KR19990038790U - 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치 - Google Patents

전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치 Download PDF

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본 고안은 전전자 교환기에 관한 것으로, 특히 전전자 교환기의 공간 스위치 링크 블록에서 시간 스위치 링크 보드 방향의 오프 라인 테스트뿐 아니라, 공간 스위치 보드 방향의 오프 라인 테스트도 가능하게 함으로써, 유지 보수의 편의성을 제공할 수 있도록 하는 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치에 관한 것이다.
종래 전전자 교환기의 공간 스위치 링크 블록에 대한 오프 라인 테스트를 하는 경우, 시간 스위치 링크 보드 방향의 오프 라인 테스트만 가능하므로 공간 스위치 보드 방향의 전송 라인에 이상이 발생하는 경우에는 정확한 전송 라인의 이상을 검출할 수 없다는 문제점이 있다.
본 고안은 전전자 교환기에서 오프 라인 테스트시 시간 스위치 링크 보드 방향과 공간 스위치 보드 방향의 오프 라인 테스트가 가능하도록 함으로써, 해당 전전자 교환기의 운용자에게 유지 보수의 편의성을 제공할 수 있게 된다.

Description

전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치
본 고안은 전전자 교환기에 관한 것으로, 특히 전전자 교환기의 공간 스위치 링크 블록에서 시간 스위치 링크 보드 방향의 오프 라인 테스트뿐 아니라, 공간 스위치 보드 방향의 오프 라인 테스트도 가능하게 함으로써, 유지 보수의 편의성을 제공할 수 있도록 하는 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 전전자 교환기에서는 SSL 블록(Space Switch & Link Block ; 공간 스위치 링크 블록)의 전송 라인상에서 전화 채널 데이터 유실을 방지함과 동시에 에러 발생에 따른 유지 보수의 편의성을 제공하기 위해 해당 전송 라인에 대한 이상 유무를 테스트 할 필요성이 있었다.
그래서, 종래의 전전자 교환기에서는 전송 라인 테스트 방법으로 전화 채널 데이터가 아닌 테스트 데이터를 사용한 오프 라인 테스트 방법을 이용하였는데, 이러한 오프 라인 테스트는 공간 스위치 링크 보드를 중심으로 시간 스위치 링크 보드 측과 연결된 전송 라인의 이상 유무만을 테스트할 수 있었다.
전술한 바와 같은 종래의 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치는 첨부된 도면 도 1에 도시된 바와 같이 주변 프로세서(11)와, 제어 보드(12)와, 공간 스위치 보드(13)와, 공간 스위치 링크 보드(14) 및 시간 스위치 링크 보드(15)를 구비하여 이루어진다.
주변 프로세서(11)는 공간 스위치 블록에서의 오프 라인 테스트를 위한 제어 처리를 수행한다.
제어 보드(12)는 인터페이스부(12a)와, 제 1 송신 메모리부(12b) 및 제 1 수신 메모리부(12c)를 구비하며, 주변 프로세서(11)의 제어에 따라 테스트 데이터 선택신호, 테스트 데이터, 동기 클럭(CLK)을 공간 스위치 링크 보드(14)로 인가하고, 해당 공간 스위치 링크 보드(14)로부터 인가되는 테스트 데이터를 해당 주변 프로세서(11)로 인가한다.
공간 스위치 보드(13)는 공간 스위치 링크 보드(14)로부터 인가되는 전화 채널 데이터에 대한 스위칭 기능을 수행하고 스위칭된 전화 채널 데이터를 해당 공간 스위치 링크 보드(14)로 인가한다.
공간 스위치 링크 보드(14)는 다중화기(14a)와, 제 2 송신 메모리부(14b) 및 제 2 수신 메모리부(14c)를 구비하며, 제어 보드(12)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 제어 보드(12)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 저장한 후, 해당 제어 보드(12)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 따라 해당 테스트 데이터를 시간 스위치 링크 보드(15)로 인가하고, 해당 시간 스위치 링크부(15)로부터 인가되는 테스트 데이터를 제어 보드(12)로 인가한다.
시간 스위치 링크 보드(15)는 공간 스위치 링크 보드(14)로부터 인가되는 테스트 데이터를 루프 백(Loop Back) 기능을 이용하여 해당 공간 스위치 링크 보드(14)로 인가한다.
