KR20050066312A - 모듈 아이씨 테스트 핸들러 및 그 작동방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 모듈 아이씨(IC) 테스트 핸들러에 관한 것으로, 핸들러 구조의 변경을 최소화하면서 8개 이상의 모듈 아이씨를 한번에 효과적으로 테스트할 수 있도록 한 것이다.

이를 위한 본 발명의 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 작동방법은, a) 이송로봇이 로딩부의 모듈 아이씨를 적어도 8개 픽업하여 테스트소켓에 접속시키는 단계와; b) 이송로봇이 로딩부의 테스트할 모듈 아이씨를 적어도 8개 픽업하여 로딩버퍼의 각 슬롯에 안착하여 대기시키는 단계와; c) 이송로봇이 테스트 소켓의 테스트 완료된 모듈 아이씨를 픽업하여 언로딩버퍼의 각 슬롯에 안착하여 대기시키는 단계와; d) 이송로봇이 로딩버퍼의 테스트할 모듈 아이씨를 픽업하여 테스트소켓에 접속시키는 단계와; e) 이송로봇이 언로딩버퍼의 테스트 완료된 모듈 아이씨를 픽업하여 테스트 결과에 따라 언로딩부에 분류하여 적재하는 단계와; f) 상기 로딩부의 모든 모듈 아이씨의 테스트가 완료될 때까지 상기 단계 b 내지 단계 e를 순차적으로 반복 수행하는 단계를 포함하여 구성된 것을 특징으로 한다.

Description

모듈 아이씨 테스트 핸들러 및 그 작동방법{Handler for Testing Module IC And Method for Operating the Same}

본 발명은 모듈 아이씨(Module IC)를 테스트하는데 사용하는 핸들러에 관한 것으로, 핸들러의 구성을 복잡하게 하지 않고 한번에 기존보다 많은 수의 모듈 아이씨를 테스트할 수 있도록 하여 테스트 생산성을 향상시킨 모듈 아이씨 테스트 핸들러 및 그 작동방법에 관한 것이다.

일반적으로, 모듈 아이씨는 복수개의 아이씨(IC) 및 기타 소자를 하나의 기판상에 납땜 고정하여 독립적인 회로를 구성한 것으로, 이러한 모듈 아이씨는 컴퓨터의 마더보드에 실장되는 여러가지의 부품들 중에서 매우 중요한 역할을 하기 때문에 생산 후 출하 전에 반드시 그의 이상상태를 점검하는 과정을 거치게 된다.

모듈 아이씨 테스트 핸들러는 이러한 모듈 아이씨(Module IC)들을 테스터(TESTER)라고 하는 테스트장비의 소켓에 자동으로 접속시켜 테스트를 행하고, 그 테스트 결과에 따라 분류(sorting)하는 작업을 수행하는 장비이다.

종래의 모듈 아이씨 테스트 핸들러는 한번에 4개의 모듈 아이씨를 고정할 수 있는 로딩픽커헤드(loading picker head)를 이용하여 미테스트 모듈 아이씨들을 테스트 소켓으로 이송 및 접속시켜 테스트를 수행하고, 테스트가 종료되면 역시 4개의 모듈 아이씨를 고정할 수 있는 언로딩픽커헤드(unloading picker head)를 이용하여 테스트 완료된 모듈 아이씨를 테스트 소켓에서 분리시키고 테스트 결과에 따라 해당 트레이에 분류한다.

