KR20030000603A - Circuit for input receiver in rambus dram - Google Patents
Circuit for input receiver in rambus dram Download PDFInfo
- Publication number
- KR20030000603A KR20030000603A KR1020010036640A KR20010036640A KR20030000603A KR 20030000603 A KR20030000603 A KR 20030000603A KR 1020010036640 A KR1020010036640 A KR 1020010036640A KR 20010036640 A KR20010036640 A KR 20010036640A KR 20030000603 A KR20030000603 A KR 20030000603A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- signal
- reference voltage
- output
- input receiver
- node
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4096—Input/output [I/O] data management or control circuits, e.g. reading or writing circuits, I/O drivers or bit-line switches
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/409—Read-write [R-W] circuits
- G11C11/4091—Sense or sense/refresh amplifiers, or associated sense circuitry, e.g. for coupled bit-line precharging, equalising or isolating
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/06—Sense amplifiers; Associated circuits, e.g. timing or triggering circuits
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C7/00—Arrangements for writing information into, or reading information out from, a digital store
- G11C7/10—Input/output [I/O] data interface arrangements, e.g. I/O data control circuits, I/O data buffers
- G11C7/1078—Data input circuits, e.g. write amplifiers, data input buffers, data input registers, data input level conversion circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Dram (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 램버스 디램(Rambus DRAM)의 입력 리시버(Input Receiver) 회로에 관한 것으로, 특히 입력 리시버로 수신되는 기준전압(Vref) 신호선의 노이즈를 줄일 수 있는 입력 리시버 회로에 관한 것이다.The present invention relates to an input receiver circuit of a Rambus DRAM, and more particularly, to an input receiver circuit capable of reducing noise of a reference voltage (Vref) signal line received by an input receiver.
도 1은 종래의 램버스 디램의 입력 리시버와 기준 전압(Vref) 신호의 연결을 나타낸 것으로, n개로 이루어진 입력 리시버부(n)의 각각으로 기준 전압(Vref) 신호와 데이타 버스(DB) 신호를 수신하도록 구성되어 있다.1 illustrates a connection between an input receiver and a reference voltage (Vref) signal of a conventional Rambus DRAM, and receives a reference voltage (Vref) signal and a data bus (DB) signal with each of the n input receiver units n. It is configured to.
도 2는 종래 기술에 따른 램버스 디램의 입력 리시버의 회로도로서, 데이타(Data) 신호와 기준 전압(Vref)를 수신하여 차동 증폭된 제 1 출력 신호와 제 1 출력바 신호를 출력하는 제 1 증폭부(10)와, 수신된 클럭 신호(CLK)가 '로우'일 때 프리차지 되고 '하이'일 때 상기 제 1 출력 신호와 상기 제 1 출력바 신호를 수신하여 차동 증폭된 신호를 출력하는 제 2 증폭부(20)로 구성되어 있다.FIG. 2 is a circuit diagram of an input receiver of a rambus DRAM according to the prior art, and includes a first amplifier configured to receive a data signal and a reference voltage Vref and output a differentially amplified first output signal and a first output bar signal. 10 and a second for precharging when the clock signal CLK is 'low' and receiving the first output signal and the first output bar signal when the clock signal CLK is 'low' and outputting a differentially amplified signal. It consists of the amplifier 20.
상기 제 1 증폭부(1)는 전원 공급전압(Vcc)과 출력 노드(Nd1) 사이에 접속된 저항(R1)과, 전원 공급전압(Vcc)과 출력 노드(Nd2) 사이에 접속된 저항(R2)과, 데이타 신호(Data)가 '하이'일 때 상기 출력 노드(Nd1)의 신호를 노드(Nd3)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N1)와, 기준 전압(Vref) 신호가 '하이'일 때 상기 출력 노드(Nd2)의 신호를 상기 노드(Nd3)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N2)와, 상기 노드(Nd3)와 접지 전압(Vss) 사이에 접속된 정전류원(Is)으로 구성되어 있다.The first amplifier 1 includes a resistor R1 connected between a power supply voltage Vcc and an output node Nd1, and a resistor R2 connected between a power supply voltage Vcc and an output node Nd2. ), An NMOS transistor N1 for transmitting the signal of the output node Nd1 to the node Nd3 when the data signal Data is 'high', and when the reference voltage Vref signal is 'high'. An NMOS transistor N2 for transmitting a signal of the output node Nd2 to the node Nd3, and a constant current source Is connected between the node Nd3 and the ground voltage Vss.
