KR102449319B1 - 디스플레이 장치 - Google Patents

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KR102449319B1
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엘지디스플레이 주식회사
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Abstract

본 발명의 디스플레이 장치는 미감이 저하되는 것을 방지할 수 있으며, 표시영역과 비 표시영역을 갖는 제1 기판과 제1 기판의 비 표시영역 일측에 배치되는 게이트 구동부와 제1 기판의 비 표시영역 타측에 배치되는 검사 패드들 및 검사 패드들에 연결되는 검사 라인들을 포함하고, 검사 라인들은 상기 게이트 구동부와 중첩된다.

Description

디스플레이 장치{DISPLAY DEVICE}
본 발명은 디스플레이 장치에 관한 것이다.
정보화 사회로 시대가 발전함에 따라 박형화, 경량화, 저 소비전력화 등의 우수한 특성을 가지는 평판 표시 장치(FPD: Flat Panel Display Device)의 중요성이 증대되고 있다. 평판 표시 장치에는, 액정 표시 장치(LCD: Liquid Crystal Display Device), 플라즈마 표시 장치(PDP: Plasma Display Panel Device), 유기 발광 표시 장치(OLED: Organic Light Emitting Display Device) 등이 있으며, 최근에는 전기영동 표시 장치(EPD: Electrophoretic Display Device)도 널리 이용되고 있다.
이 중, 박막 트랜지스터를 포함하는 액정 표시 장치 및 유기 발광 표시 장치는 해상도, 컬러 표시, 화질 등에서 우수하여 텔레비전, 노트북, 테블릿 컴퓨터, 또는 데스크 탑 컴퓨터의 디스플레이 장치로 널리 상용화되고 있다.
종래의 디스플레이 장치를 구성하는 표시 패널은 영상이 표시되는 표시영역과 영상이 표시되지 않는 비 표시영역을 포함한다. 표시영역에는 게이트 라인들과 데이터 라인들이 교차하는 영역마다 화소들이 형성되어 있다. 비 표시영역은 표시영역의 적어도 일측에 배치된다. 비 표시영역은 게이트 라인들에 신호를 출력하는 게이트 구동부와 패드 영역을 포함한다. 패드 영역에는 패널 패드들이 마련된다. 표시 패널의 불량 여부를 검사하기 위해 표시 패널의 바깥쪽 일 측에는 검사 영역이 마련될 수 있다. 검사 영역에는 표시 패널의 불량여부 검사하기 위해 검사 패드들과 검사 라인들이 마련된다.
이때, 종래의 디스플레이 장치에서는 검사 라인들이 게이트 구동부의 측면에 배치되어, 디스플레이 장치의 비 표시영역을 증가시키는 원인이 된다. 이에 따라, 디스플레이 장치의 미감이 떨어지는 문제점이 있다.
본 발명은 전술한 문제점을 해결하고자 안출된 것으로, 미감이 개선된 디스플레이 장치를 제공하는 것을 기술적 과제로 한다.
상술한 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명은 표시영역과 비 표시영역을 갖는 제1 기판과 제1 기판의 비 표시영역 일측에 배치되는 게이트 구동부와 제1 기판의 비 표시영역 타측에 배치되는 검사 패드들 및 검사 패드들에 연결되는 검사 라인들을 포함하고, 검사 라인들은 상기 게이트 구동부와 중첩되는 디스플레이 장치를 제공한다.
본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 검사 라인들을 게이트 구동부의 측면이 아닌 상부 또는 하부에 중첩되도록 배치하여, 디스플레이 장치의 비 표시영역이 검사 라인들에 의해서 증가되는 것을 방지한다.
또한, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 미감이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
본 발명에서 얻을 수 있는 효과는 이상에서 언급한 효과로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 효과들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치를 나타내는 사시도이다.
도 2는 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치를 나타내는 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 예에 따른 검사용 박막 트랜지스터의 단면도이다.
