KR20030007688A - 나노여과용 산 안정성 막 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (71)
- 90 ℃에서 24 시간 또는 40 ℃에서 30 일 동안 20% 황산 용액에 노출시킨 후, 9.5% CuS04및 20% 황산으로 이루어진 공급액을 4137 kPa (600 psig)의 압력 및 25 ℃의 온도에서 가했을 때 공급액으로부터 50% 이상의 구리 이온을 1 gfd (1 일, 1 평방 피트 당 갤런) 이상의 유속으로 제거하는 시험을 충족시킬 수 있는 막 (membrane).
- 양이온성 관능기를 갖는 산 안정성 화학 주쇄를 가지는 나노여과 중합체 매트릭스 및 지지체를 포함하고,9.5% CuS04및 20% 황산으로 이루어진 공급액을 4137 kPa (600 psig)의 압력 및 25 ℃의 온도에서 가했을 때 공급액으로부터 50% 이상의 구리 이온을 1 gfd 이상의 유속으로 제거하는 시험을 충족시킬 수 있는 나노여과 막.
- 제2항에 있어서, 중합체 매트릭스가 폴리올레핀, 폴리술폰, 폴리에테르, 폴리술폰아미드, 폴리아민, 폴리술피드 및 멜라민 중합체로 이루어진 군으로부터 선택되는 것인 막.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 유속이 2 gfd 이상인 막.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 공급액으로부터 80 % 이상의 구리 이온을 제거하는 막.
- 제2항에 있어서, 매트릭스가 2개 이상의 술포닐기를 가진 술포닐 단량체 잔기, 및 2개 이상의 아민기를 가진 아민 단량체 잔기 또는 올리고머 잔기로부터 유도되는 술폰아미드 중합체 매트릭스인 것인 막.
- 제1항에 있어서, 폴리올레핀, 폴리술폰, 폴리에테르, 폴리술폰아미드, 폴리아민, 폴리술피드, 폴리에테르술폰, 폴리에테르 케톤 및 멜라민 중합체로 이루어진 군으로부터 선택되는 중합체를 포함하는 막.
- 제7항에 있어서, 매트릭스가 2개 이상의 술포닐기를 가진 술포닐 단량체 잔기 및 2개 이상의 아민기를 가진 아민 단량체 잔기로부터 유도되는 술폰아미드 중합체 매트릭스인 막.
- 제1항에 있어서, 복합막인 막.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 매트릭스의 평균 두께가 약 5 nm 내지 약 400 nm인 막.
- 제10항에 있어서, 매트릭스의 평균 두께가 약 15 nm 내지 약 200 nm인 막.
- 제11항에 있어서, 매트릭스의 평균 두께가 약 15 nm 내지 약 100 nm인 막.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 유체 혼합물을 보다 적게 투과하는 분획과 보다 많이 투과하는 분획으로 분리하는 데 사용하기 위한 막.
- 제3항 또는 제6항에 있어서, 중합체 매트릭스가 적어도 부분적으로 가교된 것인 막.
- 제6항에 있어서, 매트릭스의 술폰아미드 중합체가 계면 중합으로 제조되는 것인 막.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 복합막인 막.
- 제3항 또는 제7항에 있어서, 단량체 반응물의 반응 생성물로 이루어진 중합체인 막.
- 제17항에 있어서, 적어도 1종 이상의 반응물이 잠재적으로 양이온성 관능기를 포함하는 것인 막.
- 제15항에 있어서, 매트릭스의 평균 두께가 약 5 nm 내지 약 400 nm인 막.
- 제19항에 있어서, 매트릭스의 평균 두께가 약 15 nm 내지 약 200 nm인 막.
- 제20항에 있어서, 매트릭스의 평균 두께가 약 15 nm 내지 약 100 nm인 막.
- 제1항, 제2항, 제3항, 제6항 또는 제7항 기재의 막을, 용존 양이온을 포함하고 pH가 약 4 미만인 산 함유 공급액과 접촉시키는 것을 포함하며, 이 때 상기 막은 공급액으로부터 용존 양이온의 적어도 일부를 제거하는 것인 분리 방법.