이와 같이 구성된 종래 전전자 교환기에서의 시간 스위치 링크 보드(15) 방향의 오프 라인 테스트 동작은 주변 프로세서(11)의 오프 라인 테스트 제어에 따라 수행되는데, 해당 주변 프로세서(11)에서 제어 보드(12)의 인터페이스부(12a)를 통해 제 1 송신 메모리부(12b)에 테스트 데이터 출력신호를 인가함과 동시에 공간 스위치 링크 보드(14)의 다중화기(14a)에 테스트 데이터 선택신호를 인가하면, 해당 제 1 송신 메모리부(12b)는 해당 다중화기(14a)로 테스트 데이터를 인가하고, 해당 다중화기(14a)는 제 1 송신 메모리부(12b)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 제 2 송신 메모리부(14b)로 인가한다.
이에, 해당 제 2 송신 메모리부(14b)는 다중화기(14a)로부터 인가되는 테스트 데이터를 저장하고, 저장한 테스트 데이터를 제어 보드(12)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 시간 스위치 링크 보드(15)로 인가한다.
그러면, 해당 시간 스위치 링크 보드(15)는 제 2 송신 메모리부(14b)로부터 인가되는 테스트 데이터를 루프 백(Loop Back) 기능을 이용하여 해당 공간 스위치 링크 보드(14)의 제 2 수신 메모리부(14c)로 인가하고, 이후, 해당 제 2 수신 메모리부(14c)는 시간 스위치 링크 보드(15)로부터 인가되는 테스트 데이터를 저장하고, 저장한 테스트 데이터를 제어 보드(12)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 제어 보드(12)의 제 1 수신 메모리부(12c)로 인가하여 저장시킨다.
이때, 해당 주변 프로세서(11)는 인터페이스부(12a)를 통해 해당 제 1 수신 메모리부(12c)에 저장된 테스트 데이터 즉, 시간 스위치 링크 보드(15) 방향의 라인 테스트 경로를 경유한 테스트 결과 데이터를 인출한 후, 해당 제 1 송신 메모리부(12b)에서 출력한 테스트 데이터와 비교하여 해당 시간 스위치 링크 보드(15) 방향의 전송 라인의 이상 유무를 알 수 있게 된다.
전술한 바와 같이, 종래 전전자 교환기의 공간 스위치 링크 블록에 대한 오프 라인 테스트를 하는 경우, 시간 스위치 링크 보드 방향의 오프 라인 테스트만 가능하므로 공간 스위치 보드 방향의 전송 라인에 이상이 발생하는 경우에는 정확한 전송 라인의 이상을 검출할 수 없다는 문제점이 있다.
본 고안은 전술한 바와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로 그 목적은, 전전자 교환기에서 오프 라인 테스트시 시간 스위치 링크 보드 방향과 공간 스위치 보드 방향의 오프 라인 테스트가 가능하도록 함으로써, 해당 전전자 교환기의 운용자에게 유지 보수의 편의성을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 고안의 특징은, 공간 스위치 블록에서의 오프 라인 테스트를 위한 테스트 데이터 출력신호와 테스트 데이터 선택신호를 인가하고 테스트 결과 데이터를 인출하여 전송 라인의 이상 유무를 검출하는 주변 프로세서(21)와; 인가되는 테스트 데이터에 대한 스위칭 기능을 수행하여 인가하는 공간 스위치 보드(23)와; 인가되는 테스트 데이터를 루프 백 기능을 이용하여 인가하는 시간 스위치 링크 보드(25)를 구비하는 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치에 있어서, 상기 주변 프로세서(21)의 제어에 따라 테스트 데이터 선택신호, 테스트 데이터, 동기 클럭(CLK)을 인가하고, 자체에 저장된 테스트 결과 데이터를 상기 주변 프로세서(21)로 인가하는 제어 보드(22)와; 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 상기 공간 스위치 보드(23) 또는 시간 스위치 링크 보드(25)로 각각 인가하고, 상기 공간 스위치 보드(23) 또는 시간 스위치 링크 보드(25)로부터 인가되는 테스트 경로를 경유한 테스트 결과 데이터를 상기 제어 보드(22)로 인가하는 공간 스위치 링크 보드(24)를 포함하는데 있다.
상기 공간 스위치 링크 보드(24)는 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 인가하는 송신 다중화기(24a)와; 상기 송신 다중화기(24a)로부터 인가되는 테스트 데이터를 저장하고 저장한 테스트 데이터를 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 상기 시간 스위치 링크 보드(25)로 인가하는 제 2 송신 메모리부(24b)와; 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 인가하는 수신 다중화기(24c)와; 상기 시간 스위치 링크 보드(22)로부터 인가되는 테스트 결과 데이터를 저장하고 저장한 테스트 결과 데이터를 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 상기 제어 보드(22)로 인가하는 제 2 수신 메모리부(24d)를 구비하는 것을 특징으로 한다.
도 1은 종래의 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치의 구성 블록도.