도 4는 도 2의 게이트 구동부 영역을 확대한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일 예에 따른 게이트 구동부의 단면도로서, 도 4의 I-I’선에 의한 단면도이다.
도 6은 본 발명의 일 예에 따른 게이트 구동부의 단면도로서, 도 4의 Ⅱ-Ⅱ’선에 의한 단면도이다.
본 명세서에서 서술되는 용어의 의미는 다음과 같이 이해되어야 할 것이다.
단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 정의하지 않는 한 복수의 표현을 포함하는 것으로 이해되어야 하고, "제 1", "제 2" 등의 용어는 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하기 위한 것으로, 이들 용어들에 의해 권리범위가 한정되어서는 아니 된다. "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 하나 또는 그 이상의 다른 특징이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부분품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다. "적어도 하나"의 용어는 하나 이상의 관련 항목으로부터 제시 가능한 모든 조합을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 예를 들어, "제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 적어도 하나"의 의미는 제 1 항목, 제 2 항목 또는 제 3 항목 각각 뿐만 아니라 제 1 항목, 제 2 항목 및 제 3 항목 중에서 2개 이상으로부터 제시될 수 있는 모든 항목의 조합을 의미한다. "상에"라는 용어는 어떤 구성이 다른 구성의 바로 상면에 형성되는 경우뿐만 아니라 이들 구성들 사이에 제3의 구성이 개재되는 경우까지 포함하는 것을 의미한다.
이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 장치의 바람직한 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. 각 도면의 구성요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 발명을 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치를 나타내는 사시도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 표시 패널(11), 게이트 구동부(12), 소스 드라이브 집적회로(integrated circuit, 이하 "IC"라 칭함)(13), 연성 필름(14), 회로 보드(15), 및 타이밍 제어부(16)를 포함한다.
상기 표시 패널(11)의 표시영역(AA)에는 게이트 라인들, 데이터 라인들, 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차 영역들에 배치되는 화소들이 형성된다. 표시영역(AA)의 화소들은 화상을 표시할 수 있다.
상기 게이트 구동부(12)는 타이밍 제어부(16)로부터 입력되는 게이트 제어신호에 따라 게이트 라인들에 게이트 신호들을 공급한다. 이러한, 게이트 구동부(12)는 표시 패널(11)의 표시영역(AA)의 일측 또는 양측 바깥쪽의 비 표시영역(NA)에 GIP(gate driver in panel) 방식으로 형성되거나, 구동 칩으로 제작되어 연성필름에 실장되고 TAB(tape automated bonding) 방식으로 표시 패널(11)의 표시영역(AA)의 일측 또는 양측 바깥쪽의 비 표시영역(NA)에 부착될 수도 있다.
상기 소스 드라이브 IC(13)는 타이밍 제어부(16)로부터 디지털 비디오 데이터와 소스 제어신호를 입력받는다. 이러한, 소스 드라이브 IC(13)는 소스 제어신호에 따라 디지털 비디오 데이터를 아날로그 데이터전압들로 변환하여 데이터 라인들에 공급한다. 소스 드라이브 IC(13)가 구동 칩으로 제작되는 경우, COF(chip on film) 또는 COP(chip on plastic) 방식으로 연성 필름(14)에 실장될 수 있다.
상기 제1 기판(G1)의 크기는 제2 기판(G2)의 크기보다 크기 때문에, 제1 기판(G1)의 일부는 제2 기판(G2)에 의해 덮이지 않고 노출될 수 있다. 이와 같이 제2 기판(G2)에 의해 덮이지 않고 노출된 제1 기판(G1)의 일부에는 데이터 패드들과 같은 패드들이 마련된다.
상기 연성 필름(14)에는 패드들과 소스 드라이브 IC(13)를 연결하는 배선들, 패드들과 회로 보드(15)의 배선들을 연결하는 배선들이 형성될 수 있다. 연성 필름(14)은 이방성 도전 필름(antisotropic conducting film)을 이용하여 패드들 상에 부착되며, 이로 인해 패드들과 연성 필름(14)의 배선들이 연결될 수 있다.