상기 제 2 증폭부(20)는 클럭 신호(CLK)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vcc)을 노드(Nd4)로 전송하는 PMOS 트랜지스터(P1)와, 상기 클럭 신호(CLK)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vcc)을 노드(Nd5)로 전송하는 PMOS 트랜지스터(P5)와, 상기 클럭 신호(CLK)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd4)와 노드(Nd5)의 신호를 등화시켜 주는 PMOS 트랜지스터(P3)와, 상기 노드(Nd5)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vdd)을 상기 노드(Nd4)로전송하는 PMOS 트랜지스터(P2)와, 상기 노드(Nd4)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vdd)을 상기 노드(Nd5)로 전송하는 PMOS 트랜지스터(P4)와, 상기 노드(Nd5)가 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd4)의 전압을 노드(Nd6)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N3)와, 상기 노드(Nd4)가 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd5)의 전압을 노드(Nd7)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N4)와, 상기 노드(Nd6)와 접지 전압(Vss) 사이에 직렬로 연결되며 상기 제 1 출력 신호(out1)과 상기 클럭 신호(CLK)가 모두 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd6)의 신호를 접지 전압(Vss)으로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N5)(N7)와, 상기 노드(Nd7)와 접지 전압(Vss) 사이에 직렬로 연결되며 상기 제 1 출력바 신호(outb1)와 상기 클럭 신호(CLK)가 모두 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd7)의 신호를 접지 전압(Vss)으로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N6)(N8)로 구성되어 있다.The second amplifier 20 may include a PMOS transistor P1 for transmitting a power supply voltage Vcc to the node Nd4 when the clock signal CLK has a low voltage level, and the clock signal CLK. Has a low voltage level, the PMOS transistor P5 transmits a power supply voltage Vcc to the node Nd5, and the node Nd4 when the clock signal CLK has a low voltage level. And a PMOS transistor P3 for equalizing the signal of the node Nd5, and a PMOS transistor for transmitting a power supply voltage Vdd to the node Nd4 when the node Nd5 has a low voltage level. P2, a PMOS transistor P4 for transmitting a power supply voltage Vdd to the node Nd5 when the node Nd4 has a low voltage level, and the node Nd5 has a high voltage. An NMOS transistor N3 which transfers the voltage of the node Nd4 to the node Nd6 when having a level, and the furnace when the node Nd4 has a 'high' voltage level. An NMOS transistor N4 that transfers the voltage of Nd5 to node Nd7, and is connected in series between the node Nd6 and the ground voltage Vss, and the first output signal out1 and the clock signal NMOS transistor N5 (N7), which transfers the signal of node Nd6 to ground voltage Vss when CLK has all of the 'high' voltage levels, between node Nd7 and ground voltage Vss. An NMOS transistor connected in series with the first output bar signal outb1 and the clock signal CLK to transmit a signal of the node Nd7 to a ground voltage Vss when both the clock signal CLK has a 'high' voltage level. It consists of N6) (N8).
상기 제 2 증폭부(20)는 크로스 커플 래치형 센스 앰프로 구성되어지며, 상기 클럭 신호(CLK)가 '로우'일 때 프리차지 되고 '하이'일 때 상기 제 1 출력 신호(out1)와 제 1 출력바 신호(outb1)를 수신하여 차동 증폭된 신호를 출력 단자(OUT)로 출력한다.The second amplifier 20 is configured as a cross-coupled latch type sense amplifier. The second amplifier 20 is precharged when the clock signal CLK is 'low', and when the clock signal CLK is 'high', the first output signal out1 and the first amplifier are made. 1 The output bar signal outb1 is received and the differentially amplified signal is output to the output terminal OUT.
상기 구성과 같이, 차동 증폭기를 프리 증폭기(Pre-amplifier)로 사용하는 램버스 디램의 입력 리시버 회로는 기준 전압(Vref) 신호가 데이타 버스 신호인 DQ 신호에 의해서 일정해야 되는데 전압 값이 흔들리게 된다. 그리고, 램버스 디램은 도 1에 나타낸 것처럼, n개(24개)의 입력 신호가 기준 전압(Vref) 신호를 기준으로 입력 값이 샘플링(Sampling) 하는 구조를 갖기 때문에, n개(24 개)의 노이즈소스(Noise Source)들에 의해 기준 전압(Vref) 신호선의 전압은 흔들리게 된다. 디디알 디램(DDR DRAM)도 마찬가지로 모든 입력신호(Data)를 기준 전압(Vref) 신호를 기준으로 샘플링 하기 때문에 기준 전압(Vref) 신호의 전압이 흔들리는 단점이 있다.As described above, an input receiver circuit of a Rambus DRAM using a differential amplifier as a pre-amplifier should be constant by a DQ signal whose reference voltage (Vref) signal is a data bus signal, but the voltage value is shaken. As shown in FIG. 1, the Rambus DRAM has a structure in which n input signals are sampled based on a reference voltage Vref signal. The voltages of the reference voltage Vref signal lines are shaken by the noise sources. Similarly, in the DRAM DRAM, all input signals Data are sampled based on the reference voltage Vref signal, so that the voltage of the reference voltage Vref signal is shaken.
