KR102655623B1 - Multi-channel arc detection device - Google Patents

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Abstract

일 실시예는, 제1태양광패널과 인버터를 연결시키는 제1라인의 전류를 측정하는 제1전류센서; 제2태양광패널과 상기 인버터를 연결시키고 상기 제1라인과 다른 경로상에 배치되는 제2라인의 전류를 측정하는 제2전류센서; 제1밴드패스대역으로 상기 제1전류센서의 측정신호를 필터링하는 제1밴드패스필터; 상기 제1밴드패스대역과 다른 제2밴드패스대역으로 상기 제2전류센서의 측정신호를 필터링하는 제2밴드패스필터; 및 상기 제1밴드패스필터의 출력신호 및 상기 제2밴드패스필터의 출력신호를 주파수분석하여 상기 제1라인 및 상기 제2라인의 아크사고유무를 판단하는 프로세서를 포함하는 다채널 아크검출장치를 제공한다.One embodiment includes a first current sensor that measures the current of a first line connecting the first solar panel and the inverter; a second current sensor that connects the second solar panel and the inverter and measures the current of a second line disposed on a different path from the first line; a first band-pass filter that filters the measurement signal of the first current sensor using a first band-pass band; a second band-pass filter that filters the measurement signal of the second current sensor to a second band-pass band different from the first band-pass band; And a multi-channel arc detection device including a processor that analyzes the output signal of the first band pass filter and the output signal of the second band pass filter to determine whether there is an arc fault in the first line and the second line. to provide.

Description

다채널 아크검출장치{MULTI-CHANNEL ARC DETECTION DEVICE}Multi-channel arc detection device {MULTI-CHANNEL ARC DETECTION DEVICE}

본 실시예는 아크검출장치에 관한 것이다. This embodiment relates to an arc detection device.

종래에, 일반적으로 각종 전기 기기에 전력을 공급하기 위해 상용전원을 중심으로 한 교류 배전 시스템이 사용되어져 오고 있다. 최근, 직류 부하의 급증, 직류전력을 생산하는 신재생 에너지의 보급 확산이 급격하게 일어나고 있으며, 이에 따라 직류로 생산된 전력을 교류 변환 없이 직류로 사용함으로써 전력 전달 효율을 향상 시킬 뿐 아니라 구성 요소간의 연계를 간단하게 하여 시스템 전체의 효율성을 높일 수 있는 직류배전이 많은 관심을 받고 있다. 이러한 장점을 활용하여 직류 배전 시스템은 인터넷 데이터 센터, 조명, 상용 빌딩 등에 적용을 위해 적극 검토되고 있으며, 최근에는 선체 연비 향상을 위한 선박용 직류 마이크로그리드, 연료 효율성 향상을 위한 군용 직류 마이크로그리드 영역으로의 확장까지 고려되고 있다.Conventionally, an alternating current power distribution system centered on commercial power has been used to supply power to various electrical devices. Recently, there has been a rapid increase in the number of direct current loads and the spread of new and renewable energy that produces direct current power. Accordingly, by using the power produced as direct current as direct current without alternating current conversion, not only does it improve power transfer efficiency, but it also improves the efficiency of communication between components. Direct current distribution, which can increase the efficiency of the entire system by simplifying connection, is receiving a lot of attention. Taking advantage of these advantages, DC power distribution systems are being actively reviewed for application to internet data centers, lighting, commercial buildings, etc., and have recently been used in the areas of marine DC microgrids to improve hull fuel efficiency and military DC microgrids to improve fuel efficiency. Expansion is also being considered.

종래의 교류 배전 시스템에 비해 직류 시스템은 아크 사고에 대한 안전성 측면에서 취약하다는 단점을 가진다. 교류 시스템에서 전류는 1초 동안 상용전원의 교류 주파수에 2배수에 해당하는 횟수만큼의 영점 교차가 존재함에 따라 아크사고 발생시에도 자연소호의 가능성이 높아 비교적 사고 발생 가능성이 낮다. 이에 반해, 직류 시스템은 전류에 영점이 존재하지 않기 때문에 아크사고 발생시 자연소호의 가능성이 낮아 교류에서의 아크 사고에 비해 위험성이 훨씬 높다.Compared to the conventional AC power distribution system, the DC system has the disadvantage of being vulnerable in terms of safety against arc accidents. In an AC system, the current crosses zero a number of times equal to 2 times the AC frequency of the commercial power supply in one second, so even in the event of an arc accident, the possibility of natural fire extinguishment is high, so the possibility of an accident occurring is relatively low. On the other hand, since the direct current system does not have a zero point in the current, the possibility of natural extinguishment in the event of an arc accident is low, and the risk is much higher than that of an arc accident in alternating current.

또한 직류 아크는 자연소호가 힘들어 위험성이 높을 뿐만 아니라, 사고 검출에 있어서도 어려움이 존재한다. 아크 사고는 선로에 있어서 노화, 커넥터 등에 있어서의 전기적 연결의 약해짐 등에 의해 발생할 수 있는데 이러한 직류 직렬 아크의 경우, 사고 전류가 정상범위 내에 있게 되기 때문에 종래에 설치되는 과전류 차단기나 누전 차단기로 검출이 어렵다. 따라서 직류 시스템의 신뢰성 및 안전성을 확보하기 위해서는 별도의 아크 검출기나 아크 검출기능을 내장한 차단장치가 필요하다.In addition, direct current arcs are difficult to naturally extinguish, so not only are they highly dangerous, but there are also difficulties in detecting accidents. Arc accidents can occur due to aging of lines, weakening of electrical connections in connectors, etc. However, in the case of such DC series arcs, the fault current is within the normal range, so it cannot be detected with conventionally installed overcurrent circuit breakers or earth leakage circuit breakers. difficult. Therefore, in order to ensure the reliability and safety of the direct current system, a separate arc detector or a blocking device with a built-in arc detection function is required.

이러한 배경에서, 본 실시예의 목적은, 직류 배선에서의 아크사고를 검출하는 기술을 제공하는 것이다.Against this background, the purpose of this embodiment is to provide a technique for detecting arc accidents in direct current wiring.

전술한 목적을 달성하기 위하여, 일 실시예는, 제1태양광패널과 인버터를 연결시키는 제1라인의 전류를 측정하는 제1전류센서; 제2태양광패널과 상기 인버터를 연결시키고 상기 제1라인과 다른 경로상에 배치되는 제2라인의 전류를 측정하는 제2전류센서; 제1밴드패스대역으로 상기 제1전류센서의 측정신호를 필터링하는 제1밴드패스필터; 상기 제1밴드패스대역과 다른 제2밴드패스대역으로 상기 제2전류센서의 측정신호를 필터링하는 제2밴드패스필터; 및 상기 제1밴드패스필터의 출력신호 및 상기 제2밴드패스필터의 출력신호를 주파수분석하여 상기 제1라인 및 상기 제2라인의 아크사고유무를 판단하는 프로세서를 포함하는 다채널 아크검출장치를 제공한다. In order to achieve the above-described object, one embodiment includes: a first current sensor that measures the current of a first line connecting the first solar panel and the inverter; a second current sensor that connects the second solar panel and the inverter and measures the current of a second line disposed on a different path from the first line; a first band-pass filter that filters the measurement signal of the first current sensor using a first band-pass band; a second band-pass filter that filters the measurement signal of the second current sensor to a second band-pass band different from the first band-pass band; And a multi-channel arc detection device including a processor that analyzes the output signal of the first band pass filter and the output signal of the second band pass filter to determine whether there is an arc fault in the first line and the second line. to provide.