상기 회로 보드(15)는 연성 필름(14)들에 부착될 수 있다. 이러한, 회로 보드(15)는 구동 칩들로 구현된 다수의 회로들이 실장될 수 있다. 예를 들어, 회로 보드(15)에는 타이밍 제어부(16)가 실장될 수 있다. 이때, 회로 보드(15)는 인쇄회로보드(printed circuit board) 또는 연성 인쇄회로보드(flexible printed circuit board)일 수 있다.
상기 타이밍 제어부(16)는 외부의 시스템 보드(미도시)로부터 디지털 비디오 데이터와 타이밍 신호를 입력 받는다. 이때, 타이밍 제어부(16)는 타이밍 신호에 기초하여 게이트 구동부(12)의 동작 타이밍을 제어하기 위한 게이트 제어신호와 소스 드라이브 IC(13)들을 제어하기 위한 소스 제어신호를 발생한다. 이러한, 타이밍 제어부(16)는 게이트 제어신호를 게이트 구동부(12)에 공급하고, 소스 제어신호를 소스 드라이브 IC(13)들에 공급한다.
도 2는 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치를 나타내는 블록도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 표시영역(AA) 및 비 표시영역(NA)을 포함한다.
상기 표시영역(AA)에는 복수의 게이트 라인(GL)과 복수의 데이터 라인(DL)이 배치되며, 상기 복수의 게이트 라인(GL)과 복수의 데이터 라인(DL)이 교차하는 영역에 화소(P)가 배치된다.
상기 비 표시영역(NA)에는 게이트 구동부(12), 게이트 패드들(GP), 게이트 제어 신호라인들(GCL), 그라운드 패드들(GNDP), 그라운드 라인(GNDL), 데이터 패드들(DP), 검사 패드들(TP), 검사 라인들(TL), 및 검사용 박막 트랜지스터들(TT)을 포함한다.
상기 게이트 구동부(12)는 게이트 라인들(GL)에 접속된다. 이러한, 게이트 구동부(12)는 게이트 패드(GP)들에 접속된 게이트 제어 신호라인들(GCL)로부터 게이트 제어신호들을 공급받는다. 상기 게이트 구동부(12)는 게이트 제어신호들에 따라 게이트 신호들을 미리 정해진 순서대로 게이트 라인들(GL)에 출력한다. 상기 미리 정해진 순서는 순차적인 순서일 수 있다. 또한, 게이트 구동부(12)는 게이트 신호들을 동시에 게이트 라인들(GL)에 출력한다. 한편, 도면에는 게이트 구동부(12)를 하나만 도시하였지만, 반드시 그러한 것은 아니고, 비 표시영역(NA)의 양측에 배치될 수 있다. 즉, 복수의 게이트 구동부(12) 각각은 비 표시영역(NA)의 일측 및 타측에 배치될 수 있다.
상기 게이트 패드들(GP)은 비 표시영역(NA)의 일측 가장자리에 마련될 수 있다. 이러한, 게이트 패드들(GP)은 게이트 제어 신호라인들(GCL)에 접속된다.
상기 게이트 제어 신호라인들(GCL)은 게이트 패드들(GP)과 게이트 구동부(12)를 연결한다.
상기 그라운드 패드(GNDP)은 비 표시영역(NA)의 일측 가장자리에 마련될 수 있다. 이러한, 그라운드 패드(GNDP)은 그라운드 라인(GNDL)에 접속된다.
상기 데이터 패드들(DP)은 게이트 패드들(GP)이 마련된 비 표시영역(NA)의 일측 가장자리에 마련될 수 있다. 이러한, 데이터 패드들(DP)은 데이터 라인들(DL)에 접속된다.