이를 해결하기 위해서, 종래 기술은 기준 전압(Vref) 신호선에 커패시터(Capacitor)를 장치하거나, 도 3에서 처럼, 소스(Source)를 플로팅(Floating) 시키는 소스 커플 및 크로스 커플(Source-Coupled and Cross-Coupled) NMOS 트랜지스터(N9)(N10)를 사용한다.In order to solve this problem, the related art includes a capacitor connected to a reference voltage (Vref) signal line, or source-coupled and cross-coupled to float a source as shown in FIG. 3. Coupled) NMOS transistors N9 and N10 are used.
도 3은 종래 기술에 따른 램버스 디램의 다른 입력 리시버의 회로도로서, 도 2의 회로에서 데이타 신호(Data)가 '로직 하이'를 가질 때 상기 노드(Nd2)의 신호를 플로팅 노드로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N9)와, 상기 기준 전압(Vref) 신호가 '로직 하이'를 가질 때 상기 노드(Nd1)의 신호를 플로팅 노드로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N10)로 구성되어 있다.FIG. 3 is a circuit diagram of another input receiver of a rambus DRAM according to the prior art, and an NMOS transistor for transmitting a signal of the node Nd2 to a floating node when the data signal Data has 'logic high' in the circuit of FIG. 2. N9 and an NMOS transistor N10 which transmits a signal of the node Nd1 to the floating node when the reference voltage Vref signal has a logic high.
그런데, 상기 구성을 갖는 종래의 램버스 디램의 입력 리시버 회로는 다음과 같은 문제점이 있었다.However, the input receiver circuit of the conventional Rambus DRAM having the above configuration has the following problems.
1개의 기준 전압(Vref) 신호를 기준으로 여러 개의 입력 신호를 샘플링 하는 과정에서 상기 기준 전압(Vref) 신호의 전압이 흔들리는 것을 방지하기 위해, 종래의 램버스 디램은 기준 전압(Vref) 신호선에 커패시터를 장치하였으나, 이 경우 기준 전압(Vref) 신호선에 있는 커패시터의 그라운드(Ground) 전위가 흔들리는 경우에는 오히려 기준 전압(Vref) 신호의 전압이 더 많이 흔들리는 단점이 있었다.In order to prevent the voltage of the reference voltage (Vref) signal from shaking in the process of sampling multiple input signals based on one reference voltage (Vref) signal, a conventional Rambus DRAM uses a capacitor on the reference voltage (Vref) signal line. In this case, however, when the ground potential of the capacitor in the reference voltage (Vref) signal line is shaken, the voltage of the reference voltage (Vref) signal is more shaken.
그리고, 도 3에서 처럼, 소스를 플로팅 시키는 소스 커플 및 크로스 커플 NMOS 트랜지스터(N9)(N10)를 사용하는 경우에는 기준 전압(Vref) 신호선의 전압 안정화를 위해서 큰 사이즈(Size)의 NMOS 트랜지스터를 사용해야 되는 단점이 있고, 또한 상기 NMOS 트랜지스터(N9)(N10)의 소스단이 항상 플로팅(Floating) 상태로 있는 단점이 있었다.In addition, as shown in FIG. 3, in the case of using the source-coupled and cross-coupled NMOS transistors N9 and N10 for floating a source, an NMOS transistor having a large size must be used to stabilize the voltage of the reference voltage Vref signal line. In addition, there is a disadvantage in that the source terminal of the NMOS transistors N9 and N10 is always in a floating state.
따라서, 본 발명은 상기 문제점을 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 본 발명의 목적은 입력 리시버와 기준 전압(Vref) 신호선 사이에 저항을 사용하고, 인접한 두 입력 리시버 사이에는 노이즈가 중첩되는 것을 방지하기 위해 서로 다른 기준 전압 신호선과 연결되도록 함으로써, 노이즈를 줄인 램버스 디램의 입력 리시버 회로를 제공하는데 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the above problems, and an object of the present invention is to use a resistor between an input receiver and a reference voltage (Vref) signal line, and to prevent noise from overlapping between two adjacent input receivers. It is to provide an input receiver circuit of Rambus DRAM with reduced noise by being connected to another reference voltage signal line.
도 1은 종래의 램버스 디램의 입력 리시버와 기준 전압 신호의 연결도1 is a diagram illustrating a connection between an input receiver and a reference voltage signal of a conventional Rambus DRAM.
도 2는 종래 기술에 따른 램버스 디램의 입력 리시버의 회로도2 is a circuit diagram of an input receiver of a rambus DRAM according to the prior art.