- 제22항에 있어서, 막이 공급액 중의 90% 이상의 산을 통과시킬 수 있는 것인 방법.
- 제22항에 있어서, 막의 연속 사용 내구 수명이 30 일 이상인 방법.
- 제22항에 있어서, 막이 pH 약 4 미만에서 양이온성인 방법.
- 제22항에 있어서, 막이 pH 약 7 미만에서 양이온성인 방법.
- 제22항에 있어서, 막이 폴리술폰아미드인 방법.
- 제22항에 있어서, 막이 공급액으로부터 50% 이상의 용존 양이온을 제거하는 것인 방법.
- 제22항에 있어서, 막이 공급액으로부터 80% 이상의 용존 양이온을 제거하는 것인 방법.
- 제22항에 있어서, 공급액 중의 양이온이 금속 이온인 방법.
- 제22항에 있어서, 공급액 중의 양이온이 전이 금속 이온인 방법.
- 제22항에 있어서, 양이온이 철, 구리, 금, 코발트, 티탄, 프라세오디뮴, 백금, 팔라듐, 암모늄 및 은으로 이루어진 군으로부터 선택되는 것인 방법.
- 제22항에 있어서, 공급액 중의 산이 황산, 염산, 인산 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 것인 방법.
- 제22항에 있어서, 공급액을 약 1 gfd 이상의 유속을 달성하기에 충분한 압력으로 막에 가하는 방법.
- 제1항 또는 제2항 기재의 막을, 용존 금속 광석을 포함하는 산 함유 공급액과 접촉시키는 것을 포함하며, 상기 공급액은 금속 이온을 포함하고, 상기 막은 공급액으로부터 금속 이온의 적어도 일부를 제거하는 것인 금속 광석 샘플의 처리 방법.
- 제35항에 있어서, 막의 연속 사용 내구 수명이 30 일 이상인 방법.
- 제36항에 있어서, 내구 수명이 180 일 이상인 방법.
- 제35항에 있어서, 막이 폴리술폰아미드인 방법.
- 제35항에 있어서, 막이 공급액으로부터 50% 이상의 용존 금속 이온을 제거하는 것인 방법.
- 제35항에 있어서, 금속 광석이 전이 금속을 포함하는 방법.
- 제35항에 있어서, 금속 광석이 철, 구리, 금, 티탄, 프라세오디뮴, 백금, 팔라듐 및 은으로 이루어진 군으로부터 선택되는 방법.
- 제35항에 있어서, 공급액이 구리 이온을 포함하는 방법.
- 제35항에 있어서, 공급액이 황산, 염산, 인산 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 1종 이상의 산을 포함하는 것인 방법.
- 제22항에 있어서, 공급액을 약 1 gfd 초과의 유속을 달성하기에 충분한 압력으로 막에 가하는 방법.
- 제22항에 있어서, 용액이 황산, 염산, 인산 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 산을 포함하는 것인 방법.
- 제22항에 있어서, 용액이 황산을 포함하는 방법.
- 제30항에 있어서, 금속 이온이 구리인 방법.
- 폴리술폰아미드 막을 공급액과 접촉시키는 것을 포함하며, 상기 공급액은 용존 금속 이온을 포함하고, pH가 약 1.5 미만이고, 상기 막은 공급액으로부터 용존 금속 이온의 적어도 일부를 제거하는 것인 금속 광석 샘플의 산 함유 공급액의 처리 방법.
- 제48항에 있어서, 공급액을 약 1 gfd 초과의 유속을 제공하기에 충분한 압력으로 막에 가하는 방법.
- 제48항에 있어서, 막이 공급액으로부터 약 50% 이상의 금속 이온을 불투과시키는 방법.
- 제48항에 있어서, 막의 내구 수명이 연속 사용시 1개월 이상인 방법.
- 제48항에 있어서, 공급액 중의 산이 황산, 염산 및 인산으로 이루어진 군으로부터 선택되는 방법.