상기 검사 패드들(TP)은 비 표시영역(NA)의 일측 가장자리에 마련될 수 있으며 보다 구체적으로, 비 표시영역(NA)의 모서리 부분에 배치될 수 있다. 이러한, 검사 패드들(TP)은 검사 라인들(TL)에 접속된다. 이때, 후술되는 검사 라인들(TL)은 게이트 구동부(12)와 중첩되기 때문에, 상기 검사 라인들(TL)에 접속되는 검사 패드들(TP)은 게이트 구동부(12)와 근접한 위치에 배치될 수 있다. 일 예에 따른 검사 패드들(TP)은 데이터 검사 패드들(DTP) 및 게이트 검사 패드들(GTP)을 포함한다.
상기 데이터 검사 패드들(DTP)는 데이터 검사 라인들(DTL)을 통해서 후술되는 검사용 박막 트랜지스터들(TT)에 데이터 전압을 인가한다.
상기 게이트 검사 패드(GTP)는 게이트 검사 라인들(GTL)을 통해서 검사용 박막 트랜지스터들(TT)에 게이트 전압을 인가한다.
상기 검사 라인들(TL)은 비 표시영역(NA)의 일측 또는 일측 및 타측에 배치되며, 게이트 구동부(12)와 중첩된다. 이러한, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 검사 라인들(TL)을 게이트 구동부(12)의 측면이 아닌 상부 또는 하부에 중첩되도록 배치하여, 디스플레이 장치의 비 표시영역(NA)이 검사 라인들(TL)에 의해서 증가되는 것을 방지한다. 이에 대한 자세한 설명은 후술되는 도 4에대한 설명에서 하기로 한다.
상기 검사용 박막 트랜지스터들(TT)은 비 표시영역(NA)의 타측에 배치된다. 일 예에 따른 검사용 박막 트랜지스터들(TT)은 제1 검사용 박막 트랜지스터들(TT1), 제2 검사용 박막 트랜지스터들(TT2), 및 제3 검사용 박막 트랜지스터들(TT3)을 포함한다.
상기 제1 검사용 박막 트랜지스터들(TT1)은 데이터 검사 라인(DTL)과 게이트 검사 라인(GTL)에서 신호를 인가 받으면, 화소(P)의 적색 점등(R)에 전원을 인가하여 상기 적색 점등(R)을 검사한다.
상기 제2 검사용 박막 트랜지스터들(TT2)은 데이터 검사 라인(DTL)과 게이트 검사 라인(GTL)에서 신호를 인가 받으면, 화소(P)의 녹색 점등(G)에 전원을 인가하여 상기 녹색 점등(G)을 검사한다.
상기 제3 검사용 박막 트랜지스터들(TT3)은 데이터 검사 라인(DTL)과 게이트 검사 라인(GTL)에서 신호를 인가 받으면, 화소(P)의 청색 점등(B)에 전원을 인가하여 상기 청색 점등(B)을 검사한다.
이와 같은, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 검사 라인들(TL)을 게이트 구동부(12)의 측면이 아닌 상부 또는 하부에 중첩되도록 배치하여, 디스플레이 장치의 비 표시영역(NA)이 검사 라인들(TL)에 의해서 증가되는 것을 방지한다. 따라서, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 미감이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
도 3은 본 발명의 일 예에 따른 검사용 박막 트랜지스터의 단면도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 일 예에 따른 검사용 박막 트랜지스터(TT)는 차광층(LS), 버퍼층(BF), 액티브층(ACT), 게이트 절연층(GI), 게이트 전극(GE), 층간 절연층(ILD), 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)을 포함한다.
상기 차광층(LS)은 제1 기판(G1)과 후술되는 액티브층(ACT) 사이에 배치된다. 이러한, 차광층(LS)은 제1 기판(G1) 내에 포함된 성분에 의해서 액티브층(ACT)의 채널 영역에서의 전자 이동이 악영향을 받지 않도록 한다. 따라서, 차광층(LS)는 액티브층(ACT)과 오버랩되도록 배치된다. 한편, 차광층(LS)은 생략될 수도 있다.
