KR19980066467A - ESD protection circuit - Google Patents
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Abstract
본 발명은 이에스디(ESD : Electro Static Discharge) 보호회로에 관한 것으로 특히, 과전압 차단 기능을 갖도록 한 ESD 보호회로에 관한 것이다.The present invention relates to an ESD protection circuit, and more particularly, to an ESD protection circuit having an overvoltage blocking function.
이와 같은 본 발명의 ESD 보호회로는 입력단자에 인가되는 이상전압으로부터 내부회로를 보호하는 ESD 보호회로에 있어서, 상기 입력단자와 전원전압 사이에 위치하는 저항(R1) 및 제 1 다이오드와, 상기 입력단자와 접지전압 사이에 위치하는 저항(R2) 및 제 2 다이오드와, 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 제 1, 제 2 트랜지스터를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.The ESD protection circuit of the present invention is an ESD protection circuit that protects an internal circuit from an abnormal voltage applied to an input terminal, comprising: a resistor (R 1 ) and a first diode located between the input terminal and a power supply voltage; And a resistor (R 2 ) and a second diode positioned between the input terminal and the ground voltage, and first and second transistors positioned between the input terminal and the internal circuit.
Description
본 발명은 이에스디(ESD : Electro Static Discharge) 보호회로에 관한 것으로 특히, 과전압 차단 기능을 갖도록 한 ESD 보호회로에 관한 것이다.The present invention relates to an ESD protection circuit, and more particularly, to an ESD protection circuit having an overvoltage blocking function.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 종래의 ESD 보호회로를 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, a conventional ESD protection circuit will be described with reference to the accompanying drawings.
도 1은 종래의 ESD 보호회로를 나타낸 회로도이다.1 is a circuit diagram showing a conventional ESD protection circuit.
도 1에서와 같이 입력단자(PIN)에 캐소드가 연결되며 전원전압(Vdd)에 애노드가 연결되는 제 1 다이오드(11)와, 상기 입력단자(PIN)에 애노드가 연결되고 접지전압(Vss)에 캐소드가 연결되는 제 2 다이오드(12)와, 그리고 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 저항(R)으로 구성된다.As shown in FIG. 1, a cathode is connected to an input terminal PIN, and a first diode 11 having an anode connected to a power supply voltage Vdd, an anode connected to the input terminal PIN, and a ground voltage Vss. The second diode 12 to which the cathode is connected, and a resistor (R) located between the input terminal and the internal circuit.
상기와 같이 이루어진 종래의 ESD 보호회로의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the conventional ESD protection circuit made as described above are as follows.
즉, 전원전압 보다 0.7V 이상되는 전압이 입력단자(PIN)에 인가되면 제 1 다이오드(11)는 턴온(Turn ON)되고, 제 2 다이오드(12)는 턴오프(Turn OFF)되어 핀에 인가된 전류가 전부 접지전압(Vss)으로 배출된다.That is, when a voltage of 0.7 V or more than the power supply voltage is applied to the input terminal PIN, the first diode 11 is turned on, and the second diode 12 is turned off and applied to the pin. All the currents are discharged to the ground voltage Vss.
그리고 0.7V 이하되는 전압이 입력단자에 인가되면 제 1 다이오드(11)가 'Turn OFF'되고, 제 2 다이오드(12)가 'Turn ON'되어 핀에 인가된 전류가 전부 전원전압(Vdd)에서 입력단자로 배출된다.When a voltage of 0.7 V or less is applied to the input terminal, the first diode 11 is 'turn off', and the second diode 12 is turned 'turn on' so that the current applied to the pin is entirely at the power supply voltage Vdd. Ejected to the input terminal.
또한, 저항 R은 입력단자에 이상 전압이 인가될 때 내부 회로가 받는 충격을 완화하기 위한 것으로써 사용된다.In addition, the resistor R is used to mitigate the impact of the internal circuit when an abnormal voltage is applied to the input terminal.
그러나 이와 같은 종래의 ESD 보호회로에 있어서 다음과 같은 문제점이 있었다.However, such a conventional ESD protection circuit has the following problems.
즉, 입력단자에 갑작스러운 인펄스(Impluse)가 인가되면 제 1, 제 2 다이오드가 턴온되기전에 내부 회로에 영향을 미쳐서 내부회로를 파괴한다.That is, if a sudden impulse is applied to the input terminal, the internal circuit is destroyed by influencing the internal circuit before the first and second diodes are turned on.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위휘해 안출한 것으로 입력단자에 인가된 이상전압의 전류가 내부회로에 영향을 미치는 것을 방지하여 내부회로를 보호하는데 적당한 ESD 보호회로를 제공하는데 그 목적이 있다.An object of the present invention is to provide an ESD protection circuit suitable for protecting an internal circuit by preventing an electric current of an abnormal voltage applied to an input terminal from affecting an internal circuit. .