상기 프로세서는, 상기 제1라인에 대한 주파수분석데이터에서 상기 제1밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제1기준값과 비교하고, 상기 제2라인에 대한 주파수분석데이터에서 상기 제2밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제2기준값과 비교하여 아크사고유무를 판단하되, 상기 제1기준값과 상기 제2기준값은 서로 다를 수 있다.The processor compares the average of component values of the first band pass band in the frequency analysis data for the first line with a first reference value, and compares the average of the component values of the first band pass band in the frequency analysis data for the second line. The presence or absence of an arc accident is determined by comparing the average of the component values with a second reference value, but the first reference value and the second reference value may be different from each other.

상기 프로세서는, 아크가 없는 상황에서 획득되는 상기 제1라인에 대한 주파수분석데이터에서 상기 제1라인의 공진주파수를 파악하고 상기 공진주파수가 포함되지 않는 대역으로 상기 제1밴드패스대역을 변경할 수 있다.The processor may determine the resonance frequency of the first line from frequency analysis data for the first line obtained in a situation where there is no arc and change the first band pass band to a band that does not include the resonance frequency. .

다른 실시예는, 태양광패널 혹은 인버터와 연결되는 라인의 아크를 검출하는 장치에 있어서, 서로 다른 공진주파수의 특성을 가지고 각각 상기 라인의 전류를 측정하는 복수의 전류센서; 각각의 상기 전류센서와 연결되고, 각각의 상기 전류센서의 공진주파수 특성에 대응되는 밴드패스대역을 가지는 복수의 밴드패스필터; 및 각각의 밴드패스필터의 출력신호를 주파수분석하여 상기 라인의 아크사고유무를 판단하는 프로세서를 포함하는 다채널 아크검출장치를 제공한다. Another embodiment is a device for detecting an arc in a line connected to a solar panel or an inverter, comprising: a plurality of current sensors each having different resonance frequency characteristics and measuring the current of the line; a plurality of band pass filters connected to each of the current sensors and having a band pass band corresponding to a resonance frequency characteristic of each current sensor; It provides a multi-channel arc detection device including a processor that analyzes the output signal of each band pass filter in frequency to determine whether or not there is an arc accident in the line.

상기 프로세서는, 각 밴드패스필터의 출력신호에 대한 주파수분석데이터에서 제1시간대에서의 주파수성분값과 제2시간대에서의 주파수성분값의 차이가 가장 큰 밴드패스필터의 출력신호를 이용하여 상기 라인의 아크사고유무를 판단할 수 있다.The processor uses the output signal of the band-pass filter with the largest difference between the frequency component value in the first time zone and the frequency component value in the second time zone in the frequency analysis data for the output signal of each band-pass filter to line the line. The presence or absence of an arc accident can be determined.

이상에서 설명한 바와 같이 본 실시예에 의하면, 배선의 전류정보를 이용하여 아크사고의 발생 유무를 판단하고 아크사고가 화재 사고로 이어지기 전에 신속하게 검출하여 시스템의 신뢰성 및 안전성을 확보 할 수 있게 된다.As described above, according to this embodiment, it is possible to determine whether an arc accident has occurred using the current information of the wiring and quickly detect the arc accident before it leads to a fire accident, thereby ensuring the reliability and safety of the system. .

도 1은 일 실시예에 따른 전력시스템의 구성도이다.
도 2는 일 실시예의 제1예시에 따른 아크검출장치의 구성도이다.
도 3은 일 실시예의 제1예시에서 프로세서가 밴드패스대역을 탐색하는 과정을 나타내는 도면이다.
도 4는 일 실시예의 제1예시에 따른 아크검출방법의 흐름도이다.
도 5는 일 실시예의 제2예시에 따른 아크검출장치의 구성도이다.
도 6은 일 실시예의 제2예시에 따른 아크검출방법의 흐름도이다.
도 7은 일 실시예의 제3예시에 따른 아크검출장치의 구성도이다.1 is a configuration diagram of a power system according to an embodiment.
Figure 2 is a configuration diagram of an arc detection device according to a first example of an embodiment.
Figure 3 is a diagram showing a process in which a processor searches for a bandpass band in a first example of an embodiment.
Figure 4 is a flowchart of an arc detection method according to a first example of an embodiment.
Figure 5 is a configuration diagram of an arc detection device according to a second example of an embodiment.
Figure 6 is a flowchart of an arc detection method according to a second example of an embodiment.
Figure 7 is a configuration diagram of an arc detection device according to a third example of an embodiment.

이하, 본 발명의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 통해 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가지도록 하고 있음에 유의해야 한다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.Hereinafter, some embodiments of the present invention will be described in detail through illustrative drawings. When adding reference numerals to components in each drawing, it should be noted that identical components are given the same reference numerals as much as possible even if they are shown in different drawings. Additionally, in describing the present invention, if it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present invention, the detailed description will be omitted.

또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질이나 차례 또는 순서 등이 한정되지 않는다. 어떤 구성 요소가 다른 구성요소에 "연결", "결합" 또는 "접속"된다고 기재된 경우, 그 구성 요소는 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되거나 또는 접속될 수 있지만, 각 구성 요소 사이에 또 다른 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다.Additionally, when describing the components of the present invention, terms such as first, second, A, B, (a), and (b) may be used. These terms are only used to distinguish the component from other components, and the nature, sequence, or order of the component is not limited by the term. When a component is described as being “connected,” “coupled,” or “connected” to another component, that component may be directly connected or connected to that other component, but there is another component between each component. It will be understood that elements may be “connected,” “combined,” or “connected.”

도 1은 일 실시예에 따른 전력시스템의 구성도이다.1 is a configuration diagram of a power system according to an embodiment.

도 1을 참조하면, 전력시스템(100)은 아크검출장치(110), 복수의 태양광패널(121~124), 복수의 라인(131~134), 접속반(140) 및 인버터(150) 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 1, the power system 100 includes an arc detection device 110, a plurality of solar panels 121 to 124, a plurality of lines 131 to 134, a connection panel 140, and an inverter 150. may include.

복수의 태양광패널(121~124)은 서로 다른 지점에 배치될 수 있다. 그리고, 배치되는 지점에 따라 주변 환경이 다를 수 있다. 예를 들어, 제1태양광패널(121)은 접속반(140)으로부터 가장 먼 거리에 배치될 수 있고, 주변 온도가 다른 태양광패널에 비해 낮을 수 있다. 제4태양광패널(124)은 접속반(140)으로부터 가장 가까운 거리에 배치될 수 있고, 주변 온도가 다른 태양광패널에 비해 높을 수 있다.A plurality of solar panels 121 to 124 may be placed at different points. Also, the surrounding environment may vary depending on the point where it is placed. For example, the first solar panel 121 may be placed at the greatest distance from the connection panel 140, and its surrounding temperature may be lower than that of other solar panels. The fourth solar panel 124 may be placed at the closest distance from the connection panel 140, and its surrounding temperature may be higher than that of other solar panels.