상기 버퍼층(BF)은 제1 기판(G1) 상에 배치된다. 이러한, 버퍼층(BF)은 외부의 수분이나 습기가 투명 표시 장치의 내부로 침투하는 것을 방지한다. 이때, 버퍼층(BF)은 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물로 이루어질 수 있다.
상기 액티브층(ACT)은 게이트 전극(GE)과 중첩되도록, 버퍼층(BF) 상에 배치된다. 이러한, 액티브층(ACT)은 소스 전극(SE) 측에 위치한 일단 영역(A1), 드레인 전극(DE) 측에 위치한 타단 영역(A2), 및 일단 영역(A1)과 타단 영역(A2) 사이에 위치한 중심 영역(A3)을 포함한다. 상기 중심 영역(A3)은 도펀트가 도핑되지 않은 반도체 물질일 수 있고, 일단 영역(A1)과 타단 영역(A2)은 도펀트가 도핑된 반도체 물질일 수 있다.
상기 게이트 절연층(GI)은 액티브층(ACT) 상에 배치된다. 이러한, 게이트 절연층(GI)은 액티브층(ACT)과 게이트 전극(GE)을 절연시킨다. 이때, 게이트 절연층(GI)은 무기 절연 물질 예를 들어, 실리콘 산화막(SiOX), 실리콘 질화막(SiNX), 또는 이들의 다중층으로 이루어 질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
상기 게이트 전극(GE)은 게이트 절연층(GI) 상에 배치된다. 이때, 게이트 전극(GE)은 게이트 절연층(GI)을 사이에 두고, 액티브층(ACT)과 중첩되도록 배치된다. 보다 구체적으로, 게이트 전극(GE)은 게이트 절연층(GI)을 사이에 두고, 액티브층(ACT)의 중심 영역(A3)과 중첩될 수 있다. 이러한, 게이트 전극(GE)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오디뮴(Nd) 및 구리(Cu) 중 어느 하나 또는 이들의 합금으로 이루어진 단일층 또는 다중층일 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
상기 층간 절연층(ILD)은 게이트 전극(GE) 상에 배치된다. 이러한, 층간 절연층(ILD)은 게이트 전극(GE)과 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)을 절연시킨다. 이때, 층간 절연층(ILD)은 게이트 절연층(GI)과 동일한 무기 절연 물질 예를 들어, 실리콘 산화막(SiOX), 실리콘 질화막(SiNX), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있지만, 반드시 그에 한정되는 것은 아니다.
상기 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 층간 절연층(ILD) 상에서 서로 마주하면서 이격되어 배치된다. 이러한, 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE) 각각은 층간 절연층(ILD)에 형성된 컨택홀을 통해 액티브층(ACT)과 연결된다. 이때, 소스 전극(SE)은 컨택홀을 통해서 액티브층(ACT)의 일단 영역(A1)과 연결되고, 드레인 전극(DE)은 컨택홀을 통해서 액티브층(ACT)의 타단 영역(A2)에 연결된다. 이와 같은 소스 전극(SE) 및 드레인 전극(DE)은 몰리브덴(Mo), 알루미늄(Al), 크롬(Cr), 금(Au), 티타늄(Ti), 니켈(Ni), 네오듐(Nd), 구리(Cu), 또는 그들의 합금으로 이루어질 수 있으며, 상기 금속 또는 합금의 단일층 또는 2층 이상의 다중층으로 이루어질 수 있지만, 이에 한정되지 않는다.
상기한 바와 같이 구성되는 검사용 박막 트랜지스터(TT)는 제1 기판(G1) 상에서 각각의 화소(P) 영역 마다 형성될 수 있다. 또한, 검사용 박막 트랜지스터(TT)의 구성은 앞서 설명한 예에 한정되지 않고, 당업자가 용이하게 실시할 수 있는 공지된 구성으로 다양하게 변형 가능하다.
도 4는 도 2의 게이트 구동부 영역을 확대한 도면이다. 이는 도 2에 도시된 도면과 검사 라인들(TL) 및 브릿지 라인들(BL)을 제외하고 동일하다. 이에 따라, 이하의 설명에서는 검사 라인들(TL) 및 브릿지 라인들(BL)에 대해서만 설명하기로 하고, 동일한 구성에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.