도 3은 종래 기술에 따른 램버스 디램의 다른 입력 리시버의 회로도3 is a circuit diagram of another input receiver of a Rambus DRAM according to the prior art.
도 4는 본 발명에 의한 램버스 디램의 입력 리시버와 기준 전압 신호의 연결도4 is a diagram illustrating a connection between an input receiver and a reference voltage signal of a rambus DRAM according to the present invention;
도 5는 본 발명에 의한 램버스 디램의 입력 리시버의 회로도5 is a circuit diagram of an input receiver of a Rambus DRAM according to the present invention.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명 *Explanation of symbols on the main parts of the drawings
1∼n : 입력 리시버부100 : 제 1 증폭부1 to n: input receiver section 100: first amplifier section
200 : 제 2 증폭부200: second amplifier
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 램버스 디램의 입력 리시버 회로는 n개로 이루어진 입력 리시버와 기준 전압(Vref) 신호선 사이에 저항을 사용하고, 인접한 두 입력 리시버 사이에는 노이즈가 중첩되는 것을 방지하기 위해 서로 다른 기준 전압 신호선과 연결되도록 구성된 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, an input receiver circuit of a Rambus DRAM of the present invention uses a resistor between n input receivers and a reference voltage (Vref) signal line, and prevents noise from overlapping between two adjacent input receivers. It is characterized in that it is configured to be connected to another reference voltage signal line.
상기 저항은 메탈(Metal)의 무급전(Parasitic) 저항인 것을 특징으로 한다.The resistance is characterized in that the parasitic resistance of the metal (Metal).
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명의 다른 램버스 디램의 입력 리시버 회로는 데이타 신호와 기준 전압 신호를 수신하여 차동 증폭된 제 1 출력 신호와 제 1 출력바 신호를 발생하며, 상기 기준 전압 신호에 의해 상기 데이타 신호를 수신하는 제 1 스위칭 소자로 공급되는 전원 전압의 량을 조절하고 상기 데이타 신호에 의해 상기 기준 전압의 신호를 수신하는 제 2 스위칭 소자로 공급되는 전원 전압의 량을 조절하여 상기 기준 전압에 실린 노이즈에 대한 영향을 방지하는 제 1 증폭부와, 수신된 클럭 신호가 제 1 전압레벨을 가질 때 프리차지 되고 제 2 전압레벨을 가질 때 상기 제 1 출력 신호와 상기 제 1 출력바 신호를 수신하여 차동 증폭된 신호를 출력하는 제 2 증폭부를 구비한 것을 특징으로 한다.An input receiver circuit of another Rambus DRAM of the present invention for achieving the above object receives a data signal and a reference voltage signal to generate a differentially amplified first output signal and a first output bar signal, and by the reference voltage signal The amount of power supply voltage supplied to the first switching element receiving the data signal is adjusted, and the amount of power supply voltage supplied to the second switching element receiving the signal of the reference voltage by the data signal is adjusted to the reference voltage. A first amplifier to prevent an influence on the noise and a precharge when the received clock signal has a first voltage level and receive the first output signal and the first output bar signal when the clock signal has a second voltage level; And a second amplifier for outputting a differentially amplified signal.
상기 제 1 전압레벨은 '로직 로우'이고, 상기 제 2 전압레벨은 '로직 하이'인 것을 특징으로 한다.The first voltage level is 'logic low', and the second voltage level is 'logic high'.
상기 제 1 및 제 2 스위칭 소자는 NMOS 트랜지스터로 구성된 것을 특징으로 한다.The first and second switching elements are characterized by consisting of NMOS transistors.
상기 제 1 및 제 2 스위칭 소자로 공급되는 전원 전압의 량을 조절하는 수단은 상기 기준 전압 신호 및 데이타 신호에 의해 스위칭되는 MOS 트랜지스터에 의해 구성된 것을 특징으로 한다.The means for adjusting the amount of power supply voltage supplied to the first and second switching elements is characterized by being configured by MOS transistors switched by the reference voltage signal and the data signal.
상기 MOS 트랜지스터는 NMOS 트랜지스터인 것을 특징으로 한다.The MOS transistor is characterized in that the NMOS transistor.
상기 제 2 증폭부는 상기 클럭 신호에 의해 제어되는 크로스 커플형 센스 앰프로 구성된 것을 특징으로 한다.The second amplifying unit is configured as a cross-coupled sense amplifier controlled by the clock signal.
이하, 본 발명의 실시예에 관하여 첨부도면을 참조하면서 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
또, 실시예를 설명하기 위한 모든 도면에서 동일한 기능을 갖는 것은 동일한 부호를 사용하고 그 반복적인 설명은 생략한다.In addition, in all the drawings for demonstrating an embodiment, the thing with the same function uses the same code | symbol, and the repeated description is abbreviate | omitted.