이러한 주변 환경의 차이에 따라 외부 노이즈의 각각의 태양광패널(121~124)에 대한 영향에 차이가 있을 수 있다. 예를 들어, 제1태양광패널(121)은 외부 노이즈의 영향이 적을 수 있고, 제4태양광패널(124)은 외부 노이즈의 영향이 클 수 있다.Depending on the differences in the surrounding environment, there may be differences in the impact of external noise on each solar panel 121 to 124. For example, the first solar panel 121 may be less affected by external noise, and the fourth solar panel 124 may be more affected by external noise.

복수의 라인(131~134)도 주변 환경의 차이에 따라 외부 노이즈의 영향에서 차이가 있을 수 있다. 복수의 라인(131~134)은 각각 태양광패널(121~124)과 접속반을 연결시키는데, 이때, 각 라인(131~134)이 처하는 부변 환경에 따라 외부 노이즈의 영향에서 차이가 있을 수 있다.The plurality of lines 131 to 134 may also have differences in the influence of external noise depending on differences in the surrounding environment. A plurality of lines (131 to 134) connect the solar panels (121 to 124) and the connection panel, respectively. At this time, there may be differences in the influence of external noise depending on the side environment of each line (131 to 134). .

일 예로서, 제1태양광패널(121)과 접속반(140)을 연결시키는 제1라인(131)은, 제4태양광패널(124)과 접속반(140)을 연결시키는 제4라인(134)에 비해 외부 노이즈의 영향이 적을 수 있다.As an example, the first line 131 connecting the first solar panel 121 and the connecting panel 140 is the fourth line connecting the fourth solar panel 124 and the connecting panel 140 ( 134), the influence of external noise may be less than that.

다른 예로서, 각 라인(131~134)에 영향을 미치는 노이즈의 주파수대역에도 차이가 있을 수 있다. 제1라인(131)에 영향을 미치는 노이즈의 주파수대역과 제2라인(132), 제3라인(133), 제4라인(134)에 영향을 미치는 노이즈의 주파수대역에 차이가 있을 수 있다.As another example, there may also be differences in the frequency band of noise affecting each line (131 to 134). There may be a difference in the frequency band of noise affecting the first line 131 and the frequency band of noise affecting the second line 132, third line 133, and fourth line 134.

이러한 차이는 각 라인(131~134)이 배치되는 경로상의 차이에서 비롯될 수 있는데, 예를 들어, 제4라인(134)은 전기기기-변압기 등-와 상대적으로 근접하게 배치되면서 전기기기에서 발생하는 고주파노이즈에 더 큰 영향을 받을 수 있고, 제1라인(131)은 전기기기와 상대적으로 멀리 배치되고, 또한, 그 경로가 상대적으로 길게 형성되면서 고주파노이즈의 영향을 덜 받을 수 있다.These differences may result from differences in the paths along which each line (131 to 134) is placed. For example, the fourth line (134) is placed relatively close to an electrical device (transformer, etc.), thereby causing problems in the electrical device. It can be more affected by high-frequency noise, and the first line 131 is placed relatively far away from the electric device, and its path is relatively long, so it can be less affected by high-frequency noise.

각 라인(131~134)은 길이나 경로에 따라 임피던스도 서로 다르기 때문에 감쇄시키거나 증폭시키는 노이즈주파수대역에서도 차이가 있을 수 있다.Since the impedance of each line (131 to 134) is different depending on the length or path, there may also be differences in the noise frequency band that is attenuated or amplified.

아크검출장치(110)는 아크사고유무를 판단할 수 있는 복수의 채널을 가지고 있으면서 각각의 채널을 이용하여 각 라인(131~134)의 아크사고유무를 개별적으로 판단할 수 있다. 이러한 측면에서 아크검출장치(110)를 다채널 아크검출장치라고 호칭할 수 있다.The arc detection device 110 has a plurality of channels that can determine the presence or absence of an arc accident, and can individually determine the presence or absence of an arc accident in each line (131 to 134) using each channel. In this respect, the arc detection device 110 may be referred to as a multi-channel arc detection device.

아크검출장치(110)는 각 채널의 밴드패스대역을 다르게 설정할 수 있다. 예를 들어, 아크검출장치(110)는 제1라인(131)의 아크사고유무를 판단하는 제1채널과, 제2라인(132)의 아크사고유무를 판단하는 제2채널의 밴드패스대역을 서로 다르게 설정할 수 있다.The arc detection device 110 can set the bandpass band of each channel differently. For example, the arc detection device 110 uses a bandpass band of a first channel for determining whether an arc accident occurs in the first line 131 and a second channel for determining whether an arc accident occurs in the second line 132. They can be set differently.

여기서, 밴드패스대역은 각 라인(131~134)에 영향을 미치는 외부 노이즈의 특성에 따라 결정될 수 있다. 아크검출장치(110)는 외부 노이즈의 영향이 덜한 주파수대역을 각 라인(131~134)의 밴드패스대역으로 설정할 수 있다.Here, the bandpass band may be determined according to the characteristics of external noise affecting each line 131 to 134. The arc detection device 110 may set a frequency band less affected by external noise as the bandpass band of each line (131 to 134).

아크검출장치(110)는 접속반(140)과 인버터(150) 사이에 배치되는 인버터라인(160)의 아크사고유무도 판단할 수 있다.The arc detection device 110 can also determine whether there is an arc accident in the inverter line 160 disposed between the connection panel 140 and the inverter 150.

아크검출장치(110)는 하나의 인버터라인(160)에 대해 복수의 채널을 이용하여 아크사고유무를 판단할 수 있다. 예를 들어, 아크검출장치(110)는 제1밴드패스대역을 가지는 제1채널과 제2밴드패스대역을 가지는 제2채널을 함께 이용하여 하나의 인버터라인(160)의 아크사고유무를 판단할 수 있다.The arc detection device 110 can determine the presence or absence of an arc accident using a plurality of channels for one inverter line 160. For example, the arc detection device 110 can determine the presence or absence of an arc accident in one inverter line 160 by using a first channel having a first band pass band and a second channel having a second band pass band. You can.

이와 같이 다채널 아크검출장치(110)는 다채널을 이용하여 복수의 라인(131~134)의 아크사고유무를 판단할 수 있다. 여기서, 다채널 아크검출장치(110)는 각 라인(131~134)의 특성에 맞도록 각 채널의 밴드패스대역을 조절할 수 있는 장점이 있다.In this way, the multi-channel arc detection device 110 can determine whether there is an arc accident in a plurality of lines 131 to 134 using multiple channels. Here, the multi-channel arc detection device 110 has the advantage of being able to adjust the bandpass band of each channel to suit the characteristics of each line 131 to 134.