도 1은 종래의 ESD 보호회로를 나타낸 회로도1 is a circuit diagram showing a conventional ESD protection circuit
도 2는 본 발명의 ESD 보호회로를 나타낸 회로도2 is a circuit diagram showing an ESD protection circuit of the present invention.
도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명Explanation of symbols for the main parts of the drawings
21 : 제 1 다이오드 22 : 제 2 다이오드21: first diode 22: second diode
23 : 제 1 트랜지스터 24 : 제 2 트랜지스터23: first transistor 24: second transistor
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 ESD 보호회로는 입력단자에 인가되는 이상전압으로부터 내부회로를 보호하는 ESD 보호회로에 있어서, 상기 입력단자와 전원전압 사이에 위치하는 저항(R1) 및 제 1 다이오드와, 상기 입력단자와 접지전압 사이에 위치하는 저항(R2) 및 제 2 다이오드와, 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 제 1, 제 2 트랜지스터를 포함하여 구성됨을 특징으로 한다.The ESD protection circuit of the present invention for achieving the above object is a ESD protection circuit for protecting the internal circuit from the abnormal voltage applied to the input terminal, the resistor (R 1 ) and located between the input terminal and the power supply voltage and And a first diode, a resistor (R 2 ) and a second diode located between the input terminal and the ground voltage, and first and second transistors located between the input terminal and the internal circuit. .
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 의한 ESD 보호회로를 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an ESD protection circuit according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명에 의한 ESD 보호회로를 나타낸 회로도이다.2 is a circuit diagram showing an ESD protection circuit according to the present invention.
도 2에서와 같이 입력단자와 전원전압(Vdd) 사이에서 입력단자에 캐소드가 연결되고 전원전압에 애노드가 연결되는 제 1 다이오드(21)와, 입력단자와 접지전압(Vss) 사이에서 입력단자에 애노드가 연결되고 접지전압에 캐소드가 연결되는 제 2 다이오드(22)와, 그리고 상기 입력단자와 내부회로 사이에 위치하는 제 1, 제 2 트랜지스터(23,24)로 구성된다.As shown in FIG. 2, a cathode is connected to the input terminal between the input terminal and the power supply voltage Vdd, and an anode is connected to the power supply voltage, and an input terminal is connected between the input terminal and the ground voltage Vss. And a second diode 22 having an anode connected to the cathode and a cathode connected to the ground voltage, and first and second transistors 23 and 24 positioned between the input terminal and the internal circuit.
이때 상기 제 1 트랜지스터(23)은 상기 제 2 다이오드(22)의 애노드에 연결되고, 상기 제 2 트랜지스터(24)는 상기 제 1 다이오드(21)의 캐소드에 연결된다.In this case, the first transistor 23 is connected to the anode of the second diode 22, and the second transistor 24 is connected to the cathode of the first diode 21.
그리고 상기 입력단자와 제 1 다이오드(21) 및 제 2 다이오드(22) 사이에 각각 저항 R1, R2이 연결된다.A resistor R 1 and R 2 are connected between the input terminal, the first diode 21, and the second diode 22, respectively.
여기서 상기 제 1 트랜지스터(23)는 PMOS 트랜지스터이고, 상기 제 2 트랜지스터(24)는 디플레션 모드(Depletion-Mode) 트랜지스터이다.The first transistor 23 is a PMOS transistor, and the second transistor 24 is a deflation-mode transistor.
그리고 전원전압은 3.3V 또는 5V이고, 접지전압은 0V 또는 -5V로써 제 1 다이오드(21)와 저항 R1에 의해 ESD 상한 전압이 결정되고, 제 2 다이오드(22)와 저항 R2에 의해 하한 전압이 결정된다.The power supply voltage is 3.3V or 5V, the ground voltage is 0V or -5V, and the ESD upper limit voltage is determined by the first diode 21 and the resistor R 1 , and the lower limit is determined by the second diode 22 and the resistor R 2 . The voltage is determined.