그러나, 최근들어 테스터(TESTER) 기술의 발달로 한번에 테스트할 수 있는 모듈 아이씨의 수가 4개(4para)에서 8개(8para) 또는 그 이상으로 증가하는 추세에 있는 바, 이와 같은 테스터의 테스트 능력 향상에 대응하기 위해서는 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 구조적인 변경을 행하면 되지만, 이 경우 구조적 변경과 제작에 많은 비용과 노력이 소요되어 장비 가격이 상승하게 되는 문제가 있다.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로, 종래의 핸들러 구조의 변경을 최소화하면서 복수개 이상의 모듈 아이씨를 한번에 효과적으로 테스트할 수 있도록 한 모듈 아이씨 테스트 핸들러를 제공함에 그 목적이 있다.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 한 관점에 따르면, 테스트할 모듈 아이씨가 적재되어 대기하는 로딩부와; 모듈 아이씨가 전기적으로 접속되면서 테스트되는 복수개의 테스트소켓이 설치된 테스트헤드부와; 상기 테스트소켓의 개수와 같거나 많은 수의 모듈 아이씨 안착용 슬롯을 구비하고, 상기 로딩부로터 이송되는 테스트할 모듈 아이씨들이 놓여져 대기하는 로딩버퍼와; 상기 테스트소켓의 개수와 같거나 많은 수의 모듈 아이씨 안착용 슬롯을 구비하여, 테스트헤드에서 테스트 완료된 모듈 아이씨들이 놓여져 대기하게 되는 언로딩버퍼와; 상기 언로딩버퍼로부터 이송되는 테스트 완료된 모듈 아이씨들이 테스트 결과에 따라 분류되어 적재되는 언로딩부 및; 모듈 아이씨를 고정 및 해제하는 복수개의 픽커를 구비하여, 상기 로딩부와, 로딩버퍼, 언로딩버퍼, 테스트헤드부, 언로딩부 사이에서 모듈 아이씨들을 이송하는 픽커헤드를 포함하여 구성된 모듈 아이씨 테스트 핸들러가 제공된다.

본 발명의 한 실시형태에 따르면, 상기 픽커헤드는 상호 독립적으로 이동이 가능하며, 각각 적어도 4개의 픽커를 구비한 제 1픽커헤드와 제 2픽커헤드로 구성된다.

그리고, 본 발명의 다른 한 관점에 따르면, a) 이송로봇이 로딩부의 모듈 아이씨를 테스트소켓의 개수와 동일한 수를 픽업하여 테스트소켓에 접속시키는 단계와; b) 이송로봇이 로딩부의 테스트할 모듈 아이씨를 테스트소켓의 개수와 동일한 수를 로딩버퍼의 각 슬롯에 안착하여 대기시키는 단계와; c) 이송로봇이 테스트 소켓의 테스트 완료된 모듈 아이씨를 픽업하여 언로딩버퍼의 각 슬롯에 안착하여 대기시키는 단계와; d) 이송로봇이 로딩버퍼의 테스트할 모듈 아이씨를 픽업하여 테스트소켓에 접속시키는 단계와; e) 이송로봇이 언로딩버퍼의 테스트 완료된 모듈 아이씨를 픽업하여 테스트 결과에 따라 언로딩부에 분류하여 적재하는 단계와; f) 상기 로딩부의 모든 모듈 아이씨의 테스트가 완료될 때까지 상기 단계 b ~ 단계 e를 순차적으로 반복 수행하는 단계를 포함하여 구성된 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 작동방법이 제공된다.

이하, 본 발명에 따른 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 구성 및 작동방법의 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.

도 1은 본 발명에 따른 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 일 실시예의 구성을 나타낸 것으로, 핸들러 본체(1)의 전방부 일측에 테스트할 모듈 아이씨(M)들이 수납된 트레이(T)들이 적층되는 로딩스택커(2) 및 이 로딩스택커(2) 중 최상층 트레이가 외부로 인출되어 대기하는 로딩대기부(4)가 배치되고, 상기 핸들러 본체(1)의 타측에는 테스트 완료된 양품의 모듈 아이씨들이 수납되는 트레이들이 적재되는 언로딩스택커(3) 및 이 언로딩스택커(3)에 적재되기 전에 테스트 완료된 양품 모듈 아이씨를 수납하기 위한 트레이가 대기하는 언로딩대기부(5)가 배치된다.

상기 로딩스택커(2)와 언로딩스택커(3)에는 트레이들을 한 스텝씩 승강시키기 위한 엘리베이터(미도시)가 설치된다.