그리고, 다채널 아크검출장치(110)는 다채널을 이용하여 한 라인(160)의 아크사고유무를 정확하게 판단할 수 있다. 여기서, 다채널 아크검출장치(110)는 서로 다른 밴드패스대역을 가지는 다채널을 이용하여 아크사고유무를 판단함으로써 주변환경과 동작조건에 따라 변하는 외부 노이즈가 존재하는 상황에서도 정확하게 아크사고유무를 판단할 수 있게 된다.In addition, the multi-channel arc detection device 110 can accurately determine whether an arc accident occurs in one line 160 using multiple channels. Here, the multi-channel arc detection device 110 determines the presence or absence of an arc accident using multiple channels with different bandpass bands, thereby accurately determining the presence or absence of an arc accident even in the presence of external noise that varies depending on the surrounding environment and operating conditions. You can do it.

다채널 아크검출장치(110)는 일부의 채널을 이용하여 태양광패널과 연결되는 라인(131~134)의 아크사고유무를 판단할 수 있고, 다른 일부의 채널을 이용하여 인버터라인(160)의 아크사고유무를 판단할 수 있다.The multi-channel arc detection device 110 can determine whether there is an arc accident in the lines 131 to 134 connected to the solar panel using some channels, and the inverter line 160 using other channels. The presence or absence of an arc accident can be determined.

이하에서는 설명의 편의를 위하여 태양광패널과 연결되는 라인(131~134)의 아크사고유무를 판단하는 예시와, 인버터라인(160)의 아크사고유무를 판단하는 예시를 분리시켜 설명하나 두 예시는 배타적인 것이 아니기 때문에 서로 조합되어 사용될 수 있다.Below, for convenience of explanation, an example of determining whether an arc accident has occurred in the lines (131 to 134) connected to the solar panel and an example of determining whether an arc accident has occurred in the inverter line (160) will be described separately. The two examples are Since they are not exclusive, they can be used in combination with each other.

도 2는 일 실시예의 제1예시에 따른 아크검출장치의 구성도이다.Figure 2 is a configuration diagram of an arc detection device according to a first example of an embodiment.

도 2를 참조하면, 아크검출장치(110)는 복수의 전류센서(211~214), 복수의 밴드패스필터(221~224), 복수의 ADC(Analog-Digital-Converter, 231~234) 및 프로세서(240) 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 2, the arc detection device 110 includes a plurality of current sensors 211 to 214, a plurality of bandpass filters 221 to 224, a plurality of ADCs (Analog-Digital-Converters, 231 to 234), and a processor. (240), etc. may be included.

복수의 전류센서(211~214)는 각각 라인(131~134)으로 흐르는 전류에 대한 측정신호를 생성할 수 있다.The plurality of current sensors 211 to 214 may each generate a measurement signal for the current flowing through the lines 131 to 134.

그리고, 복수의 밴드패스필터(221~224)는 각 전류센서(211~214)의 측정신호를 필터링할 수 있다.Additionally, the plurality of band pass filters 221 to 224 may filter the measurement signals of each current sensor 211 to 214.

각 밴드패스필터(221~224)의 밴드패스대역은 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 제1밴드패스필터(221)는 제1밴드패스대역을 가지고, 제2밴드패스필터(222)는 제2밴드패스대역을 가지고, 제3밴드패스필터(223)는 제3밴드패스대역을 가지고, 제4밴드패스필터(224)는 제4밴드패스대역을 가질 수 있다.The bandpass bands of each bandpass filter (221 to 224) may be different. For example, the first band pass filter 221 has a first band pass band, the second band pass filter 222 has a second band pass band, and the third band pass filter 223 has a third band. With a pass band, the fourth band pass filter 224 may have a fourth band pass band.

그리고, 복수의 ADC(231~234)는 각 밴드패스필터(221~224)의 출력신호를 디지털데이터로 변환할 수 있다.Additionally, the plurality of ADCs 231 to 234 can convert the output signal of each band pass filter 221 to 224 into digital data.

그리고, 프로세서(240)는 각 ADC(231~234)에서 출력되는 디지털데이터를 주파수분석하여 각 라인(131~134)의 아크사고유무를 판단할 수 있다. 주파수분석은 예를 들어, FFT(Fast Fourier Transform)분석일 수 있다.In addition, the processor 240 can frequency analyze the digital data output from each ADC (231 to 234) to determine whether or not there is an arc fault in each line (131 to 134). Frequency analysis may be, for example, FFT (Fast Fourier Transform) analysis.

프로세서(240)는 각 라인(131~134)에 대한 주파수분석데이터에서 특정 대역의 주파수성분값을 이용하여 해당 라인(131~134)의 아크사고유무를 판단할 수 있다. 여기서, 특정 대역은 각 밴드패스필터(221~224)의 밴드패스대역과 일치하거나 밴드패스대역 내의 일부 대역에 해당될 수 있다.The processor 240 may use the frequency component value of a specific band in the frequency analysis data for each line (131 to 134) to determine the presence or absence of an arc accident in the corresponding line (131 to 134). Here, the specific band may correspond to the bandpass band of each bandpass filter (221 to 224) or may correspond to a partial band within the bandpass band.

프로세서(240)는 각 라인(131~134)에 대한 주파수분석데이터에서 밴드패스대역의 성분값들의 평균을 기준값과 비교하여 아크사고유무를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(240)는 제1라인(131)에 대한 주파수분석데이터에서 제1밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제1기준값과 비교하고 평균이 제1기준값이상이면 제1라인(131)에 아크사고가 발생한 것으로 판단할 수 있다. 그리고, 프로세서(240)는 제2라인(131)에 대한 주파수분석데이터에서 제2밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제2기준값과 비교하여 평균이 제2기준값이상이면 제2라인(132)에 아크사고가 발생한 것으로 판단할 수 있다.The processor 240 can determine the presence or absence of an arc accident by comparing the average of the component values of the bandpass band in the frequency analysis data for each line (131 to 134) with a reference value. For example, the processor 240 compares the average of the component values of the first band pass band in the frequency analysis data for the first line 131 with the first reference value, and if the average is greater than the first reference value, the first line 131 ), it can be determined that an arc accident occurred. Then, the processor 240 compares the average of the component values of the second band pass band in the frequency analysis data for the second line 131 with the second reference value, and if the average is greater than the second reference value, the It can be determined that an arc accident has occurred.

이러한 예에서, 제1기준값과 제2기준값은 서로 다른 값일 수 있다. 아크는 주파수대역별로 크기가 다를 수 있는데 이를 반영하기 위해 프로세서(240)는 각 밴드패스대역별로 기준값의 크기를 다르게 설정할 수 있다.In this example, the first reference value and the second reference value may be different values. The arc may have a different size for each frequency band, and to reflect this, the processor 240 can set the size of the reference value differently for each bandpass band.

프로세서(240)는 적응적으로 각 밴드패스필터(221~224)의 밴드패스대역을 변경할 수 있다.The processor 240 can adaptively change the bandpass band of each bandpass filter (221 to 224).