도 4를 참조하면, 검사 라인들(TL)은 게이트 구동부(12)와 중첩되는 영역에서 제1 검사 라인들(TL1) 및 제2 검사 라인들(TL2)로 분리된다.
상기 제1 검사 라인들(TL1)의 일측은 검사 패드들(TP)과 연결되고, 타측은 제1 컨택홀들(CH1)을 통해서 브릿지 라인들(BL)의 일측과 컨택된다.
상기 제2 검사 라인들(TL2)의 일측은 제2 컨택홀들(CH2)을 통해서 브릿지 라인들(BL)의 타측과 컨택되고, 타측은 비 표시영역(NA)의 타측으로 연장된다.
상기 브릿지 라인들(BL)은 제1 및 제2 컨택홀들(CH1, CH2)을 통해서 검사 라인들(TL)과 컨택된다. 보다 구체적으로, 브릿지 라인들(BL)의 일단은 제1 컨택홀들(CH1)을 통해서 제1 검사 라인들(TL1)에 연결되고, 타단은 제2 컨택홀들(CH2)을 통해서 제2 검사 라인들(TL2)에 연결된다. 이러한, 브릿지 라인들(BL)은 검사 라인들(TL)을 점핑시킨다. 즉, 브릿지 라인들(BL)은 검사 라인들(TL)이 게이트 구동부(12)의 구성들과 겹치지 않도록, 검사 라인들(TL)과 다른 위치의 층에 배치된다. 일 예로, 검사 라인들(TL)은 소스 및 드레인 전극(S, D)과 동일한 층에 동일한 물질로 형성될 수 있다. 이때, 게이트 구동부(12) 내에는 소스 및 드레인 전극(S, D)이 포함된 박막 트랜지스터들이 포함되므로, 소스 및 드레인 전극(S, D)과 동일한 층에 배치되는 검사 라인들(TL)을 배치할 수 없다. 따라서, 본 발명의 일 예에 따른 브릿지 라인들(BL)은 일 예로, 애노드층(AND)과 동일한 층에 동일한 물질로 형성된다. 그러므로, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 제조 단가와 공정이 증가하는 것을 방지할 수 있다.
이와 같이, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 검사 라인들(TL)을 게이트 구동부(12)의 측면이 아닌 상부 또는 하부에 중첩되도록 배치하여, 디스플레이 장치의 비 표시영역(NA)이 검사 라인들(TL)에 의해서 증가되는 것을 방지한다. 따라서, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 미감이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 예에 따른 게이트 구동부의 단면도로서, 도 4의 I-I’선에 의한 단면도이다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 일 예에 따른 게이트 구동부(12)는 제1 기판(G1), 버퍼층(BF), 게이트 절연층(GI), 층간 절연층(ILD), 검사 라인(TL), 게이트 제어 신호라인들(GCL), 보호층(PAS), 평탄화층(PAC), 브릿지 라인들(BL), 애노드층(AND), 뱅크(BAK), 및 캐소드층(CAS)을 포함한다.
상기 버퍼층(BF)은 제1 기판(G1) 상에 배치된다. 이러한, 버퍼층(BF)은 외부의 수분이나 습기가 투명 표시 장치의 내부로 침투하는 것을 방지한다. 이때, 버퍼층(BF)은 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물로 이루어질 수 있다.
상기 게이트 절연층(GI)은 버퍼층(BF) 상에 배치된다. 이때, 게이트 절연층(GI)은 무기 절연 물질 예를 들어, 실리콘 산화막(SiOX), 실리콘 질화막(SiNX), 또는 이들의 다중층으로 이루어 질 수 있으나, 이에 한정되지 않는다.