그리고, 상기 로딩대기부(4)의 후방측에 테스트할 모듈 아이씨들이 임시 대기하는 로딩버퍼(7) 및 테스트 완료된 모듈 아이씨들이 임시 대기하는 언로딩버퍼(8)가 서로 나란히 설치된다.

여기서, 상기 로딩버퍼(7)와 언로딩버퍼(8)에는 각각 8개의 모듈 아이씨들이 직립 상태로 안착될 수 있도록 8개씩의 슬롯(7a, 8a)이 형성되어 있는데, 상기 언로딩버퍼(8)에는 테스트 완료된 모듈 아이씨들 중 양품 이외 등급의 모듈 아이씨들을 양품들과 분리하여 일시적으로 대기시킬 수 있도록 추가적으로 복수개의 임시 슬롯을 더 형성할 수 있다.

한편, 상기 언로딩대기부(5)의 후방측에는 테스트 결과 양품 이외의 등급으로 판정된 모듈 아이씨(M)들을 각 등급별로 분류하여 적재하는 리젝트 언로딩스택커(6)가 배치된다.

그리고, 본체(1)의 최후방 위치에는 테스트할 모듈 아이씨가 전기적으로 접속되면서 테스트가 이루어지는 8개의 테스트소켓(10)이 구비된 테스트헤드부(9)가 배치된다. 상기 테스트헤드부(9)는 테스터(TESTER)(미도시)와 전기적으로 연결되는 일종의 인터페이스(interface)이다.

상기 본체(1)의 상측에는 상기 각 구성요소, 즉 로딩대기부(4)와 로딩버퍼(7), 언로딩버퍼, 테스트헤드부(9), 언로딩스택커(3) 및, 리젝트 언로딩스택커(6)로 모듈 아이씨를 이송하는 2개의 제 1픽커헤드(11)와 제 2픽커헤드(12)가 전후 및 좌우 방향으로 수평 이동가능하게 설치된다.

여기서, 상기 제 1픽커헤드(11)와 제 2픽커헤드(12)는 각각 모듈 아이씨를 고정 및 해제하는 4개씩의 픽커(11a, 12a)를 구비하며, 본체(1)의 좌우방향으로 설치되는 가동레일(13)을 따라 서로 독립적으로 이동이 가능하도록 되어 있다. 상기 가동레일(13)은 양단이 본체(1)의 양측부에 전후방향으로 설치되는 고정레일(14)에 결합되어 이 고정레일(14)을 따라 전후방향으로 이동 가능하게 되어 있다.

상기 제 1,2픽커헤드(11, 12)를 가동레일(13)을 따라 수평하게 왕복 이동시키고, 상기 가동레일(13)을 고정레일(14)을 따라 수평하게 왕복 이동시키기 위한 수단은 리니어모터 또는 볼스크류 등의 공지된 선형 운동 시스템을 이용하여 구성하면 되는 바, 이에 대한 상세한 설명은 생략한다.

상기와 같이 구성된 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 작동방법을 도 1과 도 2를 참조하여 설명하면 다음과 같다.

작업자가 테스트할 모듈 아이씨들이 수납된 트레이들을 로딩스택커(2)에 적재하고 핸들러를 가동시키면, 별도의 트레이 인출장치가 로딩스택커(2)의 최상층 트레이를 로딩대기부(4)로 인출한다.

이어서, 제 1,2픽커헤드(11, 12)가 로딩대기부(4) 상으로 이동하여 8개의 모듈 아이씨(M)를 픽업한 다음, 테스트헤드부(9)로 이동하여 테스트소켓(10)에 접속시켜 전기적 성능 테스트를 실시한다.

테스트헤드부(9)에서 테스트가 진행되는 동안 제 1,2픽커헤드(11, 12)는 로딩대기부(4)로 이동하여 테스트할 새로운 8개의 모듈 아이씨(M)를 픽업하여 로딩버퍼(7)의 각 슬롯(7a)에 놓은 다음, 테스트헤드부(9) 바로 상측에서 대기한다.