예를 들어, 프로세서(240)는 아크가 없는 상황에서 획득되는 각 라인(131~134)의 주파수분석데이터에서 각 라인(131~134)의 공진주파수를 파악하고 이러한 공진주파수가 포함되지 않는 대역으로 밴드패스대역을 변경할 수 있다.For example, the processor 240 determines the resonance frequency of each line (131 to 134) from the frequency analysis data of each line (131 to 134) obtained in a situation where there is no arc, and selects the resonance frequency of each line (131 to 134) to a band that does not include this resonance frequency. You can change the bandpass band.

도 3은 일 실시예의 제1예시에서 프로세서가 밴드패스대역을 탐색하는 과정을 나타내는 도면이다.Figure 3 is a diagram showing a process in which a processor searches for a bandpass band in a first example of an embodiment.

도 3을 참조하면, 프로세서는 주파수분석데이터를 통해 각 주파수별 성분값을 획득할 수 있다.Referring to FIG. 3, the processor can obtain component values for each frequency through frequency analysis data.

프로세서는 아크가 없다고 판단되는 상황-사용자가 설정해 놓은 시구간-에서 주파수분석데이터를 확인하고 현재 밴드패스대역(310)에서 공진주파수성분(320)이 확인되는지 판단할 수 있다. 각 라인은 안테나와 같은 기능할 수 있는데, 이때, 안테나의 공진주파수에 따라 노이즈를 많이 흡수할 수 있기 때문에 프로세서는 공진주파수성분(320)을 확인하고 해당 공진주파수를 포함하지 않는 밴드패스대역(330)으로 밴드패스필터의 설정을 변경할 수 있다.The processor can check the frequency analysis data in a situation where it is determined that there is no arc - a time period set by the user - and determine whether the resonant frequency component 320 is confirmed in the current bandpass band 310. Each line can function like an antenna. At this time, since it can absorb a lot of noise depending on the resonance frequency of the antenna, the processor checks the resonance frequency component 320 and determines the bandpass band 330 that does not include the resonance frequency. ) You can change the settings of the band pass filter.

도 4는 일 실시예의 제1예시에 따른 아크검출방법의 흐름도이다.Figure 4 is a flowchart of an arc detection method according to a first example of an embodiment.

도 4를 참조하면, 아크검출장치는 아크가 없는 상황에서 각 라인의 전류를 측정하고 주파수분석하여 각 라인의 주파수별 성분값을 확인할 수 있다(S400).Referring to FIG. 4, the arc detection device can measure the current of each line in a situation where there is no arc and perform frequency analysis to check the component value by frequency of each line (S400).

그리고, 아크검출장치는 각 라인의 주파수별 성분값을 통해 노이즈가 많은 영역을 확인하고 해당 영역을 회피영역으로 설정할 수 있다. 이러한 과정을 기본 노이즈 확인 과정이라고 할 수 있는데, 아크검출장치는 기본 노이즈 확인 과정에서는 전류센서의 측정신호를 밴드패스필터를 거치지 않고 바로 ADC로 전달할 수 있다.In addition, the arc detection device can identify areas with a lot of noise through the frequency component values of each line and set the area as an avoidance area. This process can be called the basic noise confirmation process. In the basic noise confirmation process, the arc detection device can directly transmit the measurement signal from the current sensor to the ADC without going through a band-pass filter.

아크검출장치는 노이즈가 많은 회피영역과 겹치지 않도록 각 채널의 밴드패스대역을 설정할 수 있다(S402).The arc detection device can set the bandpass band of each channel so that it does not overlap with the avoidance area with a lot of noise (S402).

그리고, 아크검출장치는 각 채널의 전류센서를 이용하여 각 라인의 전류를 측정하고(S404), 전류센서에서 생성되는 측정신호를 밴드패스필터를 이용하여 밴드패스필터링할 수 있다(S406).In addition, the arc detection device can measure the current of each line using the current sensor of each channel (S404) and band-pass filter the measurement signal generated by the current sensor using a band-pass filter (S406).

그리고, 아크검출장치는 각 밴드패스필터의 출력신호를 주파수분석하고(S408), 주파수분석데이터를 바탕으로 각 라인의 아크사고유무를 판단할 수 있다(S410).In addition, the arc detection device can frequency analyze the output signal of each band pass filter (S408) and determine whether there is an arc accident in each line based on the frequency analysis data (S410).

그리고, 아크검출장치는 아크사고가 발생했다고 판단되는 라인에 대하여 아크알람신호를 출력할 수 있다(S412).And, the arc detection device can output an arc alarm signal for the line where it is determined that an arc accident has occurred (S412).

도 5는 일 실시예의 제2예시에 따른 아크검출장치의 구성도이다.Figure 5 is a configuration diagram of an arc detection device according to a second example of an embodiment.

도 5를 참조하면, 아크검출장치(510)는 복수의 전류센서(211~214), 복수의 밴드패스필터(221~224), 복수의 ADC(Analog-Digital-Converter, 231~234), 복수의 하이패스필터(521~524), 복수의 비교기(531~534) 및 프로세서(240) 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 5, the arc detection device 510 includes a plurality of current sensors 211 to 214, a plurality of band pass filters 221 to 224, a plurality of ADCs (Analog-Digital-Converters, 231 to 234), and a plurality of It may include a high-pass filter (521 to 524), a plurality of comparators (531 to 534), and a processor (240).

복수의 전류센서(211~214)는 각각 라인(131~134)으로 흐르는 전류에 대한 측정신호를 생성할 수 있다.The plurality of current sensors 211 to 214 may each generate a measurement signal for the current flowing through the lines 131 to 134.

그리고, 복수의 밴드패스필터(221~224)는 각 전류센서(211~214)의 측정신호를 필터링할 수 있다.Additionally, the plurality of band pass filters 221 to 224 may filter the measurement signals of each current sensor 211 to 214.

각 밴드패스필터(221~224)의 밴드패스대역은 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 제1밴드패스필터(221)는 제1밴드패스대역을 가지고, 제2밴드패스필터(222)는 제2밴드패스대역을 가지고, 제3밴드패스필터(223)는 제3밴드패스대역을 가지고, 제4밴드패스필터(224)는 제4밴드패스대역을 가질 수 있다.The bandpass bands of each bandpass filter (221 to 224) may be different. For example, the first band pass filter 221 has a first band pass band, the second band pass filter 222 has a second band pass band, and the third band pass filter 223 has a third band. With a pass band, the fourth band pass filter 224 may have a fourth band pass band.

그리고, 복수의 ADC(231~234)는 각 밴드패스필터(221~224)의 출력신호를 디지털데이터로 변환할 수 있다.Additionally, the plurality of ADCs 231 to 234 can convert the output signal of each band pass filter 221 to 224 into digital data.

그리고, 프로세서(540)는 각 ADC(231~234)에서 출력되는 디지털데이터를 주파수분석하여 각 라인(131~134)의 아크사고유무를 판단할 수 있다. 주파수분석은 예를 들어, FFT(Fast Fourier Transform)분석일 수 있다.In addition, the processor 540 can frequency analyze the digital data output from each ADC (231 to 234) to determine whether or not there is an arc fault in each line (131 to 134). Frequency analysis may be, for example, FFT (Fast Fourier Transform) analysis.