도 4는 본 발명에 의한 램버스 디램의 입력 리시버와 기준 전압 신호의 연결을 나타낸 것으로, n개로 이루어진 입력 리시버부(n)와 기준 전압(Vref) 신호선 사이에 저항을 사용하고, 인접한 두 입력 리시버 사이에는 노이즈가 중첩되는 것을 방지하기 위해 서로 다른 기준 전압 신호선과 연결되도록 구성된다.4 is a diagram illustrating a connection between an input receiver and a reference voltage signal of a Rambus DRAM according to the present invention, and using a resistor between n input receiver units n and a reference voltage Vref signal line, and between two adjacent input receivers. Is configured to be connected with different reference voltage signal lines to prevent noise from overlapping.
상기 저항은 메탈(Metal)의 무급전(Parasitic) 저항을 이용하거나 혹은 다른 형태의 저항을 사용하여 입력 리시버 사이의 노이즈 중첩을 방지할 수 있다. 메탈 의 무급전(Parasitic) 저항을 사용할 때, 도 4에서 처럼 기준 전압(Vref) 신호선을 여러개로 나누어서 기준 전압 패드(Vref Pad)로 부터 각 입력 리시버(Input Receiver)로 연결하게 된다. 만약 라운팅(Routing) 공간이 부족할 때는 몇 가닥의 기준 전압(Vref) 신호선만을 사용해서 띄엄 띄엄 떨어진 입력 리시버들을 각각 연결하게 된다. 이렇게 구성이 되면, 어떤 입력 리시버에서 발생한 노이즈는 다른 입력 리시버에서 발생한 노이즈와 최대로 중첩이 되지 않는다. 그것은 그 사이 존재하는 저항 성분으로 인해 그 노이즈의 크기가 감소하기 때문이다.The resistor may use metal parasitic resistors or other types of resistors to prevent noise overlap between the input receivers. When using a metal parasitic resistor, the reference voltage (Vref) signal line is divided into several as shown in Figure 4 to connect to each input receiver (Input Receiver) from the reference voltage pad (Vref Pad). If there is a lack of routing space, only a few reference voltage (Vref) signal lines are used to connect the sparse input receivers. With this configuration, the noise from one input receiver does not overlap with the noise from another input receiver. This is because the magnitude of the noise decreases due to the resistance component present therebetween.
도 5는 본 발명에 의한 램버스 디램의 입력 리시버의 회로도로서, 데이타(Data) 신호와 기준 전압(Vref) 신호를 수신하여 차동 증폭된 제 1 출력 신호(out1)와 제 1 출력바 신호(out1b)를 발생하며, 상기 기준 전압(Vref) 신호에 의해 상기 데이타(Data) 신호를 수신하는 쪽으로 공급되는 전원 전압(Vcc)의 량을 조절하고 상기 데이타(Data) 신호에 의해 상기 기준 전압(Vref)의 신호를 수신하는 쪽으로 공급되는 전원 전압(Vcc)의 량을 조절하여 상기 기준 전압(Vref)에 실린 노이즈에 대한 영향을 방지하는 제 1 증폭부(100)와, 수신된 클럭 신호(CLK)가 '로우'일 때 프리차지 되고 '하이'일 때 상기 제 1 출력 신호와 상기 제 1 출력바 신호를 수신하여 차동 증폭된 신호를 출력하는 제 2 증폭부(200)를 구비한다.FIG. 5 is a circuit diagram of an input receiver of a Rambus DRAM according to the present invention. The first output signal out1 and the first output bar signal out1b which are differentially amplified by receiving a data signal and a reference voltage Vref signal are shown in FIG. Is generated, the amount of power supply voltage Vcc supplied to the receiving side of the data signal is controlled by the reference voltage signal Vref, and the data signal of the reference voltage Vref is adjusted. The first amplifier 100 for controlling the amount of the power supply voltage Vcc supplied to the signal receiving side to prevent the influence of the noise on the reference voltage Vref and the received clock signal CLK are ' And a second amplifier 200 for precharging when the signal is 'low' and receiving the first output signal and the first output bar signal when the signal is 'high' and outputting a differentially amplified signal.