테스트헤드부(9)에서 테스트가 완료되면, 제 1,2픽커헤드(11, 12)는 테스트소켓(10)에서 테스트 완료된 모듈 아이씨(M)를 픽업하여 언로딩버퍼(8)로 이송한 다음, 다시 로딩버퍼(7)로 이동하여 테스트할 새로운 모듈 아이씨들을 픽업하고, 테스트헤드부(9)로 이동하여 테스트소켓(10)에 모듈 아이씨들을 접속시킨다.

그런 다음, 제 1,2픽커헤드(11, 12)는 다시 언로딩버퍼(8)로 이동하여 테스트 완료된 모듈 아이씨들을 픽업하여, 테스트 결과에 따라 양품 모듈 아이씨(M)들은 언로딩대기부(5)의 트레이(T)에 수납시키고, 양품 이외의 등급, 예컨대 재검사 혹은 불량 모듈 아이씨(M)들은 리젝트 언로딩스택커(6)의 트레이(T)에 해당 등급별로 수납시키는 소팅(sorting) 작업을 수행한다.

소팅 작업이 완료되면, 제 1,2픽커헤드(11, 12)는 다시 로딩대기부(4)로 이동하여 8개의 새로운 모듈 아이씨(M)들을 픽업하고, 로딩버퍼(7)로 이동하여 모듈 아이씨를 로딩버퍼(7) 상에 안착시켜 대기시킨 다음, 테스트헤드부(9) 상측으로 이동하여 테스트 완료된 모듈 아이씨를 받을 준비를 한다.

그리고, 제 1,2픽커헤드(11, 12)는 상술한 바와 같이 테스트 완료된 모듈 아이씨를 언로딩버퍼(8)로 이송하고, 로딩버퍼(7) 상의 새로운 모듈 아이씨를 테스트소켓(10)에 접속시키며, 언로딩버퍼(8) 상의 테스트 완료된 모듈 아이씨를 테스트 결과별로 언로딩스택커(3)에 분류, 수납하는 소팅 작업을 수행한 후, 다시 로딩대기부(4)에서 새로운 모듈 아이씨를 픽업하여 로딩버퍼(7) 상으로 이송한 후 테스트헤드부(9) 상에서 대기하는 일련의 과정을 연속 반복적으로 수행하게 된다.

전술한 실시예의 모듈 아이씨 핸들러는 제 1,2픽커헤드(11, 12)가 함께 이동하면서 한번에 8개의 모듈 아이씨를 로딩버퍼(7)로 이송하도록 하고 있으나, 이와 다르게 제 1픽커헤드(11)가 로딩대기부(4) 상의 4개의 모듈 아이씨를 픽업하여 로딩버퍼(7) 상에 놓은 다음 제 2픽커헤드(12)가 로딩대기부(4)로 이동하여 다시 4개의 모듈 아이씨를 픽업하여 로딩버퍼(7) 상에 놓도록 할 수도 있다.

이 경우, 제 1,2픽커헤드(11, 12)를 함께 이동할 때보다 주변 구성부의 간섭을 덜 받기 때문에 장비의 전체 크기를 줄일 수 있는 이점과 함께, 기존 핸들러의 로딩픽커헤드와 언로딩픽커헤드를 구조적으로 변경하지 않고 그대로 사용할 수 있는 이점도 있다.

물론, 상술한 것과 같이 제 1,2픽커헤드(11, 12)를 분리되게 구성하지 않고, 8개 이상의 픽커를 구비하는 하나로 통합된 픽커헤드로 구성하여 모듈 아이씨들을 이송할 수도 있을 것이다.

이상에서와 같이 본 발명에 따르면, 핸들러의 전체 구성의 구조적 변경을 최소하면서 테스트소켓에서 복수개의 모듈 아이씨를 한번에 효과적으로 테스트할 수 있게 되어, 최소의 비용 증가로 테스트 효율을 현저히 향상시킬 수 있다.