프로세서(540)는 각 라인(131~134)에 대한 주파수분석데이터에서 특정 대역의 주파수성분값을 이용하여 해당 라인(131~134)의 아크사고유무를 판단할 수 있다. 여기서, 특정 대역은 각 밴드패스필터(221~224)의 밴드패스대역과 일치하거나 밴드패스대역 내의 일부 대역에 해당될 수 있다.The processor 540 can use the frequency component value of a specific band in the frequency analysis data for each line (131 to 134) to determine whether there is an arc accident in the corresponding line (131 to 134). Here, the specific band may correspond to the bandpass band of each bandpass filter (221 to 224) or may correspond to a partial band within the bandpass band.

프로세서(540)는 각 라인(131~134)에 대한 주파수분석데이터에서 밴드패스대역의 성분값들의 평균을 기준값과 비교하여 아크사고유무를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(540)는 제1라인(131)에 대한 주파수분석데이터에서 제1밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제1기준값과 비교하고 평균이 제1기준값이상이면 제1라인(131)에 아크사고가 발생한 것으로 판단할 수 있다. 그리고, 프로세서(540)는 제2라인(131)에 대한 주파수분석데이터에서 제2밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제2기준값과 비교하여 평균이 제2기준값이상이면 제2라인(132)에 아크사고가 발생한 것으로 판단할 수 있다.The processor 540 can determine the presence or absence of an arc accident by comparing the average of the component values of the bandpass band in the frequency analysis data for each line (131 to 134) with a reference value. For example, the processor 540 compares the average of the component values of the first band pass band in the frequency analysis data for the first line 131 with the first reference value, and if the average is greater than the first reference value, the first line 131 ), it can be determined that an arc accident occurred. Then, the processor 540 compares the average of the component values of the second band pass band in the frequency analysis data for the second line 131 with the second reference value, and if the average is greater than the second reference value, the second line 132 It can be determined that an arc accident has occurred.

이러한 예에서, 제1기준값과 제2기준값은 서로 다른 값일 수 있다. 아크는 주파수대역별로 크기가 다를 수 있는데 이를 반영하기 위해 프로세서(540)는 각 밴드패스대역별로 기준값의 크기를 다르게 설정할 수 있다.In this example, the first reference value and the second reference value may be different values. The arc may have a different size for each frequency band, and to reflect this, the processor 540 can set the size of the reference value differently for each bandpass band.

프로세서(540)는 적응적으로 각 밴드패스필터(221~224)의 밴드패스대역을 변경할 수 있다.The processor 540 can adaptively change the bandpass band of each bandpass filter (221 to 224).

예를 들어, 프로세서(540)는 아크가 없는 상황에서 획득되는 각 라인(131~134)의 주파수분석데이터에서 각 라인(131~134)의 공진주파수를 파악하고 이러한 공진주파수가 포함되지 않는 대역으로 밴드패스대역을 변경할 수 있다.For example, the processor 540 determines the resonance frequency of each line (131 to 134) from the frequency analysis data of each line (131 to 134) obtained in a situation where there is no arc, and selects the resonance frequency of each line (131 to 134) to a band that does not include this resonance frequency. You can change the bandpass band.

복수의 하이패스필터(521~524)는 각 전류센서(211~214)의 측정신호를 필터링할 수 있다.A plurality of high-pass filters 521 to 524 may filter the measurement signals of each current sensor 211 to 214.

각 하이패스필터(521~524)는 동일한 하이패스대역을 가질 수 있다. 그리고, 각 하이패스필터(521~524)는 각 전류센서(211~214) 측정신호를 하이패스필터링한 신호를 각 비교기(531~534)로 출력할 수 있다.Each high-pass filter (521 to 524) may have the same high-pass band. In addition, each high-pass filter (521 to 524) can output a signal obtained by high-pass filtering the measurement signal of each current sensor (211 to 214) to each comparator (531 to 534).

각 비교기(531~534)는 하이패스필터링된 신호의 세기를 비교값과 비교하고 비교결과를 출력할 수 있다. 비교결과는 예를 들어, 1 또는 0으로서, 하이패스필터링된 신호의 세기가 비교값보다 크면 1이고 그렇지 않으면 0일 수 있다.Each comparator 531 to 534 can compare the strength of the high-pass filtered signal with a comparison value and output the comparison result. The comparison result may be, for example, 1 or 0, which may be 1 if the strength of the high-pass filtered signal is greater than the comparison value, and 0 otherwise.

프로세서(540)는 각 비교기(531~534)에서 출력되는 비교결과를 누적 카운팅할 수 있다. 프로세서(540)는 비교결과를 일정 주기마다 누적 카운팅하고 일정 시간의 카운팅값이 카운팅기준값을 초과하는 경우 해당 라인(131~134)에 아크사고가 발생했다고 판단할 수 있다.The processor 540 may cumulatively count the comparison results output from each comparator 531 to 534. The processor 540 may cumulatively count the comparison results at regular intervals, and if the counting value for a certain period of time exceeds the counting standard value, it may be determined that an arc accident has occurred in the corresponding lines (131 to 134).

프로세서(540)는 각 라인(131~134)에 대하여 주파수분석결과와 카운팅결과를 혼합하여 아크사고유무를 판단할 수 있다. 예를 들어, 프로세서(540)는 주파수분석결과와 카운팅결과를 논리합하여 각 라인의 아크사고유무를 판단할 수 있고, 주파수분석결과와 카운팅결과를 논리곱하여 각 라인의 아크사고유무를 판단할 수 있다.The processor 540 can determine the presence or absence of an arc accident by mixing the frequency analysis result and the counting result for each line (131 to 134). For example, the processor 540 can determine the presence or absence of an arc accident in each line by logically summing the frequency analysis result and the counting result, and logically multiply the frequency analysis result and the counting result to determine the presence or absence of an arc accident in each line. .

도 6은 일 실시예의 제2예시에 따른 아크검출방법의 흐름도이다.Figure 6 is a flowchart of an arc detection method according to a second example of an embodiment.

도 6을 참조하면, 아크검출장치는 각 채널의 전류센서를 이용하여 각 라인의 전류를 측정하고(S600), 전류센서에서 생성되는 측정신호를 밴드패스필터를 이용하여 밴드패스필터링할 수 있다(S602).Referring to FIG. 6, the arc detection device measures the current of each line using the current sensor of each channel (S600), and can band-pass filter the measurement signal generated by the current sensor using a band-pass filter (S600). S602).

그리고, 아크검출장치는 각 밴드패스필터의 출력신호를 주파수분석하고 주파수분석결과를 생성할 수 있다(S604).Additionally, the arc detection device can frequency analyze the output signal of each band pass filter and generate a frequency analysis result (S604).

아크검출장치는 각 채널의 전류센서에서 생성되는 측정신호를 하이패스필터를 이용하여 하이패스필터링할 수 있다(S606).The arc detection device can high-pass filter the measurement signal generated from the current sensor of each channel using a high-pass filter (S606).