도 2는 본 고안에 따른 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치의 구성 블록도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
21 : 주변 프로세서 22 : 제어 보드
22a : 인터페이스부 22b, 24b : 송신 메모리부
22c, 24d : 수신 메모리부 23 : 공간 스위치 보드
24 : 공간 스위치 링크 보드 24a : 송신 다중화기
24c : 수신 다중화기 25 : 시간 스위치 링크 보드
이하, 본 고안의 실시예를 첨부한 도면을 참조하여 상세하게 설명하면 다음과 같다.
본 고안에 따른 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치는 첨부한 도면 도 2에 도시한 바와 같이, 주변 프로세서(21)와, 제어 보드(22)와, 공간 스위치 보드(23)와, 공간 스위치 링크 보드(24) 및 시간 스위치 링크 보드(25)를 구비하여 이루어진다.
주변 프로세서(21)는 공간 스위치 블록에서의 오프 라인 테스트를 위한 제어 처리를 수행하는데, 테스트 데이터 출력신호와 테스트 데이터 선택신호를 제어 보드(22)로 인가하고, 해당 제어 보드(22)로부터 테스트 결과 데이터를 인출하여 전송 라인의 이상 유무를 검출한다.
제어 보드(22)는 인터페이스부(22a)와, 제 1 송신 메모리부(22b) 및 제 1 수신 메모리부(22c)를 구비하며, 주변 프로세서(21)의 제어에 따라 테스트 데이터 선택신호, 테스트 데이터, 동기 클럭(CLK)을 공간 스위치 링크 보드(24)로 인가하고, 해당 공간 스위치 링크 보드(24)로부터 인가되는 테스트 데이터를 해당 주변 프로세서(21)로 인가하는데, 해당 인터페이스부(22a)는 주변 프로세서(21)로부터 인가되는 테스트 데이터 출력신호를 제 1 송신 메모리부(22b)로, 테스트 데이터 선택신호를 공간 스위치 링크 보드(24)로 각각 인가하며, 해당 제 1 송신 메모리부(22b)는 인터페이스부(22a)를 통해 인가되는 테스트 데이터 출력신호에 따라 기저장된 테스트 데이터를 공간 스위치 링크 보드(24)로 인가하고, 해당 제 1 수신 메모리부(22c)는 공간 스위치 링크 보드(24)로부터 인가되는 테스트 경로를 경유한 테스트 결과 데이터를 저장하고 저장한 테스트 결과 데이터를 인터페이스부(22a)로 인가한다.
공간 스위치 보드(23)는 공간 스위치 링크 보드(24)의 수신 다중화기(24c)로부터 인가되는 테스트 데이터에 대한 스위칭 기능을 수행하고 스위칭된 테스트 데이터를 공간 스위치 링크 보드(24)를 통해 제어 보드(22)의 제 1 수신 메모리부(22c)로 인가한다.
공간 스위치 링크 보드(24)는 송신 다중화기(24a)와, 제 2 송신 메모리부(24b)와, 수신 다중화기(24c) 및 제 2 수신 메모리부(24d)를 구비하며, 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 공간 스위치 보드(23) 또는 시간 스위치 링크 보드(25)로 각각 인가하고, 해당 공간 스위치 보드(23) 또는 시간 스위치 링크 보드(25)로부터 인가되는 테스트 결과 데이터를 제어 보드(22)의 제 1 수신 메모리부(22c)로 인가하는데, 해당 송신 다중화기(24a)는 제어 보드(22)의 인터페이스부(22a)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 제 1 송신 메모리부(22b)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 제 2 송신 메모리부(24b)로 인가하며, 제 2 송신 메모리부(24b)는 송신 다중화기(24a)로부터 인가되는 테스트 데이터를 저장하고 저장한 테스트 데이터를 제어 보드(22)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 시간 스위치 링크 보드(25)로 인가한다. 해당 수신 다중화기(24c)는 제어 보드(22)의 인터페이스부(22a)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 제 1 송신 메모리부(22b)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 공간 스위치 보드(23)로 인가하며, 해당 제 2 수신 메모리부(24d)는 시간 스위치 링크 보드(25)로부터 인가되는 테스트 결과 데이터를 저장하고 저장한 테스트 결과 데이터를 제어 보드(22)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 제어 보드(22)의 제 1 수신 메모리부(22c)로 각각 인가한다.
시간 스위치 링크 보드(25)는 공간 스위치 링크 보드(24)의 제 2 송신 메모리부(24b)로부터 인가되는 테스트 데이터를 루프 백 기능을 이용하여 제 2 수신 메모리부(24d)로 인가한다.
이와 같이 구성된 본 고안에 따른 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 동작은 다음과 같이 수행된다.