상기 제 1 증폭부(100)는 전원 공급전압(Vcc)과 노드(Nd8) 사이에 접속된 저항(R1)과, 전원 공급전압(Vcc)과 노드(Nd9) 사이에 접속된 저항(R2)과, 상기 기준 전압(Vref) 신호가 '하이'일 때 상기 노드(Nd8)의 신호를 출력 노드(Nd1)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N11)와, 상기 데이타(Data) 신호가 '하이'일 때 상기 노드(Nd9)의 신호를 출력 노드(Nd2)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N12)와, 상기 데이타 신호(Data)가 '하이'일 때 상기 출력 노드(Nd1)의 신호를 노드(Nd3)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N1)와, 기준 전압(Vref) 신호가 '하이'일 때 상기 출력 노드(Nd2)의 신호를 상기 노드(Nd3)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N2)와, 상기 노드(Nd3)와 접지 전압(Vss) 사이에 접속된 정전류원(Is)으로 구성된다.The first amplifier 100 includes a resistor R1 connected between the power supply voltage Vcc and the node Nd8, and a resistor R2 connected between the power supply voltage Vcc and the node Nd9. The NMOS transistor N11 transmits a signal of the node Nd8 to the output node Nd1 when the reference voltage Vref signal is 'high', and when the data signal is 'high'. An NMOS transistor N12 that transmits a signal of the node Nd9 to the output node Nd2, and a signal of the output node Nd1 that is transmitted to the node Nd3 when the data signal Data is 'high'. An NMOS transistor N1, an NMOS transistor N2 that transmits a signal of the output node Nd2 to the node Nd3 when the reference voltage Vref signal is 'high', and the node Nd3 and ground It consists of the constant current source Is connected between the voltages Vss.
상기 제 1 증폭부(100)는 기준 전압(Vref) 신호에 의해 데이타(Data) 신호를 수신하는 NMOS 트랜지스터(N1)로 공급되는 전원 공급전압(Vcc)의 량을 조절하고, 상기 데이타(Data) 신호에 의해 상기 기준 전압(Vref) 신호를 수신하는 NMOS 트랜지스터(N2)로 공급되는 전원 공급전압(Vcc)의 량을 조절하도록 하므로써, 기준 전압(Vref) 신호선에 발생된 노이즈를 감소시킬 수 있다. 즉, 데이타(Data) 신호의 전압변화에 의한 기준 전압(Vref) 신호선의 전압변화를 차동 증폭기인 제 1 증폭부(100)의 출력전압의 변화로 억제할 수 있다.The first amplifier 100 adjusts the amount of the power supply voltage Vcc supplied to the NMOS transistor N1 that receives the data signal by the reference voltage Vref signal, and adjusts the data. By controlling the amount of the power supply voltage Vcc supplied to the NMOS transistor N2 that receives the reference voltage Vref signal by the signal, noise generated in the reference voltage Vref signal line can be reduced. That is, the voltage change of the reference voltage Vref signal line due to the voltage change of the data signal may be suppressed by the change of the output voltage of the first amplifier 100 which is the differential amplifier.
상기 제 2 증폭부(200)는 클럭 신호(CLK)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vcc)을 노드(Nd4)로 전송하는 PMOS 트랜지스터(P1)와, 상기 클럭 신호(CLK)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vcc)을 노드(Nd5)로 전송하는 PMOS 트랜지스터(P5)와, 상기 클럭 신호(CLK)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd4)와 노드(Nd5)의 신호를 등화시켜 주는 PMOS 트랜지스터(P3)와, 상기 노드(Nd5)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vdd)을 상기 노드(Nd4)로 전송하는 PMOS 트랜지스터(P2)와, 상기 노드(Nd4)가 '로우' 전압레벨을 가질 때 전원 공급전압(Vdd)을 상기 노드(Nd5)로 전송하는 PMOS 트랜지스터(P4)와, 상기 노드(Nd5)가 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd4)의 전압을 노드(Nd6)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N3)와, 상기 노드(Nd4)가 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd5)의 전압을 노드(Nd7)로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N4)와, 상기 노드(Nd6)와 접지 전압(Vss) 사이에 직렬로 연결되며 상기 제 1 출력 신호(out1)과 상기 클럭 신호(CLK)가 모두 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd6)의 신호를 접지 전압(Vss)으로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N5)(N7)와, 상기 노드(Nd7)와 접지 전압(Vss) 사이에 직렬로 연결되며 상기 제 1 출력바 신호(outb1)와 상기 클럭 신호(CLK)가 모두 '하이' 전압레벨을 가질 때 상기 노드(Nd7)의 신호를 접지 전압(Vss)으로 전송하는 NMOS 트랜지스터(N6)(N8)로 구성된다.The second amplifier 200 may include a PMOS transistor P1 for transmitting a power supply voltage Vcc to the node Nd4 when the clock signal CLK has a low voltage level, and the clock signal CLK. Has a low voltage level, the PMOS transistor P5 transmits a power supply voltage Vcc to the node Nd5, and the node Nd4 when the clock signal CLK has a low voltage level. And a PMOS transistor P3 for equalizing the signal of the node Nd5, and a PMOS transistor for transmitting a power supply voltage Vdd to the node Nd4 when the node Nd5 has a low voltage level. P2, a PMOS transistor P4 for transmitting a power supply voltage Vdd to the node Nd5 when the node Nd4 has a low voltage level, and the node Nd5 has a high voltage. An NMOS transistor N3 which transfers the voltage of the node Nd4 to the node Nd6 when having a level, and the furnace when the node Nd4 has a 'high' voltage level. An NMOS transistor N4 that transfers the voltage of node Nd5 to node Nd7, and is connected in series between the node Nd6 and the ground voltage Vss, and the first output signal out1 and the clock signal NMOS transistors N5 and N7 which transmit the signal of the node Nd6 to the ground voltage Vss when all the CLKs have a 'high' voltage level, and the node Nd7 and the ground voltage Vss. An NMOS transistor connected in series between the first output bar signal outb1 and the clock signal CLK to transmit the signal of the node Nd7 to the ground voltage Vss when both the high voltage level is 'high' It consists of (N6) (N8).