상기 저항 R1,R2는 상기 제 1, 제 2 트랜지스터(23,24)의 턴온, 턴오프를 조절하여 핀에 인가된 이상전압의 전류가 내부회로에 영향을 미치지 못하도록 제어하는 기능을 한다.The resistors R 1 and R 2 control the turn-on and turn-off of the first and second transistors 23 and 24 to prevent the current of the abnormal voltage applied to the pin from affecting the internal circuit.
상기와 같이 이루어진 본 발명의 ESD 보호회로의 동작을 설명하면 다음과 같다.Referring to the operation of the ESD protection circuit of the present invention made as described above are as follows.
만일, 전원전압이 5V라 하면 하나의 다아이오드가 도통될 때 드로프(Drop)되는 문턱전압은 0.7V이다.If the power supply voltage is 5V, the threshold voltage dropped when one diode is conductive is 0.7V.
그러므로 입력단자(PIN)에 펄스의 이상전압이 인가된다면 5.7V되는 순간부터 제 1 다이오드(21)가 'Turn ON'되면서 0.7V를 초과하는 전압이 저항 R1양단에 걸리게 된다.Therefore, if an abnormal voltage of a pulse is applied to the input terminal PIN, the voltage of more than 0.7V is applied across the resistor R 1 as the first diode 21 is 'turned on' from the moment when it is 5.7V.
이 상태에서 제 2 다이오드(22)는 역방향으로 'Turn OFF'된다.In this state, the second diode 22 is 'Turn OFF' in the reverse direction.
여기서 상기 저항 R1양단에 걸리는 전압이 0.7V를 넘어서게 되면 상기 입력단자와 내부회로 사이에 연결된 제 2 트랜지스터(24)가 'Turn OFF' 되면서 신속히 PIN에 인가된 펄스의 이상전압과 내부회로를 끊어버리는 역할을 한다.Here, when the voltage across the resistor R 1 exceeds 0.7V, the second transistor 24 connected between the input terminal and the internal circuit is 'turn off' and the abnormal voltage of the pulse applied to the PIN is quickly disconnected. Throw away.
이와 동시에 입력단자에 인가된 이상전압의 전류(Current)는 제 1 다이오드(21)를 통해서 입력단자에서 전원전압으로 배출된다.At the same time, the current of the abnormal voltage applied to the input terminal is discharged from the input terminal to the power supply voltage through the first diode 21.
또한, 상기 입력단자에 마이너스(Minus)의 이상전압이 인가되다면, -0.7V되는 순간부터 제 2 다이오드(22)가 'Turn ON'되면서 -0.7V를 초과하는 전압부터는 저항 R2양단에 걸리게 된다.In addition, if an abnormal voltage of minus is applied to the input terminal, the second diode 22 is 'turned on' from the moment of -0.7V and is applied across the resistor R 2 from a voltage exceeding -0.7V. do.
이 상태에서 제 1 다이오드(21)는 역방향으로 'Turn OFF'되고, 상기 저항 R2양단에 걸리는 전압이 -0.7V를 넘어서게 된면 입력단자와 내부회로 사이에 연결된 제 1 트랜지스터(23)가 'Turn OFF'되면서 신속히 입력단자에 인가된 이상전압의 전류는 제 2 다이오드(22)를 통해서 접지전압에서 입력단자로 배출된다.In this state, the first diode 21 turns 'Turn OFF' in the reverse direction, and when the voltage across the resistor R 2 exceeds -0.7 V, the first transistor 23 connected between the input terminal and the internal circuit is turned 'Turn'. OFF 'and the current of the abnormal voltage rapidly applied to the input terminal is discharged from the ground voltage to the input terminal through the second diode (22).
이상에서 설명한 바와같이 본 발명에 의한 ESD 보호회로에 있어서 인펄스 형태의 이상전압이 입력단자에 인가될 때 입력단자와 내부회로를 끊어 버림으로써 어떠한 이상전압으로 부터도 내부회로를 보호하는 효과가 있다.As described above, in the ESD protection circuit according to the present invention, when an inpulse type abnormal voltage is applied to the input terminal, the internal circuit is protected from any abnormal voltage by cutting off the input terminal and the internal circuit. .
Claims (6)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970002045A KR100249155B1 (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Esd protection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1019970002045A KR100249155B1 (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Esd protection circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR19980066467A true KR19980066467A (en) | 1998-10-15 |
KR100249155B1 KR100249155B1 (en) | 2000-03-15 |
Family
ID=19495456
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1019970002045A KR100249155B1 (en) | 1997-01-24 | 1997-01-24 | Esd protection circuit |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100249155B1 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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-
1997
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---|---|
KR100249155B1 (en) | 2000-03-15 |
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