 않고 쓰여질 수 있게 하는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 개선된 컬럼 선택 신호 생성 장치를 제공함으로써 프리챠지 전 라이트 동작 정리 시간(tRDL)을 빨리 가져갈 수 있도록 하여, 상기 프리챠지 전 라이트 동작 정리 시간의 마진이 넓어지게 되어 메모리 셀에 쓰여지는 데이터의 손실을 줄일 수 있는 효과가 있다.
또한, 본 발명은 개선된 컬럼 선택 신호 생성 장치를 제공하여 데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우 컬럼 선택선 신호의 폭을 넓게 하여 메모리 셀에 데이터 라이트가 빠르게 수행되게 함으로써, 로우 프리챠지 시점을 빠르게 할 수 있고, 반도체 메모리 장치의 고속 동작을 가능하게 하는 효과가 있다.

Claims (23)

  1. 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치에 있어서:
    데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 가지며, 인에이블 신호가 입력된 경우에 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부; 및
    상기 제1 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다른 상기 제2 구간 제어신호를 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비함을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 인에이블 신호는 동작 클럭 싸이클에 응답되어 인가된 상기 데이터 억세스 명령에 의하여 생성된 동작 활성화 신호에 응답하여 생성되어짐을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점은 상기 제2 구간 천이 시점보다 빠름을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 구간 제어신호는 상기 데이터 억세스 명령에 응답하여 천이됨을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 제2 구간 제어신호는 상기 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제2 동작 클럭 싸이클에 의해 생성된 디스에이블 신호에 응답하여 천이됨을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 데이터 억세스 명령은 상기 제1 동작 모드에서 상기 제2 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제3 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가됨을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 데이터 억세스 명령은 상기 제2 동작 모드에서 상기 제3 동작 클럭 싸이클 후의 제4 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가됨을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  8. 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택선 신호 생성 장치에 있어서:
    데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령에 의해 생성된 인에이블 신호가 입력된 경우에 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부; 및
    상기 제1 동작 모드에서는 상기 데이터 억세스 명령이 인가되는 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클의 천이시점과 천이시점이 대체적으로 일치하는 프리 커맨드 펄스에 응답하여 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 디스에이블 신호에 응답하여 상기 제2 구간 제어신호를 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다르게 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비함을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 프리 커맨드 펄스는 상기 제1 동작 모드에서 상기 디스에이블 신호보다 먼저 생성되는 것을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 프리 커맨드 펄스는 상기 제2 동작 모드에서 상기 디스에이블 신호보다 늦게 생성되는 것을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점은 상기 제2 구간 천이 시점보다 빠른 것을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  12. 제9항에 있어서,
    상기 디스에이블 신호는 딜레이 셀에 의하여 상기 프리 커맨드 펄스보다 늦게 생성되는 것을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 장치.
  13. 하나의 억세스 트랜지스터와 스토리지 커패시터로 이루어진 단위 메모리 셀이 행과 열의 교차점에 매트릭스 형태로 연결된 메모리 블록을 복수로 가지는 메모리 셀 어레이;
    상기 메모리 셀들의 행을 선택하기 위한 로우 선택 회로; 및
    데이터 억세스 명령이 라이트 명령에 연속되어 인가되는 경우에는 제1 동작 모드를 가지며, 상기 데이터 억세스 명령이 상기 라이트 명령에 연속되어 인가되지 않는 경우에는 제2 동작 모드를 가지며, 인에이블 신호가 입력된 경우에 제1,2 구간 제어신호에 응답하여 상기 제1,2 동작 모드에서 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 생성하는 컬럼 선택선 신호 생성부와, 상기 제1 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호를 출력하고, 상기 제2 동작 모드에서는 상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점과는 다른 상기 제2 구간 제어신호를 출력하는 구간 제어신호 생성부를 구비하여 상기 메모리 셀들의 열을 선택하기 위한 컬럼 선택 회로를 가짐을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  14. 제13항에 있어서,
    상기 인에이블 신호는 동작 클럭 싸이클에 응답되어 인가된 상기 데이터 억세스 명령에 의하여 생성된 동작 활성화 신호에 응답하여 생성되어짐을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  15. 제13항에 있어서,