상기 제 2 증폭부(20)는 크로스 커플 래치형 센스 앰프로 구성되어지며, 상기 클럭 신호(CLK)가 '로우'일 때 프리차지 되고 '하이'일 때 상기 제 1 출력 신호(out1)와 제 1 출력바 신호(outb1)를 수신하여 차동 증폭된 신호를 출력 단자(OUT)로 출력한다.The second amplifier 20 is configured as a cross-coupled latch type sense amplifier. The second amplifier 20 is precharged when the clock signal CLK is 'low', and when the clock signal CLK is 'high', the first output signal out1 and the first amplifier are made. 1 The output bar signal outb1 is received and the differentially amplified signal is output to the output terminal OUT.
상기 데이타(Data) 신호의 전압변화로 인해서 기준 전압(Vref) 신호선에는 동위상의 전압변화가 유기된다. 데이타 버스와 연결된 NMOS 트랜지스터(N1)의 드레인측에 연결된 노드(Nd1)는 기준 전압(Vref)과 반대 위상의 전압변화가 일어난다. 캐패시터(N11)(N12)를 사용해서 NMOS 트랜지스터(N11)의 드레인측(Nd1)에서 일어나는 전압변화를 기준 전압(Vref) 신호선에 유기하면, 본래 데이타 버스로 부터 유기된 노이즈를 감쇠시킬 수 있다.Due to the voltage change of the data signal, an in-phase voltage change is induced in the reference voltage Vref signal line. The node Nd1 connected to the drain side of the NMOS transistor N1 connected to the data bus undergoes a voltage change in phase opposite to that of the reference voltage Vref. By using the capacitors N11 and N12 to induce the voltage change occurring at the drain side Nd1 of the NMOS transistor N11 to the reference voltage Vref signal line, the noise induced from the original data bus can be attenuated.
종래 기술은 오직 NMOS 트랜지스터(N9)(N10)의 게이트와 드레인단의 비급전 커패시터만을 이용하여 감쇠시킬 수 있는 반해, 본 발명에서는 NMOS 트랜지스터(N11)(N12)의 게이트와 드레인 및 소스 사이에 있는 비급전 커패시터를 모두 이용하기 때문에 그 효과가 클 뿐만 아니라, 플로팅 노드의 도입에 따른 위험성을 피할 수 있다. 아울러, 이와 같이 도입된 NMOS 트랜지스터(N11)(N12)는 밀러 효과(Miller Effect)에 의한 유효 캐패시턴스(Effective Capacitance)의 값이 증가하는 것이 아니라 오히려 감소한다. 왜냐하면, NMOS 트랜지스터(N11)(N12) 양단의 전압의 위상이 동위상이기 때문이다.The prior art can only attenuate using non-feeding capacitors at the gate and drain stages of the NMOS transistors N9 and N10, whereas in the present invention it is located between the gate and drain and source of the NMOS transistors N11 and N12. Since all of the non-feeding capacitors are used, the effect is not only large, but the risk of introducing a floating node can be avoided. In addition, the NMOS transistors N11 and N12 introduced as described above decrease, rather than increase, the value of the effective capacitance caused by the Miller effect. This is because the phases of the voltages across the NMOS transistors N11 and N12 are in phase.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명에 의한 램버스 디램의 입력 리시버 회로에 의하면, 입력 리시버와 기준 전압(Vref) 신호선 사이에 저항을 사용하고, 인접한 두 입력 리시버 사이에는 노이즈가 중첩되는 것을 방지하기 위해 서로 다른 기준 전압 신호선과 연결되도록 함으로써, 노이즈를 줄일 수 있는 잇점이 있다.As described above, according to the input receiver circuit of the Rambus DRAM according to the present invention, a resistor is used between the input receiver and the reference voltage (Vref) signal line, and the two adjacent input receivers are used to prevent noise from overlapping each other. There is an advantage in that noise can be reduced by being connected to another reference voltage signal line.