먼저, 주변 프로세서(21)에서 시간 스위치 링크 보드(25) 방향의 오프 라인 테스트를 하고자하는 경우의 동작은 종래의 오프 라인 테스트 동작과 동일하므로 그 설명을 생략한다.
그리고, 만약 주변 프로세서(21)에서 공간 스위치 보드(23) 방향의 오프 라인 테스트를 하고자하는 경우, 해당 주변 프로세서(21)는 제어 보드(22)의 인터페이스부(22a)를 통해 제 1 송신 메모리부(22b)에 테스트 데이터 출력신호를 인가함과 동시에 공간 스위치 링크 보드(24)의 수신 다중화기(24c)에 테스트 데이터 선택신호를 인가한다.
이에, 해당 제 1 송신 메모리부(22b)에서 인터페이스부(22a)를 통해 인가되는 테스트 데이터 출력신호에 따라 오프 라인 테스트를 위한 테스트 데이터를 수신 다중화기(24c)로 인가하면, 해당 수신 다중화기(24c)는 인터페이스부(22a)를 통해 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제 1 송신 메모리부(22b)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화한 후 공간 스위치 보드(23)로 인가한다.
이후, 해당 공간 스위치 보드(23)는 수신 다중화기(24c)로부터 인가되는 테스트 데이터에 대한 스위칭 기능을 수행하고 스위칭한 테스트 데이터를 공간 스위치 링크 보드(24)를 통해 해당 제어 보드(22)의 제 1 수신 메모리부(22c)로 인가하여 저장시킨다.
이때, 해당 주변 프로세서(21)는 인터페이스부(22a)를 통해 해당 제 1 수신 메모리부(22c)에 저장된 테스트 데이터 즉, 공간 스위치 보드(23) 방향의 라인 테스트 경로를 경유한 테스트 결과 데이터를 인출한 후, 해당 제 1 송신 메모리부(22b)에서 출력한 테스트 데이터와 비교하여 해당 공간 스위치 보드(23) 방향의 전송 라인의 이상 유무를 알 수 있게 된다.
이상과 같이, 본 고안은 전전자 교환기에서 오프 라인 테스트시 시간 스위치 링크 보드 방향과 공간 스위치 보드 방향의 오프 라인 테스트가 가능하도록 함으로써, 해당 전전자 교환기의 운용자에게 유지 보수의 편의성을 제공할 수 있게 된다.

Claims (2)

  1. 공간 스위치 블록에서의 오프 라인 테스트를 위한 테스트 데이터 출력신호와 테스트 데이터 선택신호를 인가하고 테스트 결과 데이터를 인출하여 전송 라인의 이상 유무를 검출하는 주변 프로세서(21)와; 인가되는 테스트 데이터에 대한 스위칭 기능을 수행하여 인가하는 공간 스위치 보드(23)와; 인가되는 테스트 데이터를 루프 백 기능을 이용하여 인가하는 시간 스위치 링크 보드(25)를 구비하는 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치에 있어서,
    상기 주변 프로세서(21)의 제어에 따라 테스트 데이터 선택신호, 테스트 데이터, 동기 클럭(CLK)을 인가하고, 자체에 저장된 테스트 결과 데이터를 상기 주변 프로세서(21)로 인가하는 제어 보드(22)와; 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 상기 공간 스위치 보드(23) 또는 시간 스위치 링크 보드(25)로 각각 인가하고, 상기 공간 스위치 보드(23) 또는 시간 스위치 링크 보드(25)로부터 인가되는 테스트 경로를 경유한 테스트 결과 데이터를 상기 제어 보드(22)로 인가하는 공간 스위치 링크 보드(24)를 포함하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 공간 스위치 링크 보드(24)는 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 인가하는 송신 다중화기(24a)와; 상기 송신 다중화기(24a)로부터 인가되는 테스트 데이터를 저장하고 저장한 테스트 데이터를 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 상기 시간 스위치 링크 보드(25)로 인가하는 제 2 송신 메모리부(24b)와; 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터 선택신호에 따라 해당 제어 보드(22)로부터 인가되는 테스트 데이터를 선택하여 다중화해서 인가하는 수신 다중화기(24c)와; 상기 시간 스위치 링크 보드(22)로부터 인가되는 테스트 결과 데이터를 저장하고 저장한 테스트 결과 데이터를 상기 제어 보드(22)로부터 인가되는 동기 클럭(CLK)에 동기를 맞추어 상기 제어 보드(22)로 인가하는 제 2 수신 메모리부(24d)를 구비하는 것을 특징으로 하는 전전자 교환기에서의 오프 라인 테스트 장치.
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