그리고, 아크검출장치는 각 하이패스필터의 출력신호를 비교값과 비교한 후 비교결과를 카운팅하여 카운팅결과를 생성할 수 있다(608). 하이패스필터를 통과한 신호의 대표적인 예는 펄스이기 때문에, 이러한 과정을 펄스 카운팅이라고 부를 수 있다.Additionally, the arc detection device may compare the output signal of each high-pass filter with a comparison value and then count the comparison result to generate a counting result (608). Since a representative example of a signal that has passed through a high-pass filter is a pulse, this process can be called pulse counting.

아크검출장치는 주파수분석결과와 카운팅결과를 논리합하거나 논리곱하면서 혼합할 수 있고(S610), 그 결과를 이용하여 각 라인의 아크사고유무를 판단할 수 있다(S612).The arc detection device can mix the frequency analysis results and the counting results by ORing or multiplying them (S610), and can use the results to determine whether there is an arc accident in each line (S612).

도 7은 일 실시예의 제3예시에 따른 아크검출장치의 구성도이다.Figure 7 is a configuration diagram of an arc detection device according to a third example of an embodiment.

도 7을 참조하면, 아크검출장치(710)는 복수의 전류센서(211~214), 복수의 밴드패스필터(221~224), MUX(Multiplexer, 720), ADC(730) 및 프로세서(740) 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, the arc detection device 710 includes a plurality of current sensors 211 to 214, a plurality of bandpass filters 221 to 224, a multiplexer (MUX) 720, an ADC 730, and a processor 740. It may include etc.

복수의 전류센서(211~214)는 하나의 라인(160)의 전류를 공통적으로 측정할 수 있다. 복수의 전류센서(211~214)는 인버터라인(16)으로 흐르는 전류에 대한 측정신호를 생성할 수 있다.A plurality of current sensors 211 to 214 can commonly measure the current of one line 160. The plurality of current sensors 211 to 214 may generate measurement signals for the current flowing through the inverter line 16.

복수의 전류센서(211~214)는 서로 다른 공진주파수의 특성을 가지고 각각 인버터라인(160)의 전류를 측정할 수 있다. 그리고, 복수의 전류센서(211~214)는 전류에 대하여 해당 공진주파수와 그 주변대역의 성분을 주로 측정할 수 있다.The plurality of current sensors 211 to 214 have different resonance frequency characteristics and can each measure the current of the inverter line 160. In addition, the plurality of current sensors 211 to 214 can mainly measure the resonance frequency and the components of the surrounding band with respect to the current.

예를 들어, 제1전류센서(211)는 100KHz의 공진주파수의 특성을 가질 수 있고, 제2전류센서(212)는 500KHz의 공진주파수의 특성을 가질 수 있고, 제3전류센서(213)는 1MHz의 공진주파수의 특성을 가질 수 있고, 제4전류센서(214)는 10MHz의 공진주파수의 특성을 가질 수 있다.For example, the first current sensor 211 may have a resonance frequency of 100 KHz, the second current sensor 212 may have a resonance frequency of 500 KHz, and the third current sensor 213 may have a resonance frequency of 500 KHz. It may have a resonance frequency characteristic of 1 MHz, and the fourth current sensor 214 may have a resonance frequency characteristic of 10 MHz.

복수의 밴드패스필터(221~224)는 각 전류센서(211~214)의 측정신호를 필터링할 수 있다.A plurality of band pass filters (221 to 224) can filter the measurement signal of each current sensor (211 to 214).

각 밴드패스필터(221~224)의 밴드패스대역은 서로 다를 수 있다. 예를 들어, 제1밴드패스필터(221)는 제1밴드패스대역을 가지고, 제2밴드패스필터(222)는 제2밴드패스대역을 가지고, 제3밴드패스필터(223)는 제3밴드패스대역을 가지고, 제4밴드패스필터(224)는 제4밴드패스대역을 가질 수 있다.The bandpass bands of each bandpass filter (221 to 224) may be different. For example, the first band pass filter 221 has a first band pass band, the second band pass filter 222 has a second band pass band, and the third band pass filter 223 has a third band. With a pass band, the fourth band pass filter 224 may have a fourth band pass band.

각 밴드패스필터(221~224)는 각각의 전류센서(211~214)의 공진주파수 특성에 대응되는 밴드패스대역을 가질 수 있다. 예를 들어, 제1밴드패스대역은 100KHz를 포함하는 대역일 수 있고, 제2밴드패스대역은 500KHz를 포함하는 대역일 수 있고, 제3밴드패스대역은 1MHz를 포함하는 대역일 수 있고, 제4밴드패스대역은 10MHz를 포함하는 대역일 수 있다.Each band pass filter (221 to 224) may have a band pass band corresponding to the resonance frequency characteristics of each current sensor (211 to 214). For example, the first band pass band may be a band including 100 KHz, the second band pass band may be a band including 500 KHz, the third band pass band may be a band including 1 MHz, and the The 4-band pass band may be a band including 10 MHz.

각 밴드패스필터(221~224)의 출력은 MUX(720)에 의해 순차적으로 선택된 후 ADC(730)로 전달될 수 있다. MUX(720)에는 클럭신호가 공급될 수 있는데, MUX(720)는 이러한 클럭신호에 따라 각 밴드패스필터(221~224)의 출력을 순차적으로 선택하여 ADC(730)로 전달할 수 있다.The output of each bandpass filter (221 to 224) may be sequentially selected by the MUX (720) and then transmitted to the ADC (730). A clock signal may be supplied to the MUX (720), and the MUX (720) may sequentially select the output of each bandpass filter (221 to 224) according to this clock signal and transmit it to the ADC (730).

그리고, ADC(730)는 순차적으로 입력되는 각 밴드패스필터(221~224)의 출력을 디지털데이터로 변환하여 출력할 수 있다. ADC(730)도 MUX(720)와 동일한 주파수의 클럭신호를 입력받고 클럭신호에 맞추어 ADC변환과 디지털데이터의 출력을 제어할 수 있다.Additionally, the ADC 730 can convert the output of each sequentially input bandpass filter 221 to 224 into digital data and output it. The ADC (730) can also receive a clock signal of the same frequency as the MUX (720) and control ADC conversion and output of digital data in accordance with the clock signal.

그리고, 프로세서(740)는 각각의 밴드패스필터(221~224)의 출력신호를 주파수분석하여 인버터라인(160)의 아크사고유무를 판단할 수 있다.In addition, the processor 740 can frequency analyze the output signal of each band pass filter (221 to 224) to determine whether or not there is an arc fault in the inverter line 160.