아울러 본 발명의 바람직한 실시예들은 예시의 목적을 위해 개시된 것이며, 당업자라면 본 발명의 사상과 범위 안에서 다양한 수정, 변경, 부가등이 가능할 것이며, 이러한 수정 변경등은 이하의 특허청구범위에 속하는 것으로 보아야 할 것이다.In addition, preferred embodiments of the present invention are disclosed for the purpose of illustration, those skilled in the art will be able to various modifications, changes, additions, etc. within the spirit and scope of the present invention, these modifications and changes should be seen as belonging to the following claims. something to do.
Claims (8)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0036640A KR100417857B1 (en) | 2001-06-26 | 2001-06-26 | Circuit for input receiver in rambus dram |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR10-2001-0036640A KR100417857B1 (en) | 2001-06-26 | 2001-06-26 | Circuit for input receiver in rambus dram |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20030000603A true KR20030000603A (en) | 2003-01-06 |
KR100417857B1 KR100417857B1 (en) | 2004-02-05 |
Family
ID=27711201
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR10-2001-0036640A KR100417857B1 (en) | 2001-06-26 | 2001-06-26 | Circuit for input receiver in rambus dram |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100417857B1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100495919B1 (en) * | 2002-11-18 | 2005-06-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | Input receiver |
KR100733106B1 (en) * | 2005-11-04 | 2007-06-29 | 주식회사 금오하이텍 | Door frame structure of the plastic door |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102237733B1 (en) | 2014-12-05 | 2021-04-08 | 삼성전자주식회사 | Buffer circuit robust to variation of reference voltage signal |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6002618A (en) * | 1994-08-15 | 1999-12-14 | Creative Integrated Systems | NMOS input receiver circuit |
JP3061126B2 (en) * | 1998-03-18 | 2000-07-10 | 日本電気株式会社 | Input receiver circuit |
KR100284740B1 (en) * | 1998-12-09 | 2001-03-15 | 윤종용 | Semiconductor memory device with multiple input receivers |
KR100340717B1 (en) * | 1999-08-02 | 2002-06-20 | 윤종용 | DYNAMIC RANDOM ACCESS MEMORY DEVICE AND μBGA PACKAGE USING MULTIPLE REFERENCE VOLTAGE PADS |
-
2001
- 2001-06-26 KR KR10-2001-0036640A patent/KR100417857B1/en not_active IP Right Cessation
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100495919B1 (en) * | 2002-11-18 | 2005-06-17 | 주식회사 하이닉스반도체 | Input receiver |
KR100733106B1 (en) * | 2005-11-04 | 2007-06-29 | 주식회사 금오하이텍 | Door frame structure of the plastic door |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR100417857B1 (en) | 2004-02-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5939937A (en) | Constant current CMOS output driver circuit with dual gate transistor devices | |
JP3935777B2 (en) | Output circuit device | |
KR20020081054A (en) | Semiconductor integrated circuit | |
KR100190763B1 (en) | Differential amplifier | |
KR20010009807A (en) | Memory device for minimizing the layout area occupied by input and output sense amplifier | |
JP3779341B2 (en) | Semiconductor memory device | |
US6653892B2 (en) | Squelch circuit to create a squelch waveform for USB 2.0 | |
KR100417857B1 (en) | Circuit for input receiver in rambus dram | |
KR20050064897A (en) | Semiconductor memory device capable of adjusting gain of an input buffer and gain control method of an input buffer | |
US6573772B1 (en) | Method and apparatus for locking self-timed pulsed clock | |
US6452453B1 (en) | Constant-current generator, differential amplifier, and semiconductor integrated circuit | |
KR100321157B1 (en) | Latch type sense amp | |
US7737781B2 (en) | Differential amplifier and input circuit using the same | |
KR100484255B1 (en) | Semiconductor memory device for reducing noise in operation of sense amplifier | |
KR100223849B1 (en) | Semiconductor memory device | |
KR20010041138A (en) | Current sense amplifier | |
JP3968818B2 (en) | Amplifier | |
US20020113627A1 (en) | Input buffer circuit capable of suppressing fluctuation in output signal and reducing power consumption | |
JP3289428B2 (en) | Bus systems and integrated circuits | |
KR100301779B1 (en) | Data bus sense amplifier | |
JP3449343B2 (en) | Bus systems and integrated circuits | |
KR100298436B1 (en) | Data Output Buffer | |
KR100365942B1 (en) | Data output buffer | |
JP2001068990A (en) | Bus system and integrated circuit | |
KR100650712B1 (en) | Gate-isolated sense amplifier |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20101224 Year of fee payment: 8 |
|
LAPS | Lapse due to unpaid annual fee |