    상기 제1 구간 제어신호의 천이 시점은 상기 제2 구간 천이 시점보다 빠름을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  16. 제13항에 있어서,
    상기 제1 구간 제어신호는 상기 데이터 억세스 명령에 응답하여 천이됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  17. 제14항에 있어서,
    상기 제2 구간 제어신호는 상기 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제2 동작 클럭 싸이클에 의해 생성된 디스에이블 신호에 응답하여 천이됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  18. 제17항에 있어서,
    상기 데이터 억세스 명령은 상기 제1 동작 모드에서 상기 제2 동작 클럭 싸이클의 다음 동작 클럭 싸이클인 제3 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가됨을 특징 으로 하는 반도체 메모리 장치.
  19. 제18항에 있어서,
    상기 데이터 억세스 명령은 상기 제2 동작 모드에서 상기 제3 동작 클럭 싸이클 후의 제4 동작 클럭 싸이클에 응답하여 인가됨을 특징으로 하는 반도체 메모리 장치.
  20. 데이터 억세스를 위해 메모리 셀과 연결되는 컬럼 라인을 선택하기 위한 컬럼 선택선 신호를 사용하는 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택 신호 생성 회로에 있어서:
    상기 데이터 억세스를 위한 데이터 억세스 명령이 설정된 연속 윈도우 구간 내에서 라이트 명령에 연속으로 인가되는 지의 유무를 체크하는 연속 판정부와;
    상기 연속 판정부에 동작적으로 연결되며 상기 연속 인가의 유무에 따라 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 차별적으로 생성하는 신호 생성부를 구비함을 특징으로 하는 컬럼 선택 신호 생성 회로.
  21. 제20항에 있어서,
    상기 연속 윈도우 구간은 상기 데이터 억세스 명령이 응답되게 하는 동작 클럭 싸이클로부터 상기 동작 클럭 싸이클보다 두 싸이클 이전의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 라이트 명령이 입력되는 구간임을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 회로.
  22. 데이터 억세스를 위해 메모리 셀과 연결되는 컬럼 라인을 선택하는 컬럼 선택회로를 구비한 반도체 메모리 장치에서의 컬럼 선택선 신호 생성 방법에 있어서:
    상기 데이터 억세스를 위한 데이터 억세스 명령이 설정된 연속 윈도우 구간 내에서 라이트 명령에 연속되어 인가되는 지의 유무에 따라, 서로 다른 펄스 구간을 갖는 컬럼 선택선 신호를 차별적으로 생성하는 것을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 방법.
  23. 제22항에 있어서,
    상기 연속 윈도우 구간은 상기 데이터 억세스 명령이 응답되게 하는 동작 클럭 싸이클로부터 상기 동작 클럭 싸이클보다 두 싸이클 이전의 동작 클럭 싸이클에 응답하여 라이트 명령이 입력되는 구간임을 특징으로 하는 컬럼 선택선 신호 생성 방법.
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Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100821573B1 (ko) * 2006-04-05 2008-04-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 컬럼 선택신호 생성장치
KR100852002B1 (ko) * 2007-05-14 2008-08-13 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택신호의 펄스 폭 제어회로
KR100868251B1 (ko) * 2007-03-22 2008-11-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치
KR100924347B1 (ko) * 2008-01-03 2009-10-30 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 선택 신호 제어 장치 및 방법
KR100967112B1 (ko) * 2008-11-10 2010-07-05 주식회사 하이닉스반도체 출력 인에이블 신호 생성회로
KR100980061B1 (ko) * 2008-12-23 2010-09-03 주식회사 하이닉스반도체 제어신호 생성회로
KR101020290B1 (ko) * 2009-01-12 2011-03-07 주식회사 하이닉스반도체 버스트모드 제어회로
KR101047003B1 (ko) * 2009-06-26 2011-07-06 주식회사 하이닉스반도체 프리차지신호 생성회로 및 반도체 메모리 장치
KR101052078B1 (ko) * 2010-02-26 2011-07-27 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006029169B4 (de) * 2006-06-24 2009-03-26 Qimonda Ag Speicherbaustein mit veränderbarer Spaltenselektionsdauer
KR100881134B1 (ko) * 2007-06-27 2009-02-02 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 엑세스 제어 장치
US9563253B2 (en) 2013-03-12 2017-02-07 Intel Corporation Techniques for power saving on graphics-related workloads
US9715909B2 (en) 2013-03-14 2017-07-25 Micron Technology, Inc. Apparatuses and methods for controlling data timing in a multi-memory system
US10290333B2 (en) * 2016-09-06 2019-05-14 SK Hynix Inc. Semiconductor device
US11462261B2 (en) * 2019-10-10 2022-10-04 Micron Technology, Inc. Methods of activating input/output lines of memory devices, and related devices and systems
US11715503B2 (en) 2021-03-26 2023-08-01 Changxin Memory Technologies, Inc. Signal generation circuit and memory
CN116072169A (zh) * 2021-11-03 2023-05-05 长鑫存储技术有限公司 存储器读写电路、存储器控制方法及电子设备