예를 들어, 프로세서(740)는 각 밴드패스필터(221~224)의 출력신호에 대한 주파수분석데이터에서 제1시간대에서의 주파수성분값과 제2시간대에서의 주파수성분값의 차이가 가장 큰 밴드패스필터의 출력신호를 이용하여 인버터라인(160)의 아크사고유무를 판단할 수 있다. 여기서, 제1시간대는 아크가 발생하지 않는 것으로 판단되는 시간대이고, 제2시간대는 아크사고유무를 판단하는 시간대일 수 있다.For example, the processor 740 selects the band in which the difference between the frequency component value in the first time zone and the frequency component value in the second time zone is the largest in the frequency analysis data for the output signal of each band pass filter (221 to 224). The presence or absence of an arc accident in the inverter line 160 can be determined using the output signal of the pass filter. Here, the first time zone may be a time zone in which it is determined that no arc occurs, and the second time zone may be a time zone in which the presence or absence of an arc accident is determined.

이상에서 설명한 바와 같이 본 실시예에 의하면, 배선의 전류정보를 이용하여 아크사고의 발생 유무를 판단하고 아크사고가 화재 사고로 이어지기 전에 신속하게 검출하여 시스템의 신뢰성 및 안전성을 확보 할 수 있게 된다.As described above, according to this embodiment, it is possible to determine whether an arc accident has occurred using the current information of the wiring and quickly detect the arc accident before it leads to a fire accident, thereby ensuring the reliability and safety of the system. .

이상에서 기재된 "포함하다", "구성하다" 또는 "가지다" 등의 용어는, 특별히 반대되는 기재가 없는 한, 해당 구성 요소가 내재될 수 있음을 의미하는 것이므로, 다른 구성 요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성 요소를 더 포함할 수 있는 것으로 해석되어야 한다. 기술적이거나 과학적인 용어를 포함한 모든 용어들은, 다르게 정의되지 않는 한, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가진다. 사전에 정의된 용어와 같이 일반적으로 사용되는 용어들은 관련 기술의 문맥 상의 의미와 일치하는 것으로 해석되어야 하며, 본 발명에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.Terms such as “include,” “comprise,” or “have” as used above mean that the corresponding component may be included, unless specifically stated to the contrary, and do not exclude other components. It should be interpreted that it may further include other components. All terms, including technical or scientific terms, unless otherwise defined, have the same meaning as generally understood by a person of ordinary skill in the technical field to which the present invention pertains. Commonly used terms, such as terms defined in a dictionary, should be interpreted as consistent with the contextual meaning of the related technology, and should not be interpreted in an idealized or overly formal sense unless explicitly defined in the present invention.

이상의 설명은 본 발명의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.The above description is merely an illustrative explanation of the technical idea of the present invention, and various modifications and variations will be possible to those skilled in the art without departing from the essential characteristics of the present invention. Accordingly, the embodiments disclosed in the present invention are not intended to limit the technical idea of the present invention, but are for illustrative purposes, and the scope of the technical idea of the present invention is not limited by these embodiments. The scope of protection of the present invention should be interpreted in accordance with the claims below, and all technical ideas within the equivalent scope should be construed as being included in the scope of rights of the present invention.

Claims (5)

제1태양광패널과 인버터를 연결시키는 제1라인의 전류를 측정하는 제1전류센서;
제2태양광패널과 상기 인버터를 연결시키고 상기 제1라인과 다른 경로상에 배치되는 제2라인의 전류를 측정하는 제2전류센서;
제1밴드패스대역으로 상기 제1전류센서의 측정신호를 필터링하는 제1밴드패스필터;
상기 제1밴드패스대역과 다른 제2밴드패스대역으로 상기 제2전류센서의 측정신호를 필터링하는 제2밴드패스필터; 및
상기 제1밴드패스필터의 출력신호 및 상기 제2밴드패스필터의 출력신호를 주파수분석하여 상기 제1라인 및 상기 제2라인의 아크사고유무를 판단하는 프로세서
를 포함하는 다채널 아크검출장치.A first current sensor that measures the current of the first line connecting the first solar panel and the inverter;
a second current sensor that connects the second solar panel and the inverter and measures the current of a second line disposed on a different path from the first line;
a first band-pass filter that filters the measurement signal of the first current sensor using a first band-pass band;
a second band-pass filter that filters the measurement signal of the second current sensor to a second band-pass band different from the first band-pass band; and
A processor that determines whether there is an arc fault in the first line and the second line by frequency analyzing the output signal of the first band pass filter and the output signal of the second band pass filter.
A multi-channel arc detection device including. 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
상기 제1라인에 대한 주파수분석데이터에서 상기 제1밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제1기준값과 비교하고, 상기 제2라인에 대한 주파수분석데이터에서 상기 제2밴드패스대역의 성분값들의 평균을 제2기준값과 비교하여 아크사고유무를 판단하되,
상기 제1기준값과 상기 제2기준값은 서로 다른 다채널 아크검출장치.According to paragraph 1,
The processor,
The average of the component values of the first band pass band in the frequency analysis data for the first line is compared with a first reference value, and the average of the component values of the second band pass band in the frequency analysis data for the second line is compared. Compare with the second standard value to determine whether there is an arc accident,
A multi-channel arc detection device wherein the first reference value and the second reference value are different from each other. 제1항에 있어서,
상기 프로세서는,
아크가 없는 상황에서 획득되는 상기 제1라인에 대한 주파수분석데이터에서 상기 제1라인의 공진주파수를 파악하고 상기 공진주파수가 포함되지 않는 대역으로 상기 제1밴드패스대역을 변경하는 다채널 아크검출장치.According to paragraph 1,
The processor,
A multi-channel arc detection device that determines the resonance frequency of the first line from the frequency analysis data for the first line obtained in an arc-free situation and changes the first band pass band to a band that does not include the resonance frequency. . 태양광패널 혹은 인버터와 연결되는 라인의 아크를 검출하는 장치에 있어서,
서로 다른 공진주파수의 특성을 가지고 각각 상기 라인의 전류를 측정하는 복수의 전류센서;
각각의 상기 전류센서와 연결되고, 각각의 상기 전류센서의 공진주파수 특성에 대응되는 밴드패스대역을 가지는 복수의 밴드패스필터; 및
각각의 밴드패스필터의 출력신호를 주파수분석하여 상기 라인의 아크사고유무를 판단하는 프로세서
를 포함하는 다채널 아크검출장치.In a device that detects an arc in a line connected to a solar panel or inverter,
A plurality of current sensors each having different resonance frequency characteristics and measuring the current of the line;
a plurality of band pass filters connected to each of the current sensors and having a band pass band corresponding to a resonance frequency characteristic of each current sensor; and
A processor that analyzes the frequency of the output signal of each band pass filter to determine whether or not there is an arcing incident on the line.
A multi-channel arc detection device including. 제4항에 있어서,
상기 프로세서는,
각 밴드패스필터의 출력신호에 대한 주파수분석데이터에서 제1시간대에서의 주파수성분값과 제2시간대에서의 주파수성분값의 차이가 가장 큰 밴드패스필터의 출력신호를 이용하여 상기 라인의 아크사고유무를 판단하는 다채널 아크검출장치.According to clause 4,
The processor,
In the frequency analysis data for the output signal of each band pass filter, the output signal of the band pass filter with the largest difference between the frequency component value in the first time zone and the frequency component value in the second time zone is used to determine whether there is an arc accident in the line. A multi-channel arc detection device that determines
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