상기 층간 절연층(ILD)은 게이트 절연층(GI) 상에 배치된다. 이때, 층간 절연층(ILD)은 게이트 절연층(GI)과 동일한 무기 절연 물질 예를 들어, 실리콘 산화막(SiOX), 실리콘 질화막(SiNX), 또는 이들의 다중막으로 형성될 수 있지만, 반드시 그에 한정되는 것은 아니다.
상기 검사 라인(TL)은 층간 절연층(ILD) 상에 일정한 간격으로 이격되어 배치된다. 이러한, 검사 라인(TL)은 소스 및 드레인 전극(S, D)과 동일한 층에 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
상기 게이트 제어 신호라인들(GCL)은 층간 절연층(ILD) 상에 일정한 간격으로 이격되어 배치된다. 이러한, 검사 라인(TL)은 소스 및 드레인 전극(S, D)과 동일한 층에 동일한 물질로 이루어질 수 있다.
상기 보호층(PAS)은 검사 라인(TL) 및 게이트 제어 신호라인들(GCL) 상에 전체적으로 배치된다. 이러한, 보호층(PAS)은 실리콘 산화물 또는 실리콘 질화물과 같은 무기계 절연물질로 이루어질 수 있지만, 반드시 그에 한정되는 것은 아니고, 포토아크릴(Photo acryl) 또는 벤조사이클로부텐(BCB) 등과 같은 유기계 절연물질로 이루어질 수도 있다.
상기 평탄화층(PAC)은 보호층(PAS) 상에 배치된다. 이러한, 평탄화층(PAC)은 보호층(PAS)의 상부를 평탄화한다. 이때, 평탄화층(PAC)은 아크릴계 수지(acryl resin), 에폭시 수지(epoxy resin), 페놀 수지(phenolic resin), 폴리아미드계 수지(polyamides resin), 폴리이미드계 수지(polyimides resin)등으로 이루어질 수 있다.
상기 브릿지 라인들(BL)은 평탄화층(PAC) 상에 배치된다. 이러한, 브릿지 라인들(BL)은 애노드층(AND)과 동일한 층에 동일한 물질로 형성될 수 있다.
상기 애노드층(AND)은 평탄화층(PAC) 상에 배치된다. 이러한, 애노드층(AND)은 후술되는 캐소드층(CAS)과 컨택되어 그라운드 전압을 상기 캐소드층(CAS)으로 점핑시킨다. 일 예에 따른 애노드층(AND)은 인듐-틴-옥사이드(ITO) 또는 인듐-징크-옥사이드(IZO)일 수 있다. 또한, 제1 전극(220)은 반사효율이 우수한 금속물질 예를 들어, 알루미늄(Al), 은(Ag), APC(Ag;Pb;Cu) 등을 포함하는 적어도 둘 이상의 층으로 구성될 수 있다
상기 뱅크(BAK)는 평탄화층(PAC) 및 브릿지 라인들(BL) 상에 배치되며, 상기 브릿지 라인들(BL)을 덮는다. 이러한, 뱅크(BAK)는 후술되는 캐소드층(CAS)을 제1 기판(G1) 상에 전체적으로 배치할 때, 캐소드층(CAS)과 브릿지 라인들(BL)이 컨택되는 것을 방지한다. 이때, 뱅크(BAK)는 폴리이미드계 수지(polyimides resin), 아크릴계 수지(acryl resin), 벤조사이클로뷰텐(BCB) 등과 같은 유기막으로 이루어질 수 있다.
상기 캐소드층(CAS)은 애노드층(AND) 및 뱅크(BNK) 상에 배치된다. 이러한, 캐소드층(CAS)은 일측이 애노드층(AND)과 컨택되어 그라운드 전압이 인가된다. 일 예에 따른 캐소드층(CAS)으로는 은(Ag), 티타늄(Ti), 알루미늄(Al), 몰리브덴(Mo), 또는 은(Ag)과 마그네슘(Mg)의 합금 등과 같은 금속성 물질이 사용될 수 있다.