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR0157289B1 (ko) * 1995-11-13 1998-12-01 김광호 컬럼 선택 신호 제어회로
US6038176A (en) * 1997-12-10 2000-03-14 Winbond Electronics Corporation Presettable semiconductor memory device
JPH11306758A (ja) * 1998-04-27 1999-11-05 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体記憶装置
JP2000021198A (ja) * 1998-06-30 2000-01-21 Mitsubishi Electric Corp 同期型半導体集積回路装置
JP2003059264A (ja) * 2001-08-08 2003-02-28 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
US6972978B1 (en) * 2002-03-15 2005-12-06 Integrated Device Technology, Inc. Content addressable memory (CAM) devices with block select and pipelined virtual sector look-up control and methods of operating same
KR100416622B1 (ko) * 2002-04-27 2004-02-05 삼성전자주식회사 동기식 반도체 메모리장치의 컬럼 디코더 인에이블 타이밍제어방법 및 장치
ITMI20021540A1 (it) 2002-07-12 2004-01-12 St Microelectronics Srl Regolatore di tensione multifase di tipo buck
JP2004178729A (ja) * 2002-11-28 2004-06-24 Hitachi Ltd 半導体記憶装置

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100821573B1 (ko) * 2006-04-05 2008-04-15 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리의 컬럼 선택신호 생성장치
US7813211B2 (en) 2007-03-22 2010-10-12 Hynix Semiconductor Inc. Semiconductor memory device
KR100868251B1 (ko) * 2007-03-22 2008-11-12 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리장치
KR100852002B1 (ko) * 2007-05-14 2008-08-13 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치의 컬럼 선택신호의 펄스 폭 제어회로
KR100924347B1 (ko) * 2008-01-03 2009-10-30 주식회사 하이닉스반도체 컬럼 선택 신호 제어 장치 및 방법
KR100967112B1 (ko) * 2008-11-10 2010-07-05 주식회사 하이닉스반도체 출력 인에이블 신호 생성회로
KR100980061B1 (ko) * 2008-12-23 2010-09-03 주식회사 하이닉스반도체 제어신호 생성회로
US7893747B2 (en) 2008-12-23 2011-02-22 Hynix Semiconductor Inc. Control signal generation circuit
KR101020290B1 (ko) * 2009-01-12 2011-03-07 주식회사 하이닉스반도체 버스트모드 제어회로
US8027222B2 (en) 2009-01-12 2011-09-27 Hynix Semiconductor Inc. Burst mode control circuit
KR101047003B1 (ko) * 2009-06-26 2011-07-06 주식회사 하이닉스반도체 프리차지신호 생성회로 및 반도체 메모리 장치
US8331179B2 (en) 2009-06-26 2012-12-11 Hynix Semiconductor Inc. Precharge signal generator and semiconductor memory device
KR101052078B1 (ko) * 2010-02-26 2011-07-27 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 동작 방법

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