도 1은 본 발명에 따른 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 구성을 개략적으로 나타내는 평면 구성도

도 2는 도 1의 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 작동방법을 도식화하여 나타낸 모식도

* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *

1 : 본체 2 : 로딩스택커

3 : 언로딩스택커 4 : 로딩대기부

5 : 언로딩대기부 6 : 리젝트 언로딩스택커

7 : 로딩버퍼 8 : 언로딩버퍼

9 : 테스트헤드부 10 : 테스트소켓

11, 12 : 제 1,2픽커헤드 11a, 12a : 픽커

Claims (5)

1. 테스트할 모듈 아이씨가 적재되어 대기하는 로딩부와;

   모듈 아이씨가 전기적으로 접속되면서 테스트되는 복수개의 테스트소켓이 설치된 테스트헤드부와;

   상기 테스트소켓의 개수와 같거나 많은 수의 모듈 아이씨 안착용 슬롯을 구비하고, 상기 로딩부로터 이송되는 테스트할 모듈 아이씨들이 놓여져 대기하는 로딩버퍼와;

   상기 테스트소켓의 개수와 같거나 많은 수의 모듈 아이씨 안착용 슬롯을 구비하여, 테스트헤드에서 테스트 완료된 모듈 아이씨들이 놓여져 대기하게 되는 언로딩버퍼와;

   상기 언로딩버퍼로부터 이송되는 테스트 완료된 모듈 아이씨들이 테스트 결과에 따라 분류되어 적재되는 언로딩부 및;

   모듈 아이씨를 고정 및 해제하는 복수개의 픽커를 구비하여, 상기 로딩부와, 로딩버퍼, 언로딩버퍼, 테스트헤드부, 언로딩부 사이에서 모듈 아이씨들을 이송하는 픽커헤드를 포함하여 구성된 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
2. 제 1항에 있어서, 상기 픽커헤드는 상호 독립적으로 이동이 가능하며, 각각 적어도 4개의 픽커를 구비한 제 1픽커헤드와 제 2픽커헤드로 구성된 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
3. 제 1항에 있어서, 상기 언로딩부는 테스트 결과 양품으로 판정된 모듈 아이씨들이 수납되는 양품 언로딩스택커와, 테스트 결과 양품 이외 등급으로 판정된 모듈 아이씨들이 수납되는 리젝트 언로딩스택커로 구성된 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러.
4. a) 이송로봇이 로딩부의 모듈 아이씨를 테스트소켓의 개수와 동일한 수를 픽업하여 테스트소켓에 접속시키는 단계와;

   b) 이송로봇이 로딩부의 테스트할 모듈 아이씨를 테스트소켓의 개수와 동일한 수를 로딩버퍼의 각 슬롯에 안착하여 대기시키는 단계와;

   c) 이송로봇이 테스트 소켓의 테스트 완료된 모듈 아이씨를 픽업하여 언로딩버퍼의 각 슬롯에 안착하여 대기시키는 단계와;

   d) 이송로봇이 로딩버퍼의 테스트할 모듈 아이씨를 픽업하여 테스트소켓에 접속시키는 단계와;

   e) 이송로봇이 언로딩버퍼의 테스트 완료된 모듈 아이씨를 픽업하여 테스트 결과에 따라 언로딩부에 분류하여 적재하는 단계와;

   f) 상기 로딩부의 모든 모듈 아이씨의 테스트가 완료될 때까지 상기 단계 b ~ 단계 e를 순차적으로 반복 수행하는 단계를 포함하여 구성된 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 작동방법.
5. 제 4항에 있어서, 상기 단계 b에서 이송로봇이 로딩부의 모듈 아이씨를 로딩버퍼로 이송하는 동작은 이송로봇이 모듈 아이씨를 2번에 걸쳐 이송하는 것에 의해 이루어지는 것을 특징으로 하는 모듈 아이씨 테스트 핸들러의 작동방법.