KR19990035741U

KR19990035741U - 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치

Info

Publication number: KR19990035741U
Application number: KR2019980001387U
Authority: KR
Inventors: 이상우
Original assignee: 구본준; 엘지반도체 주식회사
Priority date: 1998-02-07
Filing date: 1998-02-07
Publication date: 1999-09-15

Abstract

본 고안은 반도체칩 테스트 장치에 관한 것으로, 종래의 기술에 있어서 테스터에서 테스트 프로그램을 구동하여 피측정디바이스(Device Under Test)에 보내고, 상기 피측정디바이스에서 출력되는 출력값을 기대값과 비교하여 피측정디바이스의 이상유무를 판단하는 방식이었으나, 현재 반도체가 고집적화 됨에 따라 디바이스의 동작 전체의 이상유무를 확인하기 어려운 문제점이 있었다. 따라서, 본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 피측정디바이스의 내부 메모리에 특정 영역을 할당하여 테스트하고자 하는 특정회로의 입출력값을 저장하고, 테스트시 상기 특정 회로의 동작에 따른 출력값을 상기 특정영역에 저장된 출력값과 비교하여 피측정디바이스의 이상유무를 판단함으로써, 테스트프로그램의 일부 수정으로 동일한 테스트 시간 안에 추가적인 외부 테스트 핀 없이 테스트하고자 하는 특정회로의 동작을 확인하게 하여, 디바이스의 정상동작 유무를 정확히 판단하고 테스트 비용을 절감하는 효과가 있다.

Description

내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치

본 고안은 반도체 칩 테스트 장치에 관한 것으로, 특히 반도체 내부 메모리의 특정 영역을 테스트용으로 사용하여 피측정디바이스(Device Under Test, 이하 DUT)의 테스트를 보다 쉽게 할 수 있는 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치에 관한 것이다.

도1은 종래 피측정디바이스 테스트 장치를 보인 블록도로서, 이에 도시된 바와 같이 피측정디바이스(DUT1)를 테스트하기 위한 테스트 프로그램을 구동시켜 디바이스의 이상유무를 확인할 수 있는 테스터(TD1)와; 테스트하고자 하는 피측정디바이스(DUT1)로 구성되며, 이와 같이 구성된 종래 장치의 동작을 설명한다.

우선, 테스터(TD1)에서 테스트 프로그램을 구동하여 입력을 피측정디바이스(DUT1)에 보내면, 상기 피측정디바이스(DUT1)의 동작에 따른 출력값을 테스터(TD1)에 보내고, 상기 테스터(TD1)에선 상기 피측정디바이스(DUT1)의 출력값과 기대값을 비교하여 상기 피측정디바이스(DUT1)의 정상(PASS)/불량(FAIL)을 판단하여 외부로 출력한다.

그러나, 상기와 같은 종래의 기술에 있어서는 최근 디바이스가 고집적화 됨에 따라 테스트 가능성(Testability)과 관측성(Observability)에 제약이 뒤따르므로, 테스트시 특정영역의 측정이 어렵게 되고, 이런 문제를 해결하기 위해 테스트용 핀을 추가로 삽입시키기도 하나, 디바이스의 패키지(Package)의 제약 때문에 이 또한 테스트하는데 한계가 있고, 테스트하고자 하는 디바이스 동작 전체를 확인하기 위해서는 많은 비용이 소요된다.

따라서, 본 고안은 상기와 같은 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출한 것으로, 피측정디바이스가 갖고 있는 내부 메모리의 특정영역을 테스트용으로 사용하여 디바이스 테스트를 쉽게 수행할 수 있게 한 피측정디바이스 테스트 장치를 제공함에 그 목적이 있다.

도1은 종래의 반도체 테스트 장치의 블록도

도2는 본 고안의 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치의 블록도

***도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명***

DUT2 : 피측정디바이스 TD2 : 테스트 회로

10 : 특정 회로 20 : 내부 메모리

20a : 테스트용 메모리

상기 목적을 달성하기 위한 본 고안 내부메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치는 시스템의 내부 메모리에 특정 영역을 할당하여 테스트하고자 하는 특정 회로의 입출력값을 저장한 테스트용 메모리와, 테스트시 상기 특정 회로의 동작에 따른 출력값을 상기 테스트용 메모리에 저장된 출력값과 비교하여 테스트를 수행하는 테스트회로로 구성한 것으로, 이를 첨부한 도면을 참조하여 상세히 설명하면 다음과 같다.

도2는 본 고안의 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치의 구성을 보인 블록도로서, 이에 도시한 바와 같이 피측정디바이스(DUT2)의 내부 메모리(20)에 특정영역을 할당하여 테스트하고자 하는 특정회로(10)의 입출력값을 저장한 테스트용 메모리(20a)와; 테스트시 상기 특정회로(20)의 동작에 따른 출력값을 상기 테스트용 메모리(20a)에 저장된 출력값과 비교하여 피측정디바이스(DUT2)의 정상유무를 테스트하는 테스트회로(TD2)로 구성한 것으로 이와 같이 구성한 본 고안의 동작을 설명한다.

대부분의 시스템에는 일정한 크기의 내부 메모리(20)를 가지고 있다. 그러므로, 피측정디바이스(DUT2)를 테스트할 경우 상기 내부 메모리(20)에 특정영역(20a)을 테스트용으로 할당하여, 그 할당된 테스트용 메모리(20a)에 테스트하고자 하는 상기 특정회로(10)의 입출력값을 테이블(Table)형태로 저장한다.

그리고, 테스트시 테스트회로(TD2)에서 상기 테스트하고자 하는 특정회로(10)에 입력값을 입력하여 동작시키고, 그 특정회로(10)의 동작에 따른 테스트회로(TD2)에서 입력받은 후, 상기 내부 메모리(20)의 테스트용 메모리(20a)에 저장된 출력값과 비교하고, 그 비교 결과에 따라 테스트하고자 하는 피측정디바이스(DUT2)가 정상(PASS)인지 불량(FAIL)인지를 나타내는 테스트 결과신호를 출력한다.

상기에서 설명한 바와 같이 본 고안은 피측정디바이스 테스트시 내부메모리의 특정영역에 저장된 테스트 프로그램의 일부만 수정하여, 추가적인 외부 테스트 핀 없이 동일한 테스트 시간 안에 특정영역의 동작을 확인함으로써, 디바이스의 정상동작 유무를 정확히 판단하고 테스트 비용을 절감하는 효과가 있다.

Claims

시스템 내부 메모리에 특정영역을 할당하여 테스트하고자 하는 특정 회로의 입출력값을 저장한 테스트용 메모리와; 테스트시 상기 특정회로의 출력값을 상기 테스트용 메모리에 저장된 출력값과 비교하여 테스트를 수행하는 테스트회로로 구성하여 된 것을 특징으로 하는 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치
제 1항에 있어서 상기 테스트용 메모리는 테스트하고자 하는 특정 회로의 입출력값을 테이블 형태로 저장하여 구성된 것을 특징으로 하는 내부 메모리를 이용한 피측정디바이스 테스트 장치