이와 같은, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 검사 라인들(TL)을 게이트 구동부(12)의 측면이 아닌 상부에 중첩되도록 배치하여, 디스플레이 장치의 비 표시영역(NA)이 검사 라인들(TL)에 의해서 증가되는 것을 방지한다. 따라서, 본 발명의 일 예에 따른 디스플레이 장치는 미감이 저하되는 것을 방지할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 예에 따른 게이트 구동부의 단면도로서, 도 4의 Ⅱ-Ⅱ’선에 의한 단면도이다. 이는, 도 5에 도시된 도면과 그라운드 라인(GNDL), 보호층(PAS), 평탄화층(PAC), 및 애노드층(AND)을 제외하고 동일하다. 이에 따라, 이하의 설명에서는 그라운드 라인(GNDL), 보호층(PAS), 평탄화층(PAC), 및 애노드층(AND)에 대해서만 설명하기로 하고, 동일한 구성에 대한 중복 설명은 생략하기로 한다.
도 6을 참조하면, 상기 그라운드 라인(GNDL)은 층간 절연층(ILD) 상에 배치되고, 보호층(PAS)은 상기 그라운드 라인(GNDL) 상에 배치된다.
상기 평탄화층(PAC)은 보호층(PAS) 상에 배치되어, 상기 보호층(PAS) 상부를 평탄화한다.
상기 애노드층(AND)은 제3 컨택홀(CH3)을 통해서 그라운드 라인(GNDL)과 컨택된다. 따라서, 애노드층(AND)에는 그라운드 전압이 인가된다. 이때, 그라운드 라인(GNDL)은 소스 및 드레인 전극(S, D)과 동일한 층에 동일한 물질로 형성될 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 실시예들을 더욱 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예로 국한되는 것은 아니고, 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다. 따라서, 본 발명에 개시된 실시예들은 본 발명의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이고, 이러한 실시예에 의하여 본 발명의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다. 본 발명의 보호 범위는 청구 범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 발명의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
12: 게이트 구동부 GP: 게이트 패드
GCL: 게이트 제어 신호라인 GNDP: 그라운드 패드
GNDL: 그라운드 라인 DP: 데이터 패드
TP: 검사 패드 TL: 검사 라인
TT: 검사용 박막 트랜지스터

Claims (7)

  1. 표시영역과 비 표시영역을 갖는 제1 기판;
    상기 제1 기판의 비 표시영역 일측에 배치되는 게이트 구동부;
    상기 제1 기판의 비 표시영역 타측에 배치되는 검사 패드들; 및
    상기 검사 패드들에 연결되는 검사 라인들을 포함하고,
    상기 검사 라인들은 상기 게이트 구동부와 중첩되고,
    상기 검사 라인들은 상기 게이트 구동부와 중첩되는 영역에서 제1 검사 라인들 및 제2 검사 라인들로 분리되는, 디스플레이 장치.
  2. 삭제
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 제1 검사 라인들과 제2 검사 라인들을 연결하는 브릿지 라인들을 더 포함하는, 디스플레이 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 브릿지 라인은 상기 검사 라인들과 다른 층에 배치되며,
    상기 브릿지 라인의 일단은 제1 컨택홀을 통해서 제1 검사 라인들에 연결되고, 상기 브릿지 라인의 타단은 제2 컨택홀을 통해서 제2 검사 라인들에 연결되는, 디스플레이 장치.
  5. 제 3 항에 있어서,
    상기 검사 라인들 상에 배치되는 보호층;
    상기 보호층 상에 배치되는 평탄화층; 및
    상기 평탄화층 상에 배치되는 애노드층을 더 포함하고,
    상기 브릿지 라인들은 상기 애노드층과 동일한 층에 이격되어 배치되는, 디스플레이 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 브릿지 라인들은 상기 애노드층과 동일한 물질인, 디스플레이 장치.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 브릿지 라인들을 덮는 뱅크층; 및
    상기 뱅크층 상에 배치되는 캐소드층을 더 포함하고,
    상기 캐소드층은 상기 애노드층과 컨택하는, 디스플레이 장치.
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