- 제48항에 있어서, 금속 광석이 전이 금속인 방법.
- 제48항에 있어서, 전이 금속이 철, 구리, 금, 티탄, 프라세오디뮴, 백금, 팔라듐 및 은으로 이루어진 군으로부터 선택되는 방법.
- 제48항에 있어서, 금속 광석이 구리 광석을 포함하고, 공급액이 구리 이온을 포함하는 방법.
- 제3항, 제6항 또는 제7항 기재의 폴리술폰아미드 막을, pH가 약 4 미만인 공급액과 접촉시키는 것을 포함하며, 상기 용액은 용존 유기 화합물을 포함하고, 상기 막은 상기 용액으로부터 유기 화합물의 적어도 일부를 제거하는 것인 분리 방법.
- 제56항에 있어서, 막의 연속 사용 내구 수명이 30 일 이상인 방법.
- 제56항에 있어서, 막이 공급액으로부터 50% 이상의 유기 화합물을 불투과시키는 방법.
- 제56항에 있어서, 공급액을 약 1 gfd 초과의 유속을 제공하기에 충분한 압력으로 막에 가하는 방법.
- 제56항에 있어서, 공급액이 황산, 염산, 인산 및 이들의 혼합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 산을 포함하는 방법.
- 제56항에 있어서, 공급액이 황산을 포함하는 방법.
- 제56항에 있어서, 폴리술폰아미드 막을 계면 중합으로 제조하는 방법.
- 1) 2개 이상의 1급 아민 및 1개 이상의 양이온성 관능기를 가진 단량체 또는 올리고머 반응물; 및2) 나프탈렌 디술포닐 반응물, 나프탈렌 트리술포닐 반응물, 벤젠 디술포닐 반응물 또는 벤젠 트리술포닐 반응물, 또는 이들의 혼합물로부터 제조되는 술폰아미드 막.
- 제1항, 제2항 또는 제63항에 있어서,1) 나프탈렌 디술포닐 반응물, 나프탈렌 트리술포닐 반응물, 벤젠 디술포닐 반응물 또는 벤젠 트리술포닐 반응물, 또는 이들의 혼합물과;2) 디에틸렌트리아민, 트리에틸렌테트라민, 테트라에틸렌펜타민, 헥사에틸렌펜타민 또는 트리스(2-아미노에틸)아민, 또는 이들의 혼합물과의 반응으로부터 제조되는 막.
- 제64항에 있어서,1) 1,3,6-나프틸렌트리술포닐 클로라이드 또는 1,3,5-벤젠트리술포닐 클로라이드, 또는 이들의 혼합물과;2) 트리에틸렌테트라민의 계면 반응으로부터 제조되는 막.
- 제1항 또는 제2항에 있어서, 시험 유속이 6 gfd 이상인 막.
- 제66항에 있어서, 시험 구리 체류값이 90% 이상인 막.
- pH 약 2 미만인 산 함유 공급액을 제67항 기재의 막과 접촉시키는 것을 포함하며, 산 함유 공급액으로부터 양이온을 제거하는 방법.
- 제63항 기재의 막을, 용존 양이온을 포함하고 pH가 약 4 미만인 산 함유 공급액과 접촉시키는 것을 포함하며, 상기 막은 공급액으로부터 용존 양이온의 적어도 일부를 제거하는 것인 분리 방법.
- 제63항 기재의 막을, 용존 금속 광석을 포함하는 산 함유 공급액과 접촉시키는 것을 포함하며, 상기 공급액은 금속 이온을 포함하고, 상기 막은 공급액으로부터 금속 이온의 적어도 일부를 제거하는 것인 금속 광석 샘플의 처리 방법.
- 제63항 기재의 폴리술폰아미드 막을, pH가 약 4 미만인 공급액과 접촉시키는 것을 포함하며, 상기 용액은 용존 유기 화합물을 포함하고, 상기 막은 상기 용액으로부터 유기 화합물의 적어도 일부를 제거하는 것인 분리 방법.
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